JP2521189B2 - 自動測定装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明はパーソナルコンピュータ等を用いて構成し
た主制御部と、A/D変換機能を備えた例えばデジタルサ
ンプリングオシロスコープ（DSO）等の測定器とをGPIB
等のインタフェースバスで接続し、予め準備した測定プ
ログラムに基づいてビデオ信号等の信号を測定して、そ
の測定結果を記憶したり、測定結果と予め準備した比較
データとの照合を行なって測定対象機器等の良否を判定
したり、また自動調整を行なうための出力を発生させる
ことのできる自動測定装置に関する。

（従来の技術） オーム社発行の「オシロスコープ利用技術」（第１版
第７刷）第８章第５項波形の自動計測に、サンプリング
による波形の読取り機能を利用して、VTR等のビデオ信
号の自動測定を行なう装置が記載されている。

第５図は同書物に記載されている自動測定装置のシス
テム構成図である。

この自動測定装置200は、オシロスコープ201、デジタ
ル電圧計202を主体とし、これらをマイクロプロセッサ
等を用いた図示しない主制御部で制御するもので、GPIB
（General Purpose Interface Bus）を用いて測定指令
情報、測定結果情報の送受を行なっている。

オシロスコープ201は自動測定用のものを用いてお
り、測定ポイント（サンプリング位置）はデジタル的に
指定できるよう構成されている。

（発明が解決しようとする課題） 実際の測定においては、測定対象である信号波形を的
確にとらえるため、オシロスコープ201の電圧感度や掃
引速度、トリガ条件等を手動で調節することがある。

このような手動調節によって最適条件化を図った内容
で、繰り返し自動測定を行なったり、また、その測定条
件を再度使用する場合は、その変更内容を自動測定プロ
グラムに反映させる必要がある。

このため、既存の自動測定条件と最適測定条件との相
違点をメモ等しておいて再度自動測定プログラムを作成
しなおさなければならず、その作業が面倒である。

又、オシロスコープ201やデジタル電圧計202等の測定
器は一般に１〜２の入力端子と、１〜２のトリガ入力端
子しか備えていないので、測定ポイントが多数の場合
は、それらの測定器の前段にGPIB対応の入力拡張装置を
設けるのが一般的である。

しかし、通常の入力拡張装置はGPIBを介して与えられ
た指令情報に基づいて入力の選択を行なう構成であるか
ら、例えばトリガ用に用いる入力信号を変更した場合
は、前述の測定器の測定条件変更と同様に、自動プログ
ラムの再作成で対処しなければならない。

又、GPIBは主制御部、測定器、および入力拡張装置間
の共通バスであるから、測定ポイント毎に測定データを
主制御部へ送った後に、他の入力信号を測定するという
手順を複数ポイントに亘って繰り返し行なう場合、測定
データの送信が完了するのを待って主制御部は入力拡張
装置へ対する入力選択指定情報をGPIBを介して送出しな
ければならず一連の自動測定を効果的に行なうことがで
きなかった。

また、高圧分圧器や微少電圧増幅器等の用途別に複数
種類の入力拡張装置を必要とする場合、高圧分圧器の出
力を測定器へ入力するか微少電圧増幅器等の出力を測定
器への入力とするかを切替える入力拡張装置選択装置に
対してもGPIBの機能が必要である。したがって、GPIBに
接続される装置数が増加し、これらの各装置を設定する
ための測定条件指令情報の通信時間が長くなり、測定デ
ータの収集に要する時間が長くなる。

また、入力拡張装置に、GPIB用のドライバ・レシーバ
ならびにGPIBに係る通信制御（リスン、トーク等）を行
なうGPIB用コントローラ（LSI）を備えるため、入力拡
張装置の構成が複雑でこの装置が高価になる。

さらに、各種の入力拡張装置やそれらの選択装置のコ
マンド体系が夫々異なる場合は、それぞれに対応して自
動測定プログラムを準備しなければならず効率的でな
い。

この発明はこのような自動測定に係る各種の課題を解
決するためになされたもので、主制御部で実際の測定条
件を自動的に把握でき、また、測定器の前段に接続した
入力拡張装置の測定条件設定をGPIB等のインタフェース
バスを介して主制御部が直接制御するのではなく、測定
器を介してその設定を行なうことで主制御部の負荷を軽
減し、自動測定装置全体の測定効率を向上させた自動測
定装置を提供することを目的とする。

（課題を解決するための手段） 前記課題を解決するためにこの発明に係る自動測定装
置は、 補助記憶装置を含む記憶手段と演算手段およびデータ
の送受信手段とを備えた主制御部から、測定する項目、
測定するタイミング、測定器の設定条件等の測定条件に
係る一連の測定条件指令情報を、A/D変換手段およびA/D
変換されたデジタル測定データを一時記憶する測定デー
タ記憶手段とを備えた１以上の測定器へ送出し、この測
定器の測定データ記憶手段に記憶された測定データを前
記主制御部に取込んで、測定データの記憶又は予め準備
した比較データとの照合を行なって良否判定もしくは自
動調整のための指示出力を行なう自動測定装置におい
て、 前記測定器に前記主制御部から与えられる特定のコマ
ンドに対応してその測定器の設定状態に係る設定情報を
出力する設定条件出力手段を備え、 前記測定器の前段に測定ポイントもしくは測定レンジ
を拡張するための入力拡張装置を備え、この入力拡張装
置に前記測定器から与えられる設定指令情報に基づいて
測定条件を設定する入力状態設定手段およびこの入力拡
張装置の設定状態に係る拡張入力設定情報を出力する拡
張入力設定状態出力手段を備え、前記測定器に前記主制
御部から与えられた一連の測定条件指令情報の中から現
在この測定器で測定する項目に対応するものを前記入力
拡張装置へ出力するとともに、前記入力拡張装置から出
力された入力設定状態に係る情報を前記主制御部へ送出
する指令情報・設定情報受け渡し手段を備え、 前記測定器の前段に複数の入力拡張装置を選択可能に
接続するとともに、前記主制御部は入力拡張装置の種別
を指令する入力拡張種別指定情報を含めた測定条件指令
情報を出力し、前記測定器に前記入力拡張種別情報に基
づいて対応する入力拡張装置を選択する拡張入力選択手
段を備え、 前記主制御部は自動測定の時系列的な手順を含め一連
の測定条件指令条を出力するとともに、前記測定器にこ
のような一連の測定条件指令情報を一時記憶する自動測
定プログラム記憶手段と、この自動測定プログラム記憶
手段の内容を読み出し読み出した内容に基づいて自己の
測定器および入力拡張装置の測定条件を変化させながら
一連の測定の制御を行なう自動測定手段を備えた ことを特徴とする。

（作用） この発明に係る自動測定装置は、測定器に設定条件出
力手段を備えたので、その測定器の設定状態に係る情報
を主制御部へ送出することができる。よって、主制御部
は測定器が測定条件指令情報で指令した設定状態になっ
ているか否かの確認を行なうことができる。また、測定
器に設けられている操作部から手動で測定条件を変更し
た場合、主制御部から特定の指令（コマンド）を与え
て、測定器の設定状態に係る情報を送出させ、その情報
を主制御部内の記憶手段に格納することができる。した
がって、測定条件を変更に伴って再度自動測定プログラ
ムをエディットする必要がなく、作業性が改善される。
また、自動測定プログラム作成時においても、測定器の
各種設定条件をキーボード等から個々に入力せずに、実
際の測定で確認したその測定器の設定状態を主制御部か
ら特定の指令（コマンド）に基づいて読み込むことでが
でき、パソコン等で構成した主制御部を用いて会話型式
等の比較的簡易な入力方法で自動測定プログラムを作成
することができる。

また、この発明に係る自動測定装置は、測定器の前段
に設けた入力拡張装置に、測定器との情報送受機能を設
けたので、主制御部から測定器へ与えられた一連の測定
条件指令情報の中から、測定器は入力拡張装置に係る指
令情報を入力拡張装置へ与えることで、入力拡張装置の
設定がなされる。また、入力拡張装置の設定は測定器を
介して主制御部へ受け渡される。

この発明に係る自動測定装置は、測定器の前段に複数
の入力拡張装置を選択可能に接続するとともに、測定器
に拡張入力選択手段を備えたので、測定器は主制御部か
ら与えられる入力拡張種別情報に基づいて該当する入力
拡張装置を選択する。よって、測定ポイントの極めて多
い被測定対象物の自動測定や、微少電圧から高圧に亘る
広い測定電圧範囲の自動測定が可能である。

さらに、この発明に係る自動測定装置は、測定器に時
系列的な手順を含む一連の測定条件指令情報に基づいて
自動測定の制御を行なう自動測定手段を備えたので、主
制御部は自動測定のためのプログラムを測定器へ転送し
た以降は、測定のための条件設定作業から開放され、測
定結果データに基づく解析等の作業に専念することがで
き、例えば良否判定や自動調整のための処理時間を短縮
することができる。

（実施例） 以下、この発明の実施例を添付図面に基づいて説明す
る。

第１図はこの発明に係る自動測定装置のシステム構成
図である。

この自動測定装置SYSは、主制御部10、測定器20、お
よび、必要により任意の台数分だけ備えられた入力拡張
ユニット30,31…からなる。

被測定対象物である電子機器の基板組立等40は、アタ
ッチメント41に装着されるとともに、このアタッチメン
ト41に設けられた複数の接触個（プローブ）41a…を介
して自動測定装置SYSへ電気的に接続される。

なお、このアタッチメント41は、電子機器の基板組立
等40に設けられている調整箇所（例えば半固定抵抗器や
スイッチ）を調整したり切替えたりする自動調整機構42
と、この自動調整機構と主制御部10との間に介在して自
動調整に係る情報の送受を行なう主制御部インタフェー
ス（以下主制御部I/Fと記す）43等を備える構成でもよ
い。

なお、この主制御部I/F43と主制御部10との通信は、R
S−232C等を用いてもよい。

主制御部10は、演算手段、記憶手段等を備えた例えば
パーソナルコンピュータ本体（以下パソコン本体と記
す）11と、キーボード（K/B）12と、モニタディスプレ
イ装置（CRT）13とを備える他に、フロッピィディスク
ドライブ（FDD）等の補助記憶手段14と、GPIBインタフ
ェース（I/F）等の測定器20とのインタフェース（I/F）
手段15、ならびに、必要に応じてアタッチメント側の主
制御部I/F43を介して自動調整機構42との情報の送受を
行なうアタッチメントI/F16を備える。

なお、主制御部10と測定器20との間の情報の送受に
は、GPIB以外の伝送制御システムを用いてもよく、必ず
しも有線伝送に限るものではない。

測定器20は、測定対象信号をA/D変換してデジタル測
定データを記憶するとともに、記憶したデジタル測定デ
ータに基づいて測定対象信号をブラウン管等に可視表示
する機能を有する例えばデジタルサンプリングオシロス
コープ（DSO）21等を主体に構成しており、主制御部10
とのI/F手段22、入力拡張装置30,31…とのI/F手段23、
複数の入力拡張ユニット30,31…から出力される複数の
信号の中から現在測定すべき信号を選択する拡張入力選
択手段24、および、この測定器20の全体動作を制御する
制御部25を備える。

入力拡張装置30,31…は、測定ポイントを拡張するも
ので、複数の入力端子I1〜I32と、選択出力端子O1,O2を
備え、任意の入力端子I1〜I32に印加された信号を、任
意の出力端子へ出力できる選択切替機能を備える。

なお、この実施例では出力端子O1に測定対象信号を、
出力端子O2にその測定対象信号を測定するためのトリガ
信号を出力する構成としている。

なお、入力拡張装置30,31の入出力端子数は任意であ
り、２チャンネル分の信号およびトリガ信号出力端子を
備える構成でもよい。

また、この入力拡張装置30,31は高圧分圧器等を備え
た高圧測定用のものや、微少電流検出用の高感度低ノイ
ズ型のもの等、測定に適した機能のものを用いることが
できる。

第２図は測定器の全体ブロック構成図、第３図は同測
定器のアナログ信号処理系のブロック構成図である。

測定器20は２チャンネル分の入力信号を処理するもの
であるが、説明の都合上第２図では１チャンネル分につ
いて示している。このため、チャンネル選択に係るブロ
ック等は図示ならびに説明を省略する。また、この種の
測定器20の減衰器部は、初段減衰器−前置増幅器−後段
減衰器（減衰量連続可変機能付）の構成が一般的である
が、この実施例では減衰器１段の構成について示す。

この測定器20は、アナログ信号処理部50へ供給する信
号を選択する拡張入力選択手段24と、デジタルサンプリ
ングスコープ（DSO）21の本体部60と、制御部25と、主
制御部20とのI/F手段22、および、入力拡張装置30,31…
とのI/F手段23とからなり、各ブロック23,24,25,60をア
ドレス・データ・制御バス（以下バスと記す）Ｂで接続
している。

入力拡張装置30,31…とのI/F手段23は、各入力拡張装
置30,31…毎に設けた入力拡張装置インタフェース（I/
F）回路23A,23B…を備える。

この入力拡張インタフェース回路23A,23B…は測定器2
0と入力拡張装置30,31…との伝送距離が比較的短い場合
はトライステート状態を有する双方向のバスバッファ等
を用いて構成してもよい。そして、この入力拡張インタ
フェース回路23A,23B…は、バスＢまたは入力拡張装置3
0,31…から与えられる特定のコマンド（特定のアドレス
信号でもよい）に基づいて情報の受け渡しを行なうよう
構成している。

なお、入力拡張装置30,31…それ自体をバスＢに接続
されたI/O装置として制御する構成をとる場合は、入力
拡張装置とのI/F手段23を設けなくてよい。

DSO本体部60は、A/D変換器61、RAM等からなる測定デ
ータ記憶手段62、書込み読出し制御部63、バッファ回路
64、および、表示制御部70からなる。

書込み読出し制御部63は、バスＢを介して制御部25か
ら与えられる各種情報をラッチする複数組のラッチ回路
と、ラッチした情報に基づいて指定されたサンプリング
周期のサンプリングクロックfSを発生するサンプリング
クロック発生回路と、A/D変換器61の変換出力イネーブ
ル信号ENA等を発生するA/D変換器動作状態制御回路と、
測定データ記憶手段62への書込み・読出し、アドレス信
号Ａを生成するアドレスカウンタ回路ならびにリード、
ライト等の制御信号R/Wを生成する制御信号生成回路等
を備える。

バッファ回路64は、トライステート状態を有するもの
で構成しており、書込み読出し制御部63から出力される
転送信号Ｔに基づいて、測定データ記憶手段62の読出し
データRDをバスＢ側へ供給するためのものである。

表示制御部70は、表示用メモリ71、D/A変換器72、垂
直軸出力増幅器73、ブラウン管74、水平軸出力増幅器75
等を備えた一般的な構成のものであり、表示制御回路76
を設けて外部から与える情報により表示内容の切替等を
可能にする構成としている。

制御部25は、各種の機能設定キーを備えた操作部81、
キー入力インタフェース（キー入力I/F）82、マイクロ
コンピュータ等を用いて構成した状態制御部83、自動測
定プログラム記憶手段84、自動設定状態記憶手段85、手
動設定状態記憶手段86および指令コード変換手段87から
なる。

記憶手段84,85,86はRAM等を用いて構成しており、そ
れぞれバスＢを介して状態制御部83へ接続している。

状態制御部83はI/F手段22を介して主制御部10から与
えられる指令を解析する指令解析手段を備えており、制
御部10から自動測定プログラム転送指令を受けた時は、
転送されてくる一連の自動測定プログラムに係る情報を
自動測定プログラム記憶手段84へ格納し、測定条件指令
を受けた時は転送されてくる一連の設定条件に係る情報
を、自動設定状態記憶手段85内の各設定項目毎に予め定
めた格納番地へ格納するとともに、その設定条件に係る
情報をバスＢを介して出力し、該当する回路、切替部等
の状態を設定するよう構成している。

また、この状態制御部83は操作部81内に設けた手動モ
ードキーが操作されると、操作部81の他のキーからの入
力によってこの測定器20の動作状態を設定できる手動モ
ードへ遷移し、この手動モードにおいては、操作部81か
らのキー入力に対応して該当する回路、切替部等の状態
を設定するとともに、その設定状態に係る情報を手動設
定状態記憶手段86へ格納する構成としている。

また、この状態設定部83は、主制御部10からこの測定
器20の設定状態問い合わせに係る指令を受けると、手動
設定状態記憶手段86に記憶している設定状態に係る情報
を順次読出して、I/F手段22を介して主制御部10へ出力
するよう構成している。

さらに、この状態制御部83は、主制御部10から与えら
れた設定条件に係る情報が入力拡張装置30,31に関する
指令情報であることを検出すると、その指令情報を状態
制御部83内に設けたRAM等からなるレジスタ部に一部記
憶するとともに、入力拡張装置I/F23を介して一時記憶
した指令情報を入力拡張装置30,31…へ転送するよう構
成している。

ここで、入力拡張装置30,31…がこの自動測定装置SYS
の専用装置で、設定指令情報等のコマンド体系が整合性
を有している場合は総合動作に何ら支障はないが、コマ
ンド体系等が異なる入力拡張装置32,33等の場合は、総
合的な動作を行なうことができない。

そこで、このような場合状態制御部83は、一時記憶し
ている入力拡張ユニット32,33…に対する指令情報83X
を、指令コード変換手段87へ入力し、コマンド体系の異
なる入力拡張装置33,34…の該当するコマンドへ変換し
た変換コマンド情報83Yを得て、この情報83Yをその入力
拡張装置33,34…へ送出する構成としている。

このため、各入力拡張装置30…には、その機種毎に適
宜な識別コードを割り当て、状態制御部83はこの識別コ
ードに基づいてコマンド体系の整合性があるか否かの判
定を行ない、指令コード変換の有無を判断する構成とし
ている。

また、このような目的から、ROM等で構成した指令コ
ード変換手段87は、着脱が容易な構造としており（例え
ばROMカードとその装着コネクタ）、この自動測定装置S
YSに組込む入力拡張装置30,31,32,33…の種類に応じ
て、指令コード変換手段87を交換する構成としている。

なお、この指令コード変換手段87はその逆変換も行な
えるよう構成しており、これにより入力拡張装置30…の
設定状態に係る情報を主制御部10へ主制御部10が理解で
きる形態の情報として転送できる。

また、制御部25は操作部81内に設けた入力拡張装置の
種別指定キー（任意の機能キーとテンキーとの組み合せ
でもよい）の操作により、現在接続されている入力拡張
装置30…の種類および接続位置を入力できるよう構成し
ており、状態制御部83はその情報を前述のレジスタ等に
記憶する構成としている。

なお、この自動測定装置SYS用の入力拡張装置30…
は、自己の装置の識別番号を送出する機能を備えてお
り、状態制御部83はその識別番号を受けとると、現在接
続されている入力拡張装置30…の識別番号とその接続位
置に係る情報を前述のレジスタ等に記憶するよう構成し
ている。

そして、この状態制御部83は、この入力拡張装置30…
の識別番号に基づいて拡張入力選択手段24の入力切替指
令情報を発生する構成としている。

次に、第３図を参照に各種の測定条件を設定する構成
例を説明する。

拡張入力選択手段24は、切替回路24aと、ラッチ手段2
4bとからなる。

切替回路24aは２トランスファ接点を有するリレーと
その駆動回路等から構成する。

ラッチ手段24bは、この拡張入力選択手段24のアドレ
スが指定された設定情報をラッチするもので、アドレス
判定回路とラッチ回路等より構成し、ラッチ回路等の出
力に基づいて切替回路24aの切替駆動を行なうよう構成
している。

これにより、アナログ信号処理部50へ印加する信号を
一方の入力拡張装置30の出力信号SAとするか、他方の入
力拡張装置31の出力信号SBとするかの切替えを行なうと
ともに、各トリガ信号TA,TBについても同様の切替えを
行なう。

アナログ信号処理部50は、入力モード切替部51、減衰
器部52、前置増幅器53、トリガモード切替部54からな
る。

入力モード切替部51は入力モードを直流結合とする
か、交流結合とするか、また、入力を接地とするかの切
替えを行なうもので、切替回路51aとラッチ手段51bとを
備える。ラッチ手段51bは拡張入力選択手段24内のラッ
チ手段24bと同じ構成であり、この入力モード切替部51
のアドレスが指定された場合、入力モード設定に係る情
報をラッチし、ラッチした情報に基づいて入力モードの
切替えを行なうよう構成している。

減衰器部52は、可変減衰器52aとラッチ手段52bからな
る。可変減衰器52aはラッチ手段52bから出力される信号
に基づいて減衰量を可変できるよう構成している。ラッ
チ手段52bの構成は前述のものと同じである。

可変減衰器52aの出力は前置増幅器53を介してA/D変換
器61のアナログ信号入力端子へ供給される。

トリガモード切替部54は、トリガに用いる信号を前置
増幅器53の出力信号とするか、拡張入力選択手段24で選
択したトリガ信号の信号レベルをレベル調節回路54aを
通してレベル調節した信号とするかの切替回路54bを備
えたトリガ信号選択回路54cと、トリガモードを直流レ
ベルとするか交流レベルとするかの切替えを行なうトリ
ガモード切替回路54dと、トリガ極性ならびにトリガレ
ベル設定条件に基づいてトリガ情報を発生するトリガ情
報発生部54eと、ラッチ手段54fからなる。

ラッチ手段54fの構成は前述のものと同じであり、ト
リガ条件指定に係るアドレスが指定された場合、トリガ
条件に係る指令情報をラッチして各回路54b〜54dを制御
するよう構成している。

第４図は入力拡張装置の１例を示すブロック構成図で
ある。

この入力拡張装置30は信号入力端子を32個備え（I1〜
I32）、各信号入力の中から任意の１つを選択して信号
出力端子O1、および、トリガ信号出力端子O2へ供給する
ものである。

また、この入力拡張装置30は、測定器２のアナログ信
号処理部50と同等の機能を備えており、測定電圧レンジ
を切替える機能を持たないA/D変換装置単体等を測定器2
0として用いる場合でも、広い電圧範囲等に亘る測定を
可能にするものである。

さらに、この入力拡張装置30は、テレビジョン、VTR
等の複合映像信号の入力端子IVを備え、水平走査線の番
号指定を行なえばそのタイミングでトリガ用の信号を発
生させる機能を備えている。

入力拡張装置30は、入力選択部101、入力モード切替
部102、初段可変減衰器部103、前置増幅器104、後段可
変減衰器部105、バッファ増幅器106、映像信号に関して
所望のトリガ信号を生成する映像信号用トリガ信号発生
部107、トリガ信号切替部108、制御部109、および、測
定器インタフェース回路110からなる。

入力選択部101は、入力モード切替部102へ供給する信
号を選択する信号選択回路101aと、トリガ用の信号を選
択するトリガ信号選択回路101bと、各選択回路101,102
の選択情報をラッチするラッチ手段101c,101dからな
り、各ラッチ手段101c,101dはバスBUSへ接続されてい
る。

入力モード切替部102、初段減衰器部103、前置増幅器
104の構成は、第３図に示したものと同等である。この
入力拡張装置30では、前置増幅器104の出力を後段可変
減衰器部105、バッファ増幅器106を介して信号出力端子
O1を供給する。

映像信号用トリガ信号発生部107は映像信号用トリガ
条件に係る情報をラッチするラッチ手段107aと、映像信
号処理回路107bからなる。

映像信号処理回路107bは、Y/C分離回路、同期信号分
離回路、クロック発生回路等を備え、映像信号入力端子
IVに印加される映像信号に同期した各種タイミング信号
を生成し、ラッチ手段107aでラッチしたトリガ指令に係
る情報（例えば水平走査線126番目でトリガ信号を発生
せよ）に基づいてトリガパルスTPを発生するよう構成し
ている。

トリガ信号切替部108は、入力選択部101で選択したト
リガ信号TS、または、トリガパルスTPの切替を行なう切
替回路108aとラッチ手段108bからなる。

制御部109は、マイクロコンピュータ等を用いて構成
した状態制御部109aと、操作部109b、キー入力インタフ
ェース109cを介して手動設定された設定状態に係る情報
を記憶する手段設定状態記憶手段109dと、測定器インタ
フェース回路109を介して測定器20側から与えられた設
定指令に係る情報を記憶する自動設定状態記憶手段109e
と、この入力拡張装置30の識別番号情報IDを記憶もしく
は設定したROMもしくはデジスイッチ等からなる入力拡
張装置識別番号設定手段109fとからなる。

この制御部109の構成ならびに動作は、第３図に示し
た測定器20の制御部25とほぼ同じである。

状態制御部109aは、測定器インタフェース回路110を
介して与えられた識別番号問合わせ指令に対して自己の
識別番号（ID）情報を返送し、また、この装置30の設定
状態問い合わせ指令に対して現在の設定状態に係る情報
を測定器インタフェース回路110を介して出力するよう
構成している。

なお、この実施例では測定器20の制御部25と、入力拡
張装置30の制御部109との間に、伝送処理を行なうイン
タフェース回路を設けているが、入力拡張装置30側には
状態制御部109aを設けずに、測定器20の制御部25にバス
I/O機器の１つとしてこの入力拡張装置が接続される構
成でもよい。

以上の構成であるから、主制御部10から予め定めたフ
ォーマットに従って設定すべき項目ならびに設定すべき
条件等をGPIB等のインタフェースを介して測定器20へ送
出することにより、この測定器20の測定条件ならびにこ
の測定器20に接続されている入力拡張装置30,31…の測
定条件を設定して、測定器20でA/D変換されたデジタル
測定データを受取って、これを主制御部10側で処理する
ことで、良否判定、自動調整もしくは自動測定が行なえ
る。

また、測定器20または入力拡張装置30,31…の設定を
手動で行ない最適測定条件等を設定した場合は、主制御
部10側から特定のコマンドを発することで、それらの設
定条件を返送させ、それを主制御部10側で記憶して、必
要に応じて記憶した内容に基づいて自動測定プログラム
内の設定条件を変更することができる。

また、入力拡張装置30,31の識別番号（ID）を利用し
て、測定器20の前段に接続された複数の入力拡張装置3
0,31の種別ならびに接続位置（例えば入力チャネル１側
にどの入力拡張装置が接続されているか、入力拡張装置
の接続替えがなされたか等）を識別し、自動的に選択す
ることができる。

さらに、時系列的な一連の測定等を行なう自動測定プ
ログラムを測定器20側へ転送し、測定器20内の状態制御
部83へその実行処理を行なわせて、その測定結果を主制
御部10が受取ることにより、主制御部10は自動測定の手
順処理から解放され、測定結果に対する処理に専念でき
る。

また、測定器20に接続する入力拡張装置32,33…が、
この自動測定装置SYSで準備したコマンド体系とは異な
るコマンド体系の装置である場合は、それらの変換を行
なう指令コード変換手段87によって変換することができ
るので、自動測定システムの拡張性に優れる。

（発明の効果） 以上説明したようにこの発明に係る自動測定装置は、
測定器にその測定器の設定状態に係る情報を出力する設
定条件出力手段を備えたので、主制御部は測定器へ対し
て特定の指令（コマンド）を与えて、その測定器の設定
状態に係る情報を取り込むことができる。よって、主制
御部はその測定器が期待する設定状態になっているか否
かの確認を行なうことができる。また、測定器の操作部
から手動で測定条件の変更や微調整をした場合、その変
更後の情報を主制御部内の記憶手段（必要によっては補
助記憶手段）へ格納することができる。したがって、測
定条件の変更等に際して、再度自動プログラムを作成し
なおす作業が不要となり、作業性が改善されるととも
に、プログラム作成のための知識を持たない人でも、こ
の自動測定装置を運用することが容易である。また、自
動測定プログラム作成時においても、測定器の各種設定
条件をキーボード等から個々に入力せずに、実際の測定
で確認した内容を主制御部側で取り込み、その情報を記
憶することが可能である。したがって、パソコン等で構
成した主制御部を用いて、例えば会話型式等の比較的簡
易な入力方法で自動測定プログラムを作成することがで
きる。

この発明に係る自動測定装置は、測定器の前段に設け
た入力拡張装置と測定器との間に、情報を送受する手段
を備えたので、主制御部と入力拡張装置間はこの測定器
を介して入力拡張装置の測定条件の設定および設定状態
に係る情報の受け渡しが可能である。

この発明に係る自動測定装置は、測定器の前段に複数
種類の入力拡張装置を自動選択可能に接続したので、測
定ポイントの極めて多い被測定対象物の自動測定や、測
定電圧範囲の広い測定の自動化が可能である。

また、測定器と入力拡張装置との間に、専用の情報送
受機能を備える構成であるから、各入力拡張装置やその
選択装置にGPIB用のインタフェース回路部を設ける必要
がなく、各入力拡張装置の回路構成を簡略化することが
できるとともに、入力拡張装置の台数増加に伴ってGPIB
等の汎用バスのアクセス時間、アクセス回数が増加する
ことがないので、測定器の測定データを効率よく主制御
部へ転送することが可能で、自動測定装置全体の処理速
度を向上させることができる。

さらに、この発明に係る自動測定装置は、時系列的な
手順を含む一連の測定条件指令情報を主制御部から測定
器へ転送し、測定器側で自己の測定器ならびに入力拡張
装置の設定を制御しながら一連の測定を行なう構成とし
たので、主制御部は測定結果データに基づく解析等の作
業に専念することができ、例えば良否判定や自動調整の
ための処理時間を短縮することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る自動測定装置のシステム構成
図、第２図は測定器の全体ブロック構成図、第３図は同
測定器のアナログ信号処理系のブロック構成図、第４図
は入力拡張装置のブロック構成図、第５図は従来の自動
測定装置のシステム構成図である。 １……主制御部、15……測定器とのインタフェース手
段、16……アタッチメントインタフェース、20……測定
器、21……デジタルサンプリングオシロスコープ（DS
O）、22……主制御部とのI/F手段、23……入力拡張装置
とのI/F手段、24……拡張入力選択手段、25……測定器
の制御部、50……アナログ信号処理部、60……デジタル
サンプリングオシロスコープ（DSO）の本体部、81……
測定器の操作部、83……測定器の状態制御部、84……自
動測定プログラム記憶手段、85……測定器の自動測定状
態記憶手段、86……測定器の自動設定状態記憶手段、10
1……入力選択部、107……映像信号用トリガ信号発生
部、108……トリガ信号切替部、109……入力拡張装置の
制御部、109a……状態制御部、109b……操作部、109d…
…手動設定状態記憶手段、109e……自動設定状態記憶手
段、109f……入力拡張装置識別番号（ID）設定手段、11
0……入力拡張装置内の測定器インタフェース回路、B,B
US……アドレス・データ・制御バス、SYS……自動測定
装置。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊達 一幸 神奈川県横浜市神奈川区守屋町３丁目12 番地 日本ビクター株式会社内 (72)発明者 名取 和也 東京都千代田区神田須田町１丁目23番地 ２号 （大木須田町ビル) (72)発明者 浜口 保宏 東京都千代田区神田須田町１丁目23番地 ２号 （大木須田町ビル) (56)参考文献 特開 昭63−131024（ＪＰ，Ａ) 特公 平４−66439（ＪＰ，Ｂ２)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】補助記憶装置を含む記憶手段と演算手段お
   よびデータの送受信手段とを備えた主制御部から、測定
   する項目、測定するタイミング、測定器の設定条件等の
   測定条件に係る一連の測定条件指令情報を、A/D変換手
   段およびA/D変換されたデジタル測定データを一時記憶
   する測定データ記憶手段とを備えた１以上の測定器へ送
   出し、この測定器の測定データ記憶手段に記憶された測
   定データを前記主制御部に取込んで、測定データの記憶
   又は予め準備した比較データとの照合を行なって良否判
   定もしくは自動調整のための指示出力を行なう自動測定
   装置において、 前記測定器に前記主制御部から与えられる特定のコマン
   ドに対応してその測定器の設定状態に係る設定情報を出
   力する設定条件出力手段を備え、 前記測定器の前段に測定ポイントもしくは測定レンジを
   拡張するための入力拡張装置を備え、この入力拡張装置
   に前記測定器から与えられる設定指令情報に基づいて測
   定条件を設定する入力状態設定手段およびこの入力拡張
   装置の設定状態に係る拡張入力設定情報を出力する拡張
   入力設定状態出力手段を備え、前記測定器に前記主制御
   部から与えられた一連の測定条件指令情報の中から現在
   この測定器で測定する項目に対応するものを前記入力拡
   張装置へ出力するとともに、前記入力拡張装置から出力
   された入力設定状態に係る情報を前記主制御部へ送出す
   る指令情報・設定情報受け渡し手段を備え、 前記測定器の前段に複数の入力拡張装置を選択可能に接
   続するとともに、前記主制御部は入力拡張装置の種別を
   指令する入力拡張種別指定情報を含めた測定条件指令情
   報を出力し、前記測定器に前記入力拡張種別情報に基づ
   いて対応する入力拡張装置を選択する拡張入力選択手段
   を備え、 前記主制御部は自動測定の時系列的な手順を含め一連の
   測定条件指令条を出力するとともに、前記測定器にこの
   ような一連の測定条件指令情報を一時記憶する自動測定
   プログラム記憶手段と、この自動測定プログラム記憶手
   段の内容を読み出し読み出した内容に基づいて自己の測
   定器および入力拡張装置の測定条件を変化させながら一
   連の測定の制御を行なう自動測定手段を備えた ことを特徴とする自動測定装置。