JP2517616B2 - ファジイフィ―ドバック制御におけるパラメ―タ適応方法 - Google Patents

ファジイフィ―ドバック制御におけるパラメ―タ適応方法

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JP2517616B2 JP62232327A JP23232787A JP2517616B2 JP 2517616 B2 JP2517616 B2 JP 2517616B2 JP 62232327 A JP62232327 A JP 62232327A JP 23232787 A JP23232787 A JP 23232787A JP 2517616 B2 JP2517616 B2 JP 2517616B2
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【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、検出されたプロセス変数の設定値に対する
制御偏差と該制御偏差の前回値に対する変化量と、を用
いてファジイ演算によりプロセス制御出力の前回値に対
する変化量を求め、この値を前回の制御出力値に加算し
て行うファジイフィードバック制御において、プロセス
・パラメータの変動があるとき、それに対する制御パラ
メータの適応を行うパラメータ適応方法に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
一般にファジイ制御はPI(比例、積分)制御に比較す
ると、良い制御性をもつが、最良の状態で用いようとす
ると、調整すべきパラメータの数が多く、プロセス・パ
ラメータの変動に対しての制御パラメータの適応も複雑
なものとなる。またその適応方法もケース・バイ・ケー
スという方法で従来対処していたために一般的なパラメ
ータ適応方法というものは確立されていないという状況
にあった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
そこで従来のファジイ制御における制御パラメータの
適応の複雑さ、一般的なパラメータ適応方法の未確立と
いう問題を本発明では解決しようとする。
従って本発明の目的は、ファジイ制御における制御パ
ラメータの適応を簡易なものとし、かつ一般性のあるフ
ァイジイフィードバック制御におけるパラメータ適応方
法を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的達成のため本発明では、検出されたプロセス
変数の設定値に対する制御偏差e(i)(但し、iは何
回目のサンプリングであるかというサンプリング回数を
表し、i=1,2,3,…である)と該制御偏差の前回値に対
する変化量(以下、単に偏差の変化量とい)Δe(i)
と、を用いてファジイ演算によりプロセス制御出力の前
回値に対する変化量(以下、単に制御出力の変化量とい
う)Δu(i)を求め、この値を前回の制御出力値u
(i)に加算して行うファジイフィードバック制御にお
いて、 プロセス・ゲインKpと総遅れ時定数TTOTALとの同定手
段によって該プロセス・ゲインKpと総遅れ時定数TTOTAL
とを同定した後、同定された該プロセス・ゲインKpと総
遅れ時定数TTOTALを用いて、前記制御偏差e(i)に対
するメンバシップ関数をそれの関数として変化させ、制
御出力の変化量Δu(i)はプロセス・ゲインKpに反比
例した値として修正することにより適応させることとし
た。
〔作用〕
以下、本発明による適応方法としてのよって立つべき
動作原理について、従来のPI制御におけるパラメータ適
応方法を参照しながら具体的に説明する。
一般に、プラントの伝達関数が、 Kp・e-LS/(1+T・s) と与えられた場合(但し、Kpはプロセス・ゲイン、Lは
プロセス無駄時間、Tはプロセス時定数、sはラプラス
演算子、を表し、TTOTAL=L+Tを総遅れ時定数と呼
ぶ。)、PI制御方式による場合の適応方法は、PI制御式 u(t)=Kc{e(t)+(1/Ti)∫e(t)dt} …
(1) において(但し、Kcはコントローラ・ゲイン、Tiはコン
トローラ積分時間、u(t)は制御出力、e(t)は制
御偏差を表す)、 (i)プロセス・パラメータとしてのプロセス・ゲイン
Kpの変動時には、(L/T)をパラメータとしてKp・Kcが
一定となるようにコントローラ・ゲインKcを適応させ
る。
(ii)プロセス・パラメータとしてのプロセス遅れ時定
数Tが変動した時には、(L/T)をパラメータとしてTi/
(L+T)が一定となるように積分時間Tiを適応させ
る。
一方、e(t)が既に述べたようにプロセス観測量の
時刻tにおける設定値からの偏差(制御偏差)であり、
rを設定値、x(t)を時刻tにおけるプロセス観測値
とすると、e(t)は次の式で求められる。
e(t)=r−x(t) …(2) ここでファジイ制御方式では、プロセス観測量の偏差
e(i)及び該偏差の変化量Δe(i)を用い(但し、
iは何回目のサンプリングであるかというサンプリング
回数を表し、i=1,2,3,…である)、次の式により制御
出力を決定している。
Δu(i)=F(e(i),Δe(i)) …(3) u(i+1)=u(i)+Δu(i) …(4) ここでe(i)は偏差、Δe(i)は偏差の変化量、
u(i+1)は制御出力、Δu(i)は制御出力の変化
量、Fはファジイ演算の関数、であることは勿論であ
る。
そこでPI制御方式における適応方法を基に考えると、
プロセス・ゲイン変動に対しては、上記(i)に照らし
て制御出力を変えれば良く、プロセス遅れ時定数Tの変
化に対しては上気(ii)に照らして偏差の項(積分項)
の大きさを変えれば良いことが分かる。
よって上記(i),(ii)を基に本発明では次のよう
な適応を行う。
プロセス・ゲインKpの変動に対しては、前記(4)
式において、 u(i+1)=u(i)+α・Δu(i) …(4A) とすることにより適応を行う。
ここでKp′を変動後のプロセス・ゲインとするとα=
Kp/Kp′の関係がある。
プロセス遅れ時定数Tの変動に対しては偏差に対す
るメンバシップ関数をτ/(L+T)の関数として変化
させることにより適応を行う。
なおPI制御方式では、(L/T)をパラメータとしてコ
ントローラ・ゲイン、コントローラ積分時間を適応させ
たが、本発明によるファジイ制御方式では、(L/T)の
変動による影響は少ないため、(L/T)に対する適応は
不要である。また前記(4A)式において、αは(Kp/K
p′)としているが、これは本来、(L/T)の関数でもあ
る。よって (L/T)が未知の場合には、 α=Kp/Kp′ …(5) とすれば良く、(L/T)が既知の場合には、 α=(Kp/Kp′)・g(L/T) …(5A) として適応させれば良いと言える(但し、ここでgは関
数を表す)。
以上をまとめ、本発明によるファジイフィードバック
制御では、結局、プロセス・ゲインKpがα倍になったと
きは、制御出力の変化量Δu(i)の算出値をそれまで
の値の1/α倍とし、総遅れ時時定数TTOTALが変化したと
きは、偏差に関するメンバシップ関数を遅れ時定数Tの
関数に従って時間軸(横軸)に沿って拡大、縮小するも
の、と言える。
〔実施例〕
次に本発明の実施例を説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
同図において、1はプラント、2はファジイ演算装置、
3は制御規則(ファジイ規則)やメンバシップ関数の記
録装置、4は設定値記憶回路、5は操作部、6は同定演
算装置、7は乗算器、8は加算器、9は関数演算器、で
ある。
第1図において、プラント1のプロセス変数はファジ
イ演算装置2へ送られる。また同定演算装置6(例えば
カルマン・フイルタ)では、プラント・パラメータτ/
(L+T),Kp/Kp′(=α)の同定演算を行い、演算結
果を関数演算器9、乗算器7へ送る。
関数演算器9では、与えられたプロセス・パラメータ
τ/(L+T)の同定値を値い、記憶装置3に記憶され
ているメンバシップ関数の適応を行う。ファジイ演算装
置2では、プラント1から与えられたプロセス変数の、
記憶回路4から読み出された設定値に対する偏差e
(i)及び偏差の変化量Δe(i)に対応するファジイ
関数の値を所定の演算により算出する。更にファジイ関
数に対して集合演算を行い制御出力の変化量Δu(i)
を算出する。
ファジイ演算装置2により算出された制御出力の変化
量Δu(i)は乗算器7へ送られる。乗算器7では、制
御出力の変化量Δu(i)に対し、同定演算装置6から
与えられたプロセス・パラメータ(Kp/Kp′)の同定結
果を用い、(Kp/Kp′)・Δu(i)なる乗算を行うこ
とにより適応を行い、適応後の制御出力の変化量(Kp/K
p′)・Δu(i)を加算器8へ送る。
加算器8では、u(i+1)=u(i)+(Kp+K
p′)・Δu(i)なる演算を行い、その結果であるu
(i+1)を操作部5へ送る。操作部5では、制御出力
u(i+1)に対応する操作を行うことによりプラント
1の制御を行う。
以上は本発明に係るファジイフィードバック制御の全
般的説明であるが、以下、繰り返しになるかも知れない
が、本発明に特に関係した関数演算器9と乗算器7にお
ける演算について若干説明を追加する。
関数演算器9では、同定演算装置6における演算結果
としてのプロセス・パラメータτ/(L+T)を与えら
れ、記憶装置3に記憶されている偏差のメンバシップ関
数を〔{τ/(L+T)}′/{τ/(L+T)}〕倍
することにより、当該プロセス遅れ定数に対するメンバ
シップ関数の適応を行う。ここで{τ/(L+T)}′
を変動後のプロセス・パラメータとする。
また乗算器7では、同定演算装置6における演算結果
としてのプロセス・ゲインの比率(Kp/Kp′)を与えら
れ、制御出力の変化量Δu(i)に対して、それを(Kp
/Kp′)倍する演算を行うことにより、プロセス・ゲイ
ンの変動に対する適応る行う。
〔発明の効果〕
第2図は本発明によるパラメータ適応方法のシミュレ
ーション結果を示した特性図である。
第2図(イ)は、最適調整時のプロセス応答を表した
特性図である。この状態において、プロセス・ゲインを
4倍に変化させた場合、そのときの本発明による制御パ
ラメータの適応として制御出力値(観測量)を4倍した
ものが第2図(ロ)に示す如く得られた。また最適調整
時の状態において、プロセス総遅れ時定数(L+T)を
3倍に変化させた場合、そのときの本発明による制御パ
ラメータの適応として偏差のメンバシップ関数を〔{τ
/(L+T)}′/{τ(L+T)}〕倍した場合の観
測量が第2図(ハ)に示す特性である。
以上、第2図(イ),(ロ),(ハ)のプロセス応答
特性より、 (a)プロセス・ゲイン変動時には、制御出力の変化量
を(Kp/Kp′)倍して適応を行う、 (b)プロセス遅れ時定数変動に対しては、偏差のメン
バシップ関数を、(L+T)の関数F{τ/(L+
T)}倍して適応を行う、 という適応方法が充分な効果を与えていることが分るで
あろう。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
本発明によるパラメータ適応方法のシミュレーション結
果を示した特性図、である。 符号の説明 1……プラント、2……ファジイ演算装置、3……制御
規則(ファジイ規則)やメンバシップ関数の記憶装置、
4……設定値記憶回路、5……操作部、6……同定演算
装置、7……乗算器、8……加算器、9……関数演算
器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柳下 修 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内 (72)発明者 庄林 直樹 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内 (72)発明者 篠田 正紀 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−247801(JP,A) 特開 昭62−241006(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】検出されたプロセス変数の設定値に対する
    制御偏差e(i)(但し、iは何回目のサンプリングで
    あるかというサンプリング回数を表し、i=1,2,3,…で
    ある)と該制御偏差の前回値に対する変化量Δe(i)
    と、を用いてファジイ演算によりプロセス制御出力の前
    回値に対する変化量Δu(i)を求め、この値を前回の
    制御出力値u(i)に加算して行うファジイフィードバ
    ック制御において、 プロセス・ゲインKpと総遅れ時定数TTOTAL(但し、T
    TOTAL=プロセス無駄時間L+プロセス時定数T)との
    同定手段によって該プロセス・ゲインKpと総遅れ時定数
    TTOTALとを同定した後、同定された該プロセス・ゲイン
    Kpと総遅れ時定数TTOTALを用い、 前記制御偏差e(i)に対するメンバシップ関数は(τ
    /TTOTAL)の変化率に反比例して変化させ(但し、τは
    サンプリング周期を表す)、前記Δu(i)はプロセス
    ・ゲインKpの変化率に反比例した値とすることにより、
    プロセス・ゲインKpと総遅れ時定数TTOTALとの変化に対
    する適応を行うことを特徴とするファジイフィードバッ
    ク制御におけるパラメータ適応方法。
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