JP2507335Y2 - 電磁式ラッチ弁の開閉状態の検知回路 - Google Patents
電磁式ラッチ弁の開閉状態の検知回路Info
- Publication number
- JP2507335Y2 JP2507335Y2 JP11590489U JP11590489U JP2507335Y2 JP 2507335 Y2 JP2507335 Y2 JP 2507335Y2 JP 11590489 U JP11590489 U JP 11590489U JP 11590489 U JP11590489 U JP 11590489U JP 2507335 Y2 JP2507335 Y2 JP 2507335Y2
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- Japan
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- circuit
- open
- latch
- valve
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- Indication Of The Valve Opening Or Closing Status (AREA)
- Magnetically Actuated Valves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は信頼性を要求される例えば原子力部門、宇宙
関連部門等で使用される電磁式ラツチ弁の開閉状態を検
知する回路に関する。
関連部門等で使用される電磁式ラツチ弁の開閉状態を検
知する回路に関する。
従来電磁式ラツチ弁の開閉状態を検知する方式の例と
して第３図に示すマイクロスイツチによる検知方式があ
る。
して第３図に示すマイクロスイツチによる検知方式があ
る。
図においてＡはラツチ弁のボデイでその内部に弁体５
が保持されている。3,4は弁体５を磁力により図の左右
方向に移動させ開状態又は閉状態にする駆動コイルであ
る。
が保持されている。3,4は弁体５を磁力により図の左右
方向に移動させ開状態又は閉状態にする駆動コイルであ
る。
6,7は弁体５の位置を検知するための検知コイル、Ｂ
はボデイＡの一端に取付けたマイクロスイツチ、Ｃはボ
デイＡと弁体５の間に設けたダイヤフラム、Ｄは弁体５
の後端部に配設したベローズである。この方式のものは
ラツチ弁の移動に伴なう開閉状態をマイクロスイツチＢ
により検知するものである。
はボデイＡの一端に取付けたマイクロスイツチ、Ｃはボ
デイＡと弁体５の間に設けたダイヤフラム、Ｄは弁体５
の後端部に配設したベローズである。この方式のものは
ラツチ弁の移動に伴なう開閉状態をマイクロスイツチＢ
により検知するものである。
しかしながらこのマイクロスイツチ方式は、故障の生
じ易いマイクロスイツチ機構を持つため高い信頼性を得
られなかつたので、これに代る方式として第４図に示す
検知コイルと開閉状態及び表示を処理する電気回路によ
る方式が提案されている。第５図はこの方式による回路
を示すもので、これら第4,第５図においてラツチ弁のボ
デイＡ′内に保持された弁体５′は駆動コイル３′,4′
の作動で磁力により図の左右方向に移動し、弁を開いた
り閉じたりする。第５図に示す電気回路は、駆動コイル
３′,4′に電流を流し同コイルに磁力を発生させるため
の駆動回路1,2（第５図）、弁体５の位置を検知するた
めボデイＡ内に配設された検知コイル６′,7′、検知コ
イル６′,7′に検知のためのパルスを与えるためのパル
ス発生回路15、検知コイルの出力電圧の時間変化を比較
する比較回路18、比較回路18の出力信号を処理しコイル
の開閉状態信号を保持するラツチ回路９、ラツチ回路か
らの開閉状態信号を開閉状態の表示に変換する開閉状態
の表示回路10、上記回路を作動させるための電源11〜14
及び比較回路への基準電圧を与える基準電圧発生回路16
で構成される。
じ易いマイクロスイツチ機構を持つため高い信頼性を得
られなかつたので、これに代る方式として第４図に示す
検知コイルと開閉状態及び表示を処理する電気回路によ
る方式が提案されている。第５図はこの方式による回路
を示すもので、これら第4,第５図においてラツチ弁のボ
デイＡ′内に保持された弁体５′は駆動コイル３′,4′
の作動で磁力により図の左右方向に移動し、弁を開いた
り閉じたりする。第５図に示す電気回路は、駆動コイル
３′,4′に電流を流し同コイルに磁力を発生させるため
の駆動回路1,2（第５図）、弁体５の位置を検知するた
めボデイＡ内に配設された検知コイル６′,7′、検知コ
イル６′,7′に検知のためのパルスを与えるためのパル
ス発生回路15、検知コイルの出力電圧の時間変化を比較
する比較回路18、比較回路18の出力信号を処理しコイル
の開閉状態信号を保持するラツチ回路９、ラツチ回路か
らの開閉状態信号を開閉状態の表示に変換する開閉状態
の表示回路10、上記回路を作動させるための電源11〜14
及び比較回路への基準電圧を与える基準電圧発生回路16
で構成される。
なお第４図におけるＣはダイヤフラム、Ｅは検知コイ
ルの引出線、Ｆは開閉状態の検知及び表示を処理する電
気回路を示している。
ルの引出線、Ｆは開閉状態の検知及び表示を処理する電
気回路を示している。
ところでこのような従来の検知回路では、検知コイル
以外に数種の電源やパルス発生回路基準電圧発生回路な
どの構成回路数が多く重量、価格がかさむ上、信頼性を
確保するのが困難であるという不具合がある。さらに第
５図示の電源11〜13の何れか１つがOFF状態であれば開
閉状態を検知できないという不具合があつた。
以外に数種の電源やパルス発生回路基準電圧発生回路な
どの構成回路数が多く重量、価格がかさむ上、信頼性を
確保するのが困難であるという不具合がある。さらに第
５図示の電源11〜13の何れか１つがOFF状態であれば開
閉状態を検知できないという不具合があつた。
本考案はこのような従来の回路の持つ不具合を解消す
べく、構成回路数を減少させ重量、価格を削減し、しか
も信頼性の向上を確保する回路を提供することを目的と
するものである。
べく、構成回路数を減少させ重量、価格を削減し、しか
も信頼性の向上を確保する回路を提供することを目的と
するものである。
このため本考案の電磁式ラツチ弁の開閉状態の検知回
路は、磁力により弁体を移動させ開または閉状態にする
駆動コイルと、これらのコイルに電流を流しコイルに磁
力を発生させるための駆動回路と、弁体の位置を検知す
る２つのセンサコイルと、それらの出力電圧を比較する
比較回路と、その出力を処理して開閉表示回路に信号を
与えるラツチ回路と、ラツチ弁の前記駆動回路に流れる
電流を安定化して前記比較回路及びラツチ回路に供給す
る電源回路とで構成されたことを特徴としている。
路は、磁力により弁体を移動させ開または閉状態にする
駆動コイルと、これらのコイルに電流を流しコイルに磁
力を発生させるための駆動回路と、弁体の位置を検知す
る２つのセンサコイルと、それらの出力電圧を比較する
比較回路と、その出力を処理して開閉表示回路に信号を
与えるラツチ回路と、ラツチ弁の前記駆動回路に流れる
電流を安定化して前記比較回路及びラツチ回路に供給す
る電源回路とで構成されたことを特徴としている。
上述の本考案の電磁式ラツチ弁の開閉状態の検知回路
は、弁体を移動させ開または閉状態にするため駆動コイ
ルに電流を流す駆動回路からの電流を安定化して比較回
路及びラツチ回路の電源や基準電圧発生回路を利用する
回路を設け、弁体の位置を検知する検知コイルの立ち下
り電圧の時間変化を比較する方式を採用したことによ
り、回路の構成品を減少し、重量、価格を低減化し、か
つ信頼性を高めることができる。
は、弁体を移動させ開または閉状態にするため駆動コイ
ルに電流を流す駆動回路からの電流を安定化して比較回
路及びラツチ回路の電源や基準電圧発生回路を利用する
回路を設け、弁体の位置を検知する検知コイルの立ち下
り電圧の時間変化を比較する方式を採用したことによ
り、回路の構成品を減少し、重量、価格を低減化し、か
つ信頼性を高めることができる。
以下、図面により本考案の一実施例としての電磁式ラ
ツチ弁の開閉状態検知回路について説明する。第１図は
その概略構成図、第２図はその電気信号の状態を説明す
るためのグラフである。
ツチ弁の開閉状態検知回路について説明する。第１図は
その概略構成図、第２図はその電気信号の状態を説明す
るためのグラフである。
これらの図において本考案の開閉状態検知回路はラツ
チ弁の弁体105の位置を検知するために106及び107で示
す検知コイルと、これらの出力電圧を比較する比較回路
108と、その出力を処理して開閉状態の表示回路110に信
号を与えるラツ回路109と、ラツチ弁の駆動コイル103,1
04に電流を流す駆動回路101または102に流れる電流ｉを
安定化して、比較回路108及びラツチ回路109に供給する
電源回路117とで構成される。なお111は電源である。
チ弁の弁体105の位置を検知するために106及び107で示
す検知コイルと、これらの出力電圧を比較する比較回路
108と、その出力を処理して開閉状態の表示回路110に信
号を与えるラツ回路109と、ラツチ弁の駆動コイル103,1
04に電流を流す駆動回路101または102に流れる電流ｉを
安定化して、比較回路108及びラツチ回路109に供給する
電源回路117とで構成される。なお111は電源である。
次ぎに回路内の電気信号の流れを第１図及び第２図に
基づき説明すると、例えば駆動回路101により駆動コイ
ル103に電圧が印加された時、一部の電流ｉは電源回路1
17に流れ込み、電圧VP及びVRef，VCCを発生させる。電
圧VPは106及び107の検知コイルに印加され、VRefは比較
回路108の基準電圧、VCCは比較回路108及びラツチ回路1
09の電源電圧となり回路全体が機能しはじめる。さてこ
こで、弁体105の移動後駆動回路101の回路が切断される
と、第２図に示すように電流ｉの立ち下がりにともない
106及び107の検知コイル電圧｜V1|,|V2｜が立ち下がる
が、立ち下がりの速度に差があるため、基準電圧VRefと
の比較によりその時間差△ｔを比較回路108によりVA及
びVBなる電圧信号として取り出せる。VAとVBのどちらが
先に出力されたかを検知し、電源VCCが供給されなくな
つた後も記憶しておくラツチ回路109により、ラツチ弁
の開閉信号Ｓが常に開閉状態の表示回路110に伝達可能
となる。
基づき説明すると、例えば駆動回路101により駆動コイ
ル103に電圧が印加された時、一部の電流ｉは電源回路1
17に流れ込み、電圧VP及びVRef，VCCを発生させる。電
圧VPは106及び107の検知コイルに印加され、VRefは比較
回路108の基準電圧、VCCは比較回路108及びラツチ回路1
09の電源電圧となり回路全体が機能しはじめる。さてこ
こで、弁体105の移動後駆動回路101の回路が切断される
と、第２図に示すように電流ｉの立ち下がりにともない
106及び107の検知コイル電圧｜V1|,|V2｜が立ち下がる
が、立ち下がりの速度に差があるため、基準電圧VRefと
の比較によりその時間差△ｔを比較回路108によりVA及
びVBなる電圧信号として取り出せる。VAとVBのどちらが
先に出力されたかを検知し、電源VCCが供給されなくな
つた後も記憶しておくラツチ回路109により、ラツチ弁
の開閉信号Ｓが常に開閉状態の表示回路110に伝達可能
となる。
以上述べたように本考案の電磁式ラツチ弁の開閉状態
の検知回路によれば、次に示す効果が得られる。
の検知回路によれば、次に示す効果が得られる。
（１）回路構成を簡素化でき重量及び価格の低減化が図
れる。
れる。
（２）高い信頼性のある機能を奏する検知回路が得られ
るので、信頼性を高く要求される例えば原子力部門、宇
宙機器関連部門等に広く使用できる。
るので、信頼性を高く要求される例えば原子力部門、宇
宙機器関連部門等に広く使用できる。
第１図は本考案の１実施例検知回路の概略構成図、第２
図は同検知回路の電気信号の作用状態説明図、第３図は
従来のマイクロスイツチを備えた電磁式ラツチ弁の断面
図、第４図は従来の検知コイルを備えた電磁式ラツチ弁
の断面図、第５図は従来の検知回路の概略構成図であ
る。 101…駆動回路、102…駆動回路、103…駆動コイル、104
…駆動コイル、105…弁体、106…検知コイル、107…検
知コイル、108…比較回路、109…ラツチ回路、110…開
閉状態の表示回路、111…電源１、117…電源回路。
図は同検知回路の電気信号の作用状態説明図、第３図は
従来のマイクロスイツチを備えた電磁式ラツチ弁の断面
図、第４図は従来の検知コイルを備えた電磁式ラツチ弁
の断面図、第５図は従来の検知回路の概略構成図であ
る。 101…駆動回路、102…駆動回路、103…駆動コイル、104
…駆動コイル、105…弁体、106…検知コイル、107…検
知コイル、108…比較回路、109…ラツチ回路、110…開
閉状態の表示回路、111…電源１、117…電源回路。
Claims (1)
- 【請求項１】磁力により弁体を移動させ開または閉状態
にする駆動コイルと、これらのコイルに電流を流しコイ
ルに磁力を発生させるための駆動回路と、弁体の位置を
検知する２つのセンサコイルと、それらの出力電圧を比
較する比較回路と、その出力を処理して開閉表示回路に
信号を与えるラツチ回路と、ラツチ弁の前記駆動回路に
流れる電流を安定化して前記比較回路及びラツチ回路に
供給する電源回路とで構成されたことを特徴とする電磁
式ラツチ弁の開閉状態の検知回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11590489U JP2507335Y2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 電磁式ラッチ弁の開閉状態の検知回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11590489U JP2507335Y2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 電磁式ラッチ弁の開閉状態の検知回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0355977U JPH0355977U (ja) | 1991-05-29 |
| JP2507335Y2 true JP2507335Y2 (ja) | 1996-08-14 |
Family
ID=31664218
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11590489U Expired - Lifetime JP2507335Y2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 電磁式ラッチ弁の開閉状態の検知回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2507335Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-10-03 JP JP11590489U patent/JP2507335Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0355977U (ja) | 1991-05-29 |
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