JP2500629B2 - 気流計測方法および装置 - Google Patents

気流計測方法および装置

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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、クリーンルーム等の気
流計測方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】クリーンルームの気流の特性を測定する
場合、特に層流域においてはその流れを乱さぬよう測定
することが重要であり、従来より各種の工夫がなされて
いる。特に、クリーンルームの竣工後の調整・検査項目
の一つに、「層流域での気流の垂直度」の項目がある
が、従来、この気流の垂直度θ(気流の方向が鉛直方向
とのなす角度)を測定する場合、風速センサ類で直接測
定すると測定点近傍の測定者やセンサそのものが層流を
乱してしまうため、図7に示すように、クリーンルーム
の天井41から床方向に鉛直に垂らした絹糸42の傾き
や、純水ミスト発生器43により発生させた純水ミスト
44の流れ等を目視で評価する方法が採られ、定性的な
評価に終始している。
【0003】なお図7において、45はHEPAフィル
タ、46はアクセスフロアである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】これら従来の測定方法
では、あくまで目視での定性的な測定にすぎず、測定者
の主観に左右される。
【0005】特に、絹糸による測定では、糸自体の径が
細く、目視での角度判別が困難であると共に、絹糸の質
量の影響が無視できず、正確な値であるとは言いがた
い。
【0006】また、公知の技術である「エアフローセン
サ(特開昭57−86058号公報)」等の熱センサ方
式では、クリーンルーム内のような微風速域(0.5m
/sec以下程度)の気流中では、測定誤差が大きく、
また、センサそのものが気流の乱れを引き起こしてしま
い、気流の垂直度の測定には適用不可能である。
【0007】本発明の目的は、このような問題点のない
気流計測装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、 気流のトレーサとして、粒度が一定で粒
径が極小の粒子を鉛直方向に定量連続放出し、 前記粒子
に水平方向から、断面が鉛直方向に長い第1の帯状光を
照射し、照射の方向を水平方向に回転させて、散乱光強
度が最大となる位置で停止して照射を終了し、 前記停止
した位置において、前記第1の帯状光の照射方向と直交
する方向から、断面が鉛直方向に長い第2の帯状光を前
記粒子に照射し、第2の帯状光をその光軸に直角方向か
つ水平方向に移動させて、散乱光強度が最大となる位置
で停止し、 続いて、第2の帯状光を光軸を中心に回転さ
せて、散乱光強度が最大となる位置で停止し、 第2の帯
状光の前記回転の角度を気流の角度としたものである。
【0009】また、上記目的を達成するために、本発明
は、 気流のトレーサとして使用する粒径が小さく粒度が
一定である極小の粒子を発生する微粒子発生器と、 前記
微粒子発生器から定量連続放出される粒子に、断面が帯
状の第1の光を照射し、前記粒子の放出方向に垂直な面
に平行に回転可能な第1の光源と、 第1の帯状光が前記
粒子に当たったときの散乱光の強度を測定する第1の光
検出器と、 前記面上において、前記第1の帯状光と直交
する方向から、断面が帯状の第2の光を前記粒子に照射
し、光軸に直角な方向に移動可能で、かつ光軸を中心に
回転可能な第2の光源と、 第2の帯状光が前記粒子に当
たったときの散乱光の強度を測定する第2の光検出器と
を設けたものである。
【0010】
【実施例】 次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
【0011】(第一の実施例) クリーンル−ムの層流域の任意の水平面上に、レーザ発
振器11と、コリメータレンズ等を含む一次レンズ光学
系12と、レーザの光軸を中心に回転可能な円筒レンズ
13と、3枚の平面鏡14−1,14−2,14−3
と、光検出器15とを設置する。
【0012】これらの光学系は同一ステージ16上に設
置され、後述する仮想交点20を中心に仮想平面に平行
に回転可能となっている。
【0013】更に、レーザ発振器11と、一次レンズ光
学系12と、円筒レンズ13と、光検出器15とは、仮
想平面上に平行に、レーザ光軸に対し直交する方向に滑
らかにスライド可能なテーブル17上に設置されてい
る。
【0014】なお、仮想平面とは、光軸の存在する平面
を言うものとする。
【0015】レーザ発振器11から出力されたレーザ光
は、一次レンズ光学系12および円筒レンズ13によ
り、帯状のレーザ光10にされる。また、平面鏡14−
1は上下動可能であり、平面鏡14−1を下方に移動
し、この帯状レーザ光を直角反射する位置(平面方向4
5°)に設置した場合、レーザ光は3枚の平面鏡14−
1,14−2,14−3にて順次直角に変換され、最終
的に光路18に沿って進む。また平面鏡14−1を上方
に移動し、帯状レーザ光10を遮らないようにした場
合、帯状レーザ光は光路19に沿って進む。光路18と
光路19とは、光学系の設置されている仮想平面上の仮
想交点20にて直交する。
【0016】一方、粒度がほぼ一定であるラテックス粒
子等の微粒子を発生する微粒子発生器21が設置され、
この微粒子発生器21から発生した粒度一定の微粒子2
2は、光学系の設置されている水平面の上流側かつ仮想
交点20の鉛直上方よりチューブにより気流中に定量連
続放出される。ここで連続定量放出された微粒子22は
その質量が極小であり、クリーンルーム内の気流も層流
であるため、気流の流れる方向に軌跡を描く。この軌跡
の傾きを検出すれば、気流の傾きを検出したこととみな
すことができる。
【0017】図2〜図5は、本発明の動作説明図であ
る。今、クリーンルームの層流域に、図1の装置を設置
し、その時の気流は鉛直方向に対する傾き角θで流れて
いるものとする。
【0018】ここで、気流のトレーサとして微粒子発生
器21から微粒子22を発生させ、クリーンルーム内に
放出させると、微粒子22は定量放出されているため気
流にのり、一様な気流の軌跡を描く。
【0019】まず、図2(a)に示すように、平面鏡1
4−1,14−2,14−3にて帯状レーザ光10の光
路を光路18にする。この時、レーザ光は鉛直方向に長
い帯状を呈しており、微粒子22が仮想交点20付近で
レーザ光に当たると散乱光23が発生し、光検出器15
にて検出される。
【0020】このときの仮想交点20付近のレーザ光1
0の断面の拡大図が図2(b)であり、この時の微粒子
22の軌跡は、レーザ光断面上部を横切っている。
【0021】そこで、図3(a)のように、ステージ1
6を仮想交点20を中心に仮想平面に平行に回転角φだ
け回転させると、光検出器15の出力は微粒子22の流
れの水平方向成分のベクトルと同様の方向に達した時
に、多くの微粒子が帯状レーザ光に当たるので最大とな
り、その時の回転角φの位置で装置全体の回転を停止さ
せる。
【0022】なお、図2(a)および図3(a)には、
微粒子の流れの水平方向成分のベクトルの方向を矢印A
で示している。
【0023】この時の仮想交点20付近のレーザ光の断
面の拡大図が図3(b)であり、この時の微粒子22の
軌跡はレーザ光断面と重なっている。
【0024】次に、図4(a)のように、平面鏡14−
1を上方に移動し、帯状レーザ光が光路19を進むよう
に変更すると、帯状レーザ光は微粒子22の流れの水平
方向成分のベクトルと直交する。その時、レーザ発振器
11等を乗せたテーブル17をレーザ光軸に対し直交す
る方向にスライドさせて光検出器15の出力が最大にな
った位置にて停止する。その時の仮想交点20付近のレ
ーザ光の断面の拡大図が図4(b)であり、この時の微
粒子22の軌跡は帯状レーザ光10の中心部分を気流の
傾き角θをなして横切っていることになる。
【0025】その後、図5(a)に示すように、円筒レ
ンズ13をレーザ光軸を中心に回転させると、その回転
角θ′分だけ帯状のレーザ光が光軸を中心にして回転す
るので、図5(b)のようにその帯状レーザ光10の断
面の長手方向が微粒子22の軌跡に重なった時、最も多
くの微粒子が帯状レーザに当たるので、光検知器15の
出力が最大となる。すなわち、その時の円筒レンズ13
の回転角θ′を気流の傾き角θ(垂直度)とみなすこと
ができる。
【0026】(第二の実施例)次に本発明の第二の実施
例につき図面を参照して説明する。
【0027】図6は本発明の第二実施例の概要図であ
る。クリーンルームの層流域の任意の水平面上にレーザ
発振器11,31と、コリメータレンズを含む一次光学
系12,32と、レーザの光軸を中心に回転可能な円筒
レンズ13,33と、光検出器15,34とが、各々の
光軸が90°の角をなすように設置されている。
【0028】また、図1の実施例同様、光路18,19
の交点を仮想交点20と呼び、光軸の存在する平面を仮
想平面と呼ぶ。これら2組の光学系は、同一ステージ1
6上に設置されており、このステージは、双方の仮想交
点20を中心として仮想水平面に平行に回転可能となっ
ている。
【0029】さらに、レーザ発振器11,一次光学系1
2,円筒レンズ13および光検出器15は、スライドテ
ーブル17上に設置され、光軸に対して直交方向にスラ
イド可能となっており、円筒レンズ13は光軸19を中
心に回転可能である。
【0030】気流のトレーサとして使用する粒度一定の
微粒子22は、微粒子発生器21から発生させ、光学系
の設置されている水平面の上流側かつ仮想交点20の鉛
直上方よりチューブにより気流中に定量連続放出する。
【0031】次に、本実施例の動作を説明する。
【0032】まず、レーザ発振器31を発振させ、一次
光学系32,円筒レンズ33によって帯状レーザ光10
aを発生させる。微粒子22が仮想交点20付近でレー
ザ光に当たると散乱光を発生し、光検出器15にて検出
するので、ステージ16を仮想交点20を中心に仮想平
面上で回転角φだけ回転させ、光検出器15の出力の最
大となる回転角φ、すなわち、微粒子22の流れの水平
方向成分のベクトルと同様の方向を検出し、ステージ1
6の回転を止める。この位置を保ったまま、レーザ発振
器31の発振を停止し、レーザ発振器11を発振させ、
テーブル17をスライドさせ微粒子22の軌跡を帯状レ
ーザ光10bの中心におさめる。
【0033】次に、円筒レンズ13を光軸を中心にθ′
回転させ、その帯状レーザ光の断面が微粒子22の軌跡
に重なった時、光検知器15の出力が最大となるので、
θ′を気流の傾き角θ(垂直度)として検出可能であ
る。
【0034】本実施例の動作原理は第一実施例と同様で
あるが、レーザ発振器を含む光学系を2つにすることに
より、3枚の平面鏡によって作っていた光路を短縮可能
であり、平面鏡の反射等によるレーザ光の出力ロスが防
止可能となる。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、気流の
トレーサとして粒径が小さく粒度が一定の微粒子を定量
連続放出させ、その軌跡の傾き角を帯状レーザ光にて検
出することにより、非接触且つ気流を乱すことなく測定
可能となり、これまで、目視等で定性的な評価を行って
きた気流垂直度の測定を定量的に評価可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施例の概要図である。
【図2】本発明の第一実施例の動作説明図である。
【図3】本発明の第一実施例の動作説明図である。
【図4】本発明の第一実施例の動作説明図である。
【図5】本発明の第一実施例の動作説明図である。
【図6】本発明の第二実施例の概要図である。
【図7】従来技術の概要図である。
【符号の説明】
10,10a,10b 帯状のレーザ光 11,31 レーザ発振器 12,32 一次レンズ光学系 13,33 円筒レンズ 14 平面鏡 15,34 光検出器 16 回転ステージ 17 スライドテーブル 18,19 レーザ光路 20 仮想交点 21 粒度一定微粒子発生器 22 微粒子 23 散乱光 41 クリーンルーム天井 42 絹糸 43 純水ミスト発生器 44 純水ミスト

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】気流のトレーサとして、粒度が一定で粒径
    が極小の粒子を鉛直方向に定量連続放出し、 前記粒子に水平方向から、断面が鉛直方向に長い第1の
    帯状光を照射し、照射の方向を水平方向に回転させて、
    散乱光強度が最大となる位置で停止して照射を終了し、 前記停止した位置において、前記第1の帯状光の照射方
    向と直交する方向から、断面が鉛直方向に長い第2の帯
    状光を前記粒子に照射し、第2の帯状光をその光軸に直
    角方向かつ水平方向に移動させて、散乱光強度が最大と
    なる位置で停止し、 続いて、第2の帯状光を光軸を中心に回転させて、散乱
    光強度が最大となる位置で停止し、 第2の帯状光の前記回転の角度を気流の角度とする、 ことを特徴とする気流計測方法。
  2. 【請求項2】気流のトレーサとして使用する粒径が小さ
    く粒度が一定である極小の粒子を発生する微粒子発生器
    と、 前記微粒子発生器から定量連続放出される粒子に、断面
    が帯状の第1の光を照射し、前記粒子の放出方向に垂直
    な面に平行に回転可能な第1の光源と、 第1の帯状光が前記粒子に当たったときの散乱光の強度
    を測定する第1の光検出器と、 前記面上において、前記第1の帯状光と直交する方向か
    ら、断面が帯状の第2の光を前記粒子に照射し、光軸に
    直角な方向に移動可能で、かつ光軸を中心に回転可能な
    第2の光源と、 第2の帯状光が前記粒子に当たったときの散乱光の強度
    を測定する第2の光検出器と、 を備えることを特徴とする気流計測装置。
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