JP2500341B2 - 高速・高精度ミラ―制御器 - Google Patents

高速・高精度ミラ―制御器

Info

Publication number
JP2500341B2
JP2500341B2 JP4102172A JP10217292A JP2500341B2 JP 2500341 B2 JP2500341 B2 JP 2500341B2 JP 4102172 A JP4102172 A JP 4102172A JP 10217292 A JP10217292 A JP 10217292A JP 2500341 B2 JP2500341 B2 JP 2500341B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
controller
motor
speed
light
integral control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP4102172A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05313088A (ja
Inventor
田 常 広 武
井 幸 男 福
本 佳 三 橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP4102172A priority Critical patent/JP2500341B2/ja
Publication of JPH05313088A publication Critical patent/JPH05313088A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2500341B2 publication Critical patent/JP2500341B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • Control Of Electric Motors In General (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光などの光を様
々な方向に高速・高精度で振り、それによって高精度な
計測を可能とする高速・高精度ミラー制御器に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】近年、プリンタ、ディスプレイ装置、各
種計測器など、レーザ光を利用した高品質な入出力装置
が多くなっている。現在のところ、レーザ光の方向制御
は、単純なリニアスキャン、ポリゴンミラー(多角形ミ
ラー)による固定方向高速スキャン、ガルバノミラー
(高精度モータに取り付けたミラー)によるランダムス
キャンなどの方式が多用されている。これらの中でラン
ダムスキャン型は、要求性能が高度になればなる程、需
要が高くなる傾向があるが、制御が複雑なために精度が
悪く、低速になるという制約をもっている。すなわち、
現在多用されているガルバノミラーは、回転トルクの小
さいガルバノメータの力を落とさないようにミラーの回
転速度を静電容量型センサを用いて計測しているため、
測定精度が悪く、熱雑音に弱い。従って、分解能は20
秒程度であり、応答周波数は80Hz程度になっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の技術的課題
は、ランダムスキャンによる光の方向制御を、高速・高
精度で行えるようにしたミラー制御器を得ることにあ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
、本発明は、モータにレーザ光を所要方向に反射させ
るミラーを設けた高速・高精度ミラー制御器において、
上記モータの回転位置を検出するための光を直線状に放
射する光源と、上記モータによって回転駆動され、中心
軸からの距離が回転角度に比例する螺旋状のスリットを
設けた遮蔽板と、上記スリットを通過した光の位置を計
測する一次元半導体位置検出器と、その計測データを用
いて上記モータを高速・高精度に制御する積分制御型最
適追従制御器とを備え、上記積分制御型最適追従制御器
は、設定入力と出力との差に対して定数を乗じる要素及
び積分制御要素を備えた積分制御系と、制御対象の状態
変数に対して定数を乗じてフィードバックするフィード
バック制御系と、システムの起動もしくは設定値の大巾
な変化があったことを検出した信号により操作量をサン
プルホールドしてフィードバックする補償制御系とを備
え、これらの各制御系の出力の代数和を操作量として出
力させるものとしたことを特徴とするものである。
【0005】
【作用】中心軸からの距離が回転角度に比例する螺旋状
スリット(r=aθ、但し、r:スリットの中心軸から
の距離、θ:回転角、a:定数)をもつ遮蔽板を回転す
ると、直線状に放射してスリットを通過する光の位置
は、一次元半導体位置検出器上において回転角度θに比
例する。上記定数aを適当に定めると、スリットを設け
る遮蔽板は極めて小さく軽くすることが可能となり、モ
ータの反応速度を低下させないようにできる。他方、半
導体位置検出器の分解能は極めて高く、安定しているた
め、高精度な回転角の測定が可能になる。
【0006】さらに、この測定データを用いて積分制御
型最適追従制御器により上記モータを制御すると、最適
制御系なので安定性にすぐれ、高速な制御が可能となる
と共に、入出力端に直接積分制御器がついているため、
オフセット零が保証され、モータにレーザ光を所要方向
に反射させるミラーを設けることにより、上記角度測定
データの精度を保証されたミラー制御器が実現できる。
【0007】
【実施例】図1は、本発明の高速・高精度ミラー制御器
において用いる軽量高精度角度測定器の構成を示してい
る。この角度測定器は、特殊形状のスリットを通過した
光を一次元半導体位置検出器を用いて検出し、高速、高
トルクの通常型モータの回転角度を高精度に計測するた
めのもので、図示しない光源と、螺旋状のスリット2を
設けた遮蔽板1と、上記スリット2を通過した光の位置
を計測する一次元半導体位置検出器3とを備えている。
【0008】上記遮蔽板1に設けた螺旋状のスリット2
は、モータ4によって回転駆動するための中心軸5から
の距離rが回転角度θに比例するように設けたものであ
り、即ち、この螺旋状スリット2は、r=aθ(但し、
r:遮蔽板1の中心軸5からの距離、θ:回転角、a:
定数)によって与えられる位置に設けられている。従っ
て、遮蔽板1を回転すると、直線状に放射してスリット
2を通過する光の位置は、一次元半導体位置検出器3上
において、r=aθに従って回転角度θに比例して変化
する。ここで、上記定数aを適当に定めておけば、スリ
ット2を設ける遮蔽板1は極めて小さく、且つ軽くする
ことが可能となり、モータ4の反応速度を低下させない
ようにすることができる。他方、半導体位置検出器は、
その分解能が極めて高く、安定しているため、上記スリ
ット2を通過した光の位置により、モータ4の高精度な
回転角度の計測が可能になる。従って、モータ4にレー
ザ光を所要方向に反射させるミラーを設けておくことに
より、角度測定データの精度を保証されたミラー制御器
が実現できる。
【0009】図2は、上記一次元半導体位置検出器3の
計測データに基づいてモータ4を高速・高精度に制御す
る初期値補償付きの積分制御型最適追従制御器の構成を
示している。この積分制御型最適追従制御器についての
理論的根拠に関しては、本発明者が、計測自動制御学会
論文集第20巻第1号「線形多入出力最適追従制御系の初
期値補償器」において詳述している。また、図3は本発
明の高速・高精度ミラー制御器における制御系の全体的
な構成を示している。
【0010】上記図2の積分制御型最適追従制御器は、
基本的には、設定入力rと出力yとの差eに対して定数
2 を乗じる要素及びその結果に対して積分制御を施す
積分制御要素(Im/S)を備えた積分制御系と、制御対象の
状態変数xに対して定数K1を乗じてフィードバックす
るフィードバック制御系とを備えている。さらに、これ
らの制御系では、積分制御要素に初期値がある場合に好
ましくない制御動作があらわれるので、それを除去する
ための操作量の初期値補償を行うために、次のような補
償制御系が付加されている。この補償制御系は、システ
ムの起動時に操作量uの値をサンプリングして0次ホー
ルド回路にホールドさせ、その値(−K1 x(0) +z
(0) )をフィードバックして上記積分制御系の出力から
減算することにより、上記初期値の影響をなくすように
したものである。この補償制御系は、システムの起動も
しくは設定値の大巾な変化等により操作量が一定値を越
えたときに操作量uの値をサンプルし、その値をホール
ドしてフィードバックするような機能を持つ素子により
実現することができる。また、過度に操作量uをサンプ
ルホールドしないため、サンプラに不応素子を付加して
もよい。
【0011】従って、上記積分制御型最適追従制御器に
おいて、操作量uは、制御対象の状態変数xに定数K1
を乗じてフィードバックした成分と、入力rと出力yの
差eに定数K2 を乗じたものを積分制御した成分zと、
入力rが大きく変動したときに操作量uをサンプルホー
ルドしてその値をフィードバックした成分との加減算に
より構成される。
【0012】ここで、定数K1 ,K2 は、操作量uの自
乗値、即ち、エネルギをできるだけ小さく抑えつつ、出
力yが入力rにできるだけ速く追従できるように調整さ
れる。これらの定数K1 ,K2 は、上述したところから
わかるように、2次形式評価関数を最小化して得られる
が、この方法によらずに定数K1 ,K2 を決定する方法
も可能である。しかし、その場合でも速応性を増すため
に定数K1 ,K2 を大きくすると、システム起動時に好
ましくない初期変動を起すので、上記初期値補償器は不
可欠である。
【0013】このような構成を有する積分制御型最適追
従制御器は、積分制御器の初期値と同じく、状態変数の
初期値が制御成績に悪影響を与えることに対し、解決す
る手段を与えている。即ち、いわゆる現代制御理論によ
る最適レギュレータ制御器においては、即応性はいくら
でも改善できるが、制御パラメータの変動などによりオ
フセットを生じるという欠点がある。そこで、PID制
御器における積分制御動作に相当する上記補償制御系を
最適レギュレータ制御系へ組入れることにより、その問
題を解消している。
【0014】さらに、前述した一次元半導体位置検出器
3の測定データを用い、上記積分制御型最適追従制御器
によりモータ4を制御すると、最適制御系を形成してい
るために安定性にすぐれ、高速な制御が可能であると共
に、入出力端に直接積分制御器がついているため、オフ
セット零が保証され、モータ4にレーザ光を所要方向に
反射させるミラーを設けることにより、上記角度測定デ
ータの精度を保証されたミラー制御器が実現できる。
【0015】
【発明の効果】以上に詳述したように、本発明の高速・
高精度ミラー制御器によれば、螺旋状のスリットを通過
する光の位置を一次元半導体位置検出器によって高精度
に計測し、その計測データに基づいて高速・高精度に制
御可能な積分制御型最適追従制御器によりモータを制御
し、それによって、ランダムスキャンによる光の方向制
御を高速・高精度で行えるようにしたミラー制御器を得
ることができる。さらに、上記積分制御型最適追従制御
器でモータを制御すると、最適制御系であるため安定性
にすぐれ、高速な制御が可能であると共に、入出力端の
積分制御器によりオフセット零が保証され、角度測定デ
ータの精度が保証されたミラー制御器を実現することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の高速・高精度ミラー制御器において用
いる軽量高精度角度測定器の構成を示す要部正面図であ
る。
【図2】高精度角度測定器の計測データに基づいてモー
タを制御する積分制御型最適追従制御器の構成を示すブ
ロック図である。
【図3】本発明の高速・高精度ミラー制御器における制
御系の全体的な構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 遮蔽板、 2 スリット、
3 一次元半導体位置検出器、 4 モータ、5
中心軸。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−124423(JP,A) 特開 昭63−190598(JP,A) 特開 平4−195207(JP,A) 特開 昭62−277085(JP,A) 特開 昭61−267106(JP,A) 特開 昭61−267105(JP,A) 特開 昭57−27314(JP,A) 実開 平1−72610(JP,U) 特公 昭49−13088(JP,B1) 特公 昭46−20447(JP,B1) 特公 昭58−3243(JP,B2) 特公 平4−41941(JP,B2)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】モータにレーザ光を所要方向に反射させる
    ミラーを設けた高速・高精度ミラー制御器において、 上記モータの回転位置を検出するための光を直線状に放
    射する光源と、上記 モータによって回転駆動され、中心
    軸からの距離が回転角度に比例する螺旋状のスリットを
    設けた遮蔽板と、上記スリットを通過した光の位置を計
    測する一次元半導体位置検出器と、その計測データを用
    いて上記モータを高速・高精度に制御する積分制御型最
    適追従制御器とを備え、 上記積分制御型最適追従制御器は、設定入力と出力との
    差に対して定数を乗じる要素及び積分制御要素を備えた
    積分制御系と、制御対象の状態変数に対して定数を乗じ
    てフィードバックするフィードバック制御系と、システ
    ムの起動もしくは設定値の大巾な変化があったことを検
    出した信号により操作量をサンプルホールドしてフィー
    ドバックする補償制御系とを備え、これらの各制御系の
    出力の代数和を操作量として出力させるものとした、 ことを特徴とする高速・高精度ミラー制御器。
JP4102172A 1992-03-27 1992-03-27 高速・高精度ミラ―制御器 Expired - Lifetime JP2500341B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4102172A JP2500341B2 (ja) 1992-03-27 1992-03-27 高速・高精度ミラ―制御器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4102172A JP2500341B2 (ja) 1992-03-27 1992-03-27 高速・高精度ミラ―制御器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05313088A JPH05313088A (ja) 1993-11-26
JP2500341B2 true JP2500341B2 (ja) 1996-05-29

Family

ID=14320285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4102172A Expired - Lifetime JP2500341B2 (ja) 1992-03-27 1992-03-27 高速・高精度ミラ―制御器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2500341B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05313088A (ja) 1993-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3791620B2 (ja) 走査モノクロメータ
US4654530A (en) Refractively scanned interferometer
US4800270A (en) Galvanometric optical scanning system having a pair of closely located synchronization
US4800271A (en) Galvanometric optical scanning system having synchronization photodetectors
US4488813A (en) Reflectivity compensating system for fiber optic sensor employing dual probes at a fixed gap differential
US20170131540A1 (en) Controlling opening angle of a resonating mirror
JPH07335962A (ja) 光ビーム走査装置
US4674882A (en) Precision optical displacement measuring instrument using servo controlled fiber optic sensor
JPH0441922B2 (ja)
JP2500341B2 (ja) 高速・高精度ミラ―制御器
US4266875A (en) Method and device for contact-free interval or thickness measurement by control of the direction of a light ray beam
JPH06241791A (ja) 標尺検出機能付き電子レベル及び標尺
US3873211A (en) Hole measurer controller
JP2008292210A (ja) 光学式測定装置
US7710549B2 (en) Apparatus for detecting speed of movable body and drive stage using the same
GB2269230A (en) Measuring light wavelength.
JP2797585B2 (ja) 走査型トンネリング分光装置
JPH08136552A (ja) 原子間力顕微鏡および類似の走査型プローブ顕微鏡
JPH03276315A (ja) 可動部駆動装置の基準位置決定装置
JPH07270114A (ja) 光路長変動測定装置
JP3174362B2 (ja) 描画装置
JP3143293B2 (ja) X線分析装置
JP3124351B2 (ja) 光学装置
SU954816A1 (ru) Устройство дл измерени рассто ний
JPH04142510A (ja) ビームスキャナ

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term