JP2500258B2 - 露光装置 - Google Patents

露光装置

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JP2500258B2
JP2500258B2 JP6158500A JP15850094A JP2500258B2 JP 2500258 B2 JP2500258 B2 JP 2500258B2 JP 6158500 A JP6158500 A JP 6158500A JP 15850094 A JP15850094 A JP 15850094A JP 2500258 B2 JP2500258 B2 JP 2500258B2
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JP
Japan
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stage
exposure
exposure apparatus
wafer
mask
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JP6158500A
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JPH0758006A (ja
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碩徳 山本
真吉 大河
光一 松下
靖雄 河合
誠 肥後村
卓夫 刈谷
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70358Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体製造等に適した露
光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来この種の装置においては被加工物を
加工のために移動させる必要があるが、その移動形態の
自由度が低く操作性も悪かった。
【0003】特に半導体の超微細加工用として好適な縦
型のステージ機構が望まれていた。
【0004】本発明は上記要望に応え、高精度、小型化
が期待できる縦型のステージ機構を備えた露光装置を提
供することを目的とする。
【0005】
【実施例】以下図に従って説明する。図1において、M
Fはメインフレームで前面と後面に不図示のカバーを有
し大地に固定的に配置され、内部空間を真空または特定
ガス充満状態にする。サブフレームSFはメインフレー
ムMFに天井からMF1R,MF1Lにて懸架され、M
F2R,MF2Lにより下から振動及び横ずれ防止のた
めゴム材FGR,FGL等に軽く当接している。Y2M
はサブフレームSFに固定されたシリンダ,モータ等で
成る電動機でそのロッドY2Gは縦方向移動用ステージ
Y2Sの上面Y2SUに結合される。
【0006】ステージY2Sは上板2SU,下板Y2S
L,前板Y2SF等で構成され、一対の軸Y2R,Y2
Lにより案内され、サブフレームSF内を電動機Y2M
の駆動によって上下に移動する。一対のY2AU,Y2
ALは軸Y2Rの空気軸受、Y2Kはその間を連結する
筒である。軸Y2Lにも同様に設けられる。ステージY
2Sは軸Y2R,Y2Lとこの空気軸受でガイドされ
る。この装置の空気軸受の周囲はラビリンスシール等で
外部の真空雰囲気とは隔離される。
【0007】Y2BR,Y2BLはメインフレームMF
に固定された定張力バネ機構、Y2SR,Y2SLは定
張力バネ機構、Y2BR,Y2BLとステージY2Sと
を連結するスチール製ベルトで、バネ機構Y2BR,Y
2BLにより常時巻上げられY2Sにかかる重量をバラ
ンスする重錘の代りをしこれによりステージY2Sの上
昇・下降時の電動機Y2Mの過負荷を軽減している。
【0008】Y2LR,Y2LLは駆動軸Y2Gに対し
て対称的に配置されたステージY2Sをロックするため
の支持用バーである。Y2PR,Y2PLは圧電素子等
を含み、ステージY2Sの停止後にバーY2LR,Y2
LLを圧接し、ロックするための電気機械的ロック機構
である。これによりステージY2Sの上下方向の位置は
保持される。バーのくびれY2FR,Y2FLはロック
時の軸Y2R,Y2Lに対するステージY2Sのずれを
弾性的に吸収する機能を有し、圧電素子等で弾性的ロッ
ク機構を構成する。
【0009】ステージY2S内にはさらにステージY1
Sが搭載される。ステージY2Sの下板Y2SLにはス
テージY1Sの移動用の電動機Y1M固定され、軸Y1
R,Y1L(不図示)上をロッドY1Gの上下動によっ
て上下(Y)方向に移動する。Y1ARはY2AU同様
の空気軸受である。またステージY1Sに固定されたス
チールベルトY1SR,Y1SLを常時巻上げることに
よりY1Sにかかる荷重にバランスする重錘の代りをし
ステージY1Sの上昇・下降用電動機Y1Mの小型化を
計っている。
【0010】Y1PC,Y1PR,Y1PLは先と同様
圧電素子によるロック機構でステージY2Sに対してス
テージY1Sをロックする。したがって、この状態でY
2Sを移動してもY1SはY2Sと一体で移動する。
【0011】ステージY1S内にはさらに水平(X)方
向に移動可能なステージXSが搭載され、ステージY1
Sの側部Y1MにステージXSの移動用電動機XMが固
定される。電動機XMのロッドXGの左右動によって軸
XL,XR上をステージXSは移動する。FLXはロッ
ドXGとステージXSを弾性的に結合する機構で固定軸
XL,XRに対するステージXSのずれを吸収する。F
LY1,FLY2も同様である。XAUは軸XLのため
の先と同様の空気軸受である。軸XRにも同様に備えら
れる。また前述と同様の圧電素子及びくびれ付バーによ
るロック機構(不図示)も軸XGに対向した位置に備え
られる。
【0012】ステージXSにはさらに回転及び回転軸方
向に移動可能なステージΘZSを搭載し、これは回路パ
ターン露光用のウエハWFを吸収する機能も有する。
【0013】ウエハWFに対向した位置で、ステージY
2Sの前板Y2SFの内面に円環状の回転ステージΘS
が取り付けられ、この回転ステージΘSには回路パター
ンが設けられたマスクMKが吸着される。
【0014】また前板Y2SFにはX線、電子線、イオ
ン線等の露光用光束EXが入射できる開口部EXOが形
成され、さらにマスクMK及び又はウエハWFの搬入出
用の開口部WMIOが形成されている。サブフレームS
F,メインフレームMFにはステージY2Sが下端位置
に来たときに開口部WMIOの対向位置にそれぞれ開口
部SWO,MWOが形成されている。
【0015】MPSはウエハWFのプリアライメントス
テージで、アライメントされたウエハWFは真空バッフ
ァ室、ハンド(いずれも不図示)等によりステージΘZ
Sに吸着される。マスクも同様の手法でステージΘSに
吸着される。
【0016】次いでステージY2Sが所定の露光位置に
まで上昇され、必要とあらばその前にマスクとウエハの
ファインアライメントを行い、露光位置にて露光用平行
光束EXにより順次露光される。このときステージY2
Sは定速で露光範囲を上昇または下降するのでマスクと
ウエハは一体的に運動し、結果として平行光束EXで走
査露光される。露光が終了するとステージY2Sは下端
まで下降し、ウエハ及びマスクの変換を行う。このよう
にステージY2Sはマスク及び又はウエハの搬送機能と
例えば露光時の定速送り機能を兼ねるので好ましい。
【0017】またステージY2Sの移動時にステージY
1Sをロック機構Y1PCによりY方向にロックし、ま
たステージXSも圧電素子等の電気機械的ロック機構X
PによりX方向にロックし、さらにはステージΘZS及
び又はステージΘSも不図示のサーボロック機構により
各々の移動方向にロックする。これにより各ステージが
互いに干渉し合うことなく独立に確実に移動でき好まし
い。
【0018】またY2S移動時Y1SL,Y1SRをY
1PL,Y1PRによりロックすることにより定張力バ
ネY1BL,Y1BRの定張力バネの張力変動がY2S
のみに作用し、Y1Sにまで伝わらないのでY1SとY
2Sの位置関係が維持でき好ましい。
【0019】
【発明の効果】以上のように本発明の露光装置によれ
ば、確実、安定的な動作機構による高精度位置決め、高
速化、小型化等が計れるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の構成図である。
【符号の説明】
ΘS,ΘZS,XS,Y1S,Y2S ステージ Y1BR,Y2BR,Y1BL,Y2BL 定張力バネ
機構 Y1M,Y2M,XM 電動機 Y1PR,Y1PL,Y2PR,Y2PL,Y1PC
ロック機構 XAU,Y1AR,Y2AU,Y2AL 空気軸受 MK マスク WF ウエハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G12B 5/00 6947−2F G12B 5/00 T H01L 21/30 515G (72)発明者 河合 靖雄 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 肥後村 誠 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 刈谷 卓夫 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤ ノン株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−76644(JP,A)

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエハを保持して鉛直成分を含む面内
    向に移動可能なステージと、実質的に水平方向から導入
    される露光光束に対して該ステージを定速で移動させて
    走査露光を行う手段と、該ステージが移動する際の重力
    補償を行う重力補償機構とを有することを特徴とする露
    光装置。
  2. 【請求項2】 ウエハ及びマスクを一体的に保持した状
    態で走査露光を行うことを特徴とする請求項1記載の露
    光装置。
  3. 【請求項3】 ステージは前記面内で直交する2方向に
    移動可能であることを特徴とする請求項1記載の露光装
    置。
  4. 【請求項4】 ステージは更に前記面内で回転移動可能
    であることを特徴とする請求項3記載の露光装置。
  5. 【請求項5】 露光光束はX線光束であることを特徴と
    する請求項1記載の露光装置。
JP6158500A 1994-07-11 1994-07-11 露光装置 Expired - Lifetime JP2500258B2 (ja)

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JP6158500A JP2500258B2 (ja) 1994-07-11 1994-07-11 露光装置

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JP61287069A Division JPH07117590B2 (ja) 1986-12-01 1986-12-02 ステージ機構

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JPH0758006A JPH0758006A (ja) 1995-03-03
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6276644A (ja) * 1985-09-30 1987-04-08 Toshiba Corp 露光装置の縦型移動テーブル装置

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JPH0758006A (ja) 1995-03-03

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