JP2025124895A5 - - Google Patents

Info

Publication number
JP2025124895A5
JP2025124895A5 JP2025097053A JP2025097053A JP2025124895A5 JP 2025124895 A5 JP2025124895 A5 JP 2025124895A5 JP 2025097053 A JP2025097053 A JP 2025097053A JP 2025097053 A JP2025097053 A JP 2025097053A JP 2025124895 A5 JP2025124895 A5 JP 2025124895A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
information
measurement
measured
analysis device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2025097053A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2025124895A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from PCT/JP2018/007381 external-priority patent/WO2019167150A1/ja
Application filed filed Critical
Priority to JP2025097053A priority Critical patent/JP2025124895A/ja
Publication of JP2025124895A publication Critical patent/JP2025124895A/ja
Publication of JP2025124895A5 publication Critical patent/JP2025124895A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2025097053A 2018-02-27 2025-06-10 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム Pending JP2025124895A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2025097053A JP2025124895A (ja) 2018-02-27 2025-06-10 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2018/007381 WO2019167150A1 (ja) 2018-02-27 2018-02-27 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム
JP2020503145A JP7367668B2 (ja) 2018-02-27 2018-02-27 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム
JP2023176918A JP2023176008A (ja) 2018-02-27 2023-10-12 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム
JP2025097053A JP2025124895A (ja) 2018-02-27 2025-06-10 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023176918A Division JP2023176008A (ja) 2018-02-27 2023-10-12 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2025124895A JP2025124895A (ja) 2025-08-26
JP2025124895A5 true JP2025124895A5 (https=) 2026-01-06

Family

ID=67806117

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020503145A Active JP7367668B2 (ja) 2018-02-27 2018-02-27 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム
JP2023176918A Pending JP2023176008A (ja) 2018-02-27 2023-10-12 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム
JP2025097053A Pending JP2025124895A (ja) 2018-02-27 2025-06-10 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム

Family Applications Before (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020503145A Active JP7367668B2 (ja) 2018-02-27 2018-02-27 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム
JP2023176918A Pending JP2023176008A (ja) 2018-02-27 2023-10-12 像解析装置、解析装置、形状測定装置、像解析方法、測定条件決定方法、形状測定方法及びプログラム

Country Status (5)

Country Link
US (2) US12140415B2 (https=)
EP (2) EP4715324A2 (https=)
JP (3) JP7367668B2 (https=)
CN (2) CN117419657A (https=)
WO (1) WO2019167150A1 (https=)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4715324A2 (en) * 2018-02-27 2026-03-25 Nikon Corporation Image analysis device, analysis device, shape measurement device, image analysis method, measurement condition determination method, shape measurement method, and program
DE102020133309A1 (de) * 2020-12-14 2022-06-15 Klingelnberg Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur optischen Verzahnungsmessung
JP7621789B2 (ja) * 2020-12-22 2025-01-27 キヤノン株式会社 検査装置、検査用照明装置、検査方法、および物品の製造方法
JP2022191675A (ja) * 2021-06-16 2022-12-28 株式会社ミツトヨ 光学式プローブ及び形状測定装置
JP2024162756A (ja) * 2023-05-11 2024-11-21 トヨタ自動車株式会社 ギア検査装置
WO2025088685A1 (ja) * 2023-10-24 2025-05-01 株式会社ジェイテクト 形状測定方法および形状測定装置

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3765061B2 (ja) 1995-05-19 2006-04-12 株式会社ニコン 多次元形状の座標計測機用オフライン・ティーチング・システム
JP3914638B2 (ja) 1997-09-09 2007-05-16 シーケーディ株式会社 形状計測装置
JP2006170908A (ja) 2004-12-17 2006-06-29 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP4797593B2 (ja) * 2005-03-10 2011-10-19 富士ゼロックス株式会社 光沢測定装置及びプログラム
JP4113570B2 (ja) * 2005-08-19 2008-07-09 松下電器産業株式会社 画像処理方法、画像処理システムおよび画像処理プログラム
US8089637B2 (en) 2008-12-26 2012-01-03 Hermes Microvision, Inc. Apparatus for detecting a sample
JP2010256253A (ja) 2009-04-27 2010-11-11 Topcon Corp 三次元計測用画像撮影装置及びその方法
US9179106B2 (en) * 2009-12-28 2015-11-03 Canon Kabushiki Kaisha Measurement system, image correction method, and computer program
KR101385544B1 (ko) * 2010-03-09 2014-04-15 가부시키가이샤 시세이도 화상해석장치, 화상해석방법, 평가방법 및 화상해석프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체
JP2014013144A (ja) * 2010-10-27 2014-01-23 Nikon Corp 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法、構造物の製造方法および構造物製造システム
WO2012133926A2 (en) * 2011-04-01 2012-10-04 Nikon Corporation Profile measuring apparatus, method for measuring profile, and method for manufacturing structure
JP5771473B2 (ja) 2011-08-04 2015-09-02 株式会社Ｎｔｔファシリティーズ 経時変化予測システム、経時変化予測方法、及びプログラム
JP2013239861A (ja) * 2012-05-14 2013-11-28 Freebit Co Ltd 画像撮影システム
CN104395692B (zh) * 2012-06-29 2016-08-24 富士胶片株式会社 三维测定方法、装置、系统以及图像处理装置
JP6004851B2 (ja) 2012-09-11 2016-10-12 株式会社キーエンス 形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム
JP5956911B2 (ja) 2012-11-05 2016-07-27 株式会社キーエンス 形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム
KR102082299B1 (ko) 2012-11-26 2020-02-27 삼성전자주식회사 단층 영상 생성 장치 및 단층 영상 생성 방법
JP6091864B2 (ja) * 2012-11-27 2017-03-08 株式会社キーエンス 形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム
JP5956932B2 (ja) 2013-01-08 2016-07-27 株式会社キーエンス 形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム
JP6205727B2 (ja) * 2013-01-16 2017-10-04 株式会社ニコン 形状測定方法、構造物製造方法、形状測定プログラム、光学式形状測定装置、及び構造物製造システム
JP2014145735A (ja) * 2013-01-30 2014-08-14 Nikon Corp 形状測定装置、構造物製造システム、評価装置、形状測定方法、構造物製造方法、及び形状測定プログラム
US9952038B2 (en) * 2013-03-27 2018-04-24 Nikon Corporation Shape measurement device, structure production system, shape measurement method, structure production method, and shape measurement program
US10371507B2 (en) * 2013-07-19 2019-08-06 Nikon Corporation Shape measurement device, structural object production system, shape measurement method, structural object production method, shape measurement program, and recording medium
US10192300B2 (en) 2013-08-22 2019-01-29 Fuji Corporation Board production work method, board imaging conditions determination method, and board production work device
JP6331308B2 (ja) 2013-09-26 2018-05-30 株式会社ニコン 形状測定装置、構造物製造システム及び形状測定用コンピュータプログラム
JP6364777B2 (ja) * 2014-01-10 2018-08-01 凸版印刷株式会社 画像データ取得システム及び画像データ取得方法
JP6338421B2 (ja) * 2014-03-31 2018-06-06 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、把持システムおよびプログラム
EP3156763B1 (en) * 2014-06-13 2019-02-06 Nikon Corporation Shape measurement device
JP6706034B2 (ja) * 2015-07-14 2020-06-03 中国電力株式会社 故障予兆シミュレーション装置、故障予兆シミュレーション方法、故障予兆シミュレーションシステム、及びプログラム
JP6377582B2 (ja) 2015-08-06 2018-08-22 株式会社リガク Ｘ線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラム
WO2017162778A1 (de) * 2016-03-22 2017-09-28 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung zur 3-dimensionalen vermessung eines objekts, verfahren und computerprogramm mit bildbasierter auslösung
JP6602707B2 (ja) 2016-03-23 2019-11-06 日立オートモティブシステムズ株式会社 検査装置及び検査方法
JP6894672B2 (ja) * 2016-05-18 2021-06-30 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、プログラム
JP6161775B2 (ja) 2016-09-06 2017-07-12 株式会社キーエンス 形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム
EP3441712A1 (de) * 2017-08-08 2019-02-13 Klingelnberg AG Koordinaten-messvorrichtung mit optischem sensor und entsprechendes verfahren
EP4715324A2 (en) * 2018-02-27 2026-03-25 Nikon Corporation Image analysis device, analysis device, shape measurement device, image analysis method, measurement condition determination method, shape measurement method, and program

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2025124895A5 (https=)
JP5681021B2 (ja) 表面性状測定装置
JP6053506B2 (ja) 反射特性の測定装置
TWI436051B (zh) A pattern inspection apparatus, a pattern inspection method, and a recording medium in which a program is recorded
CN104568781A (zh) 一种光柱镭射纸张颜色和光柱质量自动检测和评价方法
JP2023176008A5 (https=)
US11257205B2 (en) Image measuring method and apparatus
US20070132990A1 (en) Surface inspection apparatus
WO2024193182A1 (zh) 基于多通道分离的方法、系统、装置及存储介质
JP4768579B2 (ja) 写像性の評価方法
JP5557586B2 (ja) 表面性状測定装置および表面性状測定方法
JP2021085659A (ja) 検査装置及び検査方法
JP5017556B2 (ja) 変形測定装置、変形測定方法および変形測定プログラム
JPH01165907A (ja) 反射像歪の測定方法
KR20090055081A (ko) 표면조도를 이용한 비접촉식 도막 측정장치 및 그의 방법
CN204373781U (zh) 一种光柱镭射纸张颜色和光柱质量自动检测系统
JPH08178855A (ja) 透光性物体あるいは鏡面性物体の検査方法
JP4430680B2 (ja) ３次元寸法計測装置及び３次元寸法計測プログラム
JP2009264882A (ja) 外観検査装置
JP7517006B2 (ja) 検査装置及び検査プログラム
JP4534877B2 (ja) 光学式センサ装置
JP6337949B1 (ja) スジ状領域検出装置およびスジ状領域検出方法
JP2982471B2 (ja) 塗装面性状検査装置
CN114868149A (zh) 检测装置和检测方法
JP7767719B2 (ja) 表面検査装置