JP2024516510A - スイッチ素子およびダイオードを備えるパワーモジュール - Google Patents

スイッチ素子およびダイオードを備えるパワーモジュール Download PDF

Info

Publication number
JP2024516510A
JP2024516510A JP2023558411A JP2023558411A JP2024516510A JP 2024516510 A JP2024516510 A JP 2024516510A JP 2023558411 A JP2023558411 A JP 2023558411A JP 2023558411 A JP2023558411 A JP 2023558411A JP 2024516510 A JP2024516510 A JP 2024516510A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
switch
diode
switch element
metallization
power module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2023558411A
Other languages
English (en)
Inventor
シュローダー,アルネ
オルティス,ガブリエル・イグナシオ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Energy Ltd
Original Assignee
Hitachi Energy Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Energy Ltd filed Critical Hitachi Energy Ltd
Publication of JP2024516510A publication Critical patent/JP2024516510A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/04042Bonding areas specifically adapted for wire connectors, e.g. wirebond pads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • H01L2224/0601Structure
    • H01L2224/0603Bonding areas having different sizes, e.g. different heights or widths
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4911Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
    • H01L2224/49113Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain the connectors connecting different bonding areas on the semiconductor or solid-state body to a common bonding area outside the body, e.g. converging wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/538Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
    • H01L23/5386Geometry or layout of the interconnection structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Abstract

パワーモジュール(1)は、第1のスイッチ素子(9)および関連する第1のダイオード(10)を備える第1のスイッチ(2)と、第2のスイッチ素子(11)および関連する第2のダイオード(12)を備える第2のスイッチ(3)とを備え、第1および第2のスイッチ(2、3)は、ハーフブリッジを形成するように電気的に接続され、スイッチ素子(9、11)およびダイオード(10、12)は互いに隣接して配置され、第2のスイッチ素子(11)および第2のダイオード(12)は、第1のスイッチ素子(9)と第1のダイオード(10)との間に配置される。

Description

本開示は、第1および第2のスイッチを備えるパワーモジュールに関し、各スイッチは、少なくとも1つのスイッチ素子および関連するダイオードを備える。スイッチは、ハーフブリッジを形成するように接続される。ハーフブリッジは、DC+端子とDC-端子との間に直列に接続された2つのスイッチを備える電気回路であり、AC端子がスイッチ間に接続される。DC+端子に接続されたスイッチをハイサイド(HS)スイッチと表記し、DC-端子に接続されたスイッチをローサイド(LS)スイッチと表記する。
ハーフブリッジパワーモジュールは、電気自動車(EV)で使用することができるモータ駆動装置または電力変換器などの様々なパワー電子デバイスの重要な構成要素を形成する。パワーモジュールは、小型で、過酷な環境で長期間動作するように設計される必要がある。パワーモジュールは、シリコン(Si)、炭化ケイ素(SiC)、窒化ガリウム(GaN)または他の半導体素子を備え得る。3つのハーフブリッジパワーモジュールは、いわゆる6パックパワーモジュールを形成し、インバータの3つの相を形成する。スイッチの電磁設計は、デバイスの高速スイッチング能力を利用するために重要である。
国際公開第2010/004802号および国際公開第2013/171996号は、異なるパワーモジュールレイアウトを開示している。欧州特許出願公開第3246945号は、パワーモジュールの浮遊インダクタンスに対する端子の寄与を低減するために、交互の極性で配置された3つのDC端子を有するパワーモジュールを開示している。
特開2005-216876号公報は、ハイサイドおよびローサイドのIGBTとダイオードとを、ワイヤが並列に配置され、逆方向に流れる電流によって配線インダクタンスが低減されるように配置したパワーモジュールを開示している。欧州特許第3613077号および米国特許出願公開第2011/062491号は、さらなるハーフブリッジパワーモジュールを開示している。
本開示の実施形態は、改善された電磁気特性を有するパワーモジュールに関する。
一実施形態によれば、パワーモジュールは、第1のスイッチ素子および関連する第1のダイオードを備える第1のスイッチと、第2のスイッチ素子および関連する第2のダイオードを備える第2のスイッチとを備える。スイッチ素子の各々は、その関連するダイオードに並列に電気的に接続される。第1および第2のスイッチは、ハーフブリッジを形成するように電気的に接続される。スイッチ素子およびダイオードは互いに隣接して配置され、第2のスイッチ素子および第2のダイオードは、第1のスイッチ素子と第1のダイオードとの間に配置されてもよい。
パワーモジュールは、たとえば、Si、またはSiCもしくはGaNモジュールなどのワイドバンドギャップモジュールであってもよい。スイッチ素子は、一例として、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)であってもよい。スイッチ素子は、たとえば、MOSFETまたはMISFETトランジスタであってもよい。関連するダイオードは、フリーホイールダイオード(FWD)であってもよい。スイッチ素子は、関連するダイオードがスイッチ素子のコレクタとエミッタとの間に接続されるように、関連するダイオードと電気的に接続される。このようにして、電流をダイオードを介して一方向に導くことができる。
一実施形態では、第1のスイッチは、DC+端子に接続されたHSスイッチである。第1のスイッチ素子および第1のダイオードは、この場合、それぞれHSスイッチ素子およびHSダイオードと呼ばれる。第2のスイッチは、DC-端子に接続されたLSスイッチである。第2のスイッチ素子および第2のダイオードは、この場合、それぞれLSスイッチ素子およびLSダイオードと呼ばれる。
代替の実施形態では、第1のスイッチはLSスイッチであり、第2のスイッチはHSスイッチである。
指定された順序で互いに隣接するスイッチ素子およびダイオードの配置は、構成要素が属するサイドの順序が両方向で同じであるという意味で対称である。これにより、浮遊インダクタンスを低減することができる。また、スイッチ素子と他方のダイオードとDC端子との間の転流経路の長さも制限することができ、ループ電流のインダクタンスが低減する。
一実施形態では、第1のスイッチ素子は第2のダイオードに隣接して配置され、第1のダイオードは第2のスイッチ素子に隣接して配置される。したがって、異なるサイドのスイッチおよびダイオードが互いに隣接して配置され、転流経路が短くなる。いくつかの実施形態では、第2のスイッチ素子は、関連する第2のダイオードよりも第1のダイオードの近くに配置される。
パワーモジュールは、パワーモジュールの同じ側に配置された少なくとも3つのDC端子を備えることができ、DC端子は交互の極性を有する。一例として、端子のレイアウトはDC+/DC-/DC+であってもよい。あるいは、端子のレイアウトはDC-/DC+/DC-であってもよい。パワーモジュールは、同じ側に交互の極性のさらなるDC端子を有することも可能である。パワーモジュールは、DC端子とは反対側に配置されたAC端子を備え得る。
パワーモジュールは、メタライゼーションを備えてもよい。メタライゼーションは、それぞれの端子に接続されたDC+、DC-、およびACメタライゼーションの形態であってもよい。スイッチ素子およびダイオードは、DC+およびACメタライゼーション上に配置されてもよい。メタライゼーションは、互いに平行なストリップの形態で配置されてもよい。
実施形態では、第1および第2のスイッチの各々は、同じスイッチの他のスイッチ素子および関連するダイオードに並列に接続されたいくつかのスイッチ素子および関連するダイオードを備える。スイッチの各々は、奇数個のスイッチ素子および関連するダイオードを備え得る。一例として、スイッチの各々は、3つのスイッチ素子および関連するダイオードを備え得る。
パワーモジュールは、対称性の高いレイアウトを有し得る。一例として、同じスイッチのスイッチ素子は1つの行に配置されてもよい。スイッチ素子は、規則的な距離に配置されてもよい。また、同じスイッチの関連するダイオードは1つの行に配置されてもよい。同じスイッチのスイッチ素子の各々は、同じメタライゼーション上に配置されてもよい。また、関連するダイオードの各々は、同じメタライゼーション上に配置されてもよい。
実施形態では、パワーモジュールは、第1および第2のスイッチ素子および関連するダイオードと同じ列に配置された、追加の第1のスイッチ素子、関連する追加の第1のダイオード、追加の第2のスイッチ素子および関連する追加の第2のダイオードを備える。追加のスイッチ素子およびダイオードは、第1および第2のスイッチ素子およびダイオードと同じ順序で配置されてもよい。追加のスイッチ素子およびダイオードは、第1および第2のスイッチ素子およびダイオードとは反対の順序で配置することもできる。追加の第1のスイッチ素子および第2のスイッチ素子ならびに関連するダイオードは、第1のスイッチ素子および第2のスイッチ素子ならびに関連するダイオードに電気的に並列に接続されてもよい。
これにより、列に沿ってスイッチ素子とダイオードのパターンが繰り返される。それに加えて、スイッチは、第1および第2のスイッチ素子およびダイオードの同じ行に配置されたさらなるスイッチ素子およびダイオードを備えてもよい。
本開示は、いくつかの実施形態を含む。各特徴が特定の実施形態の文脈で明示的に言及されていない場合であっても、実施形態のうちの1つに関して説明されたすべての特徴は、他の実施形態に関しても本明細書に開示される。
さらなる特徴、改良および便宜は、図面に関連する例示的な実施形態の以下の説明から明らかになる。図では、同じ構造および/または機能の要素は、同じ参照符号で参照され得る。図に示される実施形態は例示的な表現であり、必ずしも一定の縮尺で描かれていないことを理解されたい。
ハーフブリッジの形態のパワーモジュールの概略回路図である。 一実施形態によるパワーモジュールの概略図である。 図2のレイアウトによるパワーモジュールの上面図である。 図3の実施形態のゲートメタライゼーションレイアウトの詳細図である。 図3の実施形態に対する代替的なゲートメタライゼーションレイアウトの詳細図である。 さらなる実施形態によるパワーモジュールの概略図である。 さらなる実施形態によるパワーモジュールの概略図である。 さらなる実施形態によるパワーモジュールの概略図である。 さらなる実施形態によるパワーモジュールの概略図である。
図1は、ハーフブリッジの形態のパワーモジュール1の概略回路図を示す。パワーモジュール1は、たとえば、電気自動車のモータ駆動装置や電力変換器に用いられてもよい。
パワーモジュール1は、2つのDC+/-端子4、5の間に直列に接続された第1のスイッチ2および第2のスイッチ3を備え、スイッチ2、3の間にAC端子6が接続されている。DC+/-端子4、5間に電圧を供給し、ゲート端子7、8でスイッチ2、3を交互にオンおよびオフに切り替えると、AC端子6にAC電圧が生成される。
第1のスイッチ2は、第1のスイッチ素子9と、関連する第1のダイオード10とを備える。第1のダイオード10は、第1のスイッチ素子9のエミッタ-コレクタ間に接続されている。第2のスイッチ3は、第2のスイッチ素子11と、第2のスイッチ素子11のエミッタとコレクタとの間に接続された関連する第2のダイオード12とを備える。スイッチ素子9、11は、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)であってもよい。ダイオード10、12は、フリーホイールダイオード(FWD)であってもよい。第1のスイッチ2は、この場合、DC+端子に直接接続され、「ハイサイド」(HS)スイッチとも呼ばれる。第1のダイオード10および第1のスイッチ素子9は、それぞれHSダイオード10およびHSスイッチ素子9と呼ばれる。第2のスイッチ3は、この場合、DC-端子に直接接続され、「ローサイド」(LS)スイッチとも呼ばれる。第2のダイオード11および第2のスイッチ素子12は、それぞれLSダイオードおよびLSスイッチ素子と呼ばれる。
第1のスイッチ2が、第1のスイッチ素子9および関連する第1のダイオード10に並列に接続された、1つまたは複数のさらなる第1のスイッチ素子9’および関連するさらなる第1のダイオード10’を備え、第2のスイッチ3が、第2のスイッチ素子11および関連する第2のダイオード12に並列に接続された1つまたは複数のさらなる第2のスイッチ素子11’および1つまたは複数の関連するさらなる第2のダイオード12’を備えることも可能である。
1つまたは複数のさらなる第1のスイッチ素子9’は、第1のスイッチ素子9と同じ特徴を有し得る。同じことが、第2のスイッチ素子11、第1のダイオード10および第2のダイオード12のそれぞれに対するさらなる第2のスイッチ素子11’、さらなる第1のダイオード10’およびさらなる第2のダイオード12’にも当てはまる。以下では、第1のスイッチ素子9およびさらなる第1のスイッチ素子9’は、第1のスイッチ素子9、9’としても示され、第2のスイッチ素子11およびさらなる第2のスイッチ素子11’は、第2のスイッチ素子11、11’としても示される。以下では、第1のダイオード10およびさらなる第1のダイオード10’は、第1のダイオード10、10’としても示され、第2のダイオード12およびさらなる第2のダイオード12は、第2のダイオード12、12’としても示される。
一例として、奇数個の第1のスイッチ素子9、9’および関連するダイオード10、10’が並列に接続されてもよく、奇数個の第2のスイッチ素子11、11’および関連する第2のダイオード12、12’が並列に接続されてもよい。
スイッチング中、第1のスイッチ2と第2のスイッチ3との間に転流ループ電流が流れ、関連する転流ループインダクタンスがスイッチング速度に影響を与える。
図2は、図1の回路図によるハーフブリッジを備えるパワーモジュール1のレイアウト方式の一実施形態を示す。第1のスイッチ素子9および第2のスイッチ素子11ならびに関連するダイオード10、12のみが示されている。さらなる第1および第2のスイッチ素子は、長さ方向Lに沿ってシフトされた対応する配置で存在することができる。
スイッチ素子9、11および関連するダイオード10、12は、基板上のメタライゼーション31上に配置される。メタライゼーション31は、「トレース」と称されることもできる。特に、第1のスイッチ素子9および第1のダイオード10はDC+メタライゼーション13、13a上に配置され、第2のスイッチ素子11および第2のダイオード12はACメタライゼーション15、15a上に配置される。図示の実施形態では、第1のスイッチ素子9および第1のダイオード10は、それぞれHSスイッチ素子およびHSダイオードである。第2のスイッチ素子11および第2のダイオード12は、それぞれLSスイッチ素子およびLSダイオードである。
スイッチ素子9、11および関連するダイオード10、12は、第1のスイッチ素子9-第2のダイオード12-第1のダイオード10-第2のスイッチ素子12(図2では下から上)の順序で互いに隣接して配置される。図2に見られるように、互いに「隣接して」配置された2つの構成要素の間には、他のスイッチ素子またはダイオードは配置されていない。構成要素(HS-LS-LS-HS)のサイドの順序は、下から上に向かって、または上から下に向かって同じである。素子は、パワーモジュール1の幅方向Wに沿って1つの列に配置されている。列内に配置される素子は、長さ方向Lに沿って少なくとも重なり合うか、または互いに中心に配置される。
この配置では、第1のスイッチ素子9は、関連する第1のダイオード10に隣接して配置されない。その代わりに、第1のスイッチ素子9と第2のダイオード12とが近接して対として配置され、第2のスイッチ素子11と第1のダイオード10とが近接して対として配置される。したがって、異なるサイドのスイッチ素子9、11およびダイオード10、11は、対として空間的にクラスタ化される。これは、第1のダイオード10から第2のスイッチ素子11を介してDC-メタライゼーション14への電流転流経路16が空間的に良好に画定され制限されるという効果を有する。また、第1のスイッチ素子9から第2のダイオード12を介してDC-メタライゼーション14への電流転流経路17も空間的に良好に画定され制限される。これにより、転流ループのインダクタンスが最小化される。
2つのDC+メタライゼーション13、13aは同電位であるが、別々の端子に接続されてもよい。2つのACメタライゼーション15、15aは同じAC電位にある。ACメタライゼーション15、15aは、単一の端子に接続されてもよい。
図3は、基板18上に配置された図2のレイアウト方式を有するパワーモジュール1の一実施形態の上面図を示す。
図示の実施形態では、3つの第1のダイオード10、10’、10’’は、同じDC+メタライゼーション13上に互いに隣接して配置され、さらなるDC+メタライゼーション13a上に互いに隣接して配置された3つの第1のスイッチ素子9、9’、9’’に関連付けられる。3つの第2のダイオード12、12’、12’’は、同じACメタライゼーション15上に互いに隣接して配置され、同じさらなるACメタライゼーション15a上に互いに隣接して配置された3つの第2のスイッチ素子11、11’、11’’に関連付けられる。したがって、本実施形態は、サイドごとに3つのスイッチ素子および関連するダイオードを有する。スイッチ素子および関連するダイオードは、長さ方向Lに沿って互いに対してのみシフトされた規則的な距離に配置される。各サイドのダイオードおよびスイッチ素子は、図1の回路図のいくつかの第1のスイッチの並列接続およびいくつかの第2のスイッチの並列接続に対応する同じメタライゼーション上で長さ方向Lに沿って互いに隣接して配置される。示されているダイオードおよびスイッチ素子の配置は非常に規則的であり、それによって、ダイオードおよびスイッチ素子の負荷および損失のバランスのとれた分配を達成することができる。
レイアウト方式は、同じメタライゼーション上に配置されたサイド当たり3つのダイオードおよびスイッチ素子を示しているが、サイド当たり3つより多いまたは少ないダイオードが存在してもよい。実施形態では、サイド当たり単一のダイオードおよび単一のスイッチ素子のみが存在してもよい。
ACメタライゼーション15、15aは、単一のAC端子6に接続される。DC+メタライゼーションは、図1に示す単一の端子4の代わりに2つの別個のDC+端子4、4’に接続される。DC+端子4、4’は、DC-端子5を囲み、AC端子6とは反対側に配置される。
スイッチ素子9、9’、9’’、11、11’、11’’の各々およびダイオード11、11’、11’’および12、12’、12’’の各々は、ワイヤボンド19によって隣り合うDC+、DC-またはACメタライゼーション13、13a、14、15、15aに接続される。この実施形態では、ワイヤボンド19も幅方向Wに沿って均一に方向付けられている。全体として、メタライゼーションおよび接続構造の非常に希薄なレイアウトが達成される。これにより、チップ配置面積を最大化することができ、熱の広がりを大きくすることができる。
図4は、図3の実施形態のゲートメタライゼーションレイアウトの詳細図を示す。詳細図の位置は、図3に破線で示されている。
第2のスイッチ素子11、11’、11’’のゲート20、20’、20’’は、第1のDC+メタライゼーション13と第1のACメタライゼーション15との間に配置されたゲートメタライゼーション21に接続されている。図3から分かるように、第1のスイッチ素子9、9’、9’’のゲートは、第2のDC+メタライゼーション13aと基板18の縁部との間に位置する第2のゲートメタライゼーション22に接続されている。全体的なレイアウトに応じて、第2のゲートメタライゼーション22は、第1のゲートメタライゼーション21の位置に対応して、第2のDC+メタライゼーション13aと第2のACメタライゼーション15aとの間に代替的に配置されてもよい。図から分かるように、ゲートメタライゼーションの非常に希薄なレイアウトが達成される。
図5は、図4に示すゲートメタライゼーションレイアウトの代わりに図3のパワーモジュール1に具現化することができる代替のゲートメタライゼーションレイアウトの一例を詳細図で示す。図5では、第1のゲートメタライゼーション21はDC-メタライゼーション上に配置される。図4のように、第1のゲートメタライゼーション21は、DC+、DC-、およびACメタライゼーションに平行に配置された細長いストリップの形態である。
図6、図7、図8および図9は、パワーモジュール1の実施形態のさらなるレイアウトを示す。
図6は、図3と比較して、第2のスイッチ素子11および第2のダイオード12の位置が交換されているパワーモジュール1のレイアウトを示す。この場合も、長さ方向Lに沿ったダイオードおよびスイッチの配置は均一である。これにより、サイド内のダイオードおよびスイッチの負荷および損失のバランスのとれた分配が達成される。
図2の実施形態とは対照的に、異なるサイドのスイッチ素子9、11は互いに近接して配置され、異なるサイドのダイオード10、12は互いに近接して配置される。スイッチ素子9、11は、関連するダイオード10、12から離れて配置される。スイッチ素子9、11の対は、ダイオード10、12の対からACメタライゼーション15によって分離されている。
メタライゼーション13、13a、14、15、15aは、単一の行で互いに平行に配置された細長いストリップである。また、ここでは、サイド当たりいくつかのスイッチの場合、スイッチのスイッチ素子およびダイオードのさらなるセットは、それぞれのメタライゼーションに沿って、行内の規則的な距離で、すなわち長さ方向Lに沿って配置される。
スイッチ素子9、11は、それぞれACメタライゼーション15およびDC+メタライゼーション13に隣接して配置されたゲートメタライゼーションに接続することができる。一例として、HSスイッチ素子11に接続するための第1のゲートメタライゼーションは、ACメタライゼーション15aとは反対側のDC+メタライゼーション13aの側に配置され得る。LSスイッチ素子9に接続するための第2のゲートメタライゼーションは、ACメタライゼーション15に隣接して、たとえば、DC+メタライゼーション13とACメタライゼーション15との間に配置され得る。第2のゲートメタライゼーションは、代替的にDC-メタライゼーション14上に配置されてもよい。
さらなるスイッチ素子9’、9’’、11’、11’’およびさらなるダイオード10’、10’’、12’、12’’の相対的な配置は同じであるが、長さ方向Lに沿ってのみシフトされる。
図7は、パワーモジュール1のさらなるレイアウトを示す。この実施形態では、DC-メタライゼーションおよび関連する端子は、(図の上から下へ)「+/-/+」方式ではなく、「-/+/-」方式で配置されている。
本実施形態では、第1のスイッチ素子9および第1のダイオード10はHSスイッチの一部であり、第2のスイッチ素子11および第2のダイオード12はLSスイッチの一部である。ここでも、サイドの順序(HS-LS-LS-HS)は、下から上に向かって、または上から下に向かって同じである。第2のスイッチ素子11および第2のダイオード12は、幅方向Wに沿って異なる位置において、同一のDC+メタライゼーション13上で互いに近接して配置される。第1のスイッチ素子11および関連する第1のダイオード12とは近接して配置される。しかしながら、第1のスイッチ素子9および関連するダイオード10は、DC+メタライゼーション13および第2のスイッチ素子11および第2のダイオード12によって互いに分離されている。また、この実施形態では、第2のダイオード12から第1のスイッチ素子9を介してDC-メタライゼーション14への転流経路16、および第2のスイッチ素子11から第1のダイオード10を介してDC-メタライゼーション14aへの転流経路17は短く、インダクタンスは低い。
先の実施形態と同様に、スイッチの第1の組のスイッチ素子9、11および関連するダイオード10、12は、パワーモジュール1の長さLに沿って同じ位置に配置される。第2の組のスイッチ素子9’、11’および関連するダイオード10’、12’は、同一に配置されているが、長さ方向Lに沿ってのみシフトされている。また、第3の組のスイッチ素子9’’、11’’および関連するダイオード10’’、12’’は、同一に配置されているが、長さ方向Lに沿ってのみシフトされている。
図8は、パワーモジュール1のさらなるレイアウトを示す。図7のレイアウトと比較して、第2のスイッチ素子11、11’、11’’の位置および関連するダイオード12、12’、12’’の位置が入れ替えられる。この場合も、負荷と損失のバランスのとれた分布を得ることができる。
図9は、パワーモジュール1のさらなるレイアウトを示す。この実施形態では、DC-メタライゼーションおよび関連する端子は、幅方向Wに沿って「-/+/-/+/-」方式で配置されている。
図示の実施形態は、図8に示すレイアウト方式が共有DC-端子14aを用いて幅方向Wに倍にされた場合に得られる。したがって、パワーモジュール1は、ハーフブリッジを形成する第1の組のスイッチを備え、第1の組は、第1のスイッチ素子9および第2のスイッチ素子11ならびに関連するダイオード10、12を備え、第2の組のスイッチは、追加のスイッチ素子9a、11aおよび関連する追加のダイオード10a、12aを備える。パワーモジュール1内のそれぞれのメタライゼーションの分離により、モジュール端子が、たとえば、インバータにさらに接続されると、並列接続が確立され得る。
同一に配置されたスイッチのさらなるセットは、例示的には互いに一定の距離をおいて、長手方向Lに沿ってシフトした位置に配置される。したがって、メタライゼーションに沿う方向におけるスイッチ素子およびダイオードの配置に関して、レイアウトは対称である。例示的には、各サイドのスイッチ素子およびダイオードは単にメタライゼーション方向に沿ってシフトされるにすぎず、レイアウトはメタライゼーションに沿って変化しない。
図3に示すレイアウトのシミュレーションは、関連する転流ループとゲートループとの間の各スイッチ素子の相互結合インダクタンスが負でバランスがとれており、したがって適切な動的電流分担を達成できることを示している。それに加えて、3つすべてのスイッチ素子のスイッチ素子のシミュレートされたターンオフおよびターンオンダイオードにおけるスイッチング挙動は、良好に整列され、したがって、スイッチのスイッチ素子間で良好なバランスが達成される。また、ダイオードのスイッチング挙動もバランスがとれている。
参照符号
1 パワーモジュール
2 第1のスイッチ
3 第2のスイッチ
4,4’ DC+端子
5 DC-端子
6 AC端子
7 第1のゲート端子
8 第2のゲート端子
9 第1のスイッチ素子
9’,9’’,9a さらなる第1のスイッチ素子
10 第1のダイオード
10’,10’’,10a さらなる第1のダイオード
11 第2のスイッチ素子
11’,11’’,11a さらなる第2のスイッチ素子
12 第2のダイオード
12’,12’’,12a さらなる第2のダイオード
13,13a DC+メタライゼーション
14,14a,14b DC-メタライゼーション
15,15a,15b,15c ACメタライゼーション
16 転流経路
17 転流経路
18 基板
19 ワイヤボンド
20,20’,20’’ ゲート
21 第1のゲートメタライゼーション
22 第2のゲートメタライゼーション
23 第1のゲート端子
24 第2のゲート端子
25 実施形態のシミュレーション結果
26 参考のためのシミュレーション結果
27 追加の第1のスイッチ素子
28 追加の第1のダイオード
29 追加の第2のスイッチ素子
30 追加の第2のダイオード
31 メタライゼーション
U 電圧
I 電流
W 幅方向
L 長さ方向

Claims (15)

  1. 第1のスイッチ素子(9)および関連する第1のダイオード(10)を備える第1のスイッチ(2)と、
    第2のスイッチ素子(11)および関連する第2のダイオード(12)を備える第2のスイッチ(3)と、であって、
    ハーフブリッジを形成するように電気的に接続される、前記第1のスイッチ(2)および前記第2のスイッチ(3)と、
    1つまたは複数のACメタライゼーション(15、15a、15b、15c)、1つまたは複数のDC+メタライゼーション(13、13a)および1つまたは複数のDC-メタライゼーション(14、14a、14b)を備えるメタライゼーション(31)と、
    前記ACメタライゼーション(15、15a、15b、15c)に接続された1つまたは複数のAC端子(6)、前記DC+メタライゼーション(13、13a)に接続された1つまたは複数のDC+端子(4、4’)および前記DC-メタライゼーション(14、14a、14b)に接続された1つまたは複数のDC-端子(5)と
    を備えるパワーモジュール(1)であって、
    少なくとも1つのACメタライゼーション(15、15a、15b、15c)は、少なくとも1つのDC-メタライゼーション(14、14a、14b)と少なくとも1つのDC+メタライゼーション(13、13a)との間に配置され、
    前記第1のスイッチ素子(9)、前記第2のスイッチ素子(11)、前記第1のダイオード(10)および前記第2のダイオード(12)は、互いに隣接して配置されるとともに前記DC+メタライゼーション(13、13a)およびACメタライゼーション(15、15a、15b、15c)上に配置され、前記第2のスイッチ素子(11)および前記第2のダイオード(12)は、前記第1のスイッチ素子(9)と前記第1のダイオード(10)との間に配置される、パワーモジュール(1)。
  2. 前記メタライゼーション(31)()は、互いに平行なストリップの形態で配置される、請求項1に記載のパワーモジュール(1)。
  3. 前記第2のスイッチ素子(11)のゲート(20)に接続されたゲートメタライゼーション(21、22)を備え、前記ゲートメタライゼーション(21、22)は、前記第2のスイッチ素子(11)と、前記第2のスイッチ素子(11)に隣接して配置された前記第1のダイオード(10)および前記第2のダイオード(12)のうちの一方との間に配置されたストリップの形態を有する、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
  4. 前記第1のスイッチ(2)は、1つまたは複数のさらなる第1のスイッチ素子(9’、9’’)および関連するさらなる第1のダイオード(10’、10’’)を備え、前記第2のスイッチ(3)は、1つまたは複数のさらなる第2のスイッチ素子(11’、11’’)および関連するさらなる第2のダイオード(12’、12’’)を備え、前記第1のスイッチ素子(9)および前記さらなる第1のスイッチ素子(9’、9’’)は1つの行に互いに隣接して配置され、前記第2のスイッチ素子(11)および前記さらなる第2のスイッチ素子(11’、11’’)は1つの行に互いに隣接して配置され、前記第1のダイオード(10)および前記さらなる第1のダイオード(10’、10’’)は1つの行に互いに隣接して配置され、前記第2のダイオード(12)および前記さらなる第2のダイオード(12’、12’’)は1つの行に互いに隣接して配置される、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
  5. 前記第1のスイッチ素子(9)および前記1つまたは複数のさらなる第1のスイッチ素子(9’、9’’)は前記メタライゼーション(31)のうちの同じメタライゼーションの上に配置され、前記第2のスイッチ素子(11)および前記1つまたは複数のさらなる第2のスイッチ素子(11’、11’’)は前記メタライゼーション(31)のうちの同じメタライゼーションの上に配置される、請求項4に記載のパワーモジュール(1)。
  6. 前記第1のスイッチ素子(9)は前記第2のダイオード(12)に隣接して配置され、前記第1のダイオード(10)は前記第2のスイッチ素子(11)に隣接して配置される、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
  7. 前記第1のスイッチ素子(9)は前記第2のスイッチ素子(11)に隣接して配置され、前記第1のダイオード(10)は前記第2のダイオード(12)に隣接して配置される、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
  8. 少なくとも1つのDC-端子(5)および少なくとも1つのDC+端子(4、4’)の形態の少なくとも3つのDC端子を備え、前記3つのDC端子は、前記パワーモジュール(1)の一方の側に配置されて交互の極性を有し、および、前記パワーモジュール(1)の反対側に配置された少なくとも1つのAC端子(6)を備える、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
  9. 前記第2のダイオード(12)および前記第2のスイッチ素子(11)は、前記第1および第2のスイッチ素子(9、11)ならびに関連する第1および第2のダイオード(10、12)が配置された前記メタライゼーション(31)のうちの1つによって分離される、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
  10. 前記第2のスイッチ素子(11)および前記第2のダイオード(12)は、前記メタライゼーション(31)のうちの同じメタライゼーションの上に配置される、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール。
  11. 前記第2のダイオード(12)は、前記第2のスイッチ素子(11)に対してよりも前記第1のスイッチ素子(9)に対して、より近くに配置される、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
  12. 前記第1のスイッチ(9)はDC-端子(5)に接続されたローサイドスイッチであり、前記第2のスイッチ(11)はDC+端子(4、4’)に接続されたハイサイドスイッチである、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
  13. 前記第1のスイッチ(9)はDC+端子(4、4’)に接続されたハイサイドスイッチであり、前記第2のスイッチ(11)はDC-端子(5)に接続されたローサイドスイッチである、請求項1~11のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
  14. 前記第1のスイッチ素子(9)、前記第2のスイッチ素子(9)、前記第1のダイオード(19)および前記第2のダイオード(12)と同じ列に配置された少なくとも1つの追加の第1のスイッチ素子(9a)、関連する追加の第1のダイオード(10a)、追加の第2のスイッチ素子(11a)および関連する追加の第2のダイオード(12a)を備える、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
  15. 前記第1のスイッチ(2)は1つまたは複数のさらなる第1のスイッチ素子(9’、9’’)を備え、前記第2のスイッチ(3)は1つまたは複数のさらなる第2のスイッチ素子(11’、11’’)を備え、前記第1のスイッチ(2)および前記第2のスイッチ(3)の各々は、奇数個のスイッチ素子(9、9’、9’’、11、11’、11’’)を有する、先行する請求項のいずれかに記載のパワーモジュール(1)。
JP2023558411A 2021-03-25 2022-03-24 スイッチ素子およびダイオードを備えるパワーモジュール Pending JP2024516510A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP21164927.2A EP4064346A1 (en) 2021-03-25 2021-03-25 Power module comprising switch elements and diodes
EP21164927.2 2021-03-25
PCT/EP2022/057795 WO2022200512A1 (en) 2021-03-25 2022-03-24 Power semiconductor module comprising switch elements and diodes

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2024516510A true JP2024516510A (ja) 2024-04-16

Family

ID=75223198

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023558411A Pending JP2024516510A (ja) 2021-03-25 2022-03-24 スイッチ素子およびダイオードを備えるパワーモジュール

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP4064346A1 (ja)
JP (1) JP2024516510A (ja)
CN (1) CN117099201A (ja)
WO (1) WO2022200512A1 (ja)

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4164810B2 (ja) * 2004-01-27 2008-10-15 富士電機デバイステクノロジー株式会社 電力用半導体モジュール
DE112009001638B4 (de) * 2008-07-10 2020-07-16 Mitsubishi Electric Corporation Leistungshalbleitermodul
DE102012202765B3 (de) * 2012-02-23 2013-04-18 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Halbleitermodul
CN104303297B (zh) 2012-05-16 2017-05-17 松下知识产权经营株式会社 电力用半导体模块
CN107851637B (zh) * 2015-07-09 2020-06-05 三菱电机株式会社 功率半导体模块
EP3246945B1 (en) 2016-05-19 2018-10-03 ABB Schweiz AG Power module with low stray inductance
JP7162013B2 (ja) * 2017-05-02 2022-10-27 ヒタチ・エナジー・スウィツァーランド・アクチェンゲゼルシャフト Dc端子の同軸配列を有するハーフブリッジモジュール

Also Published As

Publication number Publication date
CN117099201A (zh) 2023-11-21
WO2022200512A1 (en) 2022-09-29
EP4064346A1 (en) 2022-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7153649B2 (ja) ゲートパスインダクタンスが低いパワー半導体モジュール
JP6425380B2 (ja) パワー回路およびパワーモジュール
JP6513303B2 (ja) 電力用半導体モジュールおよび電力変換装置
US8461623B2 (en) Power semiconductor module
CN110998838B (zh) 半导体模块
WO2018186353A1 (ja) パワーモジュール
WO2018142863A1 (ja) 半導体モジュール、電気自動車、及びパワーコントロールユニット
KR102063101B1 (ko) 균일하게 분배된 전류 흐름을 위한 리드 프레임 상의 인터디지트 디바이스
US20190035771A1 (en) Power module
US10256640B2 (en) Semiconductor device
US11605613B2 (en) Semiconductor device
US11456238B2 (en) Semiconductor device including a semiconductor chip connected with a plurality of main terminals
US7279963B2 (en) Low inductance semiconductor device having half-bridge configuration
TW201838336A (zh) 半導體裝置及轉換器系統
CN113875006A (zh) 三电平功率模块
CN115692399A (zh) 功率模块及电子设备
US10439606B2 (en) Semiconductor module
US11158569B2 (en) Semiconductor component and semiconductor package
JP7337711B2 (ja) 半導体装置
JP3896940B2 (ja) 半導体装置
JP2018207044A (ja) 半導体モジュール
JP2024516510A (ja) スイッチ素子およびダイオードを備えるパワーモジュール
US11315906B2 (en) Semiconductor arrangements
CN113707625A (zh) 电力用半导体模块
US11973065B2 (en) Semiconductor arrangements

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20240130

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20240205

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240301

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240408