JP2024072208A - 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】 印刷物の検査を高精度に行うための処理を提供することを目的とする。【解決手段】 画像処理装置であって、原稿画像を基準画像として、原稿画像を基に印刷された印刷物を読み取って得られる対象画像の検査を行う第１検査手段と、印刷物を読み取って得られる読取画像を基準画像として、対象画像の検査を行う第２検査手段と、第１検査手段による検査結果と第２検査手段による検査結果とに基づいて、対象画像に対する検査結果を出力する出力手段と、を有する。【選択図】 図２

Description

本発明は、印刷物を検査するための画像処理技術に関する。

印刷装置により出力される印刷物は、インクやトナー等の色材が意図しない箇所に付着することに起因する汚れ、又は画像を形成すべき箇所に十分な色材が付着しないことに起因する色抜けを有することがある。これらの印刷欠陥の有無を検査するシステムとして、印刷装置により出力される印刷物をカメラやスキャナのラインセンサ等で読み取り、読取画像を基に印刷が正常に行われているか否かを自動で検査する印刷検査システムがある。このような印刷検査システムでは、欠陥の無い印刷物の画像である基準画像と、検査対象の印刷物の読取画像との差分に基づき、検査対象の印刷物における欠陥の有無を判定することができる。

印刷物の検査として、原稿画像を基準画像として用いる検査（以降、ＲＩＰ検査と呼ぶ）と、読取画像を基準画像として用いる検査（以降、Ｓｃａｎ検査と呼ぶ）とが知られている。尚、ＲＩＰはＲａｓｔｅｒ Ｉｍａｇｅ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒの略である。特許文献１は、検査レベルが高い場合は読取画像を基準画像として用いる検査を行い、検査レベルが低い場合は原稿画像を基準画像として用いる検査を行う技術を開示している。

特開２０２１－４１６２８号公報

しかしながら、ＲＩＰ検査とＳｃａｎ検査とにはそれぞれ検査精度を低下させる要因があるため、特許文献１では高精度に検査を行うことができない場合があった。

そこで本発明は、印刷物の検査を高精度に行うための処理を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明に係る画像処理装置は、原稿画像を基準画像として、原稿画像を基に印刷された印刷物を読み取って得られる対象画像の検査を行う第１検査手段と、印刷物を読み取って得られる読取画像を基準画像として、前記対象画像の検査を行う第２検査手段と、前記第１検査手段による検査結果と前記第２検査手段による検査結果とに基づいて、前記対象画像に対する検査結果を出力する出力手段と、を有することを特徴とする。

印刷物の検査を高精度に行うことができる。

印刷検査システムの構成を示す図 画像処理装置の機能構成を示すブロック図 画像処理装置が実行する処理を示すフローチャート ユーザインターフェースの例を示す図 欠陥の判定処理を示すフローチャート 欠陥の判定処理を示すフローチャート 欠陥の判定処理を示すフローチャート

以下、各実施形態について、図面を参照して説明する。尚、以下の実施形態は本発明を必ずしも限定するものではない。また、各実施形態において説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。

［第１実施形態］
ＲＩＰ検査とＳｃａｎ検査とには精度面でそれぞれ良い点と悪い点がある。ＲＩＰ検査においては、未印刷の原稿画像には欠陥が含まれないため、基準画像に欠陥が含まれることに起因する過検出は発生しない。しかしながら、原稿画像と読取画像とでは、色特性や細線再現特性、幾何学的歪み等が異なるため、これら画像特性の違いに起因する過検出が発生しやすい。一方で、Ｓｃａｎ検査においては、基準画像と検査対象画像とはどちらも読取画像であるため、画像特性の違いに起因する過検出は発生しにくい。しかしながら、基準画像として用いる読取画像にミクロな欠陥が含まれる場合、検査対象画像において欠陥が無い領域であっても欠陥があると判定されてしまうことがある。また、読取画像に濃度ムラ等のマクロな欠陥が含まれ、かつ、検査対象画像にも同様のマクロな欠陥が含まれる場合、本来検出されるべき欠陥が見落とされてしまうことがある。

そこで本実施形態における画像処理装置は、ＲＩＰ検査とＳｃａｎ検査との両方の検査を行い、２つの検査結果に基づいて欠陥の有無を判定する。これにより、従来の方法よりも過検出を減らし、高精度に印刷物の検査を行うことができる。

＜印刷検査システムの構成＞
図１は、第１実施形態において印刷物の出力と検査とを行う印刷検査システムの構成を示す図である。第１実施形態における印刷検査システムは、画像処理装置１００と、印刷用サーバ１８０と、印刷装置１９０とを有する。

印刷用サーバ１８０は、印刷される原稿を含む印刷ジョブを生成し、印刷装置１９０へ印刷ジョブを投入する。印刷装置１９０は、印刷用サーバ１８０から投入された印刷ジョブに基づき、印刷媒体上に画像を形成する。印刷装置１９０は給紙部１９１を有しており、ユーザは予め印刷媒体を給紙部１９１に供給することができる。印刷装置１９０は、印刷ジョブが投入されると、給紙部１９１に供給されている印刷媒体を搬送路１９２に沿って搬送しながら、印刷媒体の片面又は両面に画像を形成し、画像処理装置１００へと送出する。

画像処理装置１００は、印刷が行われた印刷媒体（検査対象媒体）に対する欠陥の検査を行う。検査対象媒体は、印刷装置１９０が印刷媒体上に画像を形成することにより得られ、印刷装置１９０内部の搬送路１９２を通じて搬送されている。画像処理装置１００は、ＣＰＵ１０１、ＲＡＭ１０２、及びＲＯＭ１０３を有する。また、画像処理装置１００は、画像読取装置１０５、印刷装置インターフェース（Ｉ／Ｆ）１０６、汎用インターフェース（Ｉ／Ｆ）１０７、ユーザインターフェース（ＵＩ）パネル１０８、及びメインバス１０９を有する。また、画像処理装置１００は、印刷装置１９０の搬送路１９２と接続された印刷媒体の搬送路１１０を有する。また、画像処理装置１００は、検査により合格と判定された検査対象媒体が出力される出力トレー１１１、及び検査により不合格と判定された検査対象媒体が出力される出力トレー１１２を有する。図１の例において、出力トレー１１１及び出力トレー１１２はメインバス１０９を介してＣＰＵ１０１に接続されている。検査対象媒体に対する検査結果に応じて、検査対象媒体の搬送先が出力トレー１１１又は出力トレー１１２に設定される。

画像処理装置１００は、プロセッサとメモリとを備えるコンピュータにより実現することができる。例えば、ＣＰＵ１０１のようなプロセッサが、ＲＡＭ１０２又はＲＯＭ１０３のようなメモリに格納されたプログラムを実行することにより、各部の機能を実現することができる。ＣＰＵ１０１のようなプロセッサは、画像処理装置１００内の各モジュールを必要に応じて制御することもできる。尚、画像処理装置１００は、例えばネットワークを介して接続された複数の処理装置によって構成されていてもよい。ＣＰＵ１０１は、画像処理装置１００内の各部を制御するプロセッサである。ＲＡＭ１０２は、ＣＰＵ１０１によって実行されるアプリケーション、又は画像処理に用いられるデータ等を一時的に保持する。ＲＯＭ１０３は、ＣＰＵ１０１によって実行されるプログラム群を格納する。

画像読取装置１０５は、印刷装置１９０から送られてきた印刷媒体の片面又は両面を、搬送路１１０上で読み取り、読み取り結果を画像データとして取得する。搬送路１１０は画像読取装置１０５が印刷媒体の画像を読み取る際の背景となるため、画像上で印刷媒体との区別が容易な色（例えば黒）を有するように搬送路１１０を構成することができる。印刷装置Ｉ／Ｆ１０６は印刷装置１９０と接続されており、画像処理装置１００は印刷装置Ｉ／Ｆ１０６を通して印刷装置１９０と通信することができる。例えば、印刷装置Ｉ／Ｆ１０６を介して、印刷装置１９０と画像処理装置１００とを同期させ、稼働状況を互いに通知させることができる。ＵＩパネル１０８は、ユーザに情報を通知することができる。ＵＩパネル１０８は、液晶ディスプレイ等の表示装置であってもよく、画像処理装置１００のユーザインターフェースとして機能することができる。ＵＩパネル１０８は、例えば、現在の画像処理装置１００の状況又は設定をユーザに通知することができる。また、ＵＩパネル１０８はタッチパネル又はボタン等の入力装置を備えていてもよく、画像処理装置１００は入力装置を介してユーザからの指示を受け付けることができる。メインバス１０９は画像処理装置１００の各モジュールを接続する伝送路である。

画像処理装置１００は、印刷装置１９０から出力された印刷媒体を搬送路１１０が搬送する間に、画像読取装置１０５が取得する印刷媒体の画像データに基づき、印刷媒体の欠陥の有無を調べる検査処理を行う。検査処理の結果、合格と判定されると、印刷媒体は出力トレー１１１へと搬送される。検査処理の結果、不合格と判定されると、印刷媒体は出力トレー１１２へと搬送される。この動作により、出力トレー１１１上には、欠陥が存在しないと判定された印刷媒体のみが出力される。

尚、本実施形態における印刷検査システムは印刷用サーバ１８０を含む構成であるが、印刷用サーバ１８０を含まない構成であってもよい。例えば、印刷装置１９０が自ら印刷ジョブを生成してもよいし、印刷装置１９０と接続された他の装置から印刷ジョブを受け取ってもよい。また、本実施形態においては、画像処理装置１００を画像読取装置１０５や搬送路１１０、出力トレー１１１等を含む構成としたが、画像処理装置１００が全ての構成を含まなくてもよい。例えば、画像処理装置１００をＣＰＵ１０１、ＲＡＭ１０２、及びＲＯＭ１０３のみを有する構成とし、画像読取装置１０５やユーザインターフェース（ＵＩ）パネル１０８等を別体の装置としてもよい。

＜画像処理装置１００の機能構成＞
図２は、本実施形態における画像処理装置１００の機能構成を示すブロック図である。ＣＰＵ１０１は、ＲＡＭ１０２をワークメモリとして、ＲＯＭ１０３等に格納されたプログラムを読み出して実行することによって、図２に示す機能構成として機能する。尚、以下に示す処理の全てがＣＰＵ１０１によって実行される必要はなく、処理の一部又は全てがＣＰＵ１０１以外の１つ又は複数の処理回路によって行われるように画像処理装置１００が構成されていてもよい。画像処理装置１００は、基準画像取得部２０１、対象画像取得部２０２、検査情報取得部２０３、ＲＩＰ検査処理部２０４、Ｓｃａｎ検査処理部２０５、欠陥判定部２０６、表示制御部２０７を有する。

基準画像取得部２０１は、ＲＩＰ検査用の基準画像データとして、印刷対象の原稿画像を表す原稿画像データを取得し、Ｓｃａｎ検査用の基準画像データとして、基準の印刷物を読み取って得られる読取画像データを取得する。基準画像取得部２０１は、取得した基準画像データをＲＡＭ１０２又はＲＯＭ１０３に格納する。尚、基準画像取得部２０１は、画像読取装置１０５が搬送路１１０上の検査対象媒体を読み取ることにより生成した読取画像データを取得するが、別の装置を用いて生成された読取画像データを取得してもよい。例えば、画像読取装置１０５とは異なる装置によって生成された読取画像データがＨＤＤ等の記憶装置に格納されており、基準画像取得部２０１は記憶装置から読取画像データを取得してもよい。

尚、Ｓｃａｎ検査用の基準画像データとして読取画像データを使用する場合は、検査対象画像中の欠陥を検出しやすくするために、複数枚の画像を合成することでＳ／Ｎ比を改善してもよい。例えば、印刷装置１９０が同一絵柄の画像を複数枚出力し、画像読取装置１０５が出力物を読み取ることで複数の読取画像を生成する。基準画像取得部２０１は、式（１）を用いて、複数の読取画像の画素値を加算平均する。

ここで、（ｘ，ｙ）は各画素の座標を表す。Ｉ_ｉ（ｘ，ｙ）は位置（ｘ，ｙ）における複数枚の読取画像の画素値を表し、Ｉ_ｏ（ｘ，ｙ）は位置（ｘ，ｙ）における合成後の画像の画素値を表す。Ｎは合成する読取画像の枚数を表す。

対象画像取得部２０２は、印刷装置１９０により印刷が行われた検査対象媒体の読取画像を表す検査対象画像データを取得する。対象画像取得部２０２は、取得した検査対象画像データをＲＡＭ１０２又はＲＯＭ１０３に格納する。本実施形態において、対象画像取得部２０２は、画像読取装置１０５が搬送路１１０上の検査対象媒体を読み取ることにより生成した読取画像データを取得する。検査情報取得部２０３は、ＵＩパネル１０８を介して取得したユーザ指示に基づいて、検査設定に関する検査ジョブの情報や、検査レベルに関する情報を取得する。尚、検査情報取得部２０３は、予め決められた検査設定や検査レベルを表す検査情報をＨＤＤ等の記憶装置から取得してもよい。

ＲＩＰ検査処理部２０４は、基準画像としての原稿画像と、検査対象画像との比較を行うことにより、検査対象画像における欠陥の有無を判定する。Ｓｃａｎ検査処理部２０５は、基準画像としての読取画像と、検査対象画像との比較を行うことにより、検査対象画像における欠陥の有無を判定する。欠陥判定部２０６は、ＲＩＰ検査の結果とＳｃａｎ検査の結果とに基づいて、検査対象画像における欠陥の有無を判定する。表示制御部２０７は、ユーザに情報を通知するための、また、処理に必要な情報をユーザに入力してもらうためのＵＩをＵＩパネル１０８に表示させる。

＜画像処理装置１００が実行する処理＞
本実施形態において画像処理装置１００が実行する処理の流れを、図３のフローチャートを用いて説明する。図３のフローチャートが示す処理は、ユーザによってＵＩパネル１０８等を介して指示が入力され、ＣＰＵ１０１が入力された指示を受け付けることにより開始する。以下、各ステップ（工程）は符号の前にＳをつけて表す。

Ｓ１１において、表示制御部２０７は、ユーザに検査に必要な情報を入力してもらうためのＵＩをＵＩパネル１０８に表示する。図４に、本ステップにおいて表示されるＵＩを例示する。図４において、検査モード設定領域１１０１は、検査のモードを設定するための領域であり、ユーザは検査モード設定領域１１０１を押下することにより、検査に使用する基準画像を指定することができる。「ＲＩＰ」は原稿画像データに基づく検査のモード、「Ｓｃａｎ」は読取画像データに基づく検査のモード、「ＲＩＰ＆Ｓｃａｎ」は原稿画像データと読取画像データとの両方に基づく検査のモードを示す。検査モードが選択されると画像指定画面に遷移し、ユーザによって指定された画像が基準画像としてＲＡＭ１０２又はＲＯＭ１０３に保持される。検査ジョブ設定領域１１０２は、印刷ジョブと、検査対象画像データや検査設定に関する情報とが対応付けられた検査ジョブの情報を設定するための領域である。ユーザは検査ジョブ設定領域１１０２を押下することにより、予め登録された検査ジョブを指定することができる。ユーザによって指定された検査ジョブはＲＡＭ１０２又はＲＯＭ１０３に保持される。

検査レベル設定領域１１０３は、検査に使用する検査レベルを設定するための領域であり、ユーザはプルダウンメニューから検査レベルを選択することができる。選択された検査レベルを表す値はＲＡＭ１０２又はＲＯＭ１０３に保持される。検査レベルは検出したい欠陥の大きさやコントラストに合わせて、検査レベル毎に、該当する欠陥を検出するのに必要な処理パラメータと対応付けられている。検査処理においては、ユーザが選択した検査レベルに合わせて欠陥が検出される。本実施形態においては、検査レベルは５段階あり、検査レベルが高いほど低コントラストでサイズが小さい欠陥が検出され、検査レベルが低いほど高コントラストでサイズが大きい欠陥が検出される。尚、検査レベルは何段階であってもよく、検査レベルと検出対象の欠陥の特徴との対応についても上記の例には限られない。

検査ＮＧ時動作設定領域１１０４は、検査で印刷物に欠陥があると判定された場合の動作を設定するための領域である。「連続ＮＧ時停止」は印刷物に欠陥があり、ＮＧ判定が所定の回数連続すると印刷を停止させる設定である。「リカバリ」は印刷物に欠陥があり、ＮＧ判定されると印刷ジョブを止めて欠陥判定されたページから再印刷を実行する設定である。検査実行領域１１０５は、検査処理を実行するための領域であり、検査実行領域１１０５が押下されると、１１０１～１１０４で設定した情報に基づいて検査処理が実行される。表示ウィンドウ１１０６は、検査対象画像や欠陥マップ、判定結果を表示するための領域である。検査画像表示ウィンドウ１１０７は、検査対象画像を表示するための領域である。ＲＩＰ判定結果表示ウィンドウ１１０８は、ＲＩＰ検査による判定結果を表示するための領域である。Ｓｃａｎ判定結果表示ウィンドウ１１０９は、Ｓｃａｎ検査による判定結果を表示するための領域である。総合結果表示ウィンドウ１１１０は、ＲＩＰ検査処理とＳｃａｎ検査処理との両方の判定結果を統合した総合判定結果を表示するための領域である。一覧表示領域１１１１は、ＲＩＰ検査判定結果、Ｓｃａｎ検査判定結果、総合判定結果において検出された欠陥を一覧で表示するための領域である。

Ｓ１２において、基準画像取得部２０１は、ＲＩＰ検査用の基準画像データとして、印刷対象の原稿画像を表す原稿画像データを取得し、Ｓｃａｎ検査用の基準画像データとして、基準の印刷物を読み取って得られる読取画像データを取得する。Ｓ１３において、検査情報取得部２０３は、検査ジョブを取得する。具体的には、検査情報取得部２０３は、検査ジョブ設定領域１１０２において設定された検査ジョブの情報を取得する。また、対象画像取得部２０２は、検査対象画像データを取得する。Ｓ１４において、検査情報取得部２０３は、検査レベルを取得する。具体的には、検査情報取得部２０３は、検査レベル設定領域１１０３において設定された情報を参照し、検査レベルに対応付けられた欠陥のコントラストや大きさに関する処理パラメータを取得する。尚、Ｓ１２～Ｓ１４の処理の順番は上記の例に限られず、例えばＳ１４、Ｓ１３、Ｓ１２の順で行ってもよいし、複数の処理を並行して行ってもよい。

Ｓ１５において、検査情報取得部２０３は、検査モード設定領域１１０１において設定された検査モードを参照して処理を進める。具体的には、検査モードが「ＲＩＰ」であればＳ１６に処理を進め、「Ｓｃａｎ」であればＳ１８に処理を進め、「ＲＩＰ＆Ｓｃａｎ」であればＳ２０に処理を進める。Ｓ１６において、ＲＩＰ検査処理部２０４は、検査対象画像データが表す検査対象画像に対して、基準画像データとして原稿画像データを用いたＲＩＰ検査を実行する。本実施形態におけるＲＩＰ検査処理部２０４は、欠陥の過検出を抑制するため、原稿画像に対して色再現特性と細線再現特性とについての補正処理を行う。色再現特性の補正処理においては、印刷装置１９０の特性や印刷媒体、出力条件毎にＣＭＹＫ値とＲＧＢ値との対応関係が記述されたＬＵＴ（ルックアップテーブル）を参照することにより補正が行われる。ＬＵＴは予め作成され、ＨＤＤ等の記憶装置に格納される。また、細線再現特性の補正処理においては、予め決められたフィルタ係数のフィルタを用いて補正が行われる。細線チャートを出力して読み取り、細線のラインプロファイルに基づいて、線幅を読取画像と一致させるためのフィルタ係数と、読み取り時のエッジのボケを補正するためのフィルタ係数とを予め算出しておく。

ＲＩＰ検査処理部２０４は、上記の２種類の補正処理を原稿画像に適用することにより、ＲＩＰ検査用の基準画像を生成する。また、ＲＩＰ検査処理部２０４は、検査時に使用する検査対象画像の画像サイズや解像度に合わせて、原稿画像の解像度を変換する処理を行う。ＲＩＰ検査処理部２０４は、基準画像と検査対象画像との位置合わせを行い、２つの画像の画素値の差分を算出し、算出した差分が所定の閾値よりも大きい画素を欠陥画素として判定する。本実施形態におけるＲＩＰ検査処理部２０４は、検査レベル毎に保持された、差分に対するコントラストの閾値、及び点状欠陥のサイズと線状欠陥のサイズとを参照することで、点状欠陥と線状欠陥との有無を判定する。

Ｓ１７において、表示制御部２０７は、Ｓ１６における検査処理の結果として欠陥マップを表示ウィンドウ１１０６に表示する。欠陥マップは、検査により検出された欠陥の座標位置を示すマップである。欠陥マップは、基準画像や検査対象画像と同じ縦横サイズの画像ファイルである。欠陥マップにおいては、欠陥がある座標位置に例えば（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２５５，２５５，２５５）の画素値が格納され、欠陥がない座標位置に例えば（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，０）の画素値が格納される。本実施形態においては、点状の欠陥がある場合は該当する座標位置に（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２５５、０，０）の画素値を格納し、線状の欠陥がある場合は該当する座標位置に（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０、２５５、０）の画素値を格納する。尚、欠陥マップにおける画素値は、欠陥の有無や欠陥の種類が識別できるのであれば、上記の例には限られない。

Ｓ１８において、Ｓｃａｎ検査処理部２０５は、検査対象画像データが表す検査対象画像に対して、基準画像データとして読取画像データを用いたＳｃａｎ検査を実行する。Ｓｃａｎ検査処理部２０５は、基準画像と検査対象画像との位置合わせを行い、２つの画像の画素値の差分を算出し、算出した差分が所定の閾値よりも大きい画素を欠陥画素として判定する。Ｓ１９において、表示制御部２０７は、Ｓ１８における検査処理の結果として欠陥マップを表示ウィンドウ１１０６に表示する。

Ｓ２０において、ＲＩＰ検査処理部２０４は、Ｓ１６の処理と同様にＲＩＰ検査を実行する。Ｓ２１において、Ｓｃａｎ検査処理部２０５は、Ｓ１８の処理と同様にＳｃａｎ検査を実行する。Ｓ２２において、欠陥判定部２０６は、Ｓ２０の判定結果とＳ２１の判定結果との両方の結果に基づいて、検査対象画像における欠陥の有無を判定する。欠陥判定部２０６の処理の詳細については後述する。

Ｓ２３において、表示制御部２０７は、Ｓ２２における総合判定結果として欠陥マップと検査レポートとを表示ウィンドウ１１０６に表示する。表示制御部２０７は、Ｓ２０の判定結果である欠陥マップをＲＩＰ判定結果表示ウィンドウ１１０８に表示し、Ｓ２１の判定結果である欠陥マップはＳｃａｎ判定結果表示ウィンドウ１１０９に表示する。表示制御部２０７は、Ｓ２２における総合判定結果である欠陥マップは総合結果表示ウィンドウ１１１０に表示する。総合結果表示ウィンドウ１１１０に表示される欠陥は、欠陥判定部２０６が欠陥判定した箇所、ＲＩＰ検査において欠陥判定された箇所、Ｓｃａｎ検査において欠陥判定された箇所を統合した欠陥であり、それぞれ異なる色で示す。

例えばＲＩＰ検査では４つの欠陥（Ｎｏ１，Ｎｏ３，Ｎｏ４，Ｎｏ５）、Ｓｃａｎ検査では３つの欠陥（Ｎｏ１，Ｎｏ２，Ｎｏ３）、総合判定では２つの欠陥（Ｎｏ１，Ｎｏ３）が検出された場合、それぞれの欠陥に対して検査結果に基づく色分けを行う。本実施形態における表示制御部２０７は、総合判定で検出された欠陥（Ｎｏ１，Ｎｏ３）を（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２５５，２５５，０）の画素値で表示する。また、表示制御部２０７は、ＲＩＰ検査でのみ検出した欠陥（Ｎｏ４，Ｎｏ５）を（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２５５，０，０）の画素値で表示し、Ｓｃａｎ検査でのみ検出した欠陥（Ｎｏ２）を（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，２５５）の画素値で表示する。表示制御部２０７は、欠陥が検出されてない座標を（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，０）の画素値で表示する。表示制御部２０７は、検査レポートとして、一覧表示領域１１１１に各判定の結果を一覧で表示する。

尚、本実施形態においては、ＲＩＰ検査の結果と、Ｓｃａｎ検査の結果と、総合判定の結果との全てを表示するが、総合判定の結果のみを表示してもよい。また、表示する検査の結果をユーザが選択できるようにしてもよい。

＜欠陥判定部２０６が実行する処理＞
図５は、Ｓ２２において欠陥判定部２０６が実行する処理の流れを示すフローチャートである。Ｓ２２０１において、欠陥判定部２０６は、Ｓ２０において実行されたＲＩＰ検査の結果である欠陥マップを取得する。欠陥マップは、ＲＩＰ検査処理部２０４により生成される。Ｓ２２０２において、欠陥判定部２０６は、Ｓ２１において実行されたＳｃａｎ検査の結果である欠陥マップを取得する。欠陥マップは、Ｓｃａｎ検査処理部２０５により生成される。Ｓ２２０３において、欠陥判定部２０６は、Ｓ２２０１及びＳ２２０２において取得した欠陥マップの各画素を比較し、同じ座標位置に欠陥があるか否かを判定する。同じ座標位置に欠陥がある場合はＳ２２０４に処理を進め、同じ座標位置に欠陥がない場合はＳ２２０５に処理を進める。尚、本実施形態における欠陥判定部２０６は、欠陥の位置が同じ座標にあるか否かを判定するが、総合判定の精度を上げるために、欠陥の位置に加えて欠陥の種別も一致しているか否かを判定してもよい。

Ｓ２２０４において、欠陥判定部２０６は、同じ座標位置に欠陥がある場合は欠陥があると判定し、欠陥マップの該当する座標に（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２５５，２５５，０）の画素値を格納する。Ｓ２２０５において、欠陥判定部２０６は、同じ座標位置に欠陥がない場合は欠陥がないと判定し、欠陥マップの該当する座標に（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，０）の画素値を格納する。Ｓ２２０６において、欠陥判定部２０６は、全ての画素位置について欠陥の有無を判定したか否かを判定し、判定済みであればＳ２２０７に処理を進め、判定済みでなければＳ２２０３に処理を戻す。Ｓ２２０７において、欠陥判定部２０６は、欠陥マップを記憶装置に出力し、Ｓ２２の処理を終了する。尚、最終的な欠陥マップの出力先は記憶装置に限られず、表示制御部２０７に直接出力してもよいし、他の装置に出力してもよい。

以上、本実施形態における画像処理装置１００は、ＲＩＰ検査とＳｃａｎ検査との両方の検査を実行し、両方の検査結果を併用することで、検査精度を向上させ、かつ、欠陥の過検出が少ない欠陥判定を実行することができる。

［第２実施形態］
第１実施形態においては、ＲＩＰ検査とＳｃａｎ検査との両方を実行し、欠陥マップで同じ座標位置に欠陥がある場合に該当する座標位置に欠陥があると判定した。本実施形態においては、検査対象画像からエッジ領域を抽出し、エッジ領域に対しては読取画像を基準画像として用いた検査処理を実行し、非エッジ領域に対しては原稿画像と読取画像とを基準画像として用いた検査処理を実行する。原稿画像を基準画像とするＲＩＰ検査では細線再現特性の違いによりエッジ領域に過検出が発生しやすいため、エッジ領域と非エッジ領域とに分けて第１実施形態において行った総合判定を行う領域を決定する。これにより、欠陥の過検出を抑制することができる。尚、本実施形態における画像処理装置のハードウェア構成及び機能構成は第１実施形態のものと同等であるため、説明を省略する。以下において、本実施形態と第１実施形態とで異なる部分を主に説明する。尚、第１実施形態と同一の構成については、同一の符号を付して説明する。

＜欠陥判定部２０６が実行する処理＞
図６は、Ｓ２２において欠陥判定部２０６が実行する処理の流れを示すフローチャートである。Ｓ３２０１において、欠陥判定部２０６は、Ｓ２０において実行されたＲＩＰ検査の結果である欠陥マップを取得する。Ｓ３２０２において、欠陥判定部２０６は、Ｓ２１において実行されたＳｃａｎ検査の結果である欠陥マップを取得する。Ｓ３２０３において、欠陥判定部２０６は、検査対象画像のエッジ情報を取得する。具体的には、欠陥判定部２０６は、検査対象画像にソーベルフィルタやラプラシアンフィルタ等の公知のエッジ検出フィルタを適用することでエッジ検出を行い、フィルタ適用後の画素値を２値化することでエッジ情報を生成する。尚、欠陥判定部２０６は、エッジ領域についてさらに膨張フィルタや縮小フィルタを適用してもよい。Ｓ３２０４において、欠陥判定部２０６は、Ｓ３２０３において取得したエッジ領域の画素値に基づいて、Ｓ３２０１及びＳ３２０２において取得した欠陥マップの座標がエッジ領域であるか否かを判定する。欠陥マップの座標がエッジ領域である場合には処理をＳ３２０５に進め、エッジ領域でない場合は処理をＳ３２０６に進める。

Ｓ３２０５において、欠陥判定部２０６は、エッジ領域と判定された座標について、Ｓ３２０２において取得した欠陥マップの判定結果を採用する。Ｓ３２０６において、欠陥判定部２０６は、Ｓ３２０１及びＳ３２０２において取得した欠陥マップの各画素を比較し、同じ座標位置に欠陥があるか否かを判定する。同じ座標位置に欠陥がある場合は処理をＳ３２０７に進め、同じ座標位置に欠陥がない場合はＳ３２０８に処理を進める。Ｓ３２０７において、欠陥判定部２０６は、同じ座標位置に欠陥がある場合は欠陥があると判定し、欠陥マップの該当する座標に（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２５５，２５５，０）の画素値を格納する。

Ｓ３２０８において、欠陥判定部２０６は、同じ座標位置に欠陥がない場合は欠陥がないと判定し、欠陥マップの該当する座標に（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，０）の画素値を格納する。Ｓ３２０９において、欠陥判定部２０６は、全ての画素位置について欠陥の有無を判定したか否かを判定し、判定済みであればＳ３２１０に処理を進め、判定済みでなければＳ３２０４に処理を戻す。Ｓ３２１０において、欠陥判定部２０６は、欠陥マップを記憶装置に出力し、Ｓ２２の処理を終了する。

以上、本実施形態における画像処理装置１００は、ＲＩＰ検査が苦手とするエッジ領域についてはＳｃａｎ検査の検査結果を用い、非エッジ領域についてはＲＩＰ検査とＳｃａｎ検査との両方の検査結果を併用する。これにより、エッジが多い検査対象画像においても良好な検査結果を得ることができる。

［第３実施形態］
本実施形態においては、検査レベルに応じてＲＩＰ検査とＳｃａｎ検査との両方の検査結果を併用するか否かを使い分ける。検査レベルが高い場合、ＲＩＰ検査では画像特性の微小な差異に応じて過検出する可能性があるためＳｃａｎ検査を実行する。検査レベルが中程度以下である場合は、ＲＩＰ検査とＳｃａｎ検査との両方の検査を実行する。尚、本実施形態における画像処理装置のハードウェア構成及び機能構成は第１実施形態のものと同等であるため、説明を省略する。以下において、本実施形態と第１実施形態とで異なる部分を主に説明する。尚、上述した実施形態と同一の構成については、同一の符号を付して説明する。

＜欠陥判定部２０６が実行する処理＞
図７は、Ｓ２２において欠陥判定部２０６が実行する処理の流れを示すフローチャートである。Ｓ４２０１において、欠陥判定部２０６は、Ｓ２０において実行されたＲＩＰ検査の結果である欠陥マップを取得する。Ｓ４２０２において、欠陥判定部２０６は、Ｓ２１において実行されたＳｃａｎ検査の結果である欠陥マップを取得する。Ｓ４２０３において、欠陥判定部２０６は、検査レベル設定領域１１０３において設定される検査レベルを取得する。Ｓ４２０４において、欠陥判定部２０６は、Ｓ４２０３において取得した検査レベルを所定の閾値と比較し、閾値よりも大きい場合は処理をＳ４２０５に進め、閾値以下である場合は処理をＳ４２０６に進める。本実施形態においては、５段階の検査レベルに対して閾値を４として設けることで、一番高い検査レベルである５が設定された場合のみＳ４２０５の処理へと進むが、閾値は上記の例に限られない。

Ｓ４２０５において、欠陥判定部２０６は、検査レベルが閾値よりも高く設定された場合に、Ｓ４２０２において取得した欠陥マップの判定結果を採用する。検査レベルが高い場合には検出対象の欠陥のコントラストや大きさに対する感度が高くなり、ＲＩＰ検査の結果を採用すると過検出の発生頻度が高くなるため、Ｓｃａｎ検査のみの欠陥マップを最終的な判定結果として採用する。

Ｓ４２０６において、欠陥判定部２０６は、Ｓ４２０１及びＳ４２０２において取得した欠陥マップの各画素を比較し、同じ座標位置に欠陥があるか否かを判定する。同じ座標位置に欠陥がある場合は処理をＳ４２０７に進め、同じ座標位置に欠陥がない場合は処理をＳ４２０８に進める。Ｓ４２０７において、欠陥判定部２０６は、同じ座標位置に欠陥がある場合は欠陥があると判定し、欠陥マップの該当する座標に（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２５５，２５５，０）の画素値を格納する。Ｓ４２０８において、欠陥判定部２０６は、同じ座標位置に欠陥がない場合は欠陥がないと判定し、欠陥マップの該当する座標に（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（０，０，０）の画素値を格納する。

Ｓ４２０９において、欠陥判定部２０６は、全ての画素位置について欠陥の有無を判定したか否かを判定し、判定済みであればＳ４２１０に処理を進め、判定済みでなければＳ４２０６に処理を戻す。Ｓ４２１０において、欠陥判定部２０６は、欠陥マップを記憶装置に出力し、Ｓ２２の処理を終了する。

以上、本実施形態における画像処理装置１００は、検査レベルが高く設定された場合にはＳｃａｎ検査のみの結果を採用し、その他の検査レベルではＲＩＰ検査とＳｃａｎ検査との両方の検査結果を併用する。これにより、検査レベルによらず精度の高い検査を実行することができる。

［その他の実施形態］
上述した実施形態においては、印刷物の検査により欠陥を検出する形態について説明したが、印刷物における所定の特徴を有するパターンやテクスチャ等を検出する形態にも適用することができる。

本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

１００ 画像処理装置
２０４ ＲＩＰ検査処理部
２０５ Ｓｃａｎ検査処理部
２０６ 欠陥判定部

Claims (11)

1. 原稿画像を基準画像として、原稿画像を基に印刷された印刷物を読み取って得られる対象画像の検査を行う第１検査手段と、
   印刷物を読み取って得られる読取画像を基準画像として、前記対象画像の検査を行う第２検査手段と、
   前記第１検査手段による検査結果と前記第２検査手段による検査結果とに基づいて、前記対象画像に対する検査結果を出力する出力手段と、
   を有することを特徴とする画像処理装置。
2. 前記出力手段は、前記第１検査手段による検査結果と前記第２検査手段による検査結果とに基づいて、前記対象画像における欠陥の有無を判定し、判定の結果を前記対象画像に対する検査結果として出力することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記出力手段は、前記第１検査手段が検出した欠陥の位置と前記第２検査手段が検出した欠陥の位置とに基づいて、前記対象画像における欠陥の有無を判定することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記第１検査手段が検出した欠陥の位置と前記第２検査手段が検出した欠陥の位置とが一致した場合に、前記対象画像に欠陥があると判定することを特徴とする請求項３に記載の画像処理装置。
5. 前記出力手段は、前記第１検査手段が検出した欠陥の位置及び種別と前記第２検査手段が検出した欠陥の位置及び種別とが一致した場合に、前記対象画像に欠陥があると判定することを特徴とする請求項４に記載の画像処理装置。
6. 前記出力手段は、前記対象画像のエッジ情報を取得し、前記エッジ情報に基づいて前記対象画像における欠陥の有無を判定することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
7. 前記出力手段は、前記対象画像におけるエッジ領域については前記第２検査手段の検査結果のみを用いて欠陥の有無を判定し、前記対象画像における非エッジ領域については前記第１検査手段の検査結果と前記第２検査手段の検査結果との両方を用いて欠陥の有無を判定することを特徴とする請求項６に記載の画像処理装置。
8. 前記出力手段は、前記対象画像に対する検査レベルに基づいて、前記対象画像における欠陥の有無を判定することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
9. 前記出力手段は、前記検査レベルが高い場合は前記第２検査手段の検査結果のみを用いて欠陥の有無を判定し、前記検査レベルが低い場合は前記第１検査手段の検査結果と前記第２検査手段の検査結果との両方を用いて欠陥の有無を判定することを特徴とする請求項８に記載の画像処理装置。
10. コンピュータを請求項１乃至請求項９のいずれか一項に記載の画像処理装置として機能させるためのプログラム。
11. 原稿画像を基準画像として、原稿画像を基に印刷された印刷物を読み取って得られる対象画像の検査を行う第１検査ステップと、
    印刷物を読み取って得られる読取画像を基準画像として、前記対象画像の検査を行う第２検査ステップと、
    前記第１検査ステップにおける検査結果と前記第２検査ステップにおける検査結果とに基づいて、前記対象画像に対する検査結果を出力する出力ステップと、
    を有することを特徴とする画像処理方法。

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