JP2021158583A - 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】検査対象画像における特徴を含む、領域の近傍に対する検査の精度を向上させるための画像処理装置、画像処理方法及びプログラムを提供する。【解決手段】画像処理装置１００において、目標の印刷結果である基準画像を設定する基準画像設定部と、複数種類の欠陥に対する検出感度を設定する検出感度設定部と、基準画像から局所パターンに対応する領域を抽出する局所パターン抽出部と、局所パターンに対応する領域において、局所パターンに類似する欠陥に対する検出感度を下げるように、検出感度を調整する検出感度調整部と、検査対象の画像を表す画像データを取得する画像取得部と、基準画像と調整された検出感度とに基づいて、検査対象の画像を検査する検査処理部と、を有する。【選択図】図２

Description

本発明は、印刷物を検査するための画像処理技術に関する。

印刷装置により出力される印刷物において、インクやトナー等の色材が意図しない箇所に付着して汚れが生じる場合がある。あるいは、画像を形成すべき箇所に十分な色材が付着せず、本来よりも色が薄くなってしまう色抜けが生じる場合がある。こうした汚れや色抜けといった印刷物における欠陥は、印刷物の品質を低下させるものである。そのため、印刷物における欠陥の有無を検査することによって、印刷物の品質を保証することが求められる。印刷物における欠陥の有無を目視で検査する目視検査は、多くのコストを必要とするため、自動で検査を行う検査システムが開発されている。このような検査システムでは、例えば事前に登録した印刷物の検査基準となる基準画像と、検査対象となる印刷物をスキャンして得られる検査対象画像と、の差分に基づき欠陥の有無を判定する。特許文献１は、基準画像から抽出したエッジの近傍領域において検査閾値を緩和するように補正し、基準画像と検査対象画像との差分と、補正した検査閾値と、に基づき印刷物を検査する技術を開示している。

特開２０１８―１５５７３６号公報

しかしながら、特許文献１の技術では、検査対象画像において、エッジなどの特徴を含む領域の近傍に存在する欠陥を検出できない場合があった。

そこで本発明は、検査対象画像における特徴を含む領域の近傍に対する検査の精度を向上させるための処理を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明に係る画像処理装置は、目標の印刷結果である基準画像を設定する第１設定手段と、複数種類の欠陥に対する検出感度を設定する第２設定手段と、前記基準画像から局所パターンに対応する領域を抽出する抽出手段と、前記局所パターンに対応する領域において、前記局所パターンに類似する欠陥に対する検出感度を下げるように、前記検出感度を調整する調整手段と、検査対象の画像を表す画像データを取得する取得手段と、前記基準画像と前記調整された検出感度とに基づいて、前記検査対象の画像を検査する処理手段と、を有することを特徴とする。

本発明によれば、検査対象画像における特徴を含む領域の近傍に対する検査の精度を向上させることができる。

画像処理装置を含む印刷システムの構成を示す図 画像処理装置の機能構成を示すブロック図 画像処理装置が実行する処理を示すフローチャート 基準画像と検査対象画像との例を示す図 検査領域の例を示す図 検出感度の例を示す図 局所パターン領域を抽出する処理を示すフローチャート 局所パターン領域の例を示す図 検出感度を調整する処理を示すフローチャート 調整された検出感度の例を示す図 検査処理を示すフローチャート 検査処理の概要を示す図 局所パターン領域を抽出する処理を示すフローチャート 局所パターン領域の例を示す図 検出感度を調整する処理を示すフローチャート 調整された検出感度の例を示す図

以下、本実施形態について、図面を参照して説明する。尚、以下の実施形態は本発明を必ずしも限定するものではない。また、本実施形態において説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。

［第１実施形態］
本実施形態においては、基準画像から局所パターンに対応する領域を抽出し、局所パターンに類似する欠陥の検出感度を下げて検査処理を行う。尚、本実施形態における検査は、目標となる印刷結果を表す画像（基準画像）と、検査対象である画像（検査対象画像）と、の差分の絶対値に基づいて行われる。

＜印刷システムの構成＞
図１は、画像処理装置１００を含む、印刷物の出力と検査とを行う印刷システム全体の構成例を示す図である。本実施形態における印刷システムは、画像処理装置１００と、印刷用サーバ１８０と、印刷装置１９０と、を有する。印刷用サーバ１８０は、印刷する原稿の印刷ジョブを生成し、印刷装置１９０へ印刷ジョブを投入する。印刷装置１９０は、印刷用サーバ１８０から投入された印刷ジョブに基づき、記録媒体（印刷用紙）上に画像を形成する。印刷装置１９０は給紙部１９１を有しており、ユーザは予め印刷用紙を給紙部１９１にセットしておく。印刷装置１９０は印刷ジョブが投入されると、給紙部１９１にセットされた印刷用紙を搬送路１９２に沿って搬送しながら、その表面（片面又は両面）に画像を形成し、画像処理装置１００へと送る。本実施形態における印刷装置１９０は、電子写真方式の印刷装置であるが、オフセット印刷方式やインクジェット方式の印刷装置であってもよい。

画像処理装置１００は、印刷が行われた検査対象の印刷物に対して欠陥の検査を行う。印刷装置１９０が印刷用紙上に画像を形成することにより得られる検査対象の印刷物は、搬送路１９２に沿って搬送され、画像処理装置１００により検査される。画像処理装置１００は検査処理装置として機能する。画像処理装置１００は、ＣＰＵ１０１、ＲＡＭ１０２、ＲＯＭ１０３を有する。また、画像処理装置１００は、記憶装置１０４、画像読取装置１０５、印刷インターフェース（Ｉ／Ｆ）１０６、汎用インターフェース（Ｉ／Ｆ）１０７、ユーザインターフェース（ＵＩ）パネル１０８、メインバス１０９を有する。さらに、画像処理装置１００は、印刷装置１９０の搬送路１９２と接続された印刷物の搬送路１１０、検査において合格した印刷成果物の出力トレー１１１、欠陥が発見され検査不合格となった印刷物の出力トレー１１２を有する。尚、印刷物の分類は合格と不合格との２種類だけでなく、さらに細かく分類する構成であってもよい。また、印刷システムにおいて、記憶装置１０４、画像読取装置１０５、ＵＩパネル１０８、搬送路１１０、出力トレー１１１、出力トレー１１２は、画像処理装置１００の外部に設けられていてもよい。

ＣＰＵ１０１は、画像処理装置１００の各部を統括的に制御するプロセッサである。ＲＡＭ１０２は、ＣＰＵ１０１の主メモリ、ワークエリア等として機能する。ＲＯＭ１０３は、ＣＰＵ１０１によって実行されるプログラム群を格納している。記憶装置１０４は、ＣＰＵ１０１によって実行されるアプリケーションや、画像処理に用いられるデータ等を記憶する。画像読取装置１０５は、スキャナであり、印刷装置１９０から送られてきた印刷物の片面又は両面を、搬送路１１０上で読み取り、画像データとして取得する。

印刷Ｉ／Ｆ１０６は、印刷装置１９０と接続されており、画像処理装置１００と印刷装置１９０とにおける印刷物の処理タイミングの同期や、互いの稼働状況の通知を行うためのインターフェースである。汎用Ｉ／Ｆ１０７は、ＵＳＢやＩＥＥＥ１３９４等のシリアルバスインターフェースであり、ユーザがログ等のデータを持ち運ぶことを可能にする。ＵＩパネル１０８は、液晶ディスプレイ等の表示装置であり、現在の画像処理装置１００の状況や設定をユーザに伝えるためのユーザインターフェースとして機能する。また、ＵＩパネル１０８は、タッチパネル又はボタン等の入力装置を備えていてもよく、検査等に関してユーザからの指示を受け付けることができる。尚、入力装置は、マウスやキーボードのようにＵＩパネル１０８とは別に設けられていてもよい。メインバス１０９は、画像処理装置１００の各モジュールを接続する伝送路である。

画像処理装置１００は、印刷装置１９０から送られてきた印刷物を搬送路１１０で搬送しつつ、画像読取装置１０５において読み取った印刷物の画像データに基づき、以下に説明する検査処理を行う。印刷物は、検査合格であれば合格の出力トレー１１１に搬送され、検査不合格であれば不合格の出力トレー１１２に搬送される。これにより、品質の基準を満たすことが確認された印刷物だけを納品用の印刷物として出力トレー１１１に集めることができる。

＜画像処理装置の機能構成＞
画像処理装置１００の機能構成を図２に示す。画像処理装置１００は、基準画像設定部２０１、領域設定部２０２、検出感度設定部２０３、局所パターン抽出部２０４、検出感度調整部２０５、画像取得部２０６、検査処理部２０７を有する。

基準画像設定部２０１は、ＲＡＭ１０２あるいは記憶装置１０４に記録された画像データが表す画像を基準画像として設定する。領域設定部２０２は、ＵＩパネル１０８を介して取得したユーザからの指示に基づいて、基準画像に対して検査領域を設定する。検出感度設定部２０３は、ＵＩパネル１０８を介して取得したユーザからの指示に基づいて、各検査領域の欠陥に対する検出感度を設定する。本実施形態における検出感度は、欠陥の種別毎に設定される。本実施形態における欠陥の種別は、点状の欠陥（以下、点状欠陥と呼ぶ）と、線状の欠陥（以下、線状欠陥と呼ぶ）と、の２種類である。局所パターン抽出部２０４は、基準画像から特定の局所パターンに対応する領域を抽出する。本実施形態における抽出対象の局所パターンは線状のパターンであり、局所パターン抽出部２０４は、基準画像から線状のパターンに対応する領域を抽出する。検出感度調整部２０５は、局所パターンに対応する領域において、局所パターンに類似する欠陥に対する検出感度を下げる。本実施形態における検出感度調整部２０５は、線状のパターンに対応する領域において、線状欠陥に対する検出感度を下げる。画像取得部２０６は、搬送路１１０上の印刷物を画像読取装置１０５が読み取って得られる、検査対象画像を表す検査対象画像データを取得する。取得された検査対象画像データはＲＡＭ１０２あるいは記憶装置１０４に保持される。検査処理部２０７は、基準画像と検査対象画像との差分と、検出感度と、に基づいて検査対象画像に対する検査処理を行い、検査結果を出力する。

＜画像処理装置が実行する処理＞
図３は画像処理装置１００が実行する処理を示すフローチャートである。以下、各ステップ（工程）は符号の前にＳを付けて表す。Ｓ３０１において、基準画像設定部２０１は、基準画像を設定する。基準画像の例を図４（ａ）に示す。基準画像を表す基準画像データは、印刷装置１９０が出力した印刷物を読み取って得られるスキャン画像を基に予め作成され、ＲＡＭ１０２あるいは記憶装置１０４に記録されているものとする。

Ｓ３０２において、領域設定部２０２は、ＵＩパネル１０８を介して取得したユーザからの指示に基づいて、基準画像に対して検査領域を設定する。検査領域の例を図５に示す。本実施形態における領域設定部２０２は、基準画像に対して検査領域Ａと検査領域Ｂとを設定する。Ｓ３０３において、検出感度設定部２０３は、ＵＩパネル１０８を介して取得したユーザからの指示に基づいて、各検査領域の欠陥に対する検出感度を設定する。本実施形態における検出感度設定部２０３は、各検査領域における点状欠陥と線状欠陥とに対する検出感度を高，中，低の３段階で設定する。検出感度が高いほど、背景とのコントラストが低い欠陥やサイズが小さい欠陥が検出される。検出感度の例を図６に示す。検査領域Ａにおいては点状欠陥及び線状欠陥に対する検出感度が高に設定され、検査領域Ｂにおいては点状欠陥及び線状欠陥に対する検出感度が中に設定される。

Ｓ３０４において、局所パターン抽出部２０４は、基準画像において局所パターンに対応する領域を抽出する。図７は、局所パターンに対応する領域を抽出する処理を示すフローチャートである。以下、局所パターンに対応する領域を抽出する処理の詳細について説明する。Ｓ７０１において、局所パターン抽出部２０４は、基準画像に対して線強調フィルタを適用し、基準画像に含まれる線状のパターンを強調する。線強調フィルタにより、線状のパターンに対応する画素ほど画素値が大きくなる。以下、参照画像に対して線強調フィルタを適用して得られる画像を線強調画像と呼ぶ。本実施形態における線強調フィルタは公知のＳｏｂｅｌフィルタであるが、Ｐｒｅｗｉｔｔフィルタなどの公知の二次元フィルタを用いてもよい。Ｓ７０２において、局所パターン抽出部２０４は、線強調画像において線状のパターンに対応する領域を抽出する。本実施形態においては、線状のパターンに対応する領域としてエッジ領域が抽出される。図８（ａ）にエッジ領域の例を示す。具体的には、局所パターン抽出部２０４は、線強調画像の各画素に対して閾値処理を行い、閾値より画素値が大きい画素をエッジ領域を構成するエッジ画素として抽出する。尚、抽出したエッジ領域に対して公知のモルフォロジー処理などを適用して、エッジ領域を補正してもよい。

Ｓ３０５において、検出感度調整部２０５は、局所パターンに対応する領域において、局所パターンに類似する欠陥に対する検出感度を下げる。図９は、検出感度を調整する処理を示すフローチャートである。以下、検出感度を調整する処理の詳細について説明する。Ｓ９０１において、検出感度調整部２０５は、エッジ領域に基づいて検査領域を分割する。図８（ｂ）に分割された検査領域の例を示す。本実施形態においては、検査領域Ａにおけるエッジ領域を領域Ａｅとし、検査領域Ａにおける非エッジ領域を領域Ａｎとする。また、検査領域Ｂにおけるエッジ領域を領域Ｂｅとし、検査領域Ｂにおける非エッジ領域をＢｎとする。Ｓ９０２において、検出感度調整部２０５は、エッジ領域において、線状のパターンに類似する欠陥である線状欠陥に対する検出感度を下げる。具体的には、検出感度調整部２０５は、領域Ａｅにおいて、線状欠陥に対する検出感度を検査領域Ａについて設定されている検出感度よりも低く設定し、点状欠陥に対する検出感度を検査領域Ａについて設定されている検出感度と同じになるように設定する。また、検出感度調整部２０５は、領域Ｂｅにおいて、線状欠陥に対する検出感度を検査領域Ｂについて設定されている検出感度よりも低く設定し、点状欠陥に対する検出感度を検査領域Ｂについて設定されている検出感度と同じになるように設定する。尚、領域Ａｎについての検出感度は検査領域Ａについて設定されている検出感度と同じになるように設定され、領域Ｂｎについての検出感度は検査領域Ｂについて設定されている検出感度と同じになるように設定される。図１０（ａ）に調整された検出感度の例を示す。

Ｓ３０６において、画像取得部２０６は、検査対象画像を表す検査対象画像データを取得する。検査対象画像の例を図４（ｂ）に示す。Ｓ３０７において、検査処理部２０７は、基準画像と検査対象画像との差分と、検出感度と、に基づいて検査対象画像に対する検査処理を行い、検査結果を出力する。検査処理の詳細は後述する。Ｓ３０８において、検査処理部２０７は、印刷装置１９０からの印刷情報やＵＩパネル１０８を介して取得したユーザからの指示などに基づいて、処理を終了するか否かを判定する。処理を終了しないと判定された場合はＳ３０６に進む。

＜検査処理＞
図１１は、検査処理を示すフローチャートである。また、図１２は、検査処理の概要を示す図である。以下、検査処理の詳細について説明する。Ｓ１１０１において、検査処理部２０７は、基準画像と検査対象画像とに基づいて、基準画像と検査対象画像との対応する画素間で輝度値の差分の絶対値を算出し、各画素に輝度値の差分の絶対値を有する差分画像を生成する。Ｓ１１０２において、検査処理部２０７は、差分画像に含まれる処理対象の欠陥を強調することにより、欠陥強調画像を生成する。処理対象の欠陥が線状欠陥である場合は、差分画像に対して線強調フィルタを適用する。線強調フィルタにはＳｏｂｅｌフィルタを用いる。処理対象の欠陥が点状欠陥である場合は、差分画像に対して点強調フィルタを適用する。点強調フィルタには、公知の二次元ＬｏＧ（Ｌａｐｌａｃｉａｎ ｏｆ Ｇａｕｓｓｉａｎ）フィルタを用いる。尚、点強調フィルタには、ＤｏＧ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ ｏｆ Ｇａｕｓｓｉａｎ）フィルタなどの公知の二次元フィルタを用いてもよい。

Ｓ１１０３において、検査処理部２０７は、処理対象の検査領域と処理対象の欠陥とに対応する検出感度に基づいて、検査に用いる閾値を設定する。本実施形態においては、欠陥強調画像の画素値と閾値Ｔｈ_１とを比較することにより、欠陥領域を構成する欠陥画素を検出する。さらに、欠陥領域が十分な面積を有するか否かを判定するため、連結した欠陥画素群から成る欠陥領域の面積と閾値Ｔｈ_２とを比較する。そこで、Ｓ１１０３における検査処理部２０７は、閾値Ｔｈ_１と閾値Ｔｈ_２とを設定する。具体的には、検査処理部２０７は、検出感度が高いほど背景とのコントラストが低い欠陥やサイズが小さい欠陥を検出できるように閾値を設定する。検査処理部２０７は、検出感度が高いほど閾値Ｔｈ_１を小さい値に設定し、検出感度が高いほど閾値Ｔｈ_２を小さい値に設定する。例えば本実施形態においては、線状欠陥に対する検出感度は領域Ａｅよりも領域Ａｎの方が高いため、閾値Ｔｈ_１は領域Ａｅよりも領域Ａｎの方が小さく設定され、閾値Ｔｈ_２は領域Ａｅよりも領域Ａｎの方が小さく設定される。

Ｓ１１０４において、検査処理部２０７は、閾値Ｔｈ_１を用いて、欠陥強調画像の画素値に対して閾値処理を行う。検査処理部２０７は、閾値処理により、欠陥強調画像の画素のうち画素値が閾値Ｔｈ_１以上の画素を欠陥画素として検出する。Ｓ１１０５において、検査処理部２０７は、閾値Ｔｈ_２を用いて、欠陥強調画像における欠陥領域の面積に対して閾値処理を行う。検査処理部２０７は、閾値処理により、画素の連結数が閾値Ｔｈ_２よりも小さい欠陥領域の画素を、Ｓ１１０４において検出された欠陥画素から除去する。

Ｓ１１０６において、検査処理部２０７は、処理対象の検査領域と欠陥領域とで共通する領域を特定する。これにより、処理対象の検査領域における欠陥領域のみを検出することができる。Ｓ１１０７において、検査処理部２０７は、未処理の検査領域があるか否かを判定する。未処理の検査領域がある場合は処理対象の検査領域を更新してＳ１１０３に進む。未処理の検査領域がない場合はＳ１１０８に進む。

Ｓ１１０８において、検査処理部２０７は、各検査領域の欠陥領域を統合する。これにより、処理対象の欠陥に対応する欠陥領域を取得することができる。Ｓ１１０９において、検査処理部２０７は、未処理の欠陥種別があるか否かを判定する。未処理の欠陥種別がある場合は処理対象の欠陥を更新してＳ１１０２に進む。未処理の欠陥種別がない場合はＳ１１１０に進む。Ｓ１１１０において、検査処理部２０７は、検査結果を出力する。検査結果は、全ての欠陥種別に対して欠陥領域がない場合は合格とし、いずれかの欠陥種別に対して欠陥領域がある場合は不合格とする。

＜第１実施形態の効果＞
以上説明したように、本実施形態における画像処理装置は、目標の印刷結果である基準画像を設定する。複数種類の欠陥に対する検出感度を設定する。基準画像から局所パターンに対応する領域を抽出する。局所パターンに対応する領域において、局所パターンに類似する欠陥に対する検出感度を下げるように、検出感度を調整する。検査対象の画像を表す画像データを取得する。基準画像と調整された検出感度とに基づいて、検査対象の画像を検査する。これにより、検査対象画像における特徴を含む領域の近傍に対する検査の精度を向上させることができる。

＜変形例＞
本実施形態における領域設定部２０２は、検査領域Ａと検査領域Ｂとの２つの領域を検査領域として設定したが、検査領域の設定方法はこれに限られない。例えば、基準画像全体を単一の検査領域として設定してもよい。また、３つ以上の領域を検査領域として設定してもよい。また、欠陥の検出を行わない非検査領域を設定してもよい。非検査領域を設定する場合、Ｓ１１０１において生成された差分画像において非検査領域の画素値を０にすることにより、非検査領域における欠陥を検出しないようにすることができる。

また、本実施形態における検出感度設定部２０３は、検出感度を３段階で設定しているが、検出感度の設定方法はこれに限られない。例えば、検出感度を２段階で設定してもよいし、４段階以上で設定してもよい。また、いずれかの欠陥に対する検出感度を固定してもよい。

また、本実施形態における局所パターン抽出部２０４は、局所パターンに対応する領域として線状のパターンに対応する領域を抽出したが、点状のパターンに対応する領域を抽出してもよい。この場合、Ｓ７０１において、局所パターン抽出部２０４は、基準画像に対して点強調フィルタを適用し、基準画像に含まれる点状のパターンを強調する。点強調フィルタにより、点状のパターンに対応する画素ほど画素値が大きくなる。以下、参照画像に対して点強調フィルタを適用して得られる画像を点強調画像と呼ぶ。点強調フィルタには二次元ＬｏＧフィルタを用いる。Ｓ７０２において、局所パターン抽出部２０４は、点強調画像において点状のパターンに対応する領域を抽出する。点状のパターンに対応する領域としてドット領域が抽出される。図８（ｃ）にドット領域の例を示す。具体的には、局所パターン抽出部２０４は、点強調画像の各画素に対して閾値処理を行い、閾値より画素値が大きい画素をドット領域を構成するドット画素として抽出する。尚、抽出したドット領域に対して公知のモルフォロジー処理などを適用して、ドット領域を補正してもよい。

Ｓ９０１において、検出感度調整部２０５は、ドット領域に基づいて検査領域を分割する。図８（ｄ）に分割された検査領域の例を示す。検査領域Ａにおけるドット領域を領域Ａｄとし、検査領域Ａにおける非ドット領域を領域Ａｎとする。また、検査領域Ｂにおけるドット領域を領域Ｂｄとし、検査領域Ｂにおける非ドット領域をＢｎとする。Ｓ９０２において、検出感度調整部２０５は、ドット領域において、点状のパターンに類似する欠陥である点状欠陥に対する検出感度を下げる。具体的には、検出感度調整部２０５は、領域Ａｄにおいて、点状欠陥に対する検出感度を検査領域Ａについて設定されている検出感度よりも低く設定し、線状欠陥に対する検出感度を検査領域Ａについて設定されている検出感度と同じになるように設定する。また、検出感度調整部２０５は、領域Ｂｄにおいて、点状欠陥に対する検出感度を検査領域Ｂについて設定されている検出感度よりも低く設定し、線状欠陥に対する検出感度を検査領域Ｂについて設定されている検出感度と同じになるように設定する。尚、領域Ａｎについての検出感度は検査領域Ａについて設定されている検出感度と同じになるように設定され、領域Ｂｎについての検出感度は検査領域Ｂについて設定されている検出感度と同じになるように設定される。図１０（ｂ）に調整された検出感度の例を示す。

また、本実施形態における欠陥の種別は、点状欠陥と線状欠陥との２種類であるが、例えば縦線状欠陥や横線状欠陥など方向が異なる線状欠陥を異なる欠陥種別として検出してもよい。処理対象の欠陥が縦線状欠陥である場合は、Ｓ１１０２において、検査処理部２０７は、差分画像に対して縦方向の線を強調する縦線強調フィルタを適用する。処理対象の欠陥が横線状欠陥である場合は、Ｓ１１０２において、検査処理部２０７は、差分画像に対して横方向の線を強調する横線強調フィルタを適用する。

また、本実施形態の検査処理においては、画素値に対する閾値処理と面積に対する閾値処理とを行うが、画素値に対する閾値処理のみで欠陥領域を検出してもよい。この場合、検出感度に対応する閾値は、画素値に対する閾値のみ設定すればよい。

また、本実施形態においては、検査対象画像は合格であるか不合格であるかをユーザに通知するが、不合格となった検査対象画像の欠陥領域をＵＩパネル１０８に表示してもよい。

［第２実施形態］
第１実施形態においては、基準画像から局所パターンに対応する領域として線状のパターンに対応する領域を抽出し、線状欠陥に対する検出感度を下げた。本実施形態においては、基準画像から複数種類の局所パターンそれぞれに対応する領域を抽出し、各局所パターンに類似する欠陥に対する検出感度を下げる。尚、本実施形態における印刷システムの構成及び画像処理装置１００の機能構成は第１実施形態のものと同等であるため、説明を省略する。以下において、本実施形態と第１実施形態とで異なる処理である、Ｓ３０４及びＳ３０５の処理を主に説明する。尚、第１実施形態と同一の構成については、同一の符号を付して説明する。

＜局所パターンに対応する領域を抽出する処理＞
Ｓ３０４において、局所パターン抽出部２０４は、基準画像において複数種類の局所パターンそれぞれに対応する領域を抽出する。本実施形態においては、複数種類の局所パターンとして、線状のパターンに対応する領域と、点状のパターンに対応する領域と、が抽出される。図１３は、複数種類の局所パターンそれぞれに対応する領域を抽出する処理を示すフローチャートである。以下、複数種類の局所パターンそれぞれに対応する領域を抽出する処理の詳細について説明する。

Ｓ１３０１において、局所パターン抽出部２０４は、基準画像に含まれる処理対象の局所パターンを強調する。処理対象の局所パターンが線状のパターンである場合は、局所パターン抽出部２０４は、基準画像に対して線強調フィルタを適用する。処理対象の局所パターンが点状のパターンである場合は、局所パターン抽出部２０４は、基準画像に対して点強調フィルタを適用する。Ｓ１３０２において、局所パターン抽出部２０４は、局所パターンが強調された画像において局所パターンに対応する領域を抽出する。処理対象の局所パターンが線状のパターンである場合は、局所パターン抽出部２０４は、線強調画像の各画素に対して閾値処理を行い、閾値より画素値が大きい画素をエッジ画素として抽出する。処理対象の局所パターンが点状のパターンである場合は、局所パターン抽出部２０４は、点強調画像の各画素に対して閾値処理を行い、閾値より画素値が大きい画素をドット画素として抽出する。

Ｓ１３０３において、局所パターン抽出部２０４は、未処理の局所パターンがあるか否かを判定する。未処理の局所パターンがある場合は処理対象の局所パターンを更新してＳ１３０１に進み、未処理の局所パターンがない場合はＳ１３０４に進む。Ｓ１３０４において、局所パターン抽出部２０４は、複数種類の局所パターンそれぞれに対応する領域を統合する。具体的には、局所パターン抽出部２０４は、エッジ領域とドット領域との両方に含まれる画素をいずれか一方の領域に属する画素に置き換える。本実施形態における局所パターン抽出部２０４は、エッジ領域とドット領域との両方に含まれる画素をエッジ領域を構成するエッジ画素に置き換える。Ｓ１３０４の処理により抽出される局所パターンに対応する領域の例を図１４（ａ）に示す。

＜検出感度を調整する処理＞
Ｓ３０５において、検出感度調整部２０５は、エッジ領域において線状欠陥に対する検出感度を下げ、ドット領域において点状欠陥に対する検出感度を下げる。図１５は、検出感度を調整する処理を示すフローチャートである。以下、検出感度を調整する処理の詳細について説明する。Ｓ１５０１において、検出感度調整部２０５は、処理対象の局所パターンに対応する領域に基づいて検査領域を分割する。図１４（ｂ）に分割された検査領域の例を示す。検出感度調整部２０５は、検査領域Ａにおけるエッジ領域を領域Ａｅとし、ドット領域を領域Ａｄとし、その他の領域をＡｎとする。また、検査領域Ｂにおけるエッジ領域を領域Ｂｅとし、ドット領域をＢｄとし、その他の領域をＢｎとする。

Ｓ１５０２において、検出感度調整部２０５は、処理対象の局所パターンに対応する領域において、処理対象の局所パターンに類似する欠陥に対する検出感度を下げる。処理対象の局所パターンが線状のパターンである場合は、検出感度調整部２０５は、エッジ領域において線状欠陥に対する検出感度を下げる。具体的には、検出感度調整部２０５は、領域Ａｅにおいて、線状欠陥に対する検出感度を検査領域Ａについて設定されている検出感度よりも低く設定し、領域Ｂｅにおいて、線状欠陥に対する検出感度を検査領域Ｂについて設定されている検出感度よりも低く設定する。処理対象の局所パターンが点状のパターンである場合は、検出感度調整部２０５は、ドット領域において点状欠陥に対する検出感度を下げる。具体的には、検出感度調整部２０５は、領域Ａｄにおいて、点状欠陥に対する検出感度を検査領域Ａについて設定されている検出感度よりも低く設定し、領域Ｂｄにおいて、点状欠陥に対する検出感度を検査領域Ｂについて設定されている検出感度よりも低く設定する。図１６（ａ）に調整された検出感度の例を示す。

Ｓ１５０３において、検出感度調整部２０５は、未処理の局所パターンがあるか否かを判定する。未処理の局所パターンがある場合は処理対象の局所パターンを更新してＳ１５０２に進み、未処理の局所パターンがない場合はＳ３０５の処理を終了する。

＜第２実施形態の効果＞
以上説明したように、本実施形態における画像処理装置は、複数種類の局所パターンそれぞれに対応する領域を抽出し、抽出した領域に応じて検出感度を調整した。これにより、検査対象画像における特徴を含む領域の近傍に対する検査の精度を向上させることができる。

＜変形例＞
本実施形態においては、局所パターンに対応する領域としてエッジ領域とドット領域とを抽出したが、局所パターンはこれらに限られない。例えば、同一種別、かつ、背景とのコントラストが異なる局所パターンを別々に抽出してもよい。この場合、背景とのコントラストが高い局所パターンに対応する領域ほど検出感度が低くなるように調整を行う。例として、高コントラストエッジ領域と、低コントラストエッジ領域と、を別々に抽出する場合について説明する。まず、高コントラストエッジ領域に対応する閾値Ｔｈ_ＥＨと低コントラストエッジ領域に対応する閾値Ｔｈ_ＥＬとが設定される。Ｔｈ_ＥＨはＴｈ_ＥＬよりも大きい値とする。

Ｓ１３０２において、局所パターン抽出部２０４は、処理対象の局所パターンが高コントラストエッジである場合は、線強調画像の各画素に対して閾値処理を行い、閾値Ｔｈ_ＥＨより画素値が大きい画素を高コントラストエッジ領域の画素として抽出する。処理対象の局所パターンが低コントラストエッジである場合は、線強調画像の各画素に対して閾値処理を行い、閾値Ｔｈ_ＥＬより画素値が大きい画素を低コントラストエッジ領域の画素として抽出する。Ｓ１３０４において、局所パターン抽出部２０４は、低コントラストエッジ領域の画素のうち、高コントラストエッジ領域の画素と重複する画素を高コントラストエッジ領域の画素に置き換える。

Ｓ１５０１において、検出感度調整部２０５は、検査領域Ａにおける高コントラストエッジ領域を領域Ａｅ_Ｈとし、低コントラストエッジ領域をＡｅ_Ｌとし、その他の領域をＡｎとする。また、検査領域Ｂにおける高コントラストエッジ領域を領域Ｂｅ_Ｈとし、低コントラストエッジ領域をＢｅ_Ｌとし、その他の領域をＢｎとする。Ｓ１５０２において、検出感度調整部２０５は、エッジ領域において線状欠陥に対する検出感度を下げる。具体的には、検出感度調整部２０５は、処理対象の局所パターンが高コントラストエッジである場合は、領域Ａｅ_Ｈにおいて、線状欠陥に対する検出感度を検査領域Ａについて設定されている検出感度よりも低く設定する。また、領域Ｂｅ_Ｈにおいて、線状欠陥に対する検出感度を検査領域Ｂについて設定されている検出感度よりも低く設定する。検出感度調整部２０５は、処理対象の局所パターンが低コントラストエッジである場合は、領域Ａｅ_Ｌにおいて、線状欠陥に対する検出感度を検査領域Ａについて設定されている検出感度よりも低く設定する。また、領域Ｂｅ_Ｌにおいて、線状欠陥に対する検出感度を検査領域Ｂについて設定されている検出感度よりも低く設定する。図１６（ｂ）に調整された検出感度の例を示す。

［その他の実施形態］
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

１００ 画像処理装置
２０１ 基準画像設定部
２０３ 検出感度設定部
２０４ 局所パターン抽出部
２０５ 検出感度調整部
２０６ 画像取得部
２０７ 検査処理部

Claims (7)

1. 目標の印刷結果である基準画像を設定する第１設定手段と、
   複数種類の欠陥に対する検出感度を設定する第２設定手段と、
   前記基準画像から局所パターンに対応する領域を抽出する抽出手段と、
   前記局所パターンに対応する領域において、前記局所パターンに類似する欠陥に対する検出感度を下げるように、前記検出感度を調整する調整手段と、
   検査対象の画像を表す画像データを取得する取得手段と、
   前記基準画像と前記調整された検出感度とに基づいて、前記検査対象の画像を検査する処理手段と、
   を有することを特徴とする画像処理装置。
2. 前記局所パターンは線状のパターンを含み、
   前記調整手段は、前記線状のパターンに対応する領域において、線状の欠陥に対する検出感度を下げるように、前記検出感度を調整することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記局所パターンは点状のパターンを含み、
   前記調整手段は、前記点状のパターンに対応する領域において、点状の欠陥に対する検出感度を下げるように、前記検出感度を調整することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記局所パターンは、背景とのコントラストが互いに異なる複数の局所パターンを含み、
   前記調整手段は、背景とのコントラストが高いほど欠陥の検出感度を下げるように、前記検出感度を調整することを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の画像処理装置。
5. 前記基準画像において複数の検査領域を設定する第３設定手段をさらに有し、
   前記第２設定手段は、前記検査領域ごとに前記検出感度を設定することを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載の画像処理装置。
6. コンピュータを請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の画像処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
7. 目標の印刷結果である基準画像を設定する第１設定ステップと、
   複数種類の欠陥に対する検出感度を設定する第２設定ステップと、
   前記基準画像から局所パターンに対応する領域を抽出する抽出ステップと、
   前記局所パターンに対応する領域において、前記局所パターンに類似する欠陥に対する検出感度を下げるように、前記検出感度を調整する調整ステップと、
   検査対象の画像を表す画像データを取得する取得ステップと、
   前記基準画像と前記調整された検出感度とに基づいて、前記検査対象の画像を検査する処理ステップと、
   を有することを特徴とする画像処理方法。

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