JP2024023437A - 冷凍サイクル装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】冷凍サイクル装置の信頼性を向上させる。【解決手段】冷凍サイクル装置(100)において冷媒は、圧縮機(1)、第1熱交換器(2)、第2熱交換器(3)、第1膨張弁(5)、および第3熱交換器(4)の順に循環する。冷凍サイクル装置(100)は、レシーバ(8)と、第2膨張弁(6)と、第1流路(FP1)と、第2流路(FP2)と、通気管(9)と、第3膨張弁(7)とを備える。第2膨張弁(6)は、第2ポート(P72)に接続されている。第1流路(FP1)は、第2膨張弁(6)を、第2熱交換器(3)を介して圧縮機(1)に接続する。第2流路(FP2)は、第1熱交換器(2)を第2熱交換器(3)に接続する。通気管(9)は、第2膨張弁(6)および第2熱交換器(3)の間の第1流路(FP1)の部分に第3ポート(P73)を接続する。第3膨張弁(7)は、第2流路(FP2)および第1ポート(P71)の間に接続されている。【選択図】図1
Description
本発明は、冷媒を貯留するレシーバを備える冷凍サイクル装置に関する。
従来、冷媒を貯留するレシーバを備える冷凍サイクル装置が知られている。たとえば、特開2009-243793号公報(特許文献1)には、膨張弁で減圧された冷媒が流入する中圧レシーバを備えるヒートポンプ式給湯用室外機が開示されている。
特許文献1に開示されている中圧レシーバには、圧縮機から吐出される冷媒の圧力よりも小さく、圧縮機に吸入される冷媒の圧力よりも大きい圧力(中間圧力)の冷媒が流入する。このように中間圧力の冷媒が貯留されるレシーバを備える冷凍サイクル装置において、冷凍サイクル装置に要求される運転負荷に変動が生じると、圧縮機から吐出される冷媒の圧力および温度が急激に低下する場合がある。当該冷媒の圧力および温度の急激な低下は、冷凍サイクル装置の信頼性を低下させる。
本発明は、上述のような課題を解決するためになされたものであり、その目的は、冷凍サイクル装置の信頼性を向上させることである。
本発明に係る冷凍サイクル装置において冷媒は、圧縮機、第1熱交換器、第2熱交換器、第1膨張弁、および第3熱交換器の順に循環する。冷凍サイクル装置は、レシーバと、第2膨張弁と、第1流路と、第2流路と、通気管と、第3膨張弁とを備える。レシーバは、第1ポート、第2ポート、および第3ポートを有する。第3ポートは、第2ポートよりも高い位置にある。第2膨張弁は、第2ポートに接続されている。第1流路は、第2膨張弁を、第2熱交換器を介して圧縮機に接続する。第2流路は、第1熱交換器を第2熱交換器に接続する。通気管は、第2膨張弁および第2熱交換器の間の第1流路の部分に第3ポートを接続する。第3膨張弁は、第2流路および第1ポートの間に接続されている。
本発明に係る冷凍サイクル装置によれば、第3膨張弁が第2流路および第1ポートの間に接続されていることにより、冷凍サイクル装置の信頼性を向上させることができる。
以下、実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は原則として繰り返さない。
図1は、実施の形態に係る冷凍サイクル装置100の構成を示す機能ブロック図である。冷凍サイクル装置100としては、たとえば冷凍機、空気調和機、およびショーケースを挙げることができる。
図1に示されるように、冷凍サイクル装置100は、圧縮機1と、凝縮器2(第1熱交換器)と、HIC(Heat Inter Changer)3(第2熱交換器)と、蒸発器4(第3熱交換器)と、膨張弁5(第1膨張弁)と、膨張弁6(第2膨張弁)と、膨張弁7(第3膨張弁)と、レシーバ8と、通気管9と、制御装置10と、温度センサSa1~Sa3と、圧力センサSb1,Sb2とを備える。膨張弁5~7の各々は、たとえば電子式のLEV(Linear Expansion Valve)を含む。通気管9は、たとえばキャピラリチューブを含む。
圧縮機1は、吐出ポートP11、吸入ポートP12、およびインジェクションポートP13を含む。圧縮機1は、たとえば高圧シェルタイプの圧縮機であり、圧縮機構の潤滑油を圧縮機1の内部に貯留する。冷凍サイクル装置100において冷媒は、吐出ポートP11、凝縮器2、HIC3、膨張弁5、蒸発器4、および吸入ポートP12の順に循環する。
レシーバ8は、ポートP71(第1ポート)、ポートP72(第2ポート)、およびポートP73(第3ポート)を有する。ポートP71およびP73は、レシーバの上面に形成されている。ポートP72は、当該上面に対向するレシーバ8の底面に形成されている。ポートP73は、ポートP72よりも高い位置にある。ポートP71~P73は、レシーバ8の側面に形成されていてもよい。
膨張弁6は、ポートP72に接続されている。膨張弁6は、インジェクション流路FP1(第1流路)によってHIC3を介してインジェクションポートP13に接続される。通気管9は、膨張弁6およびHIC3の間のインジェクション流路FP1の部分にポートP73を接続する。凝縮器2およびHIC3は、流路FP2(第2流路)によって接続されている。膨張弁7は、流路FP2およびポートP71の間に接続されている。
凝縮器2から流出する冷媒の一部は、HIC3に流入する前に、流路FP2から膨張弁7に導かれ、膨張弁7によって減圧された後、ポートP71からレシーバ8に流入する。ポートP71からレシーバ8に流入する単位時間当たりの冷媒量は、膨張弁7の開度によって制御される。レシーバ8から流出する冷媒は減圧された後、インジェクションポートP13から圧縮機1に吸入される。レシーバ8に流入する冷媒の圧力は中間圧力であるため、レシーバ8には二酸化炭素のような超臨界冷媒も液体として貯留可能である。レシーバ8から流出する超臨界冷媒には過冷却度が生じるため、超臨界冷媒を使用することにより冷凍サイクル装置100の性能を向上させることができる。
ポートP71からレシーバ8に流入する冷媒のうち、液体の冷媒(液冷媒)はレシーバ8の底部から貯留され、気体の冷媒(ガス冷媒)はレシーバ8の内部において当該液冷媒の液面より上側に集まる。ポートP72からは冷媒の飽和液が流出する。当該飽和液は、膨張弁6によって減圧される。ポートP73から流出するガス冷媒は通気管9によってインジェクション流路FP1に導かれる。
ポートP72から流出する単位時間当たりの冷媒量は、膨張弁6の開度によって制御される。すなわち、膨張弁6の開度によって、HIC3に流入する冷媒における液冷媒量に対するガス冷媒量の比率が調節される。インジェクションポートP13から圧縮機1に吸入される冷媒において、ガス冷媒量の割合が大きいほど温度Tdの低下を抑制することができ、液冷媒量の割合が大きいほど圧力Pdの低下を抑制することができる。そのため、当該比率を調節することにより、圧力Pdの低下の抑制の効果および温度Tdの低下の抑制の効果をどのような配分で生じさせるかを調節することができる。
レシーバ8からの冷媒は、インジェクション流路FP1によって、HIC3を介してインジェクションポートP13に導かれる。HIC3においては、レシーバ8からの冷媒によって凝縮器2からの冷媒が冷却される。冷凍サイクル装置100においては、HIC3によって冷却される前の冷媒がレシーバ8に導かれることにより、レシーバ8に流入する冷媒におけるガス冷媒の割合(乾き度)を0.5程度まで高めることができる。その結果、レシーバ8からHIC3に流入する冷媒における液冷媒量に対するガス冷媒量の比率の調節が容易になる。
制御装置10は、温度センサSa1および圧力センサSb1から圧縮機1から吐出される冷媒の温度Tdおよび圧力Pdをそれぞれ取得する。制御装置10は、温度センサSa2および圧力センサSb2から圧縮機1に吸入される冷媒の温度Tsおよび圧力Psをそれぞれ取得する。制御装置10は、温度センサSa3から凝縮器2から流出する冷媒の温度T1を取得する。制御装置10は、圧縮機1の駆動周波数を制御して、圧縮機1が単位時間当たりに吐出する冷媒量を制御する。制御装置10は、膨張弁5~7の各々の開度を制御する。冷凍サイクル装置100の通常運転において制御装置10は、たとえば温度Tdおよび凝縮器2から流出する冷媒の過冷却度の各々が目標値となるように圧縮機1、および膨張弁5~7を制御する。たとえば、温度Tdの目標値は100℃であり、当該過冷却度の目標値は5Kである。
図2は、図1の制御装置10の構成を示す機能ブロック図である。図2に示されるように、制御装置10は、処理回路11と、メモリ12と、入出力部13とを含む。処理回路11は、専用のハードウェアであってもよいし、メモリ12に格納されるプログラムを実行するCPU(Central Processing Unit)であってもよい。処理回路11が専用のハードウェアである場合、処理回路11には、たとえば、単一回路、複合回路、プログラム化されたプロセッサ、並列プログラム化されたプロセッサ、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、FPGA(Field Programmable Gate Array)、あるいはこれらを組み合わせたものが該当する。処理回路11がCPUの場合、制御装置10の機能は、ソフトウェア、ファームウェア、またはソフトウェアとファームウェアとの組み合わせにより実現される。ソフトウェアあるいはファームウェアはプログラムとして記述され、メモリ12に格納される。処理回路11は、メモリ12に記憶されたプログラムを読み出して実行する。メモリ12には、不揮発性または揮発性の半導体メモリ(たとえばRAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリ、EPROM(Erasable Programmable Read Only Memory)、あるいはEEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory))、および磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ミニディスク、あるいはDVD(Digital Versatile Disc)が含まれる。なお、CPUは、中央処理装置、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、プロセッサ、あるいはDSP(Digital Signal Processor)とも呼ばれる。
図3は、図1の制御装置10によって行われる処理の流れを示すフローチャートである。図3に示される処理は、冷凍サイクル装置100の統合的な処理を行うメインルーチンによって一定時間間隔で呼び出される。以下ではステップを単にSと記載する。
図3に示されるように、制御装置10は、S101において圧力Pdが基準圧力Prefより小さいか否かを判定する。基準圧力Prefは、所望の圧縮比(Pd/Ps)を確保可能な圧力Pdの下限値であり、実機実験あるいはシミュレーションによって適宜算出することができる。
圧力Pdが基準圧力Pref以上である場合(S101においてNO)、制御装置10は、S102において通常運転の制御を行って処理をメインルーチンに返す。圧力Pdが基準圧力Prefより小さい場合(S101においてYES)、制御装置10は、S103において膨張弁7の開度を減少させて処理をS104に進める。
制御装置10は、S104において圧縮機1から吐出される冷媒の過熱度SHが基準値δより大きいか否かを判定する。基準値δは、当該冷媒の過熱度が0Kとみなせる程度に小さいか否かを判定するための値であり、実機実験あるいはシミュレーションによって適宜算出することができる。
過熱度SHが基準値δより大きい場合(S104においてYES)、制御装置10は、S105において膨張弁6の開度を増加させて処理をメインルーチンに返す。過熱度SHが基準値δ以下である場合(S104においてNO)、制御装置10は、S106において膨張弁6の開度を減少させて処理をメインルーチンに返す。
冷凍サイクル装置100においては、圧力Pdの低下の抑制および温度Tdの低下の抑制の双方を実現することができる。圧力Pdの低下の抑制により、圧力Pdが圧縮機1の許容範囲を逸脱することを防止することができる。所望の圧縮比を確保することにより冷凍サイクル装置100の性能を安定させることができる。また、温度Tdの低下の抑制により、圧縮機1から吐出される冷媒の過熱度SHを所望の範囲に維持することができる。液冷媒が圧縮機1に吸入されて潤滑油が液冷媒によって希釈されることが防止されるため、圧縮機1の圧縮機構の摩耗を防止することができる。
以上、実施の形態に係る冷凍サイクル装置によれば、冷凍サイクル装置の信頼性を向上させることができる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 圧縮機、2 凝縮器、3 HIC、4 蒸発器、5~7 膨張弁、8 レシーバ、9 通気管、10 制御装置、11 処理回路、12 メモリ、13 入出力部、100 冷凍サイクル装置、FP1,FP2 流路、P11 吐出ポート、P12 吸入ポート、P13 インジェクションポート、P71~P73 ポート、Sa1~Sa3 温度センサ、Sb1,Sb2 圧力センサ。
Claims (5)
- 冷媒が圧縮機、第1熱交換器、第2熱交換器、第1膨張弁、および第3熱交換器の順に循環する冷凍サイクル装置であって、
第1ポート、第2ポート、および前記第2ポートよりも高い位置にある第3ポートを有するレシーバと、
前記第2ポートに接続された第2膨張弁と、
前記第2膨張弁を、前記第2熱交換器を介して前記圧縮機に接続する第1流路と、
前記第1熱交換器を前記第2熱交換器に接続する第2流路と、
前記第2膨張弁および前記第2熱交換器の間の前記第1流路の部分に前記第3ポートを接続する通気管と、
前記第2流路および前記第1ポートの間に接続された第3膨張弁とを備え、
通常運転において前記第2流路からの前記冷媒は、前記第3膨張弁を介して前記第1ポートから前記レシーバに流入する、冷凍サイクル装置。 - 前記圧縮機から吐出される前記冷媒の第1圧力が基準圧力より小さい場合の前記第3膨張弁の開度は、前記第1圧力が前記基準圧力よりも大きい場合の前記第3膨張弁の開度よりも小さく、
前記基準圧力は、前記圧縮機と前記第3熱交換器との間を流れる前記冷媒の第2圧力に対する前記第1圧力の比を目標値として確保可能な前記第1圧力の下限値である、請求項1に記載の冷凍サイクル装置。 - 前記第1圧力が前記基準圧力より小さい場合、前記圧縮機から吐出される前記冷媒の過熱度が基準値よりも大きいときの前記第2膨張弁の開度は、前記過熱度が前記基準値よりも小さいときの前記第2膨張弁の開度よりも大きい、請求項2に記載の冷凍サイクル装置。
- 前記第1ポートおよび前記第3ポートは、前記レシーバの上面に形成され、
前記第2ポートは、前記上面に対向する前記レシーバの底面に形成されている、請求項1~3のいずれか1項に記載の冷凍サイクル装置。 - 前記圧縮機は、吐出ポート、吸入ポート、およびインジェクションポートを含み、
前記冷媒は、前記吐出ポート、前記第1熱交換器、前記第2熱交換器、前記第1膨張弁、前記第3熱交換器、および前記吸入ポートの順に循環し、
前記第1流路は、前記第2膨張弁を、前記第2熱交換器を介して前記インジェクションポートに接続する、請求項1~4のいずれか1項に記載の冷凍サイクル装置。
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