JP2024021601A - 被加工物の研削方法 - Google Patents
被加工物の研削方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2024021601A JP2024021601A JP2022124547A JP2022124547A JP2024021601A JP 2024021601 A JP2024021601 A JP 2024021601A JP 2022124547 A JP2022124547 A JP 2022124547A JP 2022124547 A JP2022124547 A JP 2022124547A JP 2024021601 A JP2024021601 A JP 2024021601A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grinding
- workpiece
- chuck table
- grinding step
- axis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 21
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 23
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 8
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B41/00—Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
- B24B41/04—Headstocks; Working-spindles; Features relating thereto
- B24B41/047—Grinding heads for working on plane surfaces
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B1/00—Processes of grinding or polishing; Use of auxiliary equipment in connection with such processes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B41/00—Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
- B24B41/06—Work supports, e.g. adjustable steadies
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B41/00—Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
- B24B41/06—Work supports, e.g. adjustable steadies
- B24B41/068—Table-like supports for panels, sheets or the like
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B7/00—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
- B24B7/04—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor involving a rotary work-table
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B7/00—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
- B24B7/20—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground
- B24B7/22—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
- B24B7/228—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain for grinding thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67092—Apparatus for mechanical treatment
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
Abstract
【課題】TAIKO研削技術で被加工物を研削する際に、研削ホイールを交換することなく、リング幅の変更等を可能とする。【解決手段】複数の研削砥石の外周側面で規定される円の直径が被加工物の半径以下である研削ホイールと被加工物の表面側を保持したチャックテーブルとをチャックテーブルの回転軸の軸線に沿って相対的に接近させることで被加工物の裏面側を研削する回転軸方向研削ステップと、研削ホイールとチャックテーブルとをチャックテーブルの径方向に相対的に移動させることで被加工物の裏面側を研削する径方向研削ステップと、を備え、径方向研削ステップは、複数の研削砥石の底面の移動軌跡とチャックテーブルの軸線とが重ならない位置から重なる位置に移動させる内側方向研削ステップと、移動軌跡と軸線とが重なる位置から重ならない位置に移動させる外側方向研削ステップと、のどちらか一方又は両方を含む被加工物の研削方法を提供する。【選択図】図1
Description
本発明は、デバイス領域と、デバイス領域を囲む外周余剰領域と、を表面側に有する被加工物の裏面側を研削して凹部を形成することで、円形薄板部と、円形薄板部を囲む環状凸部と、を形成する被加工物の研削方法に関する。
複数のIC(Integrated Circuit)チップが1つのパッケージに封止されたSiP(System in Package)等の普及に伴い、複数のICが形成されているウェーハ等の円板状の被加工物を歩留まり良く薄化できる研削技術が要望されている。
被加工物を薄化する研削技術の一つとして、TAIKO(登録商標)と称される研削技術(以下、便宜的に、TAIKO研削技術と略記する)が知られている。TAIKO研削技術では、IC等のデバイスが形成されているデバイス領域を表面側に有する被加工物において、デバイス領域に対応する裏面側の円形領域を研削する。
特に、円形領域を研削することで裏面側に円板状の凹部を形成すると共に、凹部の外周部を囲む様に環状凸部を残す(例えば、特許文献1参照)。環状凸部を残すことにより、裏面側全体を一様に薄化した場合に比べて被加工物の強度を高くできるので、薄化後の被加工物の反りや搬送時における被加工物の割れ等を抑制できる。
TAIKO研削技術で被加工物を研削する際には、まず、被加工物の表面側をチャックテーブルで吸引保持する。そして、チャックテーブルを所定の回転数で回転させると共に、円環状の研削ホイールが装着されたスピンドルを有する研削ユニットをチャックテーブルに向けて下降させながら研削ホイールを回転させる。
研削ホイールは、円環状の基台を有する。基台の下面側には、複数の研削砥石が基台の周方向に沿って略等間隔に配置されている。基台の上面側が、円板状のマウントに固定されることで、研削ホイールは、マウントを介してスピンドルに装着される。
TAIKO研削技術で被加工物を研削するためには、通常、複数の研削砥石の底面の軌跡で規定される研削面がチャックテーブルの回転中心の直上を通り、且つ、研削面の外周縁が環状凸部の内周に位置する様に、所定径の研削ホイールが選定される。
それゆえ、環状凸部の幅(即ち、リング幅)を変更する場合や、異なる径を有する被加工物をTAIKO研削技術で研削する場合には、その都度、リング幅や被加工物の径に応じた所定径を有する研削ホイールが、マウントに装着される。
しかし、研削ホイールの交換は、通常、作業者により手作業で行われるので、研削ホイールの交換を行うと、工数が増加し、TAIKO研削技術で被加工物を研削する際の作業効率を低下させるという問題がある。
本発明は係る問題点に鑑みてなされたものであり、TAIKO研削技術で被加工物を研削する際に、研削ホイールを交換することなく、リング幅の変更や異なる径を有する被加工物の研削を遂行可能な研削方法を提供することを目的とする。
本発明の一態様によれば、デバイス領域と、該デバイス領域を囲む外周余剰領域と、を表面側に有する被加工物の裏面側を研削して凹部を形成することで、円形薄板部と、該円形薄板部を囲む環状凸部と、を形成する被加工物の研削方法であって、所定の回転軸の周りに回転可能なチャックテーブルの保持面で該被加工物の該表面側を保持する保持ステップと、環状の基台と、該基台の一面に環状に配置された複数の研削砥石と、を含む研削ホイールであって、該複数の研削砥石の外周側面で規定される円の直径が該被加工物の半径以下である該研削ホイールが先端部に装着されたスピンドルを有する研削ユニットと、該チャックテーブルと、を該チャックテーブルの該所定の回転軸の軸線に沿って相対的に接近させることで該被加工物の該裏面側を研削する回転軸方向研削ステップと、該研削ユニットと、該チャックテーブルと、を該軸線と直交する該チャックテーブルの径方向に相対的に移動させることで該被加工物の該裏面側を研削する径方向研削ステップと、を備え、該径方向研削ステップは、該スピンドルの回転に伴う該複数の研削砥石の底面の移動軌跡と、該チャックテーブルの該軸線と、が重ならない位置から重なる位置に、該研削ユニットと該チャックテーブルとを相対的に移動させながら該被加工物を研削する内側方向研削ステップと、該移動軌跡と、該軸線と、が重なる位置から重ならない位置に、該研削ユニットと該チャックテーブルとを相対的に移動させながら該被加工物を研削する外側方向研削ステップと、のどちらか一方又は両方を含む被加工物の研削方法が提供される。
好ましくは、該径方向研削ステップでは、該内側方向研削ステップと、該外側方向研削ステップと、を交互に繰り返して該被加工物を研削する。
好ましくは、該回転軸方向研削ステップ及び該径方向研削ステップを同時に行うことで該被加工物を研削し、該径方向研削ステップは、該内側方向研削ステップ及び該外側方向研削ステップの両方を含む。
好ましくは、該保持ステップでは、凹凸が10μm未満の平坦性を有する該保持面で該被加工物を保持し、該径方向研削ステップ及び該径方向研削ステップでは、該保持面で保持された該被加工物を研削する。
好ましくは、該回転軸方向研削ステップ及び該径方向研削ステップでは、該研削ユニットの該スピンドルの軸線を該チャックテーブルの該軸線と非平行に配置した状態で、該被加工物を研削する。
本発明の一態様に係る被加工物の研削方法は、研削ユニットとチャックテーブルとをチャックテーブルの所定の回転軸の軸線に沿って相対的に接近させる回転軸方向研削ステップと、研削ユニットとチャックテーブルとをチャックテーブルの径方向に相対的に移動させる径方向研削ステップと、を備える。径方向研削ステップは、内側方向研削ステップと、外側方向研削ステップと、のどちらか一方又は両方を含む。
内側方向研削ステップでは、複数の研削砥石の底面の移動軌跡とチャックテーブルの回転軸の軸線とが重ならない位置から重なる位置に、研削ユニットとチャックテーブルとを相対的に移動させる。また、外側方向研削ステップでは、移動軌跡と軸線とが重なる位置から重ならない位置に、研削ユニットとチャックテーブルとを相対的に移動させる。
この様に、内側方向研削ステップ及び外側方向研削ステップのどちらか一方又は両方において、チャックテーブルの径方向で研削ユニットとチャックテーブルとを相対的に移動させながら被加工物を研削するので、研削ホイールを交換することなく、リング幅の変更や異なる径を有する被加工物の研削を遂行できる。
添付図面を参照して、本発明の一態様に係る実施形態について説明する。図1は、第1の実施形態における被加工物11(図2等参照)の研削方法のフロー図である。本実施形態では、図1に示す各ステップに従い被加工物11を研削する。
そこで、まずは、図2を参照し、被加工物11について説明する。図2に示す様に、被加工物11は、単結晶シリコンで形成された円板状のウェーハ13を有する。ウェーハ13の表面13a側には、複数の分割予定ライン(ストリート)15が格子状に設定されている。
複数の分割予定ライン15で区画された矩形状の領域の各々には、IC(Integrated Circuit)等のデバイス17が形成されている。表面13a側において複数のデバイス17が形成されている領域は、デバイス領域13a1と称される。なお、被加工物11において、デバイス17の種類、数量、形状、構造、大きさ、配置等に制限はない。
デバイス領域13a1の周囲を囲む表面13a側の領域は、外周余剰領域13a2と称される。なお、ウェーハ13の表面13a側は、被加工物11の表面側と読み替えてよく、ウェーハ13の裏面13b側は、被加工物11の裏面側と読み替えてよい。但し、ウェーハ13の表面13a及びデバイス17を覆う様に、金属配線層、層間絶縁膜等を有する機能層(不図示)が設けられることもある。
被加工物11を研削する際には、デバイス領域13a1に対応する裏面13b側の円形領域を研削することにより、ウェーハ13の一部を薄化する。なお、この円形領域は、ウェーハ13の外径よりも小さい径を有し、ウェーハ13と同心状である。
ウェーハ13を研削する前には、ウェーハ13と略同径の樹脂製の保護部材19を表面13a側に貼り付ける。図2は、ウェーハ13の表面13a側に貼り付けられる保護部材19等を示す斜視図である。
保護部材19は、例えば、基材層及び粘着層を有する円形のテープであり、当該テープの粘着層が表面13a側に貼り付けられる。保護部材19を表面13a側に貼り付けることで、研削時におけるデバイス17への衝撃を緩和できる。
なお、保護部材19は、粘着層を有さず基材層のみを有してもよい。この場合、保護部材19は、表面13a側に熱圧着される。表面13a側に保護部材19を熱圧着することで、保護部材19を剥がしたときに表面13a側に粘着層が部分的に残留することを防止できる。
保護部材19を表面13a側に貼り付けた後、研削装置2のチャックテーブル4(図3(A)参照)で表面13a側を吸引保持する(保持ステップS10)。図3(A)は、保持ステップS10の一部断面側面図であり、図3(B)は、保持ステップS10の斜視図である。図3(A)及び図3(B)に示すZ軸方向は、研削装置2の高さ方向(即ち、鉛直方向)と平行である。
チャックテーブル4は、非多孔質のセラミックスで形成された円板状の枠体6を有する。枠体6の上面側には、円形の凹部が形成されている。この凹部には、多孔質のセラミックスで形成された円板状の多孔質板8が固定されている。
枠体6の上面と、多孔質板8の上面とは、略面一となっており、略平坦な保持面4aを形成している。保持面4aは、TAIKO研削技術で通常使用されるチャックテーブル12(図4参照)の保持面12aに比べて高い平坦性を有する。
図4は、TAIKO研削技術で通常使用されるチャックテーブル12の断面図である。図4は、チャックテーブル12の径方向の中心部12a1を通り、且つ、チャックテーブル12の底面に直交する平面でのチャックテーブル12の断面を示している。
チャックテーブル12も、枠体14及び多孔質板16を有する。枠体14の上面と、多孔質板16の上面とは、略面一になっており、被加工物11を吸引保持する保持面12aを構成している。
しかし、保持面12aでは、チャックテーブル12の径方向における中心部12a1及び外周部12a2が、他の領域に比べて突出しており、断面視での保持面12aは、所謂、双凹形状を有する。
保持面12aにおいて、最も陥没した底部12a3を基準として、中心部12a1及び外周部12a2は、チャックテーブル12の厚さ方向において10μm以上30μm以下の所定長さ12bだけ突出している。
これに対して、図3(A)に示す本実施形態のチャックテーブル4の保持面4aは略平坦であり、その凹凸が10μm未満である。TAIKO研削技術において略平坦な保持面4aで被加工物11を吸引保持することは、本件の特徴の一つである。
保持面4aの凹凸は、チャックテーブル4の径方向4b(図6参照)の中心を通り、且つ、チャックテーブル12の底面に直交する平面でのチャックテーブル4の断面において、例えば、輪郭曲線の算術平均粗さ(Ra)で評価される。
算術平均粗さ(Ra)は、例えば、JIS(Japanese Industrial Standards) B 0601:2013で規定される。本実施形態の保持面4aのRaは、2.99μm(即ち、10μm未満)である。
図3(A)に示す様に、枠体6の凹部の底部には、放射状に流路6bが形成されており、更に、枠体6の径方向の中心部を貫通するように、円柱状の流路6cが形成されている。流路6cには、電磁弁等のバルブ(不図示)を介して、真空ポンプ等の吸引源(不図示)が接続している。
吸引源を動作させた状態でバルブを開状態にすると、保持面4aには負圧が伝達され、被加工物11は保持面4aで吸引保持される。枠体6の下面側には、円柱状の回転軸(所定の回転軸)10が固定されている。回転軸10の長手方向は、Z軸方向に略平行であり保持面4aに略直交している。
回転軸10の下端部近傍には、従動プーリ(不図示)が固定されている。また、チャックテーブル4の下方には、モータ等の回転駆動源(不図示)が設けられている。回転駆動源の出力軸には、駆動プーリ(不図示)が固定されている。
駆動プーリ及び従動プーリには、歯付き無端ベルト(不図示)がかけられている。回転駆動源の動力が回転軸10へ伝達されると、チャックテーブル4は回転軸10の周りに回転する。回転軸10の長手方向は、Z軸方向と略平行に配置されている。
保持ステップS10の後、保持面4aで吸引保持されたウェーハ13の裏面13b側を研削ユニット20で研削する(図5参照)。図5に示す様に、研削ユニット20は、円筒状のスピンドルハウジング(不図示)を有する。
スピンドルハウジングには、ボールねじ式のZ軸方向移動機構(不図示)が連結されており、研削ユニット20は、Z軸方向移動機構によりZ軸方向に沿って移動する。スピンドルハウジングの内側には、円柱状のスピンドル22の一部が回転可能に収容されている。
スピンドルハウジング及びスピンドル22の長手方向は、Z軸方向に沿って配置されている。図5では、スピンドル22に加えて、スピンドル22の回転中心と、スピンドル22の長手方向の図心と、を通りZ軸方向に略平行な軸線22bを示す。
スピンドル22の上側の一部には、モータ等の回転駆動源(不図示)が設けられている。スピンドル22の下端部(先端部)22aは、スピンドルハウジングの下端よりも下方に突出している。スピンドル22の下端部22aには、保持面4aよりも小径の円板状のマウント24が固定されている。
マウント24の下面側には、円環状の研削ホイール26が装着されている。つまり、スピンドル22の下端部22aには、マウント24を介して研削ホイール26が装着されている。
研削ホイール26は、アルミニウム合金等の金属で形成された円環状のホイール基台(基台)26aを有する。ホイール基台26aの下面(一面)26a1側には、ホイール基台26aの周方向に沿って複数の研削砥石26bが略等間隔で環状に配置されている。
各研削砥石26bは、cBN(cubic boron nitride)、ダイヤモンド等で形成された砥粒と、砥粒を固定するためのビトリファイドボンド、レジンボンド等のボンド材と、を有する。
スピンドル22を回転させたとき、複数の研削砥石26bの底面26b1の移動軌跡で規定される円環状の領域は、ウェーハ13の裏面13bを研削する研削面26b2となる。なお、図5では、研削面26b2のZ軸方向の位置を示す。
研削面26b2の直径(外径)は、軸線22bに直交する平面において複数の研削砥石26bの外周側面で規定される円の径26b3に対応する。複数の研削砥石26bの径26b3は、被加工物11の半径11a以下である。
ホイール基台26aにおいて研削砥石26bよりも内周側には、研削砥石26b等に対して純水等の研削水用を供給可能な複数の開口(不図示)が、ホイール基台26aの周方向に沿って略等間隔に形成されている。研削時には、冷却や研削屑の除去に、研削水が利用される。
Z軸方向移動機構により研削ユニット20とチャックテーブル4とを、チャックテーブル4の回転軸10の軸線10aに沿って相対的に接近させることで、ウェーハ13の裏面13b側が研削される(回転軸方向研削ステップS20)。
図5は、回転軸方向研削ステップS20を示す一部断面側面図である。図5以降では、チャックテーブル4の回転軸10を軸線10aで簡略化して示す。なお、軸線10aは、回転軸10の回転中心と、回転軸10の長手方向の図心と、を通る直線である。
本実施形態では、研削ホイール26を4000rpmで回転させ、チャックテーブル4を300rpmで回転させると共に、Z軸方向に沿って0.6μm/sで下降させる(即ち、研削送りする)。なお、研削水の流量は、例えば、4.0L/minとする。
上述の様に、複数の研削砥石26bの径26b3は、被加工物11の半径11a以下である。また、研削ユニット20を研削送りするとき、チャックテーブル4の位置は、図5に示す様に、研削ホイール26の研削面26b2が、チャックテーブル4の軸線10aと重ならない位置PAとなる様に調整されている。
それゆえ、図6(A)に示す様に、研削面26b2を裏面13bから目的とする所定の深さ11bまで研削送りすると、裏面13b側の中央部に円柱状の突起部11c(即ち、未研削領域)が形成される。突起部11cを形成した後、研削ユニット20の研削送りを停止する。
そして、研削ユニット20と、チャックテーブル4と、をチャックテーブル4の径方向4bに相対的に移動させることで、裏面13b側の突起部11cを研削して除去する(径方向研削ステップS30)。
図6(A)に示す様に、チャックテーブル4の径方向4bは、回転軸10の軸線10aと直交する。なお、径方向4bは、研削装置2におけるZ軸方向に直交するX軸方向(不図示)と略平行である。
径方向研削ステップS30では、チャックテーブル4及び研削ホイール26をそれぞれ回転させながら、例えば、チャックテーブル4を径方向4bの外側へ移動させることで、研削ホイール26を径方向4bの内側へ移動させる。
これにより、上述の位置PAから、研削面26b2と軸線10aとが重なる位置PBに、研削ホイール26を保持面4aの中心側へ移動させながら、研削砥石26bの外周側面で突起部11cを除去する(即ち、裏面13b側を研削する)(内側方向研削ステップ)。
図6(A)は、内側方向研削ステップの一部断面側面図であり、図6(B)は、内側方向研削ステップの斜視図である。位置PAから位置PBへ移動させる際の移動速度は、例えば、1.0μm/sとする。
本実施形態では、回転軸方向研削ステップS20と、径方向研削ステップ(内側方向研削ステップ)S30と、を順次行うことで、ウェーハ13が所定の厚さまで研削されるので(S40でYES)、研削を終了する(図1参照)。
これに対して、1回目での研削送り量が目的とする所定の深さ11bよりも浅い場合には(S40でNO)、再度、回転軸方向研削ステップS20と、径方向研削ステップ(内側方向研削ステップ)S30と、を繰り返す(図1参照)。
図7は、研削終了後の被加工物11の一部断面側面図である。裏面13b側に凹部13b1を形成することで、被加工物11には、デバイス領域13a1を含む円形薄板部11dと、円形薄板部11dの外周部を囲む環状凸部11eと、が形成される。
本実施形態では、複数の研削砥石26bの径26b3が被加工物11の半径11a以下であるものの、内側方向研削ステップで、チャックテーブル4の径方向4bにおいて研削ユニット20とチャックテーブル4とを相対的に移動させるので、研削ホイール26を交換することなく、被加工物11の研削を遂行できる。
なお、本実施形態の研削方法を適用すれば、回転軸方向研削ステップS20で被加工物11に対する研削ホイール26の位置を変更することで、環状凸部11eのリング幅を変更できるし、被加工物11とは異なる径を有する他の被加工物11の研削もできる。
(第2の実施形態)次に、図8、図9、図10(A)及び図10(B)を参照し、第2の実施形態について説明する。図8は、第2の実施形態における被加工物11の研削方法のフロー図である。
第2の実施形態でも、保持ステップS10を経て回転軸方向研削ステップS20を行う。図9は、第2の実施形態の回転軸方向研削ステップS20を示す一部断面側面図である。
但し、本実施形態の回転軸方向研削ステップS20では、図9に示す様に、研削ホイール26の研削面26b2が、チャックテーブル4の軸線10aと重なる位置PBとなる様にチャックテーブル4の位置を調整した上で、研削ユニット20を研削送りする。
本実施形態では、研削ホイール26を4000rpmで回転させ、チャックテーブル4を300rpmで回転させると共に、Z軸方向に沿って0.6μm/sで研削送りする。なお、研削水の流量は、例えば、4.0L/minとする。
図10(A)に示す様に、研削ホイール26を裏面13bから所定の深さ11bまで研削送りした後、研削ユニット20の研削送りを停止する。そして、回転軸方向研削ステップS20の後、径方向研削ステップS32を行う。
径方向研削ステップS32では、上述の位置PBから、研削面26b2と軸線10aとが重ならない位置PAに、研削ホイール26を保持面4aの外側へ相対的に移動させながら、裏面13b側を研削する(外側方向研削ステップ)。
チャックテーブル4及び研削ホイール26をそれぞれ回転させながら、例えば、チャックテーブル4を径方向4bの内側へ移動させることで、研削ホイール26を径方向4bの外側へ移動させる。
位置PBから位置PAへ移動させる際の移動速度は、例えば、1.0μm/sとする。図10(A)は、外側方向研削ステップの一部断面側面図であり、図10(B)は、外側方向研削ステップの斜視図である。
本実施形態でも、研削ホイール26を交換することなく、被加工物11の研削を遂行できる。また、本実施形態の研削方法を適用すれば、環状凸部11eのリング幅を変更できるし、被加工物11とは異なる径を有する他の被加工物11の研削もできる。
(第3の実施形態)次に、図11及び図12を参照し、第3の実施形態について説明する。図11は、第3の実施形態における被加工物11の研削方法のフロー図である。第3の実施形態でも、保持ステップS10を経て回転軸方向研削ステップS20を行う。
本実施形態の回転軸方向研削ステップS20では、位置PAと位置PBとの間に研削ユニット20が位置する様にチャックテーブル4の位置を調整した上で研削ユニット20を研削送りする。そして、図12に示す様に、研削ホイール26を所定の深さ11bよりも浅い深さ11b1まで研削面26b2を研削送りした後、研削送りを停止する。
続く径方向研削ステップS34では、研削ユニット20をチャックテーブル4の径方向4bに沿って相対的に移動させる。例えば、まず、研削ユニット20を位置PBまで相対的に径方向4bの内側へ移動させる(内側方向研削ステップ)。
次いで、研削ユニット20を位置PBから位置PAまで相対的に径方向4bの外側へ移動させる(外側方向研削ステップ)。図12は、径方向研削ステップS34における内側方向研削ステップ及び外側方向研削ステップを示す一部断面側面図である。
なお、径方向研削ステップS34では、内側方向研削ステップ及び外側方向研削ステップの両方を1回行ってもよく、複数回行ってもよい。複数回行う場合は、内側方向研削ステップ及び外側方向研削ステップを交互に繰り返す。
また、交互に繰り返す場合、内側方向研削ステップ及び外側方向研削ステップのどちらを先に行ってもよい。この様にして、目的とする所定の深さ11bとなるまで(即ち、S40でYESとなるまで)裏面13b側を研削して、被加工物11に円形薄板部11d及び環状凸部11eを形成する。
本実施形態でも、研削ホイール26を交換することなく、被加工物11の研削を遂行できる。また、本実施形態の研削方法を適用すれば、環状凸部11eのリング幅を変更できるし、被加工物11とは異なる径を有する他の被加工物11の研削もできる。
なお、1回目の回転軸方向研削ステップS20で研削ホイール26を目的とする所定の深さ11bまで研削送りした後、径方向研削ステップS34を行うことで、円形薄板部11d及び環状凸部11eを形成してもよい。
(第4の実施形態)次に、図13及び図14を参照し、第4の実施形態について説明する。図13は、第4の実施形態における被加工物11の研削方法のフロー図である。第4の実施形態では、保持ステップS10の後、回転軸方向研削ステップ及び径方向研削ステップS22を行う。
つまり、保持ステップS10の後、回転軸方向研削ステップ及び径方向研削ステップを同時に行うことでウェーハ13の裏面13b側を研削する。具体的には、Z軸方向移動機構で研削ユニット20を研削送りしながら、チャックテーブル4を径方向4bに沿って揺動させることで内側方向研削ステップ及び外側方向研削ステップの両方を行う(図14参照)。
図14は、回転軸方向研削ステップ及び径方向研削ステップS22を示す一部断面側面図である。なお、径方向研削ステップでは、内側方向研削ステップ及び外側方向研削ステップの両方を1回行ってもよく、複数回行ってもよい。複数回行う場合は、内側方向研削ステップ及び外側方向研削ステップを交互に繰り返す。
この様にして、目的とする所定の深さ11bとなるまで(即ち、S40でYESとなるまで)裏面13b側を研削して、被加工物11に円形薄板部11d及び環状凸部11eを形成する。
本実施形態でも、研削ホイール26を交換することなく、被加工物11の研削を遂行できる。また、本実施形態の研削方法を適用すれば、環状凸部11eのリング幅を変更できるし、被加工物11とは異なる径を有する他の被加工物11の研削もできる。
(第5の実施形態)次に、図15(A)及び図15(B)を参照し、第5の実施形態について説明する。第5の実施形態では、第4の実施形態(図13参照)と同様に、保持ステップS10の後、回転軸方向研削ステップ及び径方向研削ステップS22を行う。
但し、第5の実施形態では、スピンドル22の軸線22b(即ち、スピンドル22の長手方向)をチャックテーブル4の回転軸10の軸線10aに対して非平行に配置した状態で、ウェーハ13の裏面13b側を研削する。
例えば、スピンドル22の軸線22bが回転軸10の軸線10aに対して所定角度だけ傾けられた状態を維持しつつ、研削ユニット20の研削送りと、チャックテーブル4の揺動と、が行われる。
図15(A)は、第5の実施形態における回転軸方向研削ステップ及び径方向研削ステップS22を示す一部断面側面図である。なお、図15(A)では、スピンドル22の傾きを明示するために、軸線10aと平行な直線10a1をスピンドル22近傍に記載している。
回転軸方向研削ステップ及び径方向研削ステップS22では、研削ホイール26を下方へ研削送りしながら、チャックテーブル4を径方向4bに沿って揺動させることで、ウェーハ13の裏面13b側を研削する。
なお、回転軸方向研削ステップ及び径方向研削ステップS22では、内側方向研削ステップ及び外側方向研削ステップを交互に繰り返しながら、内側方向研削ステップ及び外側方向研削ステップの両方を、複数回行う。
特に、第5の実施形態では、複数の研削砥石26bの研削面26b2に代えて、1つの研削砥石26bの底面26b1における円弧状の外周縁26b4により、ウェーハ13の裏面13b側を研削する。
それゆえ、図15(B)に示す様に、研削砥石26bの底面26b1の円弧状の外周縁26b4を、裏面13bの中心PCと、環状凸部11eの内周縁に対応する円形薄板部11dの外周の一点PDと、の間で往復させる。
研削の進行に伴い、裏面13bの中心PCは、徐々に表面13aへ移動する。同様に、円形薄板部11dの外周の一点PDも、研削の進行に伴い徐々に表面13aへ移動する。外周の一点PDは、スピンドル22の軸線22b及び回転軸10の軸線10aで規定される平面において、円形薄板部11d及び環状凸部11eの境界に位置する。
図15(B)は、第5の実施形態における回転軸方向研削ステップ及び径方向研削ステップS22を示す上面図である。図15(B)では、研削砥石26bの底面26b1の円弧状の外周縁26b4を太い線で誇張して示している。
円弧状の外周縁26b4は、例えば、1つの研削砥石26bの底面26b1の外周部に対応するが、必ずしも、その全体が研削に寄与するとは限らない。例えば、円弧状の外周縁26b4のうち最も下端に位置する一部の領域(即ち、加工点)のみが、研削に寄与することもある。
外周縁26b4の往復移動は、例えば、チャックテーブル4を径方向4bに沿って揺動させることで実現されるが、保持面4aの中心と裏面13bの中心PCとの位置ずれを考慮して、中心PCよりも外周の一点PDとは反対側の外側に位置まで、円弧状の外周縁26b4を移動させてもよい。
いずれにしても、目的とする所定の深さ11bとなるまで(即ち、S40でYESとなるまで)裏面13b側を研削して、被加工物11に円形薄板部11d及び環状凸部11eを形成する。
本実施形態でも、研削ホイール26を交換することなく、被加工物11の研削を遂行できる。また、本実施形態の研削方法を適用すれば、環状凸部11eのリング幅を変更できるし、被加工物11とは異なる径を有する他の被加工物11の研削もできる。
なお、単位時間当たりの被加工物11の研削体積を略一定にするために、外周縁26b4の位置に応じて、チャックテーブル4の回転数、スピンドル22の回転数、及び、チャックテーブル4の径方向4bの移動速度を調整してもよい。
例えば、加工点が中心PCにあるとき、チャックテーブル4の回転数を300rpm、スピンドル22の回転数を4000rpm、及び、チャックテーブル4の径方向4bの移動速度を1.0mm/sとする。
これに対して、加工点が外周の一点PDにあるとき、チャックテーブル4の回転数を100rpm、スピンドル22の回転数を6000rpm、及び、チャックテーブル4の径方向4bの移動速度を0.1mm/sとする。
加工点が中心PC及び外周の一点PDの間にある場合には外周縁26b4の位置に応じて、チャックテーブル4の回転数を100rpm以上300rpm以下の範囲で、スピンドル22の回転数を4000rpm以上6000rpm以下の範囲で、チャックテーブル4の径方向4bの移動速度を0.1mm/s以上1.0mm/s以下の範囲で、変化させてよい。
これにより、単位時間当たりの研削体積を略一定にできるので、チャックテーブル4及びスピンドル22の回転数と、チャックテーブル4の径方向4bの移動速度と、を外周縁26b4の位置に関わらずに一定にする場合に比べて、研削後の円形薄板部11dの平坦性を向上できる。即ち、TTV(Total Thickness Variation)を良好にできる。
その他、上述の実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。例えば、第1から第4の実施形態(第5の実施形態を除く)では、図4に示す双凹形状の保持面12aを有するチャックテーブル12を用いてウェーハ13を研削することもできる。
但し、双凹形状の保持面12aを有するチャックテーブル12を用いる場合、加工領域(即ち、複数の研削砥石26bと、ウェーハ13の裏面13b側と、の接触領域)が円弧状になる様に、スピンドル22(軸線22b)及びチャックテーブル4の回転軸10(軸線10a)の少なくとも一方を傾ける。
ところで、第5の実施形態でも、第1の実施形態(図1)、第2の実施形態(図8)、第3の実施形態(図11)の様に、回転軸方向研削ステップS20と、径方向研削ステップS30(S32,S34)と、を別々に行ってもよい。
2:研削装置、4:チャックテーブル、4a:保持面、4b:径方向
6:枠体、6b,6c:流路、8:多孔質板
10:回転軸(所定の回転軸)、10a:軸線、10a1:直線
11:被加工物、11a:半径、11b,11b1:深さ、11c:突起部
11d:円形薄板部、11e:環状凸部
12:チャックテーブル、12a:保持面
12a1:中心部、12a2:外周部、12a3:底部、12b:長さ
13:ウェーハ、13a:表面、13a1:デバイス領域、13a2:外周余剰領域
13b:裏面、13b1:凹部
14:枠体、16:多孔質板
15:分割予定ライン、17:デバイス、19:保護部材
20:研削ユニット、22:スピンドル、22a:下端部(先端部)、22b:軸線
24:マウント
26:研削ホイール、26a:ホイール基台(基台)、26a1:下面(一面)
26b:研削砥石、26b1:底面、26b2:研削面、26b3:径、26b4:外周縁
PA,PB:位置、PC:中心、PD:外周の一点
S10:保持ステップ、S20:回転軸方向研削ステップ
S22:回転軸方向研削ステップ及び径方向研削ステップ
S30,S32,S34:径方向研削ステップ
6:枠体、6b,6c:流路、8:多孔質板
10:回転軸(所定の回転軸)、10a:軸線、10a1:直線
11:被加工物、11a:半径、11b,11b1:深さ、11c:突起部
11d:円形薄板部、11e:環状凸部
12:チャックテーブル、12a:保持面
12a1:中心部、12a2:外周部、12a3:底部、12b:長さ
13:ウェーハ、13a:表面、13a1:デバイス領域、13a2:外周余剰領域
13b:裏面、13b1:凹部
14:枠体、16:多孔質板
15:分割予定ライン、17:デバイス、19:保護部材
20:研削ユニット、22:スピンドル、22a:下端部(先端部)、22b:軸線
24:マウント
26:研削ホイール、26a:ホイール基台(基台)、26a1:下面(一面)
26b:研削砥石、26b1:底面、26b2:研削面、26b3:径、26b4:外周縁
PA,PB:位置、PC:中心、PD:外周の一点
S10:保持ステップ、S20:回転軸方向研削ステップ
S22:回転軸方向研削ステップ及び径方向研削ステップ
S30,S32,S34:径方向研削ステップ
Claims (5)
- デバイス領域と、該デバイス領域を囲む外周余剰領域と、を表面側に有する被加工物の裏面側を研削して凹部を形成することで、円形薄板部と、該円形薄板部を囲む環状凸部と、を形成する被加工物の研削方法であって、
所定の回転軸の周りに回転可能なチャックテーブルの保持面で該被加工物の該表面側を保持する保持ステップと、
環状の基台と、該基台の一面に環状に配置された複数の研削砥石と、を含む研削ホイールであって、該複数の研削砥石の外周側面で規定される円の直径が該被加工物の半径以下である該研削ホイールが先端部に装着されたスピンドルを有する研削ユニットと、該チャックテーブルと、を該チャックテーブルの該所定の回転軸の軸線に沿って相対的に接近させることで該被加工物の該裏面側を研削する回転軸方向研削ステップと、
該研削ユニットと、該チャックテーブルと、を該軸線と直交する該チャックテーブルの径方向に相対的に移動させることで該被加工物の該裏面側を研削する径方向研削ステップと、
を備え、
該径方向研削ステップは、
該スピンドルの回転に伴う該複数の研削砥石の底面の移動軌跡と、該チャックテーブルの該軸線と、が重ならない位置から重なる位置に、該研削ユニットと該チャックテーブルとを相対的に移動させながら該被加工物を研削する内側方向研削ステップと、
該移動軌跡と、該軸線と、が重なる位置から重ならない位置に、該研削ユニットと該チャックテーブルとを相対的に移動させながら該被加工物を研削する外側方向研削ステップと、のどちらか一方又は両方を含むことを特徴とする被加工物の研削方法。 - 該径方向研削ステップでは、該内側方向研削ステップと、該外側方向研削ステップと、を交互に繰り返して該被加工物を研削することを特徴とする請求項1に記載の被加工物の研削方法。
- 該回転軸方向研削ステップ及び該径方向研削ステップを同時に行うことで該被加工物を研削し、
該径方向研削ステップは、該内側方向研削ステップ及び該外側方向研削ステップの両方を含むことを特徴とする請求項1に記載の被加工物の研削方法。 - 該保持ステップでは、凹凸が10μm未満の平坦性を有する該保持面で該被加工物を保持し、
該径方向研削ステップ及び該径方向研削ステップでは、該保持面で保持された該被加工物を研削することを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の被加工物の研削方法。 - 該回転軸方向研削ステップ及び該径方向研削ステップでは、該研削ユニットの該スピンドルの軸線を該チャックテーブルの該軸線と非平行に配置した状態で、該被加工物を研削することを特徴とする請求項4に記載の被加工物の研削方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022124547A JP2024021601A (ja) | 2022-08-04 | 2022-08-04 | 被加工物の研削方法 |
KR1020230096207A KR20240019729A (ko) | 2022-08-04 | 2023-07-24 | 피가공물의 연삭 방법 |
CN202310913043.8A CN117506563A (zh) | 2022-08-04 | 2023-07-24 | 被加工物的磨削方法 |
US18/359,083 US20240042575A1 (en) | 2022-08-04 | 2023-07-26 | Workpiece grinding method |
DE102023207251.3A DE102023207251A1 (de) | 2022-08-04 | 2023-07-28 | Werkstück-Schleifverfahren |
TW112128428A TW202407794A (zh) | 2022-08-04 | 2023-07-28 | 被加工物之磨削方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022124547A JP2024021601A (ja) | 2022-08-04 | 2022-08-04 | 被加工物の研削方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2024021601A true JP2024021601A (ja) | 2024-02-16 |
Family
ID=89755585
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022124547A Pending JP2024021601A (ja) | 2022-08-04 | 2022-08-04 | 被加工物の研削方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20240042575A1 (ja) |
JP (1) | JP2024021601A (ja) |
KR (1) | KR20240019729A (ja) |
CN (1) | CN117506563A (ja) |
DE (1) | DE102023207251A1 (ja) |
TW (1) | TW202407794A (ja) |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5390740B2 (ja) | 2005-04-27 | 2014-01-15 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
-
2022
- 2022-08-04 JP JP2022124547A patent/JP2024021601A/ja active Pending
-
2023
- 2023-07-24 CN CN202310913043.8A patent/CN117506563A/zh active Pending
- 2023-07-24 KR KR1020230096207A patent/KR20240019729A/ko unknown
- 2023-07-26 US US18/359,083 patent/US20240042575A1/en active Pending
- 2023-07-28 DE DE102023207251.3A patent/DE102023207251A1/de active Pending
- 2023-07-28 TW TW112128428A patent/TW202407794A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202407794A (zh) | 2024-02-16 |
KR20240019729A (ko) | 2024-02-14 |
DE102023207251A1 (de) | 2024-02-15 |
US20240042575A1 (en) | 2024-02-08 |
CN117506563A (zh) | 2024-02-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20060009134A1 (en) | Grinding wheel, grinding apparatus and grinding method | |
JP6707278B2 (ja) | 研削ホイール及び被加工物の研削方法 | |
JP2008060470A (ja) | ウエーハの加工方法 | |
JP6791579B2 (ja) | ウェーハ及びウェーハの加工方法 | |
US11376707B2 (en) | Grinding method | |
JP2007335521A (ja) | ウェーハ外周部研削方法 | |
JP2024021601A (ja) | 被加工物の研削方法 | |
US20220274224A1 (en) | Grinding method for workpiece | |
US20230051072A1 (en) | Dressing ring | |
JP2019062147A (ja) | 保護部材の加工方法 | |
JP2024067453A (ja) | 被加工物の研削方法 | |
JP2024074423A (ja) | 被加工物の研削方法 | |
JP2024074422A (ja) | 被加工物の研削方法 | |
JP2024062729A (ja) | 被加工物の研削方法 | |
JP2023003964A (ja) | 研削ホイール | |
KR20220157882A (ko) | 웨이퍼의 가공 방법 | |
JP2024059330A (ja) | 研削ホイール及び被加工物の研削方法 | |
JP2023109277A (ja) | 研削方法 | |
JP2023003965A (ja) | 研削ホイール | |
JP2024000234A (ja) | 被加工物の研削方法 | |
JP2022178329A (ja) | 研削砥石の形状修正方法及び被加工物の研削方法 | |
JP2023003963A (ja) | 研削ホイール | |
JP2022056550A (ja) | 研削ホイール及び研削方法 | |
JP2023117908A (ja) | 被加工物の研削方法 | |
JP2023003962A (ja) | 研削ホイール |