JP2024014354A - 放射線撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】
光子計数型検出器の動作中にサブピクセルが故障しても、故障したサブピクセルが含まれるピクセルの出力信号を補正できる放射線撮像装置を提供する。
【解決手段】
放射線光子を計数する光子計数型検出器を備える放射線撮像装置であって、前記光子計数型検出器は、複数のサブピクセルによって構成されるピクセルと、前記サブピクセルのそれぞれにおいて計数される放射線光子数に基づいて前記ピクセルの出力信号を算出するデータ処理部と、前記サブピクセルにおいて計数される放射線光子数に基づいて前記サブピクセルの故障を検知し、故障したサブピクセルの位置を出力する故障検知部を有し、故障したサブピクセルの位置に基づいて、故障したサブピクセルを含むピクセルの補正データを生成するデータ補正部をさらに備えることを特徴とする。
【選択図】図3
光子計数型検出器の動作中にサブピクセルが故障しても、故障したサブピクセルが含まれるピクセルの出力信号を補正できる放射線撮像装置を提供する。
【解決手段】
放射線光子を計数する光子計数型検出器を備える放射線撮像装置であって、前記光子計数型検出器は、複数のサブピクセルによって構成されるピクセルと、前記サブピクセルのそれぞれにおいて計数される放射線光子数に基づいて前記ピクセルの出力信号を算出するデータ処理部と、前記サブピクセルにおいて計数される放射線光子数に基づいて前記サブピクセルの故障を検知し、故障したサブピクセルの位置を出力する故障検知部を有し、故障したサブピクセルの位置に基づいて、故障したサブピクセルを含むピクセルの補正データを生成するデータ補正部をさらに備えることを特徴とする。
【選択図】図3
Description
本発明は光子計数型検出器を備える放射線撮像装置に係り、特に光子計数型検出器の故障検知と補正に関する。
フォトンカウンティング方式を採用する検出器である光子計数型検出器を備える放射線撮像装置として、PCCT(Photon Counting Computed Tomography)装置の開発が進められている。光子計数型検出器は放射線光子を計数するとともに個々の放射線光子のエネルギーを計測できるので、PCCT装置は従来のCT装置よりも多くの情報を含んだ医用画像、例えば複数のエネルギー成分に分けられた医用画像を提示することができる。
ただし、光子計数型検出器のピクセルに単位時間当たりに入射する放射線光子の数が増加すると数え落としが生じるので、ピクセルを複数のサブピクセルに分割し、各サブピクセルで計数された放射線光子の総和をピクセル毎の出力信号にする場合がある。またサブピクセルのうちのいくつかが故障したときには、故障したサブピクセルが含まれるピクセルの出力信号が、故障していないサブピクセルでの放射線光子数に基づいて推定される。
特許文献1には、故障したサブピクセルが含まれるピクセルの出力信号を高精度に推定するために、各サブピクセルでの放射線光子数を加重加算するときに用いられるサブピクセル毎の加算率を、故障したサブピクセルの位置に基づいて決定することが開示される。
しかしながら特許文献1では、予め記録された故障サブピクセルに対して補正を行うものであり、光子計数型検出器の動作中にサブピクセルが故障したときの対応が困難である。
そこで本発明は、光子計数型検出器の動作中にサブピクセルが故障しても、故障したサブピクセルが含まれるピクセルの出力信号を補正できる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明は、放射線光子を計数する光子計数型検出器を備える放射線撮像装置であって、前記光子計数型検出器は、複数のサブピクセルによって構成されるピクセルと、前記サブピクセルのそれぞれにおいて計数される放射線光子数に基づいて前記ピクセルの出力信号を算出するデータ処理部と、前記サブピクセルにおいて計数される放射線光子数に基づいて前記サブピクセルの故障を検知し、故障したサブピクセルの位置を出力する故障検知部を有し、故障したサブピクセルの位置に基づいて、故障したサブピクセルを含むピクセルの補正データを生成するデータ補正部をさらに備えることを特徴とする。
本発明によれば、光子計数型検出器の動作中にサブピクセルが故障しても、故障したサブピクセルが含まれるピクセルの出力信号を補正できる放射線撮像装置を提供することができる。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。本発明の放射線撮像装置は、放射線源と光子計数型検出器とを備える装置に適用される。以降の説明では、放射線がX線であり、放射線撮像装置がX線CT装置である例について述べる。
図1に本実施例のX線CT装置の全体構成図を示す。X線CT装置は、ガントリ1、演算装置2、表示装置3、ベッド4を備え、ベッド4に載置される被検者5で吸収されるX線光子をカウントし、カウント数に基づいて被検者5の断層画像を生成する装置である。以下、各部について説明する。
ガントリ1は、X線管6と検出器パネル7を搭載して回転する回転部と、回転部を支持する静止部を有する。X線管6は100kV程度の高電圧で加速した電子をターゲットに当てることによりX線を発生させる。検出器パネル7は、被検者5を挟んでX線管6と対向配置され、被検者5を透過したX線光子をカウントし、X線光子数の空間的な分布を計測する。被検者5を透過したX線光子数を、被検者5がいないときのX線光子数から減算することにより、被検者5で吸収されるX線光子数が求められ、投影データとして取得される。なお検出器パネル7は光子計数型検出器でありX線光子のエネルギーを計測できるので、エネルギー成分毎の投影データが取得される。検出器パネル7の詳細は図2を用いて後述される。
X線管6と検出器パネル7が被検者5の周囲を回転する間に、X線管6による被検者5へのX線照射と、検出器パネル7によるX線光子のカウントが繰り返されることにより、様々な方向からの被検者5の投影データが取得される。投影データは、1秒の間に3000回程度取得され、演算装置2へ送信される。ベッド4は、投影データが取得される被検者5の位置を調整するために、ガントリ1の開口部に向けて水平移動する。
演算装置2は、一般的なコンピュータ装置と同様のハードウェア構成であり、CPU(Central Processing Unit)やメモリ等を備え、表示装置3や入力装置8、記憶装置9に接続される。演算装置2は、送信される複数の投影データを用いた画像再構成により断層画像を生成するとともに、各部の制御を行う。例えば、X線管6に印加される電圧や、X線管6と検出器パネル7の回転速度等の制御が演算装置2によって行われる。
表示装置3は液晶ディスプレイやタッチパネル等であり、生成された断層画像等を表示する。入力装置8はキーボードやマウス等であり、X線管6に印加される電圧の設定等に用いられる。なお表示装置3がタッチパネルである場合、タッチパネルが入力装置8として機能する。記憶装置9はHDD(Hard Disk Drive)やSSD(Solid State Drive)等であり、CPUで実行されるプログラムや投影データ、断層画像等の各種データを記憶する。
図2を用いて検出器パネル7の一例について説明する。検出器パネル7は、複数の検出器モジュール10がX線管6の位置を中心として円弧状に配置されることで構成され、ガントリ1の回転部に設けられる。検出器モジュール10は、放射線検出器12とコリメータ11を有する。
コリメータ11は複数の孔を有する金属製の格子であって、被検者5にて発生する散乱線の放射線検出器12への入射を抑制するために、放射線検出器12と被検者5との間に設けられる。コリメータ11には、比重及び原子番号の大きい金属、例えばタングステンやモリブデン等が用いられる。コリメータ11の孔は放射線検出器12のピクセル15に対応するように位置が合わせられる。
放射線検出器12は、被検者5を透過したX線光子を検出する半導体検出器である。放射線検出器12にはCdTeやCdZnTeが用いられ、X線が入射する側に高電圧電極14が、反対側に複数の読み出し電極13が設けられる。接地電圧である読み出し電極13に対して高電圧電極14には負の高電圧が印加され、高電圧電極14と読み出し電極13との間に電界が形成される。放射線検出器12にX線光子が入射すると、X線光子のエネルギーに応じた数の電子と正孔が発生する。X線光子の入射によって発生した電子は、電極間の電界によって最も近い読み出し電極13へ移動し、電荷信号として読み出される。X線光子の数え落としを減少させるため、一つのピクセル15の中に複数の読み出し電極13が配置される。すなわち読み出し電極13が放射線検出器12のサブピクセル16に対応する。なお図2には、一つのピクセル15が四つのサブピクセル16に分割された場合が例示される。
図3を用いて、X線光子の検出に係るデータ処理回路20について説明する。データ処理回路20は、読み出し電極13に対応するサブピクセル16に接続され、サブピクセル16から送信される電荷信号に様々な処理を施した後、スリップリング27を介して演算装置2へ処理後の信号を送信する。データ処理回路20には、フロントエンドIC21、データバッファ22、故障検知回路23、データ加算回路24、送信バッファ25、制御回路26が含まれる。
フロントエンドIC21は、基板上に複数搭載され、読み出し電極13で読み出された電荷信号を増幅、計数してからデジタルデータとしてデータバッファ22へ出力する。 図4を用いて、フロントエンドIC21について説明する。フロントエンドIC21は、チャンネル読み出し回路31とデータマルチプレクサ38、コンフィグレーション回路39を有する。チャンネル読み出し回路31は、チャージアンプ32、波形整形回路33、コンパレータ34、DAC35、カウンタ36、データ制御回路37を有し、サブピクセル16から出力される電荷信号に基づいて、放射線光子をエネルギー毎に計数する。
チャージアンプ32は、電荷信号を蓄えるコンデンサと、コンデンサの電荷信号を放出するためのスイッチと、動作を安定させるための抵抗を有し、電荷信号に比例した電圧信号を波形整形回路33へ出力する。なおサブピクセル16が故障している場合には、スイッチを短絡状態にして安定した電位に保つようにしても良いし、スイッチを開放状態にし、別途設けられたスイッチにより基準電位に接続することで故障によるノイズを他のサブピクセル16に混入させないようにも良い。
波形整形回路33は、サブピクセル16やチャージアンプ32で発生する雑音を低減するためのバンドパスフィルタ―である。波形整形回路33からの出力電圧は複数のコンパレータ34に入力される。
DAC35はデジタル-アナログ変換器(Digital to Analog Convertor)であり、所定のエネルギーに相当する電圧を出力する。
コンパレータ34は、波形整形回路33からの出力電圧の波高値を、DAC35が出力する電圧と比較し、波形整形回路33からの出力電圧のほうが高ければカウンタ36へパルスを出力する。
カウンタ36は、コンパレータ34から出力されるパルスをカウントする。すなわち波形整形回路33からの出力電圧が所定のエネルギーに相当する電圧よりも高ければカウンタ36にて計数される。DAC35とコンパレータ34とカウンタ36はエネルギー毎に設けられるので、放射線光子はエネルギー毎に計数される。なお一つのコンパレータ34に対して、複数のカウンタ36が接続されても良い。複数のカウンタ36が切り替えられながら計数されることにより、Viewの切り替え時の不感時間の低減が可能になる。
データ制御回路37は、カウンタ36の切り替えや読み出し順を制御する。
データマルチプレクサ38は、サブピクセル16のそれぞれにおいてエネルギー毎に計数された放射線光子数をまとめて出力する。
コンフィグレーション回路39には、DAC35の電圧等の動作パラメータが保持される。またコンフィグレーション回路39には、チャンネル読み出し回路31をディスエーブルする設定パラメータが含まれても良い。
図3の説明に戻る。データバッファ22は、複数のフロントエンドIC21から出力されたデジタル信号を一時保存するとともに、故障検知回路23とデータ加算回路24のそれぞれに出力する。
故障検知回路23は、データバッファ22から出力されるデジタル信号、つまりサブピクセル16において計数される放射線光子数に基づいて、サブピクセル16の故障を検知する。より具体的には、サブピクセル16において計数される放射線光子数が正常範囲から外れているときに、サブピクセル16の故障が検知される。なお正常範囲は、X線の管電圧や管電流ごとに予め定められても良く、例えば制御回路26にテーブルとして記憶される。X線の管電圧や管電流ごとに正常範囲が定められているので、X線照射中にサブピクセル16の故障が検知されることとなり、より高い精度で故障を検知することができる。
また隣接する複数のサブピクセル16の放射線光子数に基づいて正常範囲が定められても良い。隣接する複数のサブピクセル16の放射線光子数に基づいて正常範囲が定められることにより、正常範囲を記憶せずに済むので、故障の検知に係る制御を簡易化できる。
またエネルギー毎に計数される放射線光子数の比に対して正常範囲が定めれられても良い。エネルギー毎に計数される放射線光子数の比に対して正常範囲が定めれられることにより、放射線光子のエネルギーの計測に係る故障を検知することができる。さらに、放射線が照射されてないときのノイズ信号に基づいて故障が検知されても良いし、他のテスト信号源を用いて故障が検知されても良い。故障が検知されたサブピクセル16の位置は制御回路26に通知され、記憶される。すなわち故障検知回路23は、サブピクセル16において計数される放射線光子数に基づいて、サブピクセル16の故障を検知し、故障したサブピクセル16の位置を出力する故障検知部として機能する。
データ加算回路24は、ピクセル15に含まれるサブピクセル16における放射線光子数を加算し、加算後の値を送信バッファ25に書き込む。すなわちデータ加算回路24は、サブピクセル16のそれぞれにおいて計数される放射線光子数に基づいてピクセル15の出力信号を算出するデータ処理部として機能する。なおピクセル15の中に故障したサブピクセル16が含まれている場合は、故障したサブピクセル16での放射線光子数を除外して加算がなされる。また故障検知回路23にて故障が検知されたサブピクセル16とは別に、異常があることを演算装置2において予め指定されたサブピクセル16も加算から除外されても良い。
送信バッファ25は、データ加算回路24が書き込んだ加算後の値を演算装置2へスリップリング27を介して送信する。すなわちそれぞれのピクセル15において計数された放射線光子数が演算装置2へ送信される。
制御回路26は、演算装置2からの指示に基づいて、フロントエンドIC21や故障検知回路23、データ加算回路24を制御するとともに、各種データを記憶する。また制御回路26は、故障検知回路23によって故障が検知されたサブピクセル16の位置を、演算装置2へスリップリング27を介して通知する。
演算装置2は、故障したサブピクセル16の位置に基づいて、故障したサブピクセル16を含むピクセル15の出力信号を補正することで補正データを生成し、生成された補正データを用いて画像再構成を行う。画像再構成を行うときには、例えばピクセル15の感度ばらつきや数え落としによるリニアリティ劣化等を補正する必要がある。感度ばらつきやリニアリティ劣化の補正のために予め測定される感度データやリニアリティデータはサブピクセル16の故障により変化する。演算装置2は、故障したサブピクセル16の位置に基づいて、故障したサブピクセル16を含むピクセル15の補正データを生成するデータ補正部として機能する。
故障したサブピクセル16を含むピクセル15の補正データの生成には、X線CT装置の製造時または定期的な校正時に取得される補正用データが用いられる。補正用データは、材質と形状が既知であるファントムや空気を、X線の管電圧や管電流ごとに計測することによってサブピクセル16のそれぞれについて取得される。より具体的には、ピクセル15に含まれるサブピクセル16の内の一つのみを順に有効にしながら、サブピクセル16の数だけ計測を繰り返すことで、補正用データが取得される。またはデータ加算回路24での加算をさせずに、サブピクセル16のそれぞれでの放射線光子数が補正用データとして取得されても良い。
実施例1の放射線撮像装置によれば、サブピクセル16のそれぞれにおいて計数される放射線光子数に基づいてサブピクセル16の故障を検知し、故障したサブピクセル16の位置に基づいてピクセル15の補正データが生成される。そのため、光子計数型検出器の動作中にサブピクセルが故障しても、故障したサブピクセルが含まれるピクセルの出力信号を補正でき、アーチファクトのない医用画像を出力可能である。
なお本発明の放射線撮像装置は上記実施例に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施例に開示されている複数の構成要素を適宜組み合わせても良い。さらに、上記実施例に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除しても良い。
1:ガントリ、2:演算装置、3:表示装置、4:ベッド、5:被検者、6:X線管、7:検出器パネル、8:入力装置、9:記憶装置、10:検出器モジュール、11:コリメータ、12:放射線検出器、13:読み出し電極、14:高電圧電極、15:ピクセル、16:サブピクセル、20:データ処理回路、21:フロントエンドIC、22:データバッファ、23:故障検知回路、24:データ加算回路、25:送信バッファ、26:制御回路、27:スリップリング、31:チャンネル読み出し回路、32:チャージアンプ、33:波形整形回路、34:コンパレータ、35:DAC、36:カウンタ、37:データ制御回路、38:データマルチプレクサ、39:コンフィグレーション回路
Claims (5)
- 放射線光子を計数する光子計数型検出器を備える放射線撮像装置であって、
前記光子計数型検出器は、複数のサブピクセルによって構成されるピクセルと、前記サブピクセルのそれぞれにおいて計数される放射線光子数に基づいて前記ピクセルの出力信号を算出するデータ処理部と、前記サブピクセルにおいて計数される放射線光子数に基づいて前記サブピクセルの故障を検知し、故障したサブピクセルの位置を出力する故障検知部を有し、
故障したサブピクセルの位置に基づいて、故障したサブピクセルを含むピクセルの補正データを生成するデータ補正部をさらに備えることを特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項1に記載の放射線撮像装置であって、
前記故障検知部は、前記サブピクセルにおいて計数される放射線光子数が予め定められた正常範囲から外れているときに前記サブピクセルの故障を検知することを特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項1に記載の放射線撮像装置であって、
前記故障検知部は、第一のサブピクセルに隣接する複数のサブピクセルにおいて計数される放射線光子数と、第一のサブピクセルにおいて計数される放射線光子数とを比較することにより、第一のサブピクセルの故障を検知することを特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項1に記載の放射線撮像装置であって、
前記故障検知部は、前記サブピクセルにおいてエネルギー毎に計数される放射線光子数の比が予め定められた正常範囲から外れているときに前記サブピクセルの故障を検知することを特徴とする放射線撮像装置。 - 請求項1に記載の放射線撮像装置であって、
前記データ補正部は、サブピクセル毎に予め取得された補正用データを用いて、故障したサブピクセルを含むピクセルの補正データを生成することを特徴とする放射線撮像装置。
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