JP2024007757A - Protective sheet - Google Patents

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JP2024007757A JP2022109059A JP2022109059A JP2024007757A JP 2024007757 A JP2024007757 A JP 2024007757A JP 2022109059 A JP2022109059 A JP 2022109059A JP 2022109059 A JP2022109059 A JP 2022109059A JP 2024007757 A JP2024007757 A JP 2024007757A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a protective sheet that includes release sheets on both sides of a protective layer, and prevents the protective layer from lifting from the other release sheet when one release sheet is peeled off, and that can sufficiently suppress the separation of the protective layer.
SOLUTION: A protective sheet according to the present invention includes a protective layer, a first release liner disposed on one surface of the protective layer, and a second release liner disposed on the other surface of the protective layer, and the protective layer includes a water-soluble polymer compound, and when the release force of the first release liner against the protective layer is PA, and the release force of the second release liner against the protective layer is PB, the peeling force PA and the peeling force PB satisfy the following relational expressions. PA<PB. PB≤2000 mN/25 mm.
SELECTED DRAWING: Figure 1
COPYRIGHT: (C)2024,JPO&INPIT

Description

本発明は、保護シートに関する。 The present invention relates to a protective sheet.

従来、半導体チップなどの半導体素子や液晶表示装置などの電子部品の製造において、前記電子部品に異物が付着することなどを防止するために、粘着性を有する保護シートを用いることが知られている(例えば、下記特許文献1)。
下記特許文献1には、前記保護シートとして、オキシアルキレン基含有ポリビニルアルコール系樹脂を含む樹脂組成物によって形成された保護層と、該保護層の両面に配される2枚のはく離シートとを備えるものが開示されている。
Conventionally, in the manufacture of semiconductor elements such as semiconductor chips and electronic components such as liquid crystal display devices, it has been known to use adhesive protective sheets in order to prevent foreign matter from adhering to the electronic components. (For example, Patent Document 1 below).
Patent Document 1 below discloses that the protective sheet includes a protective layer formed of a resin composition containing an oxyalkylene group-containing polyvinyl alcohol resin, and two release sheets arranged on both sides of the protective layer. something is disclosed.

また、上記の電子部品の製造うち、半導体チップの製造は、通常、一の半導体ウェハを分割(割断)することにより実施される(例えば、下記特許文献2)。
例えば、下記特許文献2には、以下のようにして半導体チップの製造を実施することが開示されている。

(1)シリコンウェハの一表面側に、格子状をなすように複数の分割予定ラインを形成する。
(2)前記複数の分割予定ラインによって格子状に区画された領域(以下、格子状区画領域ともいう)のそれぞれに、回路パターンを形成するとともに電極部を配する。これにより、半導体チップを得るための半導体ウェハを作製する。
(3)該半導体ウェハを前記複数の分割予定ラインに沿って分割(割断)して、換言すれば、前記半導体ウェハの前記格子状区画領域ごとに分割(割断)して、複数の半導体チップを得る。
Further, among the above-mentioned manufacturing of electronic components, manufacturing of semiconductor chips is usually carried out by dividing (cutting) one semiconductor wafer (for example, Patent Document 2 below).
For example, Patent Document 2 below discloses that a semiconductor chip is manufactured in the following manner.

(1) A plurality of dividing lines are formed in a grid pattern on one surface of a silicon wafer.
(2) A circuit pattern is formed and an electrode portion is arranged in each of the regions partitioned in a grid pattern by the plurality of planned dividing lines (hereinafter also referred to as grid partitioned regions). In this way, a semiconductor wafer for obtaining semiconductor chips is manufactured.
(3) Divide (cut) the semiconductor wafer along the plurality of planned dividing lines, in other words, divide (cut) the semiconductor wafer into each of the lattice-shaped partitioned regions to form a plurality of semiconductor chips. obtain.

特開2021-161735号公報Japanese Patent Application Publication No. 2021-161735 特開2012-119670号公報Japanese Patent Application Publication No. 2012-119670

ところで、上のように、半導体ウェハを分割(割断)して複数の半導体チップを得るに際しては、分割部(割断部)付近の半導体ウェハの一部が粉状化されるなどして微細な異物が発生することがある。
そして、このような微細な異物が前記半導体チップの一表面側(回路パターンが形成された側)に付着すると、一表面側に形成された回路パターンに含まれる回路の動作信頼性が低下する虞があることから好ましくない。
そのため、半導体チップの製造は、前記半導体ウェハの一表面側(回路パターンが形成された側)に前記保護シートの前記保護層を貼り合わせて実施されることが多い。
By the way, as mentioned above, when dividing (cutting) a semiconductor wafer to obtain a plurality of semiconductor chips, a part of the semiconductor wafer near the dividing part (cutting part) is pulverized and small foreign particles are generated. may occur.
If such minute foreign matter adheres to one surface side of the semiconductor chip (the side on which the circuit pattern is formed), there is a risk that the operational reliability of the circuit included in the circuit pattern formed on the one surface side may be reduced. This is not desirable because of the
Therefore, manufacturing of semiconductor chips is often carried out by bonding the protective layer of the protective sheet to one surface side (the side on which the circuit pattern is formed) of the semiconductor wafer.

上記のような、オキシアルキレン基含有ポリビニルアルコール系樹脂といった水溶性高分子化合物を含む保護層と、該保護層の両面に配される2枚のはく離シートとを備える保護シートを用いて、前記半導体ウェハの一表面側に前記保護層を貼り合わせるに際しては、前記保護シートから2枚のはく離シートのうちの一方のはく離シートをはく離させて、前記保護層を表面露出させる必要がある。 Using a protective sheet comprising a protective layer containing a water-soluble polymer compound such as an oxyalkylene group-containing polyvinyl alcohol resin as described above, and two release sheets disposed on both sides of the protective layer, the semiconductor When attaching the protective layer to one surface side of the wafer, it is necessary to peel off one of the two release sheets from the protective sheet to expose the surface of the protective layer.

前記一方のはく離シートは、該一方のはく離シートの外側(保護層が配されていない側)から吸引力などの外力が加えられて前記保護層からはく離されるものの、前記一方のはく離シートを前記保護層からはく離させるときに、2枚のはく離シートのうちの他方のはく離シートから前記保護層が浮いてしまうことがある。
また、前記一方のはく離シートから前記保護層をはく離させるときに、前記他方のシートからの前記保護層の浮きは認められないものの、前記保護層の一部が付着した状態で前記一方のはく離シートがはく離されてしまうことがある。すなわち、前記保護層が泣き別れしてしまうことがある(前記保護層に凝集破壊などが生じてしまうことがある)。
The one release sheet is peeled off from the protective layer by applying an external force such as a suction force from the outside of the one release sheet (the side on which the protective layer is not provided). When the protective layer is peeled off, the protective layer may float off the other of the two release sheets.
Further, when the protective layer is peeled off from the one release sheet, although no lifting of the protective layer from the other sheet is observed, a part of the protective layer remains attached to the one release sheet. may be peeled off. That is, the protective layer may separate (cohesive failure or the like may occur in the protective layer).

しかしながら、保護層の両面にはく離シートを備える保護シートにおいて、一方のはく離シートをはく離させるときに他方のはく離シートから前記保護層の浮きが生じることを抑制することと、前記保護層が泣き別れしてしまうことを抑制することとを十分に両立させることについて、未だ十分な検討がなされているとは言い難い。 However, in a protective sheet provided with release sheets on both sides of the protective layer, it is necessary to suppress the lifting of the protective layer from the other release sheet when one release sheet is peeled off, and to prevent the protective layer from separating. It cannot be said that sufficient consideration has been given to achieving a sufficient balance between suppressing the storage of waste.

そこで、本発明は、保護層の両面にはく離シートを備えており、一方のはく離シートをはく離させるときに他方のはく離シートから前記保護層の浮きが生じることを抑制することと、前記保護層が泣き別れしてしまうことを抑制することとを十分に両立させることができる保護シートを提供することを課題とする。 Therefore, the present invention provides release sheets on both sides of the protective layer, and suppresses the lifting of the protective layer from the other release sheet when one release sheet is peeled off. It is an object of the present invention to provide a protective sheet capable of sufficiently suppressing tearful separation.

本発明に係る保護シートは、
保護層と、
該保護層の一表面に配される第1はく離ライナーと、
前記保護層の他表面に配される第2はく離ライナーと、を備え、
前記保護層は、水溶性高分子化合物を含み、
前記保護層に対する前記第1はく離ライナーの剥離力をPとし、前記保護層に対する第2はく離ライナーの剥離力をPとしたときに、
剥離力P、及び、剥離力Pが、以下の関係式を満たす
保護シート。
<P
≦2000mN/25mm
The protective sheet according to the present invention includes:
a protective layer;
a first release liner disposed on one surface of the protective layer;
a second release liner disposed on the other surface of the protective layer,
The protective layer includes a water-soluble polymer compound,
When the release force of the first release liner with respect to the protective layer is P A , and the release force of the second release liner with respect to the protective layer is P B ,
A protective sheet in which peeling force P A and peeling force P B satisfy the following relational expression.
P A < P B
P B ≦2000mN/25mm

本発明によれば、保護層の両面にはく離シートを備えており、一方のはく離シートをはく離させるときに他方のはく離シートから前記保護層の浮きが生じることを抑制することと、前記保護層が泣き別れしてしまうことを抑制することとを十分に両立させることができる保護シートを提供することができる。 According to the present invention, release sheets are provided on both sides of the protective layer, and when one release sheet is peeled off, lifting of the protective layer from the other release sheet is suppressed, and the protective layer is It is possible to provide a protective sheet that can sufficiently suppress the occurrence of tearful separation.

本発明の一実施形態に係る保護シートの構成を示す模式断面図。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of a protective sheet according to an embodiment of the present invention. 保護シートの保護層を半導体ウェハなどの電子部品の保護対象面に貼り合わせるマウント装置の構成を示す断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view showing the configuration of a mounting device for bonding a protective layer of a protective sheet to a surface to be protected of an electronic component such as a semiconductor wafer.

以下、本発明の一実施形態について説明する。 An embodiment of the present invention will be described below.

[保護シート]
本発明の一実施形態に係る保護シート10は、図1に示したように、保護層1と、保護層1の一表面に配される第1はく離ライナー2と、保護層1の他表面に配される第2はく離ライナー3と、を備えている。
なお、以下では、本発明の一実施形態を、単に、本実施形態と称する。
本実施形態に係る保護シート10においては、保護層1は、水溶性高分子化合物を含む。
即ち、保護層1は、水溶性を有する。
一方で、第1はく離ライナー2及び第2はく離ライナー3は、非水溶性である。
[Protection sheet]
As shown in FIG. 1, a protective sheet 10 according to an embodiment of the present invention includes a protective layer 1, a first release liner 2 disposed on one surface of the protective layer 1, and a first release liner 2 disposed on the other surface of the protective layer 1. A second release liner 3 is provided.
Note that, hereinafter, one embodiment of the present invention will simply be referred to as the present embodiment.
In the protective sheet 10 according to this embodiment, the protective layer 1 contains a water-soluble polymer compound.
That is, the protective layer 1 has water solubility.
On the other hand, the first release liner 2 and the second release liner 3 are water-insoluble.

図1に示したように、本実施形態に係る保護シート10では、保護層1、第1はく離ライナー2、及び、第2はく離ライナー3は、平面視において略同一寸法を有している。
詳しくは、一実施形態に係る保護シート10においては、第1はく離ライナー2の内表面(保護層の一表面と対向する面)と保護層1の一表面とは、端縁どうしを合わせた形で略全域が重ね合され、第2はく離ライナー3の内表面(保護層1の他表面と対向する面)と保護層1の他表面とは、端縁どうしを合わせた形で略全域が重ね合わされている。
As shown in FIG. 1, in the protective sheet 10 according to the present embodiment, the protective layer 1, the first release liner 2, and the second release liner 3 have substantially the same dimensions in plan view.
Specifically, in the protective sheet 10 according to one embodiment, the inner surface of the first release liner 2 (the surface facing one surface of the protective layer) and the one surface of the protective layer 1 are in the shape where the edges are joined together. The inner surface of the second release liner 3 (the surface facing the other surface of the protective layer 1) and the other surface of the protective layer 1 overlap almost the entire area with their edges together. has been done.

本実施形態に係る保護シート10では、保護層1は、被着体に貼着させることができる程度の接着性を有する。
本実施形態に係る保護シート10では、保護層1は、タック性(感圧接着性)を有することが好ましい。
本実施形態の保護シート10は、保護層1を被着体(例えば、半導体ウェハなどの電子部品)に貼着させることで被着体に対する各種の処理を施す間、当該被着体の表面に異物が付着することを防止すべく用いられる。
In the protective sheet 10 according to the present embodiment, the protective layer 1 has adhesiveness to the extent that it can be attached to an adherend.
In the protective sheet 10 according to this embodiment, the protective layer 1 preferably has tackiness (pressure-sensitive adhesiveness).
By attaching the protective layer 1 to an adherend (for example, an electronic component such as a semiconductor wafer), the protective sheet 10 of this embodiment protects the surface of the adherend while performing various treatments on the adherend. It is used to prevent foreign matter from adhering.

本実施形態に係る保護シート10では、保護層1(より具体的には、保護層1の露出面)は、例えば、図2に示したようなマウント装置200を用いて、半導体ウェハなどの電子部品の保護対象面に貼着される。
マウント装置200は、図2に示したように、チャンバ201と、チャンバ201の底部に配される静電チャックテーブル202と、静電チャックテーブル202よりも上方でチャンバ201内に配されるヘッド部203と、チャンバ201の内部を減圧するためのポンプPと、を備えている。
なお、マウント装置200においては、静電チャックテーブル202に半導体ウェハなどの電子部品が取り付けられ、ヘッド部203に保護シート10が取り付けられる。
また、マウント装置200においては、保護シート10及び半導体ウェハなどの電子部品は、保護層1の露出面と前記保護対象面とが対向するような形で、ヘッド部203及び静電チャックテーブル202にそれぞれ取り付けられる。
さらに、図2に示したように、ヘッド部203に保持テーブル101を取り付けた状態とした上で、保持テーブル101に保護シート10が取り付けられてもよい。
In the protective sheet 10 according to the present embodiment, the protective layer 1 (more specifically, the exposed surface of the protective layer 1) is mounted on an electronic device such as a semiconductor wafer using a mounting device 200 as shown in FIG. 2, for example. Affixed to the protected surface of the component.
As shown in FIG. 2, the mounting device 200 includes a chamber 201, an electrostatic chuck table 202 disposed at the bottom of the chamber 201, and a head section disposed in the chamber 201 above the electrostatic chuck table 202. 203, and a pump P for reducing the pressure inside the chamber 201.
In addition, in the mounting device 200, an electronic component such as a semiconductor wafer is attached to the electrostatic chuck table 202, and a protective sheet 10 is attached to the head section 203.
In addition, in the mounting device 200, the protective sheet 10 and electronic components such as semiconductor wafers are mounted on the head section 203 and the electrostatic chuck table 202 in such a manner that the exposed surface of the protective layer 1 and the surface to be protected face each other. Each can be installed.
Furthermore, as shown in FIG. 2, the protective sheet 10 may be attached to the holding table 101 after the holding table 101 is attached to the head portion 203.

上下方向(鉛直方向)をZ軸方向とし、静電チャックテーブル202及びヘッド部203をZ軸に平行する平面で切断した際の切断面に沿った水平方向(図2における紙面に沿った水平方向)をX軸方向とし、Z軸及びX軸の両方と直交する方向(図2における紙面と直交する方向)をY軸方向としたときに、ヘッド部203をX軸方向及びY軸方向の少なくとも一方に移動させた上で、さらにZ軸方向に移動させることにより、ヘッド部203に取り付けられた保護層1の露出面を静電チャックテーブル202に取り付けられた半導体ウェハなどの電子部品の保護対象面に貼着させることができる。 The vertical direction (vertical direction) is the Z-axis direction, and the horizontal direction along the cut surface when the electrostatic chuck table 202 and head section 203 are cut on a plane parallel to the Z-axis (horizontal direction along the paper surface in FIG. 2) ) is the X-axis direction, and the direction perpendicular to both the Z-axis and the By moving it to one side and further moving it in the Z-axis direction, the exposed surface of the protective layer 1 attached to the head section 203 is attached to the electrostatic chuck table 202 to protect the electronic components such as semiconductor wafers. It can be attached to the surface.

ヘッド部203に保持テーブル101が取り付けられていない場合において、保護層1の露出面を前記保護対象面に貼着させるに際しては、静電チャックテーブル202を加温状態にしておいてもよい。
また、ヘッド部203に保持テーブル101が取り付けられた場合において、保護層1の露出面を前記保護対象面に貼着させるに際しては、保持テーブル101及び静電チャックテーブル202の少なくとも一方を加温状態にしておいてもよい。
When the holding table 101 is not attached to the head section 203, the electrostatic chuck table 202 may be kept in a heated state when attaching the exposed surface of the protective layer 1 to the surface to be protected.
Furthermore, when the holding table 101 is attached to the head section 203, at least one of the holding table 101 and the electrostatic chuck table 202 is heated when attaching the exposed surface of the protective layer 1 to the surface to be protected. You can leave it as

前記第1はく離ライナー2と前記第2はく離ライナー3とのそれぞれは、被着体に貼着する前の保護層1に異物が付着するのを防止すべく保護層1に貼合されている。
前記第1はく離ライナー2と前記第2はく離ライナー3とのそれぞれは、前記保護層1に対向する内表面と、該内表面とは反対面となる外表面とを備える。
The first release liner 2 and the second release liner 3 are each bonded to the protective layer 1 in order to prevent foreign matter from adhering to the protective layer 1 before being bonded to an adherend.
Each of the first release liner 2 and the second release liner 3 includes an inner surface facing the protective layer 1 and an outer surface opposite to the inner surface.

本実施形態に係る保護シート10は、第1はく離ライナー2を剥がして保護層1の一表面を露出させて、該一表面を被着体の保護対象面に貼着させるようにして用いられる。
本実施形態に係る保護シート10は、保護層1の一表面を被着体の保護対象面に貼着させた後、保護層1の他表面から第2はく離ライナー3を剥がして保護層1の他表面を露出させるようにして用いられてもよい。
すなわち、本実施形態に係る保護シート10は、第1はく離ライナー2を剥がして保護層1の一表面を露出させて、該一表面を被着体の保護対象面に貼着させた後、保護層1の他表面を第2はく離ライナー3で覆った状態で使用されてもよいし、保護層1の他表面から第2はく離ライナー3を剥がして、保護層1の他表面を露出させた状態で使用されてもよい。
The protective sheet 10 according to this embodiment is used by peeling off the first release liner 2 to expose one surface of the protective layer 1, and then adhering the one surface to the surface to be protected of an adherend.
The protective sheet 10 according to the present embodiment is manufactured by attaching one surface of the protective layer 1 to the surface to be protected of an adherend, and then peeling off the second release liner 3 from the other surface of the protective layer 1. It may also be used with other surfaces exposed.
That is, in the protective sheet 10 according to the present embodiment, the first release liner 2 is peeled off to expose one surface of the protective layer 1, and the one surface is adhered to the surface to be protected of the adherend, and then the protective sheet 10 is removed. The layer 1 may be used with the other surface of the layer 1 covered with the second release liner 3, or the second release liner 3 may be peeled off from the other surface of the protective layer 1 to expose the other surface of the protective layer 1. may be used in

本実施形態に係る保護シート10において、保護層1の一表面を被着体の保護対象面に貼着させるに際しては、少なくとも保護層1が、被着体の平面寸法と略同寸法を有するようにカットなどされる。 In the protective sheet 10 according to the present embodiment, when attaching one surface of the protective layer 1 to the surface to be protected of the adherend, at least the protective layer 1 has approximately the same planar dimension as the adherend. It is cut etc.

本実施形態に係る保護シート10では、保護層1に対する第1はく離ライナー2の剥離力をPとし、保護層1に対する第2はく離ライナー3の剥離力をPとしたときに、剥離力P、及び、剥離力Pが以下の関係式を満たすことが重要である。

<P
≦2000mN/25mm
In the protective sheet 10 according to the present embodiment, when the peeling force of the first release liner 2 to the protective layer 1 is P A and the peeling force of the second release liner 3 to the protective layer 1 is P B , the peeling force P It is important that A and the peeling force P B satisfy the following relational expression.

P A < P B
P B ≦2000mN/25mm

剥離力Pが2000mN/25mm以下であることにより、保護層1に対して第2はく離ライナー3が過度に被着されるようになることを抑制することができる。
これにより、第1はく離ライナー2を剥がして保護層1の一表面を露出させて、該一表面を被着体たる半導体ウェハの保護対象面に被着させた後に、保護層1の他表面から第2はく離ライナー3をはく離するときに、保護層1の一部が付着した状態で第2はく離ライナー3がはく離されることを抑制できる。
すなわち、第2はく離ライナー3を剥がすときに、保護層1が泣き別れしてしまうことを抑制できる。
また、剥離力P及び剥離力Pが、P<Pの関係を満たしていることにより、第1はく離ライナー2を剥がして保護層1の一表面を露出させるときに、保護層1の他表面側において第2はく離ライナー3が浮き上がってしまうことを抑制することができる。
なお、保護層1に対する第1はく離ライナー2の被着力及び保護層1に対する第2はく離ライナー3の被着力を適切にバランスさせる観点から、剥離力Pに対する剥離力Pの比(P/P)であるRは、1.1以上であることが好ましく、1.2以上であることがより好ましい。
また、前記Rは、2.0以上であることがより好ましく、3.0以上であることがより好ましく、4.0以上であることがより好ましく、5.0以上であることがより好ましい。前記Rの上限は、通常、100である。
前記Rが2.0以上であることにより、剥離力Pの値と剥離力Pの値との差を十分に大きくすることができるので、第1はく離ライナー2を保護層1から剥離しているときに、保護層1が第2はく離ライナー3から浮き上がることを十分に抑制することができる。
By setting the peeling force P B to 2000 mN/25 mm or less, it is possible to prevent the second release liner 3 from being excessively adhered to the protective layer 1 .
As a result, after peeling off the first release liner 2 to expose one surface of the protective layer 1 and adhering the one surface to the surface to be protected of the semiconductor wafer as the adherend, the other surface of the protective layer 1 is removed. When the second release liner 3 is peeled off, it is possible to prevent the second release liner 3 from being peeled off with part of the protective layer 1 attached.
That is, it is possible to prevent the protective layer 1 from tearing apart when the second release liner 3 is peeled off.
Furthermore, since the peeling force P A and the peeling force P B satisfy the relationship P A < PB , when the first release liner 2 is peeled off to expose one surface of the protective layer 1 , the protective layer 1 It is possible to prevent the second release liner 3 from floating up on the other surface side.
In addition, from the viewpoint of appropriately balancing the adhesion force of the first release liner 2 to the protective layer 1 and the adhesion force of the second release liner 3 to the protective layer 1, the ratio of the release force P B to the release force P A (P B / P A ) is preferably 1.1 or more, and more preferably 1.2 or more.
Further, the R is more preferably 2.0 or more, more preferably 3.0 or more, more preferably 4.0 or more, and even more preferably 5.0 or more. The upper limit of R is usually 100.
When R is 2.0 or more, the difference between the value of peeling force P A and the value of peeling force P B can be made sufficiently large, so that the first release liner 2 can be peeled off from the protective layer 1 . It is possible to sufficiently suppress the protective layer 1 from lifting off from the second release liner 3 during the release process.

本実施形態に係る保護シート10を上記関係式、すなわち、P<P、かつ、P≦2000mN/25mmを満たすものとするためには、保護層1の一表面に対する第1はく離ライナー2の内表面の被着力が適切となるように、第1はく離ライナー2の内表面に表面処理を施した上で、保護層1の他表面に対する第2はく離ライナー3の内表面の被着力が適切となるように、第2はく離ライナー3の内表面に表面処理を施す必要がある。 In order for the protective sheet 10 according to the present embodiment to satisfy the above relational expression, that is, P A < P B and P B ≦2000 mN/25 mm, the first release liner 2 on one surface of the protective layer 1 must be The inner surface of the first release liner 2 is subjected to a surface treatment so that the inner surface of the second release liner 3 has an appropriate adhesion force to the other surface of the protective layer 1. It is necessary to perform a surface treatment on the inner surface of the second release liner 3 so that it becomes .

本実施形態に係る保護シート10においては、剥離力Pは、5mN/25mm以上であることが好ましく、10mN/25mm以上であることがより好ましく、15mN以上であることがさらに好ましい。
また、本実施形態に係る保護シート10においては、剥離力Pは、1000mN/25mm以下であることが好ましく、500mN/25mm以下であることがより好ましく、300mN/25mm以下であることがさらに好ましく、200mN/25mm以下であることがよりさらに好ましい。
In the protective sheet 10 according to the present embodiment, the peeling force PA is preferably 5 mN/25 mm or more, more preferably 10 mN/25 mm or more, and even more preferably 15 mN or more.
Further, in the protective sheet 10 according to the present embodiment, the peeling force P A is preferably 1000 mN/25 mm or less, more preferably 500 mN/25 mm or less, and even more preferably 300 mN/25 mm or less. , 200 mN/25 mm or less is even more preferable.

本実施形態に係る保護シート10においては、剥離力Pは、70mN/25mm以上であることが好ましく、80mN/25mm以上であることが好ましい。
また、本実施形態に係る保護シート10においては、剥離力Pは、1500mN/25mm以下であることが好ましく、1000mN/25mm以下であることがさらに好ましい。
In the protective sheet 10 according to the present embodiment, the peeling force P B is preferably 70 mN/25 mm or more, and preferably 80 mN/25 mm or more.
Further, in the protective sheet 10 according to the present embodiment, the peeling force P B is preferably 1500 mN/25 mm or less, and more preferably 1000 mN/25 mm or less.

剥離力P及び剥離力Pは、引張試験機(商品名「オートグラフAG-IS」、株式会社島津製作所社製)を用いて測定することができる。
前記引張試験機を用いた剥離力Pについては、保護シート10から、長さ150mm、幅100mmの大きさのサンプルを切り出した後、該サンプルにおいて、第2はく離ライナー3を剥離させたものを供試体(以下、第1供試体という)とする。
また、前記引張り試験機を用いた剥離力Pについては、保護シート10から、長さ150mm、幅100mmの大きさのサンプルを切り出した後、該サンプルにおいて、第1はく離ライナー2を剥離させたものを供試体(以下、第2供試体という)とする。
なお、剥離力P及び剥離力Pの「mN/25mm」という単位は、幅100mmで測定した値を幅25mmに換算したものである。
The peeling force P A and the peeling force P B can be measured using a tensile tester (trade name "Autograph AG-IS", manufactured by Shimadzu Corporation).
Regarding the peeling force P A using the tensile tester, a sample with a length of 150 mm and a width of 100 mm was cut out from the protective sheet 10, and then the second release liner 3 was peeled off from the sample. A specimen (hereinafter referred to as the first specimen).
Regarding the peel force P B using the tensile tester, a sample with a length of 150 mm and a width of 100 mm was cut out from the protective sheet 10, and then the first release liner 2 was peeled off from the sample. Let this be the specimen (hereinafter referred to as the second specimen).
Note that the unit of "mN/25 mm" for the peeling force P A and the peeling force P B is the value measured at a width of 100 mm converted to a width of 25 mm.

剥離力Pの測定は、両面テープ(例えば、日東電工社製の商品名「No.500」)を介在させた状態で第1供試体における保護層の露出面をベアウェハの表面に貼り合わせた状態とし、引張試験機(例えば、島津製作所社製の商品名「オートグラフAG-IS」)を用いた180°ピール試験にて実施することができる。
なお、前記180°ピール試験は、温度23±2℃、相対湿度55±5%RH、及び、剥離速度300mm/minの条件で、長さ方向に第1はく離ライナー2を引っ張ることにより実施することができる。
また、剥離力Pの測定は、第1供試体を第2供試体に代え、長さ方向に引っ張る対象を第2はく離ライナー3に代えた以外は、剥離力Pの測定と同様に実施することができる。
また、剥離力P及び剥離力Pは、測定開始から30mmを始点、120mmを終点とする範囲の値の平均値とする。
The peeling force P was measured by attaching the exposed surface of the protective layer in the first specimen to the surface of the bare wafer with a double-sided tape (for example, Nitto Denko's product name "No. 500") interposed. A 180° peel test can be performed using a tensile tester (for example, "Autograph AG-IS" manufactured by Shimadzu Corporation).
Note that the 180° peel test is performed by pulling the first release liner 2 in the length direction under the conditions of a temperature of 23 ± 2 ° C., a relative humidity of 55 ± 5% RH, and a peeling speed of 300 mm/min. Can be done.
In addition, the measurement of the peel force P B was carried out in the same manner as the measurement of the peel force P A , except that the first specimen was replaced with the second specimen and the target to be pulled in the length direction was replaced with the second release liner 3. can do.
Furthermore, the peeling force P A and the peeling force P B are average values of values within a range from the start point of 30 mm to the end point of 120 mm from the start of measurement.

前記表面処理としては、例えば、剥離剤を用いて、第1はく離ライナー2の内表面及び第2はく離ライナー3の内表面を離型処理することが挙げられる。
前記剥離剤としては、本発明の効果を損なわない範囲で、任意の適切な剥離剤を用いることができる。
このような剥離剤としては、例えば、エチレン-ビニルアルコール共重合体、脂肪酸アミド系添加剤、低分子量ポリオレフィンワックス、長鎖アルキル系添加剤、ポリメチルペンテン、フッ素系剥離剤、シリコーン系剥離剤などが挙げられる。
Examples of the surface treatment include performing a mold release treatment on the inner surface of the first release liner 2 and the inner surface of the second release liner 3 using a release agent.
As the release agent, any suitable release agent can be used as long as the effects of the present invention are not impaired.
Examples of such release agents include ethylene-vinyl alcohol copolymers, fatty acid amide additives, low molecular weight polyolefin waxes, long-chain alkyl additives, polymethylpentene, fluorine release agents, silicone release agents, etc. can be mentioned.

前記エチレン-ビニルアルコール共重合体としては、例えば、エチレンと、酢酸ビニル、ギ酸ビニル、及び、プロピオン酸ビニルからなる群から選ばれる少なくとも1種との共重合体をケン化することによって得られるエチレン・ビニルアルコール共重合体などを用いることができる。 Examples of the ethylene-vinyl alcohol copolymer include ethylene obtained by saponifying a copolymer of ethylene and at least one member selected from the group consisting of vinyl acetate, vinyl formate, and vinyl propionate. - Vinyl alcohol copolymer etc. can be used.

前記脂肪酸アミド系添加剤としては、例えば、メチレンビスステアリン酸アミド、エチレンビスステアリン酸アミド、エチレンビスオレイン酸アミド、N,N-ジオレイルアジピン酸アミド、N-ステアリル-N’-ステアリル酸アミド(例えば、N-ステアリル-N’-ステアリル尿素など)などが挙げられる。
これらの脂肪酸アミド系添加剤は、1種単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
Examples of the fatty acid amide additives include methylene bisstearamide, ethylene bisstearamide, ethylene bisoleic acid amide, N,N-dioleyladipic acid amide, N-stearyl-N'-stearylic acid amide ( For example, N-stearyl-N'-stearylurea, etc.).
These fatty acid amide additives may be used alone or in combination of two or more.

前記低分子量ポリオレフィンワックスとしては、例えば、ポリエチレンワックスの低分子品、ポリプロピレンワックスの低分子品などが挙げられる。 Examples of the low molecular weight polyolefin wax include low molecular weight polyethylene waxes, low molecular weight polypropylene waxes, and the like.

前記長鎖アルキル系添加剤としては、例えば、長鎖アルキルペンダントポリマーを含むものが挙げられる。
このような長鎖アルキル系添加剤の市販品としては、ピーロイル(登録商標)1010(一方社油脂工業社製)、ピーロイル(登録商標)1010S(一方社油脂工業社製)などが挙げられる。
Examples of the long-chain alkyl additive include those containing long-chain alkyl pendant polymers.
Commercially available products of such long-chain alkyl additives include Pearoyl (registered trademark) 1010 (manufactured by Ichigosha Yushi Kogyo Co., Ltd.), Pearoyl (registered trademark) 1010S (manufactured by Ichigosha Yushi Kogyo Co., Ltd.), and the like.

前記ポリメチルペンテンとしては、4-メチル-1-ペンテンをベースとするオレフィンコポリマーなどが挙げられる。
このようなポリメチルペンテンの市販品としては、TPX(登録商標)MX001(三井化学社製)、TPX(登録商標)0004(三井化学社製)などが挙げられる。
Examples of the polymethylpentene include olefin copolymers based on 4-methyl-1-pentene.
Commercially available products of such polymethylpentene include TPX (registered trademark) MX001 (manufactured by Mitsui Chemicals, Inc.) and TPX (registered trademark) 0004 (manufactured by Mitsui Chemicals, Inc.).

前記フッ素系剥離剤は、フッ素系樹脂を含む。
前記フッ素系樹脂としては、PTFE(ポリテトラフルオロエチレン)、PVDF(ポリフッ化ビニリデン)、PCTFE(ポリクロロトリフルオロエチレン)、PVF(ポリフッ化ビニル)、PFA(テトラフルオロエチレンとパーフルオロアルコキシエチレンとの共重合体)、FEP(テトラフルオロエチレンとヘキサフルオロプロピレンとの共重合体)、ETFE(テトラフルオロエチレンとエチレンとの共重合体)、ECTFE(クロロトリフルオロエチレンとエチレンとの共重合体)、テトラフルオロエチレンとヘキサフルオロプロピレンとフッ化ビニリデンとの3元共重合体、フッ素ゴムなどが挙げられる。
これら各種のフッ素系樹脂は単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
The fluorine-based release agent contains a fluorine-based resin.
Examples of the fluororesin include PTFE (polytetrafluoroethylene), PVDF (polyvinylidene fluoride), PCTFE (polychlorotrifluoroethylene), PVF (polyvinyl fluoride), and PFA (a combination of tetrafluoroethylene and perfluoroalkoxyethylene). copolymer), FEP (copolymer of tetrafluoroethylene and hexafluoropropylene), ETFE (copolymer of tetrafluoroethylene and ethylene), ECTFE (copolymer of chlorotrifluoroethylene and ethylene), Examples include a terpolymer of tetrafluoroethylene, hexafluoropropylene, and vinylidene fluoride, and fluororubber.
These various fluororesins may be used alone or in combination of two or more.

前記シリコーン系剥離剤としては、例えば、オイル型、焼付型、及び、エマルジョン型の剥離剤が挙げられる。 Examples of the silicone release agent include oil type, baking type, and emulsion type release agents.

オイル型シリコーン剥離剤としては、ポリアルキルシロキサン、変性ポリアルキルシロキサン、及び、ポリアルキルシロキサンで変性した樹脂などの液状のシリコーン化合物を用いることができる。 As the oil type silicone release agent, liquid silicone compounds such as polyalkylsiloxane, modified polyalkylsiloxane, and resin modified with polyalkylsiloxane can be used.

前記ポリアルキルシロキサンとしては、側鎖及び末端の全てがメチル基であるジメチルシリコーン、側鎖の一部がフェニル基であるメチルフェニルシリコーン、側鎖の一部が水素であるメチルハイドロジェンシリコーンなどが挙げられる。
なお、ジメチルシリコーン、メチルフェニルシリコーン、及び、メチルハイドロジェンシリコーンは、いずれも、珪素(Si)どうしが酸素(O)を介して直鎖状に結合されたストレートシリコーンと呼ばれるものである。
Examples of the polyalkylsiloxane include dimethyl silicone in which all of the side chains and terminals are methyl groups, methylphenyl silicone in which part of the side chain is a phenyl group, and methylhydrogen silicone in which part of the side chain is hydrogen. Can be mentioned.
Note that dimethyl silicone, methylphenyl silicone, and methyl hydrogen silicone are all called straight silicones in which silicon (Si) is linearly bonded via oxygen (O).

前記変性ポリアルキルシロキサンとしては、前記ポリシロキサンの側鎖の一部に有機基を導入したものが挙げられる。
前記有機基としては、モノアミン基、ジアミン基、アミノ基、エポキシ基、カルビノール基、メルカプト基、カルボキシル基、ポリエーテル基、アラルキル基、フロロアルキル基などが挙げられる。
なお、前記変性ポリアルキルシロキサンのうち、モノアミン基、ジアミン基、アミノ基、エポキシ基、カルビノール基、メルカプト基、カルボキシル基といった反応性を有する有機基を有するものは、反応性シリコーンと呼ばれ、前記変性ポリアルキルシロキサンのうち、ポリエーテル基、アラルキル基、フロロアラルキル基といった反応性を有さない有機基を有するものでは、非反応性シリコーンと呼ばれる。
Examples of the modified polyalkylsiloxane include those in which an organic group is introduced into a part of the side chain of the polysiloxane.
Examples of the organic group include a monoamine group, a diamine group, an amino group, an epoxy group, a carbinol group, a mercapto group, a carboxyl group, a polyether group, an aralkyl group, and a fluoroalkyl group.
Among the modified polyalkylsiloxanes, those having reactive organic groups such as monoamine groups, diamine groups, amino groups, epoxy groups, carbinol groups, mercapto groups, and carboxyl groups are called reactive silicones. Among the modified polyalkylsiloxanes, those having non-reactive organic groups such as polyether groups, aralkyl groups, and fluoroaralkyl groups are called non-reactive silicones.

焼付型シリコーン剥離剤としては、上で説明した、前記ポリアルキルシロキサン、前記変性ポリアルキルシロキサン、及び、ポリアルキルシロキサンで変性した樹脂などの液状のシリコーン化合物に、パーオキサイドまたはパーオキサイド含有シリコーン化合物等の架橋剤を配合したものが挙げられる。 The baking-type silicone release agent is a liquid silicone compound such as the above-mentioned polyalkylsiloxane, the modified polyalkylsiloxane, and a resin modified with polyalkylsiloxane, and a peroxide or a peroxide-containing silicone compound. Examples include those containing a crosslinking agent.

エマルジョン型シリコーン剥離剤は、水系媒体にシリコーン化合物が分散されたシリコーン化合物の水分散体である。
前記エマルジョン型シリコーン剥離剤は、シリコーン系の水分散性樹脂とも呼ばれる。
前記シリコーン化合物としては、上で説明した、ポリアルキルシロキサン、変性ポリアルキルシロキサン、及び、ポリアルキルシロキサンで変性した樹脂などの液状のシリコーン化合物が挙げられる。
An emulsion type silicone release agent is an aqueous dispersion of a silicone compound in which the silicone compound is dispersed in an aqueous medium.
The emulsion-type silicone release agent is also called a silicone-based water-dispersible resin.
Examples of the silicone compound include the liquid silicone compounds described above, such as polyalkylsiloxane, modified polyalkylsiloxane, and resin modified with polyalkylsiloxane.

前記ポリアルキルシロキサンなどのシリコーン化合物は、熱架橋性を有している。
そして、このようなシリコーン化合物では、熱架橋の程度を調整することにより、剥離力の程度を容易に調整することができる。
そのため、上記を考慮すると、上記した各種剥離剤の中でも、シリコーン系剥離剤を用いることが好ましい。
The silicone compound such as the polyalkylsiloxane has thermal crosslinkability.
In such a silicone compound, the degree of peeling force can be easily adjusted by adjusting the degree of thermal crosslinking.
Therefore, in consideration of the above, it is preferable to use a silicone-based release agent among the various release agents described above.

なお、剥離剤は、通常、液状であり、剥離性を高めたい対象物に塗布するような形で用いられる。
前記剥離剤の塗布方法としては、各種公知の塗布方法を採用することができる。
各種公知の塗布方法としては、例えば、グラビアコート法やリバースコート法などのロールコート法、マイヤーバーなどのバーコード法、スプレーコート法、エアーナイフコート法などが挙げられる。
なお、上記剥離剤は、有機溶剤(例えば、エチルメチルケトン)などで希釈された上で前記対象物に塗布されてもよい。
また、前記剥離剤は、乾燥後の厚さが、0.05μm以上1μm以下の範囲となるように塗布されることが好ましい。
Note that the release agent is usually in liquid form, and is used in a form that is applied to the object from which it is desired to improve releasability.
Various known coating methods can be employed as the method for coating the release agent.
Examples of various known coating methods include roll coating methods such as gravure coating and reverse coating, barcode methods such as Meyer bar, spray coating, and air knife coating.
Note that the above-mentioned release agent may be diluted with an organic solvent (for example, ethyl methyl ketone) and then applied to the object.
Further, the release agent is preferably applied so that the thickness after drying is in the range of 0.05 μm or more and 1 μm or less.

前記剥離剤を用いて、第1はく離ライナー2の内表面及び第2はく離ライナー3の内表面を離型処理する場合には、第1はく離ライナー2の内表面に塗布する剥離剤の種類と第2はく離ライナー3の内表面に塗布する剥離剤の種類とを異ならせれば、保護層1に対する第1はく離ライナー2の内表面の剥離力Pと、保護層1に対する第2はく離ライナー3の内表面の剥離力Pとを異ならせることができる。
また、第1はく離ライナー2の内表面に塗布する剥離剤及び第2はく離ライナー3の内表面に塗布する剥離剤として、共に、シリコーン系剥離剤と用いる場合には、上で説明したように、第1はく離ライナー2の内表面に塗布された前記シリコーン系剥離剤の熱架橋の程度と、第2はく離ライナー3の内表面に塗布された前記シリコーン系剥離剤の熱架橋の程度と異ならせれば、保護層1に対する第1はく離ライナー2の内表面の剥離力Pと保護層1に対する第2はく離ライナー3の内表面の剥離力Pとを異ならせることができる。
なお、熱架橋の程度は、加熱温度を異ならせたり、加熱時間を異ならせたりすることにより調整することができる。
さらに、第1はく離ライナー2の内表面に塗布する剥離剤、及び、及び第2はく離ライナー3の内表面に塗布する剥離剤を同一種のものとする場合には、有機溶剤などでの希釈倍率を変えた剥離剤を用いて、第1はく離ライナー2の内表面及び第2はく離ライナー3の内表面のそれぞれを塗布してもよい。このような形で塗布処理を行った場合においても、保護層1に対する第1はく離ライナー2の内表面の剥離力Pと保護層1に対する第2はく離ライナー3の内表面の剥離力Pとを異ならせることができる。
When the release agent is used to release the inner surface of the first release liner 2 and the inner surface of the second release liner 3, the type of release agent applied to the inner surface of the first release liner 2 and the If the type of release agent applied to the inner surface of the second release liner 3 is different, the release force P A of the inner surface of the first release liner 2 to the protective layer 1 and the inner surface of the second release liner 3 to the protective layer 1 can be changed. The peeling force PB of the surface can be made different.
Furthermore, when a silicone release agent is used as both the release agent applied to the inner surface of the first release liner 2 and the release agent applied to the inner surface of the second release liner 3, as explained above, If the degree of thermal crosslinking of the silicone release agent applied to the inner surface of the first release liner 2 is different from the degree of thermal crosslinking of the silicone release agent applied to the inner surface of the second release liner 3, , the release force P A of the inner surface of the first release liner 2 against the protective layer 1 and the release force P B of the inner surface of the second release liner 3 against the protective layer 1 can be made different.
Note that the degree of thermal crosslinking can be adjusted by varying the heating temperature or heating time.
Furthermore, when the release agent applied to the inner surface of the first release liner 2 and the release agent applied to the inner surface of the second release liner 3 are of the same type, the dilution ratio with an organic solvent etc. The inner surface of the first release liner 2 and the inner surface of the second release liner 3 may each be coated using different release agents. Even when the coating process is performed in this manner, the peeling force P A of the inner surface of the first release liner 2 with respect to the protective layer 1 and the peeling force P B of the inner surface of the second release liner 3 with respect to the protective layer 1 are can be made different.

また、前記表面処理としては、例えば、マット加工やエンボス加工などによって、第1はく離ライナー2の内表面(保護層1が配される面)及び第2はく離ライナー3の内表面に凹凸を設けることが挙げられる。
第1はく離ライナー2の内表面及び第2はく離ライナー3の内表面に凹凸を設ける場合においては、第1はく離ライナー2の内表面の算術平均粗さRaは、0.1μm以上であることが好ましく、0.5μm以上であることがより好ましく、1.0μm以上であることがさらに好ましい。
また、第1はく離ライナー2の内表面の算術平均粗さRaは、50μm以下であることが好ましく、30μm以下であることがより好ましく、10μm以下であることがさらに好ましい。
さらに、第2はく離ライナー3の内表面の算術平均粗さRaは、0.050μm以上であることが好ましく、0.075μm以上であることがより好ましく、0.100μm以上であることがさらに好ましい。
Further, as the surface treatment, for example, unevenness may be provided on the inner surface of the first release liner 2 (the surface on which the protective layer 1 is disposed) and the inner surface of the second release liner 3 by matting, embossing, etc. can be mentioned.
In the case where the inner surface of the first release liner 2 and the inner surface of the second release liner 3 are provided with irregularities, the arithmetic mean roughness Ra of the inner surface of the first release liner 2 is preferably 0.1 μm or more. , more preferably 0.5 μm or more, and even more preferably 1.0 μm or more.
Further, the arithmetic mean roughness Ra of the inner surface of the first release liner 2 is preferably 50 μm or less, more preferably 30 μm or less, and even more preferably 10 μm or less.
Furthermore, the arithmetic mean roughness Ra of the inner surface of the second release liner 3 is preferably 0.050 μm or more, more preferably 0.075 μm or more, and even more preferably 0.100 μm or more.

第1はく離ライナー2の内表面の算術平均粗さRa及び第2はく離ライナー3の内表面の算術平均粗さRaは、コンフォーカルレーザー顕微鏡(例えば、商品名「OPTELICS H300」、レーザーテック社製)を用いて測定することができる。 The arithmetic mean roughness Ra of the inner surface of the first release liner 2 and the arithmetic mean roughness Ra of the inner surface of the second release liner 3 are determined using a confocal laser microscope (for example, trade name "OPTELICS H300", manufactured by Lasertech). It can be measured using

算術平均粗さRaの値が大きいほど、第1はく離ライナー2の内表面及び第2はく離ライナー3の内表面と、保護層1の表面との接触面積は小さくなる。
そのため、算術平均粗さRaの値が大きいほど、保護層1に対する第1はく離ライナー2の内表面の剥離力P、及び、保護層1に対する第2はく離ライナー3の内表面の剥離力Pは小さくなる(軽剥離できるようになる)。
したがって、第1はく離ライナー2の内表面の算術平均粗さRaの値を第2はく離ライナー3の内表面の算術平均粗さRaの値よりも大きくすることにより、剥離力P<剥離力Pの関係が満たされるようになる。
また、第1はく離ライナー2の内表面の算術平均粗さRaが上記数値範囲内にあり、第2はく離ライナー3の内表面の算術平均粗さRaが上記数値範囲内にあることにより、本実施形態に係る保護シート10を、上記各関係式を満たすものとし易くなる。
The larger the value of the arithmetic mean roughness Ra, the smaller the contact area between the inner surface of the first release liner 2 and the inner surface of the second release liner 3 and the surface of the protective layer 1.
Therefore, the larger the value of the arithmetic mean roughness Ra, the more the peeling force P A of the inner surface of the first release liner 2 with respect to the protective layer 1 and the peeling force P B of the inner surface of the second release liner 3 with respect to the protective layer 1. becomes smaller (can be easily peeled off).
Therefore, by making the value of the arithmetic mean roughness Ra of the inner surface of the first release liner 2 larger than the value of the arithmetic mean roughness Ra of the inner surface of the second release liner 3, release force P A < release force P Relationship B will be satisfied.
Furthermore, since the arithmetic mean roughness Ra of the inner surface of the first release liner 2 is within the above numerical range and the arithmetic mean roughness Ra of the inner surface of the second release liner 3 is within the above numerical range, this implementation is possible. It becomes easy to make the protective sheet 10 according to this embodiment satisfy each of the above-mentioned relational expressions.

保護層1は、上で説明したように、被着体の保護対象面に貼り合わせて用いられる。
前記被着体としては、電子部品が挙げられ、前記電子部品としては、例えば、半導体ウェハなどが挙げられる。
前記半導体ウェハとしては、一表面側に格子状に区画された領域(以下、格子状区画領域ともいう)が形成された半導体ウェハであって、前記格子状区画領域のそれぞれに回路パターンが形成されているとともに電極部が配されている半導体ウェハが挙げられる。
前記電子部品が上記のごとき半導体ウェハである場合、保護層1は、前記半導体ウェハの一表面に貼り合わせて用いられる。
このように、保護層1が前記半導体ウェハの一表面に貼り合わされることにより、前記半導体ウェハを分割(割断)して複数の半導体チップを得るときに分割部(割断部)付近の前記半導体ウェハの一部が粉状化されるなどして発生する微細な異物が、前記一表面に形成された各回路パターン(前記格子状区画領域ごとに形成された回路パターン)、及び、前記一表面に配される各電極部(前記格子状区画領域ごとに配される電極部)に付着することを抑制することができる。
As explained above, the protective layer 1 is used by being attached to the surface of the adherend to be protected.
Examples of the adherend include electronic components, and examples of the electronic components include semiconductor wafers.
The semiconductor wafer is a semiconductor wafer in which a grid-shaped partitioned area (hereinafter also referred to as grid-shaped partitioned area) is formed on one surface side, and a circuit pattern is formed in each of the grid-shaped partitioned area. An example of this is a semiconductor wafer in which an electrode part is arranged.
When the electronic component is a semiconductor wafer as described above, the protective layer 1 is used by being attached to one surface of the semiconductor wafer.
In this way, by bonding the protective layer 1 to one surface of the semiconductor wafer, when dividing (cutting) the semiconductor wafer to obtain a plurality of semiconductor chips, the semiconductor wafer near the dividing part (cutting part) Fine foreign matter generated when a part of It is possible to suppress adhesion to each electrode portion arranged (electrode portion arranged for each grid-like partitioned region).

前記第2はく離ライナー3は、長手方向と短手方向とを備えた長尺の帯状であってもよい。
保護シート10は、一つの帯状の第2はく離ライナー3と、保護対象面と同一形状を有する複数の保護層1とを備え、該複数の保護層1が第2はく離ライナー3の長手方向に並んで配置されたものであってもよく、該長手方向において隣り合う保護層1の間に一定の間隔が設けられたものであってもよい。
また、その場合、第1はく離ライナー2は、第2はく離ライナー3と同様に帯状であってもよい。
The second release liner 3 may be in the form of a long strip having a longitudinal direction and a lateral direction.
The protective sheet 10 includes one strip-shaped second release liner 3 and a plurality of protective layers 1 having the same shape as the surface to be protected, and the plurality of protective layers 1 are arranged in the longitudinal direction of the second release liner 3. The protective layers 1 may be arranged in such a manner that a certain interval may be provided between adjacent protective layers 1 in the longitudinal direction.
Further, in that case, the first release liner 2 may be strip-shaped like the second release liner 3.

前記第2はく離ライナー3は、長手方向のみならず短手方向においても保護層1より寸法が大きくてもよい。
即ち、保護シート10は、保護層1の外周縁よりも外側に第2はく離ライナー3がはみ出し、且つ、第2はく離ライナー3のはみ出しが保護層1の全周において生じているものであってもよい。
The second release liner 3 may be larger than the protective layer 1 not only in the longitudinal direction but also in the lateral direction.
That is, even if the protective sheet 10 has the second release liner 3 protruding outward from the outer peripheral edge of the protective layer 1, and the second release liner 3 protrudes over the entire circumference of the protective layer 1, good.

保護シート10は、例えば、以下のようにして作製することができる。

(1)アプリケータなどを用いて、水溶性高分子化合物とともに余剰な液分を含む水溶性樹脂組成物を第2はく離ライナー3上に所定厚み(例えば、5μm~30μm)で塗布する。
(2)塗布後の水溶性樹脂組成物を所定温度で所定時間(例えば、110℃で2分間)乾燥する。これにより、第2はく離ライナー3上に水溶性高分子化合物を含む保護層1を形成する。
(3)保護層1において、第2はく離ライナー3が配されている面の反対面(保護層1の露出面)に、所定の温度(例えば、70℃)で第1はく離ライナー2を貼り合わせる。
The protective sheet 10 can be produced, for example, as follows.

(1) Using an applicator or the like, a water-soluble resin composition containing a water-soluble polymer compound and an excess liquid is applied onto the second release liner 3 to a predetermined thickness (for example, 5 μm to 30 μm).
(2) The water-soluble resin composition after application is dried at a predetermined temperature for a predetermined time (eg, 110° C. for 2 minutes). As a result, the protective layer 1 containing the water-soluble polymer compound is formed on the second release liner 3.
(3) In the protective layer 1, the first release liner 2 is attached to the surface opposite to the surface on which the second release liner 3 is arranged (the exposed surface of the protective layer 1) at a predetermined temperature (for example, 70° C.) .

本実施形態に係る保護シート10においては、保護層1は、水溶性高分子化合物とともに余剰な液分を含む水溶性樹脂組成として、水に前記水溶性高分子化合物を分散させたもの(以下、保護層形成組成物という)を用いて作製されることが好ましい。
前記保護層形成組成物では、水100質量部に対して、前記水溶性高分子化合物が5質量部以上80質量部以下含まれていることが好ましく、10質量部以上70質量部以下含まれていることがより好ましく、15質量部以上60質量部以下含まれていることがさらに好ましい。
また、前記保護層形成組成物では、水に前記水溶性高分子化合物が溶解した状態となっていることが好ましい。
なお、前記保護層形成組成物では、前記水溶性高分子化合物は、20~90℃の温度で処理されることにより水に溶解した状態とすることができる。
さらに、前記保護層形成組成物は、25℃における粘度が0.03Pa・s以上であることが好ましく、0.05Pa・s以上であることがより好ましく、0.1Pa・s以上であることがさらに好ましい。
25℃における粘度が上記した下限値以上であることにより、前記保護層形成組成物を第1はく離ライナー2上に塗布して該第1はく離ライナー2上に保護層1を形成したときに、保護層1の厚みが変動し易くなることを抑制することができる。
また、前記保護層形成組成物は、25℃における粘度が15Pa・s以下であることが好ましく、10Pa・s以下であることがより好ましく、5Pa・s以下であることがさらに好ましい。
25℃における粘度が上記した上限値以下であることにより、前記保護層形成組成物を第1はく離ライナー2上に塗布するときの塗布性を向上させることができる。
なお、25℃における前記保護層形成組成物の粘度は、測定装置として、英弘精機社製のデジタル粘度計(製品名「DV-I Prime」)を用いた上で、LV-3スピンドルを用いて、回転数50rpmという条件を採用することにより測定することができる。
In the protective sheet 10 according to the present embodiment, the protective layer 1 is a water-soluble resin composition containing a water-soluble polymer compound and an excess liquid, in which the water-soluble polymer compound is dispersed in water (hereinafter referred to as It is preferable to use a protective layer forming composition (referred to as a protective layer forming composition).
In the protective layer forming composition, the water-soluble polymer compound is preferably contained in an amount of 5 parts by mass or more and 80 parts by mass or less, and 10 parts by mass or more and 70 parts by mass or less, per 100 parts by mass of water. More preferably, the content is 15 parts by mass or more and 60 parts by mass or less.
Further, in the protective layer forming composition, it is preferable that the water-soluble polymer compound is dissolved in water.
In the protective layer forming composition, the water-soluble polymer compound can be dissolved in water by being treated at a temperature of 20 to 90°C.
Furthermore, the viscosity of the protective layer forming composition at 25° C. is preferably 0.03 Pa·s or more, more preferably 0.05 Pa·s or more, and preferably 0.1 Pa·s or more. More preferred.
When the viscosity at 25° C. is equal to or higher than the above lower limit, when the protective layer forming composition is applied onto the first release liner 2 to form the protective layer 1 on the first release liner 2, It is possible to prevent the thickness of the layer 1 from easily fluctuating.
Further, the viscosity of the protective layer forming composition at 25° C. is preferably 15 Pa·s or less, more preferably 10 Pa·s or less, and even more preferably 5 Pa·s or less.
When the viscosity at 25° C. is below the above-mentioned upper limit, the coating properties when coating the protective layer forming composition on the first release liner 2 can be improved.
The viscosity of the protective layer forming composition at 25°C was measured using a digital viscometer manufactured by Hideko Seiki Co., Ltd. (product name "DV-I Prime") and an LV-3 spindle. , the rotation speed is 50 rpm.

前記水溶性高分子化合物としては、例えば、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリビニルピロリドン(PVP)、水溶性ポリエステル(PES)、ポリエチレンオキシド(PEO)などが挙げられる。
前記水溶性高分子化合物は、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン、水溶性ポリエステル、ポリエチレンオキシドなどを単独で用いてもよいし、これらの2種以上を組み合わせて用いてもよい。
前記水溶性高分子化合物としては、ポリビニルアルコール、水溶性ポリエステル、及び、ポリエチレンオキシドからなる群から選択される少なくとも1種を用いることが好ましく、ポリビニルアルコールを用いることがより好ましい。
Examples of the water-soluble polymer compound include polyvinyl alcohol (PVA), polyvinylpyrrolidone (PVP), water-soluble polyester (PES), and polyethylene oxide (PEO).
As the water-soluble polymer compound, polyvinyl alcohol, polyvinylpyrrolidone, water-soluble polyester, polyethylene oxide, etc. may be used alone, or two or more of these may be used in combination.
As the water-soluble polymer compound, it is preferable to use at least one selected from the group consisting of polyvinyl alcohol, water-soluble polyester, and polyethylene oxide, and it is more preferable to use polyvinyl alcohol.

前記ポリビニルアルコールは、けん化度が50以上98以下であることが好ましく、60以上90以下であることがより好ましい。
けん化度が上記数値範囲内であることにより、前記ポリビニルアルコールは、十分な水溶性を示すことができることに加えて、前記ポリビニルアルコールを前記保護層形成組成物に含ませた場合においては、第1はく離ライナー2上への前記保護層形成組成物の塗布を作業性良く実施することができる。
前記ポリビニルアルコールのけん化度は、プロトン磁気共鳴分光法(H-NMR測定法)によって測定することができる。
なお、測定試料中に添加剤が含まれており、該添加剤由来のピークがけん化度の算出に用いるピークに重なる場合には、前記測定試料にメタノール抽出などを施して前記添加剤を分離した後に、前記ポリビニルアルコールのけん化度を測定する。
前記ポリビニルアルコールのけん化度は、以下のような条件で測定することができる。

<測定条件>
・分析装置 FT-NMR : Bruker Biospin , AVANCE III-400
・観測周波数 400MHz(1H)
・測定溶媒 重水、または、重ジメチルスルホキシド(重DMSO)
・測定温度 80℃
・化学シフト基準 外部標準TSP-d4(0.00ppm)(重水測定時)
測定溶媒(2.50ppm)(重DMSO測定時)

なお、前記ポリビニルアルコールのけん化度は、ビニルアルコールユニット(VOH)のメチレン基由来のピーク(重水;2.0~1.0ppm、重DMSO;1.9~1.0ppm)と、酢酸ビニルユニット(VAc)のアセチル基由来のピーク(重水;2.1ppm付近、重DMSO;2.0ppm付近)とを用いて、以下の式に基づいて算出する。
以下の式において、[VOH(-CH2)-]は、ビニルアルコールユニット中の-CH2-由来のピークの強度を意味し、[VAc(CH3CO-)]は、酢酸ビニルユニット中のCH3CO-由来のピーク強度を意味する。
The degree of saponification of the polyvinyl alcohol is preferably 50 or more and 98 or less, more preferably 60 or more and 90 or less.
By having a saponification degree within the above numerical range, the polyvinyl alcohol can exhibit sufficient water solubility, and when the polyvinyl alcohol is included in the protective layer forming composition, the first The protective layer forming composition can be applied onto the release liner 2 with good workability.
The degree of saponification of the polyvinyl alcohol can be measured by proton magnetic resonance spectroscopy ( 1 H-NMR measurement).
In addition, if the measurement sample contained an additive and the peak derived from the additive overlapped with the peak used for calculating the degree of saponification, the measurement sample was subjected to methanol extraction etc. to separate the additive. Afterwards, the degree of saponification of the polyvinyl alcohol is measured.
The degree of saponification of the polyvinyl alcohol can be measured under the following conditions.

<Measurement conditions>
・Analyzer FT-NMR: Bruker Biospin, AVANCE III-400
・Observation frequency 400MHz(1H)
・Measurement solvent Heavy water or heavy dimethyl sulfoxide (heavy DMSO)
・Measurement temperature 80℃
・Chemical shift standard External standard TSP-d4 (0.00ppm) (when measuring heavy water)
Measurement solvent (2.50ppm) (during heavy DMSO measurement)

The degree of saponification of the polyvinyl alcohol is determined by the peak derived from the methylene group of the vinyl alcohol unit (VOH) (heavy water: 2.0 to 1.0 ppm, heavy DMSO: 1.9 to 1.0 ppm) and the peak derived from the acetyl group of the vinyl acetate unit (VAc). It is calculated based on the following formula using the peak of (heavy water: around 2.1 ppm, heavy DMSO: around 2.0 ppm).
In the following formula, [VOH(-CH 2 )-] means the intensity of the peak derived from -CH 2 - in the vinyl alcohol unit, and [VAc(CH 3 CO-)] means the intensity of the peak derived from -CH 2 - in the vinyl alcohol unit. It means the peak intensity derived from CH 3 CO-.

Figure 2024007757000002
Figure 2024007757000002

前記ポリビニルアルコールは、平均重合度が100以上1000以下であることが好ましく、100以上800以下であることがより好ましい。
平均重合度が上記数値範囲内であることにより、前記ポリビニルアルコールは、十分な水溶性を示すことができることに加えて、前記ポリビニルアルコールを前記保護層形成組成物に含ませた場合においては、第1はく離ライナー2上への前記保護層形成組成物の塗布を作業性良く実施することができる。
前記ポリビニルアルコールの平均重合度は、水系GPCによって測定することができる。
前記ポリビニルアルコールの平均重合度は、以下のような条件で測定することができる。

<測定条件>
・分析装置 Agilent, 1260Infinity
・カラム TSKgel G6000PWXL(東ソー社製)及びTSKgel G3000PWXL(東ソー社製)
上記2本のカラムは直列接続する。
・カラム温度 40℃
・溶離液 0.2Mの硝酸ナトリウム水溶液
・注入量 100μL
・検出器 示差屈折計(RI)
・標準試料 PEG標準試料及びPVA標準試料

具体的な測定は、以下のようにして行う。

(1)PEG標準試料を用いたGPC測定によって、被測定試料(PVA)及びPVA標準試料の質量平均分子量Mwをそれぞれ算出する。なお、PVA標準試料は、平均重合度が既知のものである。
(2)PVA標準試料の平均重合度、及び、算出したPVA標準試料の質量平均分子量Mwを用いて検量線を作成する。
(3)作成した検量線を用いて、被測定試料(PVA)の質量平均分子量Mwから被測定試料(PVA)の平均重合度を求める。
The average degree of polymerization of the polyvinyl alcohol is preferably 100 or more and 1000 or less, more preferably 100 or more and 800 or less.
By having an average degree of polymerization within the above numerical range, the polyvinyl alcohol can exhibit sufficient water solubility, and when the polyvinyl alcohol is included in the protective layer forming composition, the polyvinyl alcohol can exhibit sufficient water solubility. 1. The protective layer forming composition can be applied onto the release liner 2 with good workability.
The average degree of polymerization of the polyvinyl alcohol can be measured by aqueous GPC.
The average degree of polymerization of the polyvinyl alcohol can be measured under the following conditions.

<Measurement conditions>
・Analyzer Agilent, 1260Infinity
・Column TSKgel G6000PWXL (manufactured by Tosoh Corporation) and TSKgel G3000PWXL (manufactured by Tosoh Corporation)
The above two columns are connected in series.
・Column temperature 40℃
・Eluent: 0.2M sodium nitrate aqueous solution ・Injection volume: 100μL
・Detector Differential refractometer (RI)
・Standard sample PEG standard sample and PVA standard sample

Specific measurements are performed as follows.

(1) Calculate the mass average molecular weight Mw of the sample to be measured (PVA) and the PVA standard sample by GPC measurement using a PEG standard sample. Note that the PVA standard sample has a known average degree of polymerization.
(2) Create a calibration curve using the average degree of polymerization of the PVA standard sample and the calculated mass average molecular weight Mw of the PVA standard sample.
(3) Using the prepared calibration curve, determine the average degree of polymerization of the sample to be measured (PVA) from the mass average molecular weight Mw of the sample to be measured (PVA).

また、前記水溶性高分子として、前記ポリビニルアルコールを用いる場合には、けん化度が異なる複数のポリビニルアルコールを組み合わせて用いてもよいし、平均重合度が異なる複数のポリビニルアルコールを組み合わせて用いてもよい。 Further, when the polyvinyl alcohol is used as the water-soluble polymer, a plurality of polyvinyl alcohols having different degrees of saponification may be used in combination, or a plurality of polyvinyl alcohols having different average degrees of polymerization may be used in combination. good.

前記水溶性ポリエステルは、多価カルボン酸の残基とポリオールの残基とを有する。
前記水溶性ポリエステルは、例えば、多価カルボン酸成分とポリオール成分とを含むモノマー成分の重合生成物である。
なお、前記水溶性ポリエステルが水溶性を有することは、技術常識に基づいて判断することができる。
The water-soluble polyester has a polyhydric carboxylic acid residue and a polyol residue.
The water-soluble polyester is, for example, a polymerization product of monomer components including a polyhydric carboxylic acid component and a polyol component.
In addition, whether the water-soluble polyester has water solubility can be determined based on common technical knowledge.

前記水溶性ポリエステルは、以下の(1)~(4)のうちの少なくとも1つを満たすことが好ましい。
(1)前記水溶性ポリエステルで形成された厚み20μmの薄膜の表面全体に常温(23±2℃)の水を0.005MPaの噴霧圧で20分間噴霧すると、この薄膜が全て水に溶解する。
(2)前記水溶性ポリエステルで形成された厚み20μmの薄膜の表面全体に50℃の水を0.005MPaの噴霧圧で10分間噴霧すると、この薄膜が全て水に溶解する。
(3)前記水溶性ポリエステルと常温の水とを、水溶性ポリエステル:常温の水=1:5の質量比で混合して混合液を得て、該混合液に超音波を20分間照射すると、前記水溶性ポリエステルが水に全て溶解する。
(4)前記水溶性ポリエステルと50℃の水とを、水溶性ポリエステル:50℃の水=1:5の質量比で混合して混合液を得て、該混合液に超音波を10分間照射すると、前記水溶性ポリエステルが水に全て溶解する。
The water-soluble polyester preferably satisfies at least one of the following (1) to (4).
(1) When water at room temperature (23±2° C.) is sprayed for 20 minutes at a spray pressure of 0.005 MPa over the entire surface of a 20 μm thick thin film made of the water-soluble polyester, the entire thin film dissolves in water.
(2) When water at 50° C. is sprayed at a spray pressure of 0.005 MPa for 10 minutes over the entire surface of a 20 μm thick thin film made of the water-soluble polyester, the entire thin film dissolves in water.
(3) When the water-soluble polyester and room temperature water are mixed at a mass ratio of water-soluble polyester: room temperature water = 1:5 to obtain a mixed solution, and when the mixed solution is irradiated with ultrasound for 20 minutes, The water-soluble polyester is completely dissolved in water.
(4) Mix the water-soluble polyester and 50°C water at a mass ratio of water-soluble polyester: 50°C water = 1:5 to obtain a mixed solution, and irradiate the mixed solution with ultrasound for 10 minutes. Then, all of the water-soluble polyester is dissolved in water.

保護層1の厚みは、2μm以上70μm以下であることが好ましく、3μm以上50μm以下であることがより好ましく、5μm以上40μm以下であることがさらに好ましい。
保護層1の厚みは、例えば、ダイアルゲージ(PEACOCK社製、型式R-205)を用いて、ランダムに選んだ任意の5点の厚みを測定し、これらの厚みを算術平均することにより求めることができる。
The thickness of the protective layer 1 is preferably 2 μm or more and 70 μm or less, more preferably 3 μm or more and 50 μm or less, and even more preferably 5 μm or more and 40 μm or less.
The thickness of the protective layer 1 can be determined by, for example, measuring the thickness at five randomly selected points using a dial gauge (manufactured by PEACOCK, model R-205), and taking the arithmetic average of these thicknesses. Can be done.

第1はく離ライナー2としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)などの樹脂を用いて作製された樹脂シートが挙げられる。
第1はく離ライナー2が上記のごとき樹脂シートで構成されている場合、前記樹脂シートでは、少なくとも保護層1に貼り合わされる面に、保護層1との被着力を適切に調整すべく、上で説明したような表面処理が施され得る。
また、第2はく離ライナー3としては、第1はく離ライナー2と同様に、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)などの樹脂を用いて作製された樹脂シートが挙げられる。
第2はく離ライナー3が上記のごとき樹脂シートで構成されている場合、前記樹脂シートでは、少なくとも保護層1に貼り合わされる面に、保護層1との被着力を適切に調整すべく、上で説明したような表面処理が施され得る。
Examples of the first release liner 2 include a resin sheet made using a resin such as polyethylene terephthalate (PET).
When the first release liner 2 is made of a resin sheet as described above, the resin sheet has a layer on at least the surface to be bonded to the protective layer 1 in order to appropriately adjust the adhesion to the protective layer 1. Surface treatments as described may be applied.
Further, as the second release liner 3, like the first release liner 2, for example, a resin sheet made using a resin such as polyethylene terephthalate (PET) can be mentioned.
When the second release liner 3 is made of a resin sheet as described above, in the resin sheet, at least the surface to be bonded to the protective layer 1 is coated with an adhesive layer on the surface of the resin sheet in order to appropriately adjust the adhesion to the protective layer 1. Surface treatments as described may be applied.

第1はく離ライナー2の厚みをTとし、第2はく離ライナー3の厚みをTとしたときに、厚みT及び厚みTは、以下の関係式を満たしていることが好ましい。

<T
35μm<T<80μm
When the thickness of the first release liner 2 is T A and the thickness of the second release liner 3 is T B , it is preferable that the thickness T A and the thickness T B satisfy the following relational expression.

T A < T B
35μm<T B <80μm

はく離ライナーは、通常、厚みが厚くなるほど、腰強度(曲げ剛性)が高くなる。
そして、はく離ライナーは、腰強度が高くなればなるほど厚み方向に撓み難くなる。
ここで、上で説明したように、半導体ウェハなどの被着体の保護対象面には、第1はく離ライナー2を剥がすことにより露出した保護層1の一表面が貼り合わされる。
そして、第1はく離ライナー2は、外側(保護層1が配されていない側)から吸引力などの外力が加えられて、保護層1の一表面から剥がされる。
上記のような場合、第1はく離ライナー2には吸引などによって撓みが生じ、その撓みが生じることが原因となって、第1はく離ライナー2の一部が保護層1の一表面から浮き上がるようになる。
そして、その浮き上がり部分を基点として、第1はく離ライナー2は、保護層1の一表面から剥がされるようになる。
上記のように、第1はく離ライナー2を保護層1の一表面から剥がしているときに、第2はく離ライナー3にも内側(保護層1が配されている側)に向かって撓みが生じ易くなって、第2はく離ライナー3が保護層1の他表面から浮き上がることは好ましくない。
そのため、第1はく離ライナー2の厚みTと第2はく離ライナー3の厚みTとは、上記のように、T<Tの関係式を満たしていることが好ましい。
また、前記保護対象面に保護層1の一表面を貼り合わせた後においては、第2はく離ライナー3は、通常、保護層1の他表面から剥がされる。
そのため、前記保護対象面に保護層1の一表面を貼り合わせた後に、第2はく離ライナー3を剥がし易くする観点から、第2はく離ライナー3の厚みTは、上記のように、35μm<T<80μmの関係式を満たしていることが好ましい。
これにより、第2はく離ライナー3を適切な腰強度を有するものとすることができるので、第2はく離ライナー3を保護層1の他表面からはく離するときに、保護層1の一部が付着した状態で第2はく離ライナー3が剥がされること、すなわち、泣き別れが生じることを抑制することができる。
Generally, the thicker the release liner, the higher the waist strength (flexural rigidity).
The higher the release liner's waist strength, the more difficult it becomes to bend in the thickness direction.
Here, as explained above, one surface of the protective layer 1 exposed by peeling off the first release liner 2 is bonded to the surface to be protected of an adherend such as a semiconductor wafer.
Then, the first release liner 2 is peeled off from one surface of the protective layer 1 by applying an external force such as a suction force from the outside (the side on which the protective layer 1 is not disposed).
In the above case, the first release liner 2 is deflected due to suction or the like, and this deflection causes a part of the first release liner 2 to rise from one surface of the protective layer 1. Become.
Then, the first release liner 2 is peeled off from one surface of the protective layer 1 using the raised portion as a starting point.
As described above, when the first release liner 2 is peeled off from one surface of the protective layer 1, the second release liner 3 also tends to bend inward (toward the side on which the protective layer 1 is disposed). Therefore, it is not preferable that the second release liner 3 rises from the other surface of the protective layer 1.
Therefore, it is preferable that the thickness T A of the first release liner 2 and the thickness T B of the second release liner 3 satisfy the relational expression T A <T B as described above.
Further, after one surface of the protective layer 1 is bonded to the surface to be protected, the second release liner 3 is usually peeled off from the other surface of the protective layer 1.
Therefore, from the viewpoint of making it easier to peel off the second release liner 3 after bonding one surface of the protective layer 1 to the surface to be protected, the thickness T B of the second release liner 3 is set to 35 μm<T as described above. It is preferable that the relational expression B <80 μm is satisfied.
This allows the second release liner 3 to have appropriate stiffness, so that when the second release liner 3 is peeled off from the other surface of the protective layer 1, a part of the protective layer 1 may adhere. It is possible to prevent the second release liner 3 from being peeled off in this state, that is, from tearing apart.

また、第1はく離ライナー2の厚みTと第2はく離ライナー3の厚みTとを異ならせることにより、側方から保護シート10を視認したときに、第1はく離ライナー2及び第2はく離ライナー3を識別し易くなる。 Furthermore, by making the thickness TA of the first release liner 2 and the thickness TB of the second release liner 3 different, when the protective sheet 10 is viewed from the side, the first release liner 2 and the second release liner 3 becomes easier to identify.

第1はく離ライナー2の厚みTは、15μm以上であってもよいし、20μm以上であってもよいし、25μm以下であってもよい。
また、第1はく離ライナー2の厚みTは、40μm未満であってもよいし、35μm以下であってもよい。
さらに、第2はく離ライナー3の厚みTは、40μm以上であってもよいし、45μm以上であってもよいし、50μm以上であってもよいし、60μm以上であってもよい。
また、第2はく離ライナー3の厚みTは、75μm以下であってもよいし、70μm以下であってもよい。
第1はく離ライナー2及び第2はく離ライナー3の厚みは、保護層1の厚みと同様にして求めることができる。
The thickness T A of the first release liner 2 may be 15 μm or more, 20 μm or more, or 25 μm or less.
Further, the thickness T A of the first release liner 2 may be less than 40 μm or 35 μm or less.
Furthermore, the thickness T B of the second release liner 3 may be 40 μm or more, 45 μm or more, 50 μm or more, or 60 μm or more.
Further, the thickness T B of the second release liner 3 may be 75 μm or less, or 70 μm or less.
The thickness of the first release liner 2 and the second release liner 3 can be determined in the same manner as the thickness of the protective layer 1.

第1はく離ライナー2及び第2はく離ライナー3を視覚によって識別し易くする観点から、第1はく離ライナー2と第2はく離ライナー3とを異なる色を有するものとしてもよい。
例えば、第1はく離ライナー2を黒色に着色し、第2はく離ライナー3を白色に着色するなどのように、第1はく離ライナー2及び第2はく離ライナー3の両方を着色して、第1はく離ライナー2と第2はく離ライナー3との視覚による識別性を向上させてもよい。
また、第1はく離ライナー2及び第2はく離ライナー3の両方が無色透明である場合には、第1はく離ライナー2または第2はく離ライナー3の一方を着色して、第1はく離ライナー2と第2はく離ライナー3との識別性を向上させてもよい。
第1はく離ライナー2及び第2はく離ライナー3を着色するための着色剤としては、各種公知の着色剤を用いることができる。
前記着色剤としては、染料や顔料などが挙げられる。
なお、なお、染料とは、水や有機溶剤などに溶解する性質を有する着色剤を意味し、顔料とは、水や有機溶剤などに溶解しない性質を有する着色剤を意味する。
From the viewpoint of making it easier to visually identify the first release liner 2 and the second release liner 3, the first release liner 2 and the second release liner 3 may have different colors.
For example, both the first release liner 2 and the second release liner 3 are colored, such as the first release liner 2 is colored black and the second release liner 3 is colored white. 2 and the second release liner 3 may be visually distinguishable from each other.
In addition, when both the first release liner 2 and the second release liner 3 are colorless and transparent, one of the first release liner 2 and the second release liner 3 is colored, and the first release liner 2 and the second release liner 3 are colored. Distinguishability from the release liner 3 may be improved.
As the coloring agent for coloring the first release liner 2 and the second release liner 3, various known coloring agents can be used.
Examples of the coloring agent include dyes and pigments.
Note that the term "dye" refers to a coloring agent that has the property of being soluble in water, organic solvents, etc., and the term "pigment" refers to a coloring agent that does not dissolve in water, organic solvents, or the like.

本明細書によって開示される事項は、以下のものを含む。 Matters disclosed by this specification include the following.

(1)
保護層と、
該保護層の一表面に配される第1はく離ライナーと、
前記保護層の他表面に配される第2はく離ライナーと、を備え、
前記保護層は、水溶性高分子化合物を含み、
前記保護層に対する前記第1はく離ライナーの剥離力をPとし、前記保護層に対する前記第2はく離ライナーの剥離力をPとしたときに、
剥離力P、及び、剥離力Pが、以下の関係式を満たす
保護シート。
<P
≦2000N/25mm
(1)
a protective layer;
a first release liner disposed on one surface of the protective layer;
a second release liner disposed on the other surface of the protective layer,
The protective layer includes a water-soluble polymer compound,
When the release force of the first release liner with respect to the protective layer is P A , and the release force of the second release liner with respect to the protective layer is P B ,
A protective sheet in which peeling force P A and peeling force P B satisfy the following relational expression.
P A < P B
P B ≦2000N/25mm

斯かる構成によれば、一方のはく離シートをはく離させるときに他方のはく離シートから前記保護層の浮きが生じることを抑制することと、前記保護層が泣き別れしてしまうことを抑制することとを十分に両立させることができる。 According to such a configuration, when one release sheet is peeled off, it is possible to suppress the lifting of the protective layer from the other release sheet, and to suppress the protective layer from being separated. It is possible to achieve both.

(2)
前記第1はく離ライナーの厚みをTとし、前記第2はく離ライナーの厚みをTとしたときに、
厚みT及び厚みTは以下の関係式を満たす
請求項1に記載の保護シート。
<T
35μm<T<80μm
(2)
When the thickness of the first release liner is T A and the thickness of the second release liner is T B ,
The protective sheet according to claim 1, wherein the thickness T A and the thickness T B satisfy the following relational expression.
T A < T B
35μm<T B <80μm

斯かる構成によれば、一方のはく離シートをはく離させるときに他方のはく離シートから前記保護層の浮きが生じることを抑制することと、前記保護層が泣き別れしてしまうことを抑制することとをより一層十分に両立させることができる。
また、一方のはく離シートと他方のはく離シートとを、視覚的に容易に識別し易くなる。
According to such a configuration, when one release sheet is peeled off, it is possible to suppress the lifting of the protective layer from the other release sheet, and to suppress the protective layer from being separated. It is possible to achieve both of these requirements even more fully.
Moreover, it becomes easier to visually distinguish one release sheet from the other release sheet.

なお、本発明に係る保護シートは、前記実施形態に限定されるものではない。また、本発明に係る保護シートは、前記した作用効果によって限定されるものでもない。本発明に係る保護シートは、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。 Note that the protective sheet according to the present invention is not limited to the above embodiment. Moreover, the protective sheet according to the present invention is not limited to the above-mentioned effects. The protective sheet according to the present invention can be modified in various ways without departing from the gist of the present invention.

次に、実施例を挙げて本発明についてさらに具体的に説明する。以下の実施例は本発明をさらに詳しく説明するためのものであり、本発明の範囲を限定するものではない。 Next, the present invention will be described in more detail with reference to Examples. The following examples are intended to explain the invention in more detail and are not intended to limit the scope of the invention.

[実施例1]
容器内において、水にポリビニルアルコール(けん価度65、平均重合度240)を分散させた水分散溶液を作成した。
なお、以下では、ポリビニルアルコールのことをPVAとも称する。
次に、該水分散溶液を含む容器を90℃の水浴中に入れ、該水分散容器を撹拌することによってPVAを水に溶解させて、PVA溶解組成物を得た。
次に、シリコーン離型処理が施された面(以下、シリコーン離型処理面ともいう)を有する第2はく離ライナー(三菱ケミカル社製の商品名「ダイアホイルMRV75」、厚み75μm)の離型処理面上に、アプリケータを用いて前記PVA溶解組成物を厚み5μmで塗布した。
次に、前記PVA溶解組成物を塗布した第2はく離ライナーを110℃で2分間乾燥することにより、前記第2はく離ライナー上に保護層を形成した。
次に、前記保護層上に、シリコーン離型処理面を有する第1はく離ライナー(三菱ケミカル社製の商品名「ダイアホイルMRA25」、厚み25μm)を重ね合せて、前記第2はく離ライナー、前記保護層、及び、前記第1はく離ライナーがこの順に積層された積層体を得た後、該積層体を70℃で加熱処理した。
なお、前記第1はく離ライナーは、シリコーン離型処理面を前記保護層の露出面に重ね合せた。
これにより、実施例1に係る保護シートを得た。
また、以下では、ダイアホイルMRV75は単に「MRV75」と記載し、ダイアホイルMRA25は単に「MRA25」と記載している。
[Example 1]
In a container, an aqueous dispersion solution was prepared by dispersing polyvinyl alcohol (solubility degree: 65, average degree of polymerization: 240) in water.
Note that hereinafter, polyvinyl alcohol is also referred to as PVA.
Next, the container containing the water dispersion solution was placed in a 90° C. water bath, and the water dispersion container was stirred to dissolve PVA in water, thereby obtaining a PVA-dissolved composition.
Next, a second release liner (trade name "Diafoil MRV75" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, thickness 75 μm) having a surface treated with silicone mold release treatment (hereinafter also referred to as silicone mold release treatment surface) was subjected to mold release treatment. The PVA-dissolved composition was applied onto the surface using an applicator to a thickness of 5 μm.
Next, the second release liner coated with the PVA-dissolved composition was dried at 110° C. for 2 minutes to form a protective layer on the second release liner.
Next, a first release liner (trade name "Diafoil MRA25" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, thickness 25 μm) having a silicone release treated surface is superimposed on the protective layer, and the second release liner and the protective After obtaining a laminate in which the layers and the first release liner were laminated in this order, the laminate was heat-treated at 70°C.
Note that the first release liner had a silicone release-treated surface superimposed on the exposed surface of the protective layer.
Thereby, a protective sheet according to Example 1 was obtained.
Further, in the following, the diafoil MRV75 is simply referred to as "MRV75", and the diafoil MRA25 is simply referred to as "MRA25".

前記ポリビニルアルコールのけん価度及び平均重合度は、上記の実施形態の項で説明した方法に準じて測定した。 The saponity degree and average degree of polymerization of the polyvinyl alcohol were measured according to the method described in the above embodiment section.

[実施例2]
前記第2はく離ライナーとして、東洋紡社製の商品名「クリスパーCN500-50」を用い、前記第1はく離ライナーとして、三菱ケミカル社製の商品名「ダイアホイルMRA38」を用い、前記保護層の厚みを10μmとした以外は、実施例1と同様にして、実施例2に係る保護シートを得た。
なお、前記第2はく離ライナーたるクリスパーCN500-50は、シリコーン化合物を含まない非シリコーン系の剥離剤で離型処理が施された面(以下、非シリコーン離型処理面ともいう)を有するものであり、厚みは50μmであった。
また、前記第1はく離ライナーたるダイアホイルMRA38は、前記MRV75及び前記MRA25と同様に、シリコーン離型処理面を有するものであり、厚みは38μmであった。
さらに、前記保護層の一表面には前記第1はく離ライナーのシリコーン離型処理面を貼り合わせ、前記保護層の他表面には前記第2はく離ライナーの非シリコーン離型処理面を貼り合わせた。
また、以下では、クリスパーCN500-50は単に「CN500-50」と記載し、ダイアホイルMRA38は単に「MRA38」と記載している。
[Example 2]
As the second release liner, "CRISPR CN500-50" (trade name, manufactured by Toyobo Co., Ltd.) was used, as the first release liner, "Diafoil MRA38" (trade name, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) was used, and the thickness of the protective layer was adjusted. A protective sheet according to Example 2 was obtained in the same manner as Example 1 except that the thickness was 10 μm.
The second release liner, CRISPR CN500-50, has a surface that has been subjected to a release treatment with a non-silicone release agent that does not contain a silicone compound (hereinafter also referred to as a non-silicone release treatment surface). The thickness was 50 μm.
Further, the diafoil MRA38, which is the first release liner, had a silicone release treatment surface, like the MRV75 and the MRA25, and had a thickness of 38 μm.
Furthermore, the silicone release treated surface of the first release liner was bonded to one surface of the protective layer, and the non-silicone release treated surface of the second release liner was bonded to the other surface of the protective layer.
Further, in the following, CRISPR CN500-50 is simply written as "CN500-50", and Diafoil MRA38 is simply written as "MRA38".

[実施例3]
前記第1はく離ライナーとして、東洋紡社製の商品名「クリスパーCN100-38」を用い、前記保護層の厚みを30μmとした以外は、実施例2と同様にして、実施例3に係る保護シートを得た。
なお、前記第1はく離ライナーたるクリスパーCN100-38は、クリスパーCN500-50と同様に、非シリコーン離型処理面を有するものであり、厚みは38μmであった。
また、以下では、クリスパーCN100-38は単に「CN100-38」と記載している。
[Example 3]
A protective sheet according to Example 3 was prepared in the same manner as in Example 2, except that the first release liner was "CRISPR CN100-38" manufactured by Toyobo Co., Ltd., and the thickness of the protective layer was 30 μm. Obtained.
The first release liner, CRISPAR CN100-38, had a non-silicone release treated surface, like CRISPAR CN500-50, and had a thickness of 38 μm.
Further, in the following, CRISPR CN100-38 is simply referred to as "CN100-38".

[実施例4]
前記第2はく離ライナーとして、東洋紡社製の商品名「クリスパーCN100-38」を用い、前記保護層の厚みを5μmとした以外は、実施例3と同様にして、実施例4に係る保護シートを得た。
[Example 4]
A protective sheet according to Example 4 was prepared in the same manner as in Example 3, except that the second release liner was "CRISPR CN100-38" manufactured by Toyobo Co., Ltd., and the thickness of the protective layer was 5 μm. Obtained.

[比較例1]
前記第1はく離ライナーとして、東レ社製の商品名「ルミラー(登録商標)#38-S10」を用い、前記第2はく離ライナーとしても、東レ社製の商品名「ルミラー(登録商標)#50-S10」を用い、保護層の厚みを10μmとした以外は、実施例1と同様にして、比較例1に係る保護シートを得た。
なお、前記第1はく離ライナーたるルミラー(登録商標)#38-S10は、離型処理が何ら施されていないものであり、厚みは38μmであった。
また、前記第2はく離ライナーたるルミラー(登録商標)#50-S10も、離型処理が何ら施されていないものであり、厚みは50μmであった。
さらに、以下では、ルミラー(登録商標)#38-S10は単に「#38-S10」と記載し、ルミラー(登録商標)#50-S10は単に「#50-S10」と記載している。
なお、「#38-S10」及び「#50-S10」は、共に、ポリエステルフィルムである。
[Comparative example 1]
As the first release liner, "Lumirror (registered trademark) #38-S10" manufactured by Toray Industries, Inc. was used, and as the second release liner, "Lumirror (registered trademark) #50-" manufactured by Toray Industries, Inc. was used. A protective sheet according to Comparative Example 1 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the protective layer was made to have a thickness of 10 μm.
Note that the first release liner, Lumirror (registered trademark) #38-S10, was not subjected to any release treatment and had a thickness of 38 μm.
The second release liner, Lumirror (registered trademark) #50-S10, was also not subjected to any release treatment and had a thickness of 50 μm.
Furthermore, below, Lumirror (registered trademark) #38-S10 is simply described as "#38-S10", and Lumirror (registered trademark) #50-S10 is simply described as "#50-S10".
Note that both “#38-S10” and “#50-S10” are polyester films.

[比較例2]
前記第2はく離ライナーとして、三菱ケミカル社製の商品名「ダイアホイルMRA50」を用いた以外は、実施例2と同様にして、比較例2に係る保護シートを得た。
なお、前記第2はく離ライナーたるダイアホイルMRA50は、前記MRV75、前記MRA25、及び、前記MRA38と同様に、シリコーン離型処理面を有するものであり、厚みは、50μmであった。
また、以下では、ダイアホイルMRA50は単に「MRA50」と記載している。
[Comparative example 2]
A protective sheet according to Comparative Example 2 was obtained in the same manner as in Example 2, except that "Diafoil MRA50" (trade name, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) was used as the second release liner.
Note that the diafoil MRA50, which is the second release liner, had a silicone release-treated surface and had a thickness of 50 μm, similarly to the MRV75, the MRA25, and the MRA38.
Further, in the following, the diafoil MRA50 is simply referred to as "MRA50".

<剥離力>
各例に係る保護シートについて、前記保護層に対する前記第1はく離ライナーの剥離力P、及び、前記保護層に対する前記第2はく離ライナーの剥離力Pを測定した。
剥離力P及び剥離力Pは、上の実施形態の項で説明した方法にしたがって実施した。
以下の表1に、各例に係る保護シートについて、剥離力P及び剥離力Pを測定した結果を示した。
また、以下の表1に、各例に係る保護シートについて、剥離力Pに対する剥離力Pの比であるRについても示した。
<Peeling force>
For the protective sheet according to each example, the peel force P A of the first release liner with respect to the protective layer and the peel force P B of the second release liner with respect to the protective layer were measured.
The peeling force P A and the peeling force P B were determined according to the method described in the embodiment section above.
Table 1 below shows the results of measuring the peeling force P A and the peeling force P B for the protective sheets according to each example.
Further, Table 1 below also shows R, which is the ratio of the peeling force P B to the peeling force PA , for the protective sheets according to each example.

<保護層の泣き別れ>
剥離力の測定において前記保護層から剥離したはく離ライナーの表面を目視観察することにより、以下の基準にしたがって、保護層の泣き別れを評価した。

優:はく離ライナーの表面に保護層が目視で確認されない。
不可:はく離ライナーの表面に保護層の一部が目視で確認される。

以下の表1に、保護層の泣き別れを評価した結果を示した。
<The tearful farewell of the protective layer>
In measuring the peel force, the surface of the release liner peeled off from the protective layer was visually observed, and the separation of the protective layer was evaluated according to the following criteria.

Excellent: No protective layer is visually observed on the surface of the release liner.
Not acceptable: Part of the protective layer is visually confirmed on the surface of the release liner.

Table 1 below shows the results of evaluating the quality of the protective layer.

<保護層の浮き>
温度23±2℃、かつ、相対湿度55±5%RHの環境下に各例に係る保護シートを24時間放置した後、各はく離ライナー(第1はく離ライナー及び第2はく離ライナー)からの保護層の浮きが認められるか否かを目視観察した。
そして、以下の基準にしたがって、保護層の浮きを評価した。

優:第1はく離ライナー及び第2はく離ライナーのいずれからも、保護層の浮きが目視で全く確認されない。また、上の環境(温度23±2℃、かつ、相対湿度55±5%RH)下に保護シートを24時間曝した後に、手で第1はく離ライナーを保護層から剥離させても、第2はく離ライナーからの保護層の浮き上がりが目視で全く確認されない。
良:第1はく離ライナー及び第2はく離ライナーのいずれからも、保護層の浮きが目視で全く確認されない。一方で、上の環境下に保護シートを24時間曝した後に、手で第1はく離ライナーを保護層から剥離させると、第2はく離ライナーからの保護層の浮き上がりが目視で僅かに確認される。
不可:第1はく離ライナー及び第2はく離ライナーの少なくとも一方から、保護層の浮きが目視で確認される。

以下の表1に、保護層の浮きを評価した結果を示した。
<Lifting of the protective layer>
After leaving the protective sheet according to each example in an environment with a temperature of 23 ± 2°C and a relative humidity of 55 ± 5% RH for 24 hours, the protective layer from each release liner (first release liner and second release liner) was removed. Visual observation was made to see if any floating was observed.
Then, the lifting of the protective layer was evaluated according to the following criteria.

Excellent: No lifting of the protective layer is visually observed from either the first release liner or the second release liner. Furthermore, even if the first release liner is manually peeled off from the protective layer after exposing the protective sheet to the above environment (temperature 23 ± 2°C and relative humidity 55 ± 5% RH), the second release liner No lifting of the protective layer from the release liner is visually observed.
Good: No lifting of the protective layer is visually observed in either the first release liner or the second release liner. On the other hand, when the first release liner is manually peeled off from the protective layer after exposing the protective sheet to the above environment for 24 hours, slight lifting of the protective layer from the second release liner is visually confirmed.
Not acceptable: Lifting of the protective layer is visually confirmed from at least one of the first release liner and the second release liner.

Table 1 below shows the results of evaluating the lifting of the protective layer.

Figure 2024007757000003
Figure 2024007757000003

表1から、各実施例の保護シートのように、保護層に対する第1はく離ライナーの剥離力P、及び、保護層に対する第2はく離ライナーの剥離力Pについて、P<P、かつ、P≦2000mN/25mmの関係式が満たされているものは、保護層の泣き別れの抑制と保護層の浮きの抑制とを両立できることが分かる。
これに対し、各比較例の保護シートのように、上記関係式が満たされていないものは、保護層の泣き別れの抑制と保護層の浮きの抑制と両立できないことが分かる。
また、比Rが2.0以上である実施例1~3の保護シートの保護層の浮きの評価結果と、比Rが2.0未満である各比較例の保護シートの保護層の浮きの評価結果とを比べると、実施例1~3に係る保護シートでは特に良好な結果が得られることが分かる。
なお、比較例1の保護シートでは、剥離力Pの値及び剥離力Pの値が高すぎたため、保護層の浮きの評価を実施することができなかった。
そのため、比較例1の保護シートについては、表1中において保護層の浮きの評価を「評価不可」と記載している。
From Table 1, as in the protective sheets of each example, the peel force P A of the first release liner with respect to the protective layer and the peel force P B of the second release liner with respect to the protective layer are such that P A <P B , and , P B ≦2000 mN/25 mm, it can be seen that it is possible to suppress both the tearing of the protective layer and the lifting of the protective layer.
On the other hand, it can be seen that protective sheets in which the above relational expression is not satisfied, such as the protective sheets of the comparative examples, are unable to simultaneously suppress the separation of the protective layer and suppress the lifting of the protective layer.
In addition, the evaluation results of the lifting of the protective layer of the protective sheets of Examples 1 to 3 with a ratio R of 2.0 or more and the lifting of the protective layer of the protective sheets of each comparative example with a ratio R of less than 2.0 are also shown. A comparison with the evaluation results shows that particularly good results are obtained with the protective sheets according to Examples 1 to 3.
In addition, in the protective sheet of Comparative Example 1, the peeling force P A value and the peeling force P B value were too high, so it was not possible to evaluate the lifting of the protective layer.
Therefore, regarding the protective sheet of Comparative Example 1, the evaluation of lifting of the protective layer is described as "Evaluation not possible" in Table 1.

1 保護層、2 第1はく離ライナー、3 第2はく離ライナー、10 保護シート。 Reference Signs List 1: protective layer, 2: first release liner, 3: second release liner, 10: protective sheet.

Claims (2)

保護層と、
該保護層の一表面に配される第1はく離ライナーと、
前記保護層の他表面に配される第2はく離ライナーと、を備え、
前記保護層は、水溶性高分子化合物を含み、
前記保護層に対する前記第1はく離ライナーの剥離力をPとし、前記保護層に対する第2はく離ライナーの剥離力をPとしたときに、
剥離力P、及び、剥離力Pが、以下の関係式を満たす
保護シート。
<P
≦2000mN/25mm
a protective layer;
a first release liner disposed on one surface of the protective layer;
a second release liner disposed on the other surface of the protective layer,
The protective layer includes a water-soluble polymer compound,
When the release force of the first release liner with respect to the protective layer is P A , and the release force of the second release liner with respect to the protective layer is P B ,
A protective sheet in which peeling force P A and peeling force P B satisfy the following relational expression.
P A < P B
P B ≦2000mN/25mm
前記第1はく離ライナーの厚みをTとし、前記第2はく離ライナーの厚みをTとしたときに、
厚みT及び厚みTは以下の関係式を満たす
請求項1に記載の保護シート。
<T
35μm<T<80μm
When the thickness of the first release liner is T A and the thickness of the second release liner is T B ,
The protective sheet according to claim 1, wherein the thickness T A and the thickness T B satisfy the following relational expression.
T A < T B
35μm<T B <80μm
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