JP2023152089A - 検査管理システムおよび検査管理装置 - Google Patents

Abstract

【課題】複数の検査工程を有する部品実装基板の生産ラインにおいて、各検査工程で実施される検査内容を網羅的に確認、設定することができる技術を提供する。
【解決手段】部品実装基板の生産ラインに設けられる検査装置の検査内容を管理する検査管理システムであって、前記検査装置は、第１の検査プログラムに基づいて行う第１検査と、第２の検査プログラムに基づいて行う第２検査とを、並行して実施可能に構成されており、検査対象となる部品の部品品番ごとに、前記第１検査の結果と前記第２検査の結果とを対比可能に示す検査結果対比画像を表示する画像表示手段、を有する検査管理システム。
【選択図】図６

Description

本発明は、部品実装基板の生産ラインにおいて、製品の検査を実施するための技術に関する。

製品の生産ラインでは、ラインの中間工程や最終工程に製品の検査装置を配置し、不良の検出や不良品の仕分けなどが行われている。例えば、部品実装基板の生産ラインにおいては一般的に、プリント配線基板にクリームはんだを印刷する工程（印刷工程）、クリームはんだが印刷された基板に部品を実装する工程（マウント工程）、部品実装後の基板を加熱して部品を基板にはんだ付けするする工程（リフロー工程）が含まれ、各工程後にそれぞれ検査装置を設けて検査することが公知となっている（例えば、特許文献１）。

上記の部品実装基板の生産ラインの例の場合、リフロー工程の後に実施される検査は、製品としての最終的な良・不良判定を行うための検査（以下、最終検査ともいう）である一方、それ以前の各中間工程で実施される検査（以下、中間検査ともいう）は、工程管理の一環として行われるのが一般的である。即ち、各中間工程の定める品質レベルを満足しない中間品（不良中間品）を発見し、そのような不良中間品が後工程へ流れるのを防ぐことでライン全体の生産効率の改善を図ったり、不良中間品が発見された工程で異常が発生していないかを確認したり、といったことが行われる。

ところで、これらの検査装置が実施する検査項目の中のいくつかには、複数の検査工程で共通するものがある。しかしながら、複数の検査工程を有する生産ラインにおいて「最終的な」製品の見逃しを防止するという観点からは、複数の検査工程・検査項目のうちのいずれかにおいて不良を検出できれば、見逃しを防止することが可能である。即ち、ある検査工程（の検査項目）において検出できる不良については、他の検査工程（の検査項目）において必ずしも検出する必要はない。

また、検査対象の基板に実装される部品については、同種の部品であっても実装の方向や周囲の部品との関係などに応じて、検査を担当する検査装置や検査パラメータを変更したり、複数の検査装置を使用しなければ十分な精度の検査が行えない場合もある。

しかし、特許文献１に示すような従来の生産ラインでは、最終的に不良と判定された製品の検査結果を中間検査の検査内容設定のためにフィードバックすることは行われているものの、基板に実装されている個々の部品ごとに検出すべき不良を見逃さないよう網羅的に各検査装置に検査項目を定めるようなことは行われていなかった。

特開２０２１－１８９７９１号公報

しかしながら、複数の検査工程のそれぞれに配置される検査装置ごとに個別に検査内容を設定するのでは、ある部品（のある検査項目）について、いずれの検査装置でも検査の実施が行われないといった事態が生じる虞がある。また、反対に、複数の検査装置で同じ検査項目を重複して実施するような設定がされ、生産効率が低下する虞もある。

本発明は上記実情に鑑みなされたものであり、その目的とするところは、複数の検査工程を有する部品実装基板の生産ラインにおいて、各検査工程で実施される検査内容を網羅的に確認、設定することができる技術を提供することにある。

前記の目的を達成するために、本発明は以下の構成を採用する。即ち、
部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理システムであって、
前記検査装置は、第１の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する実際の良否判定を行う第１検査と、前記第１の検査プログラムとは異なる第２の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する模擬的な良否判定を行う第２検査とを、並行して実施可能に構成されており、
前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段と、
前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段と、
前記部品の部品品番ごとに、前記第１検査の結果と前記第２検査の結果とを対比可能に示す検査結果対比画像を表示する画像表示手段と、を有する、
ことを特徴とする、検査管理システムである。

なお、本明細書において、「作成」、「設定」の語は変更も含む意味で用いる。このような構成のシステムによると、複数の検査装置を有する部品実装ラインにおいて、いずれの検査装置が、どの検査項目で、実装される各部品のどのような不良を検査するのかを、網羅的に定める検査プログラムを適用することができる。即ち、不良を検出するために必要な検査がいずれの検査装置でも設定されないといったことを防止し、複数の検査装置間で無駄に重複した検査を実施することも防止することが可能になる。

また、上記のような構成によれば、例えば現行の検査プログラムで実際の検査を行うとともに、それと並行して異なる検査内容の他の検査プログラムによる検査を行った場合のシミュレーションを実施し、該他の検査プログラムによる検査結果を確認することができる。このため、検査設定の変更、検査アルゴリズムの更新、新規なＡＩモデルの採用などのニーズがある場合に、これらを反映させた新たな検査プログラムの性能を、現行の検査プログラムと入れ替えることなく、知ることができる。即ち、新たな検査プログラムを設定することによって、実際に量産している製品に対する検査の質が低下してしまう、というリスクを排除することが可能になる。

また、前記検査管理システムは、前記第１検査の検査結果を記憶する第１検査結果記憶手段と、前記第２検査の検査結果を記憶する第２検査結果記憶手段と、前記部品実装基板に対する実際の良否判定結果を記憶する実不良データ記憶手段と、
前記第１検査の結果及び前記第２検査の結果と、前記実際の良否判定結果とに基づいて、前記第１検査及び第２検査の検査精度を算出する、検査精度算出手段と、を有しており、
前記検査結果対比画像には、前記第１検査及び第２検査の検査精度に係る情報の表示が含まれるようにしてもよい。

これによれば、ユーザーはより容易に、シミュレーションに係る新たな検査プログラムの性能を把握することが可能になる。

また、前記検査システムは、前記第１検査の結果と、前記第２検査の結果と、前記実際
の良否判定結果と、に基づいて、前記第１の検査プログラムと前記第２の検査プログラムのいずれが、より前記部品の検査に適しているかを判定する、最適設定判定手段をさらに有しており、前記検査結果対比画像には、前記最適設定判定手段の判定結果を示す表示が含まれるようにしてもよい。

このような構成によれば、現行の検査プログラムと、シミュレーションに係る新たな検査プログラムとの性能比較を踏まえたうえで、いずれの検査プログラムがより検査に適しているのかを容易に確認することができる。

また、本発明は、部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理装置であって、
前記検査装置は、第１の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する実際の良否判定を行う第１検査と、前記第１の検査プログラムとは異なる前記検査内容情報を参照する第２の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する模擬的な良否判定を行う第２検査とを、並行して実施可能に構成されており、
前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段と、
前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段と、
前記部品の部品品番ごとに、前記第１検査の結果と前記第２検査の結果とを対比可能に示す検査結果対比画像を表示する画像表示手段と、を有する、
ことを特徴とする、検査管理装置としても、捉えることができる。

また、上記構成および処理の各々は技術的な矛盾が生じない限り互いに組み合わせて本発明を構成することができる。

本発明によれば、複数の検査工程を有する部品実装基板の生産ラインにおいて、各検査工程で実施される検査内容を網羅的に確認、設定することができる。

図１は、適用例に係る検査管理装置が適用される部品実装ラインの概略構成図である。 図２は、適用例に係る検査管理装置の機能ブロック図である。 図３は、適用例に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。 図４は、実施形態に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。 図５は、実施形態に係る検査管理システムが適用される部品実装ラインの概略構成を示す図である。 図６は、実施形態に係る検査管理システムの機能ブロック図である。 図７は、実施形態に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。 図８は、実施形態に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。 図９は、実施形態に係る検査管理システムにおいて検査プログラムを作成する際の流れを示すフローチャートである。 図１０は、実施形態に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。 図１１は、実施形態の変形例に係る検査管理装置の画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。 図１２は、実施形態の他の変形例に係る画像表示部に表示される画像の一例を示す図である。

以下、図面に基づいて、本発明の実施形態について説明する。ただし、以下の各例に記載されている構成要素の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特に記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。

＜適用例＞
本発明は例えば、図１、２に示すような検査管理装置９として適用することができる。図１は本適用例に係る、プリント基板の部品実装ラインの概略を示す概略図である。図２は、本適用例に係る検査管理装置９の機能ブロック図である。図１に示すように、本適用例に係る部品実装ラインには、上流側から順に、はんだ印刷装置Ａ１、はんだ印刷後検査装置Ｂ１、マウンタＡ２、マウント後検査装置Ｂ２、リフロー炉Ａ３、リフロー後検査装置Ｂ３が設けられる。

はんだ印刷装置Ａ１は、プリント基板上の電極部はんだを印刷する装置であり、マウンタＡ２は、基板に実装すべき電子部品をはんだペーストの上に載置するための装置であり、リフロー炉Ａ３は、電子部品を基板上にはんだ接合するための加熱装置である。

また、各検査装置Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３は各工程の出口で基板の状態を検査し、不良あるいは不良のおそれを自動で検出する。以下では、検査装置Ｂ１による検査を印刷後検査、検査装置Ｂ２による検査をマウント後検査、検査装置Ｂ３による検査をリフロー後検査、という。なお、各検査装置Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３は検査対象の部品実装基板の実際の良否判定検査と並行して、実際の検査と同一の検査データを用いたシミュレーション検査を実施することが可能になっている。より具体的には、各検査装置は、検査対象となる一つの部品実装基板に対して、実際の良否判定検査用の第１検査プログラムに基づいて行う第１検査と、シミュレーション用の第２検査プログラムに基づいて行う第２検査とを並行して実施する。そして、第１、第２それぞれの検査結果を後述のネットワークを介して検査管理装置９に送信する。

上述した製造装置Ａ１、Ａ２、Ａ３および検査装置Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３は、ＬＡＮなどのネットワークを介して検査管理装置９に接続されている。検査管理装置９は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）などの主記憶装置、補助記憶装置（ＨＤＤ、フラッシュメモリなど）、入力装置（キーボード、マウス、コントローラ、タッチパネルなど）、出力装置（ディスプレイ、プリンタ、スピーカなど）、通信手段（有線、無線を問わない）などを具備する汎用的なコンピュータシステムにより構成される。検査管理装置９はいわゆるティーチング端末として用いることができ、各検査装置Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３が実施する検査の内容を定める検査プログラムを作成（変更を含む。以下同じ）することができる。また、この他にも、後述する記憶部９２に保存される各種情報の登録、設定（変更を含む。以下同じ）といった作業にも用いられる。

また、図２が示すように、検査管理装置９は機能部として、制御部９１、記憶部９２、入力部９３、画像表示部９４（例えば液晶ディスプレイ）、を有している。制御部９１はさらに機能モジュールとして、ＵＩ（Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）制御部９１１、検査内容設定部９１２、の各機能モジュールを備えている。各機能モジュールは、例えば、記憶装置に格納されたプログラムをＣＰＵが読み込み実行することにより実現してもよい
。

記憶部９２は、部品検査制約設計記憶部９２１、検査カバレッジ情報記憶部９２２、検査プログラム記憶部９２４、第１検査結果記憶部９２５、第２検査結果記憶部９２６を含んで構成され、様々なデータを格納する。

部品検査制約設計記憶部９２１は、部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶するデータベースである。

検査カバレッジ情報記憶部９２２は、部品の部品品番ごとに、かつ、部品実装ラインに設けられる検査装置の組み合わせごとに、部品検査制約設計情報における不良のそれぞれを検出し得る検査項目（及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置）の組み合わせの情報である検査カバレッジ情報を一組以上記憶するデータベースである。

各部品の不良を検出する検査項目について、検査装置によってどのような検査（検査項目）を実施し得るかは異なっている。また、複数の異なる検査装置で、ある不良を検出し得る検査（検査項目）をそれぞれ実施できる場合もある。このため、本適用例に係る検査管理システムにおいては、予め、部品品番ごとにどのような検査項目をいずれの検査装置で実施するかを検査カバレッジ情報として定めて、記憶している。そして、後述の検査プログラム作成の際に、当該検査カバレッジ情報を参照することで、不良の見落としが無く検査装置間で重複した検査が実施されることを防止する検査プログラムを作成することが可能になる。

また、検査プログラム記憶部９２４は、後述する検査プログラム作成手段により作成されたプログラムを記憶するデータベースである。

第１検査結果記憶部９２５、第２検査結果記憶部９２６はそれぞれ、検査を実施した部品実装基板ごとの第１検査、第２検査の結果データを記憶するデータベースである。

ＵＩ制御部９１１は、検査プログラムの確認・設定に係る画像を画像表示部９４に表示してユーザーの操作を受け付け、検査内容設定部９１２と協働して操作に応じた処理を実行する。図３にＵＩ制御部９１１が作成し画像表示部９４に表示する画像の例として、ユーザーインターフェースを兼ねる検査カバレッジ設定確認画像の一例を示す。図３に示すように、本適用例に係る検査カバレッジ設定確認画像は、一つの部品品番を一単位として、部品検査制約設計情報における不良のそれぞれを部品実装ラインに設けられる検査装置のいずれが検出するのかを一覧で表示するものとなっている。

また、ＵＩ制御部９１１は、検査対象となる部品の部品品番ごとに、第１検査の結果と第２検査の結果とを対比可能に示す検査結果対比画像を画像表示部９４に表示する。図４に、このような検査結果対比画像の一例を示す。図４に示すように、検査結果対比画像は、第１検査に用いられる検査プログラムによって実施される検査項目と、第２検査に用いられる検査プログラムによって実施される検査項目とを、当該検査項目を実施する検査装置に関わらずまとめて対比させるレイアウトとすることができる。なお、第１検査及び第２検査の結果を第１検査結果記憶部９２５、第２検査結果記憶部９２６から取得するのであってもよいし、直接各検査装置から取得するようにしてもよい。

検査内容設定部９１２は、検査プログラムの確認・設定の処理に必要な情報（部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報など）を記憶部９２から読み出してＵＩ制御部９１１に提供するとともに、ユーザーの操作によって入力される情報に基づいて検査プログラム
を作成（新規設定、変更）する。具体的には、検査カバレッジ設定確認画像に示すようなユーザーインターフェースを介して、ユーザーに部品検査制約設計情報や検査カバレッジ情報（に含まれる、検査項目や検査パラメータ）などを提示するとともに、各情報の新規入力や変更を受け付けることによって、検査プログラムを作成する。なお、本適用例においては、ＵＩ制御部９１１及び検査内容設定部９１２が検査プログラム作成手段に相当する。

また、検査内容設定部９１２は、検査プログラム作成の過程で、部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報などの作成（新規設定、変更）を行う場合もある。なお、作成された検査プログラムは検査プログラム記憶部９２４に、部品検査制約設計情報は部品検査制約設計記憶部９２１に、検査カバレッジ情報は検査カバレッジ情報記憶部９２２に、それぞれ格納される。

以上のような適用例に係る検査管理装置によれば、部品検査制約設計情報において、部品種ごとに検出すべき不良の種類が網羅的に定められるため、検出すべき不良を漏らすことがない。また、部品品番ごとに予め定められた検査カバレッジ情報に基づいて、各部品について検出すべき不良を検出するための適切な検査項目を選択することができる。また、検査装置ごとに、当該検査装置で実施可能な検査の項目と当該検査項目において検出する不良に応じた検査パラメータを定め、実際のライン構成に応じた検査カバレッジ設定確認画像を提供することにより、各検査装置に対して漏れや無駄な重複のない検査分担を設定することができる。これにより、複数の検査工程を有する部品実装基板の生産ラインにおいて、各検査工程で実施される検査内容を基板に搭載される部品ごとに網羅的に確認、設定して適切な検査プログラムを作成することができる。

また、各検査装置において現行の検査プログラムで実際の検査を行うとともに、それと並行して異なる検査内容の他の検査プログラムによる検査を行った場合のシミュレーションを実施し、該他の検査プログラムによる検査結果を、検査結果対比画像により確認することができる。このため、検査設定の変更、検査アルゴリズムの更新、新規なＡＩモデルの採用などのニーズがある場合に、これらを反映させた新たな検査プログラムの性能を、現行の検査プログラムと入れ替えることなく、知ることができる。

なお、上記適用例では、本発明を検査管理装置として適用した例を説明したが、本発明はこれ以外の形態にも適用することができる。以下では、続けて本発明を実施するための形態の例をさらに詳しく説明する。

＜実施形態１＞
（システム構成）
図５は、本実施形態に係る検査管理システム１を適用するプリント基板の部品実装ラインの構成例を模式的に示す図である。部品実装ラインは、主として、はんだ印刷～部品のマウント～リフロー（はんだの溶着）の三つの工程から構成される。また、本実施形態に係る検査管理システム１は、検査管理装置１０及びデータサーバ２０からなる。

図５に示すように、部品実装ラインでは、製造装置として、上流側から順に、はんだ印刷装置Ｘ１、マウンタＸ２、リフロー炉Ｘ３が設けられる。はんだ印刷装置Ｘ１は、スクリーン印刷によってプリント基板上の電極部（ランドと呼ばれる）にペースト状のはんだを印刷する装置である。マウンタＸ２は、基板に実装すべき電子部品をピックアップし、該当箇所のはんだペーストの上に部品を載置するための装置であり、チップマウンタとも呼ばれる。リフロー炉Ｘ３は、はんだペーストを加熱溶融した後、冷却を行い、電子部品を基板上にはんだ接合するための加熱装置である。基板に実装する電子部品の数や種類が多い場合には、部品実装ラインに複数台のマウンタＸ２が設けられることもある。

また、部品実装ラインには、はんだ印刷、部品のマウント、リフローの各工程の出口で基板の状態を検査し、不良あるいは不良のおそれを自動で検出する検査装置Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４が設置されている。各検査装置は、良品と不良品の自動仕分けの他、検査結果やその分析結果に基づき各製造装置の動作にフィードバックする機能（例えば、実装プログラムの変更など）も有している。

はんだ印刷検査装置Ｙ１は、はんだ印刷装置Ｘ１から搬出された基板に対し、はんだペーストの印刷状態を検査するための装置である。はんだ印刷検査装置Ｙ１では、基板上に印刷されたはんだペーストを２次元ないし３次元的に計測し、その計測結果から各種の検査項目について正常値（許容範囲）か否かの判定を行う。検査項目としては、例えば、はんだの体積・面積・高さ・位置ずれ・形状などがある。はんだペーストの２次元計測には、イメージセンサ（カメラ）などを用いることができ、３次元計測には、レーザ変位計や、位相シフト法、空間コード化法、光切断法などを利用することができる。

マウント後検査装置Ｙ２は、マウンタＸ２から搬出された基板に対し、電子部品の配置状態を検査するための装置である。マウント後検査装置Ｙ２では、はんだペーストの上に載置された部品（部品本体、電極など部品の一部でもよい）を２次元ないし３次元的に計測し、その計測結果から各種の検査項目について正常値（許容範囲）か否かの判定を行う。検査項目としては、例えば、部品の位置ずれ、角度（回転）ずれ、欠品（部品が配置されていないこと）、部品違い（異なる部品が配置されていること）、極性違い（部品側と基板側の電極の極性が異なること）、表裏反転（部品が裏向きに配置されていること）、部品高さなどがある。はんだ印刷検査と同様、電子部品の２次元計測には、イメージセンサ（カメラ）などを用いることができ、３次元計測には、レーザ変位計や、位相シフト法、空間コード化法、光切断法などを利用することができる。

外観検査装置Ｙ３は、リフロー炉Ｘ３から搬出された基板に対し、はんだ付けの品質を検査するための装置である。外観検査装置Ｙ３では、リフロー後のはんだ部分を２次元ないし３次元的に計測し、その計測結果から各種の検査項目について正常値（許容範囲）か否かの判定を行う。検査項目としては、部品検査と同じ項目に加え、はんだフィレット形状の良否なども含まれる。はんだの形状計測には、上述したレーザ変位計、位相シフト法、空間コード化法、光切断法などの他、いわゆるカラーハイライト方式（Ｒ、Ｇ、Ｂの照明を異なる入射角ではんだ面に当て、各色の反射光を天頂カメラで撮影することで、はんだの３次元形状を２次元の色相情報として検出する方法）を用いることができる。

Ｘ線検査装置Ｙ４は、Ｘ線像を用いて基板のはんだ付けの状態を検査するための装置である。例えば、ＢＧＡ（Ｂａｌｌ Ｇｒｉｄ Ａｒｒａｙ）、ＣＳＰ（Ｃｈｉｐ Ｓｉｚｅ Ｐａｃｋａｇｅ）などのパッケージ部品や多層基板の場合には、はんだ接合部が部品や基板の下に隠れているため、外観検査装置Ｙ３では（つまり外観画像では）はんだの状態を検査することができない。Ｘ線検査装置Ｙ４は、このような外観検査の弱点を補完するための装置である。Ｘ線検査装置Ｙ４の検査項目としては、例えば、部品の位置ずれ、はんだ高さ、はんだ体積、はんだボール径、バックフィレットの長さ、はんだ接合の良否などがある。なお、Ｘ線像としては、Ｘ線透過画像を用いてもよいし、ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）画像を用いてもよい。なお、以下の説明においては外観検査装置Ｙ３及びＸ線検査装置Ｙ４をまとめて、リフロー後検査装置ということもある。

なお、本実施形態に係る各検査装置Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４は、検査対象の部品実装基板の実際の良否判定検査と並行して、該検査と同一の検査データ（画像データ、計測値など）を用いたシミュレーション検査を実施することが可能になっている。より具体的には、各検査装置は、検査対象となる一つの部品実装基板に対して、実際の良否判定検査用の
第１検査プログラムに基づいて行う第１検査と、シミュレーション用の第２検査プログラムに基づいて行う第２検査とを並行して実施する。そして、第１、第２それぞれの検査結果をデータサーバ２０に送信する。

また、本実施形態に係る各検査装置Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４は、それぞれ検査対象品を目視確認するための表示装置を備えていてもよく、当該目視用の表示装置は各検査装置とは別体の端末として（即ち、目視検査装置として）部品実装ラインに設けられていてもよい。

以下では、はんだ印刷後検査装置Ｙ１によって行われる検査を印刷後検査、部品検査装置Ｙ２によって行われる検査をマウント後検査、外観検査装置Ｙ３及びＸ線検査装置Ｙ４によって行われる検査をリフロー後検査、ということもある。

（検査管理装置）
上述した製造装置Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３および検査装置Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４は、ネットワーク（ＬＡＮ）を介して検査管理装置１０及びデータサーバ２０に接続されている。検査管理装置１０は、製造装置Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３および検査装置Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４の管理や制御を担う端末であり、図示しないが、ＣＰＵ、ＲＡＭなどの主記憶装置、補助記憶装置（ＨＤＤ、フラッシュメモリなど）、入力装置（キーボード、マウス、コントローラ、タッチパネルなど）、出力装置（ディスプレイ、プリンタ、スピーカなど）、通信手段（有線、無線を問わない）などを具備する汎用的なコンピュータシステムにより構成される。後述する検査管理装置１０の各機能部は、補助記憶装置に格納されたプログラムをＣＰＵが読み込み実行することにより実現される。

なお、検査管理装置１０は、１台のコンピュータにより構成してもよいし、複数のコンピュータにより構成してもよい。あるいは、製造装置Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３や検査装置Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４のいずれかの装置が内蔵するコンピュータに、検査管理装置１０の機能の全部又は一部を実装することも可能である。あるいは、検査管理装置１０の機能の一部をネットワーク上のサーバ（クラウドサーバなど）により実現してもよい。

（データサーバ）
データサーバ２０は、大容量のストレージを有する端末であり、後述するように様々なデータが記憶される。検査管理装置１０や、製造装置Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３および検査装置Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４に保有する情報を送信したり、逆にこれらの装置から情報を受信したりする。

（機能ブロック）
図６に、本実施形態の検査管理装置１０、データサーバ２０についての機能ブロック図を示す。図６が示すように、データサーバ２０は、部品検査制約設計記憶部２１１、検査カバレッジ情報記憶部２１２、品番グループ記憶部２１３、検査プログラム記憶部２１４、検査履歴情報記憶部２１５を含んで構成される。

なお、検査カバレッジ情報については、適用例において説明したものと同様である。ただし、本実施形態に係る検査カバレッジ情報記憶部２１２には、標準的な検査項目及び検査装置の組み合わせを定める検査カバレッジ情報（第１バリエーション）の他に、これとは異なる検査項目及び検査装置の組み合わせ（他のバリエーション）がある場合には、このようなバリエーション違いの検査カバレッジ情報も記憶される。

本実施形態は、検査装置Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４を備える部品実装ラインに適用される検査管理システムであるが、検査装置の組み合わせはこれに限られるわけではない。例え
ば、適用例のようにリフロー後の検査装置が一つだけの場合もあるし、印刷後検査を行わないライン構成も想定し得る。また、実装される部品の特徴や配置関係によっては、特定の検査装置・検査項目では不良を適切に検査できないことがある（例えば、反射率の高い表面の部品では部品高さを検査項目にすることは適切でないなど）。このように、様々な検査装置の組み合わせや部品の特性・配置などに応じて、部品検査制約設計情報で定められる不良を検出するために必要な検査項目・検査装置の組み合わせを複数バリエーション定めておくことが望ましい。

品番グループ記憶部２１３は、同一内容の検査カバレッジ情報が適用される複数の部品品番をグルーピングした品番グループ情報を記憶する。検査カバレッジ情報は、品番グループ単位で設定・変更されるようになっていてもよい。

検査履歴情報記憶部２１５は、各検査装置Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４において実施された検査の結果（画像データ、三次元形状データ、最終良否判定結果など）に係る検査履歴情報を記憶するデータベースである。なお、検査履歴情報記憶部２１５は、第１検査結果記憶部２１６、第２検査結果記憶部２１７、実不良データ記憶部２１８を備えている。

第１検査結果記憶部２１６、第２検査結果記憶部２１７はそれぞれ、検査を実施した部品実装基板ごとの第１検査、第２検査の結果データを記憶するデータベースである。また、実不良データ記憶部２１８は、図示しない目視検査や接触検査によって、実際に不良と判断された部品実装基板のデータを記憶するデータベースである。即ち、本実施形態における部品実装ラインでは、検査装置Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４による検査以外に、検査対象が実不良か否かを決定する目視検査などの検査が行われており、当該検査結果のデータがデータサーバ２０に送信され、保存される。

なお、部品検査制約設計記憶部２１１、検査プログラム記憶部２１４については、適用例において説明したものと同様であるため、改めての説明は省略する。

本実施形態において、部品検査制約設計記憶部２１１、検査カバレッジ情報記憶部２１２、品番グループ記憶部２１３、検査プログラム記憶部２１４、検査履歴情報記憶部２１５は、格納されている情報を相互に参照・連動可能である、いわゆる関係データベースとして機能する。即ち、後述する検査プログラムは、部品検査制約設計情報に係る不良の種類の情報、検査カバレッジ情報に係る検査項目（及びその検査パラメータ）の情報を保持せずに、部品検査制約設計記憶部２１１、検査カバレッジ情報記憶部２１２に記憶されている情報を参照することによって、各検査装置が実施する検査の内容を定義するようになっていてもよい。

また、図６が示すように、検査管理装置１０は、制御部１１０、入力部１２０、画像表示部１３０を有しており、制御部１１０はさらに機能モジュールとして、データ読出し部１１１、ＵＩ制御部１１２、検査内容設定部１１３、シミュレーション実行部１１４、検査カバレッジ判定部１１５、最適設定判定部１１６を備えている。

入力部１２０は、検査管理装置１０への入力手段であり、典型的にはキーボード、マウス、コントローラ、タッチパネルなどによって構成される。また、画像表示部１３０は、後述する検査カバレッジ設定確認画像などのユーザーインターフェース画像や、その他の各種情報を出力する手段であり、典型的には液晶ディスプレイなどの表示装置によって構成される。

続けて、制御部１１０が備える各機能モジュールについて説明する。データ読出し部１１１は、データサーバ２０から検査プログラムの確認・設定の処理に係る各種の情報を読
み出してＵＩ制御部１１２、検査内容設定部１１３、シミュレーション実行部１１４、検査カバレッジ判定部１１５、最適設定判定部１１６に提供する。

ＵＩ制御部１１２は、後述する検査プログラムの確認・設定に係る画像を画像表示部１３０に表示してユーザーの操作を受け付け、検査内容設定部１１３と協働して操作に応じた処理を実行する。即ち、ＵＩ制御部１１２が作成し、画像表示部１３０に表示する画像には、ユーザーインターフェースを兼ねるＵＩ画像が含まれる。図７にこのような画像の一例である検査カバレッジ設定確認画像を示す。図７に示すように、本実施形態に係る検査カバレッジ設定確認画像は、一つの部品品番を一単位として、部品検査制約設計情報における不良のそれぞれを部品実装ラインに設けられる検査装置のいずれが検出するのかを一覧で表示するものとなっている。より具体的には、一方の軸に部品検査制約設計情報における不良の種類の一覧を示し、他方の軸に部品実装ラインに設けられる各検査装置の一覧を示す行列の一覧表を含み、当該一覧表において、不良を検出する検査装置を示す行又は列と、検出される不良を示す行又は列とが交差する欄に、不良を検出する検査項目の名称が表示される。

また、ＵＩ制御部１１２は、検査対象となる部品の部品品番ごとに、第１検査の結果と第２検査の結果とを対比可能に示す検査結果対比画像を画像表示部１３０に表示する。図４にこのような検査結果対比画像の一例を示す。図４に示すように、検査結果対比画像では、検出すべき不良に対応する、第１検査プログラム、第２検査プログラムそれぞれの検査項目の一覧が表示される。また、第１プログラムで行われた現行の検査結果（良否判定結果）及び第２検査プログラムで行われたシミュレーション検査の結果（良否判定）についての正答率が対比して表示されるとともに、正答率についての検査プログラム間での順位も併せて表示される。なお、これらの正答率、順位に係る情報は、後述の最適設定判定部１１６によって算出され、ＵＩ制御部１１２に提供される。

図４に示す検査結果対比画像の例では、第１検査プログラムと第２検査プログラムとは、「欠品」の不良を検出するための検査項目「ＡＩ検査」のリビジョンが異なっており、第２検査プログラムの方が、正答率の高い検査を実施できる、より適切な検査プログラムということがわかる。

検査内容設定部１１３は検査プログラムの確認・設定の処理に必要な情報（部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報、品番グループ情報など）をデータサーバ２０から読み出してＵＩ制御部１１２に提供するとともに、ユーザーの操作によって入力される情報に基づいて検査プログラムを作成（新規設定、変更）する。具体的には、検査カバレッジ設定確認画像に示すようなユーザーインターフェースを介して、ユーザーに部品検査制約設計情報や検査カバレッジ情報（に含まれる、検査項目や検査パラメータ）などを提示するとともに、各情報の新規入力や変更を受け付けることによって、検査プログラムを作成する。

また、検査内容設定部１１３は、検査プログラム作成の過程で、部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報、品番グループ情報などの作成（新規設定、変更）を行う場合もある。なお、作成された検査プログラムは検査プログラム記憶部２１４に、部品検査制約設計情報は部品検査制約設計記憶部２１１に、検査カバレッジ情報は検査カバレッジ情報記憶部２１２に、品番グループ情報は品番グループ記憶部２１３に、それぞれ格納される。

シミュレーション実行部１１４は、検査履歴情報記憶部２１５から読出した過去の検査情報（画像データ、計測値データなど）に基づいて、検査カバレッジ設定確認画像の一覧表において現在設定されている検査内容（検査項目及び検査パラメータ）によるシミュレーション検査を実行する。当該シミュレーションの結果により、過去の検査結果に照らし
て、現在設定されている検査内容で不良の見逃し・見過ぎが生じる場合には、ＵＩ制御部１１２に当該情報を提供する。情報の提供を受けたＵＩ制御部１１２は、見逃し、見過ぎが生じることを検査カバレッジ設定確認画像において報知する表示を行う。

図８に、現在の検査内容で見逃し・見過ぎが生じることを示す検査カバレッジ設定確認画像の一例を示す。図８に示すように、現在設定されている検査内容において不良の見逃し・見過ぎが生じる場合には、例えば、当該見逃し・見過ぎが生じる検査項目の名称を識別可能に強調表示する。図８の例では、検査装置Ｙ２において行われるマウント後検査の「部品違い（高さ）」の検査項目の検査では見逃しが発生することを示し、検査装置Ｙ４で行われるＸ線検査の「ボイド（面積）」の検査項目では見過ぎが発生することを示している。

検査カバレッジ判定部１１５は、部品ごとに、現在設定されている検査カバレッジ情報が、部品検査制約設計情報における不良種の全てを検出するための検査項目を有しているか否かを判定する。判定の結果、不良のいずれかについて、これを検出するための検査項目が設定されていない場合には、ＵＩ制御部１１２にその旨の情報を提供する。情報の提供を受けたＵＩ制御部１１２は、検査項目が設定されていない不良種があることをアラートする表示を検査カバレッジ設定確認画像において行う。本実施形態においては、図８における不良種一覧の「不濡れ」の横に表示される「！」のマークがこのようなアラート表示に該当する。

最適設定判定部１１６は、第１検査結果記憶部２１６に記憶される第１検査の結果と、第２検査結果記憶部２１７に記憶される第２検査の結果と、実不良データ記憶部２１８に記憶される実際の良否判定結果と、に基づいて、第１検査プログラムと第２検査プログラムの検査の精度（本実施例では正答率）を算出する。また、これに基づいて、いずれがより検査に適しているかを判定する。より具体的には、第１検査、第２検査の検査結果と、実不良データとを比較し、どちらがより見逃し・見過ぎが少ない検査を実施できるか（即ち、より正答率が高いのはどちらか）を判定し、順位付けを行う。なお、本実施形態においては正答率を根拠（検査精度）としていずれの検査プログラムが適切かを判定するが、判定の根拠は正答率のみに限られず、例えば、計測値の分布や良否判定に対する余裕度などといった指標を用いることもできる。即ち、本実施形態に係る最適設定判定部１１６は、本発明に係る検査精度算出手段及び最適設定判定手段を兼ねる構成要素である。

（検査プログラム作成処理の流れ）
次に、図９のフローチャートに基づいて、本実施形態に係る検査管理システム１により、検査プログラムを作成する方法について説明する。検査プログラムは、例えば新規な構成の部品実装基板を製造する際などに新規に作成される。まず、ＵＩ制御部１１２が画像表示部１３０に新規プログラム作成用のＵＩ画像（図示せず）を表示し、ユーザーはこれに基づいて入力部１２０を介して基板の回路上に部品品番単位で部品を割り当てる処理を行う（Ｓ１０１）。次に、検査カバレッジ判定部１１５は部品品番が割り当てられた回路の設計及び管理対象のラインの構成（検査装置の組み合わせ）に応じた検査網羅性があるか否かを判断する（Ｓ１０２）。具体的には、例えば、各部品に対応する部品検査制約設計情報、及び該部品検査制約設計情報における不良の種類と、該不良の全てを検出し得る検査項目（及び該検査を実施する検査装置）の組み合わせを定める検査カバレッジ情報が、データサーバ２０に格納されているか否か確認することにより判定を行う。

ステップＳ１０２で、新規に割り当てが行われた回路設計に応じた検査網羅性が有ると判断した場合には、ステップＳ１０６へ進む。一方、検査網羅性が無いと判断した場合（例えば、検査項目が割り当てられていない不良種がある場合など）には、ＵＩ制御部１１２がその旨のアラートを報知する表示を画像表示部１３０に出力する。ユーザーはこのよ
うなアラートを受けて、必要な検査項目（検査パラメータ）を設定する。具体的には、ＵＩ制御部１１２が提供するＵＩ画像（図示せず）に従って、部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報（バリエーションの設定も含む）、などに係る情報を入力部１２０により入力する。入力された情報はデータサーバ２０に送信され、部品検査制約設計記憶部２１１、検査カバレッジ情報記憶部２１２、品番グループ記憶部２１３の各データベースの情報の更新を行う（Ｓ１０３、Ｓ１０４、Ｓ１０５）。なお、ステップＳ１０３からＳ１０５の処理は必ずしもすべてを行う必要はなく、例えばステップＳ１０３の部品検査制約設計情報の設定を省略する場合などもあり得る。

ステップＳ１０３からステップＳ１０５までの処理後、新規に割り当てられた回路設計に応じた検査網羅性を満たす情報が部品検査制約設計記憶部２１１、検査カバレッジ情報記憶部２１２、品番グループ記憶部２１３に追加されると、ステップＳ１０６に進む。ステップＳ１０６では、ユーザーはＵＩ制御部１１２が提供するＵＩ画像（図示せず）に従って、新規登録する部品実装基板を生産する可能性のあるライン構成に適した検査カバレッジを選択する（Ｓ１０６）。

次に、ユーザーはステップＳ１０６で選択した検査カバレッジによる検査を設定した場合に、各検査項目について現在設定されている検査パラメータで不良を適切に検出できるか（即ち適切な検査が実施できるか）否かの判定を行う（ステップＳ１０７）。ここでは、例えば図８に示すような検査カバレッジ設定確認画像を参照して、見逃し・見過ぎが生じる検査項目があるか否かを確認することで、適切な検査が実施可能か否かを判断することができる。

ステップＳ１０７で、適切な検査が実施できないと判断した場合には、ユーザーは検査項目（検査パラメータを含む）の修正を行う（Ｓ１０８）。ここでは、ＵＩ制御部１１２が検査内容情報の修正のためのＵＩ画像を表示し、これに従ってユーザーが入力を行うことで、検査項目の修正を行うことができる。具体的には、例えば、図８に示すような検査カバレッジ設定確認画像から強調表示されている検査項目を選択すると、当該検査項目のパラメータを設定するための別のＵＩ画像がポップアップして表示されるようにすればよい。図１０に、このような検査パラメータ設定のためのＵＩ画像がポップアップ表示された状態の画像例を示す。

ステップＳ１０８で検査項目の修正が行われた後は、ステップＳ１０７に戻り、適切な検査が実施できるようになるまで、同様の処理を繰り返す。一方、ステップＳ１０７で、全ての不良種を適切に検出することができる、と判断した場合には、新規部品実装基板のための新たな検査プログラムとして設定し、検査プログラム記憶部２１４に保存する（Ｓ１０９）。そして、ステップＳ１０９の処理を実行後、検査プログラム作成のフローが一旦終了する。

なお、ステップＳ１０１からステップＳ１０９の処理により作成される検査プログラムは、部品検査制約設計情報、検査カバレッジ情報、を参照する形で、各検査装置において各部品の不良を検出するための検査内容を網羅的に定義するものである。即ち、本実施形態においては、制御部１１０が本発明の検査プログラム作成手段に相当し、ステップＳ１０４、Ｓ１０５の処理が本発明の検査分担設定ステップに、ステップＳ１０６からＳ１０８までの処理が検査プログラム作成ステップにそれぞれ相当する。

以上のような構成を備える検査管理システム１によれば、ユーザーは複数の検査装置を備える部品実装ラインにおける検査プログラム作成の際に、部品品番単位で、複数の検査装置に対して横断的に、かつ検出すべき不良の種類を網羅して、各検査装置で実施すべき検査の内容を設定することが可能になる。また、このようにして設定されるプログラムの
内容を一覧性良く確認することができるとともに、検査網羅性が満たされていない場合や、過去の検査履歴に照らして現在の検査パラメータが適切でない場合には、ＵＩ画像にその旨が報知されるため、検査内容情報の設定ミスをより確実に防止することができる。

また、現行の検査プログラムで実際の検査を行うとともに、それと並行して異なる検査内容の他の検査プログラムによる検査を行った場合のシミュレーションを行い、それぞれの検査結果を対比可能に示す検査結果対比画像を示すことで、他の検査プログラムの適否を判断することができる。このため、検査設定の変更、検査アルゴリズムの更新、新規なＡＩモデルの採用などのニーズがある場合に、これらを反映させた新たな検査プログラムの適否を、現行の検査プログラムと入れ替えることなく知ることができる。即ち、新たな検査プログラムを設定することで、実際に量産している製品に対する検査の質を低下させるというリスクを排除することが可能になる。

（変形例）
なお、上記実施形態１では、各検査装置において実施されるシミュレーション検査は第２検査プログラムによるもののみであったが、複数のシミュレーション検査を並行して実施させることもできる。この場合には、データサーバ２１にはさらに第３検査結果記憶部、第４検査結果記憶部・・・というようにそれぞれシミュレーション検査用のデータベースを設けることになる。図１１に、複数のシミュレーション検査を実施した場合におけるシミュレーション結果表示画像の例を示す。

＜その他＞
上記の実施形態の説明は、本発明を例示的に説明するものに過ぎず、本発明は上記の具体的な形態には限定されない。本発明は、その技術的思想の範囲内で種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では部品検査制約設計情報は部品種ごとに設定されるものであったが、さらに当該部品種の部品が備える電極種ごとの部品検査制約設計情報が定められ、部品検査制約設計記憶部に記憶されるのであってもよい。部品全体に及ぶ不良（部品違い、欠品、表裏反転、部品ずれ、など）の他に、部品の電極を対象とした不良（電極浮き、電極ずれ、不濡れ、など）もあるため、このような構成であればより適切な検査を設定することができる。図１２に、電極種を単位として作成される検査カバレッジ設定確認画像の一例を示す。

また、上記の各実施形態では、検査装置が複数配置される部品実装ラインを例として説明を行ったが、単一の検査装置のみを備える部品実装ラインにも本発明を適用することも可能である。部品検査制約設計記憶部、検査カバレッジ記憶部、品番グループ記憶部、検査プログラム記憶部に、このような単一の検査装置のみを備える部品実装ラインに応じたデータを格納しておくことで、様々なライン構成に柔軟に対応可能な検査管理システムとすることができる。

また、上記実施形態２において、検査結果対比画像は、第１検査と第２検査の検査結果（正答率）を対比させて表示させるものであったが、第１検査の結果と第２検査の結果とを対比可能に示す検査結果対比画像は、シミュレーションに係る検査の結果（良否判定結果のみの情報を含む）のみを表示するものであっても構わない。また、上記実施形態１ではデータサーバ２０に第１検査結果、第２検査結果、実不良データ、部品検査制約設計情報などの各種情報が記憶される構成となっていたが、検査管理装置１０の補助記憶部にこれらの情報が格納されるようになっていても構わない。

また、上記の各実施形態では、検査カバレッジ情報記憶部と、品番グループ情報記憶部とが別のデータベースとなっていたが、検査カバレッジ情報を品番グループ情報に含めるようにしてこれらを一つにまとめてもよい。

＜付記１＞
部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置（Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４）の検査内容を管理する検査管理システム（１）であって、
前記検査装置は、第１の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する実際の良否判定を行う第１検査と、前記第１の検査プログラムとは異なる第２の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する模擬的な良否判定を行う第２検査とを、並行して実施可能に構成されており、
前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段（２１１）と、
前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段（１１０）と、
前記部品の部品品番ごとに、前記第１検査の結果と前記第２検査の結果とを対比可能に示す検査結果対比画像を表示する画像表示手段（１３０）と、を有する、
ことを特徴とする、検査管理システム。

＜付記２＞
部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置（Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３）の検査内容を管理する検査管理装置（９）であって、
前記検査装置は、第１の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する実際の良否判定を行う第１検査と、前記第１の検査プログラムとは異なる第２の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する模擬的な良否判定を行う第２検査とを、並行して実施可能に構成されており、
前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段（９２１）と、
前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段（９１）と、
前記部品の部品品番ごとに、前記第１検査の結果と前記第２検査の結果とを対比可能に示す検査結果対比画像を表示する画像表示手段（９４）と、を有する、
ことを特徴とする、検査管理装置。

１、２・・・検査管理システム
Ａ１、Ｘ１・・・はんだ印刷装置
Ａ２、Ｘ２・・・マウンタ
Ａ３、Ｘ３・・・リフロー炉
Ｂ１、Ｙ１、Ｙ１１・・・はんだ印刷後検査装置
Ｂ２、Ｙ２、Ｙ１２・・・マウント後検査装置
Ｂ３・・・リフロー後検査装置
Ｙ３、Ｙ１３・・・外観検査装置
Ｙ４、Ｙ１４・・・Ｘ線検査装置
９、１０、１１・・・検査管理装置
１１０、３１０・・・制御部
９２・・・記憶部
９３、１２０・・・入力部
９４、１３０・・・画像表示部
２０、２１・・・データサーバ
２１５・・・検査履歴情報記憶部

Claims (4)

1. 部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理システムであって、
   前記検査装置は、第１の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する実際の良否判定を行う第１検査と、前記第１の検査プログラムとは異なる第２の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する模擬的な良否判定を行う第２検査とを、並行して実施可能に構成されており、
   前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段と、
   前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段と、
   前記部品の部品品番ごとに、前記第１検査の結果と前記第２検査の結果とを対比可能に示す検査結果対比画像を表示する画像表示手段と、を有する、
   ことを特徴とする、検査管理システム。
2. 前記第１検査の検査結果を記憶する第１検査結果記憶手段と、
   前記第２検査の検査結果を記憶する第２検査結果記憶手段と、
   前記部品実装基板に対する実際の良否判定結果を記憶する実不良データ記憶手段と、
   前記第１検査の結果及び前記第２検査の結果と、前記実際の良否判定結果とに基づいて、前記第１検査及び前記第２検査の検査精度を算出する、検査精度算出手段と、
   を有しており、
   前記検査結果対比画像には、前記第１検査及び第２検査の検査精度に係る情報の表示が含まれる、
   ことを特徴とする、請求項１に記載の検査管理システム。
3. 前記第１検査の結果と、前記第２検査の結果と、前記実際の良否判定結果と、に基づいて、前記第１の検査プログラムと前記第２の検査プログラムのいずれが、より前記部品の検査に適しているかを判定する、最適設定判定手段をさらに有しており、
   前記検査結果対比画像には、前記最適設定判定手段の判定結果を示す表示が含まれる、
   ことを特徴とする、請求項２に記載の検査管理システム。
4. 部品実装基板の生産ラインに設けられる一以上の検査装置の検査内容を管理する検査管理装置であって、
   前記検査装置は、第１の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する実際の良否判定を行う第１検査と、前記第１の検査プログラムとは異なる第２の検査プログラムに基づいて前記部品実装基板に対する模擬的な良否判定を行う第２検査とを、並行して実施可能に構成されており、
   前記部品実装基板に実装される部品の部品種ごとに、検出されるべき一以上の不良の種類を定義づけた部品検査制約設計情報を記憶する、部品検査制約設計記憶手段と、
   前記部品実装基板に実装される部品ごとに、該部品に係る前記部品検査制約設計情報に定義される前記不良を検出する検査項目及び該検査項目に係る検査を実施する検査装置を定める検査プログラムを作成する、検査プログラム作成手段と、
   前記部品の部品品番ごとに、前記第１検査の結果と前記第２検査の結果とを対比可能に示す検査結果対比画像を表示する画像表示手段と、を有する、
   ことを特徴とする、検査管理装置。

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