JP2023136914A - 温度槽 - Google Patents
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Abstract
【課題】供試体全体の温度を均一にすることができる温度槽を提供する【解決手段】底面壁20と側面壁21が一体構造の伝熱部材10と、前記底面壁20と前記側面壁21で囲まれて成る凹部5と、前記伝熱部材10を加熱及び/又は冷却する熱源部材11を有していることを特徴とする。【選択図】図2
Description
本発明は、供試体を所望の温度環境に置くことができる装置に関するものである。
近年、通信技術やコンピュータ制御技術についての研究が盛んであり、例えばIoT(Internet of Things)や自動運転に使用される電子機器が日々開発されている。
これらの電子機器は、多様な温度環境で使用される場合がある。そのため電子機器そのものや、これらの部品たる半導体、電子部品、材料等の温度特性を評価したり、温度環境に対する影響を調査することが必要となる場合がある。
また高温環境や低温環境に晒された際における、基板等の変形や反りなどの物理的変化を知りたい場合もある。
これらの電子機器は、多様な温度環境で使用される場合がある。そのため電子機器そのものや、これらの部品たる半導体、電子部品、材料等の温度特性を評価したり、温度環境に対する影響を調査することが必要となる場合がある。
また高温環境や低温環境に晒された際における、基板等の変形や反りなどの物理的変化を知りたい場合もある。
この用途に使用することができる加熱冷却試験装置が特許文献1に開示されている。
特許文献1に開示された加熱冷却試験装置は、ペルチェモジュールの上面に、供試体を載置するプレートが取り付けられたものである。
特許文献1に開示された加熱冷却試験装置は、供試体を載置するプレートがむき出しの状態であり、当該プレートを覆う部材を持たない。
特許文献1に開示された加熱冷却試験装置は、ペルチェモジュールの上面に、供試体を載置するプレートが取り付けられたものである。
特許文献1に開示された加熱冷却試験装置は、供試体を載置するプレートがむき出しの状態であり、当該プレートを覆う部材を持たない。
特許文献1に記載の加熱冷却試験装置では、プレートの温度が背面のペルチェモジュールによって制御される。供試体は、プレートの上に載置され、プレートから直接的に熱伝導を受ける。
特許文献1に記載の加熱冷却試験装置では、供試体の下面側はプレートと接触しているので所望の温度に調整されるが、供試体の上面側は、周囲の空気温度の影響を強く受け、下面側の温度とは異なるものとなる場合がある。
特許文献1に記載の加熱冷却試験装置では、供試体の下面側はプレートと接触しているので所望の温度に調整されるが、供試体の上面側は、周囲の空気温度の影響を強く受け、下面側の温度とは異なるものとなる場合がある。
本発明は、上記した点に注目し、供試体全体の温度を均一にすることができる温度槽を提供することを課題とするものである。
上記した課題を解決するための態様は、底面壁と側面壁が一体構造の伝熱部材と、前記底面壁と前記側面壁で囲まれて成る凹部と、前記伝熱部材を加熱及び/又は冷却する熱源部材を有していることを特徴とする温度槽である。
本態様の温度槽は、凹部を有し、当該凹部に供試体が配置される。
本態様の温度槽では、凹部は、底面壁と側面壁が一体構造の伝熱部材で構成されている。伝熱部材は、熱源部材から加熱や冷却を受けて表面温度が調整されるが、当該伝熱部材は底面壁と側面壁が一体構造であるから、底面壁と側面壁の相互間の熱の流れが円滑であり、底面壁と側面壁の温度は略等しいものとなる。
供試体は側面壁からの輻射熱によっても温度調整されるが、本態様の温度槽では、底面壁と側面壁の温度は略等しいものとなるから、供試体の上面側の温度についても下面側に近い温度となる。
凹部内の空間は、底面壁と側面壁で囲まれた空間であるから、当該空間の空気温度は、凹部の内壁の温度に近いものとなる。
そのため、凹部内の供試体は、設置面(下面)以外の部位も設置面と略同様の環境に置かれることとなり、供試体全体の温度を均一にすることができる。
本態様の温度槽では、凹部は、底面壁と側面壁が一体構造の伝熱部材で構成されている。伝熱部材は、熱源部材から加熱や冷却を受けて表面温度が調整されるが、当該伝熱部材は底面壁と側面壁が一体構造であるから、底面壁と側面壁の相互間の熱の流れが円滑であり、底面壁と側面壁の温度は略等しいものとなる。
供試体は側面壁からの輻射熱によっても温度調整されるが、本態様の温度槽では、底面壁と側面壁の温度は略等しいものとなるから、供試体の上面側の温度についても下面側に近い温度となる。
凹部内の空間は、底面壁と側面壁で囲まれた空間であるから、当該空間の空気温度は、凹部の内壁の温度に近いものとなる。
そのため、凹部内の供試体は、設置面(下面)以外の部位も設置面と略同様の環境に置かれることとなり、供試体全体の温度を均一にすることができる。
上記した態様において、前記側面壁の少なくとも一つは、厚さが不均一であることが望ましい。
上記した各態様において、前記側面壁の少なくとも一つは、底側の領域の厚さが他のいずれかの領域に比べて厚いことが望ましい。
本態様の温度槽は、側面壁の底側の領域の厚さが比較的厚いので、底面壁と側面壁の相互間の熱の流れが円滑であり、底面壁と側面壁の温度が略等しいものとなる。
上記した各態様において、前記側面壁の少なくとも一つの平面断面積は、底側に比べて上部側の方が小さいことが望ましい。
本態様の温度槽は、側面壁の底側の領域の平面断面積が比較的大きいので、底面壁と側面壁の相互間の熱の流れが円滑であり、底面壁と側面壁の温度は略等しいものとなる。
上記した各態様において、前記凹部の内側面に段部があることが望ましい。
本態様によると、段部を利用して供試体を中空に置くことができる。
上記した各態様において、蓋部材を有し、当該蓋部材で前記凹部を封止することが可能であり、前記蓋部材には窓があって前記凹部内を外部から観察することが可能であることが望ましい。
本態様の温度槽は、蓋部材を有し、当該蓋部材で前記凹部を封止することができるので、凹部内が外部から遮断され、外気の影響を小さくすることができる。
また、窓があるため凹部を封止しても、凹部内を外部から観察することが可能となる。
また、窓があるため凹部を封止しても、凹部内を外部から観察することが可能となる。
本発明の温度槽を使用すると、供試体全体の温度を比較的均一にすることができる。
以下、本発明の実施形態について説明する。
本実施形態の温度槽1は、図1、図2の様に、本体部2と、蓋部材3によって構成されている。
本体部2は、上面が開口する凹部5を有し、当該凹部5内に供試体100(図5)が配置される。本体部2は、断熱材で構成された本体箱6に、伝熱部材10と、熱源部材11及びヒートシンク12が挿入されたものである。本実施形態では、伝熱部材10に前記した凹部5がある。
蓋部材3は、本体部2に取り付けられていて凹部5の上面を開閉するものである。蓋部材3には、窓15が設けられている。
以下、各部材について説明する。
本実施形態の温度槽1は、図1、図2の様に、本体部2と、蓋部材3によって構成されている。
本体部2は、上面が開口する凹部5を有し、当該凹部5内に供試体100(図5)が配置される。本体部2は、断熱材で構成された本体箱6に、伝熱部材10と、熱源部材11及びヒートシンク12が挿入されたものである。本実施形態では、伝熱部材10に前記した凹部5がある。
蓋部材3は、本体部2に取り付けられていて凹部5の上面を開閉するものである。蓋部材3には、窓15が設けられている。
以下、各部材について説明する。
伝熱部材10は、図2、図3の様に、外形形状の輪郭が直方体であり、伝熱部材10に上面が開口する凹部5が形成されている。
伝熱部材10は、図2、図3の様に、底面壁20と、当該底面壁20を囲む4面の側面壁21を有し、前記凹部5は、底面壁20と4面の側面壁21で囲まれている。
本実施形態の伝熱部材10は、底面壁20と4面の側面壁21が一体構造となったものである。
伝熱部材10は、図2、図3の様に、底面壁20と、当該底面壁20を囲む4面の側面壁21を有し、前記凹部5は、底面壁20と4面の側面壁21で囲まれている。
本実施形態の伝熱部材10は、底面壁20と4面の側面壁21が一体構造となったものである。
伝熱部材10の製造方法は限定するものではないが、本実施形態では、アルミニウムや銅合金等の熱伝導性に優れた金属塊を切削して作られている。
即ち金属塊を切削して直方体の外形を成形し、その直方体の部材に凹部5となる直方体状の穴を設けて作られている。そのため伝熱部材10は、継ぎ目の無い一体構造となっている。
伝熱部材10の他の製造方法としては、底面壁20と4面の側面壁21を個別に成型して溶接等により一体化することが考えられる。
また曲げ加工や鍛造によって、底面壁20と4面の側面壁21が一体構造の伝熱部材10を成形することもできる。
即ち金属塊を切削して直方体の外形を成形し、その直方体の部材に凹部5となる直方体状の穴を設けて作られている。そのため伝熱部材10は、継ぎ目の無い一体構造となっている。
伝熱部材10の他の製造方法としては、底面壁20と4面の側面壁21を個別に成型して溶接等により一体化することが考えられる。
また曲げ加工や鍛造によって、底面壁20と4面の側面壁21が一体構造の伝熱部材10を成形することもできる。
本実施形態で採用する伝熱部材10は、側面壁21の厚さが不均一であり、図2の様に、底側となる下部領域25と開口側となる上部領域26で厚さが異なっている。具体的には、伝熱部材10の下部領域25は、上部領域26に比べて厚さが厚い。即ち、側面壁21において、底側の領域の壁の厚さが、側面壁21の他のいずれの領域よりも厚い。
厚さの比率は限定するものではないが、本実施形態では下部領域25の厚さは底面壁20と同等であり、上部領域26はそれよりも薄い。
図4に示すように、側面壁21の平面断面積は、底側(図4(b)参照)に比べて上部側(図4(a)参照)の方が小さい。
本実施形態では、側面壁21の下部領域25の壁の厚さは一様に厚い。また側面壁21の上部領域26の壁の厚さは一様に薄い。
そのため、両者の境界部では、内面が段部30となっている。
本実施形態の伝熱部材10は、側面壁21の上部領域26が下部領域25に比べてより多く削られていて凹部5の空気と接する内面の面積が大きい。即ち本実施形態の伝熱部材10は、側面壁の厚さが一様に厚い構造のものに比べて側面壁21の内面の面積が大きい。
図4に示すように、側面壁21の平面断面積は、底側(図4(b)参照)に比べて上部側(図4(a)参照)の方が小さい。
本実施形態では、側面壁21の下部領域25の壁の厚さは一様に厚い。また側面壁21の上部領域26の壁の厚さは一様に薄い。
そのため、両者の境界部では、内面が段部30となっている。
本実施形態の伝熱部材10は、側面壁21の上部領域26が下部領域25に比べてより多く削られていて凹部5の空気と接する内面の面積が大きい。即ち本実施形態の伝熱部材10は、側面壁の厚さが一様に厚い構造のものに比べて側面壁21の内面の面積が大きい。
本実施形態では、伝熱部材10の底面壁20に温度センサー22が取り付けられている。温度センサー22の温度検知部(図示せず)の位置は、底面壁20の中心近傍である。
熱源部材11は、ペルチェ素子を内蔵したペルチェ部材である。
ペルチェ部材は、2枚の金属板の間にペルチェ素子を挟んだものであり、ペルチェ素子に通電することによって、一方の金属板が発熱して温度が上昇し、他方の金属板が吸熱して温度が低下する。
ペルチェ部材は、2枚の金属板の間にペルチェ素子を挟んだものであり、ペルチェ素子に通電することによって、一方の金属板が発熱して温度が上昇し、他方の金属板が吸熱して温度が低下する。
ヒートシンク12は、水等の冷媒を貯めるタンクであり、図3の様に、入水管32と排水管33を有している。
本体箱6は、断熱材で構成された箱体であり、本体部2の外郭を構成するものである。 本体箱6は、概形が略直方体であり、中央部に凹部35が設けられている。また本体箱6の一つの側面には、ヒートシンク12の入水管32と排水管33を挿通する開口37、38が設けられている。
本体箱6の上部の一辺側にはヒンジ40が設けられ、他片側には係合部41が設けられている。
本体箱6の対向する壁面には取っ手27が設けられている。
本体箱6の上部の一辺側にはヒンジ40が設けられ、他片側には係合部41が設けられている。
本体箱6の対向する壁面には取っ手27が設けられている。
本体部2は、図2、図3の様に、本体箱6の凹部35に伝熱部材10が配され、本体箱6の内底42と、本体部2の底面壁20との間に、ヒートシンク12と熱源部材11が配されたものである。
本実施形態では、伝熱部材10の底面に、熱源部材11の一面が直接接しており、熱源部材11の他面にヒートシンク12が直接接している。
本実施形態では、伝熱部材10の底面に、熱源部材11の一面が直接接しており、熱源部材11の他面にヒートシンク12が直接接している。
蓋部材3は、本体部2の上面に合致する下面を有する板状の部材である。
蓋部材3には、窓15が設けられている。窓15は、蓋部材3の中央に設けられた内外を貫通する四角形の開口43に、ガラス板45、46がはめ込まれたものである。
ガラス板45、46は、いずれも耐熱性を備えた、光透過性が高い石英ガラスである。
ガラス板45、46の間には隙間50があり、図示しない供給口から隙間50内に乾燥空気が供給される。ガラス板45、46の間の隙間50に乾燥空気が供給されることにより、ガラス板45、46の曇りや結露を防止することができる。
蓋部材3には、窓15が設けられている。窓15は、蓋部材3の中央に設けられた内外を貫通する四角形の開口43に、ガラス板45、46がはめ込まれたものである。
ガラス板45、46は、いずれも耐熱性を備えた、光透過性が高い石英ガラスである。
ガラス板45、46の間には隙間50があり、図示しない供給口から隙間50内に乾燥空気が供給される。ガラス板45、46の間の隙間50に乾燥空気が供給されることにより、ガラス板45、46の曇りや結露を防止することができる。
蓋部材3の一辺側には取っ手47が設けられている。また同じ辺側にトグル機構式の閉止器具48が2組設けられている。
蓋部材3の下面には、図2の様に、パッキン51が設けられている。
蓋部材3の下面には、図2の様に、パッキン51が設けられている。
蓋部材3は、ヒンジ40を介して本体部2に取り付けられており、本体部2の凹部5を開閉することができる。
蓋部材3を開くことによって本体部2の凹部5が開放され、蓋部材3を閉じることによって凹部5を封止することができる。本実施形態では、蓋部材3にパッキン51が設けられているので、蓋部材3を閉じることによって凹部5内が密閉状態となる。
蓋部材3を閉じる際には閉止器具48を本体部2の係合部41に係合し、閉止器具48を図1の姿勢にする。その結果、トグル機構によって蓋部材3が本体部2に引き寄せられて締め付けられる。
蓋部材3を開くことによって本体部2の凹部5が開放され、蓋部材3を閉じることによって凹部5を封止することができる。本実施形態では、蓋部材3にパッキン51が設けられているので、蓋部材3を閉じることによって凹部5内が密閉状態となる。
蓋部材3を閉じる際には閉止器具48を本体部2の係合部41に係合し、閉止器具48を図1の姿勢にする。その結果、トグル機構によって蓋部材3が本体部2に引き寄せられて締め付けられる。
次に、本実施形態の温度槽1の使用方法及び作用について説明する。
本実施形態の温度槽1は、電子部品や基板等の供試体100に対して環境試験を行うことができるものである。
最初の工程として、凹部5内に供試体100を入れる。例えば図5(a)の様に、凹部5の底面壁20に供試体100を置く。図5(a)の様に熱伝導に優れるシート101やペーストを介して供試体100を底面壁20に置いてもよいし、供試体100を底面壁20に直接置いてもよい。
本実施形態の温度槽1は、電子部品や基板等の供試体100に対して環境試験を行うことができるものである。
最初の工程として、凹部5内に供試体100を入れる。例えば図5(a)の様に、凹部5の底面壁20に供試体100を置く。図5(a)の様に熱伝導に優れるシート101やペーストを介して供試体100を底面壁20に置いてもよいし、供試体100を底面壁20に直接置いてもよい。
そして蓋部材3を閉じて凹部5を封止し、熱源部材11に通電する。
図示しない制御装置によって、温度センサー22の検知温度を監視し、温度センサー22の検知温度が所望の温度となる様に、熱源部材11の通電量がP.I.D制御される。
熱源部材11は、ペルチェ部材であり、伝熱部材10を加熱することも冷却することもできるが、一例として、熱源部材11の伝熱部材10側の面が低温状態となる方向に、通電することとする。この場合は、ヒートシンク12に冷却水を流す。
熱源部材11に通電して熱源部材11の伝熱部材10側の面を低温状態にすると、反対側の面が昇温するが、この熱はヒートシンク12に奪われて、外部に排熱される。
図示しない制御装置によって、温度センサー22の検知温度を監視し、温度センサー22の検知温度が所望の温度となる様に、熱源部材11の通電量がP.I.D制御される。
熱源部材11は、ペルチェ部材であり、伝熱部材10を加熱することも冷却することもできるが、一例として、熱源部材11の伝熱部材10側の面が低温状態となる方向に、通電することとする。この場合は、ヒートシンク12に冷却水を流す。
熱源部材11に通電して熱源部材11の伝熱部材10側の面を低温状態にすると、反対側の面が昇温するが、この熱はヒートシンク12に奪われて、外部に排熱される。
熱源部材11に通電することにより、伝熱部材10から熱源部材11に熱が移動する。熱は高温側から低温側に移動するが、説明の便宜上、冷熱が熱源部材11から伝熱部材10に移動すると表現することとする。
この表現に従えば、熱源部材11に通電することにより、熱源部材11の一面が温度低下し、冷熱が熱源部材11から伝熱部材10に移動する。
この表現に従えば、熱源部材11に通電することにより、熱源部材11の一面が温度低下し、冷熱が熱源部材11から伝熱部材10に移動する。
冷熱は、熱源部材11が接触する伝熱部材10の底面壁20に移動し、底面壁20から側面壁21に広がってゆく。
ここで本実施形態が採用する伝熱部材10は、底面壁20と4面の側面壁21が一体構造であって継ぎ目が無い構造であるから、底面壁20と4面の側面壁21相互間の熱の流れが円滑である。
加えて本実施形態が採用する伝熱部材10は、側面壁21と底面壁20との接続部分が厚く、冷熱が通過する移動面が大きい。
そのため、底面壁20と4面の側面壁21の間の熱抵抗が小さく、底面壁20と4面の側面壁21相互間の熱の流れがさらに円滑となり、側面壁21の温度が、底面壁20の温度に近似した温度となる。
ここで本実施形態が採用する伝熱部材10は、底面壁20と4面の側面壁21が一体構造であって継ぎ目が無い構造であるから、底面壁20と4面の側面壁21相互間の熱の流れが円滑である。
加えて本実施形態が採用する伝熱部材10は、側面壁21と底面壁20との接続部分が厚く、冷熱が通過する移動面が大きい。
そのため、底面壁20と4面の側面壁21の間の熱抵抗が小さく、底面壁20と4面の側面壁21相互間の熱の流れがさらに円滑となり、側面壁21の温度が、底面壁20の温度に近似した温度となる。
供試体100は、伝熱部材10の底面壁20と実質的に接しており、供試体100の下面は、実質的に直接的に底面壁20から冷熱を受ける。
一方、側面壁21の温度が底面壁20の温度に近似した温度となるので、輻射熱によって供試体100の上面や側面が冷却される。さらに、側面壁21の温度が底面壁20の温度に近似した温度となるので、凹部5内の空間温度が底面壁20の温度に近似した温度となり、供試体100の上面や側面が冷却される。
その結果、供試体100の上面と下面の温度が近いものとなる。
一方、側面壁21の温度が底面壁20の温度に近似した温度となるので、輻射熱によって供試体100の上面や側面が冷却される。さらに、側面壁21の温度が底面壁20の温度に近似した温度となるので、凹部5内の空間温度が底面壁20の温度に近似した温度となり、供試体100の上面や側面が冷却される。
その結果、供試体100の上面と下面の温度が近いものとなる。
以上説明した実施形態では、供試体100を凹部5の底面壁20に置いたが、図5(b)の様に、段部30を利用して供試体100を中空の位置に置くこともできる。
図5(b)に示した実施形態では、網状の保持板102を段部30に載せて、保持板102を底面壁20から高さ方向に離れた位置に保持し、当該保持板102に供試体100を載せる。その結果、供試体100が凹部5の中空の位置に保持される。
図5(b)に示した実施形態では、網状の保持板102を段部30に載せて、保持板102を底面壁20から高さ方向に離れた位置に保持し、当該保持板102に供試体100を載せる。その結果、供試体100が凹部5の中空の位置に保持される。
以上説明した伝熱部材10は、下部領域25の壁の厚さと上部領域26の壁の厚さが段部30を境に異なる構造であり、下部領域25と上部領域26で厚さが異なる二段構造であるが、壁の厚さは3段階以上に異なるものであってもよい。
以上説明した伝熱部材10は、側面壁21の下部領域25の壁の厚さはいずれの位置でも同じであって一様に厚く、側面壁21の上部領域26の壁の厚さはいずれの位置でも同じであって一様に薄い。
本発明は、この断面形状に限定されるものではなく、例えば図6(a)に示す伝熱部材60の様に、内壁面の断面形状が傾斜面65であってもよい
本実施形態の伝熱部材60も、側面壁21の厚さが不均一であり、下部領域25は、上部領域26に比べて厚さが厚い。即ち、側面壁21の底側の領域は、壁の厚さが側面壁21の他のいずれかの領域よりも厚い。側面壁21の平面断面積は、底側に比べて上部側の方が小さい。
本発明は、この断面形状に限定されるものではなく、例えば図6(a)に示す伝熱部材60の様に、内壁面の断面形状が傾斜面65であってもよい
本実施形態の伝熱部材60も、側面壁21の厚さが不均一であり、下部領域25は、上部領域26に比べて厚さが厚い。即ち、側面壁21の底側の領域は、壁の厚さが側面壁21の他のいずれかの領域よりも厚い。側面壁21の平面断面積は、底側に比べて上部側の方が小さい。
また例えば図6(b)に示す伝熱部材61の様に、内壁面の断面形状が曲面66であってもよい。側面壁21は、上部領域と下部領域の間の中間領域において、最も厚さが薄い。側面壁21の下部領域は、当該中間領域よりも壁の厚さが厚い。
本実施形態の伝熱部材61も、側面壁21の厚さが不均一であり、下部領域は、最も壁の厚さが薄い中間領域に比べて厚さが厚い。即ち側面壁21の底側の領域は、壁の厚さが他のいずれかの領域よりも厚い。側面壁21の平面断面積は、底側に比べて中間高さの方が小さい。
さらに図6(c)に示す伝熱部材62の様に、内壁面に突起55を設けたものであってもよい。図6(c)に示す伝熱部材62では、突起55によって内側面に段部が形成されている。
本実施形態の伝熱部材61も、側面壁21の厚さが不均一であり、下部領域は、最も壁の厚さが薄い中間領域に比べて厚さが厚い。即ち側面壁21の底側の領域は、壁の厚さが他のいずれかの領域よりも厚い。側面壁21の平面断面積は、底側に比べて中間高さの方が小さい。
さらに図6(c)に示す伝熱部材62の様に、内壁面に突起55を設けたものであってもよい。図6(c)に示す伝熱部材62では、突起55によって内側面に段部が形成されている。
また図7に示す伝熱部材63の様に、側面壁21に縦溝57を設けてもよい。本実施形態の伝熱部材63は、側面壁21がフィン状(ひれ状)であって空気との接触面積が大きく、凹部5内の空間温度を伝熱部材63の内壁の温度に近づけやすい。
以上説明した実施形態では、4面の側面壁21の断面形状が同じものであるが、異なるものが混在していてもよい。
例えば、いずれかの側面壁の内面が直線的な垂直面であってもよい。即ちいずれかの側面壁は、厚さが均一であってもよい。また全ての側面壁の厚さが均一であってもよい。
例えば、いずれかの側面壁の内面が直線的な垂直面であってもよい。即ちいずれかの側面壁は、厚さが均一であってもよい。また全ての側面壁の厚さが均一であってもよい。
上記した実施形態では、伝熱部材10の底面壁20に温度センサー22を取り付けたが、温度センサー22の取り付け位置は任意であり、側面壁21に温度センサー22を取り付けてもよい。
また、供試体100に温度センサー22を取り付けて、供試体100の温度が所望の温度となる様に制御してもよい。さらに他の例として、凹部5の内部に、温度センサー22を設置して、内部の空間温度が所望の温度となる様に制御してもよい。
また、供試体100に温度センサー22を取り付けて、供試体100の温度が所望の温度となる様に制御してもよい。さらに他の例として、凹部5の内部に、温度センサー22を設置して、内部の空間温度が所望の温度となる様に制御してもよい。
以上説明した実施形態では、蓋部材3に窓15が設けられていて、温度槽1の内部を目視観察することができるが、窓15の有無は任意である。
温度槽1の用途は限定されるものではない。
温度槽1を環境試験に利用する場合であっても、試験方法は任意であり、例えば凹部5の温度を一定に保って、供試体100の変化を調べてもよい。また熱サイクル試験の様に、凹部5の温度を高温環境と低温環境に繰り返し変化させて、供試体100の変化を調べてもよい。
温度槽1の用途は限定されるものではない。
温度槽1を環境試験に利用する場合であっても、試験方法は任意であり、例えば凹部5の温度を一定に保って、供試体100の変化を調べてもよい。また熱サイクル試験の様に、凹部5の温度を高温環境と低温環境に繰り返し変化させて、供試体100の変化を調べてもよい。
上記した実施形態では、熱源部材11としてペルチェ部材を使用しているが、ペルチェ部材に代わって冷凍装置や電気ヒータを使用することもできる。
ただし、冷凍装置は振動を伴うので、振動の無いペルチェ部材を採用することが推奨される。
ただし、冷凍装置は振動を伴うので、振動の無いペルチェ部材を採用することが推奨される。
本実施形態の温度槽1は、伝熱部材10等の温度変化の速度や、内部空気の温度変化の速度を速めることができる。本実施形態の温度槽1では、伝熱部材10の表面温度の均一化が促進され、内部の空気の温度も比較的均一なものとなる。
また以上説明した温度槽1は、伝熱部材10等の側面壁21の上部側の厚みが薄いため、伝熱部材10等の熱容量が比較的小さい。そのため伝熱部材10の温度変化が比較的速い。
また上記した伝熱部材10等は、凹部5内の空気と接する内面の面積が、底側よりも上部側が大きい。そのため、側面壁21から凹部5内の空気への熱の移動が促進され、凹部5内の空気の温度変化が比較的速いものとなる。
また上記した温度槽1で採用する伝熱部材10等は、側面壁21の下部の厚さを厚くし、底面壁20と側面壁21との接続領域の断面積を確保したので、底面壁20と側面壁21の間の熱抵抗が小さく、底面壁20から側面壁21への熱の移動が妨げられない。そのため、伝熱部材10等の温度変化及び凹部5内の空気の温度変化が比較的速いものとなる。
また上記した態様によると、伝熱部材10の温度が均一化するので、部分的に過度の高温となったり、過度の低温となることが防止され、断熱材の厚さを低減することができる。そのため装置全体の外形を小さくすることができる。
段部30や突起55を備えた構造によると、当該段部30等を利用して供試体100を中空の高さに保持することができる。また段部30等を利用して供試体100を設置する棚を設けることもできる。
上記した温度槽1は、開口部が大きいので、より大きな供試体100を設置することが可能である。
また以上説明した温度槽1は、伝熱部材10等の側面壁21の上部側の厚みが薄いため、伝熱部材10等の熱容量が比較的小さい。そのため伝熱部材10の温度変化が比較的速い。
また上記した伝熱部材10等は、凹部5内の空気と接する内面の面積が、底側よりも上部側が大きい。そのため、側面壁21から凹部5内の空気への熱の移動が促進され、凹部5内の空気の温度変化が比較的速いものとなる。
また上記した温度槽1で採用する伝熱部材10等は、側面壁21の下部の厚さを厚くし、底面壁20と側面壁21との接続領域の断面積を確保したので、底面壁20と側面壁21の間の熱抵抗が小さく、底面壁20から側面壁21への熱の移動が妨げられない。そのため、伝熱部材10等の温度変化及び凹部5内の空気の温度変化が比較的速いものとなる。
また上記した態様によると、伝熱部材10の温度が均一化するので、部分的に過度の高温となったり、過度の低温となることが防止され、断熱材の厚さを低減することができる。そのため装置全体の外形を小さくすることができる。
段部30や突起55を備えた構造によると、当該段部30等を利用して供試体100を中空の高さに保持することができる。また段部30等を利用して供試体100を設置する棚を設けることもできる。
上記した温度槽1は、開口部が大きいので、より大きな供試体100を設置することが可能である。
1 温度槽
2 本体部
3 蓋部材
5 凹部
6 本体箱
10、60、61、62、63 伝熱部材
11 熱源部材
12 ヒートシンク
15 窓
20 底面壁
21 側面壁
25 下部領域
26 上部領域
30 段部
100 供試体
2 本体部
3 蓋部材
5 凹部
6 本体箱
10、60、61、62、63 伝熱部材
11 熱源部材
12 ヒートシンク
15 窓
20 底面壁
21 側面壁
25 下部領域
26 上部領域
30 段部
100 供試体
Claims (6)
- 底面壁と側面壁が一体構造の伝熱部材と、
前記底面壁と前記側面壁で囲まれて成る凹部と、
前記伝熱部材を加熱及び/又は冷却する熱源部材を有していることを特徴とする温度槽。 - 前記側面壁の少なくとも一つは、厚さが不均一であることを特徴とする請求項1に記載の温度槽。
- 前記側面壁の少なくとも一つは、底側の領域の厚さが他のいずれかの領域に比べて厚いことを特徴とする請求項1又は2に記載の温度槽。
- 前記側面壁の少なくとも一つの平面断面積は、底側に比べて上部側の方が小さいことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の温度槽。
- 前記凹部の内側面に段部があることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の温度槽。
- 蓋部材を有し、当該蓋部材で前記凹部を封止することが可能であり、前記蓋部材には窓があって前記凹部内を外部から観察することが可能であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の温度槽。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022042847A JP2023136914A (ja) | 2022-03-17 | 2022-03-17 | 温度槽 |
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---|---|
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Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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- 2022-03-17 JP JP2022042847A patent/JP2023136914A/ja active Pending
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2023
- 2023-03-15 CN CN202310246997.8A patent/CN116764713A/zh active Pending
- 2023-03-15 US US18/184,339 patent/US20230294100A1/en active Pending
- 2023-03-16 EP EP23162367.9A patent/EP4246125A1/en active Pending
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Publication number | Publication date |
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A621 | Written request for application examination |
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