JP2023122180A - 演算装置、演算方法及びプログラム - Google Patents

演算装置、演算方法及びプログラム Download PDF

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Abstract

【課題】固有ひずみを高精度に推定する。【解決手段】演算装置は、目標形状に基づいて製造された造形物の、目標形状からの形状のずれ量である実測変形量を取得する変形量取得部と、造形物の目標形状と、造形物の固有ひずみの参照値である参照固有ひずみ値とに基づき、解析を実行して、解析における造形物の、目標形状からの形状のずれ量である解析変形量を取得する解析部と、実測変形量と前記解析変形量とに基づき、目標形状の造形物の固有ひずみの推定値である推定固有ひずみ値を算出するひずみ算出部と、を含む。【選択図】図7

Description

本開示は、演算装置、演算方法及びプログラムに関する。
シミュレーションにより、所望の条件を満たす造形物を設計する手法が知られている。例えば特許文献1には、反り変形や残留応力が目標値以下となるような造形条件を、シミュレーションにより探索する旨が記載されている。特許文献1においては、熱弾塑性解析や、固有ひずみ法を用いる旨も記載されている。固有ひずみ法においては、弾性ひずみ量に基づき、固有ひずみの予測値を算出できる。
特開2017-77671号公報
固有ひずみは、直接測定することが困難である。また、固有ひずみは、造形物の材料や形状などに応じた分布をもった値となるため、高精度に推定することが難しい。従って、固有ひずみを高精度に推定することが求められている。
本開示は、上述した課題を解決するものであり、固有ひずみを高精度に推定可能な演算装置、演算方法及びプログラムを提供することを目的とする。
本開示に係る演算装置は、目標形状に基づいて製造された造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である実測変形量を取得する変形量取得部と、前記造形物の目標形状と、前記造形物の固有ひずみの参照値である参照固有ひずみ値とに基づき、解析を実行して、解析における前記造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である解析変形量を取得する解析部と、前記実測変形量と前記解析変形量とに基づき、前記目標形状の造形物の固有ひずみの推定値である推定固有ひずみ値を算出するひずみ算出部と、を含む。
本開示に係る演算方法は、目標形状に基づいて製造された造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である実測変形量を取得するステップと、前記造形物の目標形状と、前記造形物の固有ひずみの参照値である参照固有ひずみ値とに基づき、解析を実行して、解析における前記造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である解析変形量を取得するステップと、前記実測変形量と前記解析変形量とに基づき、前記目標形状の造形物の固有ひずみの推定値である推定固有ひずみ値を算出するステップと、を含む。
本開示に係るプログラムは、目標形状に基づいて製造された造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である実測変形量を取得するステップと、前記造形物の目標形状と、前記造形物の固有ひずみの参照値である参照固有ひずみ値とに基づき、解析を実行して、解析における前記造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である解析変形量を取得するステップと、前記実測変形量と前記解析変形量とに基づき、前記目標形状の造形物の固有ひずみの推定値である推定固有ひずみ値を算出するステップと、を含む演算方法を、コンピュータに実行させる。
本開示によれば、固有ひずみを高精度に推定することができる。
図1は、第1実施形態に係る造形システムの模式的なブロック図である。 図2は、造形物の一例を示す模式図である。 図3は、本実施形態に係る演算装置の模式的なブロック図である。 図4は、解析部による解析の一例を示す模式図である。 図5は、ひずみ算出部の処理を説明するための模式図である。 図6は、ひずみ算出部の処理を説明するための模式図である。 図7は、演算装置の処理フローを説明するフローチャートである。 図8は、第2実施形態における変形量の算出方法を説明する模式図である。
以下に添付図面を参照して、本開示の好適な実施形態を詳細に説明する。なお、この実施形態により本開示が限定されるものではなく、また、実施形態が複数ある場合には、各実施形態を組み合わせて構成するものも含むものである。
(第1実施形態)
(造形システム)
図1は、第1実施形態に係る造形システムの模式的なブロック図であり、図2は、造形物の一例を示す模式図である。第1実施形態に係る造形システム100は、造形装置2と、測定装置4と、演算装置10とを含む。
(造形装置)
造形装置2は、造形物Mを造形する装置である。造形物Mは、所定の三次元形状を持つ部材であり、その材料や形状は任意であってよい。造形装置2は、任意の方法で造形物Mを製造するものであってもよいが、本実施形態では、三次元積層により造形物Mを造形する、三次元積層装置である。すなわち、造形装置2は、複数の層を積層させることで、所望の三次元形状の造形物Mを製造する。造形装置2による三次元積層の方式は任意であってよく、例えば、粉末が敷き詰められたベッドにレーザ光などの光を照射することで、照射された部分を硬化させて層を形成し、ベッドを積層方向に移動させて同様の処理を繰り返すことで、造形物Mを造形するものであってよい。また例えば、造形装置2は、噴射させた粉末にレーザ光などの光を照射することで粉末を溶融及び滴下させ、滴下した溶融体を硬化させて層を形成し、その層の上にさらに溶融体を滴下及び硬化させる処理を繰り返すことで、造形物Mを造形するものであってよい。なお、造形物Mの材料や形状は任意であってよい。以降においては、各層が積層される方向を、すなわち積層方向を、Z方向とする。
造形装置2は、造形物Mの目標となる形状である目標形状(形状の設計値)となるように、造形物Mを造形する。すなわち、造形装置2は、目標形状を示す造形物モデルの情報に基づき、目標形状となるように各層を積層して、造形物Mを造形する。造形装置2に造形された造形物Mは、目標形状となるように造形されたものであるが、例えば熱収縮などにより変形することで、目標形状からずれた形状になる場合がある。すなわち、図2の例では、造形物Mの目標形状をMA、製造された造形物Mの実際の形状をMBとしており、形状MBが、目標形状MAに対してずれることがある。
(測定装置)
測定装置4は、製造された造形物Mの形状を、すなわち形状MBを測定する装置である。測定装置4は、製造された造形物Mの任意の位置を測定してもよいが、本実施形態では、造形物Mの表面の形状を計測する。測定装置4は、造形物Mの全表面を計測してもよいし、全表面のうちの一部の表面を計測してもよい。測定装置4は、造形物Mの全表面のうちの一部を計測する場合には、造形物Mの1つの表面の、Z方向と反対側の端点(底部)から、Z方向側の端点(先端部)までにわたって、形状を測定することがより好ましい。また、造形物Mが、途切れずに連続した1つの部材で構成されておらず、互いに離れた複数の部材で構成される場合には、測定装置4は、それらの部材毎に、表面の形状を計測することが好ましい。
測定装置4は、測定した造形物Mの形状の、目標形状MAに対するずれ量を、実測変形量として算出する。実測変形量は、実際の造形物Mの表面の形状の、目標形状MAに対するずれ量(図2での差分ΔD)といえる。測定装置4は、形状を測定した造形物Mの表面における位置毎に、実測変形量を算出する。すなわち本実施形態の例では、測定装置4は、造形物Mの表面のZ方向と反対側の端点からZ方向側の端点までの、位置毎の実測変形量を算出する。
(演算装置)
演算装置10は、造形物Mの固有ひずみの推定値である推定固有ひずみ値を算出する装置である。また本実施形態では、演算装置10は、実測変形量と推定固有ひずみ値とに基づいて、目標形状MAを補正する。詳しくは後述するが、演算装置10は、実測変形量と推定固有ひずみ値とに基づいて、変形後の造形物Mが当初の目標形状MAに近づくように、補正した目標形状である補正目標形状を設定する。すなわち、製造された造形物Mの変形を考慮して、形状の設計値(補正目標形状)をあえて所望の形状(当初の目標形状MA)からずらすことで、製造された造形物Mを所望の形状に近づけることができる。以下、演算装置10について具体的に説明する。
図3は、本実施形態に係る演算装置の模式的なブロック図である。演算装置10は、例えばコンピュータであり、図3に示すように、通信部20と記憶部22と制御部24とを有する。通信部20は、造形装置2や測定装置4などの外部の装置と通信を行う通信モジュールであり、例えばアンテナやWi-Fi(登録商標)モジュールなどであってよい。演算装置10は、無線通信で外部の装置と通信を行うが、有線通信でもよく、通信方式は任意であってよい。記憶部22は、制御部24の演算内容やプログラムの情報などを記憶するメモリであり、例えば、RAM(Random Access Memory)と、ROM(Read Only Memory)のような主記憶装置と、フラッシュメモリやHDD(Hard Disk Drive)などの不揮発性の記憶装置のうち、少なくとも1つ含む。なお、記憶部22が保存する制御部24用のプログラムは、演算装置10が読み取り可能な記録媒体に記憶されていてもよい。
制御部24は、演算装置であり、例えばCPU(Central Processing Unit)などの演算回路を含む。制御部24は、目標形状設定部30と、変形量取得部32と、解析部34と、ひずみ算出部36と、補正形状設定部38とを含む。制御部24は、記憶部22からプログラム(ソフトウェア)を読み出して実行することで、目標形状設定部30と変形量取得部32と解析部34とひずみ算出部36と補正形状設定部38とを実現して、それらの処理を実行する。なお、制御部24は、1つのCPUによってこれらの処理を実行してもよいし、複数のCPUを備えて、それらの複数のCPUで、処理を実行してもよい。また、目標形状設定部30と変形量取得部32と解析部34とひずみ算出部36と補正形状設定部38との処理の少なくとも一部を、ハードウェア回路で実現してもよい。
(目標形状設定部)
目標形状設定部30は、造形物Mの目標形状MAを設定する。目標形状設定部30は、最初に、当初の目標形状MAを、すなわち所望の形状を、設定する。ここでの目標形状MAの設定方法は任意であってよく、例えばユーザにより設定されてもよいし、目標形状設定部30が自動で設定してもよい。また、目標形状設定部30は、推定固有ひずみ値に基づいて、当初の目標形状MAを補正して、補正目標形状を設定する。補正目標形状の設定については後述する。
(変形量取得部)
変形量取得部32は、造形物Mの実測変形量を取得する。本実施形態では、変形量取得部32は、通信部20を介して、測定装置4から、測定装置4によって算出された実測変形量を取得する。ただし、変形量取得部32による実測変形量の取得方法は任意であり、例えば、変形量取得部32が、実測変形量を算出してもよい。この場合、変形量取得部32は、測定装置4によって測定された造形物Mの形状と、目標形状MAとを取得して、測定された造形物Mの形状と目標形状MAとの差分を、実測変形量として算出してよい。
(解析部)
解析部34は、目標形状MAと参照固有ひずみ値とに基づき、造形物Mの解析を実行して、解析における、造形物Mの形状の目標形状MAからのずれ量である解析変形量を取得する。解析変形量は、造形物Mのモデルにおいて、造形物Mの実測変形量が測定された位置と重なる位置における、目標形状MAからの変形量を指す。解析部34は、参照固有ひずみ値に基づいて解析における造形物Mの固有ひずみ値を設定して、設定した固有ひずみ値を解析におけるインプットデータとして、目標形状MAとなる造形物Mのモデルの、解析変形量を算出する。解析部34が実行する解析は、固有ひずみ法を用いた有限要素法に基づく解析である。解析部34は、目標形状MAの造形物Mのモデルに対して、参照固有ひずみ値を、解析上で印加することで、造形物Mの変形を模擬して、解析変形量を算出する。なお、参照固有ひずみ値とは、解析において、造形物Mの固有ひずみ値の参照となる固有ひずみ値を指す。参照固有ひずみ値は、任意に設定された値であってよく、例えば、造形物Mの形状によらず、造形物Mの材料などに基づいて予め設定された値を用いてよい。
図4は、解析部による解析の一例を示す模式図である。解析部34は、造形物Mの位置毎の、解析変形量を算出する。本実施形態では、解析部34は、造形物Mのモデルを層毎に積み上げて解析を行う、いわゆるLayer by Layerという解析方式を用いることが好ましい。この場合、解析部34は、参照固有ひずみ値に基づいて、解析における固有ひずみ値を、層毎に(位置毎に)設定する。解析部34は、1つの層において参照固有ひずみ値を一定にしてもよいし、1つの層における参照ひずみ値が位置毎に異なるように、1つの層における参照ひずみ値に分布を持たせてもよい。解析部34は、造形物Mのモデルにおいて層を積み上げながら順次解析を実行する。これにより、解析部34は、目標形状MAとなるまで積層される毎の、目標形状からのモデルの形状のずれ量を、解析変形量として算出する。図4の例では、層M1、層M2、層M3、層M4、層M5の順で積み上げて解析を実行している例を示している。この場合、解析部34は、層M1が積み上げられた造形物Mのモデルに対して、層M1について設定された参照固有ひずみ値に基づいて解析を実行して、層M1での解析変形量を算出する。次に、解析部34は、層M1のZ方向側の層M2が積み上げられた造形物Mのモデルに対して、層M2について設定された参照固有ひずみ値に基づいて解析を実行して、層M1、層M2での解析変形量を算出する。以降でも、同様に解析を繰り返し、解析部34は、層M1~M4の上に、最後の層である層M5が積み上げられた造形物Mのモデルに対して、層M5について設定された参照固有ひずみ値に基づいて解析を実行して、層M1~M5での解析変形量を算出して、造形物Mの解析変形量とする。なお、解析部34は、共通する参照固有ひずみ値を、解析における各層の固有ひずみ値として用いることで、解析における固有ひずみ値を層毎に同じ値とする。ただしそれに限られず、解析部34は、層毎に異なる参照固有ひずみ値を用いることで、層毎に解析における固有ひずみ値を異ならせてもよい。また、解析における層と、実際の製造時における層とは、同じであってもよいが、同じでなくてもよく、解析時間の短縮のため、製造時の層を複数纏めたものを解析での1層としてもよい。
(ひずみ算出部)
ひずみ算出部36は、変形量取得部32が取得した実測変形量と、解析部34が取得した解析変形量とに基づき、推定固有ひずみ値を算出する。ひずみ算出部36は、位置毎(本例では層毎)の推定固有ひずみ値を算出する。推定固有ひずみ値とは、目標形状MAの造形物Mの、固有ひずみの推定値である。すなわち、造形物Mから実際の固有ひずみ値を測定することは困難であるが、本実施形態においては、固有ひずみ値と変形量とが相関関係(例えば線形関係)にあるものとして扱い、解析における解析変形量と参照固有ひずみ量との対応関係を、実測変形量にも適用して、実測変形量から推定固有ひずみ値を算出することで、固有ひずみ値を高精度に算出できる。以下、より具体的に説明する。
図5及び図6は、ひずみ算出部の処理を説明するための模式図である。図5の左側のグラフの横軸は、参照固有ひずみ値であり、縦軸は、造形物MのモデルのZ方向(積層方向)における位置(Z座標)である。すなわち、図5の左側のグラフは、Z方向における位置毎の参照固有ひずみ値の例を示している。図5の右側のグラフの横軸は、解析変形量であり、縦軸は、造形物MのモデルのZ座標である。すなわち、図5の右側のグラフの線分L0は、Z方向における位置毎の解析変形量の例を示している。ひずみ算出部36は、参照固有ひずみ値と解析変形量とに基づいて、固有ひずみと解析変形量との対応関係H(応答マトリクス)を算出する。ひずみ算出部36は、造形物Mのモデルの位置毎の(本例ではZ方向における位置毎の)、対応関係Hを算出する。例えば、ひずみ算出部36は、次の式(1)に基づいて、対応関係Hを算出する。
Figure 2023122180000002
式(1)において、u、u、・・・uは、位置毎の解析変形量を指し、A、A、・・・Aは、位置毎の参照固有ひずみ値を指す。
ひずみ算出部36は、対応関係Hと、変形量取得部32が取得した実測変形量とに基づき、推定固有ひずみ値を算出する。具体的には、ひずみ算出部36は、推定固有ひずみ値から逆算される造形物Mの変形量(推定変形量)と、解析変形量との差分が所定値以下となるように、推定固有ひずみ値を算出する。図6の例では、推定固有ひずみ値から逆算される造形物Mの変形量を示す線分L1と、解析変形量を示す線分L2との差分が所定値以下となるように、推定固有ひずみ値を算出するといえる。より詳しくは、ひずみ算出部36は、候補となる推定固有ひずみ値から、対応関係Hを用いて造形物Mの推定変形量を算出(逆算)し、逆算した推定変形量と測定変形量との差分を算出する処理を、候補となる推定固有ひずみ値毎に繰り返して、その差分が所定値以下となる候補の推定固有ひずみ値を、推定固有ひずみ値として取り扱う。なお、例えば、推定固有ひずみ値から逆算される推定変形量は、式(1)のA、A、・・・Aに候補となる推定固有ひずみ値を入力して、u、u、・・・uとして算出される。また例えば、推定固有ひずみ値から逆算される推定変形量は、解析部34に、推定固有ひずみ値をモデルの固有ひずみとして解析を実行させることにより、算出してもよい。
例えば、ひずみ算出部36は、推定固有ひずみ値から逆算される推定変形量と、実測変形量との差分が最小となるような最小化問題を解くように、最適化計算を実行して、推定固有ひずみ値を算出してよい。すなわち、Xを式(2)に示す値としたときに、式(3)を満たすように、言い換えれば式(4)を満たすように、推定固有ひずみ値を算出してよい。ただし、推定固有ひずみ値の算出方法はこれに限られず任意であってよい。
Figure 2023122180000003
Figure 2023122180000004
Figure 2023122180000005
なお、式(2)-(4)において、Aは、推定固有ひずみ値を指し、uは、実測変形量を指し、Tは転置を指す。
(目標形状の補正)
補正形状設定部38は、このようにして算出された推定固有ひずみ値を用いて、当初の目標形状MAを補正して、補正目標形状を設定する。具体的には、補正形状設定部38は、補正目標形状の造形物Mのモデルが、推定固有ひずみ値から逆算された推定変形量だけ変形した場合に、当初の目標形状MAに対して所定のずれ量の範囲内となるように(好ましくは目標形状MAと同じ形状になるように)、補正目標形状を設定する。補正形状設定部38は、補正目標形状の情報を、造形装置2に送信する。造形装置2は、補正目標形状となるように、すなわち補正目標形状を新たな設計値として、造形物Mを製造する。なお、本実施形態においては、補正目標形状となるように造形した造形物Mについても、当初の目標形状MAとのずれ量である実測変形量を測定してもよい。そして、その実測変形量が所定値より高くなる場合には、補正目標形状をさらに補正してよい。すなわち、実測変形量が所定値以下となるまで、補正目標形状を最適化してよい。
(処理フロー)
以下、本実施形態に係る演算装置10の処理フローについて説明する。図7は、演算装置の処理フローを説明するフローチャートである。図7に示すように、演算装置10は、変形量取得部32により、造形物Mの実測変形量を取得する(ステップS10)。そして、演算装置10は、解析部34により、参照固有ひずみ値に基づいて、造形物Mのモデルの解析を実行して、解析変形量を取得する(ステップS12)。そして、演算装置10は、ひずみ算出部36により、参照固有ひずみ値と解析変形量とに基づいて、固有ひずみと解析変形量との対応関係Hを算出し(ステップS14)、実測変形量と対応関係Hとに基づき、推定固有ひずみ値を算出する(ステップS16)。ひずみ算出部36は、推定固有ひずみ値により逆算された変形量と実測変形量との差分が所定値以内となるまで演算を繰り返して、最適化された推定固有ひずみ値を算出してよい。なお、ステップS10と、後述のステップS12、S14との処理順は、任意であってよい。その後、演算装置10は、補正形状設定部38により、推定固有ひずみ値に基づき、目標形状MAを補正して、補正目標形状を設定する(ステップS18)。
(効果)
ここで、固有ひずみは、直接測定することが困難であり、造形物の材料や形状などに応じた値となるため、高精度に予測することが難しい。それに対して、本実施形態に係る演算装置10は、仮の固有ひずみ値(参照固有ひずみ値)に基づいて解析で実行した解析変形量と、変形量の実測値である実測変形量から、固有ひずみ値を推定するため、固有ひずみを高精度に予測することが可能となる。
(第2実施形態)
次に、第2実施形態について説明する。第2実施形態においては、層が積層された際の解析変形量と、他の層が積層された際の解析変形量との差分に基づき、その層の推定固有ひずみ値を算出する。第2実施形態において、第1実施形態と構成が共通する箇所は、説明を省略する。
図8は、第2実施形態における変形量の算出方法を説明する模式図である。上述のように、解析部34は、造形物Mのモデルを層毎に積み上げて解析を行い、ひずみ算出部36は、造形物Mのモデルの層毎に推定固有ひずみ値を算出する。以下、例えば層M4の推定固有ひずみ値を算出する場合を例にする。この場合、図8に示すように、ひずみ算出部36は、層M4が積み上げられた造形物Mのモデルにおいて算出された解析変形量と、層M4以外の層が積み上げられた造形物Mのモデルにおいて算出された解析変形量との、各層における差分を算出する。層M4以外の層が積み上げられる前の造形物Mのモデルとしては、層M4が積み上げられる前の造形物Mのモデルであることが好ましく、層M4の直前の層M3が積み上げられた造形物Mのモデルであることがより好ましい。ひずみ算出部36は、各層における差分を解析変形量として扱い、各層における差分と、各層における参照固有ひずみ値とに基づき、層M4における対応関係Hを算出する。ひずみ算出部36は、各層において同様の処理を繰り返して、層毎に対応関係Hを算出する。すなわち、造形物Mのモデルの評価点をi(i=1~n)、層の番号をj(j=1~m)とすると、評価点i、層jにおける対応関係Hijは、例えば、次の式(A)のように算出される。
ij=Δuij/A・・・(A)
なお、式(A)における解析変形量Δuijは、評価点iにおける、層jが積層されたときの解析変形量と層j-1が積層されたときの解析変形量の差分を指す。Aは、層jでの参照固有ひずみ値を指す。
第2実施形態に係るひずみ算出部36は、このようにして算出した対応関係Hを用いて、第1実施形態と同様の方法で、層毎に推定固有ひずみ値を算出する。
ここで、層毎に対応関係Hや推定固有ひずみ値を算出する場合には、例えば、1つの層にのみ参照固有ひずみ値を入力して、他の層の参照固有ひずみ値をゼロとしたLayer by Layer解析を、参照固有ひずみ値を入力する層を異ならせつつ、層の数だけ実行することが考えられる。しかしながら、このような方法で対応関係Hを算出するには、解析を層の数だけ実行する必要があり、解析負荷が高くなる。それに対し、第2実施形態においては、ひずみ算出部36は、解析において層が積層された際の解析変形量と、他の層が積層された際の解析変形量との差分に基づき、その層の推定固有ひずみ値を算出する。すなわち、Layer by Layer解析では、1回の解析で、層を積み上げつつ解析を行う。第2実施形態においては、それを利用して、1回の解析において、対象層が積み上げられた際の解析変形量と、対象層以外が積み上げられた際の解析変形量との差分から、対象層における対応関係Hを算出する。これにより、解析を層の数だけ実行する必要がなくなり、解析負荷を低減できる。
なお、Z方向に直交する方向をX方向、Y方向とすると、解析部34は、参照固有ひずみ値のX方向、Y方向、Z方向の成分のうち、1つの成分以外はゼロとして解析を実施してもよい。この場合例えば、解析部34は、X方向の成分のみに値を入れてY方向、Z方向はゼロとした解析と、Y方向の成分のみに値を入れてX方向、Z方向はゼロとした解析と、Z方向の成分のみに値を入れてX方向、Y方向はゼロとした解析とを実行して、これら3回の解析結果を満ちて、対応関係Hを算出する。これにより、解析回数は増えるが、固有ひずみ分布の異方性を考慮できる。
(第3実施形態)
次に、第3実施形態について説明する。第3実施形態においては、推定固有ひずみ値の算出方法が、第1実施形態とは異なる。第3実施形態において第1実施形態と構成が共通する箇所は、説明を省略する。第3実施形態は、第2実施形態にも適用可能である。
第1実施形態の例では、ひずみ算出部36は、X(第1項)を最小となるような最小化問題を解くことで、推定固有ひずみ値を算出していた。それに対して、第3実施形態においては、ひずみ算出部36は、推定固有ひずみ値が所定値から離れすぎるとペナルティを与えるような最小化問題を解くことで、推定固有ひずみ値を算出する。具体的には、ひずみ算出部36は、推定固有ひずみ値から逆算される推定変形量と解析変形量との差分に基づいた第1項Xと、推定固有ひずみ値と所定値との差分に基づいた第2項Xとの合計値が、最小となるように、推定固有ひずみ値を算出する。ここでの所定値は、任意に設定してよいが、例えば、参照固有ひずみ値を所定値としてもよい。
第2項Xは、例えば、次の式(5)で表される値であってよく、式(5)における{Aref}が、所定値である。この場合、ひずみ算出部36は、式(6)に示す値Jが、最小となるように、推定固有ひずみ値を算出する。すなわち、ひずみ算出部36は、式(7)を満たすように、言い換えれば式(8)を満たすように、推定固有ひずみ値を算出してよい。ただし、推定固有ひずみ値の算出方法は、式(5)から式(8)を用いるものに限られない。なお、式(6)におけるhは、固有ひずみの乖離値に対する重み係数であり、任意に設定してよい。係数hは、いわゆるハイパーパラメータであり、パラメータを振って複数ケースを計算し、望ましい結果が得られたものを選択してよい。
Figure 2023122180000006
Figure 2023122180000007
Figure 2023122180000008
Figure 2023122180000009
ここで、例えば推定固有ひずみ値を算出する際に未知変数が多いと、逆解析問題として悪条件になり、適切に解が得られない場合がある。例えば、門型構造の脚部には、実際には門型の横梁の収縮による脚部の曲げ変形が生じるが、解析においては、横梁部の固有ひずみではなく脚部の固有ひずみを調整することで、脚形状計測した脚の変形分布を再現することができてしまう。すなわち、実際の変形から乖離するような推定固有ひずみ値が算出される場合がある。それに対し、第3実施形態に係るひずみ算出部36は、推定固有ひずみ値が所定値から離れすぎないように、第1項Xと第2項Xとの合計値が最小となるように、推定固有ひずみ値を算出する。これにより、実際の変形から乖離するような推定固有ひずみが算出されることを抑制して、固有ひずみ値をより高精度に算出できる。さらに言えば、推定固有ひずみ値が所定値より離れすぎることを、計算上のペナルティとすることで、実際の変形からの乖離を好適に抑制できる。
(効果)
以上説明したように、本開示に係る演算装置10は、変形量取得部32と、解析部34と、ひずみ算出部36とを含む。変形量取得部32は、目標形状MAに基づいて製造された造形物Mの、目標形状MAからの形状のずれ量である実測変形量を取得する。解析部34は、目標形状MAと、造形物Mの固有ひずみの参照値である参照固有ひずみ値とに基づき、解析を実行して、解析における造形物Mの、目標形状MAからの形状のずれ量である解析変形量を取得する。ひずみ算出部36は、実測変形量と解析変形量とに基づき、目標形状MAの造形物Mの固有ひずみの推定値である推定固有ひずみ値を算出する。演算装置10は、仮の固有ひずみ値(参照固有ひずみ値)に基づいて解析で実行した解析変形量と、変形量の実測値である実測変形量から、固有ひずみ値を推定するため、固有ひずみを高精度に予測することが可能となる。
解析部34は、参照固有ひずみ値を固有ひずみとしつつ、目標形状MAとなる造形物Mのモデルの、目標形状MAからの形状のずれ量を、解析変形量として算出する。本開示によると、固有ひずみを高精度に予測することが可能となる。
造形物Mは、積層されることで造形されるものである。解析部34は、参照固有ひずみ値に基づいて固有ひずみを層毎に設定し、目標形状MAとなるまで積層される毎の、目標形状MAからの形状のずれ量を、解析変形量として算出する。ひずみ算出部36は、推定固有ひずみ値を、造形物Mの層毎に算出する。本開示によると、このように層を積み上げつつ解析を行うことで、積層により造形される造形物Mの固有ひずみを高精度に予測することが可能となる。なお上述のように、解析における層と、実際の製造における層とは、同じであってもよいし異なっていてもよい。
ひずみ算出部36は、造形物Mの層についての推定固有ひずみ値を、解析においてその層が積層された際の解析変形量と、他の層が積層された際の解析変形量との差分に基づき、算出する。ひずみ算出部36は、対象層が積み上げられた際の解析変形量と、対象層以外が積み上げられた際の解析変形量との差分を用いて推定固有ひずみ値を算出することで、解析を層の数だけ実行する必要がなくなり、解析負荷を低減できる。
ひずみ算出部36は、解析変形量と参照固有ひずみ値とに基づき、造形物Mの変形量と固有ひずみとの対応関係Hを算出し、実測変形量と対応関係Hとに基づき、推定固有ひずみ値を算出する。本開示によると、固有ひずみを高精度に予測することが可能となる。
ひずみ算出部36は、推定固有ひずみ値から逆算される造形物Mの変形量(推定変形量)と、解析変形量との差分が所定値以下となるように、推定固有ひずみ値を算出する。本開示によると、固有ひずみを高精度に予測することが可能となる。
ひずみ算出部36は、推定固有ひずみ値から逆算される造形物Mの変形量(推定変形量)と、解析変形量との差分に基づいた第1項Xと、推定固有ひずみ値と、所定の固有ひずみ値との差分に基づいた第2項Xとの合計値が、最小となるように、推定固有ひずみ値を算出する。本開示によると、解析における変形が実際と乖離することを抑制して、固有ひずみを高精度に予測することが可能となる。
演算装置10は、推定固有ひずみ値に基づいて、目標形状MAを補正する補正形状設定部を更に含む。推定固有ひずみ値に基づいて目標形状MAを補正することで、変形を考慮した目標形状に補正することが可能となり、所望の形状での製造が可能となる。
以上、本開示の実施形態を説明したが、この実施形態の内容により実施形態が限定されるものではない。また、前述した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。さらに、前述した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。さらに、前述した実施形態の要旨を逸脱しない範囲で構成要素の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。
10 演算装置
30 目標形状設定部
32 変形量取得部
34 解析部
36 ひずみ算出部
M 造形物
MA 目標形状

Claims (10)

  1. 目標形状に基づいて製造された造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である実測変形量を取得する変形量取得部と、
    前記造形物の目標形状と、前記造形物の固有ひずみの参照値である参照固有ひずみ値とに基づき、解析を実行して、解析における前記造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である解析変形量を取得する解析部と、
    前記実測変形量と前記解析変形量とに基づき、前記目標形状の造形物の固有ひずみの推定値である推定固有ひずみ値を算出するひずみ算出部と、
    を含む、
    演算装置。
  2. 前記解析部は、前記参照固有ひずみ値を固有ひずみとしつつ、前記目標形状となる前記造形物のモデルの、前記目標形状からの形状のずれ量を、前記解析変形量として算出する、請求項1に記載の演算装置。
  3. 前記造形物は、積層されることで造形されるものであり、
    前記解析部は、前記参照固有ひずみ値に基づいて前記固有ひずみを層毎に設定し、前記目標形状となるまで積層される毎の、前記目標形状からの形状のずれ量を、前記解析変形量として算出し、
    前記ひずみ算出部は、前記推定固有ひずみ値を、前記造形物の層毎に算出する、請求項1又は請求項2に記載の演算装置。
  4. 前記ひずみ算出部は、前記造形物の層についての前記推定固有ひずみ値を、解析においてその層が積層された際の前記解析変形量と、他の層が積層された際の前記解析変形量との差分に基づき、算出する、請求項3に記載の演算装置。
  5. 前記ひずみ算出部は、前記解析変形量と前記参照固有ひずみ値とに基づき、前記造形物の変形量と固有ひずみとの対応関係を算出し、前記実測変形量と前記対応関係とに基づき、前記推定固有ひずみ値を算出する、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の演算装置。
  6. 前記ひずみ算出部は、前記推定固有ひずみ値から逆算される前記造形物の変形量と、前記解析変形量との差分が所定値以下となるように、前記推定固有ひずみ値を算出する、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の演算装置。
  7. 前記ひずみ算出部は、前記推定固有ひずみ値から逆算される前記造形物の変形量と、前記解析変形量との差分に基づいた第1項と、前記推定固有ひずみ値と、所定の固有ひずみ値との差分に基づいた第2項との合計値が、最小となるように、前記推定固有ひずみ値を算出する、請求項6に記載の演算装置。
  8. 前記推定固有ひずみ値に基づいて、前記目標形状を補正する補正形状設定部を更に含む、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の演算装置。
  9. 目標形状に基づいて製造された造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である実測変形量を取得するステップと、
    前記造形物の目標形状と、前記造形物の固有ひずみの参照値である参照固有ひずみ値とに基づき、解析を実行して、解析における前記造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である解析変形量を取得するステップと、
    前記実測変形量と前記解析変形量とに基づき、前記目標形状の造形物の固有ひずみの推定値である推定固有ひずみ値を算出するステップと、
    を含む、
    演算方法。
  10. 目標形状に基づいて製造された造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である実測変形量を取得するステップと、
    前記造形物の目標形状と、前記造形物の固有ひずみの参照値である参照固有ひずみ値とに基づき、解析を実行して、解析における前記造形物の、前記目標形状からの形状のずれ量である解析変形量を取得するステップと、
    前記実測変形量と前記解析変形量とに基づき、前記目標形状の造形物の固有ひずみの推定値である推定固有ひずみ値を算出するステップと、
    を含む演算方法を、コンピュータに実行させる、
    プログラム。
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