JP2023068471A - 制御装置、制御方法、制御プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】光学センサのダイナミックレンジを高める制御装置の提供。【解決手段】車両の検出エリアへ照射した照射光に対する物標からの反射光を複数の受光画素により受光する光学センサを制御する制御装置のプロセッサは、光学センサから照射されたメイン照射強度Ｉｉｍの照射光に対して、光学センサにより検出エリアから受光された反射光の受光強度を、メイン受光強度Ｉｒｍとして各受光画素毎に取得することと、光学センサからメイン照射強度Ｉｉｍよりも低く照射されたサブ照射強度Ｉｉｓの照射光に対して、光学センサにより検出エリアから受光された反射光の受光強度を、サブ受光強度Ｉｒｓとして各受光画素毎に取得することと、各受光画素毎に取得されたメイン受光強度Ｉｒｍのうち、上限強度Ｉｒｕに達した飽和画素４６１のメイン受光強度Ｉｒｍを、当該飽和画素のサブ受光強度Ｉｒｓに基づき補完することとを、実行するように構成される。【選択図】図１２

Description

本開示は、車両の検出エリアへ照射した照射光に対しての反射光を受光する光学センサを、制御する技術に関する。

特許文献１に開示される技術では、光学センサにおいて照射光に対する物標からの反射光を受光するために、感度の異なる二種類の受光画素が混在している。これにより、物標からの反射強度が高い場合にあっても低感度側の受光画素では、受光強度が上限強度に達する飽和に起因した反射点距離の誤検出を、抑制することが可能となっている。

特開２０１９－１９０８９２号公報

しかし、特許文献１の開示技術において物標からの反射強度が高い場合、高感度側の受光画素では受光強度の飽和が生じるものと考えられる。そのため、特許文献１の開示技術のように高感度側及び低感度側の各受光画素での受光強度に応じた出力に基づき、反射強度が検出される場合、特に高い反射強度に対しての検出精度が低下してしまう。こうした検出精度の低下は、光学センサのダイナミックレンジを高める上でネックとなる。

本開示の課題は、光学センサのダイナミックレンジを高める制御装置を、提供することにある。本開示の別の課題は、光学センサのダイナミックレンジを高める制御方法を、提供することにある。本開示のさらに別の課題は、光学センサのダイナミックレンジを高める制御プログラムを、提供することにある。

以下、課題を解決するための本開示の技術的手段について、説明する。尚、特許請求の範囲及び本欄に記載された括弧内の符号は、後に詳述する実施形態に記載された具体的手段との対応関係を示すものであり、本開示の技術的範囲を限定するものではない。

本開示の第一態様は、
プロセッサ（１ｂ）を有し、車両（５）の検出エリア（Ａｄ）へ照射した照射光に対する物標（Ｔｒ）からの反射光を複数の受光画素（４６）により受光する光学センサ（１０）を、制御する制御装置（１）であって、
プロセッサは、
光学センサから照射されたメイン照射強度（Ｉｉｍ）の照射光に対して、光学センサにより検出エリアから受光された反射光の受光強度を、メイン受光強度（Ｉｒｍ）として各受光画素毎に取得することと、
光学センサからメイン照射強度よりも低く照射されたサブ照射強度（Ｉｉｓ）の照射光に対して、光学センサにより検出エリアから受光された反射光の受光強度を、サブ受光強度（Ｉｒｓ）として各受光画素毎に取得することと、
各受光画素毎に取得されたメイン受光強度のうち、上限強度（Ｉｒｕ）に達した飽和画素（４６１）のメイン受光強度を、当該飽和画素のサブ受光強度に基づき補完することとを、実行するように構成される。

本開示の第二態様は、
車両（５）の検出エリア（Ａｄ）へ照射した照射光に対する物標（Ｔｒ）からの反射光を複数の受光画素（４６）により受光する光学センサ（１０）を、制御するためにプロセッサ（１ｂ）により実行される制御方法であって、
光学センサから照射されたメイン照射強度（Ｉｉｍ）の照射光に対して、光学センサにより検出エリアから受光された反射光の受光強度を、メイン受光強度（Ｉｒｍ）として各受光画素毎に取得することと、
光学センサからメイン照射強度よりも低く照射されたサブ照射強度（Ｉｉｓ）の照射光に対して、光学センサにより検出エリアから受光された反射光の受光強度を、サブ受光強度（Ｉｒｓ）として各受光画素毎に取得することと、
各受光画素毎に取得されたメイン受光強度のうち、上限強度（Ｉｒｕ）に達した飽和画素（４６１）のメイン受光強度を、当該飽和画素のサブ受光強度に基づき補完することとを、含む。

本開示の第三態様は、
車両（５）の検出エリア（Ａｄ）へ照射した照射光に対する物標（Ｔｒ）からの反射光を複数の受光画素（４６）により受光する光学センサ（１０）を、制御するために記憶媒体（１ａ）に記憶され、プロセッサ（１ｂ）に実行させる命令を含む制御プログラムであって、
命令は、
光学センサから照射されたメイン照射強度（Ｉｉｍ）の照射光に対して、光学センサにより検出エリアから受光された反射光の受光強度を、メイン受光強度（Ｉｒｍ）として各受光画素毎に取得させることと、
光学センサからメイン照射強度よりも低く照射されたサブ照射強度（Ｉｉｓ）の照射光に対して、光学センサにより検出エリアから受光された反射光の受光強度を、サブ受光強度（Ｉｒｓ）として各受光画素毎に取得させることと、
各受光画素毎に取得されたメイン受光強度のうち、上限強度（Ｉｒｕ）に達した飽和画素（４６１）のメイン受光強度を、当該飽和画素のサブ受光強度に基づき補完させることとを、含む。

このように第一～第三態様では、光学センサから照射されたメイン照射強度の照射光に対して、光学センサにより検出エリアから受光された反射光のメイン受光強度は、各受光画素毎に取得される。そこで第一～第三態様によると、光学センサからメイン照射強度よりも低く照射されたサブ照射強度の照射光に対して、光学センサにより検出エリアから受光された反射光のサブ受光強度も、各受光画素毎に取得される。これによれば、各受光画素毎に取得されたメイン受光強度のうち、上限強度に達した飽和画素のメイン受光強度は、低いサブ照射強度に対しては当該飽和画素においても上限強度に未達となるサブ受光強度に基づくことで、上限強度を超える真値との差分を補完することができる。故に、こうして補完されたメイン受光強度が物標からの反射強度として検出されることで、光学センサのダイナミックレンジを高めることが可能となる。

一実施形態によるセンシングシステムの全体構成を示す模式図である。 一実施形態による光学センサの詳細構成を示す模式図である。 一実施形態による制御装置の機能構成を示すブロック図である。 一実施形態による投光器を示す模式図である。 一実施形態によるレーザダイオードの特性を示す模式図である。 一実施形態による検出フレームを示すタイムチャートである。 一実施形態による受光器を示す模式図である。 一実施形態によるメイン画像データを示す模式図である。 一実施形態によるサブ画像データを示す模式図である。 一実施形態による背景画像データを示す模式図である。 一実施形態による補完を説明するためのグラフである。 一実施形態による制御フローを示すフローチャートである。 変形例による検出フレームを示すタイムチャートである。 変形例による検出フレームを示すタイムチャートである。

図１に示すように本開示の一実施形態は、光学センサ１０及び制御装置１を含んで構成されるセンシングシステム２に関する。センシングシステム２は、車両５に搭載される。車両５は、乗員の搭乗状態において走行路を走行可能な、例えば自動車等の移動体である。

車両５は、自動運転制御モードにおいて定常的、又は一時的に自動走行可能となっている。ここで自動運転制御モードは、条件付運転自動化、高度運転自動化、又は完全運転自動化といった、作動時のシステムが全ての運転タスクを実行する自律運転制御により、実現されてもよい。自動運転制御モードは、運転支援、又は部分運転自動化といった、乗員が一部又は全ての運転タスクを実行する高度運転支援制御において、実現されてもよい。自動運転制御モードは、それら自律運転制御と高度運転支援制御とのいずれか一方、組み合わせ、又は切り替えにより実現されてもよい。

尚、以下の説明では断り書きがない限り、前、後、上、下、左、及び右の各方向は、水平面上の車両５を基準として定義される。また水平方向とは、車両５の方向基準となる水平面に対して、平行方向を示す。さらに鉛直方向とは、車両５の方向基準となる水平面に対して、上下方向でもある垂直方向を示す。

光学センサ１０は、自動制御運転モードを含む車両５の運転制御に活用可能な画像データを取得するための、所謂ＬｉＤＡＲ（Light Detection and Ranging / Laser Imaging Detection and Ranging）である。光学センサ１０は、例えば前方部、左右の側方部、後方部、及び上方のルーフ等のうち、車両５の少なくとも一箇所に配置される。

図２に示すように光学センサ１０においては、互いに直交する三軸方向としてのＸ軸方向、Ｙ軸方向、及びＺ軸方向により、三次元直交座標系が定義されている。特に本実施形態では、Ｘ方向軸及びＺ軸方向がそれぞれ車両５の相異なる水平方向に沿って設定され、またＹ軸方向が車両５の鉛直方向に沿って設定されている。尚、図２においてＹ軸方向に沿う一点鎖線よりも左側部分（後述の光学窓１２側）は、実際には当該一点鎖線よりも右側部分（後述のユニット２１，４１側）に対して垂直な断面を図示している。

図３に示すように光学センサ１０は、車両５の外界空間のうち配置箇所及び視野角に応じた検出エリアＡｄへと向けて、光を照射する。光学センサ１０は、照射した光が検出エリアＡｄから反射されることで入射してくる反射光を、受光する。このとき受光される反射光には、検出エリアＡｄから入射してくる背景光（即ち、外光）も、含まれる。光学センサ１０は、こうした背景光のみを光の照射停止時に受光可能となっている。

光学センサ１０は、検出エリアＡｄ内において光を反射する物標Ｔｒをセンシングする。特に本実施形態におけるセンシングとは、物標Ｔｒからの反射強度、及び光学センサ１０から物標Ｔｒまでの反射点距離を、検出することを意味する。車両５に適用される光学センサ１０において代表的なセンシング対象物標は、例えば歩行者、サイクリスト、人間以外の動物、及び他車両等の移動物体のうち、少なくとも一種類であってもよい。車両５に適用される光学センサ１０において代表的なセンシング対象物標は、例えばガードレール、道路標識、道路脇の構造物、及び道路上の落下物等の静止物体のうち、少なくとも一種類であってもよい。

図２に示すように光学センサ１０は、筐体１１、投光ユニット２１、走査ユニット３１、及び受光ユニット４１を含んで構成されている。筐体１１は、箱状に形成され、遮光性を有している。筐体１１は、投光ユニット２１、走査ユニット３１、及び受光ユニット４１を内部に収容している。筐体１１は、透光性の光学窓１２を有している。

投光ユニット２１は、投光器２２、及び投光レンズ系２６を備えている。図４に示すように投光器２２は、複数のレーザダイオード２４が基板上においてアレイ状に配列されることで、構築されている。特に本実施形態の各レーザダイオード２４は、Ｙ軸方向に沿って単列に配列されている。各レーザダイオード２４は、ＰＮ接合層において発振された光を共振可能な共振器構造、及びＰＮ接合層を挟んで光を繰り返し反射可能なミラー層構造を、有している。各レーザダイオード２４は、制御装置１からの制御信号に従う電流の印加に応じた光を、それぞれ発する。特に本実施形態の各レーザダイオード２４は、車両５の検出エリアＡｄを含む外界空間に存在する人間から視認困難な近赤外域の光を、それぞれ発する。

図５に示すように各レーザダイオード２４は、切替電流値Ｃｔｈよりも高い電流を印加される場合には発振状態のＬＤ（Laser Diode）モードとなることで、パルス発光する。このようなＬＤモードのパルス発光により各レーザダイオード２４から発せされた光は、図６に示すように近赤外域での強度がメイン照射強度Ｉｉｍの照射光を、構成することになる。一方、図５に示すように各レーザダイオード２４は、切替電流値Ｃｔｈよりも低い電流を印加される場合には未発振状態のＬＥＤ（Light Emitting Diode）モードとなることで、連続的にＤＣ（Direct Current）発光する。このようなＬＥＤモードの連続発光により各レーザダイオード２４から発せされた光は、図６に示すように近赤外域での強度がメイン照射強度Ｉｉｍよりも低いサブ照射強度Ｉｉｓの照射光を、構成することになる。

図４に示すように投光器２２は、Ｙ軸方向に沿って長手且つＸ軸方向に沿って短手の長方形輪郭をもって擬似的に規定される投光窓２５を、基板の片面側に形成している。投光窓２５は、各レーザダイオード２４における投射開口の集合体として、構成されている。各レーザダイオード２４の投射開口から発せられた光は、検出エリアＡｄではＹ軸方向に沿ったライン状に擬制される照射光として、投光窓２５から投射される。照射光には、Ｙ軸方向において各レーザダイオード２４の配列間隔に応じた非発光部が、含まれていてもよい。この場合でも、検出エリアＡｄにおいては回折作用によって巨視的に非発光部の解消されたライン状の照射光が、形成されるとよい。

図２に示すように投光レンズ系２６は、投光器２２からの照射光を、走査ユニット３１の走査ミラー３２へ向かって投光する。投光レンズ系２６は、例えば集光、コリメート、及び整形等のうち、少なくとも一種類の光学作用を発揮する。投光レンズ系２６は、Ｚ軸に沿った投光光軸を、形成する。投光レンズ系２６は、発揮する光学作用に応じたレンズ形状の投光レンズ２７を、投光光軸上に少なくとも一つ有している。投光レンズ系２６の投光光軸上には、投光器２２が位置決めされている。投光器２２において投光窓２５から出射された照射光は、投光レンズ系２６の投光光軸に沿って導光される。

走査ユニット３１は、走査ミラー３２、及び走査モータ３５を備えている。走査ミラー３２は、基材の片面である反射面３３に反射膜が蒸着されることで、板状に形成されている。走査ミラー３２は、Ｙ軸方向に沿う回転中心線まわりに回転可能に、筐体１１によって支持されている。走査ミラー３２は、機械的又は電気的なストッパにより有限となる駆動区間内において、揺動運動する。

走査ミラー３２は、投光ユニット２１と受光ユニット４１とに共通に設けられている。走査ミラー３２は、投光ユニット２１の投光レンズ系２６から入射する照射光を、反射面３３により反射して光学窓１２を通して検出エリアＡｄへと投光することで、当該検出エリアＡｄを回転角度に応じて走査する。特に本実施形態では、走査ミラー３２による検出エリアＡｄの機械的な走査が、水平方向での走査に実質制限されている。このような走査と同時的に走査ミラー３２は、回転角度に応じて検出エリアＡｄから光学窓１２を通して入射してくる反射光を、反射面３３により受光ユニット４１側へとさらに反射する。ここで走査ミラー３２の回転運動速度に対しては、照射光及び反射光の速度が十分に大きい。これにより照射光に対する反射光は、照射光と略同一回転角度の走査ミラー３２において照射光と逆行するように、受光ユニット４１側へと導光される。

走査モータ３５は、例えばボイスコイルモータ、ブラシ付き直流モータ、又はステッピングモータ等である。走査モータ３５は、制御装置１からの制御信号に従って、走査ミラー３２を有限の駆動区間内において回転駆動（即ち、揺動駆動）する。このとき走査ミラー３２の回転角度は、各レーザダイオード２４毎の発光タイミングと同期させて、順次変化させられる。

受光ユニット４１は、投光ユニット２１に対してＹ軸方向にずれて配置されている。ここで特に本実施形態の受光ユニット４１は、Ｙ軸方向において投光ユニット２１よりも下方に、位置決めされている。受光ユニット４１は、受光レンズ系４２、及び受光器４５を備えている。受光レンズ系４２は、受光器４５に対して入射光を結像させるように、光学作用を発揮する。受光レンズ系４２は、Ｚ軸に沿った受光光軸を、形成する。受光レンズ系４２は、発揮する光学作用に応じたレンズ形状の受光レンズ４３を、受光光軸上に少なくとも一つ有している。走査ミラー３２において反射面３３から入射した光は、走査ミラー３２の駆動区間内において受光レンズ系４２の受光光軸に沿って導光される。

受光器４５は、受光レンズ系４２の受光光軸上に位置決めされている。図７に示すように受光器４５は、複数の受光画素４６が基板上においてアレイ状に配列されることで、構築されている。特に本実施形態の各受光画素４６は、Ｙ軸方向及びＸ軸方向に沿って二次元アレイ状に配列されている。各受光画素４６はさらに、それぞれ複数ずつの受光素子から構成されている。各受光画素４６の受光素子は、例えばシングルフォトンアバランシェダイオード（SPAD：Single Photon Avalanche Diode）等のフォトダイオードを主体に、形成されている。

受光器４５は、Ｙ軸方向に沿って長手且つＸ軸方向に沿って短手の長方形輪郭をもって規定される受光面４７を、基板の片面側に形成している。受光面４７は、各受光画素４６における入射面の集合体として、構成されている。各受光画素４６は、受光レンズ系４２を通して検出エリアＡｄから受光面４７へと入射した反射光を、各受光素子によって受光する。このとき、検出エリアＡｄにおいてライン状となる照射光に対しての反射光は、Ｙ軸方向に沿ってライン状に拡がったビームとして、受光される。

図２に示すように受光器４５は、出力回路４８を一体的に有している。出力回路４８は、図６に示す検出フレームＦｄにおいて、制御装置１からの制御信号に従ってサンプリング処理を実行する。ここで検出フレームＦｄは、車両５の起動中において所定時間間隔で繰り返される。そこで、サンプリング処理において出力回路４８は、受光器４５からの出力信号に基づく走査ライン別の検出信号を、各検出フレームＦｄ毎に生成する。こうして生成された検出信号は、図３に示すように出力回路４８から制御装置１へ出力される。

図１に示す制御装置１は、例えばＬＡＮ（Local Area Network）、ワイヤハーネス、及び内部バス等のうち、少なくとも一種類を介して光学センサ１０に接続される。制御装置１は、少なくとも一つの専用コンピュータを含んで構成される。制御装置１を構成する専用コンピュータは、光学センサ１０を制御することに特化した、センサＥＣＵ（Electronic Control Unit）であってもよく、この場合にセンサＥＣＵは、筐体１１内に収容されていてもよい。制御装置１を構成する専用コンピュータは、車両５の運転を制御する、運転制御ＥＣＵ（Electronic Control Unit）であってもよい。制御装置１を構成する専用コンピュータは、車両５の走行経路をナビゲートする、ナビゲーションＥＣＵであってもよい。制御装置１を構成する専用コンピュータは、車両５の自己状態量を推定する、ロケータＥＣＵであってもよい。

制御装置１を構成する専用コンピュータは、メモリ１ａ及びプロセッサ１ｂを、少なくとも一つずつ有している。メモリ１ａは、コンピュータにより読み取り可能なプログラム及びデータ等を非一時的に記憶する、例えば半導体メモリ、磁気媒体、及び光学媒体等のうち、少なくとも一種類の非遷移的実体的記憶媒体（non-transitory tangible storage medium）である。プロセッサ１ｂは、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、ＲＩＳＣ（Reduced Instruction Set Computer）－ＣＰＵ、ＤＦＰ（Data Flow Processor）、及びＧＳＰ（Graph Streaming Processor）等のうち、少なくとも一種類をコアとして含む。

プロセッサ１ｂは、メモリ１ａに記憶された制御プログラムに含まれる複数の命令を、実行する。これにより制御装置１は、光学センサ１０を制御するための機能ブロックを、複数構築する。このように制御装置１では、光学センサ１０を制御するためにメモリ１ａに記憶された制御プログラムが複数の命令をプロセッサ１ｂに実行させることで、複数の機能ブロックが構築される。制御装置１により構築される複数の機能ブロックには、図３に示すようにメイン取得ブロック１００、サブ取得ブロック１１０、背景取得ブロック１２０、強度補完ブロック１３０、及び距離検出ブロック１４０が含まれる。

メイン取得ブロック１００は、図６に示すように検出フレームＦｄに設定されるメイン期間Ｐｍにおいて、発振状態の各レーザダイオード２４によりパルス発光するＬＤモードに、光学センサ１０を制御する。こうしたＬＤモードへの制御により、メイン期間Ｐｍにおいて光学センサ１０から検出エリアＡｄには、メイン照射強度Ｉｉｍの照射光が断続的なパルス状に照射されることとなる。

図３に示すメイン取得ブロック１００は、メイン期間Ｐｍでのパルス発光によるメイン照射強度Ｉｉｍの照射光に対して、光学センサ１０により検出エリアＡｄから受光された反射光の受光強度を、各受光画素４６毎に取得する。ここで、図３，８に示すように取得された各受光画素４６毎の受光強度は、それぞれメイン受光強度Ｉｒｍとして定義される。この定義の下においてメイン取得ブロック１００は、各受光画素４６毎のメイン受光強度Ｉｒｍをデータ化した、メイン画像データＤｍを生成する。

メイン画像データＤｍの取得に伴ってメイン取得ブロック１００は、走査モータ３５による走査ミラー３２の全駆動区間に亘る回転駆動を、各レーザダイオード２４毎での図６に示すパルス発光の発光タイミングｔｍと同期させて制御する。そこでメイン取得ブロック１００は、走査ミラー３２の回転角度に応じた複数の走査ライン別に各受光画素４６毎のメイン受光強度Ｉｒｍを取得することで、それら走査ライン別のメイン画像データＤｍを図８の如く生成する。

図３に示すサブ取得ブロック１１０は、図６に示すように検出フレームＦｄに設定されるサブ期間Ｐｓのうち発光期間Ｐｓｌにおいて、未発振状態の各レーザダイオード２４により連続発光するＬＥＤモードに、光学センサ１０を制御する。ここでサブ期間Ｐｓは、同じ検出フレームＦｄにおいてメイン期間Ｐｍとは時間の前後する期間に、規定されている。特に本実施形態のサブ期間Ｐｓは、メイン期間Ｐｍに連続的に後続する期間に、規定されている。また、特に本実施形態の発光期間Ｐｓｌは、サブ期間Ｐｓのうち前側に偏った一部期間に、規定されている。こうした発光期間Ｐｓｌにおいて、ＬＥＤモードに制御された光学センサ１０から検出エリアＡｄには、メイン照射強度Ｉｉｍよりも低いサブ照射強度Ｉｉｓの照射光が連続的に照射されることとなる。

図３に示すサブ取得ブロック１１０は、発光期間Ｐｓｌでの連続発光によるサブ照射強度Ｉｉｓの照射光に対して、光学センサ１０により検出エリアＡｄから受光された反射光の受光強度を、各受光画素４６毎に取得する。ここで、図３，９に示すように取得された各受光画素４６毎の受光強度は、それぞれ対応する受光画素４６での上限強度Ｉｒｕよりも低くなるサブ受光強度Ｉｒｓとして、定義される。この定義の下においてサブ取得ブロック１１０は、各受光画素４６毎のサブ受光強度Ｉｒｓをデータ化した、サブ画像データＤｓを生成する。

サブ画像データＤｓの取得に伴ってサブ取得ブロック１１０は、走査モータ３５による走査ミラー３２の全駆動区間に亘る回転駆動を、各レーザダイオード２４での図６に示す連続発光と並行して制御する。そこでサブ取得ブロック１１０は、走査ミラー３２の回転角度に応じた複数の走査ライン別に各受光画素４６毎のサブ受光強度Ｉｒｓを取得することで、それら走査ライン別のサブ画像データＤｓを図９の如く生成する。

図３に示す背景取得ブロック１２０は、図６に示すように検出フレームＦｄに設定されるサブ期間Ｐｓのうち停止期間Ｐｓｓにおいて、電流の印加を停止して各レーザダイオード２４を非発光状態とする停止モードに、光学センサ１０を制御する。ここで特に本実施形態の停止期間Ｐｓｓは、サブ期間Ｐｓのうち発光期間Ｐｓｌよりも後側に偏った一部期間に、規定されている。それと共に本実施形態の停止期間Ｐｓｓは、連続発光の発光期間Ｐｓｌとは実質同一の時間長さΔｔに設定されている。こうした停止期間Ｐｓｓにおいて、停止モードに制御された光学センサ１０から検出エリアＡｄへの照射光は、連続的に停止することになる。

図３に示す背景取得ブロック１２０は、停止期間Ｐｓｓに光学センサ１０によって検出エリアＡｄから受光された背景光の受光強度を、各受光画素４６毎に取得する。ここで、図３，１０に示すように取得された各受光画素４６毎の受光強度は、それぞれ対応するサブ受光強度Ｉｒｓよりも低くなる背景受光強度Ｉｒｂとして、定義される。この定義の下において背景取得ブロック１２０は、各受光画素４６毎の背景受光強度Ｉｒｂをデータ化した、背景画像データＤｂを生成する。

背景画像データＤｂの取得に伴って背景取得ブロック１２０は、走査モータ３５による走査ミラー３２の全駆動区間に亘る回転駆動を、各レーザダイオード２４での図６に示す発光停止と並行して制御する。そこで背景取得ブロック１２０は、走査ミラー３２の回転角度に応じた複数の走査ライン別に各受光画素４６毎の背景受光強度Ｉｒｂを取得することで、それら走査ライン別の背景画像データＤｂを図１０の如く生成する。

このように画像データＤｍ，Ｄｓ，Ｄｂはいずれも、図８～１０に示すような走査ライン別に取得される。そこで特に本実施形態では、物理的には同じ受光画素４６によって取得された受光強度Ｉｒｍ，Ｉｒｓ，Ｉｒｂであっても、異なる走査ラインに対して取得された受光強度Ｉｒｍ，Ｉｒｓ，Ｉｒｂは、画像データＤｍ，Ｄｓ，Ｄｂ上は別の受光画素４６によって取得された値として認識される。また逆に、同じ走査ラインにおいて物理的に同じ受光画素４６によって取得された受光強度Ｉｒｍ，Ｉｒｓ，Ｉｒｂは、画像データＤｍ，Ｄｓ，Ｄｂ間でも同じ受光画素４６によって取得された値として認識される。

図３に示す強度補完ブロック１３０は、走査ライン別となるメイン画像データＤｍの各々において各受光画素４６毎のメイン受光強度Ｉｒｍが、それぞれ対応する受光画素４６の上限強度Ｉｒｕに達しているか否かを、判定する。強度補完ブロック１３０は、走査ライン別での各受光画素４６のうち、図８に示すようにメイン受光強度Ｉｒｍが上限強度Ｉｒｕには達していない未飽和画素４６０に対しては、メイン取得ブロック１００による取得値をそのままメイン受光強度Ｉｒｍの確定値として維持する。

一方で強度補完ブロック１３０は、走査ライン別での各受光画素４６のうち、図８に示すようにメイン受光強度Ｉｒｍが上限強度Ｉｒｕに達している飽和画素４６１に対しては、メイン取得ブロック１００による取得値を補完する。このとき飽和画素４６１のメイン受光強度Ｉｒｍに対する補完は、図９に示すように飽和画素４６１を含む走査ラインのサブ画像データＤｓにおける、飽和画素４６１のサブ受光強度Ｉｒｓに基づく。

ここで具体的に強度補完ブロック１３０は、図１０に示すように飽和画素４６１を含む走査ラインの背景画像データＤｂにおける、飽和画素４６１の背景受光強度Ｉｒｂ分を減算することで、図９に示す飽和画素４６１のサブ受光強度Ｉｒｓを補正する。さらに強度補完ブロック１３０は、こうして補正した飽和画素４６１のサブ受光強度Ｉｒｓを、飽和画素４６１のメイン受光強度Ｉｒｍに対する補完強度Ｉｒｃへと変換する。この補完強度Ｉｒｃへの変換では、発光期間Ｐｓｌにおけるサブ受光強度Ｉｒｓと、発光期間Ｐｓｌに対して実質同一時間長さの停止期間Ｐｓｓにおける背景受光強度Ｉｒｂとの、補正による差分を、数１に示すように各期間Ｐｓｌ，Ｐｓｓの時間長さΔｔによって除算する。これにより、連続発光の発光期間Ｐｓｌにおけるサブ受光強度Ｉｒｓが、パルス発光の発光タイミングｔｍにおけるメイン受光強度Ｉｒｍに対しての補完強度Ｉｒｃに、変換される。

こうした原理に従う補完強度Ｉｒｃは、図１１に示すように実反射強度を表すメイン受光強度Ｉｒｍの真値Ｉｒｔと、飽和画素４６１において制限された上限強度Ｉｒとの、サブ受光強度Ｉｒｓに応じた差分として推定されることになる。そこで強度補完ブロック１３０は、上限強度Ｉｒｕに達した飽和画素４６１のメイン受光強度Ｉｒｍに対して、数２に示すように補完強度Ｉｒｃを加算することで、サブ受光強度Ｉｒｓに基づき当該メイン受光強度Ｉｒｍを補完する。

以上により強度補完ブロック１３０は、各受光画素４６毎に上限強度Ｉｒｕに達していない場合にはそのまま維持且つ上限強度Ｉｒｕに達している場合には補完された、メイン受光強度Ｉｒｍを含む走査ライン別のメイン画像データＤｍを、強度画像データとして合成する。こうして合成されたメイン画像データＤｍは、検出エリアＡｄにおける物標Ｔｒからの反射強度として、メイン受光強度Ｉｒｍを走査ライン別の各受光画素４６毎に検出したデータとなる。そこで合成されたメイン画像データＤｍは、車両５の自動運転制御モードに利用されることで、例えば認識処理では複数物標Ｔｒを正確に分離識別することが可能となる。

強度補完ブロック１３０は、合成されたメイン画像データＤｍを、例えばタイムスタンプ及び車両５の走行環境情報等のうち少なくとも一種類と関連付けて、メモリ１ａに記憶してもよい。強度補完ブロック１３０は、合成されたメイン画像データＤｍを、例えばタイムスタンプ及び車両５の走行環境情報等のうち少なくとも一種類と関連付けて外部センタへと送信することで、当該外部センタの記憶媒体に蓄積させてもよい。

図３に示す距離検出ブロック１４０は、メイン期間Ｐｍでのメイン照射強度Ｉｉｍの照射光に対して光学センサ１０により検出エリアＡｄから受光された反射光の反射点距離を、強度補完ブロック１３０により合成されたメイン画像データＤｍに基づき、検出する。このとき反射点距離の検出は、パルス発光タイミングｔｍからメイン受光強度Ｉｒｍのピーク強度を取得するまでの照射光の飛行時間に基づいた、ｄＴＯＦ（direct Time Of Flight）によって実現される。またこのとき、例えば図８～１０に模式的に重畳表示されるような、高反射物標Ｔｒからの反射光によって生じるフレア等に起因した反射点距離の誤差が、飽和画素４６１の情報を含むメイン画像データＤｍに基づき、補正されてもよい。

距離検出ブロック１４０は、走査ライン別の各受光画素４６毎に取得した反射点距離のデータを合成することで、図３の如く距離画像データＤｄを生成する。生成された距離画像データＤｄは、メイン画像データＤｍと共に車両５の自動運転制御モードにおいて利用されることで、例えば認識処理では複数物標Ｔｒまでの距離を正確に分離把握することが可能となる。尚、距離検出ブロック１４０は、強度補完ブロック１３０によるメイン画像データＤｍの場合に準じて距離画像データＤｄを、メモリ１ａに記憶してもよいし、外部センタへ送信してから蓄積させてもよい。

ここまで説明したブロック１００，１１０，１２０，１３０の共同により、制御装置１が車両５の光学センサ１０を制御する制御方法は、図１２に示す制御フローに従って実行される。本制御フローは、車両５の起動中において検出フレームＦｄ毎に繰り返し実行される。尚、制御フローにおける各「Ｓ」は、制御プログラムに含まれた複数命令によって実行される複数ステップを、それぞれ意味している。

Ｓ１０においてメイン取得ブロック１００は、メイン期間Ｐｍでのパルス発光によるメイン照射強度Ｉｉｍの照射光に対して、光学センサ１０により検出エリアＡｄから受光された反射光のメイン受光強度Ｉｒｍを、走査ライン別の各受光画素４６毎に取得する。そこでＳ１０のメイン取得ブロック１００は、取得した各受光画素４６毎のメイン受光強度Ｉｒｍを走査ライン別にデータ化することで、当該走査ライン別のメイン画像データＤｍを生成する。

Ｓ１１においてサブ取得ブロック１１０は、サブ期間Ｐｓのうち発光期間Ｐｓｌでのパルス発光によるサブ照射強度Ｉｉｓの照射光に対して、光学センサ１０により検出エリアＡｄから受光された反射光のサブ受光強度Ｉｒｓを、走査ライン別の各受光画素４６毎に取得する。そこでＳ１１のサブ取得ブロック１１０は、取得した各受光画素４６毎のサブ受光強度Ｉｒｓを走査ライン別にデータ化することで、当該走査ライン別のサブ画像データＤｓを生成する。

Ｓ１２において背景取得ブロック１２０は、サブ期間Ｐｓのうち停止期間Ｐｓｓに光学センサ１０によって検出エリアＡｄから受光された背景光の背景受光強度Ｉｒｂを、走査ライン別の各受光画素４６毎に取得する。そこでＳ１２の背景取得ブロック１２０は、取得した各受光画素４６毎の背景受光強度Ｉｒｂを走査ライン別にデータ化することで、当該走査ライン別の背景画像データＤｂを生成する。

Ｓ１３において強度補完ブロック１３０は、Ｓ１０により走査ライン別に生成されたメイン画像データＤｍの各々において各受光画素４６毎のメイン受光強度Ｉｒｍが、それぞれ対応する受光画素４６の上限強度Ｉｒｕに達しているか否かを、判定する。その結果、メイン受光強度Ｉｒｍが上限強度Ｉｒｕに達していない未飽和画素４６０に対しては、Ｓ１４において強度補完ブロック１３０がＳ１０による取得値を、そのままメイン受光強度Ｉｒｍの確定値として維持する。

一方、メイン受光強度Ｉｒｍが上限強度Ｉｒｕに達している飽和画素４６１に対しては、Ｓ１５において強度補完ブロック１３０がＳ１０による取得値を補完する。このとき強度補完ブロック１３０は、Ｓ１２による飽和画素４６１の背景受光強度Ｉｒｂを用いてＳ１１による飽和画素４６１のサブ受光強度Ｉｒｓを補正してから、Ｓ１０による飽和画素４６１のメイン受光強度Ｉｒｍを当該補正後のサブ受光強度Ｉｒｓに基づき補完する。

Ｓ１４，Ｓ１５のいずれの実行終了後にも、制御フローはＳ１６へ移行する。Ｓ１６において強度補完ブロック１３０は、受光画素４６毎に上限強度Ｉｒｕに達していない場合にはそのまま維持且つ上限強度Ｉｒｕに達している場合には補完された、メイン受光強度Ｉｒｍを含む走査ライン別のメイン画像データＤｍを、合成する。さらにＳ１７において距離検出ブロック１４０は、メイン期間Ｐｍでのメイン照射強度Ｉｉｍの照射光に対して光学センサ１０により検出エリアＡｄから受光された反射光の反射点距離を、Ｓ１６により合成されたメイン画像データＤｍに基づき検出することで、距離画像データＤｄを生成する。尚、Ｓ１６，Ｓ１７において画像データＤｍ，Ｄｄの少なくとも一方は、メモリ１ａに記憶されてもよいし、外部センタへ送信されてから蓄積されてもよい。

（作用効果）
以上説明した本実施形態の作用効果を、以下に説明する。

本実施形態では、光学センサ１０から照射されたメイン照射強度Ｉｉｍの照射光に対して、光学センサ１０により検出エリアＡｄから受光された反射光のメイン受光強度Ｉｒｍは、各受光画素４６毎に取得される。そこで本実施形態によると、光学センサ１０からメイン照射強度Ｉｉｍよりも低く照射されたサブ照射強度Ｉｉｓの照射光に対して、光学センサ１０により検出エリアＡｄから受光された反射光のサブ受光強度Ｉｒｓも、各受光画素４６毎に取得される。これによれば、各受光画素４６毎に取得されたメイン受光強度Ｉｒｍのうち、上限強度Ｉｒｕに達した飽和画素４６１のメイン受光強度Ｉｒｍは、低いサブ照射強度Ｉｉｓに対しては当該飽和画素４６１においても上限強度Ｉｒｕに未達となるサブ受光強度Ｉｒｓに基づくことで、上限強度Ｉｒｕを超える真値Ｉｒｔとの差分を補完することができる。故に、こうして補完されたメイン受光強度Ｉｒｍが物標Ｔｒからの反射強度として検出されることで、光学センサ１０のダイナミックレンジを高めることが可能となる。

本実施形態によると、上限強度Ｉｒｕに達したメイン受光強度Ｉｒｍは、メイン受光強度Ｉｒｍの真値Ｉｒｔと上限強度Ｉｒｕとの差分として、サブ受光強度Ｉｒｓに応じて推定される補完強度Ｉｒｃを加算することで、正確に補完され得る。故に、光学センサ１０のダイナミックレンジを適正に高めることが可能となる。

本実施形態によると、各受光画素４６毎のメイン受光強度Ｉｒｍは、パルス発光によるメイン照射強度Ｉｉｍの照射光に対して取得される一方、各受光画素４６毎のサブ受光強度Ｉｒｓは、連続発光によるサブ照射強度Ｉｉｓの照射光に対して取得される。これによれば、連続発光の発光期間Ｐｓｌにおけるサブ受光強度Ｉｒｓを、パルス発光の発光タイミングｔｍにおける補完強度Ｉｒｃへと変換することで、上限強度Ｉｒｕに達したメイン受光強度Ｉｒｍであっても、真値Ｉｒｔへと高精度に補完することができる。故に光学センサ１０のダイナミックレンジを、反射強度の検出精度と共に、適正に高めることが可能となる。

本実施形態によると、各受光画素４６毎のメイン受光強度Ｉｒｍは、光学センサ１０において発振状態に制御した複数レーザダイオード２４によるメイン照射強度Ｉｉｍの照射光に対して、取得される。そこで各受光画素４６毎のサブ受光強度Ｉｒｓは、光学センサ１０において同じ複数レーザダイオード２４を未発振状態に制御して照射したサブ照射強度Ｉｉｓの照射光に対して、取得される。これによれば、異なる照射強度Ｉｉｍ，Ｉｉｓに対して反射光の受光構造を共通化することで比較的小型となる光学センサ１０において、サブ受光強度Ｉｒｓに基づくメイン受光強度Ｉｒｍの補完によりダイナミックレンジを高めることが可能となる。

本実施形態によると、各受光画素４６毎のメイン受光強度Ｉｒｍは、メイン期間Ｐｍに照射されたメイン照射強度Ｉｉｍの照射光に対して、取得される。そこで各受光画素４６毎のサブ受光強度Ｉｒｓは、メイン期間Ｐｍとは時間の前後するサブ期間Ｐｓに照射されたサブ照射強度Ｉｉｓの照射光に対して、取得される。これによれば、移動する車両５の検出エリアＡｄにおいて同じ物標Ｔｒからメイン受光強度Ｉｒｍ及びサブ受光強度Ｉｒｓを受光する受光画素４６が、共通化され易くなる。故に、上限強度Ｉｒｕに達した飽和画素４６１のメイン受光強度Ｉｒｍを、同じ飽和画素４６１にあっても上限強度Ｉｒｕには達していないサブ受光強度Ｉｒｓに基づき正確に補完することで、光学センサ１０のダイナミックレンジを適正に高めることが可能となる。

本実施形態によると、照射光の停止する停止期間Ｐｓｓには、光学センサ１０により検出エリアＡｄから受光された背景光の背景受光強度Ｉｒｂが、各受光画素４６毎に取得される。そこで、背景受光強度Ｉｒｂにより補正したサブ受光強度Ｉｒｓに基づくことで、上限強度Ｉｒｕに達したメイン受光強度Ｉｒｍを、背景光の影響を除外して高精度に補完することができる。故に光学センサ１０のダイナミックレンジを、反射強度の検出精度と共に、適正に高めることが可能となる。

本実施形態によると、メイン照射強度Ｉｉｍの照射光に対して光学センサ１０により検出エリアＡｄから受光された反射光の反射点距離は、補完されたメイン受光強度Ｉｒｍを含むメイン画像データＤｍに基づき、検出される。これによれば、高いダイナミックレンジによる高精度な反射強度を利用して、反射点距離も高精度に検出することができる。即ち光学センサ１０のダイナミックレンジを、反射強度の検出精度だけでなく、反射点距離の検出精度と共に、適正に高めることが可能である。

（他の実施形態）
以上、複数の実施形態について説明したが、本開示は、それらの実施形態に限定して解釈されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲内において種々の実施形態及び組み合わせに適用することができる。

変形例において制御装置１を構成する専用コンピュータは、車両５との間で通信可能な外部センタ又はモバイル端末を構築する、車両５以外のコンピュータであってもよい。変形例において制御装置１を構成する専用コンピュータは、デジタル回路及びアナログ回路のうち、少なくとも一方をプロセッサとして有していてもよい。ここでデジタル回路とは、例えばＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）、ＳＯＣ（System on a Chip）、ＰＧＡ（Programmable Gate Array）、及びＣＰＬＤ（Complex Programmable Logic Device）等のうち、少なくとも一種類である。またこうしたデジタル回路は、プログラムを記憶したメモリを、有していてもよい。

変形例の光学センサ１０では、走査ミラー３２による検出エリアＡｄの機械的な走査が、鉛直方向での走査に実質制限されていてもよい。この場合、投光窓２５及び受光面４７の長方形輪郭の長手側は、Ｘ軸方向に沿って規定されていてもよい。変形例の光学センサ１０では、走査ミラー３２による検出エリアＡｄの機械的な走査が、水平方向での走査と鉛直方向での走査との双方であってもよい。変形例の光学センサ１０は、例えば回転式、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）式、若しくはリサージュ式等のうち、二次元又は三次元の各種走査方式を採用していてもよい。

変形例の光学センサ１０では、メイン照射強度Ｉｉｍの照射光を照射する投光器２２と、サブ照射強度Ｉｉｓの照射光を照射する投光器２２とが、別々に設けられていてもよい。この場合、サブ照射強度Ｉｉｓの照射光を照射する投光器２２としては、レーザダイオード２４に代えて、発光ダイオード（ＬＥＤ）が用いられていてもよい。

図１３に示すように変形例の検出フレームＦｄでは、メイン期間Ｐｍがサブ期間Ｐｓに連続的に後続する期間に、規定されていてもよい。図１４に示すように変形例の検出フレームＦｄでは、メイン期間Ｐｍとは時間の前後するサブ期間Ｐｓにおいて、停止期間Ｐｓｓよりも後側に偏った発光期間Ｐｓｌが、規定されていてもよい。

変形例の検出フレームＦｄでは、サブ期間Ｐｓのうち停止期間Ｐｓｓが省かれてもよい。この場合の背景取得ブロック１２０及びＳ１２では、例えばメイン受光強度Ｉｒｍ及びサブ受光強度Ｉｒｓのうち少なくとも一方等に基づくアルゴリズムを用いて、背景受光強度Ｉｒｂが推定されてもよい。

変形例の強度補完ブロック１３０及びＳ１５では、背景受光強度Ｉｒｂを用いたサブ受光強度Ｉｒｓの補正が、省かれてもよい。変形例では、距離検出ブロック１４０及びＳ１７が省かれてもよい。

変形例において制御装置１の適用される車両は、例えば外部センタから走行路での走行をリモート制御可能な、走行ロボット等であってもよい。ここまでの説明形態の他、上述の実施形態及び変形例は、プロセッサ１ｂ及びメモリ１ａを少なくとも一つずつ有した半導体装置（例えば半導体チップ等）として、実施されてもよい。

１：制御装置、１ａ：メモリ、１ｂ：プロセッサ、５：車両、１０：光学センサ、２４：レーザダイオード、４６：受光画素、４６１：飽和画素、Ａｄ：検出エリア、Ｄｍ：メイン画像データ、Ｉｉｍ：メイン照射強度、Ｉｉｓ：サブ照射強度、Ｉｒｂ：背景受光強度、Ｉｒｃ：補完強度、Ｉｒｍ：メイン受光強度、Ｉｒｓ：サブ受光強度、Ｉｒｔ：真値、Ｉｒｕ：上限強度、Ｐｍ：メイン期間、Ｐｓ：サブ期間、Ｐｓｌ：発光期間、Ｐｓｓ：停止期間、ｔｍ：発光タイミング、Ｔｒ：物標

Claims (10)

1. プロセッサ（１ｂ）を有し、車両（５）の検出エリア（Ａｄ）へ照射した照射光に対する物標（Ｔｒ）からの反射光を複数の受光画素（４６）により受光する光学センサ（１０）を、制御する制御装置（１）であって、
   前記プロセッサは、
   前記光学センサから照射されたメイン照射強度（Ｉｉｍ）の前記照射光に対して、前記光学センサにより前記検出エリアから受光された前記反射光の受光強度を、メイン受光強度（Ｉｒｍ）として各前記受光画素毎に取得することと、
   前記光学センサから前記メイン照射強度よりも低く照射されたサブ照射強度（Ｉｉｓ）の前記照射光に対して、前記光学センサにより前記検出エリアから受光された前記反射光の受光強度を、サブ受光強度（Ｉｒｓ）として各前記受光画素毎に取得することと、
   各前記受光画素毎に取得された前記メイン受光強度のうち、上限強度（Ｉｒｕ）に達した飽和画素（４６１）の前記メイン受光強度を、当該飽和画素の前記サブ受光強度に基づき補完することとを、実行するように構成される制御装置。
2. 前記メイン受光強度を補完することは、
   前記メイン受光強度の真値（Ｉｒｔ）と前記上限強度との差分として前記サブ受光強度に応じて推定される補完強度（Ｉｒｃ）を、前記上限強度に達した前記メイン受光強度に加算することを、含む請求項１に記載の制御装置。
3. 前記メイン受光強度を取得することは、
   パルス発光による前記メイン照射強度の前記照射光に対して、各前記受光画素毎の前記メイン受光強度を取得することを、含み、
   前記サブ受光強度を取得することは、
   連続発光による前記サブ照射強度の前記照射光に対して、各前記受光画素毎の前記サブ受光強度を取得することを、含み、
   前記メイン受光強度を補完することは、
   前記連続発光の発光期間（Ｐｓｌ）における前記サブ受光強度を、前記パルス発光の発光タイミング（ｔｍ）における前記補完強度へ変換することを、含む請求項２に記載の制御装置。
4. 前記メイン受光強度を取得することは、
   前記光学センサにおいて発振状態に制御したレーザダイオード（２４）による前記メイン照射強度の前記照射光に対して、各前記受光画素毎の前記メイン受光強度を取得することを、含み、
   前記サブ受光強度を取得することは、
   前記光学センサにおいて未発振状態に制御した前記レーザダイオードによる前記サブ照射強度の前記照射光に対して、各前記受光画素毎の前記サブ受光強度を取得することを、含む請求項１～３のいずれか一項に記載の制御装置。
5. 前記メイン受光強度を取得することは、
   メイン期間（Ｐｍ）に照射された前記メイン照射強度の前記照射光に対して、各前記受光画素毎の前記メイン受光強度を取得することを、含み、
   前記サブ受光強度を取得することは、
   前記メイン期間とは時間の前後するサブ期間（Ｐｓ）に照射された前記サブ照射強度の前記照射光に対して、各前記受光画素毎の前記サブ受光強度を取得することを、含む請求項１～４のいずれか一項に記載の制御装置。
6. 前記プロセッサは、
   前記照射光の停止する停止期間（Ｐｓｓ）に、前記光学センサにより前記検出エリアから受光された背景光の受光強度を、背景受光強度（Ｉｒｂ）として各前記受光画素毎に取得することを、さらに実行するように構成され、
   前記メイン受光強度を補完することは、
   前記背景受光強度により補正した前記サブ受光強度に基づき、前記上限強度に達した前記メイン受光強度を補完することを、含む請求項１～５のいずれか一項に記載の制御装置。
7. 記憶媒体（１ａ）を有し、
   前記プロセッサは、
   補完された前記メイン受光強度を含む強度画像データ（Ｄｍ）を、前記記憶媒体に記憶することを、さらに実行するように構成される請求項１～６のいずれか一項に記載の制御装置。
8. 前記プロセッサは、
   前記メイン照射強度の前記照射光に対して前記光学センサにより前記検出エリアから受光された前記反射光の反射点距離を、補完された前記メイン受光強度を含む強度画像データ（Ｄｍ）に基づき、検出することを、さらに実行するように構成される請求項１～７のいずれか一項に記載の制御装置。
9. 車両（５）の検出エリア（Ａｄ）へ照射した照射光に対する物標（Ｔｒ）からの反射光を複数の受光画素（４６）により受光する光学センサ（１０）を、制御するためにプロセッサ（１ｂ）により実行される制御方法であって、
   前記光学センサから照射されたメイン照射強度（Ｉｉｍ）の前記照射光に対して、前記光学センサにより前記検出エリアから受光された前記反射光の受光強度を、メイン受光強度（Ｉｒｍ）として各前記受光画素毎に取得することと、
   前記光学センサから前記メイン照射強度よりも低く照射されたサブ照射強度（Ｉｉｓ）の前記照射光に対して、前記光学センサにより前記検出エリアから受光された前記反射光の受光強度を、サブ受光強度（Ｉｒｓ）として各前記受光画素毎に取得することと、
   各前記受光画素毎に取得された前記メイン受光強度のうち、上限強度（Ｉｒｕ）に達した飽和画素（４６１）の前記メイン受光強度を、当該飽和画素の前記サブ受光強度に基づき補完することとを、含む制御方法。
10. 車両（５）の検出エリア（Ａｄ）へ照射した照射光に対する物標（Ｔｒ）からの反射光を複数の受光画素（４６）により受光する光学センサ（１０）を、制御するために記憶媒体（１ａ）に記憶され、プロセッサ（１ｂ）に実行させる命令を含む制御プログラムであって、
    前記命令は、
    前記光学センサから照射されたメイン照射強度（Ｉｉｍ）の前記照射光に対して、前記光学センサにより前記検出エリアから受光された前記反射光の受光強度を、メイン受光強度（Ｉｒｍ）として各前記受光画素毎に取得させることと、
    前記光学センサから前記メイン照射強度よりも低く照射されたサブ照射強度（Ｉｉｓ）の前記照射光に対して、前記光学センサにより前記検出エリアから受光された前記反射光の受光強度を、サブ受光強度（Ｉｒｓ）として各前記受光画素毎に取得させることと、
    各前記受光画素毎に取得された前記メイン受光強度のうち、上限強度（Ｉｒｕ）に達した飽和画素（４６１）の前記メイン受光強度を、当該飽和画素の前記サブ受光強度に基づき補完させることとを、含む制御プログラム。

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