JP2023063061A - 放射線撮像制御装置、放射線撮像制御方法およびプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】 放射線撮像装置において、良好なプレビュー画像を得るために有利な技術を提供する。【解決手段】 本発明に係る放射線撮像制御装置は、付帯情報を取得する付帯情報取得手段と、前記付帯情報を解析する解析手段と、画素部を構成する一部の画素の画像データを取得する画像データ取得手段と、前記解析手段による付帯情報の解析結果に基づいて、前記一部の画素の画像データに画像処理を施し、縮小画像を生成する縮小画像生成手段と、前記縮小画像生成手段により生成された前記縮小画像を表示部に表示する表示制御手段と、を備え、前記解析手段は、前記画像データ取得手段による前記画像データの取得に先立って前記付帯情報の解析を始めることを特徴とする。【選択図】 図３

Description

本発明は、放射線撮像制御装置、放射線撮像制御方法およびプログラムに関する。

医療画像診断や非破壊検査において、半導体材料によって構成される平面検出器（ＦＰＤ）を用いた放射線撮像装置が広く使用されている。特許文献１には、放射線発生装置との同期をとるために、放射線撮像装置に放射線が照射されるとバイアス電圧を画素に供給するバイアス線に電流（バイアス電流）が流れることを利用し、放射線の照射の有無を検知する放射線撮像装置が示されている。また、特許文献１には、放射線の照射を検知する間に、リセット走査を繰り返し、放射線の照射の終了後、放射線の照射を検知したときに選択していた行以外の画素から出力された信号に基づいて、プレビュー用画像データを生成することが示されている。放射線の照射を検知したときに選択していた行は、放射線の照射に応じて生成された信号がリセットされる可能性が高い。

特開２０１４－１９４４０８号公報

特許文献１には、複数の画素を複数のグループに分けて、１つのグループのリセット走査が終了すると次のグループのリセット走査が開始される。放射線の照射が実際に開始されてから放射線の照射が検知されるまでの間に、リセット走査を行う画素のグループが変化した場合、プレビュー画像の画質に影響を及ぼす可能性がある。

本発明は、放射線撮像装置において、良好なプレビュー画像を得るために有利な技術を提供することを目的とする。

本発明に係る放射線撮像制御装置は、付帯情報を取得する付帯情報取得手段と、前記付帯情報を解析する解析手段と、画素部を構成する一部の画素の画像データを取得する画像データ取得手段と、前記解析手段による付帯情報の解析結果に基づいて、前記一部の画素の画像データに画像処理を施し、縮小画像を生成する縮小画像生成手段と、前記縮小画像生成手段により生成された前記縮小画像を表示部に表示する表示制御手段と、を備え、前記解析手段は、前記画像データ取得手段による前記画像データの取得に先立って前記付帯情報の解析を始めることを特徴とする。

上記手段によって、放射線撮像装置において、良好なプレビュー画像を得るために有利な技術を提供する。

本実施形態に係る放射線撮像装置を用いた放射線撮像システムの構成例を示すブロック図。 図１の放射線撮像装置の構成例を示す図。 図１の放射線撮像装置を用いた放射線撮像システムの動作を説明するフロー図。 図１の放射線撮像装置の動作を説明するタイミング図。 図１の放射線撮像装置の動作を説明するタイミング図。 図１の放射線撮像装置の動作を説明するタイミング図。 図１の放射線撮像装置のリセット動作を行う画素の構成例を示す図。 図１の放射線撮像装置のプレビュー画像用データ用の画素の構成例を示す図。 図１の放射線撮像装置のリセット動作を行う画素の構成例を示す図。 本実施形態に係るコンソール内部を説明するためのブロック図。 図１０のコンソールのプレビュー画像を表示するまでの動作を説明するフロー図。 図１０のコンソールが本画像用データを分割で受信し画像を表示するまでの動作例を示す図。

以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。

また、本発明における放射線には、放射線崩壊によって放出される粒子（光子を含む）の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、同程度以上のエネルギを有するビーム、例えばＸ線や粒子線、宇宙線なども含みうる。

図１～１２を参照して、本実施形態による放射線撮像装置の構成、および、動作について説明する。図１は、本実施形態の放射線撮像装置１を用いた放射線撮像システムＳＹＳの構成例を示すブロック図である。本実施形態の放射線撮像システムＳＹＳは、放射線撮像装置１、放射線撮像装置１を制御するためのコンソール３、表示部４、放射線を被写体に照射するための放射線発生部５００を含む。

放射線撮像装置１は、放射線を検出し、入射した放射線に応じた画像用信号を生成するための放射線検出部２、放射線の照射開始や終了を検知するための検知部１０１、放射線撮像装置１における撮像動作を制御する撮像制御部１０２を含む。

撮像制御部１０２は、放射線検出部２の駆動を制御する駆動回路１０３、放射線検出部２からの画像用信号を読み出す際の制御を行う読出回路１０７、放射線検出部２に配される画素から読み出された信号に基づいて画像用データを生成する画像処理部１０８、を含む。また、撮像制御部１０２は、放射線検出部２から取得した取得画像を記憶する記憶部１１１、取得画像や画像処理部１０８によって生成された画像用データをコンソール３に転送するなど、コンソール３との間のデータ通信を制御する通信制御部１１４を含む。通信制御部１１４による放射線撮像装置１とコンソール３との間の通信は、例えば、無線ＬＡＮ通信を用いることができる。しかしながら、放射線撮像装置１とコンソール３との間の通信は無線ＬＡＮ通信に限定されるものではなく、他の方式による無線通信であってもよいし、ケーブルを用いた有線通信であってもよい。

駆動回路１０３は、放射線検出部２を定期的、または、任意のタイミングで、蓄積された暗電荷の放出動作（リセット動作）を行うためのリセット走査制御１０５を実行する。また、駆動回路１０３は、放射線検出部２から画像を読み出すための駆動制御を行う読出走査制御１０６を実行する。また、駆動回路１０３は、放射線の照射が開始された時点でリセット動作していた画素行の行番号など、照射検知時の情報を記憶するための照射検知時情報記憶部１０４を含む。

コンソール３は、放射線撮像装置１から転送される画像用データを受信するなど、放射線撮像装置１とコンソール３との間の通信を制御する通信制御部３０１を含む。すなわち、コンソール３は、放射線撮像制御装置に相当する。また、コンソール３は、放射線撮像装置１から転送された画像用データを記憶する記憶部３０２、画像用データから表示部４で画像表示を行うための信号を生成する処理部３０３を含む。すなわち、処理部３０３は、表示部に情報を表示する表示制御部に相当する。処理部３０３は、放射線撮像装置１から出力される信号を処理するプロセッサでありうる。例えば、処理部３０３は、放射線撮像装置１からコンソール３に転送された画像用データに対して、放射線画像として表示部４に表示させるための信号処理を行いうる。また、例えば、処理部３０３は、放射線画像を表示部４に表示させる際に、画像用データに対する補正処理などを行ってもよい。

撮像制御部１０２は、例えば、記憶部１１１に保存されているプログラムなどを読み出し、読み出されたプログラムに基づいて放射線撮像装置１の全体的な制御を行ってもよい。放射線撮像装置１の制御は、例えば、ＡＳＩＣなどによる制御信号発生回路（制御回路）によって装置制御を行ってもよいし、プログラムと制御回路との両方によって放射線撮像装置１の全体的な制御が実現されてもよい。

放射線検出部２は、放射線を電荷に変換する変換素子をそれぞれ含み、複数の行および複数の列を構成するように配された複数の画素を含む。駆動回路１０３は、行方向に延びるように配された複数の駆動線を介して複数の画素を制御する。例えば、ＴＦＴのようなスイッチ素子および光電変換素子の組み合わせを１つの画素として、複数の画素が２次元アレイ状に配されることによって、放射線検出部２は構成されうる。画素の上には、例えば、シンチレータが形成される。この場合、放射線検出部２に入射した放射線は、シンチレータで変換素子が変換可能な波長の光（例えば、可視光）に変換される。シンチレータによって変換された光が、それぞれの画素の光電変換素子に入射し、光電変換素子において、入射した光に応じた電荷が生成される。本実施形態では、上述したシンチレータおよび光電変換素子によって入射した放射線を電荷に変換する間接型の変換素子を構成例として説明する。しかしながら、変換素子は間接型の素子に限定されるものではない。例えば、シンチレータを設けずに、入射した放射線を直接電荷に変換する、所謂、直接変換型の変換素子が、変換素子として用いられてもよい。放射線検出部２は、スイッチ素子のオン（導通状態）とオフ（非導通状態）との切り替えによって、画素における電荷の蓄積と電荷の読み出しを実施し、放射線画像を取得することができる。

図２は、放射線検出部２の構成例を示す図である。図２に示される放射線検出部２において、説明の簡便化のために６行×６列の画素ＰＩＸを有する画素部２１２が示されている。しかしながら、実際の画素部２１２には、より多くの画素ＰＩＸが配されうる。例えば、１７インチの画素部２１２には、約３０００行×約３０００列の画素ＰＩＸが配されうる。

放射線検出部２は、行列状に配された複数の画素ＰＩＸを備える画素部２１２を有する二次元検出器である。画素ＰＩＸは、放射線を電荷に変換する変換素子Ｓ（Ｓ１１～Ｓ６６）と、変換素子Ｓによって生成された電荷に応じた電気信号を出力するためのスイッチ素子Ｔ（Ｔ１１～Ｔ６６）と、をそれぞれ含む。本実施形態において、変換素子Ｓには、上述のように照射された放射線を光に変換するシンチレータ（波長変換素子）と、シンチレータによって変換された光を電荷に変換するＭＩＳ型あるいはＰＩＮ型フォトダイオード（光電変換素子）と、が用いられる。また、上述のように、変換素子Ｓには、放射線を直接電荷に変換する直接型の変換素子が用いられてもよい。スイッチ素子Ｔには、制御端子と２つの主端子とを有するトランジスタが用いられうる。本実施形態において、スイッチ素子Ｔには、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）が用いられる。変換素子Ｓの一方の電極は、スイッチ素子Ｔの２つの主端子の一方に電気的に接続され、他方の電極は共通のバイアス線Ｂｓを介してバイアス源２０３と電気的に接続される。図２に示される構成において、バイアス線Ｂｓａを介して接続されるバイアス源２０３ａと、バイアス線Ｂｓｂを介して接続されるバイアス源２０３ｂと、の２つの系統が示されている。これらの２つの系統を特に区別しない場合、例えば、バイアス源２０３のように表記し、何れかを特定する場合には、バイアス源２０３ａのように表記する。他の構成要素においても、複数の要素が存在する場合、以下、同様に示す。また、バイアス線Ｂｓおよびバイアス源２０３を２系統備えることについては、後述する。

図２に示される構成において、行方向に沿って配された複数のスイッチ素子Ｔ、例えば、スイッチ素子Ｔ１１、Ｔ１３、Ｔ１５は、行方向に延びるように配された複数の駆動線Ｖｇのうち駆動線Ｖｇ１－１に接続され、スイッチ素子Ｔ１２、Ｔ１４、Ｔ１６は、複数の駆動線Ｖｇのうち駆動線Ｖｇ１－２に接続されている。このように、放射線検出部２の画素部２１２に配された複数の画素ＰＩＸは、複数の駆動線Ｖｇのうち互いに異なる駆動線Ｖｇに接続された少なくとも２つの画素グループに分けられている。本実施形態において、行方向に沿って配された画素ＰＩＸは、２つの画素グループの何れかに属しているといえる。ここで、行方向とは、図２において横方向のことを示す。また、列方向とは、行方向と交差する方向であり、図２において縦方向のことを示す。

画素ＰＩＸで生成された信号は、列方向に延びるように配された複数の列信号線Ｓｉｇを介して読出回路１０７によって読み出され、上述の画像処理部１０８や記憶部１１１に転送される。本実施形態において、図２に示されるように、複数の列信号線Ｓｉｇのそれぞれ列信号線Ｓｉｇは、複数の画素ＰＩＸのうち２つの列を構成する画素ＰＩＸによって共用される。これによって、画素列ごとに列信号線が配される場合と比較して、読出回路１０７の回路規模を抑制することが可能となる。しかしながら、これに限られることはなく、画素列ごとに列信号線が配されていてもよい。放射線撮像装置１に要求される性能に応じて、読出回路１０７の回路規模や列信号線Ｓｉｇを画素列で共用するか否かを調整すればよい。

本実施形態において、図２に示されるように、複数の画素ＰＩＸのうち、行方向に互いに隣り合い、かつ、複数の列信号線Ｓｉｇのうち同じ列信号線Ｓｉｇを共用する画素ＰＩＸが、互いに異なる画素グループに属している。より具体的には、列方向に沿って配された複数のスイッチ素子Ｔ、例えば、互いに異なる画素グループに属する画素ＰＩＸのスイッチ素子Ｔ１１およびスイッチ素子Ｔ１２は、列信号線Ｓｉｇ１に電気的に接続されており、スイッチ素子Ｔ１１またはスイッチ素子Ｔ１２が導通状態である間に、変換素子Ｓ１１または変換素子Ｓ１２において生成された電荷に応じた信号が、列信号線Ｓｉｇ１を介して読出回路１０７に出力される。同様に、スイッチ素子Ｔ２１、Ｔ３１、Ｔ４１、Ｔ５１、Ｔ６１およびスイッチ素子Ｔ２２、Ｔ３２、Ｔ４２、Ｔ５２、Ｔ６２は、列信号線Ｓｉｇ１に電気的に接続される。列信号線Ｓｉｇ２、Ｓｉｇ３に接続されるスイッチ素子Ｔ（画素ＰＩＸ）についても同様である。列方向に配された複数の信号配線Ｓｉｇは、複数の画素ＰＩＸから出力された信号を並列に読出回路１０７に伝送する。

読出回路１０７には、画素部２１２から並列に出力された信号を増幅する増幅回路２０６が、それぞれの列信号線Ｓｉｇに対応するように設けられている。増幅回路２０６は、画素ＰＩＸから出力された信号を増幅する演算増幅器２０５、演算増幅器２０５の出力を増幅する可変増幅器２０４、可変増幅器２０４によって増幅された電気信号をサンプルしホールドするサンプルホールド回路２０７を含む。

演算増幅器２０５は、画素ＰＩＸから読み出された信号を増幅して出力する演算増幅器、積分容量、リセットスイッチを含む。演算増幅器２０５は、積分容量の値を変えることで増幅率を変更することが可能である。演算増幅器２０５の演算増幅器の反転入力端子には、画素ＰＩＸから出力された信号が入力され、正転入力端子には基準電源２１１から基準電圧Ｖｒｅｆが入力され、出力端子から増幅された信号が出力される。積分容量は、演算増幅器２０５の演算増幅器の反転入力端子と出力端子との間に配される。サンプルホールド回路２０７は、それぞれの増幅回路２０６内に設けられ、サンプリングスイッチおよびサンプリング容量を含み構成される。

また、読出回路１０７は、増幅回路２０６から並列に読み出された信号を順次、直列の信号として出力するマルチプレクサ２０８、マルチプレクサ２０８から出力される直列の信号をインピーダンス変換して出力するバッファ増幅器２０９を含む。バッファ増幅器２０９から出力されたアナログ電気信号である信号Ｖｏｕｔは、Ａ／Ｄ変換器２１０によってデジタルの信号に変換され、画像処理部１０８や記憶部１１１に供給される。

電源部（不図示）は、バッテリや外部からの電力をそれぞれの電源に応じた電圧に変圧し、図２に示される基準電源２１１やバイアス源２０３に電力を供給する。基準電源２１１は、演算増幅器２０５の演算増幅器の正転入力端子に基準電圧Ｖｒｅｆを供給する。バイアス源２０３は、バイアス線Ｂｓを介して変換素子Ｓに共通にバイアス電圧Ｖｓを供給する。また、本実施形態において、バイアス源２０３は、バイアス線Ｂｓに供給した電流量の時間変動を含む電流情報を検知部１０１に出力する。本実施形態において、電流情報を出力する回路として、オペアンプと抵抗とを含み構成される電流－電圧変換回路２１５が用いられるが、この構成に限定されるものではない。例えば、電流情報を出力する回路として、シャント抵抗を用いた電流－電圧変換回路が用いられてもよい。また、電流情報を出力する回路は、電流電圧変換回路の出力電圧をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路を用いてデジタル値として電流情報を出力してもよい。さらに、電流情報を出力する回路は、バイアス線Ｂｓに供給した電流量に対応する物理量を電流情報として出力してもよい。

放射線検出部２の駆動回路２１４は、図１に示される駆動回路１０３から入力された制御信号Ｄ－ＣＬＫ、ＯＥ、ＤＩＯに応じて、スイッチ素子Ｔを導通状態にする導通電圧Ｖｃｏｍと非導通状態にする非導通電圧Ｖｓｓとを含む駆動信号を、それぞれの駆動配線Ｖｇに出力する。これによって、駆動回路２１４は、スイッチ素子Ｔの導通状態または非導通状態を制御し、画素部２１２のそれぞれの画素ＰＩＸを駆動する。

制御信号Ｄ－ＣＬＫは、駆動回路２１４として用いられうるシフトレジスタのシフトクロックである。制御信号ＤＩＯは、駆動回路２１４が転送するパルスである。制御信号ＯＥは、駆動回路２１４の出力端を制御する信号である。以上によって、駆動回路１０３は、駆動回路２１４を介して、画素部２１２の駆動の所要時間と走査方向を設定する。また、駆動回路１０３は、読出回路１０７に制御信号ＲＣ、ＳＨ、ＣＬＫを与えることによって、読出回路１０７のそれぞれの構成要素の動作を制御する。ここで、制御信号ＲＣは、演算増幅器２０５のリセットスイッチの動作を制御する。制御信号ＳＨは、サンプルホールド回路２０７の動作を制御する。制御信号ＣＬＫは、マルチプレクサ２０８の動作を制御する。

Ａ／Ｄ変換器２１０によってデジタル値に変換された画像用信号が、放射線照射によって得られた放射線画像の信号である場合、例えば、この信号は、記憶部１１１の撮像画像用メモリ１１２に格納されてもよい。また、放射線の照射を行わず、それぞれの画素ＰＩＸの暗電荷成分のみから取得したオフセット画像の信号（以下、単にオフセット画像と呼ぶ場合がある。）の場合、オフセット画像の信号は、記憶部１１１のオフセット画像用メモリ１１３に格納されてもよい。放射線画像の信号およびオフセット画像の信号は、画像処理部１０８によって補正処理などの信号処理が行われてから、記憶部１１１のそれぞれのメモリに保存されてもよい。また、図１に示される構成では、記憶部１１１に、撮像画像用メモリ１１２およびオフセット画像用メモリ１１３のそれぞれの構成が別々に配されているように描かれているが、これに限られることはない。記憶部１１１の適当な記憶（メモリ）領域に、放射線画像の信号およびオフセット画像の信号が記憶されればよい。

画像処理部１０８は、図１に示されるように、プレビュー画像生成部１０９とオフセット補正部１１０とを含みうる。プレビュー画像生成部１０９については、後述する。オフセット補正部１１０は、放射線画像の信号からオフセット画像の成分を減算するオフセット補正を行う処理部として機能する。これによって、得られた放射線画像に不要な暗電荷成分の成分が混入することを抑制し、より高画質の放射線画像を表示部４に表示することが可能となる。図１に示される構成では、画像処理部１０８に、プレビュー画像生成部１０９およびオフセット補正部１１０の構成が別々に配されているように描かれているが、これに限られることはない。画像処理部１０８において、プレビュー画像の生成やオフセット補正が行われれば、いかなる構成であってもよい。

次いで、図５（ａ）を用いて、放射線の照射開始や終了を検知する検知部１０１について、放射線の照射の検出時の駆動タイミングの例を説明する。ここで、放射線撮像装置１において、放射線の照射の開始を判定した画素行を、行Ｙｓとして説明する。図５（ａ）は、放射線の照射の開始を判定した行であるＹｓ行付近の拡大図である。

図５（ａ）には、検知部１０１が画素部２１２に入射する放射線の強度の時間変動を含む放射線情報を出力するための、バイアス源２０３から出力される電流情報が示されている。検知部１０１は、バイアス源２０３から取得するバイアス線Ｂｓを流れる電流の情報から放射線情報を取得して、放射線の照射の開始の判定を行う。つまり、検知部１０１は、複数の画素ＰＩＸがリセット動作を行った際に出力される信号に基づいて、放射線の照射の開始を検知する。図５（ａ）において、Ｙｓ－１行とＹｓ行との走査の間に放射線の照射が開始され、Ｙｓ行の走査時にバイアス線Ｂｓに流れる電流の情報が判定閾値を超え、検知部１０１は、放射線の照射が開始されたと判定する。この判定の結果に従って、駆動回路１０３は、放射線画像を取得するための蓄積動作へ画素ＰＩＸを移行させている。しかしながら、図５（ｂ）に示されるように、Ｙｓ行の走査時に、衝撃や磁界の影響などによる外来ノイズの影響が加わりバイアス線Ｂｓに流れた電流情報が判定閾値を超える場合がある。このため、図５（ｂ）に示される例において、Ｙｓ行の空読みの走査時に衝撃が加わり、バイアス線Ｂｓに流れた電流の情報が判定閾値を超え、検知部１０１は、放射線の照射が開始されたと誤判定をしてしまう。この判定に従って、駆動回路１０３は、画素ＰＩＸを蓄積動作へ移行させている。

放射線の照射の開始を検知するためには、検知部１０１は、バイアス線Ｂｓを流れる電流信号のサンプル値をそのまま用いてもよい。しかしながら、図５（ｂ）に示されるような誤判定を防ぐために、複数のバイアス線Ｂｓを流れる電流の情報に処理を実施し、検知部１０１が、放射線の照射を検知するようにしてもよい。

検知部１０１が、複数のバイアス線Ｂｓを流れる電流の情報を用いて放射線の照射を検出する例を、図６を用いて説明する。放射線の照射中、単位時間当たりの放射線の照射量に比例した電流がバイアス線Ｂｓに流れることを示した信号が、図６に第１信号として示される。この電流は、画素ＰＩＸのスイッチ素子Ｔがオフ（非導通）状態にある場合よりも、オン（導通）状態にある場合の方が多く流れうるが、図では簡単のために一定で表す。放射線が照射された画素ＰＩＸのスイッチ素子Ｔを導通すると、スイッチ素子Ｔを導通するまでに当該画素ＰＩＸの変換素子Ｓに蓄積された電荷量に比例した電流が、バイアス線Ｂｓに流れる。この電流は、図６に第２信号として示されている。放射線撮像装置１に衝撃や磁界が加わると、バイアス線Ｂｓに印加されたノイズの周波数に応じた電流が流れうる。この電流は、外来ノイズと呼ばれるものであり、図６に外来ノイズとして示されている。例えば、商用電源から生じた電磁界の影響により、バイアス線Ｂｓに５０～６０Ｈｚ程度の電流が流れうる。また、放射線撮像装置に衝撃が入力されると、バイアス線Ｂｓに数Ｈｚ～数ｋＨｚの電流が流れうる。その他、スイッチ素子Ｔのスイッチングノイズやシステムノイズなどの内部雑音が考えられるが、図６では、簡単化のため省略する。

また、図６に示されるように、駆動回路２１４の駆動周期を時間ＴＩで表す。すなわち、放射線撮像装置１は、時間ＴＩごとに１回のリセット動作（空読み）を行う。時間ＴＩのうち、駆動回路２１４が、ハイレベルの駆動信号を供給する時間（スイッチ素子Ｔが導通状態となる時間）を時間ＴＨで表し、ローレベルの駆動信号を供給する時間（スイッチ素子Ｔが非導通状態となる時間）を時間ＴＬで表す。また、図６に示されるように、検知部１０１が、バイアス源２０３ａ、２０３ｂからバイアス線Ｂｓａ、Ｂｓｂを流れる電流の情報をサンプリングする期間を時間ＴＳで表す。

本実施形態において、図２に示されるように、放射線検出部２はバイアス源２０３を２つ備えるため、１度の時間ＴＳにおいて、バイアス線Ｂｓａ、Ｂｓｂを流れる電流の情報を２つ同時に取得できる。そこで、スイッチ素子Ｔが導通状態である画素ＰＩＸが出力する電流情報のサンプル値Ｓと、スイッチ素子Ｔが非導通状態である画素ＰＩＸが出力する電流情報のノイズ値Ｎとの差分を取ることによって外来ノイズを除去することができる。結果として、検知部１０１は、スイッチ素子Ｔを導通するまでに、放射線の照射によって画素ＰＩＸの変換素子Ｓに蓄積された電荷量に比例した電流に起因する第２信号を精度よく取り出すことが可能となる。

つまり、本実施形態において、バイアス源２０３ａ、２０３ｂは、少なくとも２つの画素グループのそれぞれのグループごとに電気的に独立したバイアス線Ｂｓａ、Ｂｓｂを介して変換素子Ｓにバイアス電圧を供給している。放射線の照射の開始を検知する際に、検知部１０１は、複数の画素ＰＩＸのうちリセット動作する画素ＰＩＸを含む画素グループに接続されたバイアス線（ここでは、バイアス線Ｂｓａとする）を流れる電流を表す信号値と、複数の画素ＰＩＸのうちリセット動作する画素ＰＩＸを含まない画素グループに接続されたバイアス線Ｂｓｂを流れる電流を表す信号値と、を、サンプリングするタイミングの少なくとも一部が重なるように取得する。この、バイアス線Ｂｓａを流れる電流を表す信号値およびバイアス線Ｂｓｂを流れる電流を表す信号値に基づいて、放射線の照射の開始を判定する。これによって、検知部１０１は、図５（ｂ）に示されるようなノイズを放射線の照射の開始として検出してしまうことを抑制できる。

本実施形態において、行方向に沿って並ぶ画素ＰＩＸに対して２つの独立した駆動線Ｖｇが接続されているが、１つの駆動線Ｖｇを接続する構成にしてもよい。その場合、１度の時間ＴＳで得られる電流情報は１つであり、サンプル値とノイズ値とを取得するタイミングは異なるが、放射線情報の算出方法は変わらない。また、例えば、互いに隣り合う２つの行から同時にサンプル値とノイズ値とを取得する構成としてもよい。この場合、画素ＰＩＸの行ごとに駆動線Ｖｇが接続され、互いに隣り合う行の画素ＰＩＸに対して、互いに電気的に独立したバイアス線Ｂｓによってバイアス源２０３からバイアス電圧Ｖｓが供給されてもよい。

また、検知部１０１が放射線の照射の開始を検知する際に、駆動回路２１４は、複数の駆動線Ｖｇのうち同じ画素グループに属する画素ＰＩＸに接続された少なくとも２つの駆動線Ｖｇに、複数の画素ＰＩＸをリセット動作させるための信号を同時に供給してもよい。これによって、１回のリセット動作において、バイアス線Ｂｓに任意に設定した行分の画素ＰＩＸに蓄積された電荷に比例した電流が流れる。その結果、バイアス線Ｂｓを流れる電流の情報のＳ／Ｎ比を向上させることができる。このとき、同時に駆動される駆動線Ｖｇは互いに隣接していてもよいし、隣接していなくてもよい。また、放射線撮像装置１は、例えば、ユーザの指定によって、リセット動作において同時に駆動される駆動線Ｖｇの数を変更可能なように構成されてもよい。この場合、同時に駆動される駆動線Ｖｇの数の増加に伴い、スイッチ素子Ｔのスイッチングノイズも増加するため、同時に駆動される駆動線Ｖｇの数に応じて、検知部１０１の回路のゲインを切り替えてもよい。

次いで、プレビュー画像生成部１０９について説明する。画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、放射線画像の撮像後、ユーザの使い勝手を高めるために、プレビュー画像用データを生成する。プレビュー画像は、画素部２１２に配された画素ＰＩＸのうち一部の画素ＰＩＸから出力された信号を用いた画像であり、撮像後、速やかに表示部４に表示し、ユーザの使い勝手を向上させる。

このとき、画像処理部１０８は、放射線を照射せずに複数の画素ＰＩＸから読み出された信号に基づいたオフセット補正を含む処理を画像用信号に対して行い、プレビュー画像用データを生成してもよい。不要な暗電荷成分を除去した画像用信号が、プレビュー用画像用に縮小されてもよい。

例えば、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９が、画像用信号を取得した後に、放射線を照射せずに複数の画素ＰＩＸから読み出された信号に基づいたオフセット画像が取得され、画像処理部１０８のオフセット補正部１１０は、オフセット画像に基づいてオフセット補正を行ってもよい。この場合、オフセット画像が、放射線を照射せずに複数の画素ＰＩＸから読み出された信号のうち、複数の画素ＰＩＸのうち検知部１０１が放射線の照射を検知した際にリセット動作をしていた画素を含まない画素グループから出力された信号によって構成されていてもよい。これによって、すべての画素ＰＩＸから信号を読み出す場合と比較して、オフセット画像を取得するまでの時間が短縮できる。画像処理部１０８は、オフセット補正部１１０によってオフセット補正されたプレビュー画像用データを、通信制御部１１４の制御の下、コンソール３に転送する。これによって、生成されたプレビュー画像が、コンソール３に接続された表示部４に表示される。

また、例えば、放射線を照射せずに複数の画素ＰＩＸから読み出された信号に基づいたオフセット画像が、記憶部１１１のオフセット画像用メモリ１１３に記憶されていてもよい。画像処理部１０８は、オフセット画像用メモリ１１３に記憶されたオフセット画像に基づいてオフセット補正を行ってもよい。画像処理部１０８において、プレビュー画像生成部１０９は、画素部２１２から出力された画像用信号を取得した後、記憶部１１１のオフセット画像用メモリ１１３に記憶した１つのオフセット画像を用いてオフセット補正部１１０がオフセット補正を行い、プレビュー画像用データが生成される。画像処理部１０８は、通信制御部１１４の制御の下、生成したプレビュー画像用データをコンソール３に転送する。これによって、生成されたプレビュー画像が、コンソール３に接続された表示部４に表示される。既に取得したオフセット画像を用いてオフセット補正を行うことによって、プレビュー画像を表示するまでの時間が短縮できる。

その後、放射線画像の撮像の後に取得したオフセット画像を用いてオフセット補正部１１０でオフセット補正が実施された画像データが、通信制御部１１４の制御の下、コンソール３に転送される。コンソール３と接続する表示部４には、転送された画像データに基づいた放射線画像が、本画像として表示される。

コンソール３の通信制御部３０１は、放射線撮像装置１とのデータ送受信の制御を行い、例えば、コンピュータなどに組み込まれたソフトウェアを操作する。これによって、撮像制御部１０２とのデータ送受信を制御して、撮像部位や撮像条件などの撮像パラメータが設定される。ここで、コンソール３の処理部３０３は、放射線撮像装置１から受信した画像データを診断に適した形にするための画像処理（信号処理）を行うプロセッサとして機能しうる。また、コンソール３の記憶部３０２は、放射線撮像装置１から受信した画像データを記憶する。表示部４は、コンソール３に送信された画像データに基づいて、放射線検出部２から読み出された信号に基づいた放射線画像や操作ＵＩなどを表示する。

図３および図４は、本実施形態における放射線撮像装置１および放射線撮像システムＳＹＳの撮像時のフロー図およびタイミング図である。図３および図４を参照して、放射線撮像装置１の動作を説明する。

放射線撮像装置１が起動され撮像待機状態になると、駆動回路１０３は、リセット走査制御１０５として、放射線検出部２を構成する複数の画素ＰＩＸへの暗電荷の蓄積を防ぐために、定期的にリセット動作を実施する（図４：ＴＣ４０１、図３：Ｓ００１）。リセット動作は、画素部２１２の画素ＰＩＸの先頭行（第１行）の側から最終行（第Ｙ行）の側に向かって、画素グループごとに順番に行われる。１つの画素グループの最終行に到達した場合、次の画素グループの先頭行からリセット動作が開始される。次いで、図３に示されるＳ００２において、検知部１０１は、放射線発生部５００から放射線の照射が開始されたか否かを判定する。つまり、検知部１０１が放射線の照射の有無を検知する間に、駆動回路１０３は、駆動回路２１４を制御し、複数の駆動線Ｖｇを介して複数の画素ＰＩＸを順次、画素グループごとにリセット動作させる。検知部１０１が放射線の照射の開始を検知しない場合、リセット動作が繰り返し実行される（図４：ＴＣ４０１、図３：Ｓ００１）。

ユーザが曝射スイッチを押下するなどの操作によって、放射線発生部５００から放射線の照射が開始されると、検知部１０１は、放射線の照射を検知する。検知部１０１が放射線の照射開始を検知すると、駆動回路１０３は、リセット走査制御１０５を中止し、リセット動作を停止させる（図４：ＴＣ４０２、図３：Ｓ００３）。次いで、駆動回路１０３は、読出走査制御１０６に移行し、画素部２１２の全ての画素ＰＩＸのスイッチ素子Ｔを非導通状態にし、全ての画素ＰＩＸにおいて電荷を蓄積する状態にする（図４：ＴＣ４０３、図３：Ｓ００４）。リセット動作が停止することによって、それぞれの画素ＰＩＸは、放射線の照射に応じた電荷が蓄積される状態になる。

このとき、駆動回路１０３は、リセット動作が停止した際の画素部２１２の情報を付帯情報として、照射検知時情報記憶部１０４に記憶する。すなわち、付帯情報は画素部のリセット動作が停止した際の情報を含む。より具体的には、例えば、付帯情報は、検知部１０１が放射線の照射を検知した際に複数の画素ＰＩＸをリセット動作させるための信号を供給していた駆動線Ｖｇの情報、検知部１０１が放射線の照射を検知した際に複数の画素ＰＩＸのうちリセット動作をしていた画素ＰＩＸが属する画素グループの情報、検知部１０１が放射線の照射を検知した際の信号値、および、複数の画素ＰＩＸの画素グループのそれぞれのグループごとの配置の情報のうち少なくとも１つの情報を含む。通信制御部１１４は、プレビュー画像用データを転送する前よりも先に、付帯情報の転送を行う（図３：Ｓ０１６）。ここで図３では、付帯情報の転送はプレビュー画像用データを生成する前に行っているが、これに限らず、プレビュー画像用データを生成した後に転送を行っても良い。この付帯情報は、後述するように、プレビュー画像および本画像の画像表示に関わる情報となる。

次いで、図３に示されるＳ００５において、検知部１０１は、放射線の照射が終了したか否かを判定する。放射線の照射が終了していない場合、画素ＰＩＸにおいて電荷を蓄積する動作（図４：ＴＣ４０３、図３：Ｓ００４）を継続する。検知部１０１が、放射線の照射の終了を検知すると、駆動回路１０３は、読出走査制御１０６において、画素部２１２の各行を順次走査する読出制御を行い、画素部２１２の画素ＰＩＸから画像用信号を取得する（図４：ＴＣ４０４、図３：Ｓ００６）。ここで、取得された放射線画像の画像用信号は、撮像画像用メモリ１１２に記憶されてもよい。

放射線の照射の終了タイミングは、検知部１０１によって検知してもよいし、撮像制御部１０２が、特定の固定時間を待機することで照射終了とみなし、読出動作を開始してもよい。また、検知部１０１によって放射線の照射終了を検知する場合、例えば、放射線の照射の開始を検知した際にリセット動作していた画素行は、スイッチ素子Ｔを非導通状態にせず、導通状態にしたままバイアス線Ｂｓに流れる電流量の監視を続けてもよい。この動作よって、検知部１０１が、放射線の照射の終了を検知することが可能となる。

次いで、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、プレビュー画像用データの生成に用いる画像用信号を決定する。本実施形態において、異なる駆動線Ｖｇに接続された、互いに異なる画素グループに属する同じ行内の隣り合う２つの画素ＰＩＸが、列信号線Ｓｉｇを共用している。このため、図４に示されるような駆動タイミングでリセット動作を行う際、例えば、図７（ａ）に示されるような、（奇数行、奇数列）または（偶数行、偶数列）の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作と、図７（ｂ）に示されるような、（奇数行、偶数列）または（偶数行、奇数列）の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作とを、交互に行うことが可能である。図７（ａ）、７（ｂ）に示される画素ＰＩＸのリセット動作を、画素グループごとに順番に行うことにより、全ての画素ＰＩＸの走査を行うことができる。

画素ＰＩＸから出力される放射線画像を表示するための画像用信号において、実際の放射線の照射開始から検知部１０１が照射の開始を検知するまでの検知遅れによって、一部の行の画像用信号の信号に劣化が発生しうる。より具体的には、放射線の照射が開始されてから放射線の照射を検知部１０１が検知するまでの間にリセット動作していた画素ＰＩＸは、リセット動作の実施によって、放射線の照射に応じて蓄積される電荷の量が、実際に入射した放射線の量よりも少なくなってしまう可能性がある。

ここで、図４で示されるように、放射線の照射の開始から検知部１０１による放射線の検知まで期間が、異なる画素グループ間のリセット動作を跨いでしまった場合を考える。特許文献１に示される動作では、複数の画素ＰＩＸのうち検知部１０１が放射線の照射を検知した際にリセット動作をしていたリセット画素を含む画素グループ以外の画素グループの画素ＰＩＸから出力される信号を用いてプレビュー画像用データを生成される。しかしながら、図４に示されるような場合、放射線の照射が検知された際にリセット動作していた画素グループは、駆動線Ｖｇ（Ｙｓ－１）に接続された画素ＰＩＸを含む画素グループである。したがって、駆動線Ｖｇ（Ｙ－２）に接続された画素ＰＩＸを含む画素グループから出力される画像用信号を用いて、プレビュー画像用データが生成される。しかしながら、図４に示されるように、駆動線Ｖｇ（Ｙ－２）に接続された画素ＰＩＸは、放射線の照射後にリセット動作が行われている。つまり、駆動線Ｖｇ（Ｙ－２）に接続された画素ＰＩＸを含む画素グループから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成した場合、駆動線Ｖｇ（Ｙ－２）に接続された画素ＰＩＸの画像用信号の劣化に起因して、表示部４に表示されるプレビュー画像に画質の低下が生じてしまう可能性がある。

そこで、本実施形態において、このような画像用信号の劣化の影響を抑制するため、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、照射検知時情報記憶部１０４に記憶されているリセット動作が停止した際の画素部２１２の情報を取得する。ここでは、図７（ａ）に示される第５行の画素ＰＩＸをリセット動作したときに、検知部１０１が、放射線の照射の開始を検知したとする。まず、図７（ａ）に示されるような、（奇数行、奇数列）または（偶数行、偶数列）の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作を行っている際に、検知部１０１が放射線の照射を検知した場合を考える。この場合、第５行を境にして、第１行の側から第５行までは、放射線の照射が開始されてから照射を検知するまでにリセット動作を行った可能性が低い図７（ｂ）に示される（奇数行、偶数列）または（偶数行、奇数列）の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループの画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。また、検知部１０１が放射線の照射を検知した第５行よりも後、第６行から最終行の側は、リセット動作が終了し蓄積動作に移行した後の、図７（ａ）に示される（奇数行、奇数列）または（偶数行、偶数列）の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループの画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。つまり、図７（ａ）に示される画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作を行っている際に放射線の照射が検知された場合、図７（ｄ）に示される画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いて、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、プレビュー画像用データを生成する（図３：Ｓ００７）。

同様に、図７（ｂ）に示される（奇数行、偶数列）または（偶数行、奇数列）の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作を行っている際に、検知部１０１が放射線の照射を検知した場合を考える。この場合、第５行を境にして、第１行の側から第５行までは、放射線の照射が開始されてから照射を検知するまでにリセット動作を行った可能性が低い図７（ａ）に示される（奇数行、奇数列）または（偶数行、偶数列）の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループの画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。また、検知部１０１が放射線の照射を検知した第５行よりも後、第６行から最終行の側は、リセット動作が終了し蓄積動作に移行した後の、図７（ｂ）に示される（奇数行、偶数列）または（偶数行、奇数列）の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループの画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。つまり、図７（ｂ）に示される画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作を行っている際に放射線の照射が検知された場合、図７（ｃ）に示される画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いて、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、プレビュー画像用データを生成する（図３：Ｓ００７）。

次いで、通信制御部１１４は、プレビュー画像生成部１０９で生成されたプレビュー画像用データを、診断用の本画像用データよりも先にコンソール３に転送する（図４：ＴＣ４０５、図３：Ｓ００７）。コンソール３に転送されたプレビュー画像用データは、ゲイン補正部３０９、欠損補正部３１０で信号処理の補正が行われた後、必要な画像処理を施すことで、表示部４に表示することが可能である。（図４：ＴＣ４０６、図３：Ｓ０２４、Ｓ００８）。

このように、放射線の照射の終了後に、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、複数の画素ＰＩＸのうち検知部１０１が放射線の照射を検知した際にリセット動作をしていたリセット画素（例えば、図７（ａ）の第５行の画素ＰＩＸ。以下、同じ例で示す。）が配された行をリセット行（第５行）として設定する。上述のように、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、リセット行の情報を照射検知時情報記憶部１０４に記憶されているリセット動作が停止した際の画素部２１２の情報として取得することが可能である。次いで、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、リセット画素を含む画素グループ（図７（ａ）に示される画素ＰＩＸが属する画素グループ。）から出力された第１画像用信号のうちリセット行の次の行から最終行までの間に配された画素ＰＩＸから出力された画像用信号と、リセット画素を含まない画素グループ（図７（ｂ）に示される画素ＰＩＸが属する画素グループ。）から出力された第２画像用信号のうち第１行からリセット行までの間に配された画素ＰＩＸから出力された画像用信号と、を用いてプレビュー画像用データを生成する。これによって、放射線の照射開始から放射線の照射を検知するまでのリセット動作に起因する補正処理などを施すことなく、高速にプレビュー画像用データを生成することが可能となる。つまり、放射線画像の撮像後、短時間のうちにプレビュー画像を表示部４に表示することが可能となり、使い勝手のよい放射線撮像装置１および放射線撮像システムＳＹＳを実現することができる。

ここで、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９によるプレビュー画像用データの生成時において、上述のように選択される画素ＰＩＸの画像用信号から、さらに間引き縮小してプレビュー画像用データを生成してもよい。画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、間引き縮小画像データを生成する際に、例えば、図８に示されるように、プレビュー画像を表示するために画像用信号を用いる画素ＰＩＸを間引くことによって、撮像画像を縮小した縮小プレビュー画像を生成してからコンソール３に転送することができる。図８において、例えば、ハッチングを付した画素ＰＩＸは、縮小プレビュー画像用データの生成（サンプリング）に用いられ、白抜きの画素ＰＩＸは間引きの対象となる。

画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９による縮小プレビュー画像用データの画像用信号のサンプリング方法は、図８に示す例に限定されるものではなく、他の間引き方法を用いることができる。例えば、縮小プレビュー画像用データの生成に用いる画素間については、補間処理を用いて縮小プレビュー画像を生成してもよい。縮小プレビュー画像の生成に用いる画素の画素値と補間処理とを組み合わせて縮小プレビュー画像を生成することも可能である。間引きの割合は、図８に例示したものに限定されるものではなく、種々の割合を設定することが可能である。

また、上述では、リセット画素を含まない画素グループから出力された第２画像用信号のうち第１行からリセット行までの間に配された画素ＰＩＸから出力された画像用信号をプレビュー画像用データの生成に使用することを説明した。しかしながら、リセット画素を含まない画素グループから出力された第２画像用信号のうちリセット行よりも最終行の側に配された画素ＰＩＸから出力された画像用信号のうち一部が、プレビュー画像用データの生成に使用されてもよい。リセット画素を含まない画素グループに属する画素ＰＩＸのうちリセット行に近接して配されている画素ＰＩＸは、放射線の実際の照射開始から照射が検知されるまでの間にリセット動作された可能性が低い。このため、例えば、リセット画素を含まない画素グループから出力された第２画像用信号のうち第１行から、リセット行に対して最終行の側に５行目、１０行目、さらに例えば、２０行目までの間に配された画素ＰＩＸから出力された画像用信号が、プレビュー画像用データの生成に使用されてもよい。また、例えば、リセット画素を含まない画素グループから出力された第２画像用信号のうち第１行から、リセット行に対して最終行の側に画素部２１２に配された行数の１％、２％、５％、さらに例えば、１０％進んだ行までの間に配された画素ＰＩＸから出力された画像用信号が、プレビュー画像用データの生成に使用されてもよい。これらの場合、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、プレビュー画像用データの生成に、リセット画素を含む画素グループから出力された第１画像用信号のうち、リセット画素を含まない画素グループのうちプレビュー画像用データの生成に使用した画素ＰＩＸが配されている行の次の行からから最終行までの間に配された画素ＰＩＸから出力された画像用信号を用いてもよい。

このように、放射線撮像装置１は、放射線の実際の照射開始から照射が検知されるまでの間にリセット動作された可能性が高い画素ＰＩＸをプレビュー画像の生成に用いないように、プレビュー画像の生成に用いる画素ＰＩＸの複数の選択パターンを備える。画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、放射線の照射の開始を検知した際に選択していた走査ラインに基づいて、プレビュー画像用データの生成に用いる画素ＰＩＸの選択パターンを切り替える。これによって、放射線撮像装置１および放射線撮像システムＳＹＳは、良好な画質を有するプレビュー画像を、短い表示ディレイで表示部４に表示することが可能になる。

プレビュー画像用データの生成に用いられた画素ＰＩＸの信号値は、画素ごとのばらつきや欠損などの放射線撮像装置の特性（以下、センサ特性）を含んだ状態であるため、そのセンサ特性を補正する必要がある。ここではコンソール３でプレビュー画像用データのセンサ特性を補正することを説明するが、それに限られるものではない。例えば、放射線撮像装置１で補正を実施しても良い。また、ここではセンサ特性の補正とはゲイン補正、欠損補正を指すが、それに限られるものではない。例えばオフセット補正をコンソール３で実施しても良い。すなわち、放射線撮像装置の特性の補正に用いるデータは、前記画素部全体のゲイン補正データ、信号値の欠損補正データ、オフセット補正データのうち少なくとも一つを含んでいてもよい。

図１０はコンソール３内部を説明するための詳細なブロック図である。コンソール３は、通信制御部３０１、記憶部３０２、処理部３０３を含む。記憶部３０２は、ゲインデータ記憶部３０４、欠損データ記憶部３０５を含む。処理部３０３は付帯情報解析部３０６、ゲインデータ生成部３０７、欠損データ生成部３０８、ゲイン補正部３０９、欠損補正部３１０、分割画素結合部３１１を含む。図１１はコンソール３が付帯情報を受信してから、プレビューを表示するまでのコンソール３側の処理を説明するための詳細なフローである。コンソール３に転送された付帯情報は通信制御部３０１を介して、付帯情報解析部３０６へと転送される。すなわち、通信制御部３０１は放射線撮像装置から放射線撮像装置に関する付帯情報を取得する付帯情報取得手段の一例に相当する。

付帯情報解析部３０６は付帯情報を受信後に、付帯情報に含まれるリセット動作が停止した際の情報の解析を行う（図１１：Ｓ０１７）。なお、付帯情報の取得、および付帯情報の解析はプレビュー画像用データの取得に先立って行うことができる。さらに、付帯情報の取得、および付帯情報の解析はプレビュー画像用データを取得する前に完了することができる。その後、ゲインデータ生成部３０７、欠損データ生成部３０８は、事前にゲインデータ記憶部３０４、欠損データ記憶部３０５に保持していたセンサ全体の画素に対するゲインデータおよび欠損データと、付帯情報の解析結果をもとにプレビュー画像用のゲインデータ、欠損データを作成する（図１１：Ｓ０１８、Ｓ０１９）。すなわち、ゲインデータ生成部３０７、欠損データ生成部３０８は、解析手段による付帯情報の解析結果と、放射線撮像装置の特性の補正に用いるデータに基づいて縮小画像用の補正データを生成する補正データ生成手段の一例に相当する。なお、プレビュー画像用のゲインデータ、欠損データの生成はプレビュー画像用データの取得に先立って行うことができる。さらに、プレビュー画像用のゲインデータ、欠損データはプレビュー画像用データを取得する前に完了することができる。

ここでゲインデータとはセンサの画素ごとのばらつきを補正するためのゲイン値に相当する。欠損データは信号値の欠損に相当するデータであり、これを用いて、欠損していない画素の情報から信号値の欠損の画素値を生成する処理に用いられる。

次のステップとして、通信制御部３０１はプレビュー用画像データを受信する（図１１：Ｓ０２０）。すなわち、通信制御部３０１は、画素部を構成する一部の画素の画像データを取得する画像データ取得手段の一例に相当する。なお、プレビュー用画像データや後述する間引き画像データのように画素部を構成する一部の画素の画像データを縮小画像データと言い換えることができる。

ゲイン補正部３０９は、通信制御部３０１からプレビュー画像用データを受信したら、作成済みのプレビュー画像用ゲインデータを使って、プレビュー画像用データの画素値のばらつきを補正する（図１１：Ｓ０２１）。次いで、欠損補正部３１０は、プレビュー画像用欠損データを使って、プレビュー画像用データの信号値の欠損の補正を行う（図１１：Ｓ０２２）。その後、必要な画像処理を施すことで、プレビュー画像を生成し、表示部４にプレビュー画像を表示する（図１１：Ｓ０２３）。すなわち、コンソール３は、解析手段による付帯情報の解析結果と画素部の特性の補正に用いるデータに基づいて得られる補正データを用いてプレビュー画像を生成する（縮小画像生成）。そして、生成したプレビュー画像（縮小画像）を表示部に表示する。

このようにプレビュー用画像データを受信する前に、プレビュー画像用のゲインデータ、欠損データを作成しておくことで、プレビュー画像が表示されるまでの表示ディレイが低減され、ユーザにとって使い勝手がよい放射線撮像システムＳＹＳが実現される。

放射線画像に用いる画像用信号の読出動作の完了後（図３：Ｓ００６）、駆動回路１０３は、読出走査制御１０６として、駆動回路２１４を制御して全ての画素ＰＩＸのスイッチ素子Ｔを再び非導通状態にし、変換素子Ｓを電荷蓄積状態にする（図４：ＴＣ４０７、図３：Ｓ００９）。この処理は、先に説明したプレビュー画像用データの生成、プレビュー画像用データの転送処理（図４：ＴＣ４０５、図３：Ｓ００７）、プレビュー画像の表示処理（図４：ＴＣ４０６、図３：Ｓ００８）と並列で実行されてもよい。並列処理を行うことによって、プレビュー画像用データの生成およびプレビュー画像の表示から、診断用の本画像用データの生成および本画像の表示までの時間を短縮することが可能になる。

次いで、図３のＳ０１０において、駆動回路１０３は、読出走査制御１０６において、放射線を照射した際の蓄積時間（図４：ＴＣ４０３、図３：Ｓ００４）と同じ待機時間が経過したか否かを判定する。待機時間が経過していない場合、変換素子Ｓにおいて電荷を蓄積する動作を継続する（図４：ＴＣ４０７、図３：Ｓ００９）。これによって、暗電荷の蓄積が継続される。駆動回路１０３は、放射線照射時の蓄積時間と同じ時間が経過したと判定すると、読出走査制御１０６において、それぞれの画素ＰＩＸからオフセット画像の信号の読出動作を実施し、暗電荷成分のみのオフセット画像を取得する（図４：ＴＣ４０８、図３：Ｓ０１１）。次いで、画像処理部１０８のオフセット補正部１１０は、撮像画像用メモリ１１２に記憶されている放射線画像の画像用信号の全ての画素ＰＩＸから出力された信号を、取得したオフセット画像を用いてオフセット補正を行う（図３：Ｓ０１２）。オフセット補正部１１０は、放射線画像データからオフセット画像データの成分を減算するオフセット補正により暗電荷成分を除去した本画像用データを取得する。通信制御部１１４は、オフセット補正部１１０によりオフセット補正が施された本画像用データをコンソール３に転送する（ＴＣ４０９、Ｓ０１３）。

プレビュー画像と異なり、本画像には放射線の照射の開始を検知した際にリセット動作をしていた画素ＰＩＸに近い画素行から出力される信号に劣化が発生しうる。このため、この本画像用データの信号を補正する必要がある。そこでコンソール３の処理部３０３は、付帯情報解析部３０６で解析した付帯情報のうち検知部１０１が放射線の照射を検知した際に複数の画素ＰＩＸをリセット動作させるための信号を供給していた駆動線Ｖｇの情報や検知部１０１が放射線の照射を検知した際に複数の画素ＰＩＸのうちリセット動作をしていた画素ＰＩＸが属する画素グループの情報から、信号の劣化が想定される画素ＰＩＸを特定してもよい。また、例えば、コンソール３の処理部３０３は、検知部１０１が放射線の照射を検知した際の信号値、および、複数の画素ＰＩＸの画素グループのそれぞれのグループごとの配置の情報から、信号の劣化が想定される画素ＰＩＸや周辺の画素ＰＩＸおよびそれらの出力値の情報などを特定してもよい。処理部３０３は、特定したこれらの情報を用いて、ゲイン補正部３０９、欠損補正部３１０において、受信した本画像用データの信号値の補正や信号値の欠損を補間するような補正などの信号処理を実施し、各種の診断に適した画像処理を施す（図４：ＴＣ４１０、図３：Ｓ０１４）。表示部４は、処理部３０３によって画像処理が施された本画像用データに基づいた画像を表示する（図４：ＴＣ４１１、図３：Ｓ０１５）。

本実施形態では、付帯情報に基づく本画像用データの補正処理をコンソール３の処理部３０３にて実施しているが、これに限られるものではない。例えば、放射線撮像装置１の画像処理部１０８において、付帯情報に基づく本画像用データの補正処理が行われてもよい。この場合、付帯情報をコンソール３に転送する必要はなく、画像処理部１０８がこの情報を使用して補正処理を行えばよい。

本実施形態における放射線撮像装置１は、放射線の照射開始を検知した際にリセット動作を行っていた画素ＰＩＸ（画素行）の情報を用いる。これによって、放射線の照射開始から検知部１０１照射を検知するまでの間に、リセット動作が異なる画素グループ間を跨いでしまっていた場合においても、リセット動作に起因する画像劣化を補正する処理を行うことなく、プレビュー画像の表示が可能になる。これによって、プレビュー画像が表示されるまでの表示ディレイが低減され、ユーザにとって使い勝手がよい放射線撮像装置１および放射線撮像システムＳＹＳが実現される。また、図２に示されるように、本実施形態の放射線撮像装置１は、２つの画素列で列信号線Ｓｉｇを共用することによって、読出回路１０７の回路規模を抑制し、装置コストを低減することができる。

図７（ａ）、７（ｂ）に示される画素ＰＩＸ（画素グループ）は、複数の画素ＰＩＸのうち、行方向に互いに隣り合い、かつ、複数の列信号線Ｓｉｇのうち同じ列信号線Ｓｉｇを共用する画素ＰＩＸが、互いに異なる画素グループに属している。また、複数の画素ＰＩＸのうち列方向に互いに隣り合う画素ＰＩＸが、互いに異なる画素グループに属している。また、図７（ａ）、７（ｂ）に示される例では、２つの画素グループが配されており、行方向に、複数の画素ＰＩＸのうち一方の画素グループに属する画素ＰＩＸと、複数の画素ＰＩＸのうち他方の画素グループに属する画素ＰＩＸとが、交互に配され、行方向に、複数の画素ＰＩＸのうち一方の画素グループに属する画素ＰＩＸと、複数の画素ＰＩＸのうち画素グループに属する画素ＰＩＸとが、交互に配されている。

しかしながら、これに限られることはない。図９（ａ）、９（ｂ）に示すように画素ＰＩＸ（画素グループ）が配されていてもよい。つまり、複数の画素ＰＩＸのうち列方向に互いに隣り合う画素ＰＩＸが、同じ画素グループに属していてもよい。図９（ａ）、９（ｂ）に示される例では、２つの画素グループが配されており、行方向に、複数の画素ＰＩＸのうち一方の画素グループに属する画素ＰＩＸと、複数の画素ＰＩＸのうち他方の画素グループに属する画素ＰＩＸとが、交互に配され、行方向に、複数の画素ＰＩＸのうち一方の画素グループに属する画素ＰＩＸまたは複数の画素ＰＩＸのうち画素グループに属する画素ＰＩＸが、連続して配されている。この場合であっても、異なる駆動線Ｖｇに接続された、互いに異なる画素グループに属する同じ行の互いに隣り合う２つの画素ＰＩＸが、共通の列信号線Ｓｉｇに接続されており、上述と放射線撮像装置１と同様の動作を実現可能である。

図３および図４のリセット動作（ＴＣ４０１、Ｓ００１）において、例えば、図９（ａ）に示されるような、奇数列の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作を行っている際に、検知部１０１が放射線の照射を検知した場合を考える。この場合、リセット動作において放射線の照射が検出された第５行を境にして、第１行の側から第５行までは、図９（ｂ）に示される偶数列の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループの画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。また、検知部１０１が放射線の照射を検知した第５行よりも後、第６行から最終行の側は、図９（ａ）に示される奇数列の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループの画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。つまり、図９（ａ）に示される画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作を行っている際に放射線の照射が検知された場合、図９（ｄ）に示される画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いて、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、プレビュー画像用データを生成する（図３：Ｓ００７）。

同様に、図９（ｂ）に示されるような、偶数列の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作を行っている際に、検知部１０１が放射線の照射を検知した場合を考える。この場合、リセット動作において放射線の照射が検出された第５行を境にして、第１行の側から第５行までは、図９（ａ）に示される奇数列の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループの画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。また、検知部１０１が放射線の照射を検知した第５行よりも後、第６行から最終行の側は、図９（ｂ）に示される偶数列の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループの画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。つまり、図９（ｂ）に示される画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作を行っている際に放射線の照射が検知された場合、図９（ｃ）に示される画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いて、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、プレビュー画像用データを生成する（図３：Ｓ００７）。

図９（ａ）～９（ｄ）に示される例では、奇数列と偶数列とで、画素ＰＩＸが、互いに異なる画素グループに属する場合について説明した。しかしながら、これに限られることはなく、例えば、奇数行と偶数行とで、画素ＰＩＸが、互いに異なる画素グループに属していてもよい。この場合、例えば、奇数行の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループのリセット動作を行っている際に、検知部１０１が放射線の照射を検知した場合を考える。この場合、リセット動作において放射線の照射が検出された行（例えば第５行）を境にして、第１行の側から第５行までは、偶数行の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループの画素ＰＩＸ（例えば、第２行、第４行に配された画素ＰＩＸ）から出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。また、検知部１０１が放射線の照射を検知した第５行よりも後、第６行から最終行の側は、奇数行の座標の画素ＰＩＸが属する画素グループの画素ＰＩＸ（例えば、第７行、第９行・・・に配された画素ＰＩＸ）から出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。これによって、表示ディレイを抑制しつつ、良好な画質を有するプレビュー画像を表示部４に表示することが可能となる。

本実施形態において、画素部２１２に配された画素ＰＩＸを２つの画素グループに分けて、プレビュー画像用データを生成する際に画像用信号を取得する画素ＰＩＸを選択することを説明した。しかしながら、これに限られることはない。放射線検出部２の画素部２１２に配された画素ＰＩＸは、３つ以上の画素グループに分けられていてもよい。例えば、３つの画素グループに分けられ、第１画素グループに属する画素ＰＩＸのリセット動作によって放射線の照射の開始が検知された場合を考える。この場合、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、第１行の側からリセット行までは、第２画素グループおよび第３画素グループに属する画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。このとき、第２画素グループまたは第３画素グループの何れか一方の画素グループに属する画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データが生成されてもよい。プレビュー画像用データに使用する画像用信号の数が減少することによって、データ量が抑制され、より、プレビュー画像が表示部４に表示されるまでのディレイが短くなりうる。また、画像処理部１０８のプレビュー画像生成部１０９は、リセット行の次の行から最終行までは、第１画素グループに属する画素ＰＩＸから出力される画像用信号を用いてプレビュー画像用データを生成する。また、この場合、第１画素グループに属する画素ＰＩＸ、第２画素グループに属する画素ＰＩＸ、および、第３画素グループに属する画素ＰＩＸが、１つの行に順々に並んでいてもよい。また、例えば、第１画素グループに属する画素ＰＩＸ、第２画素グループに属する画素ＰＩＸ、および、第３画素グループに属する画素ＰＩＸが、列方向に行ごとに順々に並んでいてもよい。画素ＰＩＸのグループ分けや、プレビュー画像に用いる画素ＰＩＸの数は、放射線撮像装置１や放射線撮像システムＳＹＳに求められる仕様などに応じて、適宜決定すればよい。

このように、放射線撮像装置１において、放射線の照射の開始から照射を検出するまでの間のリセット動作に起因する画像用信号の劣化を抑制し、良好なプレビュー画像を即時に得ることが可能となる。つまり、ユーザにとって操作時のストレスが低減された、使い勝手がよい放射線撮像装置１および放射線撮像システムＳＹＳが実現できる。

発明は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。

〔本実施形態の変形例〕
放射線撮像装置１からコンソール３へ本画像用データを転送する際に、一度に全体の画素ＰＩＸの信号値を転送する必要はなく、全体の画素ＰＩＸの信号値を分割して転送を行っても良い。分割で受信した画素ＰＩＸの信号値をプレビュー画像として表示部４に表示する場合は、受信した分割画素の信号値に対してゲイン補正部３０９、欠損補正部３１０で信号値の補正や信号値の欠損を補間するなどの信号処理を実施し、画像処理を施すことで、より良好なプレビュー画像として表示部４に表示することができる。ここで信号処理に使用するゲインデータや欠損データは、コンソール３が付帯情報を受信したときに生成するため、コンソール３がプレビュー画像用データや分割画素の信号値（間引き画像データ）を受信する前にゲインデータや欠損データの生成を完了することができる。すなわち、画素部を構成する一部の画素の画像データ（例えば、プレビュー画像用データ）と該画素部を構成する一部の画素の画像データとは異なる画素数の一部の画素の画像データ（間引き画像データ）とを補正するための補正データの生成を、画像データを取得する前に完了することができる。そのため、コンソール３がプレビュー画像用データや、本画像用データを分割した分割画素の信号値を受信したときは、既に作成済みのゲインデータ、欠損データを信号処理に使用することができるため、表示部４にプレビュー画像を表示するまでの時間を短縮することが可能となる。このようにすることで、本画像用データを表示するまでの時間に変わりはなく、プレビュー画像の画質を徐々に改善させることができるため、ユーザにとって使い勝手がよい放射線撮像システムＳＹＳが実現される。なお、補正データの生成は画像データを取得する前に完了することが望ましいが、画像データの取得に先立って補正データの生成が開始されていればよい。

例えば、本画像用データを４分割して放射線撮像装置１から転送した場合のことを考える。分割方法としては、４行×４列の領域を４画素に間引く手法を前提に説明するが、分割方法はこれに限らない。図１２は放射線撮像装置から各種データを受信し、コンソール３で処理を行い、表示するまでの流れを説明するための図である。放射線撮像装置からはコンソールに対し、付帯情報の転送、プレビュー画像用データの転送、本画像データを分割した間引き画像データの転送をおこなう。コンソールは付帯情報を受信したら、付帯情報解析結果および、本画像用の補正データをもとにプレビュー用補正データおよび１／４間引き画像用の補正データの生成を行う（図１２：Ｓ０１２－１、Ｓ０１２－２）。

次いでコンソール３は、プレビュー画像用データを受信し、受信したプレビュー画像用データに対して信号処理、画像処理を実施し、プレビュー画像を表示部４に表示する（図１２：Ｓ０１２－３、Ｓ０１２－４、Ｓ０１２－５）。すなわち、画素部を構成する一部の画素の画像データと前記画素部を構成する一部の画素の画像データを補正するための補正データを用いて第１の縮小画像を生成し、表示部に表示する。その後、コンソール３は画素が全体の１／４になるように間引きされた分割画素の信号値のうち１つ目を受信した時に、受信した間引き画像データに対して信号処理、画像処理を実施し、画素が全体の１／４に間引きされた低解像度の画像を表示部４に表示する。（図１２：Ｓ０１２－６、Ｓ０１２－７、Ｓ０１２－８）。すなわち、第１の縮小画像の生成に用いた画像データとは異なる画素数の一部の画素の画像データと前記異なる画素数の一部の画素の画像データを補正するための補正データを用いて第２の縮小画像を生成する。

全ての分割画素の信号値（１／４間引き画像データの４回目）の転送が完了した際に、分割画素結合部３１１で受信した分割画素の結合を行い、全体の画素ＰＩＸの信号値である本画像用データを復元する。その後、信号処理および画像処理を実施し、本画像用データを表示部４に表示する（図１２：Ｓ０１２－９、Ｓ０１２－１０、Ｓ０１２－１１、Ｓ０１２－１２）。

なお、ここではコンソール３で付帯情報をもとにゲインデータや欠損データを作成し、信号処理を実施することを説明したが、これに限らず、例えば放射線撮像装置１でこれらを実施しても良い。また、ここでは信号処理をゲイン補正、欠損補正として説明しているが、これに限らず、例えばオフセット補正を実施しても良い。さらに、ここでは本画像用データを４分割することを例に挙げたが、その分割数に限りはなく、同様に表示部４にプレビュー表示を行う回数にも限りはない。

１ 放射線撮像装置
１０１ 検知部
１０３，２１４ 駆動回路
１０８ 画像処理部
２１２ 画素部
ＰＩＸ 画素
Ｖｇ 駆動線
３ コンソール
３０１ 通信制御部
３０２ 記憶部
３０３ 処理部
３０４ ゲインデータ記憶部
３０５ 欠損データ記憶部
３０６ 付帯情報解析部
３０７ ゲインデータ生成部
３０８ 欠損データ生成部
３０９ ゲイン補正部
３１０ 欠損補正部
３１１ 分割画素結合部
４ 表示部

Claims (21)

1. 放射線を電荷に変換するための複数の画素が複数の行および複数の列を構成するように配された画素部と、行方向に延びるように配された複数の駆動線を介して前記複数の画素を制御する駆動回路と、放射線の照射の有無を検知する検知部と、前記複数の画素に対応する画像データを放射線撮像制御装置に転送する通信制御部と、を備えた放射線撮像装置から前記画素部に関する付帯情報を取得する付帯情報取得手段と、
   前記付帯情報を解析する解析手段と、
   前記画素部を構成する一部の画素の画像データを取得する画像データ取得手段と、
   前記解析手段による付帯情報の解析結果に基づいて、前記一部の画素の画像データに画像処理を施し、縮小画像を生成する縮小画像生成手段と、
   前記縮小画像生成手段により生成された前記縮小画像を表示部に表示する表示制御手段と、
   を備え、
   前記解析手段は、前記画像データ取得手段による前記画像データの取得に先立って前記付帯情報の解析を始めることを特徴とする放射線撮像制御装置。
2. 前記放射線撮像装置の特性の補正に用いるデータを記憶する記憶手段をさらに備え、
   前記縮小画像生成手段は、前記解析手段による前記付帯情報の解析結果と前記放射線撮像装置の特性の補正に用いるデータとに基づいて得られる補正データを用いて前記縮小画像を生成することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像制御装置。
3. 前記放射線撮像装置の特性の補正に用いるデータは、前記画素部全体のゲイン補正データ、信号値の欠損補正データ、オフセット補正データのうち少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項２に記載の放射線撮像制御装置。
4. 前記縮小画像生成手段は、前記解析手段による前記付帯情報の解析結果と、前記画素部全体の前記ゲイン補正データおよび前記欠損補正データに基づいて得られる縮小画像用のゲイン補正データおよび欠損補正データを用いて、前記一部の画素の画像データを補正し前記縮小画像を生成することを特徴とする請求項３に記載の放射線撮像制御装置。
5. 前記解析手段による前記付帯情報の解析結果と、前記放射線撮像装置の特性の補正に用いるデータに基づいて縮小画像用の補正データを生成する補正データ生成手段をさらに備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の放射線撮像制御装置。
6. 前記補正データ生成手段は前記画像データ取得手段による前記画像データの取得に先立って前記縮小画像用の補正データの生成を始めることを特徴とする請求項５に記載の放射線撮像制御装置。
7. 前記補正データ生成手段は、前記画像データ取得手段が画像データを取得する前に前記補正データの生成を完了することを特徴とする請求項６に記載の放射線撮像制御装置。
8. 前記画像データ取得手段は、前記画素部を構成する一部の画素の画像データとは異なる画素数の一部の画素の画像データをさらに取得し、
   前記補正データ生成手段は、前記画素部を構成する一部の画素の画像データと前記異なる画素数の一部の画素の画像データとを補正するための補正データを生成することを特徴とする請求項６または７に記載の放射線撮像制御装置。
9. 前記縮小画像生成手段は、前記画素部を構成する一部の画素の画像データと前記画素部を構成する一部の画素の画像データを補正するための補正データを用いて第１の縮小画像を生成し、前記異なる画素数の一部の画素の画像データと前記異なる画素数の一部の画素の画像データを補正するための補正データを用いて第２の縮小画像を生成することを特徴とする請求項７に記載の放射線撮像制御装置。
10. 前記付帯情報は、前記画素部のリセット動作が停止した際の情報を含むことを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の放射線撮像制御装置。
11. 前記付帯情報は、前記検知部が放射線の照射を検知した際に前記画素部をリセット動作させるための信号を供給していた前記駆動線の情報、前記検知部が放射線の照射を検知した際に前記画素部のうちリセット動作をしていた画素が属する画素グループの情報、前記検知部が放射線の照射を検知した際の信号値、および、前記画素部の画素グループのそれぞれのグループごとの配置の情報のうち少なくとも１つの情報を含むことを特徴とする請求項９に記載の放射線撮像制御装置。
12. 放射線を電荷に変換するための複数の画素が複数の行および複数の列を構成するように配された画素部と、行方向に延びるように配された複数の駆動線を介して前記複数の画素を制御する駆動回路と、放射線の照射の有無を検知する検知部と、前記複数の画素に対応する画像データを放射線撮像制御装置に転送する通信制御部と、を備えた放射線撮像装置から前記画素部に関する付帯情報を取得する付帯情報取得工程と、
    前記付帯情報を解析する解析工程と、
    前記画素部を構成する一部の画素の画像データを取得する画像データ取得工程と、
    前記解析工程における付帯情報の解析結果に基づいて、前記一部の画素の画像データに画像処理を施し、縮小画像を生成する縮小画像生成工程と、
    前記縮小画像生成工程において生成された前記縮小画像を表示部に表示する表示制御工程と、
    を備え、
    前記解析工程は、前記画像データ取得工程における前記画像データの取得に先立って前記付帯情報の解析を始めることを特徴とする放射線撮像制御方法。
13. 前記放射線撮像装置の特性の補正に用いるデータを記憶する記憶工程をさらに備え、
    前記縮小画像生成工程は、前記解析工程における前記付帯情報の解析結果と前記放射線撮像装置の特性の補正に用いるデータとに基づいて得られる補正データを用いて前記縮小画像を生成することを特徴とする請求項１２に記載の放射線撮像制御方法。
14. 前記放射線撮像装置の特性の補正に用いるデータは、前記画素部全体のゲイン補正データ、信号値の欠損補正データ、オフセット補正データのうち少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項１３に記載の放射線撮像制御方法。
15. 前記縮小画像生成工程は、前記解析工程における前記付帯情報の解析結果と、前記画素部全体の前記ゲイン補正データおよび前記欠損補正データに基づいて得られる縮小画像用のゲイン補正データおよび欠損補正データを用いて、前記一部の画素の画像データを補正し前記縮小画像を生成することを特徴とする請求項１４に記載の放射線撮像制御方法。
16. 前記解析工程における前記付帯情報の解析結果と、前記放射線撮像装置の特性の補正に用いるデータに基づいて縮小画像用の補正データを生成する補正データ生成工程をさらに備えることを特徴とする請求項１２乃至１５のいずれか１項に記載の放射線撮像制御方法。
17. 前記補正データ生成工程は、前記画像データの取得に先立って前記縮小画像用の補正データの生成を始めることを特徴とする請求項１６に記載の放射線撮像制御装置。
18. 前記補正データ生成工程は、前記画像データを取得する前に前記補正データの生成を完了することを特徴とする請求項１７に記載の放射線撮像制御装置。
19. 前記画像データ取得工程は、前記画素部を構成する一部の画素の画像データとは異なる画素数の一部の画素の画像データをさらに取得し、
    前記補正データ生成工程は、前記画素部を構成する一部の画素の画像データと前記異なる画素数の一部の画素の画像データとを補正するための補正データを生成することを特徴とする請求項１６乃至１８のいずれか１項に記載の放射線撮像制御装置。
20. 前記縮小画像生成工程は、前記画素部を構成する一部の画素の画像データと前記画素部を構成する一部の画素の画像データを補正するための補正データを用いて第１の縮小画像を生成し、前記異なる画素数の一部の画素の画像データと前記異なる画素数の一部の画素の画像データを補正するための補正データを用いて第２の縮小画像を生成することを特徴とする請求項１９に記載の放射線撮像制御装置。
21. 請求項１乃至１１の何れか１項に記載の放射線撮像制御装置の各手段としてコンピュータを機能させることを特徴とするプログラム。

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