JP2023050718A - チャックテーブル及び加工装置 - Google Patents
チャックテーブル及び加工装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2023050718A JP2023050718A JP2021160973A JP2021160973A JP2023050718A JP 2023050718 A JP2023050718 A JP 2023050718A JP 2021160973 A JP2021160973 A JP 2021160973A JP 2021160973 A JP2021160973 A JP 2021160973A JP 2023050718 A JP2023050718 A JP 2023050718A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chuck table
- workpiece
- unit
- processing
- angle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 119
- 238000003754 machining Methods 0.000 claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 14
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 46
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 34
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 17
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 14
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 9
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 8
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002679 ablation Methods 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 235000019557 luminance Nutrition 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000007659 motor function Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Dicing (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Jigs For Machine Tools (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Abstract
【課題】チャックテーブルの向き(角度)が誤った角度で算出される恐れを抑制できるチャックテーブル及び加工装置を提供すること。【解決手段】チャックテーブル10は、被加工物を保持する保持部11と、被加工物を囲繞し、連続的に変化する環状の目印部15を備えた枠体12から構成され、目印部15によりチャックテーブル10の角度18がわかる。目印部15は、渦巻き状に形成されていてもよく、線の太さが角度によって変化するものであってもよい。【選択図】図2
Description
本発明は、被加工物を保持するチャックテーブル及び被加工物を加工する加工装置に関する。
半導体デバイスが形成されたウェーハや樹脂パッケージ基板、セラミックス基板等板状の被加工物を加工するために、スピンドルの先端に切削ブレードを装着し被加工物を切削する切削装置や、レーザー光線照射ユニットを備え被加工物をレーザー光線で加工するレーザー加工装置、被加工物を研削して薄化する研削装置等が知られている。
電子機器の軽薄短小化に伴い、半導体デバイスの薄化のため、ウェーハを50μm以下に極薄化する加工が行われているが、ウェーハの外周のR部分(曲面部分)が薄化することで鋭利な所謂ナイフエッジとなり、研削中にウェーハの外周が欠け易くなるため、研削前に予めウェーハを外周縁に沿って切削してR部分(曲面部分)を除去する、所謂エッジトリミング技術が開発された(例えば、特許文献1参照)。
エッジトリミングでは、ウェーハの外周縁に切削ブレードを切り込ませた状態でチャックテーブルを回転させ、ウェーハの外周縁のデバイスが形成されていない数mmという狭い領域を除去する。ウェーハの外周縁の3箇所以上を撮影し、外周縁の座標からウェーハの中心座標を割り出し、ウェーハの中心とチャックテーブルの回転中心とのずれ量及び角度との関係を算出し、回転するチャックテーブルの向きにあわせて切削ブレードの位置をウェーハの外周縁の座標に合わせて補正しつつ切削することで、所定の幅の外周縁だけを除去する。ウェーハの外周縁を撮影する際、所定の向きにチャックテーブルを回転させる。
チャックテーブルの向き(角度)は、チャックテーブルを回転させるモータのエンコーダの信号等から割り出すため、モータの加減速やモータの不調等があると誤った角度で算出されてしまう恐れが有った。これにより、ウェーハの中心座標が誤って算出されてしまう等の問題が生じる恐れがあった。
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、チャックテーブルの向き(角度)が誤った角度で算出される恐れを抑制できるチャックテーブル及び加工装置を提供することである。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明のチャックテーブルは、被加工物を保持するチャックテーブルであって、被加工物を保持する保持部と、被加工物を囲繞し、連続的に変化する環状の目印部を備えた枠体から構成され、該目印部により該チャックテーブルの角度がわかる事を特徴とする。
該目印部は、渦巻き状に形成されていてもよい。
該目印部は、線の太さが角度によって変化していてもよい。
また、上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の加工装置は、被加工物を保持面で保持する上記のチャックテーブルと、該チャックテーブルの該保持面と垂直な回転軸で該チャックテーブルを回転させる回転ユニットと、該チャックテーブルに保持された被加工物を加工する加工ユニットと、該チャックテーブルに保持された被加工物及び該チャックテーブルの該目印部を撮影するカメラと、該カメラで撮影した画像を用いて検出した該被加工物の位置情報に基づいて該加工ユニットと該回転ユニットを制御し被加工物を加工する制御ユニットと、を備えるものである。
本発明は、チャックテーブルの向き(角度)が誤った角度で算出される恐れを抑制できる。
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。
〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係るチャックテーブル10及び加工装置1を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係る加工装置1の構成例を示す斜視図である。図2は、図1の加工装置1の要部を示す上面図である。図3は、図1の加工装置1の要部を示す断面図である。実施形態1に係る加工装置1は、図1に示すように、実施形態1に係るチャックテーブル10と、回転ユニット20と、加工ユニット30と、移動ユニット40と、カメラ50と、制御ユニット60と、を備える。
本発明の実施形態1に係るチャックテーブル10及び加工装置1を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係る加工装置1の構成例を示す斜視図である。図2は、図1の加工装置1の要部を示す上面図である。図3は、図1の加工装置1の要部を示す断面図である。実施形態1に係る加工装置1は、図1に示すように、実施形態1に係るチャックテーブル10と、回転ユニット20と、加工ユニット30と、移動ユニット40と、カメラ50と、制御ユニット60と、を備える。
実施形態1において、加工装置1が加工する加工対象である被加工物100は、例えば、シリコン、サファイア、シリコンカーバイド(SiC)、ガリウムヒ素などを母材とする円板状の半導体デバイスウェーハや光デバイスウェーハなどである。被加工物100は、図1に示すように、平坦な表面101の格子状に形成される複数の分割予定ライン102を備え、複数の分割予定ライン102によって区画された領域にデバイス103が形成されている。また、本発明では、被加工物100は、樹脂により封止されたデバイスを複数有した円形状のパッケージ基板、セラミックス板、又はガラス板等でも良い。
チャックテーブル10は、円板状の保持部11と、保持部11が嵌め込まれる凹部が形成された円板状の枠体12と、を有する。保持部11は、実施形態1では、ポーラス状のポーラスセラミック等から形成され、図示しない真空吸引経路を介して図示しない真空吸引源と接続されている。保持部11の上面は、被加工物100が載置されて、載置された被加工物100を吸引保持する保持面13である。保持面13は、実施形態1では、被加工物100が表面101を上方に向けて載置され、載置された被加工物100を表面101の裏側の裏面104側から吸引保持する。保持面13と枠体12の上面14とは、同一平面上に配置されており、水平面であるXY平面に平行に形成される。チャックテーブル10は、回転ユニット20により鉛直方向であり保持面13と垂直なZ軸方向と平行な回転軸21(図3参照)で回転自在で、移動ユニット40のX軸移動ユニット41により水平方向の一方向であるX軸方向に移動自在に設けられている。
枠体12は、図2に示すように、上面14に、環状の目印部15を備える。環状の目印部15は、枠体12の上面14の全周にわたって、保持部11の保持面13を囲繞して形成され、保持面13に被加工物100が保持された際に被加工物100の外周縁105(図1及び図3参照)より外周側で露出する領域に設けられている。環状の目印部15は、チャックテーブル10の保持面13上の回転中心16を原点とし、所定の径方向に沿った基準方向17から、周方向に沿って1周して再び所定の基準方向17に戻ってくるまでの間に、所定の基準方向17からの角度18に応じて所定のパラメータが連続的に単調に変化するように形成される。ここで、所定の基準方向17からの角度18は、チャックテーブル10の周方向の位置を表しているパラメータとなっている。
環状の目印部15は、図2に示す実施形態1の例では、渦巻き状(らせん状)に形成された線であり、所定の基準方向17からの角度18に応じて、所定のパラメータとして回転中心16からの径方向の位置(距離)19が連続的に単調に変化(図2の例では減少)する。環状の目印部15は、本発明ではこれに限定されず、例えば、所定の基準方向17からの角度18に応じて、所定のパラメータとして径方向の太さが連続的に単調に変化する線(図形)であってもよい。また、環状の目印部15は、図2に示す例では、角度18が増加するに従って径方向の位置(距離)19(所定のパラメータ)が減少しているが、本発明ではこれに限定されず、増加してもよい。また、環状の目印部15は、図2に示す例では、角度18が増加するに従う径方向の位置(距離)19(所定のパラメータ)の変化量が一様であるが、本発明ではこれに限定されず、変化量が一様でなくてもよい。
環状の目印部15は、このように、所定の基準方向17からの角度18と、径方向の位置(距離)19や径方向の太さ等の所定のパラメータとの間で、一対一の対応関係を有して形成されている。これにより、環状の目印部15は、位置(距離)19や径方向の太さ等の所定のパラメータに基づいて、チャックテーブル10の方向を、所定の基準方向17からの角度18で検出及び算出することを可能にしている。
回転ユニット20は、図1に示すように、チャックテーブル10の下方に設けられ、図3に示すように、チャックテーブル10を保持面13と垂直な回転軸21で回転させる。回転軸21は、チャックテーブル10の保持面13と、回転中心16で交差する。回転ユニット20は、チャックテーブル10とともに、移動ユニット40のX軸移動ユニット41によりX軸方向に移動自在に設けられている。回転ユニット20は、実施形態1では、チャックテーブル10を回転させるモータを有し、モータにエンコーダが設置されており、エンコーダの信号を制御ユニット60に出力するが、本発明ではこれに限定されない。
加工ユニット30は、実施形態1では、図1に示すように、先端に切削ブレード31が装着されるスピンドル32を備える切削ユニットである。スピンドル32の先端に装着された切削ブレード31は、スピンドル32の回転動作により、水平方向の別の一方向でありX軸方向に直交するY軸方向と平行な軸心周りの回転動作が加えられて、チャックテーブル10に保持された被加工物100を切削加工する。加工ユニット30は、チャックテーブル10に保持された被加工物100に対して、移動ユニット40のY軸移動ユニット42によりY軸方向に移動自在に設けられ、かつ、移動ユニット40のZ軸移動ユニット43によりZ軸方向(昇降方向)に移動自在に設けられている。加工装置1は、図1に示すように、加工ユニット30(切削ユニット)を2つ備えた、即ち、2スピンドルのダイサ、いわゆるフェイシングデュアルタイプの切削装置である。
移動ユニット40は、X軸移動ユニット41と、Y軸移動ユニット42と、Z軸移動ユニット43とを備える。X軸移動ユニット41は、加工ユニット30に対して相対的にチャックテーブル10をX軸方向に沿って移動させる。Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43は、それぞれ、チャックテーブル10に対して相対的に加工ユニット30をY軸方向及びZ軸方向に沿って移動させる。
X軸移動ユニット41、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43は、それぞれ、チャックテーブル10のX軸方向の位置を検出する不図示のX軸位置検出ユニット、加工ユニット30のY軸方向の位置を検出する不図示のY軸位置検出ユニット及び加工ユニット30のZ軸方向の位置を検出するZ軸位置検出ユニットが設けられている。X軸位置検出ユニット、Y軸位置検出ユニット及びZ軸位置検出ユニットは、それぞれ検出した位置を制御ユニット60に出力する。X軸位置検出ユニット、Y軸位置検出ユニット及びZ軸位置検出ユニットは、それぞれ、X軸方向、Y軸方向またはZ軸方向と平行なリニアスケールと、それぞれX軸移動ユニット41、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43によりX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向に移動自在に設けられリニアスケールの目盛を読み取る読み取りヘッドと、により構成することができる。なお、X軸位置検出ユニット、Y軸位置検出ユニット及びZ軸位置検出ユニットは、本発明ではリニアスケールと読み取りヘッドとを有する構成に限定されず、それぞれ、X軸位置検出ユニット、Y軸位置検出ユニット及びZ軸位置検出ユニットのモータに設置されるエンコーダであっても良い。
加工装置1は、X軸移動ユニット41、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43により切削ブレード31をチャックテーブル10に保持された被加工物100に対して所定の位置にセットし、切削ブレード31を回転させながら分割予定ライン102に沿って相対的に移動させることにより、切削ブレード31で被加工物100を分割予定ライン102に沿って切削加工して、分割予定ライン102に沿った加工痕(切削溝)を形成することができる。
カメラ50は、チャックテーブル10に保持された被加工物100の分割予定ライン102や外周縁105、加工ユニット30により被加工物100に形成された加工痕等を撮像する撮像素子を備えている。撮像素子は、例えば、CCD(Charge-Coupled Device)撮像素子又はCMOS(Complementary MOS)撮像素子である。カメラ50は、実施形態1では、加工ユニット30と一体的に移動するように、加工ユニット30に固定されている。
カメラ50は、チャックテーブル10に保持された切削加工前の被加工物100を撮影して、被加工物100と加工ユニット30(切削ブレード31)との位置合わせを行なうアライメントを遂行するため等の画像を得、得た画像を制御ユニット60に出力する。また、カメラ50は、チャックテーブル10に保持された切削加工後の被加工物100を撮影して、加工痕が分割予定ライン102の中に収まっているか、大きな欠けなどが発生していないかを自動的に確認する、いわゆるカーフチェックを遂行するため等の画像を得、得た画像を制御ユニット60に出力する。
カメラ50は、図2及び図3に示すように、スピンドル22の軸方向に、環状の目印部15と、チャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105との間の径方向の距離よりも長い撮影視野51を有する。このため、カメラ50は、環状の目印部15と、チャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105とを1つの撮影視野51内に収めて撮影でき、これにより、環状の目印部15と、チャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105とを含む画像を取得できる。
制御ユニット60は、加工装置1の各構成要素の動作を制御して、加工ユニット30による加工処理や、カメラ50を使用したアライメント、カーフチェック、及び、被加工物100のチャックテーブル10上の位置である位置情報を検出する処理等を加工装置1に実施させる。制御ユニット60は、実施形態1では、コンピュータシステムを含む。制御ユニット60が含むコンピュータシステムは、CPU(Central Processing Unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(Read Only Memory)又はRAM(Random Access Memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インターフェース装置とを有する。制御ユニット60の演算処理装置は、制御ユニット60の記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施して、加工装置1を制御するための制御信号を、加工装置1の入出力インターフェース装置を介して加工装置1の各構成要素に出力する。
加工装置1は、図1に示すように、さらに、カセット載置部71と、洗浄ユニット72と、不図示の搬送ユニットと、を備える。カセット載置部71は、複数の被加工物100を収容するための収容器であるカセット75を載置する載置台であり、載置されたカセット75をZ軸方向に昇降させる。洗浄ユニット72は、加工ユニット30による加工後の被加工物100を洗浄し、被加工物100に付着した加工屑等の異物を除去する。不図示の搬送ユニットは、加工前の被加工物100をカセット75内からチャックテーブル10上に搬送し、加工後の被加工物100をチャックテーブル10上から洗浄ユニット72に搬送し、洗浄後の被加工物100を洗浄ユニット72からカセット75内に搬送する。
次に、本明細書は、実施形態1に係る加工装置1の動作処理の一例を説明する。図4は、図1の加工装置1の動作処理の一例を説明する上面図である。図5は、図1の加工装置1が図4の動作処理で取得する画像211の一例を示す図である。図6は、図1の加工装置1が図4の動作処理で取得する画像212の一例を示す図である。図7は、図1の加工装置1によるエッジトリミングを示す断面図である。
加工装置1の制御ユニット60は、移動ユニット40によりカメラ50を移動させて、図4に示すように、カメラ50の撮影視野51を、チャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105及び環状の目印部15を含む領域201に位置付ける。制御ユニット60は、移動ユニット40の各軸方向の位置検出ユニットで、このときのチャックテーブル10に対するカメラ50の撮影視野51の中心の座標(カメラ座標)を検出する。なお、制御ユニット60は、チャックテーブル10の保持面13上の回転中心16を原点とし、チャックテーブル10の回転に依らず加工装置1内で固定の装置直交座標系(XY座標系)でカメラ座標を検出する。加工装置1の制御ユニット60は、図4に示す実施形態1の例では、チャックテーブル10におけるスピンドル32の基端側(+Y方向側)の領域に、カメラ50の撮影視野51を位置付けているため、カメラ座標のY座標が実質的にチャックテーブル10の回転中心16からの距離を示している。
制御ユニット60は、撮影視野51を領域201に位置付けたカメラ50で、チャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105及び環状の目印部15を撮影して、図5に示す画像211を取得する。画像211は、図5に示すように、被加工物100とチャックテーブル10の枠体12の上面14とが異なる輝度で撮影される。制御ユニット60は、画像211と画像211を撮影したときのカメラ座標とに基づいて、図5に示すように、画像211の横方向中央において、被加工物100の外周縁105の座標(外周縁座標311)及び環状の目印部15の座標(目印部座標301)を装置直交座標系で検出する。
制御ユニット60は、画像211について、目印部座標301に基づいて、環状の目印部15の所定のパラメータである径方向の位置(距離)19を算出し、これに基づいて、チャックテーブル10の方向である所定の基準方向17からの角度18を算出する。制御ユニット60は、算出したこの角度18と、外周縁座標311とを紐づける。これにより、外周縁座標311は、回転中心16からの距離と、所定の基準方向17からの角度18とで表される。すなわち、外周縁座標311は、実質的に、チャックテーブル10の保持面13上の回転中心16を原点とし、所定の基準方向17を角度の基準とし、チャックテーブル10の回転とともに回転するテーブル円座標系(rθ座標系)に変換される。
制御ユニット60は、画像211の撮影後、回転ユニット20によりチャックテーブル10を回転軸21で回転させて、カメラ50の撮影視野51を、チャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105及び環状の目印部15を含む領域201とは異なる領域202(図4参照)に位置付ける。制御ユニット60は、撮影視野51を領域202に位置付けたカメラ50で、チャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105及び環状の目印部15を撮影して、図6に示す画像212を取得する。制御ユニット60は、画像212と画像211撮影時から変化していないカメラ座標とに基づいて、図6に示すように、被加工物100の外周縁105の座標(外周縁座標312)及び環状の目印部15の座標(目印部座標302)を検出する。制御ユニット60は、画像212についても、画像211と同様の処理をして、目印部座標302に基づいて所定の基準方向17からの角度18を算出し、算出したこの角度18と外周縁座標312とを紐づける。
制御ユニット60は、画像211,212の撮影後、さらに、回転ユニット20によりチャックテーブル10を回転軸21で回転させてカメラ50の撮影視野51を領域201,202とは異なる別の領域に位置付けて撮影して、画像211,212とは別の画像を取得し、この別の画像について画像211,212と同様の処理をして、外周縁座標及び目印部座標を検出し、この目印部座標に基づいて所定の基準方向17からの角度18を算出し、算出したこの角度18とこの外周縁座標とを紐づける。このように、制御ユニット60は、少なくとも3箇所以上の領域について、チャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105及び環状の目印部15を撮影して、検出した目印部座標に基づいて算出した所定の基準方向17からの角度18と、検出した外周縁座標とを紐づける処理を実行する。
制御ユニット60は、少なくとも3箇所以上の領域で撮影した画像に基づいて検出した各角度18と紐付けられた各外周縁座標に基づいて、被加工物100の位置情報を算出する。ここで、被加工物100の位置情報は、テーブル座標系でのチャックテーブル10に保持された被加工物100の中心106の座標、及び、テーブル座標系での被加工物100の外周縁105の位置である。制御ユニット60は、このように、カメラ50で撮影した画像を用いて、チャックテーブル10に保持された被加工物100の位置情報を検出する。
制御ユニット60は、被加工物100の位置情報を検出後、図7に示すように、切削ブレード31をチャックテーブル10に保持された被加工物100のデバイス103が形成されていない外周縁105にセットし、回転する切削ブレード31を被加工物100の外周縁105に表面101側から所定の切削深さに切り込ませた状態で、回転ユニット20により被加工物100を保持するチャックテーブル10を回転軸21回りに回転させ、被加工物100の外周縁105の全周を環状に切削して面取りする所謂エッジトリミングを実施する。
制御ユニット60は、図7に示す例では、チャックテーブル10におけるスピンドル32の基端側(+Y方向側)の領域で、回転する切削ブレード31を被加工物100の外周縁105に切り込ませる。制御ユニット60は、エッジトリミングを実施する際、先に検出した被加工物100の位置情報に基づいて、回転ユニット20と加工ユニット30とを制御し、移動ユニット40を制御してチャックテーブル10の回転中にチャックテーブル10と加工ユニット30との位置関係を制御する。
具体的には、制御ユニット60は、エッジトリミングを実施する際、まず、回転ユニット20のモータのエンコーダの信号を取得することにより、被加工物100の外周縁105に切削ブレード31を切り込ませている位置のチャックテーブル10の向き(角度)の情報を取得する。そして、制御ユニット60は、チャックテーブル10の向き(角度)と被加工物100の位置情報であるテーブル座標系での被加工物100の外周縁105の位置とに基づいて、移動ユニット40のY軸移動ユニット42により、切削ブレード31を切り込ませている位置における被加工物100の外周縁105の位置に合わせて、切削ブレード31を切り込ませる位置をスピンドル32の軸方向に調整する。制御ユニット60は、実施形態1の例では、切削ブレード31を切り込ませている位置のチャックテーブル10の向き(角度)において被加工物100の外周縁105が外周側に膨らむ場合には、Y軸移動ユニット42により切削ブレード31をスピンドル32の基端側(+Y方向側)に移動させ、被加工物100の外周縁105が内周側にしぼむ場合には、Y軸移動ユニット42により切削ブレード31をスピンドル32の先端側(-Y方向側)に移動させる。
なお、実施形態1のように加工装置1がフェイシングデュアルタイプの切削装置である場合、制御ユニット60は、回転ユニット20のモータのエンコーダの信号を取得することに代えて、切削ブレード31を切り込ませている側とは別の加工ユニット30に固定されたカメラ50を用いて、切削ブレード31を切り込ませている側とは反対側の環状の目印部15を撮影することにより、被加工物100の外周縁105に切削ブレード31を切り込ませている位置のチャックテーブル10の向き(角度)の情報を取得してもよい。
以上のような構成を有する実施形態1に係るチャックテーブル10及び加工装置1は、チャックテーブル10の向き(所定の基準方向17からの角度18)を示す環状の目印部15が、チャックテーブル10に保持された被加工物100の外周で露出する領域に設けられている。このため、実施形態1に係るチャックテーブル10及び加工装置1は、被加工物100の外周縁105と環状の目印部15とを撮影することにより、被加工物100の外周縁105の位置だけでなくチャックテーブル10の向きも合わせて検出できるので、従来のように被加工物の外周縁の位置を検出する際に回転ユニットのモータのエンコーダの信号からチャックテーブルの向きを割り出す必要がなくなり、これにより、チャックテーブル10の向きが誤った角度で算出される恐れを抑制できるという作用効果を奏する。また、このため、実施形態1に係るチャックテーブル10及び加工装置1は、チャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105の位置を従来よりも正確に検出できるという作用効果を奏する。
また、実施形態1に係るチャックテーブル10及び加工装置1は、カメラ50を用いて撮影する静止画像に、所定の基準方向17を基準としたチャックテーブル10の向きの情報を含む環状の目印部15が含まれるため、従来のようにチャックテーブルの回転開始時のチャックテーブルの向きを基準に回転ユニットのエンコーダからの信号に基づいて画像撮影時のチャックテーブルの向きを割り出す処理をする必要がなくなり、また、検出したチャックテーブル10の向きが被加工物100の外周縁105を検出するタイミングとずれてしまう恐れも抑制できる。
また、実施形態1に係るチャックテーブル10及び加工装置1は、環状の目印部15が渦巻き状に形成されているので、環状の目印部15の回転中心16からの径方向の位置(距離)19を検出することにより、チャックテーブル10の向きを確実に検出できる。また、チャックテーブル10及び加工装置1は、環状の目印部15が線の太さが所定の基準方向17からの角度18によって変化するものであってもよく、この場合、環状の目印部15の線の太さを検出することにより、チャックテーブル10の向きを検出できる。
また、実施形態1に係る加工装置1は、制御ユニット60が、カメラ50で撮影した画像を用いて検出した被加工物100の位置情報に基づいて加工ユニット30と回転ユニット20を制御し被加工物100を加工するため、被加工物100の外周縁105や中心106のチャックテーブル10上の位置に合わせて正確に加工できる。
〔実施形態2〕
本発明の実施形態2に係る加工装置1-2を図面に基づいて説明する。図8は、実施形態2に係る加工装置1-2の構成例を示す斜視図である。図8は、実施形態1と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
本発明の実施形態2に係る加工装置1-2を図面に基づいて説明する。図8は、実施形態2に係る加工装置1-2の構成例を示す斜視図である。図8は、実施形態1と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
実施形態2に係る加工装置1-2は、図8に示すように、実施形態1に係る加工装置1において、加工ユニット30を加工ユニット30-2に変更し、この変更に伴いその他の各構成要素の配置及び機能を変更したものである。実施形態2では、チャックテーブル10は、枠体12の上面14に、実施形態1と同様の環状の目印部15を備える。
加工ユニット30-2は、実施形態2では、図8に示すように、チャックテーブル10に保持された被加工物100にレーザー光線を照射して、レーザー光線により被加工物100をレーザー加工するレーザー加工ユニットである。加工ユニット30-2は、被加工物100に対して吸収性を有する波長のレーザー光線を照射して、このレーザー光線により被加工物100をアブレーション(昇華もしくは蒸発)させるいわゆるアブレーション加工を実施して加工痕(レーザー加工溝)を形成したり、被加工物100に対して透過性を有する波長のレーザー光線を照射して、このレーザー光線により被加工物100の内部に破断起点である改質層を形成したりする。
チャックテーブル10及び回転ユニット20は、実施形態2では、保持面13を上方に向けて、X軸移動ユニット41及びY軸移動ユニット42の上方に、X軸移動ユニット41及びY軸移動ユニット42によりそれぞれX軸方向及びY軸方向に移動可能に設けられている。加工ユニット30-2は、実施形態2では、加工装置1-2内で固定して設けられている。移動ユニット40は、実施形態2では、Z軸移動ユニット43が省略されている。
次に、本明細書は、実施形態2に係る加工装置1-2の動作処理の一例を説明する。加工装置1-2の制御ユニット60は、実施形態1に係る加工装置1と同様にして、カメラ50で少なくとも3箇所以上の領域でチャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105及び環状の目印部15を撮影し、カメラ50で撮影したこれらの画像を用いて、チャックテーブル10に保持された被加工物100の位置情報を検出する。
実施形態2では、制御ユニット60は、移動ユニット40により加工ユニット30-2をチャックテーブル10に保持された被加工物100に対して所定の位置にセットし、加工ユニット30-2によりレーザー光線を照射しながら、移動ユニット40によりチャックテーブル10に保持された被加工物100を加工ユニット30-2に対して相対的に分割予定ライン102に沿って移動させることにより、レーザー光線で被加工物100を分割予定ライン102に沿ってレーザー加工する。実施形態2では、制御ユニット60は、レーザー加工を実施する際、先に検出した被加工物100の位置情報に基づいて、加工ユニット30-2と移動ユニット40とを制御して、加工ユニット30-2から照射するレーザー光線が被加工物100の外周縁105よりも外周側に超えてしまわないように、すなわちレーザー光線が被加工物100をオーバーランしないように、チャックテーブル10に配置された被加工物100と加工ユニット30-2との位置関係を制御するいわゆるエッジアライメントを実施する。
以上のような構成を有する実施形態2に係る加工装置1-2は、実施形態1において、切削ユニットである加工ユニット30に代えて、レーザー光線を照射するレーザー加工ユニットである加工ユニット30-2に変更し、制御ユニット60が、エッジトリミングを実施する際にチャックテーブル10と加工ユニット30との位置関係を制御することに代えて、レーザー加工を実施する際にチャックテーブル10に配置された被加工物100と加工ユニット30-2との位置関係を制御するエッジアライメントを実施するように変更したものであるので、実施形態1と同様の作用効果を奏するものとなる。
〔実施形態3〕
本発明の実施形態3に係る加工装置1-3を図面に基づいて説明する。図9は、実施形態3に係る加工装置1-3の構成例を示す斜視図である。図9は、実施形態1及び実施形態2と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
本発明の実施形態3に係る加工装置1-3を図面に基づいて説明する。図9は、実施形態3に係る加工装置1-3の構成例を示す斜視図である。図9は、実施形態1及び実施形態2と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
実施形態3に係る加工装置1-3は、図9に示すように、実施形態1に係る加工装置1において、加工ユニット30を加工ユニット30-3に変更し、この変更に伴いその他の各構成要素の配置及び機能を変更したものである。実施形態3では、チャックテーブル10は、枠体12の上面14に、実施形態1及び実施形態2と同様の環状の目印部15を備える。
加工ユニット30-3は、図9に示すように、先端に研削ホイール31-3が装着されるスピンドル32-3を備える研削ユニットである。スピンドル32-3の先端に装着された研削ホイール31-3は、スピンドル32-3の回転動作により、Z軸方向と平行な軸心周りの回転動作が加えられて、チャックテーブル10に保持された被加工物100を研削加工する。
カメラ50は、実施形態3では、搬出入位置90の上方に、搬出入位置90に向けて設けられている。カメラ50は、撮影視野51が、搬出入位置90に位置付けられたチャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105、及び、搬出入位置90に位置付けられたチャックテーブル10の環状の目印部15を含むように設けられている。
加工装置1-3は、図9に示すように、さらに、位置合わせユニット83と、搬入ユニット84と、搬出ユニット85と、洗浄ユニット86と、搬出入ユニット87と、を備える。位置合わせユニット83は、カセット75から取り出された被加工物100が仮置きされて、その中心位置合わせを行うためのテーブルである。搬入ユニット84は、吸着パッドを有し、位置合わせユニット83で位置合わせされた研削処理前の被加工物100を吸着保持して、搬出入位置90に位置付けられたチャックテーブル10上に搬入する。搬出ユニット85は、搬出入位置90に位置付けられたチャックテーブル10上に保持された研削処理後の被加工物100を吸着保持して洗浄ユニット86に搬出する。洗浄ユニット86は、研削処理後の被加工物100を洗浄し、研削された加工面に付着している研削屑等のコンタミネーションを除去する。搬出入ユニット87は、例えば円形型ハンドを備えるロボットピックであり、円形型ハンドによって被加工物100を吸着保持して被加工物100を搬送する。搬出入ユニット87は、研削処理前の被加工物100をカセット75から位置合わせユニット83へ搬出するとともに、研削処理後の被加工物100を洗浄ユニット86からカセット75へ搬入する。
次に、本明細書は、実施形態3に係る加工装置1-3の動作処理の一例を説明する。加工装置1-3の制御ユニット60は、被加工物100を保持するチャックテーブル10が搬出入位置90に位置付けられている際に、実施形態1及び実施形態2と同様にして、カメラ50で少なくとも3箇所以上の領域でチャックテーブル10に保持された被加工物100の外周縁105及び環状の目印部15を撮影し、カメラ50で撮影したこれらの画像を用いて、チャックテーブル10に保持された被加工物100の位置情報を検出する。
実施形態3では、制御ユニット60は、移動ユニット40によりスピンドル32-3の先端に装着された研削ホイール31-3をチャックテーブル10に保持された被加工物100に対して所定の位置にセットし、研削ホイール31-3を回転させながら、チャックテーブル10の回転に伴い回転する被加工物100の裏面104に、研削送り方向(鉛直方向と平行なZ軸方向)に沿って押圧することによって、研削ホイール31-3で被加工物100の裏面104を研削加工する。実施形態3では、制御ユニット60は、研削加工を実施する際、先に検出した被加工物100の位置情報に基づいて実施形態2と同様のエッジアライメントを実施して、デバイス103が形成された領域を研削して円形の凹部を形成するとともに、デバイス103が形成されていない外周縁105の領域に環状の凸部を形成する所謂TAIKO(登録商標)研削を実施する。
以上のような構成を有する実施形態3に係る加工装置1-3は、実施形態1において、切削ユニットである加工ユニット30に代えて、研削ホイール31-3で研削する研削ユニットである加工ユニット30-3に変更し、制御ユニット60が、エッジトリミングを実施する際にチャックテーブル10と加工ユニット30との位置関係を制御することに代えて、実施形態2と同様のエッジアライメントを実施するように変更したものであるので、実施形態1及び実施形態2と同様の作用効果を奏するものとなる。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。例えば、目印部が形成されたチャックテーブルは、ポーラスチャックテーブルに限らず、被加工物を吸引する吸引孔が保持面に開口していれば良い。また、被加工物と目印部を撮影する際、チャックテーブルを回転させながらカメラで動画を撮影し、動画データの中から静止画になる画像(フレーム)を選択して、被加工物の外周縁と目印部の座標の検出に用いても良い。
1,1-2,1-3 加工装置
10 チャックテーブル
11 保持部
12 枠体
15 目印部
20 回転ユニット
30,30-2,30-3 加工ユニット
50 カメラ
60 制御ユニット
100 被加工物
105 外周縁
10 チャックテーブル
11 保持部
12 枠体
15 目印部
20 回転ユニット
30,30-2,30-3 加工ユニット
50 カメラ
60 制御ユニット
100 被加工物
105 外周縁
Claims (4)
- 被加工物を保持するチャックテーブルであって、
被加工物を保持する保持部と、
被加工物を囲繞し、連続的に変化する環状の目印部を備えた枠体から構成され、
該目印部により該チャックテーブルの角度がわかる事を特徴とするチャックテーブル。 - 該目印部は、渦巻き状に形成されていることを特徴とする請求項1に記載のチャックテーブル。
- 該目印部は、線の太さが角度によって変化することを特徴とする請求項1に記載のチャックテーブル。
- 被加工物を保持面で保持する請求項1、2又は3に記載のチャックテーブルと、
該チャックテーブルの該保持面と垂直な回転軸で該チャックテーブルを回転させる回転ユニットと、
該チャックテーブルに保持された被加工物を加工する加工ユニットと、
該チャックテーブルに保持された被加工物及び該チャックテーブルの該目印部を撮影するカメラと、
該カメラで撮影した画像を用いて検出した該被加工物の位置情報に基づいて該加工ユニットと該回転ユニットを制御し被加工物を加工する制御ユニットと、
を備える加工装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021160973A JP2023050718A (ja) | 2021-09-30 | 2021-09-30 | チャックテーブル及び加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021160973A JP2023050718A (ja) | 2021-09-30 | 2021-09-30 | チャックテーブル及び加工装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023050718A true JP2023050718A (ja) | 2023-04-11 |
Family
ID=85805627
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021160973A Pending JP2023050718A (ja) | 2021-09-30 | 2021-09-30 | チャックテーブル及び加工装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2023050718A (ja) |
-
2021
- 2021-09-30 JP JP2021160973A patent/JP2023050718A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102505700B1 (ko) | 웨이퍼의 가공 방법 | |
JP6994852B2 (ja) | レーザー加工装置及びレーザー加工方法 | |
JP5065637B2 (ja) | ウエーハの加工方法 | |
TWI809228B (zh) | 切割裝置及使用切割裝置的晶圓加工方法 | |
TWI751354B (zh) | 切割裝置及晶圓的加工方法 | |
JP2009054904A (ja) | 切削方法および切削装置 | |
JP7193956B2 (ja) | ウェーハの加工方法 | |
KR20180061011A (ko) | 웨이퍼의 가공 방법 | |
JP2018078145A (ja) | 切削装置 | |
JP2021111642A (ja) | 加工装置 | |
CN110634736A (zh) | 被加工物的加工方法 | |
TW202027911A (zh) | 被加工物的切割方法 | |
TW202002054A (zh) | 晶圓的加工方法及磨削裝置 | |
JP6415349B2 (ja) | ウェーハの位置合わせ方法 | |
JP2021174896A (ja) | 加工方法及び保持テーブル | |
JP2018006520A (ja) | ウェーハの加工方法 | |
JP2015159136A (ja) | Cspウエーハの加工方法 | |
JP2009302369A (ja) | 板状物の加工方法及び加工装置 | |
JP2018049914A (ja) | ウエーハの分割方法 | |
JP2023050718A (ja) | チャックテーブル及び加工装置 | |
JP2005085972A (ja) | 切削装置におけるアライメント方法 | |
JP6890495B2 (ja) | ウェーハの加工方法 | |
JP2021030319A (ja) | ウェーハの加工方法及び切削装置 | |
CN110707017A (zh) | 被加工物的干燥方法和切削装置 | |
JP6422804B2 (ja) | ウエーハの加工方法 |