JP2023031124A - Ｘ線検査システム、ｘ線検査方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】Ｘ線による非破壊検査を行う際に、画像での診断とともに、Ｘ線の検出結果を数値的に評価できるＸ線検査システムを提供する。【解決手段】検査対象物を透過したＸ線を受像するＸ線受像装置と、前記Ｘ線受像装置が受像したデータを処理する処理装置と、を備え、前記処理装置は、前記Ｘ線受像装置で検出された二次元測定データをディスプレイで表示する表示画像に変換する表示画像生成部と、前記ディスプレイに表示された前記表示画像の上の第１入力点と第２入力点の入力を受け付ける画面入力部と、前記第１入力点と前記第２入力点との間に相当する前記二次元測定データのプロファイル表示画像を作成するプロファイル作成部と、前記プロファイル表示画像を前記ディスプレイに表示するプロファイル表示部と、を備えるＸ線検査システム。【選択図】図１

Description

本開示は、Ｘ線検査システム、Ｘ線検査方法及びプログラムに関する。

Ｘ線を透過した画像を用いてパイプの溶接部分の欠陥を非破壊で検査する方法が知られている（例えば、特許文献１）。

特開２０１４－１０２２０２号公報

例えば、画像によりパイプの溶接部分の欠陥の有無を判断することはできる。しかしながら、パイプの溶接部分の欠陥をより詳細に診断するためには、Ｘ線の具体的な透過量を数値的に評価することが求められる。

本開示は、Ｘ線による非破壊検査を行う際に、画像での診断とともに、Ｘ線の検出結果を数値的に評価できるＸ線検査システムを提供することを目的とする。

本開示の一の態様によれば、検査対象物を透過したＸ線を受像するＸ線受像装置と、前記Ｘ線受像装置が受像したデータを処理する処理装置と、を備え、前記処理装置は、前記Ｘ線受像装置で検出された二次元測定データをディスプレイで表示する表示画像に変換する表示画像生成部と、前記ディスプレイに表示された前記表示画像の上の第１入力点と第２入力点の入力を受け付ける画面入力部と、前記第１入力点と前記第２入力点との間に相当する前記二次元測定データのプロファイル表示画像を作成するプロファイル作成部と、前記プロファイル表示画像を前記ディスプレイに表示するプロファイル表示部と、を備えるＸ線検査システムを提供する。

本開示のＸ線検査システムによれば、Ｘ線による非破壊検査を行う際に、画像での診断とともに、Ｘ線の検出結果を数値的に評価できる。

図１は、本実施形態に係るＸ線検査システムの全体構成を示す図である。 図２は、本実施形態に係るＸ線検査システムのハードウェア構成を示す図である。 図３は、本実施形態に係るＸ線検査システムの処理装置の機能構成を示す図である。 図４は、本実施形態に係るＸ線検査システムの処理について説明するフロー図である。 図５は、本実施形態に係るＸ線検査システムの画面表示の例について説明する図である。 図６は、本実施形態に係るＸ線検査システムの画面表示の例について説明する図である。

以下、本発明の各実施形態について、添付の図面を参照しながら説明する。なお、各実施形態に係る明細書及び図面の記載に関して、実質的に同一の又は対応する機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重畳した説明を省略する場合がある。また、理解を容易にするために、図面における各部の縮尺は、実際とは異なる場合がある。

＜＜Ｘ線検査システム１＞＞
図１は、本実施形態に係るＸ線検査システム１の全体構成を示す図である。図２は、本実施形態に係るＸ線検査システム１のハードウェア構成を示す図である。Ｘ線検査システム１は、台Ｔａに載置された検査対象物ＴＧにＸ線を照射して、検査対象物ＴＧの内部の構造を検査するシステムである。

Ｘ線検査システム１は、Ｘ線照射装置１０と、Ｘ線受像装置２０と、処理装置３０と、を備える。Ｘ線照射装置１０及びＸ線受像装置２０のそれぞれは、地面Ｇに配置される。Ｘ線受像装置２０と処理装置３０とは、ケーブルＣ１により接続される。また、Ｘ線照射装置１０と処理装置３０とは、ケーブルＣ２により接続される。

［Ｘ線照射装置１０］
Ｘ線照射装置１０は、Ｘ線を発生させ、発生したＸ線を検査対象物ＴＧに照射する。Ｘ線照射装置１０は、例えば、Ｘ線の発生源としてＸ線管を備える。Ｘ線照射装置１０に用いられるＸ線管は、いわゆる、マイクロフォーカスＸ線管である。すなわち、Ｘ線照射装置１０に用いられるＸ線管の焦点サイズは、数１００マイクロメートル程度である。

Ｘ線照射装置１０は、照射するＸ線照射出力及びＸ線照射時間を設定可能となっている。なお、Ｘ線照射装置１０は、Ｘ線照射出力とＸ線照射時間を変更できる単一のＸ線源を備えてもよいし、Ｘ線照射出力とＸ線照射時間が異なる複数のＸ線源を備えてもよい。

Ｘ線照射装置１０は、Ｘ線受像装置２０に向けて照射する。具体的には、Ｘ線検査システム１の操作者は、Ｘ線照射装置１０がＸ線受像装置２０に向けて照射するように、Ｘ線照射装置１０の向きを調整する。Ｘ線検査システム１の操作者は、Ｘ線照射装置１０から照射させるＸ線の照射範囲ＲＡにＸ線受像装置２０が入るように、Ｘ線照射装置１０の向きを調整する。

［Ｘ線受像装置２０］
Ｘ線受像装置２０は、Ｘ線照射装置１０から照射されたＸ線を検出する。Ｘ線受像装置２０は、検査対象物ＴＧを透過したＸ線を検出する。Ｘ線受像装置２０は、平面視略矩形をなすパネル状である。Ｘ線受像装置２０は、いわゆる、フラットパネル検出器（ＦＰＤ（Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ））である。Ｘ線受像装置２０は、Ｘ線照射装置１０の側の面にＸ線受像面２１を有する。

Ｘ線受像装置２０は、Ｘ線受像面２１から順に並んで、Ｘ線変換部と、受像部と、を備える。

Ｘ線変換部は、Ｘ線受像面２１から入射したＸ線を蛍光に変換する。Ｘ線変換部は、Ｘ線により励起されて蛍光を発するシンチレータを備える。シンチレータは、例えば、タリウム活性化ヨウ化セシウム又はナトリウム活性化ヨウ化セシウム等を含む。Ｘ線変換部で変換された蛍光は、受像部に入射する。

受像部は、Ｘ線変換部で変換した蛍光を受光して電気信号に変換する。受像部は、例えば、縦方向に４０００行及び横方向に４０００列の整列された１６００万個の画素を備える。各画素は、フォトダイオードと、当該フォトダイオードに接続して、当該フォトダイオードで変換した電気信号を読み出す薄膜トランジスタと、を備える。

後述する処理装置３０は、Ｘ線受像装置２０の受像部で変換された電気信号を、薄膜トランジスタを通して読み出すことにより、二次元のＸ線測定データを作成する。

二次元のＸ線測定データは、縦方向及び横方向のそれぞれの座標における、受像部から読み出したカウント値により形成する。

［処理装置３０］
（ハードウェア構成）
処理装置３０は、Ｘ線照射装置１０及びＸ線受像装置２０を制御する。また、処理装置３０は、Ｘ線受像装置２０が受像した二次元Ｘ線測定データを処理する。処理装置３０は、例えば、台Ｔｂの上に載置される。

処理装置３０は、いわゆる、パーソナルコンピュータ等のコンピュータである。処理装置３０のハードウェアについて、図２を用いて説明する。処理装置３０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）３１と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）３２と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）３３と、を備える。また、処理装置３０は、記憶制御回路３４と、外部制御回路３５と、表示制御回路３６と、を備える。ＣＰＵ３１、ＲＡＭ３２、ＲＯＭ３３、記憶制御回路３４、外部制御回路３５及び表示制御回路３６は、それぞれバスＢ１により互いに接続される。

ＣＰＵ３１は、ＲＯＭ３３又は記録媒体３４ｍ等の記憶装置からプログラム（アプリケーション）をＲＡＭ３２上に読み出し、処理を実行する演算装置である。

ＲＡＭ３２はプログラム（アプリケーション）等を一時保持する揮発性の半導体メモリ（記憶装置）である。

ＲＯＭ３３は、電源を切ってもプログラム（アプリケーション）及びデータ等を保持することができる不揮発性の半導体メモリ（記憶装置）である。ＲＯＭ３０には、起動時に実行されるＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕｔｐｕｔ Ｓｙｓｔｅｍ）などのプログラム、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）設定やネットワーク設定などの各種設定が格納されている。

記憶制御回路３４は、記録媒体３４ｍと接続するための制御を行う回路である。処理装置３０は、記憶制御回路３４を利用して記録媒体３４ｍの読み取り又は書き込みを行う。

記録媒体３４ｍは、例えば、ＳＤ（Ｓｅｃｕｒｅ Ｄｉｇｉｔａｌ）メモリカード、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）メモリ等のメモリカードでもよい。また、記録媒体３４ｍは、例えば、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ））、ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ））等でもよい。

記録媒体３４ｍには、例えば、処理装置３０が実行するプログラム（アプリケーション）、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）、設定パラメータ及び測定データ等が格納される。

なお、記録媒体３４ｍは、処理装置３０の外部に限らず、内部に備えてもよい。

外部制御回路３５は、外部機器と接続するための制御を行う回路である。処理装置３０は、外部制御回路３５を利用して外部機器との通信等を行う。外部制御回路３５には、Ｘ線照射装置１０、Ｘ線受像装置２０、マウス４１及びキーボード４２が接続される。

外部制御回路３５は、例えば、ＵＳＢ、Ｉ２Ｃ（Ｉｎｔｅｒ－Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）及びＳＰＩ（Ｓｅｒｉａｌ Ｐｅｒｉｐｈｅｒａｌ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）等のシリアルバスを制御する回路であってもよい。また、外部制御回路３５は、例えば、ＧＰＩＢ（Ｇｅｎｅｒａｌ Ｐｕｒｐｏｓｅ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ Ｂｕｓ）及びＰＣＩ（Ｐｅｒｉｐｈｅｒａｌ Ｃｏｍｐｏｎｅｎｔ Ｉｎｔｅｒｃｏｎｎｅｃｔ）等のパラレルバスを制御する回路であってもよい。

更に、外部制御回路３５は、Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ／Ｄｉｇｉｔａｌ）コンバータ及びＤ／Ａ（Ｄｉｇｉｔａｌ／Ａｎａｌｏｇ）コンバータの少なくともいずれか一方を備えてもよい。更にまた、外部制御回路３５は、電圧入出力又は接点入出力等によるデジタル入出力を備えてもよい。

処理装置３０は、外部制御回路３５により、Ｘ線照射装置１０と接続する。処理装置３０は、Ｘ線照射装置１０に対して、例えば、Ｘ線照射出力及びＸ線照射時間を設定する。また、処理装置３０は、Ｘ線照射装置１０に対して、例えば、Ｘ線の照射開始を指令する。

また、処理装置３０は、外部制御回路３５により、Ｘ線受像装置２０と接続する。処理装置３０は、Ｘ線受像装置２０から、例えば、二次元のＸ線測定データを受信する。

更に、処理装置３０は、外部制御回路３５により、マウス４１及びキーボード４２と接続する。処理装置３０は、マウス４１及びキーボード４２により入力を受け付ける。

表示制御回路３６は、外部の表示装置（例えば、ディスプレイ５０等。）と接続するための制御を行う回路である。処理装置３０は、表示制御回路３６を利用して外部の表示装置と接続する。外部制御回路３５には、ディスプレイ５０が接続される。

処理装置３０は、表示制御回路３６を介してディスプレイ５０に画像を表示させる。

本実施形態に係る処理装置３０は、上記に示したハードウェア構成においてプログラム（アプリケーション）を実行することにより後述するような各種処理を実現できる。

（機能構成）
図３は、本実施形態に係るＸ線検査システム１の処理装置３０の機能構成を示す図である。なお、図３に示す機能ブロックのそれぞれは、ＲＯＭ３３又は記録媒体３４ｍの少なくともいずれか一方に保存されるプログラム（アプリケーション）がＣＰＵ３１により実行されることにより実現される。

処理装置３０は、測定実行部３０ａ、データ保存部３０ｂ、表示画像生成部３０ｃ、データ画像表示部３０ｄ、画面入力部３０ｅ、座標変換部３０ｆ、プロファイル作成部３０ｇ及びプロファイル表示部３０ｈを含む。また、処理装置３０は、測定データ保存部３０ｍ及び表示データ保存部３０ｎを備える。

［測定実行部３０ａ］
測定実行部３０ａは、Ｘ線照射装置１０からＸ線を照射して、Ｘ線受像装置２０によりＸ線照射装置１０から照射されたＸ線を検出する処理をＸ線検査システム１が実行するように制御する。

具体的には、測定実行部３０ａは、外部制御回路３５を介して、Ｘ線照射装置１０に、Ｘ線の照射を開始するように、指令を送る。Ｘ線照射装置１０は、処理装置３０の測定実行部３０ａからの指令を受けて、Ｘ線を照射する。

また、測定実行部３０ａは、外部制御回路３５を介して、Ｘ線受像装置２０に、Ｘ線の検出を開始するように、指令を送る。Ｘ線受像装置２０は、処理装置３０の測定実行部３０ａからの指令を受けて、Ｘ線の検出を開始する。

［データ保存部３０ｂ］
データ保存部３０ｂは、Ｘ線受像装置２０から二次元のＸ線測定データを受信して、測定データ保存部３０ｍに保存する。Ｘ線受像装置２０は、縦方向に４０００列、横方向に４０００行のフォトダイオードが並ぶフラットパネル検出器である。したがって、Ｘ線受像装置２０で検出されるＸ線測定データは、４０００×４０００の二次元配列のデータである。なお、１画素のデータは、それぞれのフォトダイオードで検出されたＸ線のカウント値である。また、１画素のデータは、例えば、１６ビットのデータ長を有する。

データ保存部３０ｂは、Ｘ線受像装置２０から取得した二次元のＸ線測定データを受信する。そして、データ保存部３０ｂは、二次元のＸ線測定データを測定データ保存部３０ｍに保存する。

［表示画像生成部３０ｃ］
表示画像生成部３０ｃは、ディスプレイ５０に表示するための画像を生成する。表示画像生成部３０ｃは、最初に、二次元のＸ線測定データから、ディスプレイ５０で表示する画像（表示画像）と同じアスペクト比となるように、データを抽出する。例えば、二次元のＸ線測定データの一部を表示画像と同じアスペクト比になるように抽出してもよい。また、縦方向及び横方向のいずれか一方の方向で全測定データを抽出して、他方の方向でデータが不足する場合には、例えば、黒または白のデータを挿入し、データが余る場合はトリミングしてもよい。

次に、抽出したデータをリサイズする。すなわち、表示する画像と同じ縦方向及び横方向の画素数となるようにリサイズする。リサイズする際には、公知の補間法を用いてもよい。

更に、測定データを表示する画素値に変換する。変換する際には、例えば、コントラストの調整、ガンマ調整等を行ってもよい。

表示画像生成部３０ｃは、生成した表示画像を表示データ保存部３０ｎに保存する。

［データ画像表示部３０ｄ］
データ画像表示部３０ｄは、表示画像生成部３０ｃが生成した表示画像をディスプレイ５０に表示する。データ画像表示部３０ｄは、表示画像生成部３０ｃが生成した表示画像を表示データ保存部３０ｎから読み出す。そして、データ画像表示部３０ｄは、ディスプレイ５０に、表示画像を表示させる。

［画面入力部３０ｅ］
画面入力部３０ｅは、ディスプレイ５０に表示された表示画像において、表示画像のどの点を選択したか入力を受け付ける。例えば、本実施形態に係るＸ線検査システム１の操作者は、例えば、マウス４１又はキーボード４２を用いて、ディスプレイ５０に表示された表示画像において、プロファイルを表示させたい部分の２点を指し示す。

具体的には、Ｘ線検査システム１の操作者は、表示画像上で、プロファイルを表示させたい部分を示す第１入力座標及び第２入力座標を、マウス４１及びキーボード４２の少なくともいずれか一方を用いて入力する。

画面入力部３０ｅは、入力された第１入力座標及び第２入力座標を、座標変換部３０ｆに入力する。

［座標変換部３０ｆ］
座標変換部３０ｆは、画面入力部３０ｅから入力された表示画像上の座標から、二次元のＸ線測定データのどのデータ（どの位置）に対応するのか算出する。

座標変換部３０ｆは、画面入力部３０ｅから入力された第１入力座標を、対応する二次元のＸ線測定データの第１データ座標に変換する。また、座標変換部３０ｆは、画面入力部３０ｅから入力された第２入力座標を、対応する二次元のＸ線測定データの第２データ座標に変換する。

そして、座標変換部３０ｆは、変換した第１データ座標及び第２データ座標をプロファイル作成部に入力する。

［プロファイル作成部３０ｇ］
プロファイル作成部３０ｇは、座標変換部３０ｆにおいて算出された第１データ座標及び第２データ座標を用いて、第１データ座標と第２データ座標との間のプロファイルを作成する。具体的には、プロファイル作成部３０ｇは、第１入力点と第２入力点との間に相当する二次元測定データのプロファイル表示画像を作成する。

プロファイル作成部３０ｇは、第１データ座標の点と第２データ座標の点とを結ぶ直線における二次元のＸ線測定データ（二次元測定データ）を測定データ保存部３０ｍから取得する。なお、第１データ座標の点と第２データ座標の点とを結ぶ直線における二次元のＸ線測定データを取得する際には、公知の補間法等を用いる。そして、プロファイル作成部３０ｇは、横軸が第１データ座標の点と第２データ座標の点との間の位置、縦軸がＸ線測定データ（カウント値）であるグラフであるプロファイル表示画像を作成する。

プロファイル作成部３０ｇは、プロファイル表示画像をプロファイル表示部３０ｈに入力する。

［プロファイル表示部３０ｈ］
プロファイル表示部３０ｈは、プロファイル作成部３０ｇから入力されたグラフの画像をディスプレイ５０に表示させる。

プロファイル表示部３０ｈは、プロファイル作成部３０ｇが作成したグラフの画像をディスプレイ５０に表示する。プロファイル表示部３０ｈは、例えば、表示画像に重畳してグラフの画像を表示してもよいし、表示画像とは別の場所にグラフの画像を表示してもよい。

＜Ｘ線検査システム１の処理方法＞
次に、Ｘ線検査システム１を用いたＸ線検査方法の手順について説明する。図４は、本実施形態に係るＸ線検査システム１の処理について説明するフロー図である。

（ステップＳ１０）
最初に、Ｘ線検査システム１を使用する操作者は、Ｘ線検査システム１を使用するための準備作業を行う。具体的には、Ｘ線検査システム１を使用する操作者は、Ｘ線照射装置１０及びＸ線受像装置２０を、測定を行う場所に設置する。また、Ｘ線検査システム１を使用する操作者は、Ｘ線照射装置１０とＸ線受像装置２０との間に、検査対象物ＴＧを設置する。

Ｘ線検査システム１を使用する操作者は、Ｘ線照射装置１０とＸ線受像装置２０とが互いに向かい合うように設置する。Ｘ線検査システム１を使用する操作者は、必要に応じて、Ｘ線照射装置１０の向きを変えて、Ｘ線照射装置１０から照射されたＸ線が、Ｘ線受像装置２０で検出されるように調整する。

（ステップＳ２０）
次に、Ｘ線検査システム１を使用する操作者は、Ｘ線検査システム１を起動する。そして、例えば、操作者からの指示に基づいて、測定を開始する。処理装置３０は、Ｘ線照射装置１０からＸ線を照射して、Ｘ線受像装置２０によりＸ線照射装置１０から照射されたＸ線を検出する処理をＸ線検査システム１が実行するように制御する。具体的には、処理装置３０の測定実行部３０ａは、Ｘ線照射装置１０からＸ線を照射して、Ｘ線受像装置２０によりＸ線照射装置１０から照射されたＸ線を検出する処理をＸ線検査システム１が実行するように制御する。

（ステップＳ３０）
次に、処理装置３０は、Ｘ線受像装置２０から二次元のＸ線測定データを受信して、測定データ保存部３０ｍに保存する。具体的には、処理装置３０のデータ保存部３０ｂは、Ｘ線受像装置２０から二次元のＸ線測定データを受信して、受信したＸ線測定データを測定データ保存部３０ｍに保存する。

（ステップＳ４０）
次に、処理装置３０は、ディスプレイ５０に表示するための画像（表示画像）を生成する。具体的には、処理装置３０の表示画像生成部３０ｃは、ディスプレイ５０に表示するための画像（表示画像）を生成する。表示画像生成部３０ｃは、生成した表示画像を表示データ保存部３０ｎに保存する。

（ステップＳ５０）
次に、処理装置３０は、表示画像生成部３０ｃが生成した表示画像をディスプレイ５０に表示する。具体的には、処理装置３０のデータ画像表示部３０ｄは、表示画像生成部３０ｃが生成した表示画像を、表示データ保存部３０ｎから読み出す。データ画像表示部３０ｄは、表示データ保存部３０ｎから読み出した表示画像をディスプレイ５０に表示する。

（ステップＳ６０）
次に、処理装置３０は、ディスプレイ５０に表示された表示画像において、表示画像のどの点が選択されたか、すなわち、操作者が指し示した表示画像の座標を検出する。具体的には、処理装置３０の画面入力部３０ｅは、ディスプレイ５０に表示された表示画像において、表示画像のどの点が選択されたか、すなわち、操作者が指し示した表示画像の座標を検出する。より具体的には、画面入力部３０ｅは、操作者が指し示した第１入力座標及び第２入力座標を出力する。

（ステップＳ７０）
次に、処理装置３０は、画面入力部３０ｅから入力された表示画像上の座標（第１入力座標及び第２入力座標）から、二次元のＸ線測定データのどのデータ（どの位置）に対応するのか算出する。具体的には、処理装置３０の座標変換部３０ｆは、画面入力部３０ｅから入力された表示画像上の座標（第１入力座標及び第２入力座標）から、二次元のＸ線測定データのどの座標（第１データ座標及び第２データ座標）のデータに対応するのか算出する。

（ステップＳ８０）
次に、処理装置３０は、座標変換部３０ｆにおいて算出された第１データ座標及び第２データ座標を用いて、第１データ座標と第２データ座標との間のプロファイルを作成する。具体的には、処理装置３０のプロファイル作成部３０ｇは、第１データ座標と第２データ座標との間の座標におけるカウント値を第１データ座標から順に測定データ保存部３０ｍから読み出す。そして、プロファイル作成部３０ｇは、読み出したカウント値を、第１データ座標のデータから並べることによりプロファイル画像を作成する。

（ステップＳ９０）
次に、処理装置３０は、プロファイル作成部３０ｇから入力されたプロファイル画像をディスプレイ５０に表示させる。具体的には、処理装置３０のプロファイル表示部３０ｈは、プロファイル作成部３０ｇから入力されたプロファイル画像をディスプレイ５０に表示させる。

＜動作例＞
本実施形態に係るＸ線検査システム１を動作させた例について説明する。図５及び図６は、本実施形態に係るＸ線検査システム１の画面表示の例について説明する図である。

図５及び図６は、ディスプレイ５０の画面ＤＩＳＰに表示された画像を示す。

＜画面表示の例１＞
図５は、２本の配管を溶接した部分をＸ線検査システム１で検査した例を示す。２本の配管は、配管の円周方位に沿って溶接される。ウインドウＷ１には、表示画像生成部３０ｃが生成した表示画像ＤＩ１が表示される。

なお、表示画像ＤＩ１は、２本の配管の長手方向が表示画像ＤＩ１の横方向になるように配置して撮像した画像である。また、表示画像ＤＩ１は、溶接部分が表示画像ＤＩ１の縦方向になるように斜めから撮像した画像である。溶接部分を斜めから撮像していることから、表示画像ＤＩ１の左側の白い縦線の部分は、Ｘ線受像装置２０に近い側の溶接部分を示している。一方、表示画像ＤＩ１の右側の白い縦線の部分は、Ｘ線受像装置２０に遠い側の溶接部分を示している。

操作者は、表示画像ＤＩ１において、プロファイルを見たい部分を画面上で指示する。図５では、画面上の第１入力点ＣＰ１及び第２入力点ＣＰ２を指定する。第１入力点ＣＰ１及び第２入力点ＣＰ２を指定すると、第１入力点ＣＰ１と第２入力点ＣＰ２とをつなぐ線ＬＳが画面上に表示される。

なお、第１入力点ＣＰ１の座標が第１入力座標の一例、第２入力点ＣＰ２の座標が第２入力座標の一例、である。

表示画像ＤＩ１において、第１入力点ＣＰ１及び第２入力点ＣＰ２が入力されると、画面ＤＩＳＰ上にウインドウＷ２が表示される。ウインドウＷ２には、線ＬＳに対応するプロファイルのグラフＧＲ（プロファイル画像）が表示される。グラフＧＲの横軸は、第１入力点ＣＰ１から第２入力点ＣＰ２までの間の位置を示す。グラフＧＲの縦軸は、測定データのカウント値を示す。線ＬＰは、第１入力点ＣＰ１から第２入力点ＣＰ２までのプロファイルを示す。

表示画像ＤＩ１は、操作者が見やすいように、元の画像からコントラスト等が補正されている。したがって、例えば、表示画像ＤＩ１からプロファイルを作成しても、正しい測定値を表していない場合がある。

本実施形態に係るＸ線検査システム１は、表示画像ＤＩ１からではなく、測定データからプロファイルを作成するので、正しい測定値を表示することができる。また、例えば、傷の深さや配管の厚さを測定するのに、本実施形態に係るＸ線検査システム１は、正確な測定値（カウント値）を使って評価できる。

＜画面表示の例２＞
図６は、長手方向に溶接して作成した１本の配管の端部をＸ線検査システム１で検査した例を示す。ウインドウＷ３には、表示画像生成部３０ｃが生成した表示画像ＤＩ２が表示される。

なお、表示画像ＤＩ２は、配管の長手方向が表示画像ＤＩ２の縦方向になるように配置して撮像した画像である。また、表示画像ＤＩ２は、溶接部分がＸ線受像装置２０に近い側になるように配置して撮像した画像である。

操作者は、表示画像ＤＩ２において、プロファイルを見たい部分を画面上で指示する。図６では、画面上の第１入力点ＣＰ１及び第２入力点ＣＰ２を指定する。第１入力点ＣＰ１及び第２入力点ＣＰ２を指定すると、第１入力点ＣＰ１と第２入力点ＣＰ２とをつなぐ線ＬＳが画面上に表示される。

なお、第１入力点ＣＰ１の座標が第１入力座標の一例、第２入力点ＣＰ２の座標が第２入力座標の一例、である。

表示画像ＤＩ２において、第１入力点ＣＰ１及び第２入力点ＣＰ２が入力されると、画面ＤＩＳＰ上にウインドウＷ４が表示される。ウインドウＷ４には、線ＬＳに対応するプロファイルのグラフＧＲが表示される。グラフＧＲの横軸は、第１入力点ＣＰ１から第２入力点ＣＰ２までの間の位置を示す。グラフＧＲの縦軸は、測定データのカウント値を示す。線ＬＰは、第１入力点ＣＰ１から第２入力点ＣＰ２までのプロファイルを示す。

本実施形態に係るＸ線検査システム１は、表示画像ＤＩ２からではなく、測定データからプロファイルを作成するので、正しい測定値を表示することができる。また、例えば、傷の深さや配管の厚さを測定するのに、本実施形態に係るＸ線検査システム１は、正確な測定値（カウント値）を使って評価できる。

＜作用・効果＞
本実施形態に係るＸ線検査システムによれば、Ｘ線による非破壊検査を行う際に、画像での診断とともに、Ｘ線の検出結果を数値的に評価できる。

本実施形態に係るＸ線検査システム１は、表示画像で指し示した点に基づいて、測定データからプロファイルを作成するので、正しい測定値を表示することができる。また、例えば、傷の深さや配管の厚さを測定するのに、本実施形態に係るＸ線検査システム１は、正確な測定値（カウント値）を使って評価できる。

一方、例えば、表示画像からプロファイルを作成すると、表示画像は操作者が見やすいように、元の画像からコントラスト等が補正されてため、正しい測定値を表していない場合がある。本実施形態に係るＸ線検査システム１によれば、正確なプロファイルを表示できる。

＜変形例＞
本実施形態に係るＸ線検査システム１は、処理装置３０とディスプレイ５０が別体になっていたが、例えば、処理装置３０とディスプレイ５０が一体になっていてもよい。例えば、処理装置３０及びディスプレイ５０として、処理装置３０及びディスプレイ５０が一体になったノートパソコン及びタブレット端末のいずれかを用いてもよい。

また、本実施形態に係るＸ線検査システム１は、マウス４１及びキーボード４２によって入力を行っていたが、例えば、タッチパネルにより入力してもよい。特に、例えば、処理装置３０及びディスプレイ５０として、処理装置３０及びディスプレイ５０が一体になったタブレット端末を用いる場合は、タッチパネルにより入力してもよい。

なお、今回開示された実施形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。上記の実施形態は、添付の請求の範囲及びその主旨を逸脱することなく、様々な形態で省略、置換、変更されてもよい。

１ Ｘ線検査システム
１０ Ｘ線照射装置
２０ Ｘ線受像装置
３０ 処理装置
３０ａ 測定実行部
３０ｂ データ保存部
３０ｃ 表示画像生成部
３０ｄ データ画像表示部
３０ｅ 画面入力部
３０ｆ 座標変換部
３０ｇ プロファイル作成部
３０ｈ プロファイル表示部
３０ｍ 測定データ保存部
４１ マウス
４２ キーボード
５０ ディスプレイ
ＴＧ 検査対象物

Claims (10)

1. 検査対象物を透過したＸ線を受像するＸ線受像装置と、
   前記Ｘ線受像装置が受像したデータを処理する処理装置と、
   を備え、
   前記処理装置は、
   前記Ｘ線受像装置で検出された二次元測定データをディスプレイで表示する表示画像に変換する表示画像生成部と、
   前記ディスプレイに表示された前記表示画像の上の第１入力点と第２入力点の入力を受け付ける画面入力部と、
   前記第１入力点と前記第２入力点との間に相当する前記二次元測定データのプロファイル表示画像を作成するプロファイル作成部と、
   前記プロファイル表示画像を前記ディスプレイに表示するプロファイル表示部と、
   を備える、
   Ｘ線検査システム。
2. 前記処理装置は、前記第１入力点の前記表示画像における第１入力座標を前記二次元測定データにおける第１データ座標に変換し、前記第２入力点の前記表示画像における第２入力座標を前記二次元測定データにおける第２データ座標に変換する座標変換部を更に備える、
   請求項１に記載のＸ線検査システム。
3. 前記プロファイル作成部は、前記第１データ座標と前記第２データ座標との間の前記二次元測定データのデータを用いて前記プロファイル表示画像を作成する、
   請求項２に記載のＸ線検査システム。
4. 前記検査対象物に前記Ｘ線を照射するＸ線照射装置を更に備える、
   請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のＸ線検査システム。
5. 前記処理装置は、前記Ｘ線照射装置から前記Ｘ線を照射して、前記Ｘ線受像装置で前記Ｘ線を検出するように制御する測定実行部を更に備える、
   請求項４に記載のＸ線検査システム。
6. 前記処理装置は、前記二次元測定データを保存する測定データ保存部を更に備える、
   請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のＸ線検査システム。
7. 前記プロファイル作成部は、前記測定データ保存部に保存された前記二次元測定データを用いて前記プロファイル表示画像を作成する、
   請求項６に記載のＸ線検査システム。
8. 前記処理装置は、前記表示画像を保存する表示データ保存部を更に備える、
   請求項４から請求項７のいずれか一項に記載のＸ線検査システム。
9. 検査対象物を透過したＸ線を受像するＸ線受像装置と、
   前記Ｘ線受像装置が受像したデータを処理する処理装置と、
   を備えるＸ線検査システムを用いたＸ線検査方法であって、
   前記Ｘ線受像装置で検出された二次元測定データをディスプレイで表示する表示画像に変換する手順と、
   前記ディスプレイに表示された前記表示画像の上の第１入力点と第２入力点の入力を受け付ける手順と、
   前記第１入力点と前記第２入力点との間に相当する前記二次元測定データのプロファイル表示画像を作成する手順と、
   前記プロファイル表示画像を前記ディスプレイに表示する手順と、
   を含む、
   Ｘ線検査方法。
10. 検査対象物を透過したＸ線を受像するＸ線受像装置と、
    前記Ｘ線受像装置が受像したデータを処理する処理装置と、
    を備えるＸ線検査システムの前記処理装置に、
    前記Ｘ線受像装置で検出された二次元測定データをディスプレイで表示する表示画像に変換する機能と、
    前記ディスプレイに表示された前記表示画像の上の第１入力点と第２入力点の入力を受け付ける機能と、
    前記第１入力点と前記第２入力点との間に相当する前記二次元測定データのプロファイル表示画像を作成する機能と、
    前記プロファイル表示画像を前記ディスプレイに表示する機能と、
    を実現させるためのプログラム。

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