JP2022545508A5 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JP2022545508A5 JP2022545508A5 JP2022512388A JP2022512388A JP2022545508A5 JP 2022545508 A5 JP2022545508 A5 JP 2022545508A5 JP 2022512388 A JP2022512388 A JP 2022512388A JP 2022512388 A JP2022512388 A JP 2022512388A JP 2022545508 A5 JP2022545508 A5 JP 2022545508A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grid
- image data
- ray detector
- control unit
- unit controls
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP19193248.2A EP3782552A1 (en) | 2019-08-23 | 2019-08-23 | System and method for x-ray dark-field, phase contrast and attenuation image acquisition |
| EP19193248.2 | 2019-08-23 | ||
| PCT/EP2020/073470 WO2021037706A1 (en) | 2019-08-23 | 2020-08-21 | System and method for x-ray dark-field, phase contrast and attenuation image acquisition |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2022545508A JP2022545508A (ja) | 2022-10-27 |
| JP2022545508A5 true JP2022545508A5 (https=) | 2023-08-29 |
| JP7725451B2 JP7725451B2 (ja) | 2025-08-19 |
Family
ID=67742190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022512388A Active JP7725451B2 (ja) | 2019-08-23 | 2020-08-21 | Ｘ線暗視野、位相コントラスト及び減衰画像取得のためのシステム及び方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12004896B2 (https=) |
| EP (2) | EP3782552A1 (https=) |
| JP (1) | JP7725451B2 (https=) |
| CN (1) | CN114302677B (https=) |
| WO (1) | WO2021037706A1 (https=) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3782551A1 (en) * | 2019-08-23 | 2021-02-24 | Koninklijke Philips N.V. | System for x-ray dark-field, phase contrast and attenuation image acquisition |
| EP3782552A1 (en) * | 2019-08-23 | 2021-02-24 | Koninklijke Philips N.V. | System and method for x-ray dark-field, phase contrast and attenuation image acquisition |
| CN113984803B (zh) * | 2021-10-28 | 2024-06-25 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | 防散射组件、辐射成像组件和系统 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1051813A (ja) * | 1996-07-29 | 1998-02-20 | Toshiba Corp | Ｘ線ステレオ画像表示装置 |
| JP4086309B2 (ja) | 2005-11-28 | 2008-05-14 | 財団法人ひろしま産業振興機構 | 造影剤注入プロトコル決定方法および造影剤注入プロトコル演算装置 |
| JP2011045655A (ja) | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | Ｘ線撮影装置 |
| JP5331940B2 (ja) | 2010-10-27 | 2013-10-30 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システム及び放射線画像生成方法 |
| JP2014138625A (ja) | 2011-04-25 | 2014-07-31 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置及び画像処理方法 |
| CN106456083B (zh) * | 2014-10-13 | 2018-06-08 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于对可移动对象进行相位衬度和/或暗场成像的光栅设备 |
| CN107580473A (zh) * | 2015-05-06 | 2018-01-12 | 皇家飞利浦有限公司 | X射线成像 |
| CN107850680B (zh) | 2015-07-21 | 2021-09-21 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于相位对比和/或暗场成像的x射线探测器 |
| RU2662074C1 (ru) * | 2015-08-26 | 2018-07-23 | Конинклейке Филипс Н.В. | Двухэнергетическая дифференциальная фазово-контрастная визуализация |
| WO2017191247A1 (en) * | 2016-05-04 | 2017-11-09 | Koninklijke Philips N.V. | Feature suppression in dark field or phase contrast x-ray imaging |
| EP3782551A1 (en) | 2019-08-23 | 2021-02-24 | Koninklijke Philips N.V. | System for x-ray dark-field, phase contrast and attenuation image acquisition |
| EP3782552A1 (en) * | 2019-08-23 | 2021-02-24 | Koninklijke Philips N.V. | System and method for x-ray dark-field, phase contrast and attenuation image acquisition |
-
2019
- 2019-08-23 EP EP19193248.2A patent/EP3782552A1/en not_active Withdrawn
-
2020
- 2020-08-21 EP EP20757599.4A patent/EP4017367B1/en active Active
- 2020-08-21 JP JP2022512388A patent/JP7725451B2/ja active Active
- 2020-08-21 WO PCT/EP2020/073470 patent/WO2021037706A1/en not_active Ceased
- 2020-08-21 US US17/636,929 patent/US12004896B2/en active Active
- 2020-08-21 CN CN202080059753.3A patent/CN114302677B/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2022545508A5 (https=) | ||
| US10801971B2 (en) | X-ray phase contrast imaging with fourier transform determination of grating displacement | |
| JP2020503633A5 (https=) | ||
| JPWO2018016369A1 (ja) | Ｘ線位相差撮像装置 | |
| JP7670380B2 (ja) | コンピュータ断層撮影撮像のための散乱補正 | |
| JP2021067697A (ja) | ウエハ検査システム及び装置 | |
| JP6707046B2 (ja) | 断層像処理装置、方法およびプログラム | |
| JP5397704B2 (ja) | 形状測定装置 | |
| JP7725451B2 (ja) | Ｘ線暗視野、位相コントラスト及び減衰画像取得のためのシステム及び方法 | |
| CN114269250B (zh) | 用于x射线暗场、相位对比和衰减图像采集的系统 | |
| JP6438021B2 (ja) | 能動画素アレイセンサを用いたｘ線回折ベースの欠陥画素補正方法 | |
| CN110913764B (zh) | X射线相位差摄影系统以及相位对比度图像修正方法 | |
| JP6865884B2 (ja) | Ｘ線画像における散乱補正のための装置及びｘ線画像における散乱補正のための方法 | |
| JP4986467B2 (ja) | 医用画像表示装置 | |
| JP6870993B2 (ja) | 画像処理装置及びｘ線診断装置 | |
| JP2018179969A (ja) | Ｘ線位相差撮像システム | |
| JP6631707B2 (ja) | Ｘ線位相差撮像システム | |
| JP5608441B2 (ja) | 放射線撮影装置および方法並びにプログラム | |
| JP2023527572A5 (https=) | ||
| JP6776890B2 (ja) | Ｘ線撮影システム | |
| JP2019191087A (ja) | 干渉信号の位相補正方法 | |
| WO2017159229A1 (ja) | 放射線画像生成装置 | |
| JP2023527572A (ja) | ダックスイメージングにおける欠陥補償のためのステップ法 | |
| JPWO2013084565A1 (ja) | データ補正装置及びデータ補正プログラム | |
| WO2018131253A1 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム |