JP2022532495A - 複数の空のガラス容器を検査するためのライン - Google Patents
複数の空のガラス容器を検査するためのライン Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022532495A JP2022532495A JP2021564280A JP2021564280A JP2022532495A JP 2022532495 A JP2022532495 A JP 2022532495A JP 2021564280 A JP2021564280 A JP 2021564280A JP 2021564280 A JP2021564280 A JP 2021564280A JP 2022532495 A JP2022532495 A JP 2022532495A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- equipment
- containers
- container
- area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims description 45
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 460
- 238000002601 radiography Methods 0.000 claims abstract description 93
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 24
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 129
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 126
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 115
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 107
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 21
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 18
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 9
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 abstract 2
- 210000003739 neck Anatomy 0.000 description 58
- 238000000034 method Methods 0.000 description 50
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 26
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 11
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 9
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 8
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 8
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 8
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 7
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 6
- 230000005499 meniscus Effects 0.000 description 6
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 6
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 5
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 4
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 3
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- CVOFKRWYWCSDMA-UHFFFAOYSA-N 2-chloro-n-(2,6-diethylphenyl)-n-(methoxymethyl)acetamide;2,6-dinitro-n,n-dipropyl-4-(trifluoromethyl)aniline Chemical compound CCC1=CC=CC(CC)=C1N(COC)C(=O)CCl.CCCN(CCC)C1=C([N+]([O-])=O)C=C(C(F)(F)F)C=C1[N+]([O-])=O CVOFKRWYWCSDMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000473391 Archosargus rhomboidalis Species 0.000 description 1
- 241000699670 Mus sp. Species 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 244000066511 Solanum xanthocarpum Species 0.000 description 1
- 238000002083 X-ray spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000011960 computer-aided design Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010252 digital analysis Methods 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 238000012821 model calculation Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 244000045947 parasite Species 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000004064 recycling Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
- G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F17/00—Methods or apparatus for determining the capacity of containers or cavities, or the volume of solid bodies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N2021/845—Objects on a conveyor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
- G01N2223/04—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission and measuring absorption
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1016—X-ray
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3308—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object translates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/643—Specific applications or type of materials object on conveyor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/645—Specific applications or type of materials quality control
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/646—Specific applications or type of materials flaws, defects
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
Description
a1)リング検査設備の検査区域と、ここで、検査されるために検査区域に容器のネックを位置付ける必要があり、上記区域は、検査下の容器の上部平面と一致することを目的としている上部基準平面を含み、かつ、検査下の容器の位置について容器の中心軸と一致することを目的としている基準軸を含み、
a2)上記設備の検査区域において、複数の容器の中心軸に垂直な水平搬送平面における、移動軌道の直線部分に沿った複数の容器の輸送を確保する輸送装置のセクションと、
a3)複数の指向性光エミッタのシリーズと、ここで、検査区域が上部基準平面への投射において多数の異なる方位角で複数の指向性光ビームによって照らされるように、複数の指向性光エミッタは、上記設備の基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各指向性光エミッタは、上記設備の検査区域の方向において、それに特有のビーム軸に沿った指向性光ビームを伝達し、
a4)複数の光受信機と、ここで、複数の光受信機は、上記設備の基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各光受信機は、視軸及びこの視軸の周りに視野角を有し、
a5)関連付けられた基準平面のいずれかの側に配列された複数の光学素子と、ここで、これらの光学素子は、上記設備の複数の光エミッタ又は上記設備の複数の光受信機のいずれかに属するが、すべて搬送体積の外側にあり、
を含む。
b1)底部検査設備の検査区域と、ここで、検査されるために検査区域に容器の底部を位置付ける必要があり、上記区域は、検査下の容器の下部平面と一致することを目的としている下部基準平面を含み、かつ、検査下の容器の位置について容器の中心軸と一致することを目的としている基準軸を含み、
b2)上記設備の検査区域において、複数の容器の中心軸に垂直な水平搬送平面における、移動軌道の直線部分に沿った複数の容器の輸送を確保する輸送装置のセクションと、
b3)複数の指向性光エミッタのシリーズと、ここで、検査区域が下部基準平面への投射において多数の異なる方位角で複数の指向性光ビームによって照らされるように、複数の指向性光エミッタは、上記設備の基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各指向性光発光体は、上記設備の検査区域の方向において、それに特有のビーム軸に沿った指向性光ビームを伝達し、
b4)複数の感光性受信機と、ここで、複数の感光性受信機は、上記設備の基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各感光性受信機は、視軸及びこの視軸の周りに視野角を有し、
b5)関連付けられた下部基準平面のいずれかの側に配列された複数の光学素子と、ここで、これらの光学素子は、上記設備の複数の光エミッタ又は上記設備の複数の光受信機のいずれかに属するが、すべて搬送体積の外側にあり、
を含む。
c1)通過された体積の外側に配置させたX線発生管の少なくとも1つの焦点と、ここで、X線発生管は、容器のネックの一部及び/又は本体の一部を少なくとも含む少なくとも1つの検査対象領域を通り抜けるように向けられた発散X線ビームを生成し、
c2)上記設備の検査区域において、複数の容器の中心軸に垂直な水平搬送平面における、移動軌道の直線部分に沿った複数の容器の輸送を確保する輸送装置のセクションと、
c3)1つ又は複数の放射線イメージセンサと、ここで、1つ又は複数の放射線イメージセンサは、焦点に由来する複数のX線を受け取るように、搬送体積の外側に位置しており、1つ又は複数の焦点及び複数の放射線イメージセンサ(Ci)は、容器がこれらのX線を通り抜けるとき、各イメージセンサが、焦点に由来する複数のX線による検査対象領域の放射線投射を受け取るように配置されており、これらの放射線投射の放射線投射方向は互いに異なっており、
c4)移動中の各容器について、検査対象領域の少なくとも3つの放射線画像を取得するように、複数の放射線イメージセンサに接続された取得システムと、ここで、少なくとも3つの放射線画像は、異なる放射線投射方向を有する、検査対象領域の少なくとも3つの放射線投射から得られ、
c5)少なくとも3つの異なる放射線投射に由来する、少なくとも3つの放射線画像を分析して、放射線投射方向に直交しない平面におけるネックの少なくとも1つの内直径、及び/又は放射線投射方向に直交しない平面における本体壁の少なくとも1つの厚さを特定するコンピュータシステムと、
を有する。
d1)ショルダー及び/又は本体検査設備の検査区域と、ここで、検査されるために検査区域に容器のショルダー及び/又は本体を位置付ける必要があり、上記区域は、検査下の容器のショルダー及び/又は本体を仕切ることを目的としている中間基準平面を含み、かつ、検査下の容器の位置について容器の中心軸と一致することを目的としている基準軸を含み、
d2)上記設備の検査区域において、複数の容器の中心軸に垂直な水平搬送平面における、移動軌道の直線部分に沿った複数の容器の輸送を確保する輸送装置のセクションと、
d3)複数の指向性光エミッタのシリーズと、ここで、検査区域が中間基準平面への投射において多数の異なる方位角で複数の指向性光ビームによって照らされるように、複数の指向性光エミッタは、上記設備の基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各指向性光エミッタは、上記設備の検査区域の方向において、それに特有のビーム軸に沿った指向性光ビームを伝達し、
d4)複数の光受信機と、ここで、複数の光受信機は、上記設備の基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各光受信機は、視軸及びこの視軸の周りに視野角を有し、
d5)中間基準平面のいずれかの側に配列された複数の光学素子と、ここで、これらの光学素子は、上記設備の複数の光エミッタ又は上記設備の複数の光受信機のいずれかに属するが、すべて搬送体積の外側にあり、
を含む。
リング検査設備から、検査された容器についての少なくとも1つのリング検査情報と、
底部検査設備から、検査された容器についての少なくとも1つの底部検査情報と、
放射線撮影測定設備から、検査された容器についての少なくとも1つの直線寸法測定値と、
を受け取る。
a)リング検査ステーションに、複数の光線によって、複数の容器のネックにおける亀裂タイプの欠陥を非接触で検出することが可能であるリング検査設備200と、
b)底部検査ステーションに、複数の光線によって、複数の容器の底部における亀裂タイプの欠陥を非接触で検出することが可能である底部検査設備300と、
c)放射線撮影測定ステーションに、複数の容器の少なくとも1つの検査対象領域の複数の直線寸法を自動的に測定することが可能である放射線撮影設備400と、
を備える。
それぞれが容器の壁の内表面及び/又は外表面に属し、かつ放射線投射方向Djiに直交する平面に位置せず、かつ、移動方向Tと平行な平面に位置しない、空間内の少なくとも2つの三次元点、
及び/又は、放射線投射方向Djiに直交する平面に属さず、かつ、移動方向Tに平行な平面に属さない複数の点を含む、容器の壁の内表面及び/又は外表面の少なくとも1つの表面図形、
及び/又は、放射線投射方向Djiに直交する平面と異なり、かつ、移動方向Tに平行な平面と異なる平面に沿った、検査対象領域の少なくとも1つの断面、
から構成される。
上記複数の線分は、
デジタル幾何モデルの対称軸ZMに直交しており、
デジタル幾何モデルの対称軸ZMを横断しており、
デジタル幾何モデルのネックにおいて少なくとも2つの異なる高さZG1、ZG2に位置付けられており、
複数の投射方向Djiに直交しない少なくとも1つの線分を有し、デジタル幾何モデルの対称軸ZMの周囲に角度的に分布した複数の方向にあり、
各高さの数が、複数の投射方向Djiの数よりも大きく、
かつ、各線分は、デジタル幾何モデルのネックの内表面に属するとともに容器のデジタル幾何モデルの対称軸ZMに対して反対側にある2つの点を結んでいる。
リング検査設備から、検査された容器についての少なくとも1つのリング検査情報と、
底部検査設備から、検査された容器についての少なくとも1つの底部検査情報と、
放射線撮影測定設備から、検査された容器についての少なくとも1つの直線寸法測定値と、
を受け取る。
Claims (21)
- 1シリーズの複数の空のガラス容器(2)を検査するためのラインであって、前記シリーズの各容器は、内表面(SI)及び外表面(SE)によって境界が定められた壁を有し、中心軸(A2)を持ち、かつ、前記中心軸に沿って上から下にかけて、
リング(6)を末端とするネック(5)、前記中心軸に垂直であり前記容器の上部平面(Psup)を定義する上部面、
ショルダー(4’)、
本体(4)、
及び前記中心軸に垂直であり前記容器の下部平面(Pinf)を定義する容器底部(3)、
を構成し、
前記検査ライン(100)は、前記複数の容器の少なくとも1つの接触領域との接触によって、移動軌道(T)に沿った前記複数の容器の輸送を確保する輸送装置(11,112,113,114)を含み、前記複数の容器は、前記移動軌道(T)に沿って延びた搬送体積(Vt)を通って走行し、
前記検査ラインは複数の設備を備え、各設備は、前記移動軌道(T)に沿って互いに別個のステーションに配列されており、
a)リング検査ステーションでは、リング検査設備(200)は、複数の光線によって、前記複数の容器の前記ネック(5)における亀裂タイプの欠陥を非接触で検出することが可能であり、前記設備(200)は、
a1)前記リング検査設備の検査区域と、ここで、検査されるために前記検査区域に容器の前記ネックを位置付ける必要があり、前記区域は、検査下の前記容器の前記上部平面と一致することを目的としている上部基準平面(Prefh)を含み、かつ、検査下の前記容器の位置について前記容器の中心軸(A2)と一致することを目的としている基準軸(A200)を含み、
a2)前記設備の前記検査区域において、前記複数の容器の前記中心軸に垂直な水平搬送平面(Pc)における、前記移動軌道(T)の直線部分に沿った前記複数の容器の輸送を確保する前記輸送装置(11)のセクション(112)と、
a3)複数の指向性光エミッタ(201,202,...,20n)のシリーズと、ここで、前記検査区域が前記上部基準平面への投射において多数の異なる方位角で複数の指向性光ビームによって照らされるように、前記複数の指向性光エミッタは、前記設備の前記基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各指向性光エミッタは、前記設備の前記検査区域の方向において、それに特有のビーム軸(A201,A202,・・・,A20n)に沿った指向性光ビームを伝達し、
a4)複数の光受信機(211,212,・・・,21n)と、ここで、前記複数の光受信機は、前記設備の前記基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各光受信機は、視軸(A211,A212,・・・,A21n)及びこの視軸の周りに視野角(AV211,・・・)を有し、
a5)関連付けられた前記基準平面のいずれかの側に配列された複数の光学素子と、ここで、これらの光学素子は、前記設備の複数の光エミッタ又は前記設備の複数の光受信機のいずれかに属するが、すべて前記搬送体積の外側にあり、
を含み、
b)底部検査ステーションでは、底部検査設備(300)は、複数の光線によって、前記複数の容器の前記底部(3)における亀裂タイプの欠陥を非接触で検出することが可能であり、前記設備(300)は、
b1)前記底部検査設備の検査区域と、ここで、検査されるために前記検査区域に容器の前記底部を位置付ける必要があり、前記区域は、検査下の前記容器の前記下部平面と一致することを目的としている下部基準平面(Prefb)を含み、かつ、検査下の前記容器の位置について前記容器の前記中心軸と一致することを目的としている基準軸(A300)を含み、
b2)前記設備の前記検査区域において、前記複数の容器の前記中心軸に垂直な水平搬送平面(Pc)における、前記移動軌道(T)の直線部分に沿った前記複数の容器の輸送を確保する前記輸送装置(11)のセクション(113)と、
b3)複数の指向性光エミッタ(301,302,...,30n)のシリーズと、ここで、前記検査区域が前記下部基準平面への投射において多数の異なる方位角で複数の指向性光ビームによって照らされるように、前記複数の指向性光エミッタは、前記設備の前記基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各指向性光エミッタは、前記設備の前記検査区域の方向において、それに特有のビーム軸(A301,A302,・・・,A30n)に沿った指向性光ビームを伝達し、
b4)複数の感光性受信機(311,312,・・・,31n)と、ここで、前記複数の感光性受信機は、前記設備の前記基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各感光性受信機は、視軸(A311,A312,・・・,A31n)及びこの視軸の周りに視野角(AV311)を有し、
b5)関連付けられた前記下部基準平面のいずれかの側に配列された複数の光学素子と、ここで、これらの光学素子は、前記設備の複数の光エミッタ又は前記設備の複数の光受信機のいずれかに属するが、すべて前記搬送体積の外側にあり、
を含み、
c)放射線撮影測定ステーションでは、放射線撮影設備(400)は、前記複数の容器の少なくとも1つの検査対象領域の複数の直線寸法を自動的に測定することが可能であり、前記設備は、
c1)通過された前記体積(Vt)の外側に配置させたX線発生管(12)の少なくとも1つの焦点(Fj)と、ここで、前記X線発生管(12)は、前記容器の前記ネックの一部及び/又は前記本体の一部を少なくとも含む少なくとも1つの検査対象領域を通り抜けるように向けられた発散X線ビームを生成し、
c2)前記設備の前記検査区域において、前記複数の容器の前記中心軸に垂直な水平搬送平面(Pc)における、前記移動軌道(T)の直線部分に沿った前記複数の容器の輸送を確保する前記輸送装置(11)のセクション(114)と、
c3)1つ又は複数の放射線イメージセンサ(Ci)と、ここで、前記1つ又は複数の放射線イメージセンサ(Ci)は、焦点(Fj)に由来する複数のX線を受け取るように、前記搬送体積(Vt)の外側に位置しており、1つ又は複数の前記焦点(Fj)及び前記複数の放射線イメージセンサ(Ci)は、前記容器がこれらのX線を通り抜けるとき、各イメージセンサが、前記焦点(Fj)に由来する複数のX線による前記検査対象領域の放射線投射を受け取るように配置されており、これらの放射線投射の放射線投射方向は互いに異なっており、
c4)移動中の各容器について、前記検査対象領域の少なくとも3つの放射線画像を取得するように、前記複数の放射線イメージセンサ(Ci)に接続された取得システムと、ここで、前記少なくとも3つの放射線画像は、異なる放射線投射方向を有する、前記検査対象領域の少なくとも3つの放射線投射から得られ、
c5)少なくとも前記3つの異なる放射線投射に由来する、前記少なくとも3つの放射線画像を分析して、放射線投射方向(Dji)に直交しない平面における前記ネックの少なくとも1つの内直径、及び/又は放射線投射方向(Dji)に直交しない平面における前記本体壁の少なくとも1つの厚さを特定するコンピュータシステムと、
を有する、
ことを特徴とする検査ライン。 - ショルダー及び/又は本体検査ステーションに、前記リング検査ステーション、前記底部検査ステーション、及び前記放射線撮影測定ステーションとは異なる、複数の光線によって、前記複数の容器のショルダー及び/又は本体における亀裂タイプの欠陥を非接触で検出することが可能なショルダー及び/又は本体検査設備(500)を含み、前記設備(500)は、
d1)前記ショルダー及び/又は本体検査設備の検査区域と、ここで、検査されるために前記検査区域に容器の前記ショルダー及び/又は本体を位置付ける必要があり、前記区域は、検査下の前記容器の前記ショルダー及び/又は前記本体を仕切ることを目的としている中間基準平面を含み、かつ、検査下の前記容器の位置について前記容器の前記中心軸と一致することを目的としている基準軸(A500)を含み、
d2)前記設備の前記検査区域において、前記複数の容器の前記中心軸に垂直な水平搬送平面(Pc)における、前記移動軌道(T)の直線部分に沿った前記複数の容器の輸送を確保する前記輸送装置(11)のセクションと、
d3)複数の指向性光エミッタのシリーズと、ここで、前記検査区域が前記中間基準平面への投射において多数の異なる方位角で複数の指向性光ビームによって照らされるように、前記複数の指向性光エミッタは、前記設備の前記基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各指向性光エミッタは、前記設備の前記検査区域の方向において、それに特有のビーム軸に沿った指向性光ビームを伝達し、
d4)複数の光受信機と、ここで、前記複数の光受信機は、前記設備の前記基準軸の周囲に角度的に分布され、かつ、各光受信機は、視軸及びこの視軸の周りに視野角を有し、
d5)前記中間基準平面のいずれかの側に配列された複数の光学素子と、ここで、これらの光学素子は、前記設備の複数の光エミッタ又は前記設備の複数の光受信機のいずれかに属するが、すべて前記搬送体積の外側にあり、
を含む、
ことを特徴とする請求項1に記載の検査ライン。 - 前記リング検査設備(200)、前記底部検査設備(300)、及び前記放射線撮影測定設備(400)の前記検査区域のそれぞれにおいて、前記輸送装置(11)は、前記設備の前記検査区域において、前記複数の容器の中心軸(A2)を中心とする制御された回転なしで、前記移動軌道に沿った前記複数の容器の輸送を確保する、ことを特徴とする請求項1又は2に記載の検査ライン。
- 前記リング検査設備(200)、前記底部検査設備(300)、及び前記放射線撮影測定設備(400)の前記検査区域のそれぞれにおいて、前記輸送装置(11)は、前記設備の前記検査区域において、前記複数の容器が中心軸(A2)を中心とする回転静止状態にあるように、前記移動軌道に沿った前記複数の容器の輸送を確保する、ことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記リング検査設備(200)、前記底部検査設備(300)、及び前記放射線撮影測定設備(400)のそれぞれの間で、前記輸送装置(11)は、前記複数の容器の中心軸(A2)を中心とする制御された回転なしで、前記移動軌道に沿った前記複数の容器の輸送を確保する、ことを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記輸送装置(11)は、前記ステーションのそれぞれで、容器と接触しながら前記ステーションを通る各容器(2)の輸送を確保する前記輸送装置の関連付けられた搬送セクション(112,113,114)によって構成され、かつ、前記リング検査ステーション、前記底部検査ステーション、及び前記放射線撮影測定ステーションにそれぞれ関連付けられた前記搬送セクションのうちの1つは、前記複数の容器の第1の接触領域との接触を確保し、一方、前記リング検査ステーション、前記底部検査ステーション、及び前記放射線撮影測定ステーションにそれぞれ関連付けられた別の前記搬送セクションは、前記第1の接触領域とは異なる、前記複数の容器の第2の接触領域との接触を確保する、ことを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 各ステーションにおいて、前記複数の容器と、このステーションに関連付けられている前記輸送装置(11)の前記セクションとの前記接触領域は、このステーションでの前記複数の容器の前記検査対象区域とは異なる、ことを特徴とする請求項6に記載の検査ライン。
- 前記リング検査設備(200)、前記底部検査設備(300)、及び前記放射線撮影測定設備(400)のそれぞれにおいて、前記輸送装置(11)は、垂直方向の移動なしで前記複数の容器の輸送を確保する、ことを特徴とする請求項1から7のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記輸送装置(11)は、前記複数の容器(2)が、前記リング検査ステーション、前記底部検査ステーション、及び前記放射線撮影測定ステーションの3つのステーションで前記検査ライン(100)における垂直方向の移動なしで輸送され、かつ、前記リング検査ステーション、前記底部検査ステーション、及び前記放射線撮影測定ステーションの間でも前記検査ライン(100)における垂直方向の移動なしで輸送されることを確保する、ことを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記複数の容器(2)は、前記リング検査ステーション、前記底部検査ステーション、及び前記放射線撮影測定ステーションの3つのステーションで自身の中心軸(A2)を中心とする制御された回転なしで輸送され、かつ、前記リング検査ステーション、前記底部検査ステーション、及び前記放射線撮影測定の間でも自身の中心軸(A2)を中心とする制御された回転なしで輸送される、ことを特徴とする請求項1から9のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記リング検査設備(200)は、前記搬送体積(Vt)の外側であるが、前記上部基準平面(Prefh)よりも上に配列された複数の指向性光エミッタ(201,202,・・・,20n)の複数の光学素子と、前記上部基準平面(Prefh)よりも下に配列された複数の光エミッタ(201,202,・・・,20n)の複数の光学素子とを含む、ことを特徴とする請求項1から10のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記リング検査設備(200)は、前記搬送体積(Vt)の外側であるが、前記上部基準平面(Prefh)よりも上に配列された複数の光受信機(211,212,・・・,21n)の複数の光学素子と、前記上部基準平面(Prefh)よりも下に配列された複数の光受信機(211,212,・・・,21n)の複数の光学素子とを含む、ことを特徴とする請求項1から11のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記底部検査設備(300)は、前記搬送体積(Vt)の外側であるが、前記下部基準平面(Prefb)よりも下に配列された複数の指向性光エミッタ(301,302,・・・,30n)の複数の光学素子と、前記下部基準平面(Prefb)よりも上に配列された複数の指向性光エミッタ(301,302,・・・,30n)の複数の光学素子とを含む、ことを特徴とする請求項1から12のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記底部検査設備(300)は、前記搬送体積(Vt)の外側であるが、前記下部基準平面(Prefb)よりも下に配列された複数の光受信機(311,312,・・・,31n)の複数の光学素子と、前記下部基準平面(Prefb)よりも上に配列された複数の光受信機(311,312,...,31n)の複数の光学素子とを含む、ことを特徴とする請求項1から13のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記検査設備(200,300)は、前記検査区域が前記基準平面(Prefh,Prefb)に対して多数の異なる仰角で複数の指向性光ビームによって照らされるように分布された複数の指向性光エミッタ(201,202,・・・,20n,301,302,・・・,30n)を含む、ことを特徴とする請求項1から14のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 複数の容器の前記シリーズの各容器(2)は、固有の識別子を持ち、かつ、前記検査ライン(100)は、前記検査ラインによって検査された前記複数の容器の前記固有の識別子の少なくとも1つの読取機を含むとともに、コンピュータシステム(600)を含み、前記コンピュータシステムは、
前記リング検査設備(200)から、検査された前記容器についての少なくとも1つのリング検査情報と、
前記底部検査設備(300)から、検査された前記容器についての少なくとも1つの底部検査情報と、
前記放射線撮影測定設備(400)から、検査された前記容器についての少なくとも1つの直線寸法測定値と、
を受け取り、
前記検査ラインの前記コンピュータシステム(600)は、容器(2)の前記固有の識別子、検査された前記容器についての、前記少なくとも1つのリング検査情報、前記少なくとも1つの底部検査情報、及び前記少なくとも1つの測定値にリンクするコンピュータレポートを作成するように、かつ、このコンピュータレポートを電子メモリに保存するように構成されている、
ことを特徴とする請求項1から15のいずれか1項に記載の検査ライン。 - 前記検査ライン(100)の前記コンピュータシステム(600)は、前記ショルダー及び/又は本体検査設備(500)から、前記コンピュータレポートにおける他の情報に関連する、検査された前記容器についての少なくとも1つのショルダー及び/又は本体検査情報を受け取る、ことを特徴とする、請求項2と組み合わせられた、請求項16に記載の検査ライン。
- 前記検査ライン(100)の前記コンピュータシステム(600)は、前記シリーズの複数の容器のグループの複数の前記コンピュータレポートに対してコンピュータ処理を行うように構成されている、ことを特徴とする請求項16又は17に記載の検査ライン。
- 前記検査ライン(100)の前記コンピュータシステム(600)は、前記シリーズの複数の容器のグループの複数の前記コンピュータレポートに対するコンピュータ処理に基づいて、前記複数の容器の生産のパラメータに対する修正動作を制御するように構成されている、ことを特徴とする請求項16から18のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記ネックの少なくとも1つの内直径及び/又は前記本体壁の少なくとも1つの厚さの特定は、各容器についての、前記容器の前記検査対象領域のデジタル幾何モデルの構築を含む、ことを特徴とする請求項1から19のいずれか1項に記載の検査ライン。
- 前記デジタル幾何モデルは、前記少なくとも3つの放射線画像から計算された、複数の点のセットの三次元座標を含み、複数の点のこのセットは、前記容器の前記壁の前記内表面及び/又は前記外表面に属し、放射線投射方向(Dji)に直交しない平面に配置された少なくとも2つの点を有し、かつ、前記ネックの前記少なくとも1つの内直径、及び/又は測定された前記本体の前記壁の前記少なくとも1つの厚さは、放射線投射方向(Dji)に直交しない平面における前記デジタル幾何モデル上で測定される、ことを特徴とする請求項20に記載の検査ライン。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1904532 | 2019-04-29 | ||
FR1904532A FR3095506B1 (fr) | 2019-04-29 | 2019-04-29 | Ligne de contrôle de récipients vides en verre |
PCT/FR2020/050679 WO2020221975A1 (fr) | 2019-04-29 | 2020-04-21 | Ligne de contrôle de récipients vides en verre |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022532495A true JP2022532495A (ja) | 2022-07-15 |
Family
ID=67956997
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021564280A Pending JP2022532495A (ja) | 2019-04-29 | 2020-04-21 | 複数の空のガラス容器を検査するためのライン |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11927542B2 (ja) |
EP (1) | EP3963284B1 (ja) |
JP (1) | JP2022532495A (ja) |
CN (1) | CN113767279A (ja) |
ES (1) | ES2955345T3 (ja) |
FR (1) | FR3095506B1 (ja) |
MX (1) | MX2021013033A (ja) |
PL (1) | PL3963284T3 (ja) |
WO (1) | WO2020221975A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT201900006925A1 (it) * | 2019-05-16 | 2020-11-16 | Sica Spa | Sistema di controllo della qualità di lavorazione di tubi in materiale termoplastico |
DE102021109998B3 (de) * | 2021-04-20 | 2022-04-07 | Heye International Gmbh | Verfahren zur Fehlerinspektion eines dreidimensionalen Objektes |
CN113432531A (zh) * | 2021-06-22 | 2021-09-24 | 广东工业大学 | 一种瓶胚尺寸测量方法 |
CN114295631B (zh) * | 2021-12-31 | 2023-11-14 | 江苏壹利特机器人科技有限公司 | 玻璃瓶口裂缝检测系统 |
Family Cites Families (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1491418A (fr) | 1966-06-21 | 1967-08-11 | Verrerie Souchon Neuvesel | Tête de lecture pour la mesure unilatérale et ponctuelle de l'épaisseur d'un isolant |
SE7308776L (ja) | 1973-06-21 | 1974-12-23 | Platmanufaktur Ab | |
US4075086A (en) | 1975-04-04 | 1978-02-21 | Owens-Illinois, Inc. | Glass container handling |
FR2401415A1 (fr) | 1977-08-24 | 1979-03-23 | Emballage Ste Gle Pour | Inspection et controle d'objets transparents |
JPS6042401B2 (ja) * | 1979-09-26 | 1985-09-21 | 富士電機株式会社 | 管状材の管壁厚み測定方法 |
CH652826A5 (de) | 1980-06-16 | 1985-11-29 | Peter Dr Hermann | Vorrichtung zur erkennung von fehlern, insbesondere risse, in transparenten koerpern auf optischem wege. |
JPS60260807A (ja) | 1984-06-08 | 1985-12-24 | Kawasaki Steel Corp | 管状材の放射線透過式肉厚測定装置 |
DE3515353A1 (de) | 1985-04-27 | 1986-10-30 | Seitz Enzinger Noll Maschinenbau Ag, 6800 Mannheim | Vorrichtung zum foerdern von flaschen in haengender lage |
EP0320139A3 (en) | 1987-12-08 | 1990-08-08 | Emhart Industries, Inc. | Optical measurement of wall thickness of transparent articles |
US5291271A (en) | 1992-08-19 | 1994-03-01 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Measurement of transparent container wall thickness |
FR2738343B1 (fr) | 1995-08-30 | 1997-10-24 | Cohen Sabban Joseph | Dispositif de microstratigraphie optique |
US5602890A (en) | 1995-09-27 | 1997-02-11 | Thermedics Detection Inc. | Container fill level and pressurization inspection using multi-dimensional images |
US5608516A (en) | 1995-12-13 | 1997-03-04 | Emhart Glass Machinery Investments Inc. | Glass bottle inspection machine |
DE19756697A1 (de) | 1997-12-19 | 1999-07-01 | Manfred Dr Ing Pfeiler | Vorrichtung zur Stückgut-Röntgentomosynthese |
ES2265907T3 (es) | 1999-01-19 | 2007-03-01 | Visiglas Societe Anomyme | Procedimiento y dispositivo para detectar defectos en piezas de un material traslucido o transparentes. |
US6581751B1 (en) | 2000-10-04 | 2003-06-24 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Method and apparatus for inspecting articles of glassware |
US6855929B2 (en) * | 2000-12-01 | 2005-02-15 | Ebara Corporation | Apparatus for inspection with electron beam, method for operating same, and method for manufacturing semiconductor device using former |
US6510751B2 (en) | 2000-12-21 | 2003-01-28 | Emhart Glass S.A. | Glass container inspection machine |
FR2846314B1 (fr) | 2002-10-25 | 2005-08-19 | Bsn Glasspack | Machine de deplacement de recipients devant des postes de controle |
US7480363B2 (en) | 2004-09-15 | 2009-01-20 | Ge Betz, Inc. | Converting a digital radiograph to an absolute thickness map |
FR2900238B1 (fr) | 2006-04-24 | 2008-07-25 | Sgcc Sa | Module et installation de controle d'un article et installation de reglage de ce module |
FR2907370B1 (fr) | 2006-10-18 | 2017-11-17 | Tiama | Procede et installation pour le marquage a chaud d'objets translucides ou transparents |
FR2907554B1 (fr) | 2006-10-24 | 2009-03-20 | Tiama Sa | Poste d'inspection optique pour detecter des defauts reflechissant la lumiere |
FR2907553B1 (fr) | 2006-10-24 | 2009-02-13 | Tiama Sa | Procede et dispositif pour detecter des defauts a faible et fort contrastes dans des objets transparents ou translucides |
DE102007008958B3 (de) | 2007-02-21 | 2008-04-03 | Hartmut Geisel | Verfahren und Einrichtung zur Überwachung von Glasartikeln |
FR2916048B1 (fr) | 2007-05-09 | 2010-05-28 | Tiama | Procede et dispositif d'inspection d'articles transparents ou translucides en vue d'optimiser le fonctionnement d'une machine de controle |
DE102007044530B4 (de) | 2007-09-18 | 2009-06-10 | VMA Gesellschaft für visuelle Meßtechnik und Automatisierung mbH | Anordnung zur Messung der Dicke und des Abstandes transparenter Objekte |
CN101561405B (zh) | 2008-04-17 | 2011-07-06 | 清华大学 | 一种直线轨迹扫描成像系统和方法 |
US8867816B2 (en) | 2008-09-05 | 2014-10-21 | Optosecurity Inc. | Method and system for performing X-ray inspection of a liquid product at a security checkpoint |
GB0902138D0 (en) | 2009-02-10 | 2009-03-25 | Durham Scient Crystals Ltd | Apparatus and method for viewing an object |
DE102010046461B4 (de) | 2010-09-24 | 2020-06-18 | Symplex Vision Systems Gmbh | Inspektionsverfahren, Inspektionsstation und Belichtungs- und Auswertevorrichtung |
FR2965344B1 (fr) | 2010-09-28 | 2013-04-05 | Tiama | Dispositif d'inspection pour les bagues et cols de recipients |
KR101707270B1 (ko) * | 2010-10-01 | 2017-02-15 | 기린 테크노시스템 가부시끼가이샤 | 글래스 보틀의 검사 장치 및 방법 |
US8708134B2 (en) | 2011-01-11 | 2014-04-29 | Emhart Glass S.A. | Star wheel conveyor outfeed mechanism and method |
FR2971847B1 (fr) | 2011-02-18 | 2013-07-19 | Tiama | Procede et dispositif pour detecter des defauts de repartition de matiere dans des recipients transparents |
US8570504B2 (en) * | 2011-05-17 | 2013-10-29 | Gii Acquisition, Llc | Method and system for optically inspecting parts |
US8971484B2 (en) * | 2011-11-22 | 2015-03-03 | Xinray Systems Inc | High speed, small footprint x-ray tomography inspection systems, devices, and methods |
JP6266574B2 (ja) * | 2015-09-10 | 2018-01-24 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | X線検査方法及びx線検査装置 |
FR3052555B1 (fr) * | 2016-06-09 | 2019-06-28 | Tiama | Procede pour determiner la capacite de recipients en verre |
FR3073043B1 (fr) | 2017-10-27 | 2019-11-15 | Tiama | Procede et installation de controle dimensionnel en ligne d'objets manufactures |
FR3073044B1 (fr) | 2017-10-27 | 2020-10-02 | Tiama | Procede et dispositif de mesure de dimensions par rayons x, sur des recipients en verre vide defilant en ligne |
FR3074907B1 (fr) | 2017-12-08 | 2019-12-27 | Tiama | Methode et machine pour controler un procede de formage |
-
2019
- 2019-04-29 FR FR1904532A patent/FR3095506B1/fr active Active
-
2020
- 2020-04-21 US US17/603,642 patent/US11927542B2/en active Active
- 2020-04-21 PL PL20754305.9T patent/PL3963284T3/pl unknown
- 2020-04-21 EP EP20754305.9A patent/EP3963284B1/fr active Active
- 2020-04-21 CN CN202080032317.7A patent/CN113767279A/zh active Pending
- 2020-04-21 ES ES20754305T patent/ES2955345T3/es active Active
- 2020-04-21 JP JP2021564280A patent/JP2022532495A/ja active Pending
- 2020-04-21 WO PCT/FR2020/050679 patent/WO2020221975A1/fr unknown
- 2020-04-21 MX MX2021013033A patent/MX2021013033A/es unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20220196567A1 (en) | 2022-06-23 |
MX2021013033A (es) | 2021-12-10 |
FR3095506A1 (fr) | 2020-10-30 |
CN113767279A (zh) | 2021-12-07 |
ES2955345T3 (es) | 2023-11-30 |
US11927542B2 (en) | 2024-03-12 |
PL3963284T3 (pl) | 2023-10-30 |
FR3095506B1 (fr) | 2021-05-07 |
EP3963284A1 (fr) | 2022-03-09 |
EP3963284B1 (fr) | 2023-06-07 |
WO2020221975A1 (fr) | 2020-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7234228B2 (ja) | インラインで走行する複数の空のガラス容器の寸法をx線により測定する方法及び装置 | |
JP2022532495A (ja) | 複数の空のガラス容器を検査するためのライン | |
CN109791043B (zh) | 用于透明主体的光学检查的方法和装置 | |
EP3271717B1 (en) | Automated quality control and selection | |
JP7323517B2 (ja) | 複数の製造物体のインライン寸法制御のための方法及び設備 | |
JP5932110B2 (ja) | 原石のインクルージョンを検出/同定する方法および機器 | |
Warnett et al. | Towards in-process x-ray CT for dimensional metrology | |
JP6028094B2 (ja) | 容器および/または容器の内容物の欠陥のx線検出 | |
JP2021530051A (ja) | 投影角度の動的選択による物品検査 | |
US9891168B2 (en) | Device and method for sensing at least one partially specular surface with column-by-column analysis of the global or local intensity maximum | |
CN107003252A (zh) | 使容器环的表面的平坦度可视化的方法、设备和检查线 | |
JP2008309603A (ja) | 蛍光探傷方法および蛍光探傷装置 | |
JP2022532997A (ja) | 複数の製造物体のインライン寸法制御のための方法及び設備 | |
US20110193953A1 (en) | System and method for estimating the height of an object using tomosynthesis-like techniques | |
CN106461572A (zh) | 用于光学检查的非成像相干的行扫描仪系统和方法 | |
CN103504471A (zh) | 用于评估烟草加工业的棒状产品的端面的设备和方法 | |
RU2800540C2 (ru) | Линия контроля пустых стеклянных емкостей | |
JP6791479B2 (ja) | 検査システム | |
KR20110027596A (ko) | 플라스틱 병의 벽 부분의 질량 비율 및/또는 질량을 결정하기 위한 방법 및 장치 | |
RU2802404C2 (ru) | Способ и установка для линейного размерного контроля изготовленных объектов |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230130 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20231129 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20231219 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20240228 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20240517 |