JP2022502644A

JP2022502644A - 実験室診断機器の正温度係数加熱

Info

Publication number: JP2022502644A
Application number: JP2021517218A
Authority: JP
Inventors: クリストファー・ピー・エーベリング
Original assignee: シーメンス・ヘルスケア・ダイアグノスティックス・インコーポレイテッド
Priority date: 2018-09-28
Filing date: 2019-09-26
Publication date: 2022-01-11
Also published as: US20220353957A1; EP3857239A1; WO2020069220A1; EP3857239A4; CN112740047A

Abstract

診断装置は、１つまたはそれ以上の容器から試料材料を受ける試料プローブと、試料材料を１つまたはそれ以上の反応容器に送達する試料ラインと、１つまたはそれ以上の反応容器に試薬を供給する試薬供給源および試薬供給ラインと、反応容器を受け試料材料と試薬の混合物をある時間期間の間インキュベートするインキュベーションリングと、装置の１つまたはそれ以上の区域または構成要素を加熱する加熱システムとを有する。加熱システムは、１つまたはそれ以上の正温度係数ヒータを有する。【選択図】図４

Description

関連出願
本出願は、すべての目的のために参照によって本明細書にその全体を組み入れる、２０１８年９月２８日出願の、「ＰＯＳＩＴＩＶＥＴＥＭＰＥＲＡＴＵＲＥＣＯＥＦＦＩＣＩＥＮＴＨＥＡＴＩＮＧＯＦＬＡＢＯＲＡＴＯＲＹＤＩＡＧＮＯＳＴＩＣＩＮＳＴＲＵＭＥＮＴＳ」という名称の米国仮特許出願第６２／７３８，０８３号の優先権を請求する。

本出願は、一般に、実験室診断機器の温度制御に関し、より詳細には、アッセイハンドリングシステムの流体容器、サブシステム、管材および他の構成要素の正温度係数加熱に関する。

温度に影響されやすいアッセイは、流体容器、サブシステム、および診断試験中にそれらと関わり合う管材すべての厳密な熱管理を必要とする。機械的およびメカトロニクスのアセンブリをすべて収容するため、アッセイハンドリングシステムおよび他の実験室診断機器は大型であり、低温空気の漏れが起こり得るいくつかのドアおよび開口部を有することが多い。診断試験が行われる環境は、機器を取り巻く周囲空気と無関係でなければならない。換言すると、オペレータが作業を行う実験室の温度は、それが変化したとしても機器の内部温度に影響を及ぼしてはならない。機器の内部環境の熱管理は難しい課題であり、大型の対流ヒータおよび複雑な制御ループを必要とすることが多い。

たとえば、従来のアッセイハンドリングシステムでは、強力な強制高温空気対流ヒータが機器内にあり、厳密な診断試験が行われる空気体積全体を加熱する。それらは、すべての主なサブシステムでの温度の均一性を保証するように注意深く配置しなければならない。図１は、温度に影響されやすいハンドリングおよび試験が行われる空気体積の加熱に対流ヒータが使用される、典型的な機器１００（たとえば、アッセイハンドリングシステム）を示している。機器１００は、内部空気体積１１０および可動ドア１２０を含む。内部空気体積１１０は、機器１００の動作中、特定の温度範囲内にある必要があることがある。ドア１２０が動くと内部空気体積１１０が周囲温度に曝されることがある。したがって、加熱要素は、ドア１２０が閉められた後に内部空気体積１１０を所望温度まで加熱するのに必要である。図２は、機器１００内の空気体積１１０の加熱に使用される対流ヒータ２００の例示的な配置を示している。図３は、機器１００と共に使用することができる典型的な強制高温空気対流ヒータ３００の一例を示している。

対流ヒータからの加熱空気流は、アッセイハンドリングシステム内を流れ、特定の区域内およびその周りの温度を調整する。対流ヒータは、機器の周りの様々な場所にいくつも配置され、機器内の様々な場所での温度をさらに制御するように別々に制御可能であってもよい。制御ループフィードバックシステム（たとえば、温度センサ）は、対流ヒータの制御に使用される。たとえば、温度センサは、温度閾値を感知すると、温度を所望の範囲内に調整するために、対流ヒータをオンまたはオフにするように信号を送ることができる。

アッセイハンドリングシステムの場合、ハウジング全体の空気体積内に収容されているサブシステムは、対流ヒータからの加熱流に左右される。環境の何らかの乱れの結果、試験のための最適な熱環境へシステムを回復させることができるようにするための休止時間になる。たとえば、オペレータがカバードアを開けてキュベットを再充填するまたはジャムを直すとき、熱環境が乱れ、対流ヒータが内部空気体積の温度を所望の範囲まで回復させることができるように休止時間が必要となる。

本開示は、大型の対流ヒータまたは複雑なフィードバック制御に依拠しないアッセイハンドリングシステムなどの実験室診断機器のための別の加熱解決法について記述する。

いくつかの実施形態では、診断装置は、１つまたはそれ以上の容器から試料材料を受ける試料プローブと、試料材料を１つまたはそれ以上の反応容器に送達する試料ラインと、１つまたはそれ以上の反応容器に試薬を供給する試薬供給源および試薬供給ラインと、反応容器を受け試料材料と試薬の混合物をある時間期間の間インキュベートするインキュベーションリングと、装置の１つまたはそれ以上の区域または構成要素を加熱する加熱システムとを含む。加熱システムは、１つまたはそれ以上のＰＴＣヒータを含む。

いくつかの実施形態では、診断装置は、１つまたはそれ以上のアッセイハンドリング構成要素と、１つまたはそれ以上のアッセイハンドリング構成要素を加熱するように構成された加熱システムとを含む。加熱システムは、１つまたはそれ以上のＰＴＣヒータを含む。１つまたはそれ以上のＰＴＣヒータは、基板と、ＰＴＣ材料とを含む。ＰＴＣ材料は、電流供給源に接続されており、温度閾値までの加熱を自己調整により行うように選択される。温度閾値は、１つまたはそれ以上のアッセイハンドリング構成要素についての所望の温度範囲に基づいて選択される。

本発明の上記その他の態様は、以下の詳細な説明を添付図面と関連させて読むことにより、最も良く理解される。本発明を例示するために、図面には現在好ましい実施態様が示されているが、本発明は、開示される特定の手段に限定されないと理解されよう。図面には以下の図が含まれる。

開示の加熱システムの実施形態と共に使用することができる例示的な実験室診断装置の図である。従来の方法による１つまたはそれ以上の加熱要素を有する例示的な実験室診断装置の図である。従来の強制空気加熱装置の例示的な一実施形態の図である。開示の実施形態と一致する加熱システムを有する例示的な実験室診断装置の概略線図である。開示の加熱システムの実施形態と共に使用することができる例示的な試料プローブの第１の図である。開示の加熱システムの実施形態と共に使用することができる例示的な試料プローブの第２の図である。開示の加熱システムの実施形態と共に使用することができるインキュベーションリングの分解図である。

本開示は、アッセイハンドリングシステムなど、実験室診断機器の加熱装置について記述する。加熱装置は、加熱要素として正温度係数（ＰＴＣ）材料を使用する。ＰＴＣ材料は、温度の上昇に応じて抵抗が正の変化を示す材料である。ＰＴＣ材料を用いたヒータ（本明細書では「ＰＴＣヒータ」と称する）は、特定の温度（「温度閾値」）を維持するのに外部フィードバック制御に依拠しない自己調整装置である。開示の実施形態は、実験室診断機器の温度調整のためのＰＴＣヒータを含む加熱装置の特定の実施態様を含む。

ＰＴＣヒータは、プリント回路を介して電流を引き込み、それによってＰＴＣ材料の温度が上がり、熱を放出する。ＰＴＣ材料の温度が上がると、ＰＴＣヒータ全体の温度も上がり、それによって電流の流れが制限され、発熱が減少する。ＰＴＣヒータは、所望の温度閾値で温度と抵抗の平衡が達成されるように設計される。換言すると、ＰＴＣヒータが温度閾値より低いとき、抵抗がより小さく、電流がより大きいので、より多くの熱が発生する。ＰＴＣヒータが温度閾値に達すると、ＰＴＣ材料の抵抗が増加するので、発熱でＰＴＣヒータの温度がさらに上がることはなくなる。

いくつかの実施形態では、加熱システムは、現在使用されている従来の強制空気による対流ヒータの代わりにＰＴＣヒータを含むことができる。ＰＴＣヒータは、機器内の空気体積を加熱するように所定位置に配置され、その空気体積によって近くの構成要素およびサブアセンブリの温度を制御することができる。他の実施形態では、開示の加熱装置は、機器の１つまたはそれ以上の隣接要素の伝導加熱を実施する代わりにＰＴＣヒータを含むことができる。ＰＴＣヒータは、制御ループ（たとえば、温度センサ、外部制御装置など）の必要がなく；ＰＴＣ材料は、温度と抵抗との間の関係によって自己調整する。

開示の実施形態によるＰＴＣヒータを有する加熱システムは、特定の所望の特性、機器全体での配置、および／または関連の加熱構成要素に応じて様々なサイズ、形状および構成に形成することができる。たとえば、ＰＴＣヒータは、装置が管材を包被することができるように、高可撓性基板から形成することができる。他の例では、ＰＴＣヒータは、インキュベーションリングなどのサブアセンブリに挿置され、必要に応じてサブアセンブリを局所的に加熱することができる。

図４は、自動臨床化学分析装置などの例示的な実験室診断装置１０の概略線図である。診断装置１０は、分析予定の患者試料を含む管またはバイアルなどの複数の流体容器１２を受ける。診断装置１０は、図４に示されるように、複数のアッセイハンドリング構成要素を含む。診断装置１０は、試料プローブ１４を用いて流体容器１２から液体試料を抽出し、それを専用の反応容器１６内で様々な試薬と合わせる。診断装置１０は、試料と試薬の混合物をある時間期間の間インキュベートする、流体容器１２および／または反応容器１６のためのインキュベーションリング１８をさらに含むことができる。診断装置１０は、さらに、試薬供給リザーバ１９、ならびに試薬供給ライン２０および試料ライン２２を含む複数の液体輸送ラインまたは管材をさらに含む。試薬供給ライン２０は、試薬を試薬供給リザーバ１９から反応容器１６にもたらす。試料プローブ１４に連結された試料ライン２２は、試料材料を流体容器１２から反応容器１６に送達する。診断装置１０は、その様々な構成要素の清浄化および洗浄のための１つまたはそれ以上の洗浄構成要素をさらに含むことができる。洗浄構成要素は、たとえば、洗浄分離区域２４、１つまたはそれ以上の洗浄ポンプ２６、および洗浄流体を供給する洗浄流体ライン２８を含むことができる。診断装置１０は、１つまたはそれ以上の測定値および／または基準を識別するために混合された試料と試薬を分析するように構成された１つまたはそれ以上の分析構成要素３０をさらに含む。診断装置１０は、その１つまたはそれ以上の区域または構成要素を所望の温度または温度範囲内に維持するように構成された加熱システム３２をさらに含む。実験室診断装置１０の記載の構成要素は、例示的であり、追加または代替の構成要素およびサブアセンブリを含めてもよいことを理解されたい。

診断装置１０の例示的な使用では、患者試料を含む容器１２のトレーが診断装置１０に装入される。試料プローブ１４が各試料の一部分を吸い込み、試薬との混合のためにそれを反応容器１６に送達する。混合溶液は、反応を起こさせるためにある時間期間の間インキュベーションリング１８に収納される。次いで、反応容器１６は、分析構成要素３０によって分析される。残った試料および／または試薬混合物は、システムからパージされ、洗浄構成要素が清浄化流体を送達し、次の試料分析の実施に向けて様々な構成要素を清浄化する。

多くの診断装置では、診断試験を成功裏に行うために、装置の様々な区域および／または構成要素の温度制御が必要である。たとえば、試料、試薬および２つの混合物は、混合物を正確に分析し結果を測定するために、特定の温度範囲内に保たなければならないことが多い。加熱システム３２は、温度の維持を助ける、および／または温度が下がった後の回復を助けるために、診断装置１０の１つまたはそれ以上の区域を加熱するように構成される。例示的な一実施形態では、加熱システム３２は、少なくとも１つのＰＴＣヒータ３４を含む。ＰＴＣヒータ３４は、診断装置１０の１つまたはそれ以上の構成要素に局所および／または周囲の加熱をもたらすために、様々な場所および構成に配置することができる。ＰＴＣヒータ３４は、診断装置１０と関連している電源または別個の電源など、１つまたはそれ以上の電源に接続することができる。

ＰＴＣヒータ３４は、基板３６およびＰＴＣ材料３８を含むことが好ましい。ＰＴＣ材料３８は、基板３６上にあるパターン（たとえば、基板３６上の印刷回路のサイズ、形状および配置）で印刷することができるインクの形態であってもよい。ＰＴＣ材料３８およびパターンは、ＰＴＣヒータ３４自体が自己調整により温度閾値を維持するようなかたちで設計されるように選択することができる。たとえば、ＰＴＣ材料３８は、所望の温度閾値に達したとき高い抵抗を発揮するように調整される。１つの例では、ＰＴＣヒータ３４が３３℃を保持するように設計される場合、ＰＴＣ材料３８の抵抗は、ＰＴＣヒータ３４が３３℃で効果的にシャットダウンする点まで増加する。周囲温度が３３℃未満になると、抵抗が減少し、３３℃が安定するまでヒータに電流が流れる。

例示的な一実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、診断装置１０内の空気体積の加熱を実施することができる。従来のシステムでは、装置に高温の気流を提供して対流により構成要素とサブアセンブリを加熱する強制空気ヒータが所定位置にある（たとえば、図２）。例示的な一実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、対流加熱に使用することができる。ＰＴＣヒータ３４は、診断装置１０内の空気体積を加熱するように位置することができる。たとえば、ＰＴＣヒータ３４は、図１に示される空気体積１１０に隣接して位置することができる。この実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、全体的な加熱を行う。ＰＴＣヒータ３４は、加熱し過ぎることがないので、ヒータの動作を制御するフィードバック制御ループの必要がない。ＰＴＣヒータ３４は、診断機器の対流加熱に使用される現在の加熱要素よりも費用効果が高い。

他の実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、診断装置１０の管材の１つまたはそれ以上のラインを加熱するように構成することができる。管材のこれらのラインは、たとえば、試薬供給ライン２０、試料ライン２２または洗浄流体ライン２８のうちの１つまたはそれ以上を含むことができる。１つの例では、ＰＴＣヒータ３４は、試薬供給ライン２０の試薬を加熱することに使用される。

ＰＴＣヒータ３４は、様々な方法で試薬の加熱を実施することができる。１つの例では、可撓性材料から形成されたＰＴＣヒータ３４で試薬供給ライン２０を包被することができる。たとえば、基板３６は、試薬供給ライン２０を形成する管材の少なくとも一部分を囲繞するように管状に形成することができるように、可撓性であってもよい。他の例では、ＰＴＣヒータ３４は、試薬供給ライン２０を形成するマルチルーメン管の一部を形成することができる。たとえば、試薬供給ライン２０は、少なくとも１つの層がＰＴＣヒータ３４である多層の管材からなってもよい。いくつかの例では、試薬供給ライン２０は、伝熱パイプに連結することができる。ＰＴＣヒータ３４は、供給ライン２０の試薬を加熱するためにパイプを伝導加熱することができる。他の例では、ＰＴＣヒータ３４は、試薬供給リザーバ１９を伝導加熱することができる。たとえば、ＰＴＣヒータ３４は、温度閾値での試薬の供給を維持するために、試薬供給リザーバ１９に取り付ける、またはそれを包被することができる。

いくつかの実施形態では、試薬供給ライン２０は、ＰＴＣヒータ３４によって加熱される熱交換器を含むことができる。たとえば、ＰＴＣヒータ３４は、ＰＴＣ材料３８を試薬供給ライン２０の管材に印刷することによって、試薬供給ライン２０に埋め込んでもよい。他の例では、ＰＴＣヒータ３４は、試薬を伝導および／または対流加熱する構成で、試薬供給ライン２０の横に取り付けることができる。

他の実施形態では、試薬供給ライン２０と共に使用されるチェーンまたは案内部をＰＴＣヒータ３４によって加熱することができる。さらに、試薬プローブまたは試薬プローブアセンブリの任意の部分をＰＴＣヒータ３４を用いて加熱することもできる。

他の例示的な実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、試料プローブ１４の局所的な加熱に使用することができる。試料プローブ１４は、試料プローブ１４および隣接または近接する試料プローブ構成要素を所望温度まで迅速に加熱しその所望温度を維持するように、試料プローブ１４上または周りに１つまたはそれ以上のＰＴＣヒータ３４を装備してもよい。

図５および図６は、例示的な試料プローブ１４の図である。試料プローブ１４は、可動制御アーム４０およびカバー４２を含む。制御アーム４０は、それを構成する複数のウェブ４４を含むことができる。いくつかの実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、試料プローブ１４の周りを局所的に加熱するために、試料プローブ１４の制御アーム４０および／またはカバー４２に連結することができる。いくつかの実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、カバー４２に取り付ける、またはウェブ４４内に配置することができる。他の実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、カバー４２および／またはウェブ４４に埋め込むことができる。いくつかの実施形態では、ＰＴＣ材料３８は、カバー４２および／またはウェブ４４に直接印刷することができる。

いくつかの実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、試料ライン２２を加熱するような位置および構成とすることができる。たとえば、試薬供給ライン２０に関して述べた実施形態のいずれかを試料ライン２２（および／または洗浄流体ライン２８）に適用してもよい。たとえば、試料ライン２２は、ＰＴＣヒータ３４を有するマルチルーメン管として形成してもよく、ＰＴＣヒータ３４は、試料ライン２２に連結された伝熱パイプに連結してもよく、試料ライン２２に関連する熱交換器は、ＰＴＣヒータ３４を含んでもよく（たとえば、ＰＴＣ材料３８を試料ライン２２の管材に印刷してもよく）、および／または、試料ライン２２に関連するチェーンもしくは案内部をＰＴＣヒータ３４を用いて加熱してもよい。

他の実施形態では、ＰＴＣヒータは、インキュベーションリング１８の局所的な加熱に使用することができる。図７は、例示的なインキュベーションリング１８を示す分解図である。インキュベーションリング１８は、リング４６、加熱要素４８、カバー５０および断熱ハウジング５２を含む。リング４６は、成形プラスチック部分、および鋳造金属部分（たとえば、アルミニウム）を含むことができる。リング４６は、反応容器１６を受け、カバー５０および断熱ハウジング５２は、ある時間期間にわたる反応容器１６内の混合物のインキュベーションのために、反応容器１６を少なくとも部分的に取り囲む。加熱要素４８は、インキュベーション期間の前、間および／または後にインキュベーションリング１８内の温度を維持するように加熱をもたらすために、リング４６に隣接して位置する。

１つの実施形態では、加熱要素４８は、（図７の例示的な図に示されるように）リングとして形成される。リング形加熱要素４８は、ＰＴＣヒータ３４であってもよい。たとえば、基板３６は、リング４６を包被するように可撓性であってもよい。他の実施形態では、基板３６は、リング４６の鋳造金属部分であってもよく、その場合、ＰＴＣ材料３８はリング４６に直接印刷される。他の実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、インキュベーションリング１８を対流加熱するように位置してもよい。

例示的な実験室診断装置１０は、本明細書に記載の加熱システム３２の実施形態のうちの１つまたはそれ以上を含むことができる。たとえば、対流ＰＴＣヒータは、試料プローブ１４、インキュベーションリング１８、試薬供給ライン２０、試料ライン２２、洗浄分離区域２４、洗浄ポンプ２６または洗浄流体ライン２８のうちの１つまたはそれ以上を伝導加熱するように位置する１つまたはそれ以上の局部ＰＴＣヒータと組み合わせて、診断装置１０内の空気体積を加熱するように位置することができる。特定の構成要素がＰＴＣヒータ３４により局所的に加熱されることを記載したが、診断装置１０の他の構成要素および／または他の装置が、所望温度への伝導および／または対流加熱のために連結または一体化されたＰＴＣヒータを含むこともできることを理解されたい。一代替実施形態では、ＰＴＣヒータ３４は、従来の加熱システム（たとえば、強制空気による従来加熱要素）と共に温度センサとして使用することもできる。

開示の実施形態は、所望の温度を達成するまたはそれを維持するためにＰＴＣ加熱を用いる実験室診断機器および関連の構成要素について記述する。ＰＴＣヒータの自己調整性は、診断機器の様々な構成要素に好適である。これは、一つには、ＰＴＣヒータのサイズが小さく適用性のある形状であることによる。さらに、ＰＴＣヒータは、加熱し過ぎることがないので、システムに複雑さと費用を追加することになる外部制御装置またはフィードバック機構の必要がない。

本明細書に様々な態様および実施形態が開示されているが、他の態様および実施形態も当業者には明らかであろう。本明細書に開示の様々な態様および実施形態は、例示を目的としており、限定を意図するものではなく、真の範囲および趣旨は以下にある特許請求の範囲によって示される。

本明細書における機能およびプロセス工程は、ユーザコマンドに応答して自動的または全体的または部分的に実施することができる。自動的に実施されるアクティビティ（工程を含む）は、使用者が直接的にアクティビティを開始することなく、１つまたはそれ以上の実行可能命令またはデバイスオペレーションに応答して実施される。

図面のシステムおよびプロセスは、排他的ではない。同じ目的を達成するために、本発明の原理に従って他のシステム、プロセス、およびメニューを導出することができる。本発明を、特定の実施形態を参照して説明してきたが、本明細書に図示および記載された実施形態および変形形態は、例示のみを目的としたものと理解されたい。現在の設計に対する変更を、本発明の範囲から逸脱することなく当業者によって実施することができる。本明細書に記載されているように、様々なシステム、サブシステム、エージェント、マネージャ、およびプロセスは、ハードウェア構成要素、ソフトウェア構成要素、および／またはこれらの組み合わせを使用して実装することができる。本明細書の特許請求の範囲の要素は、いずれも、「する手段」という語句を用いて明示的に記載されていない限り、米国特許法第１１２条（ｆ）の規定に該当しない。

Claims

診断装置であって：
１つまたはそれ以上の容器から試料材料を受ける試料プローブと；
試料材料を１つまたはそれ以上の反応容器に送達する試料ラインと；
１つまたはそれ以上の反応容器に試薬を供給する試薬供給源および試薬供給ラインと；
反応容器を受け、試料材料と試薬の混合物をある時間期間の間インキュベートするインキュベーションリングと；
診断装置の１つまたはそれ以上の区域を加熱するための加熱システムであって、１つまたはそれ以上のＰＴＣヒータを含む、加熱システムと
を含む、前記診断装置。
ＰＴＣヒータは、診断装置内の空気体積を加熱するように構成された対流ヒータである、請求項１に記載の診断装置。
ＰＴＣヒータは、該ＰＴＣヒータに接触する構成要素を加熱するように構成された伝導ヒータである、請求項１に記載の診断装置。
構成要素は、試料プローブ、試料ライン、試薬供給源、試薬供給ラインまたはインキュベーションリングのうちの１つまたはそれ以上である、請求項３に記載の診断装置。
ＰＴＣヒータは、基板と、ＰＴＣ材料とを含む、請求項１に記載の診断装置。
基板は、試料ラインまたは試薬供給ラインを形成する管材であり、ＰＴＣ材料は、該管材上に形成される、請求項５に記載の診断装置。
基板は、可撓性材料であり、ＰＴＣヒータは、試料ラインまたは試薬供給ラインを形成する管材を包被する、請求項５に記載の診断装置。
試料プローブは、制御アームと、カバーとを含み、ＰＴＣヒータは、制御アームおよびカバーのうちの１つまたはそれ以上に取り付けられる、請求項１に記載の診断装置。
制御アームは、複数のウェブを含み、ＰＴＣヒータは、複数のウェブのうちの１つまたはそれ以上に連結または埋め込まれる、請求項８に記載の診断装置。
ＰＴＣヒータは、インキュベーションリング内に位置する、請求項１に記載の診断装置。
インキュベーションリングは、反応容器を受けるリングを包被するＰＴＣヒータを含む、請求項１０に記載の診断装置。
インキュベーションリングは、反応容器を受け金属構成要素を含むリングを含み、
金属構成要素は、ＰＴＣヒータのための基板であり、ＰＴＣヒータのＰＴＣ材料は、金属構成要素上に形成される、請求項１０に記載の診断装置。
診断装置であって：
１つまたはそれ以上のアッセイハンドリング構成要素と；
１つまたはそれ以上のアッセイハンドリング構成要素を加熱するように構成された１つまたはそれ以上のＰＴＣヒータを含む、加熱システムと
を含み、ここで：
１つまたはそれ以上のＰＴＣヒータは、基板と、ＰＴＣ材料とを含み、
該ＰＴＣ材料は、電流供給源に接続されており、温度閾値までの加熱を自己調整により行うように選択され、
温度閾値は、１つまたはそれ以上のアッセイハンドリング構成要素についての所望の温度範囲に基づいて選択される、
前記診断装置。
１つまたはそれ以上のアッセイハンドリング構成要素は、試薬供給ラインまたは試料ラインのための管材を含む、請求項１３に記載の診断装置。
基板は管材を包被する、請求項１４に記載の診断装置。
管材はＰＴＣヒータの基板である、請求項１４に記載の診断装置。
管材は、マルチルーメン構造であり、ルーメン層のうちの１つが基板である、請求項１４に記載の診断装置。
１つまたはそれ以上のアッセイハンドリング構成要素は、インキュベーションリングを含み、該インキュベーションリングは、１つまたはそれ以上の反応容器を受けるリングを含む、請求項１３に記載の診断装置。
基板はリングを包被する、請求項１８に記載の診断装置。
リングは金属構成要素を含み、該金属構成要素はＰＴＣヒータの基板である、請求項１８に記載の診断装置。