JP2022174060A - Substrate assembling apparatus and substrate assembling method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate assembling apparatus and a substrate assembling method capable of reducing deflection of a substrate.
SOLUTION: A substrate assembling apparatus 1 can hold one substrate on a lower table 10 and hold the other substrate on an upper table 9 so as to face the one substrate to bond them with an adhesive provided on one of the substrates in a vacuum chamber. The substrate assembling apparatus includes, on surfaces holding the substrates of the upper table 9 and/or the lower table 10, a plurality of projections and depressions adjacently arranged to each other, where width of the depression has ratio of from 10-6 to 10-5 with respect to widths of the upper table 9 and/or the lower table 10.
SELECTED DRAWING: Figure 1
COPYRIGHT: (C)2023,JPO&INPIT

Description

本発明は、真空中で基板を貼り合わせる液晶ディスプレイや有機ELディスプレイ等を製造する基板組立装置及び基板組立方法に関する。 The present invention relates to a substrate assembling apparatus and a substrate assembling method for manufacturing a liquid crystal display, an organic EL display, or the like in which substrates are bonded together in a vacuum.

真空中で基板を貼り合わせる基板組立装置に係る技術として、例えば、特許文献1では、真空引き工程中に、上基板を上下動させることで、上基板と下基板間の離間距離を変動させことで、上基板と下基板との間から気体を効率よく排除する基板組立装置が開示されている。
また、特許文献2では、テーブルへ帯電防止手段を備えたワーク貼り合わせ装置が提案されている。
特許文献3には、テーブルの断熱圧縮・温度変化による歪を低減すべく、ワークの非貼合面と接触する第1及び第2保持部材の表面に凸状部及び凹状部を複数形成し、減圧時(真空引き時)の排気を良好にすることで、微小空間における断熱膨張または断熱圧縮による温度変化のワークへの影響を抑制する真空貼り合わせ装置が開示されている。
As a technology related to a substrate assembling apparatus that bonds substrates together in a vacuum, for example, Patent Document 1 discloses that the separation distance between the upper substrate and the lower substrate is changed by moving the upper substrate up and down during the evacuation process. discloses a substrate assembly apparatus that efficiently eliminates gas from between an upper substrate and a lower substrate.
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 2002-200000 proposes a workpiece bonding apparatus having an antistatic means on a table.
In Patent Document 3, in order to reduce distortion due to adiabatic compression and temperature change of the table, a plurality of convex portions and concave portions are formed on the surfaces of the first and second holding members that contact the non-bonding surface of the work, A vacuum bonding apparatus is disclosed that suppresses the influence of temperature change on a workpiece due to adiabatic expansion or adiabatic compression in a minute space by improving exhaustion during decompression (vacuum drawing).

また、特許文献4では、減圧下で下テーブル側の残留空気膨張による下基板位置ずれの問題を改善するためシート面に凹凸や溝を形成した基板組立装置が開示されている。
特許文献5には、剥離ピン上下機構や粘着パッド上下機構にてずれが発生せず精度良く貼り合わせを行える基板組立装置が開示されている。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-200000 discloses a board assembly apparatus in which irregularities and grooves are formed on the sheet surface in order to improve the problem of positional deviation of the lower board due to expansion of residual air on the side of the lower table under reduced pressure.
Patent Literature 5 discloses a substrate assembling apparatus capable of precisely bonding substrates without causing deviation in a peeling pin vertical mechanism or an adhesive pad vertical mechanism.

特開2017-80868号公報JP 2017-80868 A 特許5654155号公報Japanese Patent No. 5654155 特許6255546号公報Japanese Patent No. 6255546 特開2003-283185号公報JP-A-2003-283185 特開2005-134687号公報JP 2005-134687 A

しかしながら、近年、真空中で貼り合わせるガラス基板の大型化が進み、特許文献1乃至特許文献3に開示される組立装置では、真空引き時のテーブル溝内等に残留する空気が、高速で排気されることによる静電気発生、或いは、ガラス基板に生ずる撓みが懸念される。 However, in recent years, glass substrates to be bonded together in a vacuum have become larger, and in the assembling apparatus disclosed in Patent Documents 1 to 3, the air remaining in the table groove or the like during evacuation is exhausted at high speed. There is concern about the generation of static electricity or the bending of the glass substrate.

また、特許文献4及び特許文献5に開示される組立装置においても、高速化に伴う基板上昇動作での撓みの発生が危惧される。 Also, in the assembling apparatuses disclosed in Patent Documents 4 and 5, there is a concern that bending may occur during the board rising operation due to speeding up.

そこで、本発明は、基板の撓みを低減し得る基板組立装置及び基板組立方法を提供する。 Accordingly, the present invention provides a board assembly apparatus and a board assembly method that can reduce the bending of the board.

上記課題を解決するため、本発明に係る基板組立装置は、一方の基板を下テーブル上に保持し、他方の基板を上テーブルに前記一方の基板に対向させて保持し、いずれか一方の基板に設けた接着剤にて真空チャンバ内で貼り合わせを行う基板組立装置であって、前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの前記基板を保持する面に、相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部を有し、前記凹部の幅が前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの幅に対し、10-6から10-4の比率となることを特徴とする。 In order to solve the above-described problems, a board assembly apparatus according to the present invention holds one board on a lower table, holds the other board on an upper table so as to face the one board, and A substrate assembling apparatus that performs bonding in a vacuum chamber with an adhesive provided in a substrate assembly apparatus, wherein a plurality of protrusions arranged adjacent to each other are provided on surfaces of the upper table and/or the lower table that hold the substrate. and a concave portion, and the width of the concave portion has a ratio of 10 −6 to 10 −4 with respect to the width of the upper table and/or the lower table.

本発明に係る基板組立装置は、前記相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部が、エンボスシートに形成され、前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの前記基板を保持する面に接着剤にて貼付されていることを特徴とする。 In the board assembly apparatus according to the present invention, the plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other are formed on the embossed sheet, and adhesive is applied to the surfaces of the upper table and/or the lower table for holding the board. characterized in that it is affixed

本発明に係る基板組立装置は、前記エンボスシートが、ポリエチレンテレフタレート製であって縦断面が波型形状であることを特徴とする。 The board assembly apparatus according to the present invention is characterized in that the embossed sheet is made of polyethylene terephthalate and has a wavy longitudinal section.

本発明に係る基板組立装置は、前記相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部が、前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの前記基板を保持する面に設けられた弾性体プレートに形成されていることを特徴とする。 In the board assembly apparatus according to the present invention, the plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other are formed on an elastic plate provided on a surface of the upper table and/or the lower table for holding the board. It is characterized by

本発明に係る基板組立装置は、チャンバの内側に設けられた前記上テーブルに、前記上テーブルとは独立して上下することが可能な吸着ピンプレートに複数の吸着ピンを備えた真空吸着機構とパージガスブロー機構を備えることを特徴とする。 A substrate assembly apparatus according to the present invention includes a vacuum suction mechanism having a plurality of suction pins on a suction pin plate that can move up and down independently of the upper table on the upper table provided inside the chamber. It is characterized by having a purge gas blow mechanism.

また、本発明に係る他の基板組立装置は、一方の基板を下テーブル上に保持し、他方の基板を上テーブルに前記一方の基板に対向させて保持し、いずれか一方の基板に設けた接着剤にて真空チャンバ内で貼り合わせを行う基板組立装置であって、粗に配される第1のリフタと密に配される第2のリフタとを有し、前記第2のリフタは前記下テーブルを貫通可能であって、前記第2のリフタにより基板を所定量上昇させた後、前記第1のリフタにて前記基板を更に上昇させることを特徴とする。 In another board assembly apparatus according to the present invention, one board is held on a lower table, and the other board is held on an upper table so as to face the one board. A substrate assembly apparatus for bonding substrates in a vacuum chamber with an adhesive, comprising a first lifter that is loosely arranged and a second lifter that is densely arranged, wherein the second lifter is the After the substrate is lifted by a predetermined amount by the second lifter, the substrate is further lifted by the first lifter, which can pass through the lower table.

本発明に係る他の基板組立装置は、前記第1のリフタによる前記基板の上昇量は、前記第2のリフタによる基板の上昇量よりも大きいことを特徴とする。 Another board assembly apparatus according to the present invention is characterized in that the amount by which the board is lifted by the first lifter is greater than the amount by which the board is lifted by the second lifter.

本発明に係る他の基板組立装置は、前記第1のリフタによる前記基板の上昇量は、前記第2のリフタによる基板の上昇量の略33倍から200倍であることを特徴とする。 Another board assembly apparatus according to the present invention is characterized in that the amount of lifting of the board by the first lifter is approximately 33 to 200 times the amount of lifting of the board by the second lifter.

本発明に係る他の基板組立装置は、前記下テーブルは、前記第2のリフタが貫通可能な貫通孔を備え、前記第2のリフタにより基板を所定量上昇させたとき、前記貫通孔の内周面と前記第2のリフタの外周面との間隙からパージガス又は大気が前記基板の裏面へと侵入することを特徴とする。 In another board assembly apparatus according to the present invention, the lower table has a through hole through which the second lifter can pass, and when the board is lifted by the second lifter by a predetermined amount, the inside of the through hole is lifted. It is characterized in that purge gas or air enters the back surface of the substrate through a gap between the peripheral surface and the outer peripheral surface of the second lifter.

また、本発明に係る基板組立方法は、一方の基板を下テーブル上に保持する工程と、他方の基板を上テーブルに前記一方の基板に対向させて保持する工程と、いずれか一方の基板に設けた接着剤にて真空チャンバ内で貼り合わせを行う工程と、を有する基板組立方法であって、前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの前記基板を保持する面に、相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部を有し、前記凹部の幅が前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの幅に対し、10-6から10-4の比率となることを特徴とする。 Further, the substrate assembly method according to the present invention includes the steps of: holding one substrate on a lower table; holding the other substrate on an upper table so as to face the one substrate; and bonding the substrates in a vacuum chamber with a provided adhesive, wherein the substrates are arranged adjacent to each other on the substrate holding surfaces of the upper table and/or the lower table. A plurality of protrusions and recesses are provided, and the width of the recesses has a ratio of 10 −6 to 10 −4 with respect to the width of the upper table and/or the lower table.

また、本発明に係る他の基板組立方法は、一方の基板を下テーブル上に保持する工程と、他方の基板を上テーブルに前記一方の基板に対向させて保持する工程と、いずれか一方の基板に設けた接着剤にて真空チャンバ内で貼り合わせを行う工程と、を有する基板組立方法であって、粗に配される第1のリフタと密に配される第2のリフタとを有し、前記第2のリフタは前記下テーブルを貫通可能であって、前記第2のリフタにより基板を所定量上昇させた後、前記第1のリフタにて前記基板を更に上昇させることを特徴とする。 Another board assembly method according to the present invention comprises a step of holding one of the boards on a lower table and a step of holding the other board on an upper table so as to face the one board. and a step of bonding the substrates together in a vacuum chamber using an adhesive provided on the substrates, the substrate assembling method comprising a first lifter loosely arranged and a second lifter densely arranged. and the second lifter can pass through the lower table, and after the substrate is lifted by a predetermined amount by the second lifter, the substrate is further lifted by the first lifter. do.

本発明によれば、ガラス基板の撓みを低減し得る基板組立装置及び基板組立方法を提供することが可能となる。
上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it becomes possible to provide the board|substrate assembly apparatus and board|substrate assembly method which can reduce the bending of a glass substrate.
Problems, configurations, and effects other than those described above will be clarified by the following description of the embodiments.

本発明の一実施例に係る実施例1の基板組立装置の概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram of a board assembly apparatus of Example 1 according to an embodiment of the present invention; FIG. 図1に示す基板組立装置を構成する案内機構の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a guide mechanism that constitutes the board assembly apparatus shown in FIG. 1; 粘着ピン機構の概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing of an adhesive pin mechanism. 図3に示す上テーブル及び下テーブル表面の弾性体の縦断面図である。4 is a longitudinal sectional view of elastic bodies on the surfaces of the upper and lower tables shown in FIG. 3; FIG. 図1に示す基板組立装置の動作フローを示すフローチャートである。2 is a flow chart showing an operation flow of the board assembly apparatus shown in FIG. 1; 本発明の他の実施例に係る実施例2の基板組立装置の概略図であって、下テーブルの上面図及び側面図である。FIG. 10 is a schematic diagram of a substrate assembly apparatus of Example 2 according to another example of the present invention, which is a top view and a side view of a lower table; 実施例2の基板組立装置の動作フローを示すフローチャートである。10 is a flow chart showing the operation flow of the board assembly apparatus of Example 2. FIG. 図6に示す第2のリフタにより下ガラス基板を所定量上昇させた状態を示す縦断面図である。7 is a longitudinal sectional view showing a state in which the lower glass substrate is lifted by a predetermined amount by the second lifter shown in FIG. 6; FIG. 図6に示す第1のリフタにより下ガラス基板を所定量上昇させた状態を示す縦断面図である。7 is a longitudinal sectional view showing a state in which the lower glass substrate is lifted by a predetermined amount by the first lifter shown in FIG. 6; FIG.

本明細書では、真空中で貼り合わせる基板としてガラス基板を一例に説明するが、貼り合わせる基板はガラス基板に限られるものではない。
以下、図面を用いて本発明の実施例について説明する。
In this specification, a glass substrate is used as an example of substrates to be bonded together in a vacuum, but substrates to be bonded together are not limited to glass substrates.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の一実施例に係る実施例1の基板組立装置の概略構成図である。図1に示すように、基板組立装置1は、架台15と上フレーム5を剛体支持部材として、その内側に上チャンバ7と下チャンバ8を備えている。なお、上フレーム5は架台15側に設けたZ軸駆動機構2を構成するZ軸駆動モータ2aのボールネジ2bを回転駆動することで、上フレーム5に設けたボールネジ受け部2cを介して上フレーム5が架台15に対して上下方向に移動する構成としてある。上フレーム5が上下動する際の案内機構3は4組設けられている。
図2に、図1に示す基板組立装置を構成する案内機構の説明図を示す。図2では、案内機構3の一部断面図を示している。図2に示すように、架台15側に固定された梁17に2つのリニアガイド3aを上フレーム5側に固定された梁18にリニア移動部3bが設けてある。図2に示すように一方の案内面が他方の案内面に対して垂直となるように組合わされている。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a board assembly apparatus of Example 1 according to one embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the substrate assembly apparatus 1 has a base 15 and an upper frame 5 as rigid support members, and an upper chamber 7 and a lower chamber 8 inside thereof. The upper frame 5 rotates the ball screw 2b of the Z-axis drive motor 2a that constitutes the Z-axis drive mechanism 2 provided on the pedestal 15 side. 5 moves vertically with respect to the base 15 . Four sets of guide mechanisms 3 are provided when the upper frame 5 moves up and down.
FIG. 2 shows an explanatory diagram of a guide mechanism that constitutes the substrate assembly apparatus shown in FIG. FIG. 2 shows a partial cross-sectional view of the guide mechanism 3. As shown in FIG. As shown in FIG. 2, two linear guides 3a are provided on a beam 17 fixed to the pedestal 15 side, and a linear moving part 3b is provided on a beam 18 fixed to the upper frame 5 side. As shown in FIG. 2, one guide surface is combined so as to be perpendicular to the other guide surface.

図1に戻り、架台15の上方には下テーブル10を支持するための複数の下シャフト12が取り付けてある。各下シャフト12は下チャンバ8内と気密性を保つため真空シール(図示せず)を介して下チャンバ8内に突出している。さらに各下シャフト12と下テーブル10の間にはXYθ方向にそれぞれ独立に可動可能なように構成されたXYθ移動ユニット13が取り付けてある。なお、XYθ移動ユニット13は、上下方向に固定で水平方向に自由に移動可能なボールベア等を使用した機構で構成しても良い。下テーブル10の水平方向(X,Y方向)に図示しない複数の下テーブル水平駆動機構が下チャンバ8の外側に設けてあり、駆動機構に設けた軸で下テーブル側面(下テーブルの厚み方向)を押すことでXYθ方向の位置決めを行えるように構成してある。
さらに、下チャンバ8と上チャンバ7は分割できる構成としてあり、その接続部には図示しないシールリングが設けてあり、これにより上チャンバ7及び下チャンバ8とを合体させ、内部を排気した時の空気の漏れを防止している。
Returning to FIG. 1 , a plurality of lower shafts 12 for supporting the lower table 10 are attached above the mount 15 . Each lower shaft 12 protrudes into the lower chamber 8 via a vacuum seal (not shown) in order to keep the inside of the lower chamber 8 airtight. Further, between each lower shaft 12 and the lower table 10, an XY.theta. moving unit 13 configured to be independently movable in the XY.theta. directions is attached. The XYθ moving unit 13 may be configured by a mechanism using a ball bearing or the like that is fixed in the vertical direction and freely movable in the horizontal direction. A plurality of lower table horizontal drive mechanisms (not shown) are provided outside the lower chamber 8 in the horizontal direction (X and Y directions) of the lower table 10, and the shafts provided in the drive mechanisms move the side of the lower table (thickness direction of the lower table). It is configured so that positioning in the XYθ direction can be performed by pressing .
Further, the lower chamber 8 and the upper chamber 7 are configured to be separable, and a seal ring (not shown) is provided at the connecting portion thereof, whereby the upper chamber 7 and the lower chamber 8 are united, and when the inside is evacuated. Prevents air leakage.

上フレーム5とZ軸駆動機構2の接続部には、それぞれロードセル4が設けられている。上フレーム5の内側には、上チャンバ7が取り付けてある。上チャンバ7は上フレーム5から支持軸6cとブラケット7bにより、吊り下げられる構造になっており、上フレーム5を上下動させることによって、上チャンバ7を下チャンバ8より離間させることができる。また、上フレーム5には上テーブル9を支持するため、上チャンバ7内に向かって複数の上シャフト6が設けてある。上シャフト6と上チャンバ7間はチャンバ内の気密を保持するために真空シールで接続されている。さらに上テーブル9は上シャフト6に固定されており、ガラス基板を加圧した時の力をロードセル4で検知できる構造となっている。なお、Z軸駆動機構2は上チャンバ7及び上テーブル9を上下に移動できるようになっており、そのため、上チャンバ7を上フレーム5に設けた支持軸6cと、上テーブル9を上フレーム5に設けた支持軸(上シャフト6)とが別々に設けてある。そのため、上チャンバ7の支持軸6cは、上チャンバ7が下チャンバ8に合体すると、上チャンバ7から下チャンバ8に下側に移動する力が作用しないように、遊びのできる支持構成となっている。すなわち、上チャンバ7上部に所定の高さのブラケット7bを取り付け、そのブラケット7b内部に上チャンバ7の支持軸6cの先端にフランジ部が当たるようにしてある。上チャンバ7を持ち上げるときはこのブラケット7bに支持軸6cのフランジ部が接触(当接)して上チャンバ7及び上テーブル9が一体で上方向に移動できる。すなわち、上シャフト6を上昇させ、上テーブル9を上チャンバ7内で所定量上方に移動すると支持軸6cのフランジ部がブラケット7bに当接して、さらに上昇させると上テーブル9と上チャンバ7が一緒に上方に移動する構成となっている。また、上チャンバ7が下側に移動して下チャンバ8と一体になるまでは上チャンバ7と上テーブル9は一体で移動し、上チャンバ7及び下チャンバ8が一体になった後は上テーブル9が下テーブル10側に単独で移動できるようになっている。 A load cell 4 is provided at each connecting portion between the upper frame 5 and the Z-axis drive mechanism 2 . An upper chamber 7 is attached inside the upper frame 5 . The upper chamber 7 is suspended from the upper frame 5 by a support shaft 6c and a bracket 7b, and the upper chamber 7 can be separated from the lower chamber 8 by moving the upper frame 5 up and down. Further, the upper frame 5 is provided with a plurality of upper shafts 6 toward the inside of the upper chamber 7 for supporting the upper table 9 . The upper shaft 6 and the upper chamber 7 are connected by a vacuum seal to keep the chamber airtight. Further, the upper table 9 is fixed to the upper shaft 6, and has a structure in which the load cell 4 can detect the force when the glass substrate is pressed. The Z-axis drive mechanism 2 can move the upper chamber 7 and the upper table 9 up and down. A support shaft (upper shaft 6) is provided separately. Therefore, the support shaft 6c of the upper chamber 7 has a playful support structure so that when the upper chamber 7 is combined with the lower chamber 8, no downward force acts on the lower chamber 8 from the upper chamber 7. there is That is, a bracket 7b having a predetermined height is attached to the upper portion of the upper chamber 7, and the end of the support shaft 6c of the upper chamber 7 is brought into contact with the flange portion inside the bracket 7b. When the upper chamber 7 is lifted, the flange portion of the support shaft 6c contacts (contacts) with the bracket 7b so that the upper chamber 7 and the upper table 9 can move upward together. That is, when the upper shaft 6 is raised and the upper table 9 is moved upward by a predetermined amount in the upper chamber 7, the flange portion of the support shaft 6c abuts against the bracket 7b. It is configured to move upward together. In addition, the upper chamber 7 and the upper table 9 move together until the upper chamber 7 moves downward and becomes integrated with the lower chamber 8, and after the upper chamber 7 and the lower chamber 8 become integrated, the upper table moves downward. 9 can move independently to the lower table 10 side.

また、上記のように本実施例では、上テーブル9及び下テーブル10は、上チャンバ7及び下チャンバ8とは離間して配置しているため、チャンバ内を減圧した時にチャンバは変形するが、この変形が上テーブル9及び下テーブル10に伝達することなく、ガラス基板を水平に保持することができる。 In addition, as described above, in this embodiment, the upper table 9 and the lower table 10 are arranged apart from the upper chamber 7 and the lower chamber 8, so that the chamber deforms when the pressure inside the chamber is reduced. The glass substrate can be held horizontally without this deformation being transmitted to the upper table 9 and the lower table 10 .

上テーブル9には鉄製の弾性体プレート11が設けてある。弾性体プレート11のガラス基板と接触する面全体には弾性体11aが設けてある。弾性体プレート11は上テーブル9に埋め込んだ複数の磁石の磁気力とネジ締結により固定し、交換可能に構成してある。ここで、上テーブル9は、例えば、アルミ合金製であり、また、図1では省略しているが、下テーブル10にも同様に鉄製の弾性体プレート11が設けてあり、弾性体プレート11のガラス基板と接触する面全体には弾性体11bが設けてある。なお、本実施例では、上テーブル9に弾性体プレート11及び弾性体11aを設け、下テーブル10に弾性体プレート11及び弾性体11bを設ける構成を示すが必ずしもこれに限られるものではない。すなわち、上テーブル9又は下テーブル10のいずれか一方のみに弾性体プレート及び弾性体を設ける構成としても良い。 The upper table 9 is provided with an elastic plate 11 made of iron. An elastic member 11a is provided over the entire surface of the elastic plate 11 that contacts the glass substrate. The elastic plate 11 is fixed by the magnetic force of a plurality of magnets embedded in the upper table 9 and screw fastening, and is configured to be replaceable. Here, the upper table 9 is made of, for example, an aluminum alloy, and although omitted in FIG. An elastic body 11b is provided over the entire surface that contacts the glass substrate. In this embodiment, the elastic plate 11 and the elastic body 11a are provided on the upper table 9, and the elastic plate 11 and the elastic body 11b are provided on the lower table 10. However, the configuration is not necessarily limited to this. That is, the elastic plate and the elastic body may be provided only on either the upper table 9 or the lower table 10 .

図3は、粘着ピン機構の概略説明図である。図3に示すように、上チャンバ7上或いは上フレーム5上には上テーブル9とは独立して動作することができる粘着ピン駆動機構14が設置されている。この粘着ピン駆動機構14は、上下駆動用モータ14a、粘着ピン14cを複数取り付けた粘着ピンプレート14b、及び粘着ピン上下機構14dから構成されている。粘着ピンプレート14b及び粘着ピン14cには真空吸着機構を有すると共に粘着ピン14cの先端には粘着シート14eが取り付けられている。また、粘着ピン14cは粘着ピンプレート14bに対して取り外せる構造(ネジ機構により着脱自在にしてある)となっており、交換可能である。粘着ピンプレート14b内は負圧を供給する負圧室と、負圧室から粘着ピン14cの中央部に設けた負圧流路(図示せず)が接続され、粘着ピン14cの先端に設けた開孔に負圧を供給できるようになっている。粘着ピン14cの先端部には開孔部を除いて粘着シート14eが設けてある。なお、粘着ピンプレート14bを上下に移動させる粘着ピン上下機構14dと上チャンバ7との間は蛇腹状の弾性体で接続され、これによって、真空状態を保持できるようにしてある。 FIG. 3 is a schematic illustration of the adhesive pin mechanism. As shown in FIG. 3, on the upper chamber 7 or on the upper frame 5, an adhesive pin driving mechanism 14 that can operate independently of the upper table 9 is installed. The adhesive pin drive mechanism 14 is composed of a vertical drive motor 14a, an adhesive pin plate 14b to which a plurality of adhesive pins 14c are attached, and an adhesive pin vertical mechanism 14d. The adhesive pin plate 14b and the adhesive pin 14c have a vacuum adsorption mechanism, and an adhesive sheet 14e is attached to the tip of the adhesive pin 14c. Further, the adhesive pin 14c has a structure that can be removed from the adhesive pin plate 14b (it is detachable by a screw mechanism) and can be replaced. Inside the adhesive pin plate 14b, a negative pressure chamber for supplying negative pressure is connected to a negative pressure channel (not shown) provided in the center of the adhesive pin 14c from the negative pressure chamber. A negative pressure can be supplied to the hole. An adhesive sheet 14e is provided at the tip of the adhesive pin 14c except for the opening. The adhesive pin lifting mechanism 14d for moving the adhesive pin plate 14b up and down and the upper chamber 7 are connected by a bellows-like elastic body, thereby maintaining a vacuum state.

図4は、図3に示す上テーブル9及び下テーブル10表面の弾性体(11a,11b)の縦断面図である。図4では、下テーブル10表面の弾性体11bの縦断面図を示しており、縦断面において上部にガラス基板の裏面が当接し得る構造となっている。従って、厳密には、上テーブル9表面の弾性体11aでは、図4に示す縦断面図の上下が反転することになる。また、図4では凸部及び凹部を有する弾性体の断面形状及びそれらの寸法の一例を示すため拡大図として示している。図4に示すように、下テーブル10表面の弾性体11bは、相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部を有する。凸部の高さは例えば25μm、凸部のピッチ(下テーブル10の幅方向に沿ったピッチ)は約500μmである。
また、凸部の下テーブル10の幅方向に沿った長さは約460μmであり、凹部の下テーブル10の幅方向に沿った長さは約40μmである。また、このように相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部を有する弾性体(11a,11b)は、図示しないが、上面視、複数の凸部が正方格子状、三角格子状、或いは千鳥格子状に配されている。また、一方、上述のように近年、真空中で貼り合わせるガラス基板の大型化が進み、例えば、ガラス基板の寸法が3m×3mとなっている。従って、このようなガラス基板を保持する上テーブル9及び/又は下テーブル10の幅に対する、弾性体11a及び/又は弾性体11bの幅(上テーブル9及び/又は下テーブル10の幅方向に沿った幅)は、10-6から10-4の比率となる。
これにより、真空引き時の弾性体11a及び/又は弾性体11bの凹部(溝部)に残留する空気が排気される際に、大流量の気流が生じることを防止できる。換言すれば、細い排気流路が弾性体11a及び/又は弾性体11bの表面に複数形成されることになり、凹部(溝部)に残留する空気の排気を分散することが可能となる。そしてこの結果として、基板との摩擦帯電によるムラ発生の低減、急速な断熱膨張による温度低下によるムラ発生の防止、基板貼り合わせ精度の向上により、次世代高精細ディスプレイ製造における大型化・薄型化・微細パターン化に対し、色ムラの無いディスプレイ製造に貢献することが可能となる。
FIG. 4 is a longitudinal sectional view of elastic bodies (11a, 11b) on the surfaces of the upper table 9 and the lower table 10 shown in FIG. FIG. 4 shows a vertical cross-sectional view of the elastic body 11b on the surface of the lower table 10. In the vertical cross-section, the structure is such that the rear surface of the glass substrate can abut on the top. Therefore, strictly speaking, the elastic body 11a on the surface of the upper table 9 is upside down in the longitudinal sectional view shown in FIG. In addition, FIG. 4 is an enlarged view to show an example of the cross-sectional shape and dimensions of the elastic body having projections and recesses. As shown in FIG. 4, the elastic body 11b on the surface of the lower table 10 has a plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other. The height of the projections is, for example, 25 μm, and the pitch of the projections (pitch along the width direction of the lower table 10) is approximately 500 μm.
The length of the protrusion along the width direction of the lower table 10 is about 460 μm, and the length of the recess along the width direction of the lower table 10 is about 40 μm. The elastic bodies (11a, 11b) having a plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other in this manner have a plurality of protrusions arranged in a square lattice shape, a triangular lattice shape, or a zigzag pattern when viewed from above (not shown). arranged in a grid. On the other hand, as described above, in recent years, glass substrates that are bonded together in a vacuum have become larger. Therefore, the width of the elastic body 11a and/or the elastic body 11b (along the width direction of the upper table 9 and/or the lower table 10) width) is in the ratio of 10 −6 to 10 −4 .
As a result, it is possible to prevent a large amount of airflow from being generated when the air remaining in the recesses (grooves) of the elastic bodies 11a and/or the elastic bodies 11b is exhausted during evacuation. In other words, a plurality of narrow exhaust flow paths are formed on the surface of the elastic body 11a and/or the elastic body 11b, and it is possible to disperse the exhaust of the air remaining in the recess (groove). As a result, it is possible to reduce the occurrence of unevenness due to triboelectrification with the substrate, prevent the occurrence of unevenness due to temperature drops due to rapid adiabatic expansion, and improve the accuracy of substrate bonding. It is possible to contribute to the manufacture of displays without color unevenness in fine patterning.

なお、本実施例では、上テーブル9に弾性体プレート11及び弾性体11aを設け、下テーブル10に弾性体プレート11及び弾性体11bを設ける構成、或いは、上テーブル9又は下テーブル10のいずれか一方のみに弾性体プレート及び弾性体を設ける構成について説明したが、これに限られるものではない。例えば、アルミ合金製の上テーブル9のガラス基板を保持する面に、上述のように相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部を有するエンボスシートを接着剤にて貼付する構成としても良い。ここでエンボスシートは、例えばポリエチレンテレフタレート(polyethylene terephthalate:PETと称される)のシートにエンボス加工を施すことによって波型形状に形成される。また、同様に、アルミ合金製の下テーブル10のガラス基板を保持する面に、上述のように相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部を有するエンボスシートを接着剤にて貼付する構成としても良い。或いは、上テーブル9又は下テーブル10のいずれか一方のみにエンボスシートを接着剤にて貼付する構成としても良い。
このように、相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部を有するエンボスシートを用いることで、既存の基板組立装置を構成する上テーブル及び/又は下テーブルに上述のエンボスシートを接着剤にて貼付することのみで、本実施例の基板組立装置1を得ることが可能となる。
In this embodiment, the upper table 9 is provided with the elastic plate 11 and the elastic body 11a, and the lower table 10 is provided with the elastic plate 11 and the elastic body 11b. Although the configuration in which only one side is provided with the elastic plate and the elastic body has been described, the present invention is not limited to this. For example, an embossed sheet having a plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other as described above may be attached with an adhesive to the surface of the aluminum alloy upper table 9 that holds the glass substrate. Here, the embossed sheet is formed into a corrugated shape by embossing a sheet of polyethylene terephthalate (referred to as PET), for example. Similarly, an embossed sheet having a plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other as described above is attached with an adhesive to the surface of the aluminum alloy lower table 10 that holds the glass substrate. Also good. Alternatively, the embossed sheet may be attached to only one of the upper table 9 and the lower table 10 with an adhesive.
By using an embossed sheet having a plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other in this way, the above-described embossed sheet can be attached to the upper table and/or the lower table constituting the existing board assembly apparatus with an adhesive. It is possible to obtain the board assembly apparatus 1 of the present embodiment only by sticking.

次に、基板組立装置1の動作について説明する。図5は、図1に示す基板組立装置1の動作フローを示すフローチャートである。
図5に示すように、ステップS11では、図示しないロボットハンドを用いて貼り合わせ面を下テーブル10側に向けた上ガラス基板を上テーブル9下面に搬入する。上テーブル9から図示しない複数の吸着サポートノズルと粘着ピン駆動機構14(図3)を下げて、まず上ガラス基板を吸着サポートノズル(図示せず)の先端に吸着する。その後、吸着サポートノズルの先端が粘着ピン面位置になるまで吸着サポートノズルを上昇し、粘着ピン14c(図3)に設けられた粘着ピン吸引吸着孔(図示せず)に負圧を供給し上ガラス基板を粘着シート14e面に保持する。なお、本実施例では粘着ピン機構とは別に吸着サポートノズルを用いる構成としたがこれに限らず、吸着サポートノズルを設けずに、粘着ピン14cのみを用いて吸引吸着・粘着保持する構成としても良い。粘着ピン14cの先端設けた粘着シート14eに上ガラス基板を保持した状態で粘着ピン14cを上昇させ上ガラス基板が上テーブル9に取り付けた弾性体プレート11の弾性体11a面に接触保持させる。
Next, the operation of the board assembly apparatus 1 will be described. FIG. 5 is a flow chart showing the operation flow of the board assembly apparatus 1 shown in FIG.
As shown in FIG. 5, in step S11, a robot hand (not shown) is used to load the upper glass substrate with the bonding surface facing the lower table 10 side onto the lower surface of the upper table 9 . A plurality of suction support nozzles (not shown) and an adhesive pin driving mechanism 14 (FIG. 3) are lowered from the upper table 9, and the upper glass substrate is first sucked onto the tips of the suction support nozzles (not shown). After that, the suction support nozzle is raised until the tip of the suction support nozzle reaches the position of the adhesive pin surface, and negative pressure is supplied to the adhesive pin suction hole (not shown) provided in the adhesive pin 14c (FIG. 3). The glass substrate is held on the surface of the adhesive sheet 14e. In the present embodiment, the configuration is such that the suction support nozzle is used separately from the adhesive pin mechanism. However, the configuration is not limited to this. good. While the upper glass substrate is held by the adhesive sheet 14e provided at the tip of the adhesive pin 14c, the adhesive pin 14c is raised and the upper glass substrate is held in contact with the elastic body 11a surface of the elastic plate 11 attached to the upper table 9.

ステップS12では、下ガラス基板面に環状に接着剤(シール剤)が塗布されて、その接着剤で囲まれた領域に適量の液晶を滴下された下ガラス基板を下テーブル10の位置までロボットハンドで搬入し、サポートピン上に載置する。なお、接着剤は、下ガラス基板に設けることに代えて、上ガラス基板側に設けても良く、上下両ガラス基板に設けても良い。 In step S12, an adhesive (sealing agent) is applied to the surface of the lower glass substrate in an annular shape, and the lower glass substrate, with an appropriate amount of liquid crystal dropped onto the area surrounded by the adhesive, is moved to the position of the lower table 10 by a robot hand. and place it on the support pins. Instead of providing the adhesive on the lower glass substrate, the adhesive may be provided on the upper glass substrate side, or may be provided on both the upper and lower glass substrates.

次に、サポートピンを先端部がテーブル面又はテーブル面より内側になるまで下テーブル10側に後退させ、下テーブル10に設けられた吸着孔に負圧を供給し保持する。なお、下テーブル10には静電吸着機構が設けてあり、チャンバ内を真空状態にした場合にもガラス基板がずれないように保持できるようにしてある。なお、下テーブル10も上テーブル9と同様に粘着ピン機構を設ける構成としても良い。この場合、粘着ピンの移動距離は上テーブル9に比べて小さく設定できる。 Next, the support pin is retracted toward the lower table 10 until the tip end is on the table surface or inside the table surface, and negative pressure is supplied to the suction hole provided in the lower table 10 to hold the support pin. The lower table 10 is provided with an electrostatic chucking mechanism so that the glass substrate can be held without shifting even when the chamber is evacuated. Note that the lower table 10 may also be configured to have an adhesive pin mechanism like the upper table 9 . In this case, the moving distance of the adhesive pins can be set smaller than that of the upper table 9 .

ステップS13では、粘着ピン14c及び下テーブル10にそれぞれ上下ガラス基板を保持し終わると、Z軸駆動機構2を動作させて、上フレーム5及び上チャンバ7、上テーブル9を下降させ、上チャンバ7と下チャンバ8とをシールリングを介して合体させ真空チャンバを形成する。この動作と同期して粘着ピン駆動機構14も上下駆動用モータ14aと粘着ピン上下機構14dを使用して上テーブル9との位置関係が変化しないように下降させる。なお、この時上テーブル9に保持された上基板と下テーブル10に保持された下基板の対向面の間隔は数ミリ程度保っておき、上基板と下基板は接触させない。その後、図示していないが下チャンバ8側に設けた排気口から真空チャンバ内の空気を排気して真空チャンバ内を減圧する。真空チャンバ内が貼り合わせをするための減圧状態になると、下ユニット側に設けた焦点深度の深いカメラ(図示せず)を用いて上ガラス基板と下ガラス基板に予め設けてある位置決めマークのずれ量を求める。しかし、カメラの焦点深度の浅い場合は、カメラを上下動作させる機構を設けてまず上ガラス基板の位置決めマークを認識してからカメラを下方に移動させ下ガラス基板の位置決めマークを認識して上下ガラス基板の位置決めマークのずれ量を求める方法をとる。その後、XYθ移動ユニット13を駆動することで下テーブル10を移動して上下基板のXYθ方向のずれを修正する。
なお、この位置決め動作は貼り合わせをするための減圧過程の途中で行うこともできる。
ステップS14では、上下基板の位置合わせが終了すると、Z軸駆動機構2を動作させてフレーム5を介して上テーブル9を移動させると共に、それに同期して粘着ピン駆動機構14を下テーブル10側に移動させることで上下ガラス基板を接触させる。上下ガラス基板が接触した状態で再度上下ガラス基板の位置決めマークのずれ量を確認し、もしずれている場合は再度位置決め動作を行う。確認及び位置決め動作が終了すると更に上テーブル9のみが下降し、加圧を行うと共に粘着ピン14cから上ガラス基板を離脱させる。基板を加圧する際に上テーブル9に取り付いている弾性体プレート11上の弾性体11aが変形することによって基板全体を均一に加圧することができる。なお加圧時に両テーブル上に保持しているガラス基板が位置ずれを起こす場合もあり、時々位置決めマークを観測して位置ずれ補正を行ったほうが良い。
In step S13, when the upper and lower glass substrates are respectively held by the adhesive pins 14c and the lower table 10, the Z-axis driving mechanism 2 is operated to lower the upper frame 5, the upper chamber 7, and the upper table 9. and the lower chamber 8 are combined through a seal ring to form a vacuum chamber. In synchronism with this operation, the adhesive pin drive mechanism 14 is also lowered using the vertical drive motor 14a and the adhesive pin vertical mechanism 14d so that the positional relationship with the upper table 9 does not change. At this time, the upper substrate held by the upper table 9 and the lower substrate held by the lower table 10 are separated from each other by a distance of several millimeters, and the upper substrate and the lower substrate are not brought into contact with each other. Thereafter, although not shown, the air in the vacuum chamber is exhausted from an exhaust port provided on the lower chamber 8 side to reduce the pressure in the vacuum chamber. When the inside of the vacuum chamber becomes decompressed for bonding, a camera (not shown) with a deep focal depth provided on the lower unit side is used to detect the misalignment of the positioning marks previously provided on the upper glass substrate and the lower glass substrate. ask for quantity. However, if the depth of focus of the camera is shallow, a mechanism for moving the camera up and down should be provided. A method of obtaining the deviation amount of the positioning mark of the substrate is adopted. Thereafter, by driving the XY.theta. moving unit 13, the lower table 10 is moved to correct the deviation of the upper and lower substrates in the XY.theta.
It should be noted that this positioning operation can also be performed in the middle of the depressurization process for bonding.
In step S14, when the alignment of the upper and lower substrates is completed, the Z-axis drive mechanism 2 is operated to move the upper table 9 via the frame 5, and in synchronization with this, the adhesive pin drive mechanism 14 is moved to the lower table 10 side. By moving, the upper and lower glass substrates are brought into contact with each other. While the upper and lower glass substrates are in contact with each other, the displacement amount of the positioning marks of the upper and lower glass substrates is checked again, and if there is any displacement, the positioning operation is performed again. When the confirmation and positioning operations are completed, only the upper table 9 is further lowered to apply pressure and separate the upper glass substrate from the adhesive pins 14c. When the substrate is pressed, the elastic member 11a on the elastic plate 11 attached to the upper table 9 is deformed, so that the entire substrate can be uniformly pressed. Note that the glass substrates held on both tables may be displaced during pressurization, so it is better to observe the positioning marks from time to time to correct the misalignment.

ステップ15では、上下のガラス基板を加圧して貼り合わせが終了すると、真空チャンバ内に図示しないパージガスブロー機構よりパージガスを導入する。このとき大気も導入して、大気圧に戻す。ガラス基板は、大気圧に戻すことでさらに押し付け力が作用して、規定の厚みまで加圧される。その状態で、図示していないUV照射機構を動作させて、複数箇所接着剤を硬化させて仮止めを行い、液晶基板の貼り合わせが終了する。 In step 15, when the upper and lower glass substrates are pressurized and bonded together, a purge gas is introduced into the vacuum chamber from a purge gas blow mechanism (not shown). At this time, air is also introduced to restore the atmospheric pressure. By returning the pressure to the atmospheric pressure, the glass substrate is further pressed to a specified thickness. In this state, a UV irradiation mechanism (not shown) is operated to harden the adhesive at a plurality of locations for temporary fixing, thereby completing the bonding of the liquid crystal substrates.

上記の動作では粘着ピン14cによる基板の保持は、上下ガラス基板がどちらか一方のガラス基板に設けた接着剤(シール剤)に接触するまでとし、それ以上は粘着ピン14cを下方向に移動させずに上テーブル9のみを下方向に移動させることで粘着ピン14cを基板面から剥すようにしている。なおこのとき、粘着ピン14cをガラス基板の移動方向とは逆方向に移動させることで、確実に基板面から粘着ピン14cを剥すことができる。
なお、基板に加圧力を加える時も粘着ピンも同時に下テーブル10側に移動させて、加圧終了後、大気圧に戻した後で、テーブルは加圧時と同じ状態を保持し、その状態で粘着ピン駆動機構14を上昇させて粘着ピンを基板から離脱することもできる。なお、このとき、粘着ピンの先端の吸引吸着孔へ正圧のガス又は清浄な空気を送り込みながら粘着ピンを上昇させることで、粘着ピンを基板面から容易に剥すことができる。
In the above operation, the substrates are held by the adhesive pins 14c until the upper and lower glass substrates come into contact with the adhesive (sealant) provided on either one of the glass substrates, after which the adhesive pins 14c are moved downward. The adhesive pin 14c is peeled off from the substrate surface by moving only the upper table 9 downward. At this time, by moving the adhesive pins 14c in a direction opposite to the moving direction of the glass substrate, the adhesive pins 14c can be reliably peeled off from the substrate surface.
When pressure is applied to the substrate, the adhesive pins are also moved toward the lower table 10 at the same time. , the adhesive pin driving mechanism 14 can be lifted to remove the adhesive pin from the substrate. At this time, the adhesive pin can be easily peeled off from the substrate surface by raising the adhesive pin while sending positive pressure gas or clean air into the suction/suction hole at the tip of the adhesive pin.

ステップS16では、貼り合わせ後の基板が図示しないロボットハンドを用いて真空チャンバの外へ搬出される。 In step S16, the bonded substrates are carried out of the vacuum chamber using a robot hand (not shown).

以上の通り本実施例によれば、ガラス基板の撓みを低減し得る基板組立装置及び基板組立方法を提供することが可能となる。
また、本実施例によれば、基板との摩擦帯電によるムラ発生の低減、急速な断熱膨張による温度低下によるムラ発生の防止、基板貼り合わせ精度の向上により、次世代高精細ディスプレイ製造における大型化・薄型化・微細パターン化に対し、色ムラの無いディスプレイ製造に貢献することが可能となる。
As described above, according to this embodiment, it is possible to provide a substrate assembling apparatus and a substrate assembling method that can reduce the bending of the glass substrate.
In addition, according to this embodiment, it is possible to reduce the occurrence of unevenness due to triboelectrification with the substrate, prevent the occurrence of unevenness due to a temperature drop due to rapid adiabatic expansion, and improve the accuracy of substrate bonding.・It is possible to contribute to the manufacturing of displays with no color unevenness for thinning and fine patterning.

図6は、本発明の他の実施例に係る実施例2の基板組立装置の概略図であって、下テーブルの上面図及び側面図である。本実施例では、粗に配される第1のリフタ21と、下テーブル10を貫通可能な密に配される第2のリフタ22とを備える点が上述の実施例1と異なる。以下では実施例1と同様な構成要素に同一符号を付し、実施例1と重複する説明を省略する。 6A and 6B are schematic diagrams of a substrate assembly apparatus of Embodiment 2 according to another embodiment of the present invention, and are a top view and a side view of a lower table. The present embodiment differs from the above-described first embodiment in that first lifters 21 arranged loosely and second lifters 22 arranged densely so as to be able to pass through the lower table 10 are provided. Below, the same reference numerals are given to the same constituent elements as in the first embodiment, and the description overlapping with the first embodiment is omitted.

図6に、本実施例の基板組立装置1を構成する下テーブル10の上面図と側面図を示している。上面図に示すように、本実施例の基板組立装置1は、一方向に延在する棒状の第1のリフタ21と、側面図に示すように、下テーブル10に設けられた貫通孔23内に配され上下動可能な第2のリフタ22を備える。図6では説明の便宜上、第1のリフタ21を2本、第2のリフタ22を24本有する場合を示すが、第1のリフタ21及び第2のリフタ22の本数はこれに限られるものではない。但し、図6に示されるように、第1のリフタ21の配置密度は粗であり、第2のリフタ22の配置密度は密である。換言すれば、第1のリフタ21が粗に配され第2のリフタ22が密に配される構成であれば、第1のリフタ21及び第2のリフタ22の本数は適宜設定すれば良い。 FIG. 6 shows a top view and a side view of the lower table 10 that constitutes the board assembly apparatus 1 of this embodiment. As shown in the top view, the board assembly apparatus 1 of this embodiment includes a bar-shaped first lifter 21 extending in one direction, and a through hole 23 provided in the lower table 10 as shown in the side view. and a second lifter 22 which is arranged in the vertical direction. For convenience of explanation, FIG. 6 shows a case in which two first lifters 21 and 24 second lifters 22 are provided, but the number of first lifters 21 and second lifters 22 is not limited to this. do not have. However, as shown in FIG. 6, the arrangement density of the first lifters 21 is coarse, and the arrangement density of the second lifters 22 is dense. In other words, if the first lifters 21 are arranged sparsely and the second lifters 22 are arranged densely, the numbers of the first lifters 21 and the second lifters 22 may be appropriately set.

図7は、本実施例の基板組立装置の動作フローを示すフローチャートである。
図7におけるステップS21~ステップS25までは、上述の実施例1における図5に示したステップS11~ステップS15までと同様であるため、ここでは説明を省略する。
FIG. 7 is a flow chart showing the operation flow of the board assembly apparatus of this embodiment.
Steps S21 to S25 in FIG. 7 are the same as steps S11 to S15 shown in FIG. 5 in the above-described first embodiment, so descriptions thereof are omitted here.

ステップS27では、第2のリフタ22が所定量上昇し、貼り合わせ後の基板を所定量だけ下テーブル10の保持面(表面)より突出させて下テーブル10の保持面(表面)より貼り合わせ後の基板を浮かせる。ここで、図8に、図6に示す第2のリフタ22により下ガラス基板16を所定量上昇させた状態を示す縦断面図を示す。図8では、説明の便宜上、下ガラス基板16を所定量上昇させた状態を示しているがこれは貼り合わせ後の基板を意味する。図8に示すように、第2のリフタ22のピッチP1(下テーブル10の幅方向に沿ったピッチ)は、例えば80mm~100mmであり、第2のリフタ22の直径D1は例えば5mmであり、貫通孔23の孔径は例えば8mmである。また、第2のリフタ22の下テーブル10の保持面(表面)からの上昇量h1は、例えば1mm~3mmである。なお、第2のリフタ22は、例えば、PEEK(ポリエーテルエーテルケトン;polyetheretherketone)材の樹脂により形成され、下ガラス基板16の裏面と当接する先端部は所定の曲率半径を有する曲面状となっており、下ガラス基板16の裏面への損傷或いは傷の発生を防止できる。パージガスブロー機構より導入されるパージガス、または、大気は図8に矢印にて示すように、貫通孔23の内周面と第2のリフタ22の外周面との間隙を通過し下ガラス基板16の裏面に吹き付けられる。換言すれば、パージガス、または、大気が貫通孔23の内周面と第2のリフタ22の外周面との間隙から下ガラス基板16の裏面に侵入する。 In step S27, the second lifter 22 is raised by a predetermined amount, and the substrates after bonding are protruded from the holding surface (surface) of the lower table 10 by a predetermined amount. float the substrate. Here, FIG. 8 shows a longitudinal sectional view showing a state in which the lower glass substrate 16 is lifted by a predetermined amount by the second lifter 22 shown in FIG. For convenience of explanation, FIG. 8 shows a state in which the lower glass substrate 16 is raised by a predetermined amount, which means the substrates after bonding. As shown in FIG. 8, the pitch P1 of the second lifter 22 (pitch along the width direction of the lower table 10) is, for example, 80 mm to 100 mm, the diameter D1 of the second lifter 22 is, for example, 5 mm, The hole diameter of the through hole 23 is, for example, 8 mm. The amount h1 of elevation of the second lifter 22 from the holding surface (surface) of the lower table 10 is, for example, 1 mm to 3 mm. The second lifter 22 is made of, for example, a resin such as PEEK (polyetheretherketone), and has a curved surface with a predetermined radius of curvature at its tip that contacts the back surface of the lower glass substrate 16 . Therefore, the rear surface of the lower glass substrate 16 can be prevented from being damaged or scratched. The purge gas introduced from the purge gas blowing mechanism or the atmosphere passes through the gap between the inner peripheral surface of the through hole 23 and the outer peripheral surface of the second lifter 22 as indicated by the arrows in FIG. Sprayed on the back. In other words, the purge gas or the atmosphere enters the rear surface of the lower glass substrate 16 through the gap between the inner peripheral surface of the through hole 23 and the outer peripheral surface of the second lifter 22 .

図7に戻り、ステップS27では、第1のリフタ21が所定量上昇し、下ガラス基板16を下テーブル10の保持面(表面)から更に離間させる。ここで、図9に、図6に示す第1のリフタ21により下ガラス基板16を所定量上昇させた状態を示す縦断面図を示す。図9においても図8と同様に説明の便宜上、下ガラス基板16を所定量上昇させた状態を示しているがこれは貼り合わせ後の基板を意味する。図9に示すように、第1のリフタ21のピッチP2(下テーブル10の幅方向に沿ったピッチ)は、例えば200mm~250mmであり、第1のリフタ21の下テーブル10の保持面(表面)からの上昇量h2は、例えば100~200mmである。従って、第1のリフタ21の下テーブル10の保持面(表面)からの上昇量h2は、第2のリフタ22の下テーブル10の保持面(表面)からの上昇量h1の略33倍から200倍である。 Returning to FIG. 7 , in step S<b>27 , the first lifter 21 is raised by a predetermined amount to further separate the lower glass substrate 16 from the holding surface (surface) of the lower table 10 . Here, FIG. 9 shows a longitudinal sectional view showing a state in which the lower glass substrate 16 is lifted by a predetermined amount by the first lifter 21 shown in FIG. As in FIG. 8, FIG. 9 also shows a state in which the lower glass substrate 16 is raised by a predetermined amount for convenience of explanation, but this means the substrates after bonding. As shown in FIG. 9, the pitch P2 of the first lifter 21 (the pitch along the width direction of the lower table 10) is, for example, 200 mm to 250 mm. ) is, for example, 100 to 200 mm. Therefore, the lift h2 of the first lifter 21 from the holding surface (surface) of the lower table 10 is approximately 33 times the lift h1 of the lower table 10 from the holding surface (surface) of the second lifter 22 to 200 times. Double.

このように、上述のステップS26にて、貼り合わせ後の基板を構成する下ガラス基板16の裏面が下テーブル10の保持面(表面)より離間する初期段階において、パージガス、または、大気が貫通孔23の内周面と第2のリフタ22の外周面との間隙から下ガラス基板16の裏面に侵入する。このとき、下ガラス基板16の裏面と下テーブル10の保持面(表面)との間の負圧は、貫通孔23を介して逃がされ、負圧による貼り合わせ後の基板の撓みを防止することが可能となる。そして、上述のステップS27にて、第1のリフタ21により下ガラス基板16が下テーブル10の保持面(表面)から更に離間させるため、貼り合わせ後の基板の撓みを防止しつつ、好適に貼り合わせ後の基板を下テーブル10の保持面(表面)から更に離間させることが可能となる。そしてこの結果として、ガラス基板の撓みによるムラ発生を防止し、次世代高精細ディスプレイ製造における大型化・薄型化・微細パターン化に対し、色ムラの無いディスプレイ製造に貢献し、品質向上・歩留まり向上・コスト低減・生産性を向上することが可能となる。 As described above, at the initial stage when the back surface of the lower glass substrate 16 constituting the substrates after bonding is separated from the holding surface (surface) of the lower table 10 in the above-described step S26, the purge gas or the air is introduced into the through holes. It enters the back surface of the lower glass substrate 16 through the gap between the inner peripheral surface of the second lifter 23 and the outer peripheral surface of the second lifter 22 . At this time, the negative pressure between the back surface of the lower glass substrate 16 and the holding surface (front surface) of the lower table 10 is released through the through holes 23 to prevent the substrates from bending after bonding due to the negative pressure. becomes possible. In step S27 described above, the lower glass substrate 16 is further separated from the holding surface (surface) of the lower table 10 by the first lifter 21, so that the substrates after bonding are prevented from bending and can be preferably bonded. It is possible to further separate the substrates after being combined from the holding surface (surface) of the lower table 10 . As a result, it prevents the occurrence of unevenness due to bending of the glass substrate, contributes to the production of displays without color unevenness, and improves the quality and yield of next-generation high-definition display manufacturing.・It is possible to reduce costs and improve productivity.

図7に戻り、ステップS28では、第1のリフタ21により下テーブル10の保持面(表面)から離間された、貼り合わせ後の基板は図示しないロボットハンドに受け渡され、ロボットハンドにより真空チャンバの外へ搬出される。 Returning to FIG. 7, in step S28, the bonded substrate separated from the holding surface (surface) of the lower table 10 by the first lifter 21 is transferred to a robot hand (not shown), and the robot hand lifts the vacuum chamber. carried outside.

以上の通り本実施例によれば、ガラス基板の撓みを低減し得る基板組立装置及び基板組立方法を提供することが可能となる。
また、本実施例によれば、ガラス基板の撓みによるムラ発生を防止し、次世代高精細ディスプレイ製造における大型化・薄型化・微細パターン化に対し、色ムラの無いディスプレイ製造に貢献し、品質向上・歩留まり向上・コスト低減・生産性を向上することが可能となる。
As described above, according to this embodiment, it is possible to provide a substrate assembling apparatus and a substrate assembling method that can reduce the bending of the glass substrate.
In addition, according to this embodiment, the occurrence of unevenness due to the bending of the glass substrate is prevented, and it contributes to the production of displays without color unevenness in the production of large, thin, and fine patterns in the production of next-generation high-definition displays. improvement, yield improvement, cost reduction, and productivity improvement.

なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。
例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。
In addition, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and includes various modifications.
For example, the above-described embodiments have been described in detail in order to explain the present invention in an easy-to-understand manner, and are not necessarily limited to those having all the described configurations. In addition, it is possible to replace part of the configuration of one embodiment with the configuration of another embodiment, and it is also possible to add the configuration of another embodiment to the configuration of one embodiment.

1…基板組立装置
2…Z軸駆動機構
2a…Z軸駆動モータ
2b…ボールネジ
2c…ボールネジ受け部
3…案内機構
3a…リニアガイド
3b…リニア移動部
4…ロードセル
5…上フレーム
6…上シャフト
7…上チャンバ
7b…ブラケット
8…下チャンバ
9…上テーブル
10…下テーブル
11…弾性体プレート
11a,11b…弾性体
12…下シャフト
13…XYθ移動ユニット
14…粘着ピン駆動機構
14a…上下駆動用モータ
14b…粘着ピンプレート
14c…粘着ピン
14d…粘着ピン上下機構
14e…粘着シート
15…架台
16…下ガラス基板
17,18…梁
21…第1のリフタ
22…第2のリフタ
23…貫通孔
Reference Signs List 1 Board assembly device 2 Z-axis drive mechanism 2a Z-axis drive motor 2b Ball screw 2c Ball screw receiver 3 Guide mechanism 3a Linear guide 3b Linear moving unit 4 Load cell 5 Upper frame 6 Upper shaft 7 Upper chamber 7b Bracket 8 Lower chamber 9 Upper table 10 Lower table 11 Elastic plates 11a, 11b Elastic body 12 Lower shaft 13 XYθ moving unit 14 Adhesive pin drive mechanism 14a Vertical drive motor 14b Adhesive pin plate 14c Adhesive pin 14d Adhesive pin vertical mechanism 14e Adhesive sheet 15 Base 16 Lower glass substrate 17, 18 Beam 21 First lifter 22 Second lifter 23 Through hole

上記課題を解決するため、本発明に係る基板組立装置は、一方の基板を下テーブル上に保持し、他方の基板を上テーブルに前記一方の基板に対向させて保持し、いずれか一方の基板に設けた接着剤にて真空チャンバ内で貼り合わせを行う基板組立装置であって、一方向に延在する棒状の第1のリフタと、前記下テーブルに設けられた貫通孔内に配され上下動可能な第2のリフタと、を備え、前記第2のリフタを所定量上昇させ、前記貫通孔の内周面と前記第2のリフタの外周面との間隙からパージガス又は大気を前記基板の裏面へと侵入させ、その後前記第1のリフタが所定量上昇し、前記下テーブルの基板を保持する面から更に前記基板を離間させ当該基板をロボットハンドに受け渡すことを特徴とする。 In order to solve the above-described problems, a board assembly apparatus according to the present invention holds one board on a lower table, holds the other board on an upper table so as to face the one board, and A first bar-shaped lifter extending in one direction and a through-hole provided in the lower table. and a second lifter that can move up and down. The second lifter is lifted by a predetermined amount, and the purge gas or the atmosphere is discharged from the gap between the inner peripheral surface of the through hole and the outer peripheral surface of the second lifter. After that, the first lifter rises by a predetermined amount to further separate the substrate from the substrate-holding surface of the lower table and transfer the substrate to the robot hand.

本発明に係る基板組立装置は、前記第2のリフタは、ポリエーテルエーテルケトンを含む樹脂材料で形成され、前記基板の裏面と当接する前記第2のリフタの先端部の形状は所定の曲率半径を有する曲面状であることを特徴とする。 In the circuit board assembly apparatus according to the present invention, the second lifter is made of a resin material containing polyetheretherketone, and the shape of the tip of the second lifter that contacts the back surface of the circuit board has a predetermined radius of curvature. It is characterized by having a curved surface with

本発明に係る基板組立装置は、前記前記第1のリフタによる前記基板の上昇量は、前記第2のリフタによる前記基板の上昇量よりも大きいことを特徴とする。 The board assembly apparatus according to the present invention is characterized in that the amount by which the board is lifted by the first lifter is greater than the amount by which the board is lifted by the second lifter.

本発明に係る基板組立装置は、前記第1のリフタによる前記基板の上昇量は、前記第2のリフタによる前記基板の上昇量の略33倍から200倍であることを特徴とする。 The board assembly apparatus according to the present invention is characterized in that the lift amount of the board by the first lifter is approximately 33 to 200 times the lift amount of the board by the second lifter.

また、本発明に係る基板組立方法は、一方の基板を下テーブル上に保持する工程と、他方の基板を上テーブルに前記一方の基板に対向させて保持する工程と、 いずれか一方の基板に設けた接着剤にて真空チャンバ内で貼り合わせを行う工程と、を有する基板組立方法であって、一方向に延在する棒状の第1のリフタと、前記下テーブルに設けられた貫通孔内に配され上下動可能な第2のリフタと、を備え、前記第2のリフタを所定量上昇させ、前記貫通孔の内周面と前記第2のリフタの外周面との間隙からパージガス又は大気を前記基板の裏面へと侵入させ、その後前記第1のリフタが所定量上昇し、前記下テーブルの基板を保持する面から更に前記基板を離間させ当該基板をロボットハンドに受け渡すことを特徴とする。 Further, the substrate assembly method according to the present invention includes the steps of: holding one substrate on a lower table; holding the other substrate on an upper table so as to face the one substrate ; and a step of bonding in a vacuum chamber with a provided adhesive, wherein the substrate assembly method comprises a rod-shaped first lifter extending in one direction and a through hole provided in the lower table . and a second lifter arranged inside and capable of moving up and down, wherein the second lifter is raised by a predetermined amount, and the purge gas or the purge gas is discharged from the gap between the inner peripheral surface of the through hole and the outer peripheral surface of the second lifter. Air is allowed to enter the back surface of the substrate, and then the first lifter is raised by a predetermined amount to further separate the substrate from the substrate-holding surface of the lower table to transfer the substrate to a robot hand. and

発明に係る基板組立方法は、前記第2のリフタは、ポリエーテルエーテルケトンを含む樹脂材料で形成され、前記基板の裏面と当接する前記第2のリフタの先端部の形状は所定の曲率半径を有する曲面状であることを特徴とする。 In the substrate assembly method according to the present invention, the second lifter is made of a resin material containing polyetheretherketone, and the shape of the tip of the second lifter that contacts the back surface of the substrate has a predetermined radius of curvature. It is characterized by having a curved surface with

本発明に係る基板組立方法は、前記第1のリフタによる前記基板の上昇量は、前記第2のリフタによる前記基板の上昇量よりも大きいことを特徴とする。 The board assembly method according to the present invention is characterized in that the amount by which the board is lifted by the first lifter is greater than the amount by which the board is lifted by the second lifter.

本発明に係る基板組立方法は、前記第1のリフタによる前記基板の上昇量は、前記第2のリフタによる前記基板の上昇量の略33倍から200倍であることを特徴とする。 The board assembly method according to the present invention is characterized in that the lift amount of the board by the first lifter is approximately 33 to 200 times the lift amount of the board by the second lifter.

Claims (17)

一方の基板を下テーブル上に保持し、他方の基板を上テーブルに前記一方の基板に対向させて保持し、いずれか一方の基板に設けた接着剤にて真空チャンバ内で貼り合わせを行う基板組立装置であって、
前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの前記基板を保持する面に、相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部を有し、前記凹部の幅が前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの幅に対し、10-6から10-4の比率となることを特徴とする基板組立装置。
One substrate is held on the lower table, the other substrate is held on the upper table so as to face the one substrate, and the substrates are bonded together in a vacuum chamber with an adhesive provided on either one of the substrates. An assembly device,
The surface of the upper table and/or the lower table that holds the substrate has a plurality of protrusions and recesses that are arranged adjacent to each other, and the width of the recess is the width of the upper table and/or the lower table. , a ratio of 10 −6 to 10 −4 .
請求項1に記載の基板組立装置において、
前記相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部は、エンボスシートに形成され、前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの前記基板を保持する面に接着剤にて貼付されていることを特徴とする基板組立装置。
The board assembly apparatus according to claim 1,
The plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other are formed on an embossed sheet and adhered with an adhesive to surfaces of the upper table and/or the lower table that hold the substrate. board assembly equipment.
請求項2に記載の基板組立装置において、
前記エンボスシートは、ポリエチレンテレフタレート製であって縦断面が波型形状であることを特徴とする基板組立装置。
In the board assembly apparatus according to claim 2,
The board assembly apparatus, wherein the embossed sheet is made of polyethylene terephthalate and has a corrugated longitudinal section.
請求項1に記載の基板組立装置において、
前記相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部は、前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの前記基板を保持する面に設けられた弾性体プレートに形成されていることを特徴とする基板組立装置。
The board assembly apparatus according to claim 1,
The substrate assembly, wherein the plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other are formed on an elastic plate provided on a surface of the upper table and/or the lower table for holding the substrate. Device.
請求項2乃至請求項4のうちいずれか1項に記載の基板組立装置において、
チャンバの内側に設けられた前記上テーブルに、前記上テーブルとは独立して上下することが可能な吸着ピンプレートに複数の吸着ピンを備えた真空吸着機構とパージガスブロー機構を備えることを特徴とする基板組立装置。
The board assembly apparatus according to any one of claims 2 to 4,
The upper table provided inside the chamber is provided with a vacuum adsorption mechanism having a plurality of adsorption pins on a adsorption pin plate capable of moving up and down independently of the upper table, and a purge gas blow mechanism. board assembly equipment.
一方の基板を下テーブル上に保持し、他方の基板を上テーブルに前記一方の基板に対向させて保持し、いずれか一方の基板に設けた接着剤にて真空チャンバ内で貼り合わせを行う基板組立装置であって、
粗に配される第1のリフタと密に配される第2のリフタとを有し、前記第2のリフタは前記下テーブルを貫通可能であって、前記第2のリフタにより基板を所定量上昇させた後、前記第1のリフタにて前記基板を更に上昇させることを特徴とする基板組立装置。
One substrate is held on the lower table, the other substrate is held on the upper table so as to face the one substrate, and the substrates are bonded together in a vacuum chamber with an adhesive provided on either one of the substrates. An assembly device,
It has a first lifter that is sparsely arranged and a second lifter that is densely arranged. A board assembly apparatus, wherein after the board is lifted, the board is further lifted by the first lifter.
請求項6に記載の基板組立装置において、
前記第1のリフタによる前記基板の上昇量は、前記第2のリフタによる基板の上昇量よりも大きいことを特徴とする基板組立装置。
In the board assembly apparatus according to claim 6,
A board assembly apparatus, wherein the amount of lifting of the board by the first lifter is larger than the amount of lifting of the board by the second lifter.
請求項6又は請求項7に記載の基板組立装置において、
前記第1のリフタによる前記基板の上昇量は、前記第2のリフタによる基板の上昇量の略33倍から200倍であることを特徴とする基板組立装置。
In the board assembly apparatus according to claim 6 or 7,
A board assembly apparatus, wherein the amount of lifting of the board by the first lifter is approximately 33 to 200 times the amount of lifting of the board by the second lifter.
請求項6乃至請求項8のうちいずれか1項に記載の基板組立装置において、
前記下テーブルは、前記第2のリフタが貫通可能な貫通孔を備え、前記第2のリフタにより基板を所定量上昇させたとき、前記貫通孔の内周面と前記第2のリフタの外周面との間隙からパージガス又は大気が前記基板の裏面へと侵入することを特徴とする基板組立装置。
The board assembly apparatus according to any one of claims 6 to 8,
The lower table has a through hole through which the second lifter can pass. A substrate assembly apparatus characterized in that a purge gas or air enters the rear surface of the substrate from a gap between the substrate and the substrate.
一方の基板を下テーブル上に保持する工程と、
他方の基板を上テーブルに前記一方の基板に対向させて保持する工程と、
いずれか一方の基板に設けた接着剤にて真空チャンバ内で貼り合わせを行う工程と、を有する基板組立方法であって、
前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの前記基板を保持する面に、相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部を有し、前記凹部の幅が前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの幅に対し、10-6から10-4の比率となることを特徴とする基板組立方法。
holding one of the substrates on the lower table;
holding the other substrate on an upper table so as to face the one substrate;
and a step of bonding the substrates together in a vacuum chamber with an adhesive provided on one of the substrates, the substrate assembling method comprising:
The surface of the upper table and/or the lower table that holds the substrate has a plurality of protrusions and recesses that are arranged adjacent to each other, and the width of the recess is the width of the upper table and/or the lower table. , a ratio of 10 −6 to 10 −4 .
請求項10に記載の基板組立方法において、
前記相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部は、エンボスシートに形成され、前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの前記基板を保持する面に接着剤にて貼付されていることを特徴とする基板組立方法。
In the substrate assembly method according to claim 10,
The plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other are formed on an embossed sheet and adhered with an adhesive to surfaces of the upper table and/or the lower table that hold the substrate. board assembly method.
請求項11に記載の基板組立方法において、
前記エンボスシートは、ポリエチレンテレフタレート製であって縦断面が波型形状であることを特徴とする基板組立方法。
The substrate assembly method according to claim 11,
The substrate assembly method, wherein the embossed sheet is made of polyethylene terephthalate and has a corrugated longitudinal section.
請求項10に記載の基板組立方法において、
前記相互に隣接配置される複数の凸部及び凹部は、前記上テーブル及び/又は前記下テーブルの前記基板を保持する面に設けられた弾性体プレートに形成されていることを特徴とする基板組立方法。
In the substrate assembly method according to claim 10,
The substrate assembly, wherein the plurality of protrusions and recesses arranged adjacent to each other are formed on an elastic plate provided on a surface of the upper table and/or the lower table for holding the substrate. Method.
一方の基板を下テーブル上に保持する工程と、
他方の基板を上テーブルに前記一方の基板に対向させて保持する工程と、
いずれか一方の基板に設けた接着剤にて真空チャンバ内で貼り合わせを行う工程と、を有する基板組立方法であって、
粗に配される第1のリフタと密に配される第2のリフタとを有し、前記第2のリフタは前記下テーブルを貫通可能であって、前記第2のリフタにより基板を所定量上昇させた後、前記第1のリフタにて前記基板を更に上昇させることを特徴とする基板組立方法。
holding one of the substrates on the lower table;
holding the other substrate on an upper table so as to face the one substrate;
and a step of bonding the substrates together in a vacuum chamber with an adhesive provided on one of the substrates, the substrate assembling method comprising:
It has a first lifter that is sparsely arranged and a second lifter that is densely arranged. A method of assembling a board, characterized in that after the board is lifted, the board is further lifted by the first lifter.
請求項14に記載の基板組立方法において、
前記第1のリフタによる前記基板の上昇量は、前記第2のリフタによる基板の上昇量よりも大きいことを特徴とする基板組立方法。
15. The method for assembling a substrate according to claim 14,
The board assembly method, wherein the amount of lift of the board by the first lifter is greater than the amount of lift of the board by the second lifter.
請求項14又は請求項15に記載の基板組立方法において、
前記第1のリフタによる前記基板の上昇量は、前記第2のリフタによる基板の上昇量の略33倍から200倍であることを特徴とする基板組立方法。
In the substrate assembly method according to claim 14 or 15,
A board assembly method, wherein the amount of lifting of the board by the first lifter is approximately 33 to 200 times the amount of lifting of the board by the second lifter.
請求項14乃至請求項16のうちいずれか1項に記載の基板組立方法において、
前記下テーブルは、前記第2のリフタが貫通可能な貫通孔を備え、前記第2のリフタにより基板を所定量上昇させたとき、前記貫通孔の内周面と前記第2のリフタの外周面との間隙からパージガス又は大気が前記基板の裏面へと侵入することを特徴とする基板組立方法。
The substrate assembly method according to any one of claims 14 to 16,
The lower table has a through hole through which the second lifter can pass. A method of assembling a substrate, wherein a purge gas or air enters the back surface of the substrate through a gap between the substrate and the substrate.
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