JP2022082215A - Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及び制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ヘリカルスキャンにおける被検体の体動を抑制すること。【解決手段】実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置は、天板と、架台と、制御部とを備える。前記天板は、第１の方向に移動可能に構成されている。前記天板は、被検体が載置される。前記架台は、Ｘ線を発生するＸ線管と、前記Ｘ線管から発生され前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器とを回転部に有する。前記架台は、前記第１の方向に移動可能に構成されている。前記制御部は、ヘリカルスキャンにおける前記架台と前記天板との前記第１の方向における相対位置の変更方法をプロトコルに応じて決定する。前記制御部は、決定された前記相対位置の変更方法に従い前記架台及び前記天板のうちの少なくとも一方をスキャン中に移動させる。【選択図】図１

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及び制御方法に関する。

従来、Ｘ線コンピュータ断層撮影（ＣＴ：Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置において、被検体が載置される天板をスライドさせながら撮影を行うヘリカルスキャンが知られている。

ヘリカルスキャンにおいては、天板の移動を高速化することにより、スキャン速度を高速化することができる。しかしながら、天板を有する寝台と、撮影系を有する架台との間の距離には、例えば、架台側に送り出される天板のたわみの抑制やＸ線ＣＴ装置の設置範囲の大きさなどの観点から制限がある。このため、ヘリカルスキャンにおける天板の移動速度を大きくするためには、天板の加速度を大きくする必要があった。一方で、天板の加速度を大きくすると、加速に伴う被検体の体動が生じるおそれがあった。また、加速に伴う被検体の体動を抑制するためにヘリカルスキャンにおける天板の移動速度を抑制すると、スキャン時間が増加し、スキャン中に被検体の体動が生じるおそれがあった。また、スキャン時間が増加すると、ヘリカルスキャンのスループットが低下する場合があった。

特開平１０－２４０３２号公報

本明細書等に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、ヘリカルスキャンにおける被検体の体動を抑制することである。

実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置は、天板と、架台と、制御部とを備える。前記天板は、第１の方向に移動可能に構成されている。前記天板は、被検体が載置される。前記架台は、Ｘ線を発生するＸ線管と、前記Ｘ線管から発生され前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器とを回転部に有する。前記架台は、前記第１の方向に移動可能に構成されている。前記制御部は、ヘリカルスキャンにおける前記架台と前記天板との前記第１の方向における相対位置の変更方法をプロトコルに応じて決定する。前記制御部は、決定された前記相対位置の変更方法に従い前記架台及び前記天板のうちの少なくとも一方をスキャン中に移動させる。

図１は、実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影（ＣＴ：Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置の構成の一例を示す図である。 図２は、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置における架台及び／又は天板の移動速度について説明するための図である。 図３は、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置において、天板最大速度より速いヘリカルスキャンの速度が設定された場合に実行されるヘリカルスキャンの一例について説明するための図である。 図４は、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置において、架台最大速度より遅いヘリカルスキャンの速度が設定された場合に実行されるヘリカルスキャンの一例について説明するための図である。 図５は、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置において実行されるヘリカルスキャンの流れの一例を示すフローチャートである。

以下、図面を参照しながら各実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影（ＣＴ：Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置及び制御方法を説明する。なお、以下の説明において、既出の図に関して前述したものと同一又は略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表されている場合もある。

Ｘ線コンピュータ断層撮影装置（ＣＴ装置）には、第３世代ＣＴ、第４世代ＣＴ等様々なタイプがあり、いずれのタイプでも各実施形態へ適用可能である。ここで、第３世代ＣＴは、Ｘ線管と検出器とが一体として被検体の周囲を回転するＲｏｔａｔｅ／Ｒｏｔａｔｅ－Ｔｙｐｅである。第４世代ＣＴは、リング状にアレイされた多数のＸ線検出素子が固定され、Ｘ線管のみが被検体の周囲を回転するＳｔａｔｉｏｎａｒｙ／Ｒｏｔａｔｅ－Ｔｙｐｅである。

（第１の実施形態）
図１は、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１の構成の一例を示す図である。Ｘ線ＣＴ装置１は、Ｘ線管１１から被検体Ｐに対してＸ線を照射し、照射されたＸ線をＸ線検出器１２で検出する。Ｘ線ＣＴ装置１は、Ｘ線検出器１２からの出力に基づいて被検体Ｐに関するＣＴ画像を生成する。

図１に示すように、Ｘ線ＣＴ装置１は、架台１０、寝台３０及びコンソール４０を有する。なお、図１では説明の都合上、架台１０が複数描画されている。架台１０は、被検体ＰをＸ線ＣＴ撮影するための構成を有するスキャン装置である。なお、実施形態に係る架台１０は、自走式の装置であり、寝台３０の天板３３の長手方向（Ｚ軸方向）に移動（走行）することにより、天板３３に対する相対位置を変更可能である。寝台３０は、Ｘ線ＣＴ撮影の対象となる被検体Ｐを載置し、被検体Ｐを位置決めするための搬送装置である。コンソール４０は、架台１０を制御するコンピュータである。例えば、架台１０及び寝台３０はＣＴ検査室に設置され、コンソール４０はＣＴ検査室に隣接する制御室に設置される。架台１０、寝台３０及びコンソール４０は、互いに通信可能に有線又は無線で接続されている。ここで、寝台３０の天板３３の長手方向は、第１の方向の一例である。

なお、コンソール４０は、必ずしも制御室に設置されなくてもよい。例えば、コンソール４０は、架台１０及び寝台３０とともに同一の部屋に設置されてもよい。また、コンソール４０が架台１０に組み込まれてもよい。

なお、本実施形態では、非チルト状態での回転フレーム１３の回転軸又は寝台３０の天板３３の長手方向をＺ軸方向、Ｚ軸方向に直交し床面に対し水平である軸方向をＸ軸方向、Ｚ軸方向に直交し床面に対し垂直である軸方向をＹ軸方向と定義する。

図１に示すように、架台１０は、Ｘ線管１１、Ｘ線検出器１２、回転フレーム１３、Ｘ線高電圧装置１４、制御装置１５、ウェッジ１６、コリメータ１７及びデータ収集回路（Ｄａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ：ＤＡＳ）１８を有する。

Ｘ線管１１は、熱電子を発生する陰極（フィラメント）と、熱電子の衝突を受けてＸ線を発生する陽極（ターゲット）とを有する真空管である。Ｘ線管１１は、Ｘ線高電圧装置１４から供給される高電圧を用いて、陰極から陽極に向けて熱電子を照射することにより、被検体Ｐに対してＸ線を照射する。

なお、Ｘ線を発生させるハードウェアはＸ線管１１に限られない。例えば、Ｘ線管１１に代えて、第５世代方式を用いてＸ線を発生させることにしても構わない。第５世代方式は、電子銃から発生した電子ビームを集束させるフォーカスコイルと、電磁偏向させる偏向コイルと、被検体Ｐの半周を囲い偏向した電子ビームが衝突することによってＸ線を発生させるターゲットリングとを含む。

Ｘ線検出器１２は、Ｘ線管１１から照射され被検体Ｐを通過したＸ線を検出し、検出されたＸ線の線量に対応した電気信号をＤＡＳ１８に出力する。Ｘ線検出器１２は、例えば、Ｘ線管１１の焦点を中心として１つの円弧に沿ってチャネル方向に複数のＸ線検出素子が配列されたＸ線検出素子列を有する。Ｘ線検出器１２は、例えば、チャネル方向に複数のＸ線検出素子がスライス方向（列方向，ｒｏｗ方向）に複数配列された構造を有する。また、Ｘ線検出器１２は、例えば、グリッド、シンチレータアレイ及び光センサアレイを有する間接変換型の検出器である。シンチレータアレイは、複数のシンチレータを有する。シンチレータは、入射Ｘ線量に応じた光量の光を出力するシンチレータ結晶を有する。グリッドは、シンチレータアレイのＸ線入射面側の面に配置され、散乱Ｘ線を吸収する機能を有するＸ線遮蔽板を有する。なお、グリッドは、コリメータ（１次元コリメータ又は２次元コリメータ）と呼ばれる場合もある。光センサアレイは、シンチレータからの光の光量に応じた電気信号に変換する機能を有する。光センサとしては、例えば、光電子増倍管（フォトマルチプアイヤー：ＰＭＴ）等が用いられる。なお、Ｘ線検出器１２は、入射したＸ線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であっても構わない。ここで、Ｘ線検出器１２は、Ｘ線検出部の一例である。

回転フレーム１３は、Ｘ線管１１とＸ線検出器１２とを対向支持し、後述する制御装置１５によってＸ線管１１とＸ線検出器１２とを回転させる円環状のフレームである。回転フレーム１３の開口部１９には、画像視野（ＦＯＶ）が設定される。例えば、回転フレーム１３は、アルミニウムを材料とした鋳物である。なお、回転フレーム１３は、Ｘ線管１１及びＸ線検出器１２に加えて、Ｘ線高電圧装置１４やウェッジ１６、コリメータ１７及びＤＡＳ１８等をさらに支持することもできる。また、回転フレーム１３は、図１において図示しない種々の構成をさらに支持することもできる。ここで、回転フレーム１３は、回転部の一例である。

Ｘ線高電圧装置１４は、高電圧発生装置及びＸ線制御装置を有する。高電圧発生装置は、変圧器（トランス）及び整流器等の電気回路を有し、Ｘ線管１１に印加する高電圧及びＸ線管１１に供給するフィラメント電流を発生する。Ｘ線制御装置は、Ｘ線管１１が照射するＸ線に応じた出力電圧の制御を行う。高電圧発生装置は、変圧器方式であってもよいし、インバータ方式であっても構わない。Ｘ線高電圧装置１４は、架台１０内の回転フレーム１３に設けられてもよいし、架台１０内の固定フレーム（図示しない）に設けられても構わない。なお、固定フレームは、回転フレーム１３を回転可能に支持するフレームである。ここで、Ｘ線高電圧装置１４は、Ｘ線高電圧部の一例である。

制御装置１５は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構と、この駆動機構を制御するプロセッサ及びメモリ等を有する処理回路とを含む。制御装置１５は、入力インターフェース４３や架台１０に設けられた入力インターフェース等からの入力信号を受けて、架台１０及び寝台３０の動作制御を行う。例えば、制御装置１５は、入力信号を受けて回転フレーム１３を回転させる制御や、架台１０をチルトさせる制御、及び寝台３０及び天板３３を動作させる制御を行う。また、制御装置１５は、コンソール４０の処理回路４４のスキャン制御機能４４４からの入力信号に従い、ヘリカルスキャンにおいて架台１０及び天板３３のうち少なくとも一方を移動させる制御を行う。なお、架台１０をチルトさせる制御は、架台１０に取り付けられた入力インターフェースによって入力される傾斜角度（チルト角度）情報により、制御装置１５がＸ軸方向に平行な軸を中心に回転フレーム１３を回転させることによって実現される。なお、制御装置１５は架台１０に設けられてもよいし、コンソール４０に設けられてもよい。

ウェッジ１６は、Ｘ線管１１から照射されたＸ線量を調節するためのフィルタである。具体的には、ウェッジ１６は、Ｘ線管１１から被検体Ｐへ照射されるＸ線が、予め定められた分布になるように、Ｘ線管１１から照射されたＸ線を透過して減衰するフィルタである。例えば、ウェッジ１６は、ウェッジフィルタ（ｗｅｄｇｅ ｆｉｌｔｅｒ）やボウタイフィルタ（ｂｏｗ－ｔｉｅ ｆｉｌｔｅｒ）であり、所定のターゲット角度や所定の厚みとなるようにアルミニウム等を加工して構成される。

コリメータ１７は、ウェッジ１６を透過したＸ線の照射範囲を限定する。コリメータ１７は、Ｘ線を遮蔽する複数の鉛板をスライド可能に支持し、複数の鉛板により形成されるスリットの形態を調節する。なお、コリメータ１７は、Ｘ線絞りと呼ばれる場合もある。

ＤＡＳ１８は、Ｘ線検出器１２により検出されたＸ線の線量に応じた電気信号をＸ線検出器１２から読み出す。ＤＡＳ１８は、読み出した電気信号を増幅し、ビュー期間に亘り電気信号を積分（加算）することにより当該ビュー期間に亘るＸ線の線量に応じたデジタル値を有する検出データを収集する。検出データは、投影データと呼ばれる。ＤＡＳ１８は、例えば、投影データを生成可能な回路素子を搭載した特定用途向け集積回路（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ：ＡＳＩＣ）により実現される。投影データは、非接触データ伝送装置等を介してコンソール４０に伝送される。ここで、ＤＡＳ１８は、データ収集部の一例である。

なお、ＤＡＳ１８が生成した検出データは、回転フレーム１３に設けられた発光ダイオード（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ： ＬＥＤ）を有する送信機から光通信によって架台１０の非回転部分（例えば固定フレーム。図１での図示は省略している。）に設けられた、フォトダイオードを有する受信機に送信され、コンソール４０へと転送される。なお、回転フレーム１３から架台１０の非回転部分への検出データの送信方法は、前述の光通信に限らず、非接触型のデータ転送であれば如何なる方式を採用しても構わない。

なお、本実施形態では、積分型のＸ線検出器１２が搭載されたＸ線ＣＴ装置１を例として説明するが、本実施形態に係る技術は、光子計数型のＸ線検出器が搭載されたＸ線ＣＴ装置１として実現することもできる。

寝台３０は、スキャン対象の被検体Ｐを載置、移動させる装置であり、基台３１と、寝台駆動装置３２と、天板３３と、支持フレーム３４とを有する。基台３１は、支持フレーム３４を鉛直方向に移動可能に支持する筐体である。寝台駆動装置３２は、被検体Ｐが載置された天板３３を、天板３３の長手方向に移動する駆動機構であり、モータ及びアクチュエータ等を含む。天板３３は、被検体Ｐが載置される板である。天板３３は、支持フレーム３４の上面に設けられる。天板３３は、被検体Ｐの全身が撮影可能となるように、寝台３０から架台１０側へ突出することが可能である。天板３３は、例えば、Ｘ線の透過性と、剛性及び強度等の物理特性とが良好な炭素繊維強化樹脂（ｃａｒｂｏｎ ｆｉｂｅｒ ｒｅｉｎｆｏｒｃｅｄ ｐｌａｓｔｉｃ；ＣＦＲＰ）により形成される。また、例えば、天板３３の内部は、空洞である。支持フレーム３４は、天板３３を、天板３３の長手方向に移動可能に支持する。なお、寝台駆動装置３２は、天板３３に加え、支持フレーム３４を天板３３の長手方向に移動してもよい。ここで、寝台３０は、医用寝台装置の一例である。また、天板３３の長手方向は、天板３３の移動方向の一例である。

コンソール４０は、メモリ４１、ディスプレイ４２、入力インターフェース４３及び処理回路４４を有する。メモリ４１とディスプレイ４２と入力インターフェース４３と処理回路４４との間のデータ通信は、バス（ＢＵＳ）を介して行われる。なお、コンソール４０は架台１０とは別体として説明するが、架台１０にコンソール４０又はコンソール４０の各構成要素の一部が含まれてもよい。

メモリ４１は、例えば、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。例えば、メモリ４１は、投影データや再構成画像データを記憶する。また、例えば、メモリ４１は、回転部の回転速度やスキャン速度に関する設定値を記憶する。回転部の回転速度は、例えば、検査の部位や目的に応じたプロトコル（スキャンプラン）ごとに設定される。スキャン速度は、架台１０と天板３３との相対的な移動速度（架台１０と天板３３との相対位置の変化速度）である。換言すれば、スキャン速度は、回転部の１回転あたりのヘリカルピッチを示す。ここで、ヘリカルピッチは、回転部が１回転する間の架台１０と天板３３との相対的な移動距離を示す。スキャン速度は、回転部の回転速度に応じて段階的に設定される。また、例えば、メモリ４１は、各種のプログラムを記憶する。なお、メモリ４１の保存領域は、Ｘ線ＣＴ装置１内にあってもよいし、ネットワークで接続された外部記憶装置内にあってもよい。ここで、メモリ４１は、記憶部の一例である。

ディスプレイ４２は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ４２は、処理回路４４によって生成された医用画像（ＣＴ画像）や、操作者からの各種操作を受け付けるためのＧＵＩ（Ｇｒａｐｈｉｃａｌ Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）等を出力する。ディスプレイ４２としては、種々の任意のディスプレイが、適宜、使用可能となっている。例えばディスプレイ４２として、液晶ディスプレイ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ：ＬＣＤ）、Ｃａｔｈｏｄｅ Ｒａｙ Ｔｕｂｅ（ＣＲＴ）ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ Ｄｉｓｐｌａｙ：ＯＥＬＤ）又はプラズマディスプレイが使用可能である。

なお、ディスプレイ４２は、制御室の如何なる場所に設けられてもよい。また、ディスプレイ４２は、架台１０に設けられてもよい。また、ディスプレイ４２は、デスクトップ型でもよいし、コンソール４０の本体と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。また、ディスプレイ４２として、１又は２以上のプロジェクタが用いられてもよい。ここで、ディスプレイ４２は、表示部の一例である。

入力インターフェース４３は、操作者からの各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路４４に出力する。例えば、入力インターフェース４３は、投影データを収集する際の収集条件や、ＣＴ画像を再構成する際の再構成条件、ＣＴ画像から後処理画像を生成する際の画像処理条件等を操作者から受け付ける。入力インターフェース４３としては、例えば、マウス、キーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、タッチパッド及びタッチパネルディスプレイ等が適宜、使用可能となっている。なお、本実施形態において、入力インターフェース４３は、これらの物理的な操作部品を備えるものに限られない。例えば、装置とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路４４へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース４３の例に含まれる。また、入力インターフェース４３は、架台１０に設けられてもよい。また、入力インターフェース４３は、コンソール４０本体と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。ここで、入力インターフェース４３は、入力部の一例である。

処理回路４４は、Ｘ線ＣＴ装置１全体の動作を制御する。処理回路４４は、ハードウェア資源として、プロセッサと、ＲＯＭやＲＡＭ等のメモリとを有する。処理回路４４は、メモリに展開されたプログラムを実行するプロセッサにより、システム制御機能４４１、画像生成機能４４２、画像処理機能４４３、スキャン制御機能４４４及び表示制御機能４４５等を実行する。ここで、処理回路４４は、処理部の一例である。

システム制御機能４４１において処理回路４４は、入力インターフェース４３を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、処理回路４４の各種機能を制御する。

画像生成機能４４２において処理回路４４は、ＤＡＳ１８から出力された検出データに対して対数変換処理やオフセット補正処理、チャネル間の感度補正処理、ビームハードニング補正等の前処理を施したデータを生成する。処理回路４４は、生成されたデータをメモリ４１に格納する。なお、前処理前のデータ（検出データ）及び前処理後のデータを総称して投影データと称する場合もある。処理回路４４は、生成された投影データ（前処理後の投影データ）に対して、フィルタ補正逆投影法や逐次近似再構成法、機械学習等を用いた再構成処理を行ってＣＴ画像データを生成する。処理回路４４は、生成されたＣＴ画像データをメモリ４１に格納する。

画像処理機能４４３において処理回路４４は、入力インターフェース４３を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、画像生成機能４４２によって生成されたＣＴ画像データを公知の方法により、任意断面の断層像データや３次元画像データに変換する。例えば、処理回路４４は、当該ＣＴ画像データにボリュームレンダリングや、サーフェスレンダリング、画像値投影処理、ＭＰＲ（Ｍｕｌｔｉ－Ｐｌａｎａｒ Ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ）処理、ＣＰＲ（Ｃｕｒｖｅｄ ＭＰＲ）処理等の３次元画像処理を施して、任意視点方向のレンダリング画像データを生成する。なお、任意視点方向のレンダリング画像データ等の３次元画像データの生成は、画像生成機能４４２が直接行っても構わない。処理回路４４は、断層像データや３次元画像データをメモリ４１に格納する。

スキャン制御機能４４４において処理回路４４は、架台１０で行なわれるＣＴスキャンを制御する。例えば、処理回路４４は、Ｘ線検出器１２、Ｘ線高電圧装置１４、制御装置１５、ＤＡＳ１８及び寝台駆動装置３２の動作を制御することで、ノンヘリカルスキャン（コンベンショナルスキャン）やヘリカルスキャン等の各種のスキャンの実行を制御する。

また、スキャン制御機能４４４において処理回路４４は、検査の部位や目的に応じたプロトコルに応じて、ヘリカルスキャンのスキャン速度（ヘリカルピッチ）を設定する。換言すれば、処理回路４４は、スキャン中の架台１０と天板３３との間の相対的な移動速度を設定する。処理回路４４は、設定されたスキャン速度に応じて、スキャン中の架台１０と天板３３との間の相対位置の変更方法を決定する。処理回路４４は、制御装置１５及び／又は寝台駆動装置３２を制御することにより、ヘリカルスキャンの実行中に、架台１０及び天板３３のうち少なくとも一方を天板３３の長手方向に移動させ、架台１０及び天板３３の相対位置を変更する。ここで、スキャン制御機能４４４を実現する処理回路４４は、制御部の一例である。また、架台１０が非チルト状態であるとき、回転フレーム１３（回転部）の回転軸方向と、天板３３の長手方向とは一致し、それぞれ第１の方向の一例である。

表示制御機能４４５において処理回路４４は、画像処理機能４４３により生成された各種画像データに基づいて、画像をディスプレイ４２に表示させる。ディスプレイ４２に表示させる画像は、ＣＴ画像データに基づくＣＴ画像、任意断面の断面画像データに基づく断面画像、任意視点方向のレンダリング画像データに基づく任意視点方向のレンダリング画像等を含む。ディスプレイ４２に表示させる画像は、操作画面を表示するための画像や操作者への通知及び警告を表示するための画像を含む。ここで、表示制御機能４４５を実現する処理回路４４は、表示部の一例であると表現することもできる。

なお、各機能４４１～４４５は、単一の処理回路で実現される場合に限らない。複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路４４を構成し、各プロセッサが各プログラムを実行することにより各機能４４１～４４５を実現するものとしても構わない。ここで、各機能４４１～４４５は、単一又は複数の処理回路に適宜に分散又は統合されて実現されてもよい。

なお、コンソール４０は、単一のコンソールにて複数の機能を実行するものとして説明したが、複数の機能を別々のコンソールが実行することにしても構わない。例えば、画像生成機能４４２やスキャン制御機能４４４等の処理回路４４の機能を分散して有しても構わない。

なお、処理回路４４は、コンソール４０に含まれる場合に限らず、複数の医用画像診断装置にて取得された検出データに対する処理を一括して行う統合サーバに含まれてもよい。

なお、後処理は、コンソール４０又は外部のワークステーションのどちらで実施することにしても構わない。また、コンソール４０とワークステーションの両方で同時に処理することにしても構わない。ワークステーションとしては、例えば画像処理機能４４３を実現するプロセッサと、ＲＯＭやＲＡＭ等のメモリとをハードウェア資源として有するコンピュータ等が適宜利用可能である。

なお、Ｘ線ＣＴ画像データの再構成においては、フルスキャン再構成方式及びハーフスキャン再構成方式のいずれの再構成方式が適用されてもよい。例えば、画像生成機能４４２において処理回路４４は、フルスキャン再構成方式では、被検体Ｐの周囲一周、３６０度分の投影データを用いる。また、処理回路４４は、ハーフスキャン再構成方式では、１８０度＋ファン角度分の投影データを用いる。以下では、説明の簡単のため、処理回路４４は、被検体Ｐの周囲一周、３６０度分の投影データを用いて再構成するフルスキャン再構成方式を用いるものとする。

なお、本実施形態に係る技術は、一管球型のＸ線コンピュータ断層撮影装置にも、Ｘ線管と検出器との複数のペアを回転リングに搭載した、いわゆる多管球型のＸ線コンピュータ断層撮影装置にも適用可能である。

なお、本実施形態に係る技術は、デュアルエネルギー方式で撮影できるように構成されたＸ線ＣＴ装置１にも適用可能である。このとき、Ｘ線高電圧装置１４は、例えば２種の電圧値の高速スイッチングにより、Ｘ線管１１から射出されるＸ線のエネルギースペクトルを交互に切り替えることができる。つまり、Ｘ線ＣＴ装置１は、管電圧変調の制御信号に従うタイミングで管電圧を変調しながら各収集ビューで投影データを収集できるように構成されている。被検体を異なる管電圧で撮影することにより、Ｘ線のエネルギースペクトルごとの物質のエネルギー透過性に基づいて、ＣＴ画像における濃淡のコントラストを向上させることができる。

なお、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１は、逐次読み出し方式でＸ線検出器１２から電気信号を読み出すように構成されているとする。

なお、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１は、立位ＣＴとして構成されていても構わない。この場合、天板３３の移動に代えて、立位の被検体Ｐを支持し、架台１０の回転部の回転軸に沿って移動可能に構成された支持部が設けられていればよい。また、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１は、架台１０及び寝台３０が移動可能な移動型ＣＴとして構成されていても構わない。

ここで、実施形態に係るヘリカルスキャンにおける架台１０及び天板３３の相対位置の変更について、図面を参照してより詳細に説明する。図２は、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１における架台１０及び／又は天板３３の移動速度について説明するための図である。図３は、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１において、天板最大速度Ｖ２より速いヘリカルスキャンの速度が設定された場合に実行されるヘリカルスキャンの一例について説明するための図である。図４は、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１において、架台最大速度Ｖ１より遅いヘリカルスキャンの速度が設定された場合に実行されるヘリカルスキャンの一例について説明するための図である。

図２は、架台１０及び／又は天板３３の最大の移動速度を例示する。図２に示すグラフにおいて、縦軸及び横軸は、それぞれ、架台１０及び天板３３の相対速度及び時間を示す。また、一点鎖線は、架台１０及び天板３３の相対位置が架台１０の移動によって変更される場合の相対速度、すなわち架台１０の移動速度を示す。また、破線は、架台１０及び天板３３の相対位置が天板３３の移動によって変更される場合の相対速度、すなわち天板３３の移動速度を示す。また、実線は、架台１０及び天板３３の相対位置が天板３３及び架台１０の移動によって変更される場合の相対速度を示す。

ヘリカルスキャンにおいては、スキャン時間（時間Ｔ２～Ｔ３）の天板３３の等速移動を高速化することにより、スキャン速度を高速化することができる。しかしながら、天板３３の移動速度が増加すると、移動中に天板３３の振動が生じるおそれがある。また、寝台３０と、撮影系を有する架台１０との間の距離には、例えば、架台１０側に送り出される天板３３のたわみの抑制やＸ線ＣＴ装置１の設置範囲の大きさなどの観点から制限がある。このように、天板３３の加減速に要する距離が確保できない場合、ヘリカルスキャン（時間Ｔ２～Ｔ３）における天板３３の移動速度を大きくするためには、時間Ｔ１～Ｔ２（時間Ｔ３～Ｔ４）における天板３３の加速度（減速度）を大きくする必要があった。一方で、天板３３の加速度（減速度）を大きくすると、加減速に伴う被検体Ｐの体動が生じるおそれがあった。

また、天板３３の加減速に伴う被検体Ｐの体動を抑制するためにヘリカルスキャンにおける天板３３の移動速度を抑制すると、スキャン時間が増加し、スキャン中に被検体Ｐの体動が生じるおそれがあった。また、スキャン時間が増加すると、ヘリカルスキャンのスループットが低下する場合があった。

また、架台１０は、重量が大きく、天板３３より移動速度が小さい。このため、ヘリカルスキャンにおいて、天板３３に代えて架台１０を移動させる場合、移動中に架台１０の振動が生じたり、スキャン時間が増加してスループットが低下したりする。

そこで、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１において、処理回路４４は、設定されたスキャン速度に応じて、ヘリカルスキャン中の架台１０と天板３３との間の相対位置の変更方法を決定する。なお、スキャン速度は、例えば、検査の部位や目的に応じたプロトコルごとに設定された回転部の回転速度に応じて段階的に設定されるとする。

設定されたスキャン速度が天板最大速度Ｖ２より大きいとき、処理回路４４は、図３に示すように、架台１０及び天板３３の両方を移動させることにより、ヘリカルスキャン中の相対位置を変更する。ただし、設定されたスキャン速度は、天板３３及び架台１０の両方を同時に移動させる場合の最大速度Ｖ３以下である。このとき、架台１０の移動方向と、天板３３の移動方向とは、天板３３の長手方向において逆方向、すなわち互いに異なる方向である。例えば天板３３が寝台３０から図１及び図３のＺ＋方向に移動するとき、架台１０は、図１及び図３のＺ－方向に移動する。このとき、架台１０及び天板３３は、互いに近づく方向に移動する。また、例えば天板３３が寝台３０から図１及び図３のＺ－方向に移動するとき、架台１０は、図１及び図３のＺ＋方向に移動する。このとき、架台１０及び天板３３は、互いに遠ざかる方向に移動する。なお、図３は、時間Ｔ１～Ｔ２における架台１０の移動方向Ａ２と、天板３３の移動方向Ａ１とを例示する。

ここで、天板最大速度Ｖ２とは、天板３３の長手方向における天板３３の等速移動（時間Ｔ２～Ｔ３）に係る最大速度である。また、天板３３及び架台１０の両方を同時に移動させる場合の最大速度Ｖ３は、天板３３の長手方向における天板３３及び架台１０の等速移動（時間Ｔ２～Ｔ３）に係る最大の相対速度である。なお、相対速度が一定であればよく、天板３３及び架台１０の各々の移動速度は、一定でなくても構わない。

設定されたスキャン速度が架台最大速度Ｖ１より小さいとき、処理回路４４は、架台１０及び天板３３のうちいずれかを移動させることにより、ヘリカルスキャン中の相対位置を変更する。なお、図４は、時間Ｔ１～Ｔ２において天板３３だけを移動方向Ａ３に移動させる場合を例示する。ここで、架台最大速度Ｖ１とは、天板３３の長手方向における架台１０の等速移動（時間Ｔ２～Ｔ３）に係る最大速度である。

処理回路４４は、例えば入力インターフェース４３を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、いずれを移動させるか決定する。なお、架台１０及び天板３３のうちいずれを移動させるかは、例えば、検査の部位や目的、被検体Ｐの状態、プロトコルごとに予め定められてメモリ４１等に記憶されていても構わない。なお、架台１０の移動に伴う振動を抑制するために天板３３だけを移動させることが好ましいが、一例として、被検体Ｐの状態が重体であるときには架台１０だけを移動させるといった制御も可能である。

設定されたスキャン速度が架台最大速度Ｖ１以上、かつ、天板最大速度Ｖ２以下であるとき、処理回路４４は、架台１０及び天板３３の両方を移動させる（図３）か、天板３３だけを移動させる（図４）ことにより、ヘリカルスキャン中の相対位置を変更する。

処理回路４４は、例えば入力インターフェース４３を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、架台１０及び天板３３の両方を移動させるか、天板３３だけを移動させるかを決定する。なお、架台１０及び天板３３の両方を移動させるか、天板３３だけを移動させるかは、例えば、検査の部位や目的に応じたプロトコルや被検体Ｐの状態ごとに予め定められてメモリ４１等に記憶されていても構わない。なお、架台１０の移動に伴う振動を抑制するために天板３３だけを移動させることが好ましいが、一例として、被検体Ｐの状態が重体であるときには天板３３及び架台１０の両方を移動させるといった制御も可能である。

なお、設定されたスキャン速度に関する閾値として架台最大速度Ｖ１及び天板最大速度Ｖ２を用いる場合を例示したが、これに限らない。閾値は、例えば移動速度と振動との関係に応じて任意に設定可能である。例えば、それぞれ架台最大速度Ｖ１及び天板最大速度Ｖ２より小さい値が用いられても構わない。

なお、ヘリカルスキャン中の天板３３の位置は、天板３３の移動に限らず、支持フレーム３４の移動により変更されてもよい。

図５は、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１において実行されるヘリカルスキャンの流れの一例を示すフローチャートである。以下の流れは、患者ＩＤ、患者名、生年月日、年齢、体重、性別、検査部位等の患者情報が検査予約リストに登録され、詳細情報が入力された後に、検査予約リストより検査する患者（被検体Ｐ）が選択されるごとに実施されるとする。なお、患者情報は、検査予約システム等のＸ線ＣＴ装置１の外部から取得されてもよいし、緊急時には患者情報の入力（取得）が行われなくても構わない。

まず、患者セッティングを行う（Ｓ１）。患者セッティングでは、Ｘ線ＣＴ装置１が位置する検査室に入室した被検体Ｐが天板３３に載置される。被検体Ｐは、寝台３０に装着された固定具により固定される。

次に、スキャン制御機能４４４は、ヘリカルスキャンの速度（スキャン速度）を設定する（Ｓ２）。

具体的には、スキャン制御機能４４４は、操作者に対し、スキャン条件の各々についてのプリセット条件の組み合わせ（エキスパートプラン，スキャンプラン，プロトコル）を提示する。スキャン制御機能４４４は、例えば入力インターフェース４３を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、スキャン条件を設定する。

ここで、スキャン条件とは、例えば、本スキャンにおける管電圧値や管電流値、本スキャンにおける回転部の回転速度に関する設定値、ヘリカルスキャン中の回転速度ごとの架台１０及び天板３３の相対速度、ＦＯＶ（Ｆｉｅｌｄ Ｏｆ Ｖｉｅｗ）、撮影スライス厚、撮影範囲、位置決めスキャンの有無などである。スキャン条件は、例えばメモリ４１に記憶されている。

なお、スキャン制御機能４４４は、例えば入力インターフェース４３を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、エキスパートプランのスキャン条件の各々についてプリセット条件から任意に変更してスキャンプラン（プロトコル）を決定しても構わない。

その後、スキャン制御機能４４４は、設定されたスキャン速度が天板最大速度Ｖ２より速いか否かを判定する（Ｓ３）。

設定されたスキャン速度が天板最大速度Ｖ２より速いと判定されたとき（Ｓ３：Ｙｅｓ）、スキャン制御機能４４４は、天板３３及び架台１０の両方を同時に移動すると決定する（Ｓ４）。

一方で、設定されたスキャン速度が天板最大速度Ｖ２より速いと判定されなかったとき（Ｓ３：Ｎｏ）、スキャン制御機能４４４は、設定されたスキャン速度が架台最大速度Ｖ１より遅いか否かを判定する（Ｓ５）。

設定されたスキャン速度が架台最大速度Ｖ１より遅いと判定されなかったとき（Ｓ５：Ｎｏ）、スキャン制御機能４４４は、天板３３及び架台１０の両方を同時に移動するか、天板のみを移動するかを決定する（Ｓ６）。ここで、設定されたスキャン速度が架台最大速度Ｖ１より遅いときとは、設定されたスキャン速度が架台最大速度Ｖ１以上、かつ、天板最大速度Ｖ２以下であるときである。

一方で、設定されたスキャン速度が架台最大速度Ｖ１より遅いと判定されたとき（Ｓ５：Ｙｅｓ）、スキャン制御機能４４４は、天板３３及び架台１０のうちいずれを移動するかを決定する（Ｓ７）。

Ｓ４、Ｓ６又はＳ７の処理において相対位置の変更方法が決定された後、スキャン制御機能４４４は、所定位置へ天板３３及び架台１０を移動する（Ｓ８）。ここで、所定位置とは、各々の撮影開始位置である。図３及び図４に示す例では、架台１０の撮影開始位置は、寝台３０（あるいは天板３３）から、それぞれ、距離Ｄ１及び距離Ｄ２の位置である。なお、撮影開始位置は、予め定められてメモリ４１等に記憶されているとする。ここで、距離Ｄ１は、スキャン速度に応じて可変であってもよい。その後、スキャン制御機能４４４は、回転部を回転させながら天板３３及び架台１０のうち少なくとも一方を移動させることにより、本スキャン（ヘリカルスキャン）を実行する（Ｓ９）。

このように、実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１において、処理回路４４は、ヘリカルスキャンにおける架台１０と天板３３との天板３３の長手方向における相対位置の変更方法をプロトコルに応じて決定する。また、処理回路４４は、決定された相対位置の変更方法に従い架台１０及び天板３３のうちの少なくとも一方をスキャン中に移動させる。

一例として、処理回路４４は、天板３３及び架台１０それぞれの移動速度より速いスキャン速度でヘリカルスキャンを実施したい場合には、天板３３及び架台１０の両方を同時に逆方向へ移動させる。

これにより、天板３３及び架台１０のいずれか一方のみ移動させる場合と比較して、天板３３の加速度及び減速度を低減できるため、ヘリカルスキャンにおける被検体Ｐの体動を抑制することができる。被検体Ｐの体動の抑制は、高精細なヘリカルスキャンの実現に寄与する。

また、天板３３及び架台１０の相対速度をスキャン速度とすることができるため、天板３３のみ移動させる場合には被検体Ｐの体動が許容範囲を超えるスキャン速度であっても、被検体Ｐの体動を抑制することができる。換言すれば、被検体Ｐの体動を抑制した状態で実現可能なスキャン速度は、天板３３のみ移動させる場合より速い。これにより、天板３３及び架台１０が等速移動しながらＸ線ＣＴ撮影するスキャン時間を低減できる。スキャン時間の低減は、被検体Ｐごとのヘリカルスキャンに係るスループットの向上に寄与する。また、スキャン時間の低減により、Ｘ線ＣＴ撮影における被検体Ｐの息止め時間を低減できるため、被検体Ｐの負担を小さくすることができる。

また、スキャン中に架台１０を移動させることに伴い、架台１０の撮影開始位置は、天板３３から距離Ｄ１の位置に設定されている。これにより、天板３３の加減速距離を確保することができるため、天板３３が等速移動になる前、すなわち天板３３の加速中に被検体ＰがＸ線パス（撮影範囲）に到達することを抑制できる。

なお、実施形態に係るヘリカルスキャンにおいて、スキャン速度は、スキャン中に変更されてもよい。換言すれば、ヘリカルスキャンは、２以上のヘリカルピッチを含むスキャンであっても構わない。例えば、Ｘ線ＣＴ撮影では、部位によって要求される画質が異なる。一例として、処理回路４４は、頭部について高精細な画質が要求される場合、頭部に関して小さいヘリカルピッチで撮影し、頸部から骨盤まで等の他の部位に関して頭部より大きいヘリカルピッチで撮影することができる。つまり、１のＸ線ＣＴ撮影において、画質と被検体Ｐへの被ばく量とを部位に応じて最適化することができる。

この場合、スキャン制御機能４４４において処理回路４４は、２以上のヘリカルピッチの各々について、スキャン速度を設定（Ｓ２）する。また、処理回路４４は、２以上のヘリカルピッチの各々について、相対位置の変更方法を決定する（Ｓ３～Ｓ７）。また、処理回路４４は、スキャン中にヘリカルピッチを変更する（Ｓ９）。ここで、処理回路４４は、天板３３と架台１０とを同時に移動させることにより、スキャン中にヘリカルピッチを変更する。これにより、所定のヘリカルピッチまでなるべく早く変化させることができる。

この構成によれば、２以上のヘリカルピッチを含むヘリカルスキャンであっても、上述の実施形態と同様に、ヘリカルスキャンにおける被検体の体動を抑制することができる。また、２以上のヘリカルピッチのそれぞれについてスキャンを繰り返す場合と比較して、被検体Ｐごとのヘリカルスキャンに係るスループットをさらに向上することができる。

なお、実施形態に係るヘリカルスキャンにおいて、架台１０の移動を含む相対位置の変更方法が決定されたとき（Ｓ４，Ｓ６，Ｓ７）、表示制御機能４４５において処理回路４４は、スキャン中に架台１０が移動することを操作者へ通知する表示画面を、ディスプレイ４２に表示させてもよい。換言すれば、処理回路４４は、操作者によりプロトコルが選択されたとき、選択されたプロトコルに応じた相対位置の変更方法に架台１０の移動が含まれるとき、スキャン中に架台１０が移動することを操作者へ通知してもよい。

なお、選択されたプロトコルに応じた相対位置の変更方法に架台１０の移動が含まれるときには、操作者がプロトコルの内容を修正して、架台１０を移動させるように設定した場合を含む。表示画面のデータは、表示制御機能４４５により生成されてもよいし、画像生成機能４４２又は画像処理機能４４３により生成されてもよい。

なお、スキャン中に架台１０が移動することを操作者へ通知する表示画面は、例えば図５のＳ８の処理に先立って表示される。また、この表示画面は、架台１０の移動を含む相対位置の変更方法が決定されている場合に、例えば図５のＳ９のスキャン中に表示される。

この構成によれば、操作者は、ヘリカルスキャン前（Ｓ８）やヘリカルスキャン中（Ｓ９）における架台１０の移動の有無を容易に把握できる。これにより、操作者が意図せず架台１０に接触することを抑制できるため、Ｘ線ＣＴ装置１の安全性を向上することができる。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ、ＧＰＵ、ＡＳＩＣ、プログラマブル論理デバイス（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＰＬＤ）等の回路を意味する。ＰＬＤは、単純プログラマブル論理デバイス（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＣＰＬＤ）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ：ＦＰＧＡ）を含む。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。プログラムが保存された記憶回路は、コンピュータ読取可能な非一時的記録媒体である。なお、記憶回路にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。また、プログラムを実行するのではなく、論理回路の組合せにより当該プログラムに対応する機能を実現してもよい。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

以上説明した少なくとも１つの実施形態によれば、ヘリカルスキャンにおける被検体の体動を抑制することができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１ Ｘ線ＣＴ装置
１０ 架台
１１ Ｘ線管
１２ Ｘ線検出器
１３ 回転フレーム
１４ Ｘ線高電圧装置
１５ 制御装置
１６ ウェッジ
１７ コリメータ
１８ データ収集回路（ＤＡＳ）
１９ 開口部
３０ 寝台
３１ 基台
３２ 寝台駆動装置
３３ 天板
３４ 支持フレーム
４０ コンソール
４１ メモリ
４２ ディスプレイ（表示部）
４３ 入力インターフェース
４４ 処理回路
４４１ システム制御機能
４４２ 画像生成機能
４４３ 画像処理機能
４４４ スキャン制御機能（制御部）
４４５ 表示制御機能（表示部）

Claims (10)

1. 第１の方向に移動可能に構成され、被検体が載置される天板と、
   Ｘ線を発生するＸ線管と、前記Ｘ線管から発生され前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器とを回転部に有し、前記第１の方向に移動可能に構成された架台と、
   ヘリカルスキャンにおける前記架台と前記天板との前記第１の方向における相対位置の変更方法をプロトコルに応じて決定し、決定された前記相対位置の変更方法に従い前記架台及び前記天板のうちの少なくとも一方をスキャン中に移動させる制御部と
   を具備するＸ線コンピュータ断層撮影装置。
2. 前記制御部は、前記プロトコルに応じて前記架台及び前記天板の相対速度を設定し、設定された前記相対速度が前記天板の移動に係る最大速度より速いとき、前記架台及び前記天板の両方の移動による前記相対位置の変更方法を決定する、請求項１に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
3. 前記制御部は、前記プロトコルに応じて前記架台及び前記天板の相対速度を設定し、設定された前記相対速度が前記架台の移動に係る最大速度より遅いとき、前記架台及び前記天板のいずれか一方の移動による前記相対位置の変更方法を決定する、請求項１又は請求項２に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
4. 前記制御部は、前記プロトコルに応じて前記架台及び前記天板の相対速度を設定し、設定された前記相対速度が前記天板の移動に係る最大速度以上、かつ、前記架台の移動に係る最大速度以下のとき、前記架台及び前記天板の両方の移動と、前記天板の移動とのうちいずれかによる前記相対位置の変更方法を決定する、請求項１から請求項３のうちのいずれか一項に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
5. 前記制御部は、前記架台の移動を含む前記相対位置の変更方法が決定されたとき、前記天板から予め定められた距離の撮影開始位置へスキャン前に前記架台を移動する、請求項１から請求項４のうちのいずれか一項に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
6. 前記制御部は、２以上のヘリカルピッチの各々について前記相対位置の変更方法を決定し、スキャン中に前記ヘリカルピッチを変更する、請求項１から請求項５のうちのいずれか一項に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
7. 前記制御部は、前記架台及び前記天板の両方の移動により前記ヘリカルピッチを変更する、請求項６に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
8. 前記架台の移動を含む前記相対位置の変更方法が決定されたとき、スキャン中に前記架台が移動することを通知する表示画面を表示する表示部をさらに備える、請求項１から請求項７のうちのいずれか一項に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
9. 前記第１の方向は、前記天板の長手方向であり、
   前記制御部は、前記架台及び前記天板の両方の移動による前記相対位置の変更方法が決定されたとき、前記架台及び前記天板を、前記天板の長手方向において互いに異なる方向に移動する、
   請求項１から請求項８のうちのいずれか一項に記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
10. 第１の方向に移動可能に構成され、被検体が載置される天板と、
    Ｘ線を発生するＸ線管と、前記Ｘ線管から発生され前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器とを回転部に有し、前記第１の方向に移動可能に構成された架台と
    を備えるＸ線コンピュータ断層撮影装置において、
    ヘリカルスキャンにおける前記架台と前記天板との前記第１の方向における相対位置の変更方法をプロトコルに応じて決定することと、
    決定された前記相対位置の変更方法に従い前記架台及び前記天板のうちの少なくとも一方をスキャン中に移動させることと
    を含む制御方法。

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