JP2022078892A - 演算装置、テスト方法 - Google Patents

Abstract

【課題】テスト時間を短縮できる。【解決手段】演算装置は、部分再構成可能なプログラマブルロジック部を用いてテストを実行し、プログラマブルロジック部には、ユーザ回路であるテスト対象回路およびテスト対象回路ではないユーザ回路である非テスト回路が構成され、テスト対象回路と非テスト回路とを分離するテストパーテーション部を部分再構成によりプログラマブルロジック部に形成させるコンフィグ制御部と、テスト対象回路のテストを行うためにテストパーテーション部を制御するパーテーション制御部とを備える。【選択図】図１

Description

本発明は、演算装置、およびテスト方法に関する。

自動運転や先進運転支援システムに対応するステレオカメラや電子制御装置は、センサ情報を運転制御に活用するため、高性能なデータ処理が求められている。そのデータ処理を担うデバイスとして再構成可能な論理回路が用いられることがある。さらに車載搭載電子システムは、機能安全規格であるＩＳＯ２６２６２への対応を背景に、高信頼化が求められている。その中で、再構成可能な論理回路の高信頼性を担保しつつ、論理回路のテストを短時間で行う技術として、たとえば特許文献１がある。特許文献１には、プログラムデータをメモリに書き込むことにより機能が設定されるプログラマブルロジックブロックを備えたプログラマブルロジックデバイスの故障を検出するプログラマブルロジックデバイス試験方法において、プログラマブルロジックデバイス内の被試験ブロックに対し該プログラマブルロジックデバイス内の該被試験ブロック以外のプログラマブルロジックブロックで自己試験回路を構成するように該プログラムデータを該メモリにロードする第１工程と、該自己試験回路で該被試験ブロックを試験する第２工程と、を有することを特徴とするプログラマブルロジックデバイス試験方法が開示されている。

特開平１１－４４７４１号公報

特許文献１に記載されている発明では、テスト時間の短縮に検討の余地がある。

本発明の第１の態様による演算装置は、部分再構成可能なプログラマブルロジック部を用いてテストを実行する演算装置であって、前記プログラマブルロジック部には、ユーザ回路であるテスト対象回路および前記テスト対象回路ではないユーザ回路である非テスト回路が構成され、前記テスト対象回路と前記非テスト回路とを分離するテストパーテーション部を部分再構成により前記プログラマブルロジック部に形成させるコンフィグ制御部と、前記テスト対象回路のテストを行うために前記テストパーテーション部を制御するパーテーション制御部とを備える。
本発明の第２の態様によるテスト方法は、部分再構成可能なプログラマブルロジック部を用いてコンピュータが実行するテスト方法であって、ユーザ回路であるテスト対象回路および前記テスト対象回路ではないユーザ回路である非テスト回路が構成された前記プログラマブルロジック部に、前記テスト対象回路と前記非テスト回路とを分離するテストパーテーション部を部分再構成により形成させることと、前記テストパーテーション部を制御して前記テスト対象回路のテストを行うこととを含む。

本発明によれば、テスト時間を短縮できる。

プログラマブルデバイスを用いたテストの概要図 テストの概要図 プログラマブルデバイスへの実装例を示す図 プログラマブルデバイスへの実装例を示す図 プログラマブルデバイスへの実装例を示す図 テストパーテーション部の構成例を示す図 テストの一連の流れを示すフローチャート タイムチャートの一例を示す図 変形例１におけるテストパーテーション部を示す図 変形例２におけるテストの様子を示す図 変形例４におけるテストの概要図 第２の実施の形態におけるテストの様子を示す図 第３の実施の形態にかかる車載制御装置の構成図 第４の実施の形態にかかる車載制御装置の構成図

以下、図面を参照して本電子制御装置とテスト方式に係る実施の形態を説明する。ただし、以下に示す実施形態はあくまでも例示に過ぎず、実施形態で明示しない種々の変形例や技術の適用を排除する意図はない。すなわち、本実施形態を、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。又、各図は、図中に示す構成要素のみを備えるという趣旨ではなく、他の機能等を含むことができる。

―第１の実施の形態―
以下、図１～図８を参照して、演算装置であるプログラマブルデバイスの第１の実施の形態を説明する。

（概要図）
図１は、プログラマブルデバイス（以下、「ＰＬＤ」と呼ぶ）１００を用いたテストの概要図である。ＰＬＤ１００は、プログラマブルロジック部２００と、テスト実行制御部３００と、パーテーション制御部４００と、データ入力部５００と、コンフィグ制御部６００と、コンフィグデータ格納部７００とを備える。プログラマブルロジック部２００は、部分再構成が可能な論理回路である。プログラマブルロジック部２００に書き込むコンフィグデータは、コンフィグデータ格納部７００から供給される。

プログラマブルロジック部２００には、様々な論理回路を構成可能である。この論理回路は、プログラマブルロジック部２００を製造者であるベンダが提供するベンダ論理回路と、プログラマブルロジック部２００の製造者以外が作成するユーザ論理回路に分類される。本実施の形態では、このユーザ論理回路を対象とするテストについて述べている。

プログラマブルデバイス１００として、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）タイプを用いた場合は、テスト実行制御部３００、パーテーション制御部４００、データ入力部５００、コンフィグ制御部６００、およびコンフィグデータ格納部７００をプログラマブルロジック部２００で実現してもよいし、中央演算装置であるＣＰＵで実現してもよい。また、テスト実行制御部３００、パーテーション制御部４００、データ入力部５００、およびコンフィグ制御部６００が１以上のマイクロコンピュータにより実現され、コンフィグデータ格納部７００がＲＯＭにより実現されてもよい。

図１に示す例では、プログラマブルロジック部２００には、テストパターン生成部２１０、テスト対象回路２２０、判定部２３０、非テスト回路２４０、およびテストパーテーション部２５０が形成されている。テスト対象回路２２０と非テスト回路２４０とは対応する概念であり、本実施の形態では、あるテストの対象となるユーザ回路をテスト対象回路２２０と呼び、そのテストでテストの対象ではないユーザ回路を非テスト回路２４０と呼ぶ。すなわちテスト対象回路２２０および非テスト回路２４０は、特定のユーザ回路を示すのではなくテストごとに変更される。なお非テスト回路２４０は、「テスト対象外回路」と呼ぶこともできる。

テスト実行制御部３００は、テスト対象回路２２０のテストを指揮する。具体的にはテスト実行制御部３００は、テストパターン生成部２１０、判定部２３０、およびパーテーション制御部４００に動作指令を出力し、テストパターン生成部２１０および判定部２３０から応答を受け取る。パーテーション制御部４００は、テスト実行制御部３００からの指令に基づきテストパーテーション部２５０およびコンフィグ制御部６００に動作指令を出力する。コンフィグ制御部６００は、パーテーション制御部４００からの動作指令に基づきデータ入力部５００を経由してコンフィグデータ格納部７００からコンフィグデータを受領し、プログラマブルロジック部２００に書き込む。具体的にはコンフィグ制御部６００は、テストパターン生成部２１０、テスト対象回路２２０、判定部２３０、非テスト回路２４０、およびテストパーテーション部２５０を書き込む。

図２は、本実施の形態におけるテストの概要図である。図２ではテストの中核部分のみを図示しておりテストそのものに影響がないテストパーテーション部２５０などは図示を省略している。図２に示すように本実施の形態では、テストパターン生成部２１０がテストパターンを生成してテスト対象回路２２０に印加する。そして、判定部２３０がテスト対象回路２２０の出力結果を期待値と比較し、比較結果をテスト実行制御部３００に出力する。なおこのテスト方法は、ＢＩＳＴ（Ｂｕｉｌｔ－ｉｎ Ｓｅｌｆ Ｔｅｓｔ）で一般的に用いられている方法である。図１に戻って説明を続ける。

コンフィグデータ格納部７００には、プログラマブルロジック部２００に書き込むコンフィグレーション情報であるコンフィグデータが格納されている。本実施の形態では、まずコンフィグレーションによりプログラマブルロジック部２００に様々なユーザ論理回路が形成され、テスト実行制御部３００はこの複数のユーザ論理回路からテスト対象回路２２０を決定する。そしてテスト実行制御部３００は、テスト対象回路２２０に対して入出力関係がある他の分割されたユーザ論理回路の領域に、テストパターン生成部２１０および判定部２３０を部分再構成により実装してテストを行う。

このテストでは、まずパーテーション制御部４００がテストパーテーション部２５０に対してよる分離を行う。分離が完了すると、コンフィグ制御部６００は、データ入力部５００を経由してパーテーション部の情報を含むコンフィグデータ格納部７００からテスト回路のコンフィグデータを所望のユーザ論理回路を部分再構成で書き換える。その後、テストパーテーション部２５０を分離状態から接続状態に切り替えて、テストを実施する。

（実装例）
図３～図５は、ＳｏＣタイプのプログラマブルデバイス１００への実装例を示す図である。ただし図３～図５では、作図の都合によりテストパターン生成部２１０を「ＴＰＧ」（Test Pattern Generator）、判定部２３０を「ＯＲＡ」（Output Response Analyzer）と記載している。

図３に示す例では、プログラマブルロジック部２００にはＵＬ１～ＵＬ７の７つのユーザ論理回路が生成される。図３に示す例では、これら７つのユーザ論理回路全てをテスト対象とするために、ユーザ論理回路同士の全ての接続部にテストパーテーション部２５０が形成される。なお図３では図示の都合により符号２５０は１カ所にしか記載していないが、同様のハッチングで示される図形は全てテストパーテーション部２５０を表している。以下の図でも同様である。テストパーテーション部２５０の働きを図４を参照して詳しく説明する。

図４に示す例では、テスト対象のユーザ論理回路としてＵＬ４が選択されている。ＵＬ４は、ＵＬ２およびＵＬ３からの入力を用いて演算を行い、ＵＬ５に演算結果を出力する。そのためＵＬ４をテスト対象とする場合には、ＵＬ２およびＵＬ３にＴＰＧが配され、ＵＬ５にＯＲＡが配される。

ＵＬ１～ＵＬ７がコンフィグレーションにより形成された状態から図４に示す状態に遷移するためには、ＵＬ２およびＵＬ３にＴＰＧを部分再構成により書き込み、ＵＬ５にＯＲＡを部分再構成により書き込む必要がある。しかしこれらを部分再構成で書き込む際には、部分再構成中の回路の入出力端子の値は不定になる。また、部分再構成後の回路の初期値も不定になる。この不定な値は、テストに悪影響を及ぼすため、それぞれの部分再構成を行う回路に対して、分離および接続するためのテストパーテーション部２５０を設ける。またこのテストパーテーション部２５０は、部分再構成を行っている最中の不安定な出力をテスト対象外のユーザ論理回路に出力しないことも意図して設けられている。

図５に示す例では、テスト対象のユーザ論理回路としてＵＬ５が選択されている。ＵＬ５は、ＵＬ１およびＵＬ４からの入力を用いて演算を行い、ＵＬ６およびＵＬ７に演算結果を出力する。ＵＬ１には部分再構成によりＴＰＧを書き込む必要があるが、ＵＬ１はＣＰＵからの出力により動作するのでテストを実行する際にはＣＰＵを制御することでＵＬ１からＵＬ５への出力を一時的に停止できる。そのため図５に示す例では、ＵＬ５におけるＵＬ１との接続部にはテストパーテーション部２５０が設けられていない。

図６は、テストパーテーション部２５０の構成例を示す図である。図６に示すように、テストパーテーション部２５０はたとえば、イネーブル信号端子を有する１以上のフリップフロップＦにより実現できる。テストパーテーション部２５０に含まれるフリップフロップＦの数は、接続される端子の数と同一である。フリップフロップＦに入力されるイネーブル信号は、パーテーション制御部４００が出力する。パーテーション制御部４００は、イネーブル信号を用いてテストパーテーション部２５０を制御し、テスト対象回路２２０と非テスト回路２４０との分離と接続が実現できる。

（フローチャート）
図７は、テストの一連の流れを示すフローチャートである。以下に説明する各ステップの実行主体はテスト実行制御部３００である。まずステップＳ７０１においてテスト実行制御部３００は、コンフィグ制御部６００にテスト対象回路２２０を書き込ませる。ただしテスト対象回路２２０がプログラマブルロジック部２００に存在している場合には、ステップＳ７０１は省略できる。別の回路をテストする目的でたとえばテストパターン生成部２１０が書き込まれたために、テスト対象回路２２０の一部または全部が上書きされた場合などにＳ７０１が実行される。

続くステップＳ７０２ではテスト実行制御部３００は、パーテーション制御部４００を用いてテストパーテーション部２５０によるテスト対象回路２２０と非テスト回路２４０の分離を行う。続くステップＳ７０３ではテスト実行制御部３００は、コンフィグ制御部６００を用いてテストパターン生成部２１０および判定部２３０を書き込ませる。続くステップＳ７０４ではテスト実行制御部３００は、パーテーション制御部４００を用いてテストパーテーション部２５０によるテスト対象回路２２０と非テスト回路２４０の接続を行う。続くステップＳ７０５ではテスト実行制御部３００は、テストパターン生成部２１０にテストパターンの生成を指示してテストを実行する。

続くステップＳ７０６ではテスト実行制御部３００は、判定部２３０からテスト結果の回収、換言すると判定結果の受信を行う。続くステップＳ７０７ではテスト実行制御部３００は、テスト対象とする全てのユーザ論理回路のテストが完了したか否かを判断し、テスト未実施の回路が存在すると判断する場合にはステップＳ７０８においてテスト対象回路２２０を更新してステップＳ７０１に戻る。テスト実行制御部３００は、全てのテスト対象であるユーザ論理回路のテストが完了したと判断する場合は図７に示す処理を終了する。

（タイムチャート）
図８は、プログラマブルデバイス１００におけるタイムチャートの一例を示す図である。図８では図示上部から下部に向かって時間が経過しており、横方向にユーザ論理回路であるＵＬ１～ＵＬ５を示している。このＵＬ１～ＵＬ５は図３～図５に示した例に対応しているが、作図の都合によりＵＬ５以降の記載を省略している。また図８では、テストパーテーション部２５０の書き込みについては記載および説明を省略する。図８に示す例では、ＵＬ２、ＵＬ３、およびＵＬ４が順番にテスト対象回路に設定される。

時刻ｔ１には、通常の再構成処理によりユーザ論理回路の全体が書き込まれる。時刻ｔ２には、ＵＬ２をテスト対象回路とするテストを実行するために部分再構成により、テストパターン生成部２１０がＵＬ１に書き込まれ、判定部２３０がＵＬ３およびＵＬ４に書き込まれる。時刻ｔ３には、ＵＬ２のテストが実行される。

時刻ｔ４には、ＵＬ３をテスト対象回路とするテストを実行するために部分再構成により、テストパターン生成部２１０がＵＬ２に書き込まれ、判定部２３０がＵＬ４に書き込まれ、ユーザ論理回路がＵＬ３に書き込まれる。ＵＬ３は時刻ｔ２に判定部２３０が書き込まれたので、時刻ｔ１にＵＬ３に書き込まれたユーザ論理回路の一部が上書きされた。このままではＵＬ３のテストが実行できないため、時刻ｔ４に改めて部分再構成によりＵＬ３のユーザ論理回路の書き込みが行われる。なおＵＬ４には時刻ｔ２にすでに判定部２３０が書き込まれているので、ＵＬ２の出力を判定する判定部２３０がＵＬ４の出力の判定も可能な場合には、時刻ｔ４におけるＵＬ４への判定部２３０の書き込みを省略できる。時刻ｔ５にはＵＬ３のテストが実行される。

時刻ｔ６には、ＵＬ４をテスト対象回路とするテストを実行するために部分再構成により、テストパターン生成部２１０がＵＬ２およびＵＬ３に書き込まれ、判定部２３０がＵＬ５に書き込まれ、ユーザ論理回路がＵＬ４に書き込まれる。ＵＬ４は時刻ｔ２およびｔ４に判定部２３０が書き込まれたので、時刻ｔ１にＵＬ４に書き込まれたユーザ論理回路の一部が上書きされた。このままではＵＬ４のテストが実行できないため、時刻ｔ６に改めて部分再構成によりＵＬ４のユーザ論理回路の書き込みが行われる。なお前述のように、ＵＬ２へのテストパターン生成部２１０の書き込みが省略できる場合がある。時刻ｔ７にはＵＬ４のテストが実行される。

上述した第１の実施の形態によれば、次の作用効果が得られる。
（１）演算装置であるプログラマブルデバイス１００は、部分再構成可能なプログラマブルロジック部２００を用いてテストを実行する。プログラマブルロジック部２００には、ユーザ回路であるテスト対象回路２２０およびテスト対象回路２２０ではないユーザ回路である非テスト回路２４０が構成され、テスト対象回路２２０と非テスト回路２４０とを分離するテストパーテーション部２５０を部分再構成によりプログラマブルロジック部２００に形成させるコンフィグ制御部６００と、テスト対象回路２２０のテストを行うためにテストパーテーション部２５０を制御するパーテーション制御部４００とを備える。そのためテストパーテーション部２５０を用いてテスト対象回路２２０と非テスト回路２４０とを分離することで、部分再構成の書き込み時における非テスト回路２４０への影響、たとえば不安定な信号の出力を抑制できる。これにより、プログラマブルロジック部２００の全体を書き換えることなくテストを実行でき、テスト時間を短縮することができる。

（２）パーテーション制御部４００は、テスト対象回路２２０と非テスト回路２４０との間を分離状態と接続状態とに切り替える。そのため、パーテーション部２５０を残したままテストを実行できる。

（３）コンフィグ制御部６００はさらに、テストのための信号を生成しテスト対象回路に出力するテストパターン生成部２１０およびテスト対象回路２２０の出力を判定する判定部２３０を部分再構成によりプログラマブルロジック部２００に書き込む。プログラマブルデバイス１００は、パーテーション制御部４００およびテストパターン生成部２１０に動作指令を送信し、かつ判定部２３０から判定結果を受信する、テスト実行制御部３００を備える。そのため、テストに必要なテストパターン生成部２１０および判定部２３０を部分再構成により書き込んでテストを実行できる。

（４）コンフィグ制御部６００は、図８の時刻ｔ４や時刻ｔ６のように、テスト対象回路２２０を部分再構成によりプログラマブルロジック部２００に書き込む。テストパターン生成部２１０や判定部２３０を別のテストのために書き込んだことにより上書きされてしまったテスト対象回路２２０を再度書き込み、テストを実行できる。

（変形例１）
図９は、変形例１におけるテストパーテーション部２５０を示す図である。上述した第１の実施の形態では、テストパーテーション部２５０はユーザ論理回路の内部に実装された。しかしテストパーテーション部２５０は、図９に示すようにユーザ論理回路の外部、すなわちユーザ論理回路に対する入出力信号配線上に実装されてもよい。

（変形例２）
上述した第１の実施の形態では、テスト対象回路２２０の入力端子と出力端子の両方にテストパーテーション部２５０を設けた。しかしテストパーテーション部２５０は、テスト対象回路２２０の入力端子および出力端子のいずれか一方のみに設ける構成でもよい。たとえば部分再構成により判定部２３０、テスト対象回路２２０、テストパターン生成部２１０の順番で書き込む場合、換言するとテストパターン生成部２１０を３つの中で最後に書き込む場合には、テスト対象回路２２０の入力端子側のテストパーテーション部２５０は設けられなくてもよい。

（変形例３）
上述した第１の実施の形態では、テスト対象回路２２０へ入力される信号は、全てテストパターン生成部２１０が生成した信号であった。しかし非テスト回路２４０の出力をテスト対象回路２２０に入力してもよい。

図１０は、変形例２におけるテストの様子を示す図である。この例ではＵＬ４がテスト対象回路２２０であり、ＵＬ２に構成されたテストパターン生成部２１０と、非テスト回路２４０であるＵＬ３から入力を受ける。ＵＬ３にテストパターン生成部２１０を形成する場合に比べてテストパターンの生成数を減少させることができる。また、テスト対象回路２２０のレジスタ設定信号や制御信号などのデータ変動の少ない低速な信号やエラーフラグなどの割り込み信号などは、テストパターンとして印加する場合は、その分だけテスト時間が長くなる。これらの信号を非テスト回路２４０から与えることでテスト効率が向上する。

（変形例４）
テスト実行制御部３００、パーテーション制御部４００、データ入力部５００、コンフィグ制御部６００、およびコンフィグデータ格納部７００の少なくとも１つは、プログラマブルデバイス１００に含まれなくてもよい。たとえば、テスト実行制御部３００、パーテーション制御部４００、データ入力部５００、コンフィグ制御部６００、およびコンフィグデータ格納部７００の全てが他の装置に含まれ、その装置とプログラマブルデバイスとが通信して第１の実施の形態と同様の処理を実行してもよい。

図１１は、変形例４におけるテストの概要図である。本変形例では、テスト制御装置１００Ｔとプログラマブルデバイス１００Ｓが通信を行い、全体として第１の実施の形態と同様の処理を実行する。テスト制御装置１００Ｔは、テスト実行制御部３００、パーテーション制御部４００、データ入力部５００、コンフィグ制御部６００、およびコンフィグデータ格納部７００を備える。プログラマブルデバイス１００Ｓは、プログラマブルロジック部２００を有する。

テスト制御装置１００Ｔは、テスト実行制御部３００、パーテーション制御部４００、データ入力部５００、およびコンフィグ制御部６００をＣＰＵを用いて実現してもよいし、特定用途向け集積回路や書き換え可能な論理回路により実現してもよい。コンフィグデータ格納部７００はたとえば、ＲＯＭを用いて実現される。なお図１１には図示していないが、プログラマブルデバイス１００Ｓはさらに、コンフィグレーションデータを格納するＲＯＭやコンフィグを実行する構成を有してもよい。

すなわち本変形例におけるテスト制御装置１００Ｔは、部分再構成可能なプログラマブルロジック部２００を備えるプログラマブルデバイス１００Ｓを用いてテストを実行する演算装置である。プログラマブルロジック部２００には、ユーザ回路であるテスト対象回路２２０およびテスト対象回路２２０ではないユーザ回路である非テスト回路２４０が構成され、テスト対象回路２２０と非テスト回路２４０とを分離するテストパーテーション部２５０を部分再構成によりプログラマブルロジック部２００に形成させるコンフィグ制御部６００と、テスト対象回路２２０のテストを行うためにテストパーテーション部２５０を制御するパーテーション制御部４００とを備える。そのためたとえば、単体で動作が完結するプログラマブルデバイス１００Ｓにテスト制御装置１００Ｔを接続して、効率よく短時間でのテストを実行することができる。

―第２の実施の形態―
図１２を参照して、演算装置であるプログラマブルデバイスの第２の実施の形態を説明する。以下の説明では、第１の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第１の実施の形態と同じである。本実施の形態では、主に、複数のユーザ論理回路を並行してテストする点で、第１の実施の形態と異なる。

本実施の形態におけるテスト実行制御部３００は、テスト対象である複数のユーザ論理回路から、隣接しない、換言するとデータの入出力関係にないユーザ論理回路の組合せを特定する。そしてテスト実行制御部３００は、特定したその組み合わせのユーザ論理回路を並行してテストする。

図１２は、第２の実施の形態におけるテストの様子を示す図である。図１２では、ＵＬ４とＵＬ６が並行してテストを行うテスト対象回路２２０である。ＵＬ４およびＵＬ６は、相互にデータ入出力の関係にないので、並行してテストが可能である。仮にＵＬ４とＵＬ５の組合せを検討すると、ＵＬ４の出力を判定する判定部２３０をＵＬ５に書き込む必要があり、ＵＬ５の本来の動作が妨げられるのでＵＬ４とＵＬ５は並行してのテストは不可能である。

図１２に示すように、テスト実行制御部３００はコンフィグ制御部６００を用いてＵＬ１、ＵＬ２、ＵＬ３およびＵＬ５にテストパターン生成部２１０を書き込ませ、ＵＬ５およびＵＬ７に判定部２３０を書き込ませる。なおこの例ではＵＬ５にはテストパターン生成部２１０と判定部２３０の両方が書き込まれているが、テストパターン生成部２１０と判定部２３０が同一のユーザ論理回路に書き込まれることは本実施の形態における必須要件ではない。

上述した第２の実施の形態によれば、第１の実施の形態における作用効果に加えて、テスト回数の削減とテストの並列処理によるさらなるテスト時間の削減が可能になる。

―第３の実施の形態―
図１３を参照して、演算装置であるプログラマブルデバイスの第３の実施の形態を説明する。以下の説明では、第１の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第１の実施の形態と同じである。本実施の形態では、主に、非テスト回路２４０が演算を行いながらテスト対象回路２２０のテストを行う点で、第１の実施の形態と異なる。

図１３は、第３の実施の形態にかかる車載制御装置９００の構成図である。車両１０００は、車両１０００の周囲の情報を収集するセンサモジュール８００と、プログラマブルデバイス１００を内蔵する電子制御装置９００を備える。センサモジュール８００が収集する情報は、電子制御装置９００のプログラマブルデバイス１００に提供される。プログラマブルロジック部２００に書き込まれたそれぞれのユーザ論理回路はたとえば、センサモジュール８００が収集した情報を処理する。

テスト実行制御部３００はそれぞれユーザ論理回路の稼働の有無を検出し、稼働していないユーザ論理回路の１つをテスト対象回路２２０に設定してテストを行う。ただしテスト実行制御部３００は、テストのためにテストパターン生成部２１０および判定部２３０の少なくとも一方を書き込む必要がある場合には、書き込みが必要なユーザ論理回路も稼働していないことを条件としてテストを行う。たとえば図３に示したユーザ論理回路の例では、ＵＬ４のテストを行うためには、ＵＬ２～ＵＬ５の４つのユーザ論理回路が稼働していないことが条件となる。

上述した第３の実施の形態によれば、第１の実施の形態における作用効果に加えて、次の作用効果が得られる。
（５）テスト実行制御部は、前記プログラマブルロジック部２００に構成された複数のユーザ回路の稼働の有無を検出し、稼働していないユーザ論理回路の１つを前記テスト対象回路に設定してテストを行う。そのため、自動車の運用中の動作（走行中、停車・駐車時など）に応じて、使用していないユーザ論理回路をテストすることが可能である。

―第４の実施の形態―
図１４を参照して、演算装置であるプログラマブルデバイスの第４の実施の形態を説明する。以下の説明では、第３の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第３の実施の形態と同じである。本実施の形態では、主に、外部と通信を行う点で、第１の実施の形態と異なる。

図１４は、第４の実施の形態にかかる車載制御装置９００の構成図である。本実施の形態における車載制御装置９００は、第３の実施の形態の構成に加えて外部通信部１１００を備える。外部通信部１１００は、車両１０００の外部と通信を行う無線通信装置である。外部通信部１１００は、プログラマブルデバイス１００におけるテストの結果を、車両１００の外部に存在するサーバ１２００に送信する。

上述した第４の実施の形態によれば、第１の実施の形態における作用効果に加えて、次の作用効果が得られる。
（６）テスト対象回路２２０のテスト結果を無線通信を用いて送信する外部通信部１１００を備える。そのためプログラマブルデバイス１００は、テスト結果を即時に外部に送信できる。このテスト結果は、プログラマブルロジック部２００の診断結果とみなすこともできるので、プログラマブルデバイス１００の運用監視やシステムの信頼性評価にも利用できる。さらにこのテスト結果はサーバ１２００で監視できるため、保守サービスなどにも適用可能である。なお、自動車の運用中では、テスト対象回路の重要性、例えば車載の機能安全にかかわる安全機構（故障検知回路）など安全性に影響する回路の診断周期、回数などを変更する重み付けを行い、車載電子システムの安全性も向上することができる。

上述した各実施の形態および変形例において、機能ブロックの構成は一例に過ぎない。別々の機能ブロックとして示したいくつかの機能構成を一体に構成してもよいし、１つの機能ブロック図で表した構成を２以上の機能に分割してもよい。また各機能ブロックが有する機能の一部を他の機能ブロックが備える構成としてもよい。

上述した各実施の形態および変形例は、それぞれ組み合わせてもよい。上記では、種々の実施の形態および変形例を説明したが、本発明はこれらの内容に限定されるものではない。本発明の技術的思想の範囲内で考えられるその他の態様も本発明の範囲内に含まれる。

１００、１００Ｓ プログラマブルデバイス
１００Ｔ テスト制御装置
２００ プログラマブルロジック部
２１０ テストパターン生成部
２２０ テスト対象回路
２３０ 判定部
２４０ 非テスト回路
２５０ テストパーテーション部
３００ テスト実行制御部
４００ パーテーション制御部
６００ コンフィグ制御部

Claims (8)

1. 部分再構成可能なプログラマブルロジック部を用いてテストを実行する演算装置であって、
   前記プログラマブルロジック部には、ユーザ回路であるテスト対象回路および前記テスト対象回路ではないユーザ回路である非テスト回路が構成され、
   前記テスト対象回路と前記非テスト回路とを分離するテストパーテーション部を部分再構成により前記プログラマブルロジック部に形成させるコンフィグ制御部と、
   前記テスト対象回路のテストを行うために前記テストパーテーション部を制御するパーテーション制御部とを備える演算装置。
2. 請求項１に記載の演算装置であって、
   前記パーテーション制御部は、前記テスト対象回路と前記非テスト回路との間を分離状態と接続状態とに切り替える、演算装置。
3. 請求項１に記載の演算装置であって、
   前記コンフィグ制御部はさらに、テストのための信号を生成し前記テスト対象回路に出力するテストパターン生成部および前記テスト対象回路の出力を判定する判定部を部分再構成により前記プログラマブルロジック部に書き込み、
   前記パーテーション制御部および前記テストパターン生成部に動作指令を送信し、かつ前記判定部から判定結果を受信する、テスト実行制御部をさらに備える、演算装置。
4. 請求項３に記載の演算装置であって、
   前記コンフィグ制御部はさらに、テスト対象回路を部分再構成により前記プログラマブルロジック部に書き込む、演算装置。
5. 請求項３に記載の演算装置であって、
   前記テスト実行制御部は、前記プログラマブルロジック部２００に構成された複数のユーザ回路の稼働の有無を検出し、稼働していないユーザ論理回路の１つを前記テスト対象回路に設定してテストを行う、演算装置。
6. 請求項１に記載の演算装置であって、
   前記テスト対象回路のテスト結果を無線通信を用いて送信する外部通信部をさらに備える、演算装置。
7. 部分再構成可能なプログラマブルロジック部を用いてコンピュータが実行するテスト方法であって、
   ユーザ回路であるテスト対象回路および前記テスト対象回路ではないユーザ回路である非テスト回路が構成された前記プログラマブルロジック部に、前記テスト対象回路と前記非テスト回路とを分離するテストパーテーション部を部分再構成により形成させることと、
   前記テストパーテーション部を制御して前記テスト対象回路のテストを行うこととを含む、テスト方法。
8. 請求項７に記載のテスト方法において、
   テストのための信号を生成し前記テスト対象回路に出力するテストパターン生成部、および前記テスト対象回路の出力を判定する判定部を部分再構成により前記プログラマブルロジック部に書き込むことをさらに含む、テスト方法。
   

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