JP4676967B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents
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Description
メモリBIST回路10においてメモリBISTを実行するときには、メモリ1へのアクセスは、メモリ1の前段に設けたセレクタ2をモード切替信号にて切り替えてコントローラ11からのテストアクセス信号がメモリ1をアクセスする。そして該アクセスに対するメモリ1のデータ出力値を、コントローラ11から得られる期待値とコンパレータ12にて比較し、その比較結果がテスト出力としてチップ外部へ出力される。メモリBIST回路10は、このような動作を行うシステムである。
即ち、本発明の第1態様における半導体集積回路装置は、半導体メモリ部と、通常動作モードにおいて上記半導体メモリ部にアクセスするメモリアクセスコントロールロジックを有するシステムロジック部と、上記半導体メモリ部のテストモードにおいて上記半導体メモリ部にアクセスするテストロジック部とを内蔵した半導体集積回路装置において、
上記システムロジック部からのシステム制御信号と上記テストロジック部からのテスト制御信号とのいずれか一方をモード切替に従い選択して送出する制御信号セレクタと、
上記システムロジック部の最終段に配置され上記半導体メモリ部とのインターフェースとなり、上記制御信号セレクタから上記システム制御信号又は上記テスト制御信号のいずれか一方が供給され上記半導体メモリ部へアクセス信号を送出する、上記システムロジック部の上記通常動作モード及び上記テストブロック部の上記テストモードで共用されるフリップフロップと、を備え、
上記フリップフロップの出力は、上記テストロジック部及び上記メモリアクセスコントロールロジックへフィードバックされる、
ことを特徴とする。
図1に、本実施形態の半導体集積回路装置101の構成を示す。半導体集積回路装置101は、半導体メモリ部110(以下、単にメモリ110と記す場合もある。)と、通常動作モードにおいて半導体メモリ部110にアクセスするシステムロジック部120と、半導体メモリ部110のテストモードにおいて半導体メモリ部110にアクセスするテストロジック部130と、制御信号セレクタ140とを一つのチップに備え内蔵した。又、半導体集積回路装置101では、1つのメモリ110に対してシステムロジック部120とテストロジック部130とが対応している。
モード切替信号141により、通常動作モードではシステム制御信号121aが制御信号セレクタ140を通過し、フリップフロップ122に格納されて、アクセス信号122aとしてメモリ110にアクセスする。メモリBISTの実行時には、テスト制御信号131aがシステム制御信号121aに替わってフリップフロップ122に格納され、アクセス信号122aとしてメモリ110にアクセスする。又、いずれの場合においても、コントロールロジック121,131の動作のため、フリップフロップ122がメモリ110へ送出するアクセス信号122aのフィードバックが必要となる。
上述した半導体集積回路装置101は、一つのメモリ部110を備える構成であったが、これに限定されず複数のメモリ部110を備えることもできる。当該第2実施形態は、そのような構成の一例に相当するもので、図2に示すように、半導体集積回路装置102は、2つのメモリ部110−1、110−2を備えている。又、それぞれのメモリ部110−1、110−2に対応して、上述のフリップフロップ122と同様に機能するフリップフロップ122−1、122−2、及び上述の制御信号セレクタ140と同様に機能する制御信号セレクタ140−1、140−2を備えている。その他の構成については、半導体集積回路装置101と変わる部分はなく、ここでの説明は省略する。
図3には、本発明の第3実施形態における半導体集積回路装置103の構成が示されている。該半導体集積回路装置103は、上述の半導体集積回路装置101の構成に比べてさらにクロックセレクタ142を備えている。その他の構成については、半導体集積回路装置101と変わる部分はなく、ここでの説明は省略する。
クロックセレクタ142には、互いに異なる複数のクロックが供給される。本実施形態では、通常動作モードにおけるシステムクロックと、BISTモードにおけるテストクロックとの2つが供給されるが、2つに限定されず3以上のクロックが供給されてもよい。このようなクロックセレクタ142は、上述のモード切替に応じて上記制御信号セレクタ140と同期して上記複数のクロックからいずれか一つを選択して上記フリップフロップ122のクロック端子へ送出する。本実施形態では、上述のように、通常動作モードにおけるシステムクロック142aと、テストモードにおけるテストクロック142bとがクロックセレクタ142へ供給され、クロックセレクタ142は、モード切替信号141により、通常動作モードではシステムクロック142aを選択してフリップフロップ122へ送出し、テストモードではテストクロック142bを選択してフリップフロップ122へ送出する。
120…システムロジック部、122…フリップフロップ、
130…テストロジック部、132…コンパレータ、140…制御信号セレクタ、
142…クロックセレクタ。
Claims (6)
- 半導体メモリ部と、通常動作モードにおいて上記半導体メモリ部にアクセスするメモリアクセスコントロールロジックを有するシステムロジック部と、上記半導体メモリ部のテストモードにおいて上記半導体メモリ部にアクセスするテストロジック部とを内蔵した半導体集積回路装置において、
上記システムロジック部からのシステム制御信号と上記テストロジック部からのテスト制御信号とのいずれか一方をモード切替に従い選択して送出する制御信号セレクタと、
上記システムロジック部の最終段に配置され上記半導体メモリ部とのインターフェースとなり、上記制御信号セレクタから上記システム制御信号又は上記テスト制御信号のいずれか一方が供給され上記半導体メモリ部へアクセス信号を送出する、上記システムロジック部の上記通常動作モード及び上記テストブロック部の上記テストモードで共用されるフリップフロップと、を備え、
上記フリップフロップの出力は、上記テストロジック部及び上記メモリアクセスコントロールロジックへフィードバックされる、
ことを特徴とする半導体集積回路装置。 - 上記テストロジック部は、上記アクセス信号による上記半導体メモリのデータ出力値と該データ出力値に対応する期待値との比較を、上記フリップフロップによる上記半導体メモリへのパイプライン化されたアクセスに対応したタイミングにて行うコンパレータを有する、請求項1記載の半導体集積回路装置。
- 複数の上記半導体メモリ部を備え、これに対応してそれぞれ複数の上記制御信号セレクタ及び上記フリップフロップを備える、請求項1又は2記載の半導体集積回路装置。
- それぞれの上記フリップフロップから、対応するそれぞれの上記半導体メモリ部へ上記アクセス信号がアクセスするとき、複数の上記フリップフロップのいずれか一つは、上記アクセス信号を上記テストロジック部にフィードバックする、請求項3記載の半導体集積回路装置。
- 通常動作モードにおけるシステムクロックと、テストモードにおけるテストクロックとが入力されるクロックセレクタを有し、該クロックセレクタは、モード切替信号により、通常動作モードではシステムクロックを選択して上記フリップフロップへ、テストモードではテストクロックを選択して上記フリップフロップへ、制御信号セレクタと同期して送出する、請求項1又は2記載の半導体集積回路装置。
- 半導体メモリ部と、通常動作モードにおいて上記半導体メモリ部にアクセスするメモリアクセスコントロールロジックを有するシステムロジック部と、上記半導体メモリ部のテストモードにおいて上記半導体メモリ部にアクセスするテストロジック部とを内蔵した半導体集積回路装置において、
上記システムロジック部からのシステム制御信号と上記テストロジック部からのテスト制御信号とのいずれか一方をモード切替に従い選択して送出する制御信号セレクタと、
上記システムロジック部の最終段に配置され上記半導体メモリ部とのインターフェースとなり、上記制御信号セレクタの後段に配置され、さらに上記制御信号セレクタから上記システム制御信号又は上記テスト制御信号のいずれか一方が供給され上記半導体メモリ部へアクセス信号を送出する、上記システムロジック部及び上記テストロジック部で共用されるフリップフロップと、を備え、
上記フリップフロップの出力は、上記テストロジック部及び上記メモリアクセスコントロールロジックへフィードバックされる、
ことを特徴とする半導体集積回路装置。
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