JP2022038819A - モジュール及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】測定対象物への取り付け及び出力ケーブルとの着脱が容易な、フィルムデバイスを有するモジュールを提供する。【解決手段】本モジュールは、底面と前記底面に対向した開口部を有する筒状体と、前記底面に搭載され、上面に端子を有するフィルムデバイスと、前記筒状体の上側に配置され、接点と端子を有するレセプタクルと、前記フィルムデバイスの端子と、前記レセプタクルの端子とを接続する接続手段と、を有する。【選択図】図3

Description

本発明は、モジュール及びその製造方法に関する。
フィルムデバイスの一例として、可撓性を有するポリイミド等の基材上に形成された抵抗体を有するひずみゲージが知られている。このような構造のフィルムデバイスは、基材が可撓性であるため、測定対象物への取り付けが難しい。又、ポリイミドは難接着材であるため、測定対象物への取り付けには特殊な接着方法(加熱及び加圧)が必要である。
又、上記のような構造のフィルムデバイスは、電極の取り回しが難しい。例えば、フィルムデバイスがひずみゲージである場合、ひずみゲージの端子とひずみゲージの出力を処理する回路とは、出力ケーブル(基板の配線やリード線等)で接続されており、ひずみゲージの端子を出力ケーブルと着脱することは困難である。
特開2019-164161号公報 特開2020-008550号公報
本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、測定対象物への取り付け及び出力ケーブルとの着脱が容易な、フィルムデバイスを有するモジュールの提供を目的とする。
本モジュール(10)は、底面(21)と前記底面(21)に対向した開口部(23)を有する筒状体(20)と、前記底面(21)に搭載され、上面に端子(34、35)を有するフィルムデバイス(30)と、前記筒状体(20)の上側に配置され、接点(43、44)と端子(45、46)を有するレセプタクル(40)と、前記フィルムデバイス(30)の端子(34、35)と、前記レセプタクル(40)の端子(45、46)とを接続する接続手段(50、51)と、を有する。
なお、上記括弧内の参照符号は、理解を容易にするために付したものであり、一例にすぎず、図示の態様に限定されるものではない。
開示の技術によれば、測定対象物への取り付け及び出力ケーブルとの着脱が容易な、フィルムデバイスを有するモジュールを提供できる。
本実施形態に係るモジュールを例示する平面図である。 本実施形態に係るモジュールを例示する側面図である。 本実施形態に係るモジュールを例示する断面図である。 本実施形態に係るひずみゲージを例示する平面図である。 本実施形態に係るモジュールの製造方法を例示する断面図(その1)である。 本実施形態に係るモジュールの製造方法を例示する断面図(その2)である。
以下、図面を参照して発明を実施するための形態について説明する。各図面において、同一構成部分には同一符号を付し、重複した説明を省略する場合がある。
(モジュール)
図1は、本実施形態に係るモジュールを例示する平面図である。図2は、本実施形態に係るモジュールを例示する側面図である。図3は、本実施形態に係るモジュールを例示する断面図である。図4は、本実施形態に係るひずみゲージを例示する平面図である。
図1~図3を参照すると、モジュール10は、筒状体20と、ひずみゲージ30と、レセプタクル40と、接続手段50及び51とを有する。
筒状体20は、ひずみゲージ30等を配置する部材であり、底面21と、内側面22と、底面21に対向した開口部23とを有する。底面21と内側面22により形成される部分が開口部23である。内側面22は、断面視において階段状になっていてもよい。筒状体20は、ひずみを均等に受けて、測定対象物のひずみを正確にひずみゲージ30に伝達するために円筒形とすることが好ましいが、開口部を備えた四角柱形状や、開口部を備えた三角柱形状としてもよい。
筒状体20は、例えば、金属やプラスチックから形成できる。筒状体20に用いる好ましい金属の一例としては、ひずみを伝えるために好適な硬度の高い(ひずみの伝搬が容易な)SUS(ステンレス鋼)が挙げられる。又、筒状体20に用いる好ましいプラスチックの一例としては、高耐熱性及び機械的強度に優れるエンジニアリングプラスチックスが挙げられる。
なお、エンジニアリング・プラスチックは、耐熱温度が100℃以上、強度が500kgf/cm未満、曲げ弾性率が24000kg/cm未満である。エンジニアリング・プラスチックとしては、例えば、ポリアセタール(POM)、ポリアミド(PA)、ポリカーボネート(PC)、変性ポリフェニレンエーテル(m-PPE)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ガラス繊維強化ポリエチレンテレフタレート(GF-PET)、超高分子量ポリエチレン(UHPE)、シンジオタクチックポリスチレン(SPS)等が挙げられる。
筒状体20の大きさは、特に制限はなく、搭載するひずみゲージ30の大きさや、モジュール10の用途等に応じて適宜設定できるが、例えば、筒状体20が円筒形である場合、外径2mm~4mm程度、高さ1mm~2mm程度とすることができる。
ひずみゲージ30は、筒状体20の底面21に搭載されているフィルムデバイスである。ここで、フィルムデバイスとは、可撓性を有する基材を備えたデバイスを指す。なお、本実施形態では、フィルムデバイスとしてひずみゲージ30を例示するが、モジュール10には、温度センサや衝撃センサ等のひずみゲージ以外のフィルムデバイスを搭載してもよい。
図4に示すように、ひずみゲージ30は、基材31と、抵抗体32と、配線33と、端子34及び35とを有している。ひずみゲージ30の大きさは、特に制限はないが、モジュール10の小型化の観点からは、ひずみゲージ30も小型であることが好ましく、例えば、基材31を一辺の長さが1.5mm~2mm程度の正方形状とすることができる。
基材31は、抵抗体32を形成するためのベース層となる部材であり、可撓性を有する。基材31の厚さは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できる。基材31は、例えば、PI(ポリイミド)樹脂等の絶縁樹脂フィルムから形成できる。
抵抗体32は、基材31の上面に例えばジグザグのパターンで形成された薄膜であり、ひずみを受けて抵抗変化を生じる受感部である。抵抗体32は、基材31の上面に直接形成されてもよいし、基材31の上面に他の層を介して形成されてもよい。抵抗体32の厚さは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できる。
抵抗体32は、例えば、Cr(クロム)を含む材料、Ni(ニッケル)を含む材料、又はCrとNiの両方を含む材料から形成できる。すなわち、抵抗体32は、CrとNiの少なくとも一方を含む材料から形成できる。Niを含む材料としては、例えば、Cu-Ni(銅ニッケル)が挙げられる。CrとNiの両方を含む材料としては、例えば、Ni-Cr(ニッケルクロム)が挙げられる。
抵抗体32として、Cr混相膜を用いてもよい。ここで、Cr混相膜とは、Cr、CrN、CrN等が混相した膜である。Cr混相膜は、酸化クロム等の不可避不純物を含んでもよい。抵抗体32としてCr混相膜を用いた場合、ひずみゲージ30を高感度化かつ小型化できる。
端子34及び35は、銅等からなる配線33を介して抵抗体32の両端部に接続されており、例えば平面視において矩形状に形成されている。端子34及び35は、ひずみにより生じる抵抗体32の抵抗値の変化を出力するための一対の電極である。端子34及び35は、例えば、銅等から形成される。銅等の表面に金膜等が積層されてもよい。
図1~図3の説明に戻り、レセプタクル40は、筒状体20の上側に配置されている。レセプタクル40は、所定のプラグと電気的に接続可能なコネクタであり、円盤状の基部41と、略円柱状の突起部42とを有する。突起部42は、基部41よりも小径かつ高背であり、基部41の一方側に基部41と同心的に設けられている。基部41の下面は、筒状体20の底面21と対向している。
レセプタクル40の大きさは、特に制限はなく、接続するプラグ等に応じて適宜設定できるが、例えば、筒状体20が円筒形である場合、最大径が筒状体20の外径よりも小径で、高さが0.5mm~1mm程度とすることができる。
レセプタクル40は、接点43及び44と、端子45及び46とを有する。レセプタクル40の接点43は、突起部42の中心に配置され、接点44は突起部42の側面に配置されている。レセプタクル40の端子45及び46は、基部41の下面に配置されている。接点43は端子45と電気的に接続され、接点44は端子46と電気的に接続されている。
レセプタクル40の接点43及び44は、レセプタクル40の接点43及び44に接続されるプラグと、繰り返し着脱可能である。なお、レセプタクル40の接点43及び44に繰り返し着脱可能なプラグは、例えば同軸ケーブルの端部であるが、これには限定されない。
レセプタクル40の端子45及び46は、例えば、ひずみゲージ30の端子34及び35と平面視で重複する位置に配置されている。レセプタクル40の端子45は、接続手段50を介して、ひずみゲージ30の端子34と電気的に接続されている。レセプタクル40の端子46は、接続手段51を介して、ひずみゲージ30の端子35と電気的に接続されている。接続手段50及び51は、長手方向が筒状体20の底面の法線方向を向くように配置されている。
接続手段50及び51は、例えば、金属製のピンであり、導電性接着剤により各々の端子と接合されている。接続手段50及び51の長さは、例えば、0.5mm~1mm程度とすることができる。接続手段50及び51の材料としては、例えば、銅等を使用できる。導電性接着剤としては、例えば、銀ペースト、はんだ等を使用できる。
接続手段50及び51は、ひずみゲージ30の端子34とレセプタクル40の端子45との間のインピーダンスと、ひずみゲージ30の端子35とレセプタクル40の端子46との間のインピーダンスが同等となるように、両者を電気的に接続している。
ひずみゲージ30の端子34及び35に接続される導体のインピーダンスが不均一であると、ひずみゲージ30の本来の出力特性を得ることができず、出力がばらつく原因となる。ひずみゲージ30の端子34及び35とレセプタクル40の端子45及び46との間のインピーダンスを整合することにより、ひずみゲージ30の本来の出力特性を得られる。
なお、筒状体20へのレセプタクル40の搭載を容易にするため、接続手段50及び51とは別に、電気的接続には寄与しない構造体(支柱)として機能するピンを配置してもよい。つまり、ひずみゲージ30の端子数が2端子であっても、レセプタクル40の搭載を容易にするため、3本以上のピンを配置してもよい。
モジュール10は、筒状体20の内部に、ひずみゲージ30を覆う樹脂60を有してもよい。筒状体20の内部にひずみゲージ30を覆う樹脂60を設けることで、ひずみゲージ30の耐環境性(湿度、ガス)を向上できる。但し、筒状体20の内部に樹脂60を完全に充填する必要はなく、筒状体20の内部の一部に空間が設けられてもよい。
樹脂60としては、ひずみが印加されていないときのひずみゲージ30の出力(オフセット)を抑えるために、フィラーを含まない材料か、或いは3μm以下の無機系又は有機系のフィラーを含む材料が好ましい。又、樹脂60としては、歪み伝搬に適した硬度がD90~A15で引っ張り強度が0.3MPa~10MPaの材料が好ましい。このような材料としては、例えば、熱硬化性又は光硬化性のシリコーン系樹脂やエポキシ系樹脂が挙げられる。
モジュール10は、レセプタクル40の端子45及び46の周辺を覆う蓋部材であるキャップ70を有してもよい。キャップ70は、例えば、リング状である。キャップ70は、筒状体20の端面と接して配置され、ひずみゲージ30、レセプタクル40の端子45及び46、並びに接続手段50及び51を開口部23内に封止する。キャップ70は、例えば、SUS等の金属から形成することが好ましいが、エンジニアリング・プラスチックを用いてもよい。キャップ70はシールドとして機能し、ひずみゲージ30の出力にノイズが乗ることを防止できる。但し、キャップ70は、必須ではなく、ひずみゲージ30が設置される環境に応じて必要な場合に設けられる。
(モジュールの製造方法)
図5は、本実施形態に係るモジュールの製造方法を例示する断面図である。モジュール10を製造するには、まず、図5(a)に示すように、筒状体20を準備する。前述のように、筒状体20は、底面21と内側面22と底面21に対向した開口部23とを有し、SUSやエンジニアリング・プラスチック等から形成される。
次に、図5(b)に示すように、端子34及び35を上側に向けて、ひずみゲージ30の基材31の下面を筒状体20の底面21に接着する。接着に用いる接着剤としては、例えば、エポキシ系樹脂やシリコーン系樹脂等を用いることができる。
次に、図5(c)に示すように、ひずみゲージ30の端子34及び35の上面に接続手段50及び51であるピンの下面をオーミック接続する。両者の接続には、例えば、導電性接着剤(例えば、銀ペースト)、はんだ等を使用できる。必要に応じ、接続手段50及び51とは別に、電気的接続には寄与しない構造体として機能するピンを配置してもよい。
次に、図6(a)に示すように、筒状体20の内部に、ひずみゲージ30を覆う樹脂60を設ける。そして、加熱(熱硬化性樹脂の場合)又は光照射(光硬化性樹脂の場合)により、樹脂60を硬化させる。樹脂60を設ける際、接続手段50及び51であるピンの上面が樹脂60で被覆されないように注意する。樹脂60を完全に充填せずに、筒状体20の内部に空間を設けてもよい。なお、図6(a)に示す工程は、必要に応じて実施される。
次に、図6(b)に示すように、接点43及び44、並びに接点43及び44点と接続された端子45及び46を有するレセプタクル40を準備し、筒状体20の上側に配置する。そして、接続手段50及び51であるピンの上面とレセプタクル40の端子45及び46の下面をオーミック接続する。両者の接続には、例えば、導電性接着剤(例えば、銀ペースト)、はんだ等を使用できる。これにより、ひずみゲージ30の端子34及び35と、レセプタクル40の端子45及び46が、接続手段50及び51により電気的に接続される。
次に、図6(c)に示すように、レセプタクル40の端子45及び46の周辺を覆うキャップ70を、筒状体20の端面と接して配置する。キャップ70は、例えば、筒状体20の端面に接着される。なお、図6(c)に示す工程は、必要に応じて実施される。以上の工程で、モジュール10が完成する。
このように、モジュール10では、ひずみゲージ30が筒状体20に収容されているため、測定対象物に実装する場合、測定対象物に凹部を設け、凹部に収まるように筒状体20を接着剤で固定すればよいので、測定対象物への取り付けが容易である。
例えば、ベアリングにひずみゲージを搭載し、ベアリングの故障を検出したり、ひずみゲージの出力の変化から寿命を予測したりして、故障する前にベアリングを交換する用途が考えられる。この場合、ひずみゲージ単体ではベアリングへの取り付けが困難である。しかし、例えば、筒状体20を円筒形としたモジュール10を用いれば、ベアリングの外輪の端面等にドリルを使用して円形の座ぐりを設け、座ぐりに収まるように円筒形の筒状体20を接着剤で固定すればよいので、測定対象物(ベアリング)への取り付けが容易である。
又、モジュール10では、ひずみゲージ30の出力は、レセプタクル40に接続するプラグを介して外部へ出力されるため、ひずみゲージ30の端子34及び35へ出力ケーブルを直接接続する必要がない。すなわち、モジュール10は、出力ケーブルとの着脱が容易である。
又、レセプタクル40に接続するプラグとして同軸ケーブルを用いることが可能であり、この場合、安定した高周波特性を容易に得ることができる。
以上、好ましい実施形態について詳説したが、上述した実施形態に制限されることはなく、特許請求の範囲に記載された範囲を逸脱することなく、上述した実施形態に種々の変形及び置換を加えることができる。
例えば、フィルムデバイスがひずみゲージである場合、ひずみゲージは2端子でなくてもよい。例えば、複数のひずみゲージがブリッジ接続されているものを使用してもよい。
10 モジュール、20 筒状体、21 底面、22 内側面、23 開口部、30 ひずみゲージ、31 基材、32 抵抗体、33 配線、34、35 端子、40 レセプタクル、41 基部、42 突起部、43、44 接点、45、46 端子、50、51 接続手段、60 樹脂、70 キャップ

Claims (10)

  1. 底面と前記底面に対向した開口部を有する筒状体と、
    前記底面に搭載され、上面に端子を有するフィルムデバイスと、
    前記筒状体の上側に配置され、接点と端子を有するレセプタクルと、
    前記フィルムデバイスの端子と、前記レセプタクルの端子とを接続する接続手段と、
    を有するモジュール。
  2. 前記筒状体の内部に、前記フィルムデバイスを覆う樹脂を有する請求項1に記載のモジュール。
  3. 前記フィルムデバイスの端子と前記レセプタクルの端子は複数あり、前記フィルムデバイスの各々の端子と前記レセプタクルの各々の端子との間のインピーダンスが同等である請求項1又は2に記載のモジュール。
  4. 前記レセプタクルの接点は、前記レセプタクルの接点に接続されるプラグと、繰り返し着脱可能である請求項1乃至3の何れか一項に記載のモジュール。
  5. 前記レセプタクルの端子の周辺を覆う蓋部材を有する請求項1乃至4の何れか一項に記載のモジュール。
  6. 前記筒状体は、金属からなる請求項1乃至5の何れか一項に記載のモジュール。
  7. 前記筒状体は、プラスチックからなる請求項1乃至5の何れか一項に記載のモジュール。
  8. 前記筒状体は、円筒形である請求項1乃至7の何れか一項に記載のモジュール。
  9. 底面と前記底面に対向した開口部を有する筒状体を準備する工程と、
    上面に端子を有するフィルムデバイスを前記底面に接着する工程と、
    接点と前記接点と接続された端子を有するレセプタクルを前記筒状体の上側に配置する工程と、
    前記フィルムデバイスの端子と、前記レセプタクルの端子とを接続手段により接続する工程と、
    を有するモジュールの製造方法。
  10. 前記筒状体の内部に、前記フィルムデバイスを覆う樹脂を設ける工程を有する請求項9記載のモジュールの製造方法。
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