JP2022036802A - Mounting head - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半導体チップを基板に実装する実装装置の実装ヘッドに関する。
なお、本明細書において「半導体チップ」とは、ダイシングされた半導体素子、パッケージ化された電子部品等を総称するものである。また、本明細書において「基板」とは、ダイシングされた半導体素子をボンディングする支持体、パッケージ化された電子部品を搭載するプリント基板等を総称するものである。
The present invention relates to a mounting head of a mounting device for mounting a semiconductor chip on a substrate.
In addition, in this specification, a "semiconductor chip" is a generic term for a diced semiconductor element, a packaged electronic component, and the like. Further, in the present specification, the "board" is a general term for a support for bonding a diced semiconductor element, a printed circuit board on which a packaged electronic component is mounted, and the like.
従来一般的に実装装置の実装ヘッドは、上下方向に移動可能なヘッド本体に、スピンドルがその上下方向軸であるZ軸周りに回転可能に取り付けられ、このスピンドルの下端部に半導体チップを真空吸着するためのコレットやノズルなどの吸着具が取り付けられる構成となっている。このような実装ヘッドにおいて高品質の実装を実現するには、半導体チップを真空吸着する吸着具の吸着面(下面)と基板面とを常に平行に保つ必要がある。そこで、吸着具の吸着面(下面)と基板面とが平行でない場合に、吸着具の吸着面(下面)を基板面と平行にするために、例えば特許文献1~3に開示されているような倣い機構を、スピンドルと吸着具との間に介在させることが考えられる。
Conventionally, in general, the mounting head of a mounting device has a spindle rotatably attached to a head body that can move in the vertical direction around the Z axis, which is the vertical axis thereof, and a semiconductor chip is vacuum-sucked to the lower end of the spindle. It is configured so that a suction tool such as a collet or a nozzle can be attached. In order to realize high-quality mounting in such a mounting head, it is necessary to keep the suction surface (lower surface) of the suction tool that vacuum sucks the semiconductor chip and the substrate surface always parallel. Therefore, in order to make the suction surface (lower surface) of the suction tool parallel to the substrate surface when the suction surface (lower surface) of the suction tool is not parallel to the substrate surface, for example, as disclosed in
しかし、半導体チップを真空吸着する吸着具を備える実装ヘッドにおいては、吸着具に対して正圧と負圧を選択的に供給する必要があるところ、そのための構成は特許文献1~3には開示されていない。単純には、正圧又は負圧を供給するためのエア給排ポートを吸着具に設ければよいが、吸着具はZ軸周りに回転することから、吸着具にエア給排ポートを設けると、そのエア給排ポートに接続されるエア配管が吸着具の回転に伴い引きずられて連れ回りするなどして、吸着具の回転動作に支障を来すことになる。また、吸着具は倣い機構の下部ブロック(搖動体)の下面側に取り付けられることになるが、吸着具にエア給排ポートを設けた場合、そのエア給排ポートに接続されるエア配管の分も含めて吸着具の重量や配管抵抗が大きくなり、下部ブロック(搖動体)の搖動による倣い動作に支障を来すことになる。さらに、エア給排ポートを倣い機構に設けた場合も同様に、倣い機構の回転動作や倣い動作に支障を来すことになる。
However, in a mounting head provided with a suction tool that vacuum sucks a semiconductor chip, it is necessary to selectively supply positive pressure and negative pressure to the suction tool, and the configurations for that purpose are disclosed in
本発明が解決しようとする課題は、半導体チップを真空吸着する吸着具と、この吸着具の吸着面(下面)を基板面と平行にするための倣い機構とを備える実装ヘッドにおいて、吸着具の回転動作や倣い機構の倣い動作に支障を来すことなく、吸着具に対して正圧と負圧を選択的に供給できるようにすることにある。 The problem to be solved by the present invention is in a mounting head provided with a suction tool for vacuum-sucking a semiconductor chip and a copying mechanism for making the suction surface (lower surface) of the suction tool parallel to the substrate surface. The purpose is to be able to selectively supply positive pressure and negative pressure to the suction tool without disturbing the rotation operation and the copying operation of the copying mechanism.
本発明の一観点によれば、次の1~5の実装ヘッドが提供される。
1.
上下方向に移動可能なヘッド本体に、スピンドルがその上下方向軸であるZ軸周りに回転可能に取り付けられ、前記スピンドルの下端部に、倣い機構を介して、半導体チップを真空吸着する吸着具が取り付けられている実装ヘッドであって、
前記倣い機構をZ軸周りに回転可能に保持するハウジングを備えると共に、前記ハウジングと前記ヘッド本体との間に介在し、前記ヘッド本体に対する前記ハウジングのZ軸周りの回転を規制する回り止め機構を備え、
前記ハウジングには正圧又は負圧を供給するためのエア給排ポートが設けられており、
前記エア給排ポートは、エア通路を通じて前記吸着具に連通している、実装ヘッド。
2.
前記回り止め機構は、前記ヘッド本体に対する前記ハウジングのZ軸方向の移動を許容する、前記1に記載の実装ヘッド。
3.
前記倣い機構は、下面部に凹状半球面及び凸状半球面のいずれか一方である第1倣い面を有する上部ブロックと、上面部に凹状半球面及び凸状半球面のいずれか他方である第2倣い面を有する下部ブロックとを備え、前記第1倣い面に対して前記第2倣い面が倣うことにより、前記上部ブロックに対して前記下部ブロックが搖動可能となっており、前記下部ブロックの下面側に前記吸着具が取り付けられる、前記1又は2に記載の実装ヘッド。
4.
前記上部ブロックは、前記エア通路から分岐して前記第1倣い面に通じる分岐エア通路を有し、前記エア給排ポートに供給される正圧が、前記エア通路及び前記分岐エア通路を通じて前記第1倣い面から前記第2倣い面に向けて供給される、前記3に記載の実装ヘッド。
5.
前記倣い機構は、ピストンシリンダと、前記ピストンシリンダ内にZ軸方向に移動可能に配置されたピストンロッドとをさらに備え、
前記ピストンシリンダは、前記ハウジングに対してZ軸周りに回転可能かつZ軸方向に移動不能に装着され、前記ピストンシリンダの上端部には前記スピンドルの下端部が固定され、前記ピストンシリンダの下端部には前記上部ブロックが固定され、
前記ピストンロッドの下端部には前記下部ブロックが搖動可能に支持され、
前記ハウジングには正圧を供給するためのエア供給ポートが設けられており、前記エア供給ポートに供給される正圧が前記ピストンシリンダ内に供給され、この正圧によって前記ピストンロッドがZ軸方向上方に付勢される、前記4に記載の実装ヘッド。
According to one aspect of the present invention, the following
1. 1.
A spindle is rotatably attached to the head body that can move in the vertical direction around the Z axis, which is the vertical axis thereof, and a suction tool that vacuum sucks the semiconductor chip via a copying mechanism is attached to the lower end of the spindle. It is a mounted mounting head,
A housing that rotatably holds the copying mechanism around the Z axis is provided, and a detent mechanism that is interposed between the housing and the head body and regulates the rotation of the housing with respect to the head body around the Z axis is provided. Prepare,
The housing is provided with an air supply / exhaust port for supplying positive pressure or negative pressure.
The air supply / discharge port is a mounting head that communicates with the suction tool through an air passage.
2. 2.
The mounting head according to 1 above, wherein the detent mechanism allows the housing to move in the Z-axis direction with respect to the head body.
3. 3.
The copying mechanism has an upper block having a first copying surface having either a concave hemisphere or a convex hemisphere on the lower surface portion, and a first one having either a concave hemisphere or a convex hemisphere on the upper surface portion. A lower block having two copying surfaces is provided, and the second copying surface follows the first copying surface, so that the lower block can swing with respect to the upper block, and the lower block can be swung. The mounting head according to 1 or 2, wherein the suction tool is attached to the lower surface side.
4.
The upper block has a branch air passage that branches from the air passage and leads to the first copying surface, and the positive pressure supplied to the air supply / discharge port is the first through the air passage and the branch air passage. 3. The mounting head according to 3 above, which is supplied from the 1st copying surface toward the 2nd copying surface.
5.
The copying mechanism further includes a piston cylinder and a piston rod movably arranged in the piston cylinder in the Z-axis direction.
The piston cylinder is mounted with respect to the housing so as to be rotatable around the Z axis and immovable in the Z axis direction, the lower end portion of the spindle is fixed to the upper end portion of the piston cylinder, and the lower end portion of the piston cylinder. The upper block is fixed to the
The lower block is oscillatingly supported at the lower end of the piston rod.
The housing is provided with an air supply port for supplying positive pressure, and the positive pressure supplied to the air supply port is supplied into the piston cylinder, and the positive pressure causes the piston rod to move in the Z-axis direction. The mounting head according to 4 above, which is urged upward.
本発明によれば、吸着具の回転動作や倣い機構の倣い動作に支障を来すことなく、吸着具に対して正圧と負圧を選択的に供給できる。 According to the present invention, positive pressure and negative pressure can be selectively supplied to the adsorbent without disturbing the rotational operation of the adsorbent and the imitation operation of the copying mechanism.
図1に、本発明の一実施形態である実装ヘッドの全体構成を概念的に示している。
同図に示す実装ヘッド1は上下方向に移動可能なヘッド本体10を備えている。ヘッド本体10は、モータ20によってボールねじ機構21を回転駆動させることにより上下方向に移動する。そして、このヘッド本体10に、スピンドル30がその上下方向軸であるZ軸周りに回転可能に取り付けられている。スピンドル30は、モータ40によってベルト機構41を回転駆動させることによりZ軸周りに回転する。
FIG. 1 conceptually shows the overall configuration of a mounting head according to an embodiment of the present invention.
The
スピンドル30の下端部には、倣い機構50を介して、半導体チップを真空吸着する吸着具としてコレット60が取り付けられている。また、スピンドル30の上端は、エアシリンダ機構70のシリンダロッド71に接続されている。エアシリンダ機構70には所定圧のエアが充填されており、空気ばねとしての機能を有する。なお、詳細は後述するが、倣い機構50による倣い動作の際、モータ20の駆動によりヘッド本体10と一緒にスピンドル30を下降させてコレット60の下面を基板面2にタッチさせた後さらに所定量(0.5mm程度)下降させる。このとき、スピンドル30は、エアシリンダ機構70の空気ばね機能によりヘッド本体10に対して相対的に上方向に移動する。また、倣い動作完了後、ヘッド本体10と一緒にスピンドル30を上昇させると、スピンドル30はエアシリンダ機構70の空気ばね機能によりヘッド本体10に対して相対的に下方向に移動して初期位置(原点位置)に復帰する。
A
このように、本実施形態においてスピンドル30は、ヘッド本体10に対してZ軸周りに回転可能かつZ軸方向に移動可能である。なお、本実施形態においてスピンドル30は、回転あるいは移動の際、スピンドルガイド31によってガイドされることで、円滑に回転あるいは移動することができる。
As described above, in the present embodiment, the
倣い機構50は、ハウジング80に、Z軸周りに回転可能に保持されている。そして、ヘッド本体10とハウジング80との間には回り止め機構90が介在している。
The copying
次に、倣い機構50の詳細について説明する。
図2は倣い機構50をハウジング80に保持した状態の斜視図、図3はその分解斜視図、図4は図2のA-A断面図である。なお、図4にはコレット60を追加で示している。
倣い機構50は、ピストンシリンダ51と、ピストンロッド52と、上部ブロック53と、下部ブロック54とを有する。
Next, the details of the copying
FIG. 2 is a perspective view of the copying
The copying
ピストンシリンダ51は本体部51aと蓋部51bとを組み合わせてなり、上下2箇所に配置されるベアリング55a,55bを介してハウジング80に対してZ軸周りに回転可能に装着されている。ピストンシリンダ51の上端部である蓋部51bには、スピンドル30の下端部が固定されている。このため、スピンドル30がZ軸周りに回転すると、ピストンシリンダ51もZ軸周りに回転する。なお、ピストンシリンダ51はハウジング80に対してZ軸方向には移動不能に装着されている。
ピストンロッド52は、上部ロッド52aと下部ロッド52bとを一体化してなり、ピストンシリンダ51内にZ軸方向に移動可能に配置されている。
ハウジング80には正圧(加圧エア)を供給するためのエア供給ポート81が設けられている。そして、このエア供給ポート81に供給される正圧(例えば0.5MPa程度)が正圧通路82を通じてピストンシリンダ51内に供給され、この正圧によってピストンロッド52がZ軸方向上方に付勢される。なお、この正圧によるZ軸方向上方への付勢力を十分に確保するため、ピストンシリンダ51及びピストンロッド52の上端部はフランジ状に拡大されている。
The
The
The
上部ブロック53は、その下面部に凹状半球面をなす第1倣い面53aを有しており、ピストンシリンダ51の本体部51aの下端部に固定されている。
下部ブロック54は、その上面部に凸状半球面をなす第2倣い面54aを有しており、ピストンロッド52の下部ロッド52bの下端部に形成されたフランジ状の支持部52b-1に搖動可能に支持されている。そして、上部ブロック53の第1倣い面53aに対して下部ブロック54の第2倣い面54aが倣うことにより、上部ブロック53に対して下部ブロック54が搖動可能となっている。
コレット60は、図4に示すように、下部ブロック54の下面側にコレットホルダ61を介して取り付けられている。
The
The
As shown in FIG. 4, the
ハウジング80には正圧又は負圧を供給するためのエア給排ポート83が設けられている。このエア給排ポート83は図4に示すように、エア通路100を通じてコレット60の吸着孔60aに連通している。したがって、エア給排ポート83から負圧(例えば-0.1MPa程度)を供給するとエア通路100を通じてコレット60の吸着孔60aに負圧が供給され、これによりコレット60に半導体チップが真空吸着される。その後、エア給排ポート83から正圧(例えば0.2MPa程度)を供給するとエア通路100を通じてコレット60の吸着孔60aに正圧が供給され、これによりコレット60から半導体チップが離脱して基板に実装される。
なお、この一連の実装動作の際には、常にエア供給ポート81から正圧が正圧通路82を通じてピストンシリンダ51内に供給され、この正圧によってピストンロッド52がZ軸方向上方に付勢されることにより、下部ブロック54が上部ブロック53に対して圧接されて搖動不能なロック状態となっている。
The
During this series of mounting operations, positive pressure is always supplied from the
本実施形態においてエア通路100は、ピストンロッド52(下部ロッド52a)の上下方向中心軸(Z軸)上を通ってコレット60の吸着孔60aに連通している。そして、本実施形態において上部ブロック53は、このエア通路100から分岐して第1倣い面53aに通じる分岐エア通路101を有する。詳細は後述するが、倣い機構50の倣い動作の際に、エア給排ポート83から正圧を供給するとエア通路100及び分岐エア通路101を通じて第1倣い面53aから第2倣い面54aに向けて放射状に正圧が噴出される。これにより、上述のロック状態が解除されて下部ブロック54が上部ブロック53に対して搖動可能なロック解除状態となる。
In the present embodiment, the
次に、回り止め機構90について説明する。
図5に示すように、回り止め機構90は、ヘッド本体10とハウジング80との間に介在し、ヘッド本体10に対するハウジング80のZ軸周りの回転を規制する。本実施形態において回り止め機構90は回り止めプレート91を含む。回り止めプレート91の一端はヘッド本体10に固定されている。一方、回り止めプレート91の他端には、上下方向に長い長孔(貫通孔)91aが形成されており、この長孔91aに、ハウジング80に設けたベアリング84が、Z軸方向に移動可能に嵌まり込んでいる。これにより、ヘッド本体10に対するハウジング80のZ軸周りの回転は規制され、ヘッド本体10に対するハウジング80のZ軸方向の移動は許容される。
Next, the
As shown in FIG. 5, the
次に、倣い機構50による倣い動作について説明する。本実施形態では倣い動作の準備として、コレット60に通じるエア通路100の下端部又は吸着孔60aを閉塞する。例えばエア通路100の下端部を閉塞するためには、コレット60をダミーコレット(図示省略)に交換することができる。ダミーコレットとはコレット60と同じ外形形状を有し、エア通路100の下端部を閉塞するものである。なお、このようなダミーコレットを使用せずに、コレット60を使用したままで何らかの手段でエア通路100の下端部又は吸着孔60aを閉塞するようにしてもよい。そのため以下の説明では、コレット60を使用したままとして説明する。
Next, the copying operation by the copying
倣い動作の実施前、コレット60の下面の高さ位置は図1に示すようにZ0位置(ホーム位置)にある。倣い動作に際しては、コレット60の下面の高さ位置がZ1位置になるまで、ヘッド本体10を高速(例えば600mm/s程度)で下降させる。コレット60の下面の高さ位置がZ1位置になったら、エア供給ポート81からの正圧の供給を停止すると共に正圧通路82を大気開放状態にする。これによりピストンロッド52がZ軸方向上方に付勢されなくなり、下部ブロック54が上部ブロック53に対して圧接されなくなる。その後、エア給排ポート83から正圧を一時的に(例えば0.5秒間程度)供給する。この正圧は、正圧エア通路100及び分岐エア通路101を通じて第1倣い面53aから第2倣い面54aに向けて下方に放射状に噴出される。これにより、下部ブロック54が上部ブロック53に対して搖動可能なロック解除状態となる。
Before the copying operation is performed, the height position of the lower surface of the
続いて、コレット60の下面が基板面2にタッチするまで、ヘッド本体10を低速(例えば2mm/s程度)で下降させる。コレット60の下面が基板面2にタッチしたか否かは周知のタッチセンサで検知することができる。コレット60の下面を基板面2にタッチタッチさせた後、さらにヘッド本体10を所定量(0.5mm程度)下降させて、コレット60を基板面2に所定時間(例えば2秒間程度)押し込む。これにより、コレット60を保持している倣い機構50の下部ブロック54が基板面2に倣うように搖動し、コレット60の下面(吸着面)と基板面2とが平行になる。
Subsequently, the
その後、エア給排ポート83から負圧を一時的に(例えば2秒間程度)供給する。この負圧により、倣い機構50の下部ブロック54が上部ブロック53に引き付けられて仮ロック状態となる。さらにその後、エア供給ポート81から正圧を供給する。この正圧によってピストンロッド52がZ軸方向上方に付勢され、下部ブロック54が上部ブロック53に対して圧接されて搖動不能なロック状態となる。最後に、コレット60の下面の高さ位置がZ0位置になるまで、ヘッド本体10を上昇させる。
After that, the negative pressure is temporarily supplied (for example, about 2 seconds) from the air supply /
以上のとおり本実施形態では、倣い機構50をZ軸周りに回転可能に保持するハウジング80に、エア供給ポート81及びエア給排ポート83を設けている。そしてハウジング80は、回り止め機構90によってヘッド本体10に対するZ軸周りの回転が規制されている。したがって、スピンドル30の回転に伴い倣い機構50及びコレット60がZ軸周りに回転してもハウジング80は回転しないから、エア供給ポート81及びエア給排ポート83に接続されるエア配管81a,83aが連れ回りすることもない。このように本実施形態によれば、コレット60の回転動作や倣い機構50の倣い動作に支障を来すことなく、コレットに対して正圧と負圧を選択的に供給できる。また、本実施形態では倣い機構50やコレット60にエア供給ポート81やエア給排ポート83を設けていないから、これらを小型化・軽量化することができ、コレット60の回転動作や倣い機構50の倣い動作をスムーズに行うことができる。
As described above, in the present embodiment, the
本実施形態では 上部ブロック53下面部の第1倣い面53aを凹状半球面、下部ブロック54上面部の第2倣い面54aを凸状半球面としたが、これとは逆に上部ブロック53下面部の第1倣い面53aを凸状半球面、下部ブロック54上面部の第2倣い面54aを凹状半球面とすることもできる。また、吸着具としてはコレット60に替えて吸着ノズルを使用することもできる。
In the present embodiment, the first copying
1 実装ヘッド
2 基板面
10 ヘッド本体
20 モータ
21 ボールねじ機構
30 スピンドル
31 スピンドルガイド
40 モータ
41 ベルト機構
50 倣い機構
51 ピストンシリンダ
51a 本体部
51b 蓋部
52 ピストンロッド
52a 上部ロッド
52b 下部ロッド
52b-1 支持部
53 上部ブロック
53a 第1倣い面
54 下部ブロック
54a 第2倣い面
55a,55b ベアリング
60 コレット(吸着具)
60a 吸着孔
61 コレットホルダ
70 エアシリンダ機構
71 シリンダロッド
80 ハウジング
81 エア供給ポート
81a エア配管
82 正圧経路
83 エア給排ポート
83a エア配管
90 回り止め機構
91 回り止めプレート
91a 長孔(貫通孔)
100 エア通路
101 分岐エア通路
1 Mounting
100
Claims (5)
前記倣い機構をZ軸周りに回転可能に保持するハウジングを備えると共に、前記ハウジングと前記ヘッド本体との間に介在し、前記ヘッド本体に対する前記ハウジングのZ軸周りの回転を規制する回り止め機構を備え、
前記ハウジングには正圧又は負圧を供給するためのエア給排ポートが設けられており、
前記エア給排ポートは、エア通路を通じて前記吸着具に連通している、実装ヘッド。 A spindle is rotatably attached to the head body that can move in the vertical direction around the Z axis, which is the vertical axis thereof, and a suction tool that vacuum sucks the semiconductor chip via a copying mechanism is attached to the lower end of the spindle. It is a mounted mounting head,
A housing that rotatably holds the copying mechanism around the Z axis is provided, and a detent mechanism that is interposed between the housing and the head body and regulates the rotation of the housing with respect to the head body around the Z axis is provided. Prepare,
The housing is provided with an air supply / exhaust port for supplying positive pressure or negative pressure.
The air supply / discharge port is a mounting head that communicates with the suction tool through an air passage.
前記ピストンシリンダは、前記ハウジングに対してZ軸周りに回転可能かつZ軸方向に移動不能に装着され、前記ピストンシリンダの上端部には前記スピンドルの下端部が固定され、前記ピストンシリンダの下端部には前記上部ブロックが固定され、
前記ピストンロッドの下端部には前記下部ブロックが搖動可能に支持され、
前記ハウジングには正圧を供給するためのエア供給ポートが設けられており、前記エア供給ポートに供給される正圧が前記ピストンシリンダ内に供給され、この正圧によって前記ピストンロッドがZ軸方向上方に付勢される、請求項4に記載の実装ヘッド。 The copying mechanism further includes a piston cylinder and a piston rod movably arranged in the piston cylinder in the Z-axis direction.
The piston cylinder is mounted with respect to the housing so as to be rotatable around the Z axis and immovable in the Z axis direction, the lower end portion of the spindle is fixed to the upper end portion of the piston cylinder, and the lower end portion of the piston cylinder. The upper block is fixed to the
The lower block is oscillatingly supported at the lower end of the piston rod.
The housing is provided with an air supply port for supplying positive pressure, and the positive pressure supplied to the air supply port is supplied into the piston cylinder, and the positive pressure causes the piston rod to move in the Z-axis direction. The mounting head according to claim 4, which is urged upward.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020141183A JP2022036802A (en) | 2020-08-24 | 2020-08-24 | Mounting head |
KR1020210029586A KR102511021B1 (en) | 2020-08-24 | 2021-03-05 | Mounting head |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020141183A JP2022036802A (en) | 2020-08-24 | 2020-08-24 | Mounting head |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022036802A true JP2022036802A (en) | 2022-03-08 |
Family
ID=80493833
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020141183A Pending JP2022036802A (en) | 2020-08-24 | 2020-08-24 | Mounting head |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2022036802A (en) |
KR (1) | KR102511021B1 (en) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH053223A (en) * | 1991-06-24 | 1993-01-08 | Toshiba Corp | Paralleling mechanism and method thereof, and inner lead bonding device and method thereof using same |
JP4028348B2 (en) * | 2002-10-23 | 2007-12-26 | 富士フイルム株式会社 | Solid-state imaging device manufacturing method and manufacturing apparatus |
JP4525439B2 (en) * | 2005-04-19 | 2010-08-18 | パナソニック株式会社 | Bonding apparatus, bonding head, and electronic component bonding method |
JP5730664B2 (en) * | 2011-05-13 | 2015-06-10 | 富士機械製造株式会社 | Electronic component mounting machine |
KR102425309B1 (en) * | 2016-10-12 | 2022-07-26 | 삼성전자주식회사 | Apparatus for correcting a paralleism between a bonding head and a stage and chip bondder including the same |
-
2020
- 2020-08-24 JP JP2020141183A patent/JP2022036802A/en active Pending
-
2021
- 2021-03-05 KR KR1020210029586A patent/KR102511021B1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102511021B1 (en) | 2023-03-16 |
KR20220025644A (en) | 2022-03-03 |
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