JP2022028587A - 金属部材及び金属部材の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、実施の形態1に係る金属部材1の概略断面図である。金属部材1は、例えば、半導体チップが搭載されるリードフレームとして用いられ、金属部材1と封止樹脂(他部材)とによって半導体チップを封止する。そのため、金属部材1には、封止樹脂との間の密着性を向上させることが求められている。
続いて、金属部材1の製造方法について説明する。
図2は、金属部材1の製造方法を示すフローチャートである。また、図3~図8は、金属部材1の製造方法を説明するための概略断面図である。なお、図3~図8は、それぞれ、図2のステップS101~S106の処理に対応している。
続いて、図10~図12を用いて、実際に製造された金属部材1の観察結果について説明する。図10は、金属部材1に設けられた金属薄膜の表面を拡大したSEM(Scanning Electron Microscope)画像である。図11は、金属部材1に設けられた金属薄膜の表面をさらに拡大したSEM画像である。図12は、金属部材1に設けられた金属薄膜の断面を拡大したSEM画像である。
次に、図13~図15を用いて、実際に製造された金属部材1の観察結果の他の例について説明する。図13は、金属部材1に設けられた金属薄膜の表面を拡大したSEM画像である。図14は、金属部材1に設けられた金属薄膜の表面をさらに拡大したSEM画像である。図15は、金属部材1に設けられた金属薄膜の断面を拡大したSEM画像である。
次に、図19~図21を用いて、実際に製造された金属部材1の観察結果の他の例について説明する。図19は、金属部材1に設けられた金属薄膜の表面を拡大したSEM画像である。図20は、金属部材1に設けられた金属薄膜の表面をさらに拡大したSEM画像である。図21は、金属部材1に設けられた金属薄膜の断面を拡大したSEM画像である。
次に、図22~図24を用いて、実際に製造された金属部材1の観察結果の他の例について説明する。図22は、金属部材1に設けられた金属薄膜の表面を拡大したSEM画像である。図23は、金属部材1に設けられた金属薄膜の表面をさらに拡大したSEM画像である。図24は、金属部材1に設けられた金属薄膜の断面を拡大したSEM画像である。
次に、図25~図27を用いて、実際に製造された金属部材1の観察結果の他の例について説明する。図25は、金属部材1に設けられた金属薄膜の表面を拡大したSEM画像である。図26は、金属部材1に設けられた金属薄膜の表面をさらに拡大したSEM画像である。図27は、金属部材1に設けられた金属薄膜の断面を拡大したSEM画像である。
以下、実施の形態2に係る金属部材2について説明する。本実施の形態に係る金属部材2は、金属部材1の表面(より具体的には金属薄膜12の表面12a)に形成された凹凸部13の凹凸形状を部分的に緻密化した部材である。
続いて、金属部材2の製造方法について説明する。
図28は、金属部材2の製造方法を示すフローチャートである。また、図29~図32は、金属部材2の製造方法を説明するための概略断面図である。なお、図29~図32は、それぞれ、図28のステップS201~S204の処理に対応している。
続いて、図33~図35を用いて、実際に製造された金属部材2のうち緻密化された部分の観察結果について説明する。
1_pre 金属部材
2 金属部材
11 基材
11a 基材の表面
12 金属薄膜
12a 金属薄膜の表面
12b 溶融金属
12c 金属蒸気
12d 金属粒子
13 凹凸部
Claims (10)
- 少なくとも表面がCu、Al、Sn、Ti及びFeのうち少なくとも何れかを主成分とする材料によって構成された基材と、前記基材の表面に形成された凹凸形状を有する凹凸部と、を備えた金属部材の製造方法であって、
前記凹凸部を形成するステップでは、
前記基材の表面のうち第1領域にパルス発振のレーザビームを照射して、当該第1領域における前記基材の表面を溶融させるステップと、
前記第1領域における前記基材の表面が溶融することによって所定の雰囲気中に放出された金属の蒸気又はプラズマから、金属の粒子を生成し、前記第1領域に堆積させるステップと、
前記基材の表面のうち前記第1領域に隣接する第2領域に前記レーザビームを照射して、当該第2領域における前記基材の表面を溶融させるステップと、
前記第2領域における前記基材の表面が溶融することによって前記所定の雰囲気中に放出された金属の蒸気又はプラズマから、金属の粒子を生成し、前記第2領域及びそれに隣接する前記第1領域のそれぞれに堆積させるステップと、
を備えた、金属部材の製造方法。 - 前記基材は、表面にCu、Al、Sn、Ti及びFeのうち少なくとも何れかを主成分とする材料によって構成された金属薄膜を有し、
前記凹凸部は、前記金属薄膜の表面に形成される、
請求項1に記載の金属部材の製造方法。 - 前記基材は、Alを主成分とする材料によって構成され、
前記レーザビームの照射条件は、ピーク出力が3kW以上、パルス幅が1~1000ns、第1領域及び第2領域のそれぞれの直径であるレーザスポット径が200μm以下、第1領域及び第2領域の間隔であるスポット間隔が前記レーザスポット径以下である、
請求項1又は2に記載の金属部材の製造方法。 - 前記基材は、Cuを主成分とする材料によって構成され、
前記レーザビームの照射条件は、ピーク出力が6kW以上、パルス幅が1~1000ns、第1領域及び第2領域のそれぞれの直径であるレーザスポット径が200μm以下、第1領域及び第2領域の間隔であるスポット間隔が前記レーザスポット径以下である、
請求項1又は2に記載の金属部材の製造方法。 - 前記基材は、Snを主成分とする材料によって構成され、
前記レーザビームの照射条件は、ピーク出力が1kW以上、パルス幅が1~1000ns、第1領域及び第2領域のそれぞれの直径であるレーザスポット径が250μm以下、第1領域及び第2領域の間隔であるスポット間隔が前記レーザスポット径以下である、
請求項1又は2に記載の金属部材の製造方法。 - 前記基材は、Tiを主成分とする材料によって構成され、
前記レーザビームの照射条件は、ピーク出力が1kW以上、パルス幅が1~1000ns、第1領域及び第2領域のそれぞれの直径であるレーザスポット径が250μm以下、第1領域及び第2領域の間隔であるスポット間隔が前記レーザスポット径以下である、
請求項1又は2に記載の金属部材の製造方法。 - 前記基材は、Feを主成分とする材料によって構成され、
前記レーザビームの照射条件は、ピーク出力が1kW以上、パルス幅が1~1000ns、第1領域及び第2領域のそれぞれの直径であるレーザスポット径が250μm以下、第1領域及び第2領域の間隔であるスポット間隔が前記レーザスポット径以下である、
請求項1又は2に記載の金属部材の製造方法。 - 前記凹凸部を形成するステップの後に、前記凹凸部の凹凸形状を部分的に緻密化するステップをさらに備え、
前記凹凸部の凹凸形状を部分的に緻密化するステップでは、
前記基材の表面に形成された前記凹凸部の所定領域に、前記凹凸部を形成するステップにおいて用いられたレーザビームよりも微弱なレーザビームを照射して、前記所定領域において前記凹凸部の凹凸形状を形成する堆積物を溶融させるステップを有する、
請求項1~7の何れか一項に記載の金属部材の製造方法。 - 少なくとも表面がCu、Al、Sn、Ti及びFeのうち少なくとも何れかを主成分とする材料によって構成された基材と、
前記基材の表面に形成された凹凸形状を有する凹凸部と、
を備え、
前記凹凸部は、前記基材の表面に用いられている材料を主成分とする、堆積された金属の粒子によって構成されている、
金属部材。 - 前記基材は、表面にCu、Al、Sn、Ti及びFeのうち少なくとも何れかを主成分とする材料によって構成された金属薄膜を有し、
前記凹凸部は、前記金属薄膜の表面に形成されている、
請求項9に記載の金属部材。
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