JP2022018818A - 保護キャップ及び電子装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】高い気密性が維持できる保護キャップ及び電子装置を提供する。【解決手段】保護キャップ4は、枠部5と、枠部5の一端開口を覆う蓋部6と、枠部5と蓋部6とを接着する接着層7とを備えている。枠部5及び蓋部6のそれぞれは、石英ガラスからなり、接着層7は、30~380℃の温度範囲における熱膨張係数が-25×10-7~23×10-7/℃である。【選択図】図1

Description

本発明は、保護キャップ及び電子装置に関する。
LEDなどの電子部品を備えた電子装置は、長寿命や省エネルギーなどの理由から、照明や通信などの種々の分野で利用されるに至っている。
この種の電子装置では、電子部品を保護するために、電子部品が搭載された基材に、電子部品が内部に収容されるように保護キャップを被せる場合がある。
例えば特許文献1に開示されているように、保護キャップは、電子部品の周囲を取り囲む枠部(第2の部材)と、枠部の一端開口を覆う蓋部(カバー部材)とを備えている。
国際公開第2015/190242号
ところで、石英ガラスは、紫外域の波長の光を吸収しにくい特性を有する。このため、電子部品が紫外線LEDの場合などには、保護キャップの紫外線透過性を向上させる観点から、枠部及び蓋部のそれぞれを石英ガラスから構成することが考えられる。
しかしながら、石英ガラスから構成される枠部及び蓋部を、一般的なガラス接着材を用いて接合しようとすると、各材料間における熱膨張係数の整合が問題となる。つまり、石英ガラスの熱膨張係数は一般的なガラス接着材の熱膨張係数に比べて非常に低く、枠部及び接着材の熱膨張係数差が大きくなるとともに、蓋部及び接着材の熱膨張係数差が大きくなる。この結果、一般的なガラス接着材を用いて接合すると、接合部又はその近傍に残留応力が発生して保護キャップに破損(例えばクラックなどの割れ)が生じやすくなる。このように保護キャップが破損すると、電子部品の収容空間の気密性が低下し、電子部品が劣化するおそれがある。
本発明は、高い気密性が維持できる保護キャップ及び電子装置を提供することを課題とする。
上記の課題を解決するために創案された本発明に係る保護キャップは、枠部と、枠部の一端開口を覆う蓋部と、枠部と蓋部とを接着する接着層とを備え、枠部及び蓋部のそれぞれが、石英ガラスからなり、接着層の30~380℃の温度範囲における熱膨張係数が、-25×10-7~23×10-7/℃であることを特徴とする。このようにすれば、石英ガラスから構成される枠部と、接着層との熱膨張係数差を小さくできるとともに、石英ガラスから構成される蓋部と、接着層との熱膨張係数差を小さくできる。結果として、接着層又はその近傍に生じる残留応力が小さくなり、保護キャップの破損を抑制できる。ここで、「石英ガラス」とは、合成石英、溶融石英等を含み、SiOを90質量%以上含む非結晶体を指す。「30~380℃の温度範囲における熱膨張係数」は、焼結体を所定形状に加工したものを測定試料とし、市販の熱機械分析装置(例えば、リガク製Thermo Plus TMA8310)を用いて測定可能である。
上記の構成において、接着層は、ガラスを含むことが好ましい。このようにすれば、接着層の気密性や耐熱性を高めることができる。なお、ここでの「ガラス」には、非晶質ガラスだけでなく、結晶化ガラスも含まれるものとする。
上記の構成において、接着層が、結晶化ガラスを含むことが好ましい。このようにすれば、接着層の低膨張化が容易になり、枠部及び蓋部の熱膨張係数と整合させやすくなる。
上記の構成において、結晶化ガラスが、主結晶として、β-石英固溶体を含むことが好ましい。このようにすれば、β-石英固溶体は負膨張特性を有するため、接着層の低膨張化が容易になる。ここで、主結晶とは、最も析出量が多い結晶を意味する。
上記の構成において、接着層が、組成として、モル%で、SiO 48~75%、Al 5~25%、LiO 5~30%、B 10~23%(ただし10%を含まない)、ZnO 0~2.5%(ただし2.5%を含まない)を含有するガラスを含むことが好ましい。このようにすれば、接合時の熱処理によりβ-石英固溶体を析出させやすくなる。
上記の課題を解決するために創案された本発明に係る電子装置は、電子部品と、前記電子部品が搭載された基材と、前記電子部品を内部に収容するように、前記基材に接合された上記の構成の保護キャップとを備えていることを特徴とする。このようにすれば、既に説明した保護キャップの対応する構成と同様の作用効果を享受できる。ここで、「接合」には、接着と溶着とが含まれる。
上記の構成において、電子部品が、紫外線LEDであることが好ましい。このようにすれば、高い紫外線の取出効率を実現できる電子装置(発光装置)を提供できる。
本発明によれば、高い気密性が維持できる保護キャップ及び電子装置を提供できる。
第一実施形態に係る電子装置を示す断面図である。 図1のA-A断面図である。 第一実施形態に係る電子装置の製造工程を示す断面図である。 第一実施形態に係る電子装置の製造工程を示す断面図である。 第二実施形態に係る電子装置を示す断面図である。 図5のB-B断面図である。 第二実施形態に係る電子装置の製造工程を示す断面図である。 第二実施形態に係る電子装置の製造工程を示す断面図である。 第二実施形態に係る電子装置の製造工程を示す断面図である。 第二実施形態に係る電子装置の製造工程を示す平面図である。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。なお、各実施形態において対応する構成要素には同一符号を付すことにより、重複する説明を省略する場合がある。各実施形態において構成の一部分のみを説明している場合、当該構成の他の部分については、先行して説明した他の実施形態の構成を適用することができる。また、各実施形態の説明において明示している構成の組み合わせばかりではなく、特に組み合わせに支障が生じなければ、明示していなくても複数の実施形態の構成同士を部分的に組み合わせることができる。
(第一実施形態)
図1及び図2は、本発明の第一実施形態に係る電子装置1を例示している。
本実施形態に係る電子装置1は、電子部品2と、電子部品2が搭載された基材3と、電子部品2を内部に収容するように、基材3に接合された保護キャップ4とを備えている。なお、以下の説明では、便宜上、基材3側を下、保護キャップ4側を上として説明するが、上下方向はこれに限定されない。
電子部品2は、特に限定されるものではないが、例えば、レーザモジュール、LED、光センサ、撮像素子、光スイッチ等の光学デバイスが挙げられる。本実施形態では、電子部品2は紫外線LED(発光素子)であり、電子装置1は発光装置である。
基材3は、例えば、金属、金属酸化物セラミックス、LTCC又は金属窒化物セラミックスから構成される。金属としては、例えば銅、金属シリコンなどが挙げられる。金属酸化物セラミックスとしては、例えば酸化アルミニウムなどが挙げられる。LTCCとしては、例えば結晶性ガラスと耐火性フィラーを含む複合粉末を焼結させたものなどが挙げられる。金属窒化物セラミックスとしては、例えば窒化アルミニウムなどが挙げられる。本実施形態では、基材3は、窒化アルミニウムから構成されている。窒化アルミニウムの30~380℃の温度範囲における熱膨張係数は、例えば46×10-7/℃である。また、本実施形態では、基材3は、上面3a及び下面3bがともに平面から構成される板状体である。なお、基材3は、上面3aのうち、電子部品2が搭載される部分に凹部が設けられていてもよい。
保護キャップ4は、枠部5と、枠部5の一端開口を覆う蓋部6と、枠部5及び蓋部6を接着する接着層7とを備えている。なお、保護キャップ4の表面には各種機能膜を形成することが好ましく、例えば、光反射ロスを低減するために、反射防止膜を形成することが好ましい。
枠部5は、石英ガラスから構成される。枠部5は、中心に厚み方向(上下方向)に延びる貫通孔Hを有する筒状体である。枠部5は、貫通孔Hに対応する空間に収容された電子部品2の周囲を取り囲む。図示例では、枠部5は、四角筒で構成されているが、円筒などの他の形状であってもよい。なお、枠部5の内壁面5cは、蓋部6を通じた紫外線の取出効率を向上させるために、枠部5の下端面5b側から上端面5a側に向かうに連れて内側から外側に移行する傾斜面で構成されている。内壁面5cは、非傾斜面(垂直面)であってもよい。貫通孔Hは、枠部5の元材に、エッチング加工、レーザ加工、サンドブラスト加工などを施すことにより形成することができる。
枠部5の厚み(上下方向寸法)は、電子部品2よりも大きいことが好ましく、電子部品2よりも0.01~1mm大きいことが好ましく、0.05~0.5mm大きいことがより好ましく、0.1~0.2mm大きいことが最も好ましい。
蓋部6は、石英ガラスから構成される。また、本実施形態では、蓋部6は、上面6a及び下面6bがともに平面から構成される板状体である。
蓋部6の厚み(上下方向寸法)は、0.1~1.0mmであることが好ましく、0.2~0.8mmであることがより好ましく、0.3~0.6mmであることが最も好ましい。
図2に示すように、接着層7は、平面視で、枠部5の上端面5aに沿った額縁状に形成されている。平面視における接着層7の形状は、枠部5の上端面5aの形状に応じて適宜変更できる。
接着層7の30~380℃の温度範囲における熱膨張係数は、-25×10-7~23×10-7/℃であり、-20×10-7~20×10-7/℃であることが好ましく、-15×10-7~15×10-7/℃であることがより好ましく、-10×10-7~10×10-7/℃であることが最も好ましい。石英の30~380℃の温度範囲における熱膨張係数は例えば6.3×10-7/℃であり、石英ガラスの30~380℃の温度範囲における熱膨張係数は例えば4.0×10-7/℃である。したがって、上記の熱膨張係数を有する接着層7を用いれば、石英ガラスで構成される枠部5及び蓋部6の熱膨張係数と、接着層7の熱膨張係数とを整合させることができる。この結果、接着層7又はその近傍に生じる残留応力を小さくして、保護キャップ4の破損(クラックなど)を抑制できる。
接着層7の厚みは特に限定されないが、接着層7の厚みが小さすぎると、電子装置1の気密性を確保しにくくなる。一方、接着層7の厚みが大きすぎると、接着層7における残留応力が大きくなって機械的強度が低下するおそれがある。さらには、保護キャップ4や電子装置1のサイズが大きくなる傾向がある。このため、接着層7の厚みは、10μm~100μmであることが好ましく、20μm~80μmであることがより好ましく、30μm~60μmであることが最も好ましい。
接着層7は、ガラスを含むことが好ましい。このようにすれば、接着層7の耐熱性や気密性を向上させることができる。特に、接着層7が結晶化ガラスを含むものであると、低膨張化が容易になり、石英ガラスから構成される枠部5及び蓋部6との熱膨張係数を整合させやすくなる。具体的には、接着層7は、低膨張結晶であるβ-石英固溶体を含有することが好ましい。接着層7におけるβ-石英固溶体の含有量は、75~99質量%、80~97質量%、特に85~95質量%であることが好ましい。β-石英固溶体の含有量が少なすぎると、接着層7の低膨張化が困難になる傾向がある。一方、β-石英固溶体の含有量が多すぎると、接合時における流動性が低下しやすくなる。なお、結晶化ガラスを含む接着層7は、結晶性ガラスを含む接着材(封止材)を熱処理することにより得られる。
接着層7の具体例としては、組成として、モル%で、SiO 48~75%、Al 5~25%、LiO 5~30%、B 5~23%、ZnO 0~10%を含有するガラスを含むものが挙げられる。特に、モル%で、SiO 48~75%、Al 5~25%、LiO 5~30%、B 10~23%(ただし10%を含まない)、ZnO 0~2.5%(ただし2.5%を含まない)を含有するガラスを含むものが好ましい。このような組成にした理由を以下に説明する。なお、以下の各成分の含有量に関する説明において、特に断りのない限り、「%」は「モル%」を意味する。
SiOはガラス骨格を形成する成分であり、またβ-石英固溶体の構成成分である。SiOの含有量は48~75%、53~70%、特に58~65%であることが好ましい。SiOの含有量が少なすぎると、β-石英固溶体の析出量が少なくなり、低熱膨張特性が得にくくなる。一方、SiOが多すぎると、軟化点が上昇するため、接合時(封止時)の熱処理による軟化流動性が低下しやすくなる。
Alはβ-石英固溶体の構成成分である。Alの含有量は5~25%、7~15%、特に7~13%であることが好ましい。Alの含有量が少なすぎると、β-石英固溶体の析出量が少なくなり、低熱膨張特性が得にくくなる。一方、Alが多すぎると、軟化点が上昇するため、接合時の熱処理による軟化流動性が低下しやすくなる。
LiOはβ-石英固溶体の構成成分であり、また軟化点を低下させる成分である。LiOの含有量は5~30%、10~25%、特に10~20%であることが好ましい。LiOの含有量が少なすぎると、β-石英固溶体の析出量が少なくなり、低熱膨張特性が得にくくなる。また軟化点が上昇するため、接合時の熱処理による軟化流動性が低下しやすくなる。一方、LiOの含有量が多すぎると、熱処理後の残留ガラス中におけるLiOの含有量が多くなり、残留ガラスの熱膨張係数が高くなることから、結果として低熱膨張特性が得にくくなる。
はガラス骨格を形成する成分であり、軟化点を低下させる成分である。Bの含有量は5~23%、10~23%(ただし10%を含まない)、12~16%、特に13~15%であることが好ましい。Bの含有量が少なすぎると、軟化点が上昇して、軟化点と結晶化温度の差が小さくなる。そのため、接合時の熱処理による軟化流動前に結晶が析出する傾向があり、流動性が低下しやすくなる。一方、Bの含有量が多すぎると、熱処理後の残留ガラス相の割合が増加する(β-石英固溶体の析出量が低下する)ため、また残留ガラス相の熱膨張係数が増大するため、結果として低熱膨張特性が得にくくなる。
なお、BとLiOの各含有量の割合を適宜調整することにより、低熱膨張特性が得やすくなる。具体的には、B/LiOの値を0.5~1、0.7~1、特に0.8~1に調整することが好ましい。なお、「B/LiO」はBとLiOの各含有量のモル比を意味する。
ZnOは耐候性を向上させる成分である。また、接合時の熱処理による軟化流動性を向上させる効果がある。ZnOの含有量は0~10%、0~2.5%(ただし2.5%を含まない)、特に0~2%であることが好ましい。ZnOの含有量が多すぎると、β-石英固溶体の析出量が少なくなったり、Zn-Al系結晶等の低膨張化に寄与しない異種結晶が析出しやすくなる。また、熱処理後の残留ガラスの熱膨張係数が高くなる傾向がある。結果として、熱膨張係数が大きくなる傾向がある。
なお、耐候性を向上させる成分としてMgO、CaO、SrOまたはBaOを含有させてもよい。これらの成分は接合時の熱処理による軟化流動性を向上させる効果もある。MgO+CaO+SrO+BaOの含有量は0~10%、0~5%、特に0.1~2%であることが好ましい。MgO+CaO+SrO+BaOの含有量が多すぎると、β-石英固溶体の析出量が少なくなったり、熱処理後の残留ガラス相の熱膨張係数が高くなる傾向がある。その結果、熱膨張係数が高くなる傾向がある。なお、「MgO+CaO+SrO+BaO」は、MgO、CaO、SrO及びBaOの合量を意味する。
また、同じく耐候性を向上させる成分としてLa、ZrOまたはBiを含有させてもよい。これらのうちZrO及びBiは、接合時の熱処理による軟化流動性を向上させる効果もある。La+ZrO+Biの含有量は0~10%、0~5%、特に0.1~2%であることが好ましい。La+ZrO+Biの含有量が多すぎると、β-石英固溶体の析出量が少なくなったり、熱処理後の残留ガラス相の熱膨張係数が高くなる傾向がある。特に、Laに関してはその含有量が多すぎると、La-B系結晶等の低膨張化に寄与しない異種結晶が析出しやすい。その結果、熱膨張係数が大きくなる傾向がある。なお、「La+ZrO+Bi」は、La、ZrO及びBiの合量を意味する。
上記成分以外にも、本発明の効果を損なわない範囲で、NaO、KO、MnO、P、MoO、TiO、V等を合量で30%以下、20%以下、さらには10%以下の範囲で含有させることが可能である。
なお、接着層7には、熱膨張係数調整のため耐火性フィラー粉末が含まれていてもよい。耐火性フィラーの含有量は、0~30質量%、0.1~20質量%、特に1~10質量%であることが好ましい。耐火性フィラー粉末の含有量が多すぎると、被接合部材に対する接合性が低下しやすくなる。
耐火性フィラー粉末としては、コーディエライト、ウイレマイト、アルミナ、リン酸ジルコニウム、ジルコン、ジルコニア、酸化スズ、ムライト、シリカ、β-ユークリプタイト、β-スポジュメン、β-石英固溶体、リン酸タングステン酸ジルコニウムなどが使用できる。
保護キャップ4及び基材3を接合する接合部8は、特に限定されるものではないが、本実施形態では、保護キャップ4の枠部5の下端面5b側から順に、メタライズ層9と、はんだ層10とを備えている。メタライズ層9は、蒸着やスパッタなどにより、保護キャップ4の枠部5の下端面5bに形成された金属膜であり、はんだ層10との密着性を向上させる役割を有する。メタライズ層9としては、例えばCr、Ti、Ni、Pt、Au、Co及びこれらを含む合金層、或いはこれら金属、合金の多層膜等が使用できる。はんだ層(ろう材)10としては、例えばAu、Sn、Ag、Pb、及びこれら金属を含む合金、すなわち、Au-Sn系はんだ、Sn-Ag系はんだ、Pb系はんだ等の層が使用できる。Au-Sn系はんだの30~380℃の温度範囲における熱膨張係数は、例えば175×10-7/℃である。
図3及び図4は、本発明の第一実施形態に係る電子装置1の製造方法を例示している。
本実施形態に係る電子装置1の製造方法は、保護キャップ4を得るために、蓋部6と枠部5とを接合する第一接合工程と、電子部品2が搭載された基材3と保護キャップ4とを接合する第二接合工程とを備えている。
図3に示すように、第一接合工程では、まず、接着層7となる接着材11が配置された蓋部6と、メタライズ層9及びはんだ層10が形成された枠部5とを準備する。次に、接着材11を介して蓋部6と枠部5とを接触させる。この状態で焼成することにより、接着材11から接着層7を形成するとともに、接着層7により蓋部6と枠部5とを接合する。
接着材11は、粉体、圧粉体、ペースト等の形態で、蓋部6上に配置される。接着材11をペーストとする場合、例えば、例えば、結晶性ガラスの粉末、樹脂及び溶媒を含むペーストを、蓋部6に塗布する。ペーストの塗布は、例えばディスペンサーを用いることができる。
ペーストの樹脂としては、アクリル酸エステル(アクリル系樹脂)、エチルセルロース、ポリエチレングリコール誘導体、ニトロセルロース、ポリメチレンスチレン、ポリエチレンカーボネート、メタクリル酸エステル等が使用できる。特に、アクリル酸エステル、エチルセルロースは、熱分解性が良好であるため好ましい。
ペーストの溶媒としては、α-ターピオネール、パインオイル、N,N’-ジメチルホルムアミド(DMF)、高級アルコール、γ-ブチロラクトン(γ-BL)、テトラリン、ブチルカルビトールアセテート、酢酸エチル、酢酸イソアミル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ベンジルアルコール、トルエン、3-メトキシ-3-メチルブタノール、トリエチレングリコールモノメチルエーテル、トリエチレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノブチルエーテル、トリプロピレングリコールモノメチルエーテル、トリプロピレングリコールモノブチルエーテル、プロピレンカーボネート、N-メチル-2-ピロリドン等を用いることができる。特に、α-ターピオネールは、高粘性かつ樹脂等の溶解性も良好であるため好ましい。
焼成温度は、接着材11の軟化点±100℃、特に軟化点±50℃の範囲内とすることが好ましい。具体的には、焼成温度は、例えば500℃~800℃、特に600℃~750℃の範囲内とすることが好ましい。焼成温度が低すぎると軟化流動が不十分となり、接着強度に劣る傾向がある。一方、焼成温度が高すぎると、流動性が過剰になって接合が困難になる傾向がある。また、接着材11が結晶性ガラスを含む場合、結晶転移(例えばβ-石英固溶体からβ-スポジュメン固溶体への結晶転移)が生じて接着層7が高膨張化するおそれがある。なお、接着材11の焼成は、加熱炉を用いた加熱でもよいし、レーザを用いた加熱でもよい。
接着材11の平均粒子径D50は15μm以下、0.5~10μm、特に0.7~5μmが好ましい。平均粒子径D50の粒度が大きすぎると、焼成後に得られる接着層7において気孔が多くなりすぎて接合強度が低下するおそれがある。ここで、「平均粒子径D50」とは、レーザ回折装置で測定した値を指し、レーザ回折法により測定した際の体積基準の累積粒度分布曲線において、その積算量が粒子の小さい方から累積して50%である粒子径を表す。
なお、上記の第一接合工程において、蓋部6と枠部5との間に接着材11を配置する方法は特に限定されない。例えば、接着材11は、枠部5上に予め配置してもよい。また、上記の第一接合工程では、メタライズ層9及びはんだ層10が、枠部5に予め形成された場合を説明したが、第一接合工程の後(蓋部6及び枠部5を接合した後)に、これらの層9,10が枠部5に形成されてもよい。
図4に示すように、第二接合工程では、まず、第一接合工程で得られた保護キャップ4と、電子部品2が搭載された基材3とを準備する。次に、枠部5の下端面5bと基材3の上面3aとを、メタライズ層9及びはんだ層10を介して接触させる。この状態で加熱することにより、はんだ層10を軟化流動(リフロー)させ、はんだ層10により枠部5と基材3とを接合する。なお、はんだ層10は、加熱炉を用いて加熱してもよいし、レーザを用いて加熱してもよい。
(第二実施形態)
図5及び図6は、本発明の第二実施形態に係る電子装置1を例示している。第二実施形態では、枠部5及び基材3を接合する接合部の構成が、第一実施形態と相違する。
本実施形態では、枠部5は、基材3に直接溶着されている。換言すれば、枠部5と基材3とは、枠部5の下端面5bと基材3の上面3aとを直接接触させた状態で、溶着部21により接合されている。溶着部21は、レーザ接合により形成される。詳細には、溶着部21は、レーザの照射領域において、枠部5及び基材3の少なくとも一方を溶融した後に、その溶融部を固化させることにより形成される。つまり、溶着部21は、例えば、枠部5及び基材3の少なくとも一方の材料から構成され、枠部5及び基材3以外の材料を実質的に含まないことが好ましい。
溶着部21は、貫通孔Hに沿って同心環状に複数(図例では二つ)形成されるが、一つであってもよい。複数の溶着部21は、互いに半径方向に離間しているが、半径方向で部分的に重なっていてもよい。各溶着部21は、平面視で四角環状に構成されるが、これに限らず、円環状その他の環形状に構成され得る。
溶着部21は、厚み方向において、枠部5と基材3とに連続して跨って形成されている。なお、本実施形態では、溶着部21の内部において、枠部5と基材3との間には界面がない。もちろん、溶着部21の内部において、枠部5と基材3との間に界面が残っていてもよい。
溶着部21の幅S1は、10~200μmであることが好ましく、10~100μmであることがより好ましく、10~50μmであることが最も好ましい。溶着部21の厚みS2は、10~200μmであることが好ましく、10~150μmであることがより好ましく、10~100μmであることが最も好ましい。
溶着部21の平面方向の残留応力の最大値は、10MPa以下であることが好ましく、7MPa以下であることがより好ましく、5MPa以下であることが最も好ましい。平面方向の残留応力の最大値は、10mm×10mm以上の寸法を有するガラス板において、ユニオプト社製複屈折測定機:ABR-10Aを用いて、接合部付近の複屈折(単位:nm)を計測し、平面方向の残留応力に換算した場合の最大値である。また、光学的な複屈折の測定、すなわち直交する直線偏光波の光路差の測定により、ガラス板中の残留応力値を見積ることが可能であり、残留応力により発生する偏差応力F(MPa)は、F=D/CWの式で表記される。「D」は光路差(nm)であり、「W」は偏光波が通過した距離(cm)であり、「C」は光弾性定数(比例定数)であり、通常、20~40(nm/cm)/(MPa)の値になる。なお、平面方向の残留応力には、引張応力と圧縮応力が存在するが、上記では、両者の絶対値を評価するものとする。
図7~図10は、本発明の第二実施形態に係る電子装置1の製造方法を例示している。
本実施形態に係る電子装置1の製造方法は、保護キャップ4を得るために、蓋部6と枠部5とを接合する第一接合工程と、電子部品2が搭載された基材3と保護キャップ4とを接合する第二接合工程とを備えている。
図7に示すように、第一接合工程は、第一実施形態で説明した第一接合工程と同様であり、低膨張の接着材11(接着層7)を用いて、蓋部6と枠部5を接合する工程である。なお、枠部5には、メタライズ層9及びはんだ層10が形成されておらず、枠部5の下端面5bは露出している。
図8~図10に示すように、第二接合工程では、まず、第一接合工程で得られた保護キャップ4の枠部5の下端面5bと、基材3の上面3aとを直接接触させる。この状態で、レーザ照射装置22により、枠部5と基材3との接触部に対してレーザLを集光して照射する。レーザLは、枠部5及び基材3のうち、レーザLを透過する枠部5側から照射される。これにより、接触部を溶着して溶着部21を形成するとともに、溶着部21により枠部5と基材3とを接合する。
枠部5の下端面5b及び基材3の上面3aのそれぞれの算術平均粗さRaは、2.0nm以下であることが好ましく、1.0nm以下であることがより好ましく、0.5nm以下であることが更に好ましく、0.2nm以下であることが最も好ましい。算術平均粗さRaは、JIS B0601:2001に準拠した方法で測定した値を意味する。このようすれば、枠部5及び基材3が互いに接合面間の分子間力(オプティカルコンタクト)により密着するため、レーザ接合前のハンドリング性が向上する。
レーザLとしては、ピコ秒オーダーやフェムト秒オーダーのパルス幅を有する超短パルスレーザが好適に使用される。
レーザLの波長は、ガラス部材を透過する波長であれば特に限定されるものではないが、例えば、400~1600nmであることが好ましく、500~1300nmであることがより好ましい。レーザLのパルス幅は、10ps以下であることが好ましく、5ps以下であることがより好ましく、200fs~3psであることが最も好ましい。レーザLの集光径は、50μm以下であることが好ましく、30μm以下であることがより好ましく、20μm以下であることが好ましい。
図10に示すように、レーザLは、貫通孔Hの外側で、貫通孔Hに沿った環状軌道Tを描くように走査される。この場合において、レーザLは、その照射領域Rが環状軌道T上で重なりながら環状軌道Tを一周するように走査される。あるいは、レーザLは、その環状軌道Tを複数回にわたって周回するように走査される。なお、溶着部21を同心環状に複数形成する場合には、レーザLを走査する環状軌道Tも同心環状に複数設定される。
なお、本発明は、上記の実施形態の構成に限定されるものではなく、上記した作用効果に限定されるものでもない。本発明は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
上記の実施形態において、枠部5と基材3とを接合した後に、枠部5に蓋部6を接合してもよい。この場合、枠部5と基材3とを接合した後に基材3に電子部品2を搭載し、その後に、枠部5に蓋部6を接合してもよい。ただし、作業性を考慮した場合、枠部5と基材3とを接合する前に、基材3に電子部品2を搭載することが好ましい。
上記の実施形態において、紫外線の取出効率を向上させるために、枠部5の内周面に反射膜を形成してもよい。
以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
表1は、実施例で使用する第1の接着材、及び比較例で使用する第2の接着材のそれぞれの組成及び特性を示す。
Figure 2022018818000002
(1)第1及び第2の接着材の作製
表1に記載のガラス組成となるように原料粉末を調合し、均一に混合することにより原料バッチを作製した。原料バッチを白金坩堝に入れて、1400~1600℃で均質になるまで溶融した。得られた溶融ガラスを一対の成形ローラー間に流し込み、急冷しながら成形することによりフィルム状ガラスを得た。ボールミルを用いてフィルム状ガラスを12~14時間乾式粉砕した後、目開き100μmの金属製篩で分級を行うことにより、平均粒子径D50が8μmのガラス粉末からなる第1及び第2の接着材を得た。
(2)熱膨張係数の測定
第1の接着材の熱膨張係数(第1の接着層の熱膨張係数)は以下のようにして測定した。ガラス粉末をステンレス製金型(内寸:10mm×10mm×50mm)に投入し、0.4MPaの圧力でプレスすることにより圧粉体を作製した。箱型電気炉内で700℃、30分間(昇温速度:10℃/分)の焼成条件にて圧粉体を焼成して焼結体を得た。得られた焼結体を所定形状に加工することにより測定用試料を作製した。得られた測定用試料について、熱機械分析装置(リガク製Thermo Plus TMA8310)を用いて30~380℃の温度範囲における熱膨張係数を測定した。
なお、アルミナ乳鉢を用いて第1の接着材の測定用試料を平均粒子径D50が約20μmとなるよう粉砕し、得られた粉末試料を用いて粉末X線回折法により測定を行ったところ、主結晶としてβ-石英固溶体結晶が析出していることが確認された。
第2の接着材の熱膨張係数は、溶融ガラスを鋳型成形し所定形状に加工することにより得られた測定用試料を用いて、第1の接着材と同様にして測定した。
(3)保護キャップの作製
石英ガラスから構成された蓋部と、石英ガラスから構成された枠部とを、以下の手順に従って表2に記載の各接着材層により接合することにより保護キャップを作製した。表2のNo.1は実施例、No.2は比較例を示す。なお、石英の30~380℃の温度範囲における熱膨張係数は、6.3×10-7/℃である。
Figure 2022018818000003
(3-1)No.1
第1の接着材を含むペーストをスクリーン印刷機で枠部に印刷した後、乾燥、脱バインダーを行うことにより、枠部に第1の接着層を形成した。
枠部上に形成した第1の接着層の上に蓋部を配置した状態で、箱型電気炉内で700℃、2時間(昇温速度:10℃/分)の条件で焼成した。これにより、第1の接着層を介して蓋部及び枠部が接合された。以上のようにして、第1の接着層により蓋部及び枠部を接合してなる保護キャップが得られた。
得られた保護キャップにおいて、蓋部と接着層との界面、及び枠部と接着層との界面を観察したところ、クラックは確認されなかった。
(3-2)No.2
第2の接着材を含むペーストをスクリーン印刷機で枠部に印刷した後、乾燥、脱バインダーを行うことにより、枠部に第2の接着層を形成した。
枠部上に形成した第2の接着層の上に蓋部を配置した状態で、箱型電気炉内で700℃、2時間(昇温速度:10℃/分)の条件で焼成した。これにより、第2の接着層を介して蓋部及び枠部が接合された。以上のようにして、第2の接着層により蓋部及び枠部を接合してなる保護キャップが得られた。
得られた保護キャップにおいて、蓋部と接着層との界面、及び枠部と接着層との界面を観察したところ、クラックが確認された。
1 電子装置
2 電子部品
3 基材
4 保護キャップ
5 枠部
6 蓋部
7 接着層
8 接合部
9 メタライズ層
10 はんだ層
11 接着材
21 溶着部

Claims (7)

  1. 電子部品を保護するための保護キャップであって、
    枠部と、前記枠部の一端開口を覆う蓋部と、前記枠部と前記蓋部とを接着する接着層とを備え、
    前記枠部及び前記蓋部のそれぞれが、石英ガラスからなり、
    前記接着層の30~380℃の温度範囲における熱膨張係数が、-25×10-7~23×10-7/℃であることを特徴とする保護キャップ。
  2. 前記接着層は、ガラスを含む請求項1に記載の保護キャップ。
  3. 前記接着層が、結晶化ガラスを含む請求項1又は2に記載の保護キャップ。
  4. 前記結晶化ガラスが、主結晶として、β-石英固溶体を含む請求項3に記載の保護キャップ。
  5. 前記接着層が、組成として、モル%で、SiO 48~75%、Al 5~25%、LiO 5~30%、B 10~23%(ただし10%を含まない)、ZnO 0~2.5%(ただし2.5%を含まない)を含有するガラスを含む請求項1~4のいずれか1項に記載の保護キャップ。
  6. 電子部品と、前記電子部品が搭載された基材と、前記電子部品を内部に収容するように、前記基材に接合された請求項1~5のいずれか1項に記載の保護キャップとを備えていることを特徴とする電子装置。
  7. 前記電子部品が、紫外線LEDである請求項6に記載の電子装置。
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