JP2022003598A - 磁気ディスク装置及びリード処理方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 リード処理の品質を向上可能な磁気ディスク装置及びリード処理方法を提供することである。【解決手段】 本実施形態に係る磁気ディスク装置は、ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする第１リードヘッド及び第２リードヘッドとを有するヘッドと、前記ディスクの第１トラックの半径方向の第１半径位置に前記第１リードヘッドを配置して前記第１トラックをリードし、前記第１トラックをリードリトライする場合にリード処理時の位置決めの基準となるメインリードヘッドを前記第１リードヘッドから前記第２リードヘッドに変更し、前記第１トラックの半径方向の前記第１半径位置と異なる第２半径位置に前記第２リードヘッドを前記メインリードヘッドとして配置して前記第１トラックをリードし、前記メインリードヘッドに対応する内部設定を変更して前記第１トラックをリードする、コントローラと、を備える。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及びリード処理方法に関する。
磁気ディスク装置では、所定のトラックの半径方向に隣接するトラック（以下、隣接トラックと称する）が所定のトラックに近接、又は重なることにより、所定のトラックのＴＰＩ（Track Per Inch）が低減し得る。近年、複数のリードヘッドを有する２次元記録（Two-Dimensional Magnetic Recording : TDMR）方式の磁気ディスク装置が開発されている。ＴＤＭＲ方式の磁気ディスク装置は、例えば、隣接トラックが近接、又は重なっているトラックをリードする場合、複数のリードヘッドの内のリード処理時の位置決めの基準となるリードヘッド（以下、メインリードヘッドと称する）の配置と複数のリードヘッドの内のメインリードヘッド以外のリードヘッド（以下、サブリードヘッドと称する）の配置とを調整することで、データの復号性能を改善することが可能である。
米国特許第９３１８１３７号明細書 米国特許出願公開第２０１０／０２９０１５１号明細書
本発明の実施形態が解決しようとする課題は、リード処理の品質を向上可能な磁気ディスク装置及びリード処理方法を提供することである。
本実施形態に係る磁気ディスク装置は、ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする第１リードヘッド及び第２リードヘッドとを有するヘッドと、前記ディスクの第１トラックの半径方向の第１半径位置に前記第１リードヘッドを配置して前記第１トラックをリードし、前記第１トラックをリードリトライする場合にリード処理時の位置決めの基準となるメインリードヘッドを前記第１リードヘッドから前記第２リードヘッドに変更し、前記第１トラックの半径方向の前記第１半径位置と異なる第２半径位置に前記第２リードヘッドを前記メインリードヘッドとして配置して前記第１トラックをリードし、前記メインリードヘッドに対応する内部設定を変更して前記第１トラックをリードする、コントローラと、を備える。
図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。 図２は、実施形態に係るディスクに対するヘッドの配置の一例を示す模式図である。 図３は、リードヘッドを基準位置に配置した場合のライトヘッドと２つのリードヘッドとの幾何学的配置の一例を示す模式図である。 図４は、リードヘッドを半径位置に位置決めした場合のライトヘッドと２つのリードヘッドとの幾何学的配置の一例を示す図である。 図５は、実施形態に係るＲ／Ｗチャネルのリード系の構成例を示すブロック図である。 図６は、リードヘッドのＢＥＲ特性の一例を示す概要図である。 図７は、実施形態に係るリードリトライ処理の一例を示す模式図である。 図８は、メトリックメモリにおける処理の一例を示す概要図である。 図９は、実施形態に係るメトリック繋ぎ合わせ処理の一例を示す模式図である。 図１０は、実施形態に係るリード処理の一例を示すフローチャートである。 図１１は、実施形態に係る繋ぎ合わせ処理の一例を示すフローチャートである。
以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。
（実施形態）
図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。
磁気ディスク装置１は、後述するヘッドディスクアセンブリ（ＨＤＡ）と、ドライバＩＣ２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣ、又はプリアンプ）３０と、揮発性メモリ７０と、バッファメモリ（バッファ）８０と、不揮発性メモリ９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１３０とを備える。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（ホスト）１００と接続される。磁気ディスク装置１は、例えば、２次元記録（Two-Dimensional Magnetic Recording : TDMR）方式の磁気ディスク装置である。
ＨＤＡは、磁気ディスク（以下、ディスク）１０と、スピンドルモータ（ＳＰＭ）１２と、ヘッド１５を搭載しているアーム１３と、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１４とを有する。ディスク１０は、スピンドルモータ１２に取り付けられ、スピンドルモータ１２の駆動により回転する。アーム１３及びＶＣＭ１４は、アクチュエータを構成している。アクチュエータは、ＶＣＭ１４の駆動により、アーム１３に搭載されているヘッド１５をディスク１０の所定の位置まで移動制御する。ディスク１０およびヘッド１５は、２つ以上の数が設けられてもよい。
ディスク１０は、そのデータをライト可能な領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域１０ａと、システム管理に必要な情報をライトするシステムエリア１０ｂとが割り当てられている。以下、ディスク１０の円周に沿う方向を円周方向と称し、円周方向に交差する方向を半径方向と称する。ディスク１０の所定の円周方向の位置を円周位置と称し、ディスク１０の所定の半径方向の位置を半径位置と称する場合もある。また、半径位置及び円周位置をまとめて単に位置と称する場合もある。ディスク１０（のユーザデータ領域１０ａ）は、半径方向の所定の範囲毎に複数の領域（以下、ゾーンと称する場合もある）に区分されている。ゾーンは、複数のトラック（シリンダ）を含む。また、トラックは、複数のセクタを含む。“トラック”は、ディスク１０の半径方向に区分した複数の領域の内の１つの領域、ディスク１０の所定の半径位置におけるヘッド１５の経路、ディスク１０の所定の半径位置にライトされたディスク１０の１周分のデータ、ディスク１０の所定の半径位置で円周方向に延長するデータ、トラックにライトされたデータや、その他の種々の意味で用いる。“セクタ”は、トラックを円周方向に区分した複数の領域の内の１つの領域、ディスク１０の所定の位置にライトされたデータ、セクタにライトされたデータや、その他の種々の意味で用いる。“所定のトラックの半径方向の幅”を“トラック幅”と称する。“所定のセクタの半径方向の幅”を“セクタ幅”と称する。“所定のトラックの所定の円周位置におけるトラック幅の中心位置”を“トラックセンタ”と称する場合もあるし、“所定のトラックの各円周位置における各トラック幅の中心を繋ぐ線”を“トラックセンタ”と称する場合もある。例えば、“トラックセンタ”は、所定のセクタのセクタ幅の中心位置に相当する。
ヘッド１５は、スライダを本体として、当該スライダに実装されているライトヘッド１５Ｗとリードヘッド１５Ｒとを備える。ライトヘッド１５Ｗは、ディスク１０にデータをライトする。リードヘッド１５Ｒは、ディスク１０に記録されているデータをリードする。リードヘッド１５Ｒは、複数のリードヘッド１５Ｒ、例えば、２つのリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２を有している。リードヘッド１５Ｒ１は、例えば、ライトヘッド１５Ｗから最も離れた位置に設けられている。リードヘッド１５Ｒ２は、例えば、ライトヘッド１５Ｗからリードヘッド１５Ｒ１の次に離れた位置に設けられている。言い換えると、リードヘッド１５Ｒ２は、ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒ１の間に位置している。なお、リードヘッド１５Ｒは、３つ以上のリードヘッドを有していてもよい。複数のリードヘッド１５Ｒ、例えば、２つのリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２をまとめてリードヘッド１５Ｒと称する場合もあるし、複数のリードヘッド１５Ｒ、例えば、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２のいずれか１つを単にリードヘッド１５Ｒと称する場合もある。以下、複数のリードヘッド１５Ｒの内のリード処理時に位置決めの基準となるリードヘッド１５Ｒをメインリードヘッド１５Ｒと称する場合もある。また、複数のリードヘッド１５Ｒの内のメインリードヘッド１５Ｒ以外のリードヘッド１５Ｒをサブリードヘッド１５Ｒと称する場合もある。
図２は、本実施形態に係るディスク１０に対するヘッド１５の配置の一例を示す模式図である。図２に示すように、半径方向においてディスク１０の外周に向かう方向を外方向（外側）と称し、外方向と反対方向を内方向（内側）と称する。また、図２に示すように、円周方向において、ディスク１０の回転する方向を回転方向と称する。なお、図２に示した例では、回転方向は、反時計回りで示しているが、逆向き（時計回り）であってもよい。図２において、ユーザデータ領域１０ａは、内方向に位置する内周領域ＩＲと、外方向に位置する外周領域ＯＲと、内周領域ＩＲと外周領域ＯＲとの間に位置する中周領域ＭＲとに区分されている。図２に示した例では、半径位置ＩＲＰ、半径位置ＲＰ０、及び半径位置ＯＲＰを示している。半径位置ＩＲＰは、半径位置ＲＰ０よりも内方向の位置であり、半径位置ＯＲＰは、半径位置ＲＰ０よりも外方向の位置である。図２に示した例では、半径位置ＲＰ０は、中周領域ＭＲにあり、半径位置ＯＲＰは、外周領域ＯＲにあり、半径位置ＩＲＰは、内周領域ＩＲにある。なお、半径位置ＲＰ０は、外周領域ＯＲにあってもよいし、内周領域ＩＲにあってもよい。半径位置ＩＲＰは、それぞれ、中周領域ＭＲに位置していてもよい。図２には、半径位置ＩＲＰを通る経路ＩＩＬと、半径位置ＲＰ０を通る経路ＩＬ０と、半径位置ＯＲＰを通る経路ＯＩＬとを示している。経路ＩＩＬ、ＯＩＬ、及びＩＬ０は、ディスク１０に対して同心円状に配置されている。例えば、経路ＩＩＬ、ＯＩＬ、及びＩＬ０は、それぞれ、真円である。以下、ディスク１０に対して同心円状に配置された経路を目標経路と称する場合もある。
ディスク１０は、複数のサーボパターンＳＶを有している。以下、サーボパターンＳＶをサーボセクタやサーボ領域と称する場合もある。複数のサーボパターンＳＶは、ディスク１０の半径方向に放射状に延出して円周方向に所定の間隔を空けて離散的に配置されている。サーボパターンＳＶは、ヘッド１５をディスク１０の所定の半径位置に位置決めするためのサーボデータなどを含んでいる。以下、サーボセクタＳＶ以外のユーザデータ領域にライトされているサーボデータ以外のデータをユーザデータと称する場合もある。
サーボデータは、例えば、サーボマーク（Servo Mark）、アドレスデータ、及びバーストデータ等を含んでいる。アドレスデータは、所定のトラックのアドレス（シリンダアドレス）と、所定のトラックのサーボセクタのアドレスとから構成される。バーストデータは、所定のトラックのトラックセンタに対するヘッド１５の半径方向の位置ずれ（位置誤差）を検出するために使用されるデータ（相対位置データ）であり、所定の周期の繰り返しパターンから構成される。バーストデータは、対外に隣接するトラックに跨って千鳥状にライトされている。ここで、“隣接“とは、データ、物体、領域、及び空間等が接して、若しくは接するように並んでいることはもちろん、所定の間隔を置いて連続的に並んでいることも含む。
ヘッド１５が半径位置ＲＰ０に位置する場合、スキュー角は、例えば、０°となる。以下、半径位置ＲＰ０を基準位置ＲＰ０と称する場合もある。ヘッド１５が半径位置ＯＲＰに位置する場合、スキュー角は、例えば、正の値となる。ヘッド１５が半径位置ＩＲＰに位置する場合、スキュー角は、例えば、負の値となる。なお、ヘッド１５が半径位置ＯＲＰに位置する場合、スキュー角が負の値であってもよい。また、ヘッド１５が半径位置ＩＲＰに位置する場合、スキュー角が正の値であってもよい。
図３は、リードヘッド１５Ｒ１を基準位置ＲＰ０に配置した場合のライトヘッド１５Ｗと２つのリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２との幾何学的配置の一例を示す模式図である。図３では、リードヘッド１５Ｒ１がメインリードヘッド１５Ｒ１に相当し、リードヘッド１５Ｒ２がサブリードヘッド１５Ｒ２に相当する。図３には、ライトヘッド１５Ｗの中心部ＷＣと、リードヘッド（メインリードヘッド）１５Ｒ１の中心部ＲＣ１と、リードヘッド（サブリードヘッド）１５Ｒ２の中心部ＲＣ２とを示している。以下、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１とリードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２との間の円周方向の間隔をダウントラック間隔（Down Track Separation:DTS）と称する場合もある。また、リードヘッド１５Ｒ１の中心部ＲＣ１とリードヘッド１５Ｒ２の中心部ＲＣ２との間の半径方向の間隔をクロストラック間隔（Cross Track Separation:CTS）と称する場合もある。図３において、メインリードヘッド１５Ｒ１を所定の半径位置に配置した場合のダウントラック間隔をＤＴＳｙで示し、メインリードヘッド１５Ｒ１を所定の半径位置に配置した場合のクロストラック間隔をＣＴＳｘで示している。また、図３において、メインリードヘッド１５Ｒ１を所定の半径位置に配置した場合のヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒ）のスキュー角をθｓｗで示している。以下、説明の便宜上、「ライトヘッドの中心部」を単に「ライトヘッド」と称し、「リードヘッドの中心部」を単に「リードヘッド」と称する場合もある。
図３に示した例では、メインリードヘッド１５Ｒ１を基準位置ＲＰ０に配置した場合、ヘッド１５は、スキュー角θｓｗ＝θ０（＝０）で円周方向に傾いている。言い換えると、メインリードヘッド１５Ｒ１を基準位置ＲＰ０に配置した場合、ヘッド１５は、円周方向に傾いていない。図３では、メインリードヘッド１５Ｒ１を基準位置ＲＰ０に配置した場合、ライトヘッド１５Ｗ、メインリードヘッド１５Ｒ１、及びサブリードヘッド１５Ｒ２は、円周方向に沿って並んでいる。この場合、メインリードヘッド１５Ｒ１とサブリードヘッド１５Ｒ２とは、半径方向にずれていない。図３に示した例では、メインリードヘッド１５Ｒ１を基準位置ＲＰ０に配置した場合、メインリードヘッド１５Ｒ１とサブリードヘッド１５Ｒ２とは、クロストラック間隔ＣＴＳｘ＝ＣＴＳ０（＝０）で半径方向にずれている。なお、メインリードヘッド１５Ｒ１を基準位置ＲＰ０に配置した場合、ライトヘッド１５Ｗとリードヘッド１５Ｒ（メインリードヘッド１５Ｒ１及びサブリードヘッド１５Ｒ２）とは、半径方向にずれていてもよい。また、メインリードヘッド１５Ｒ１を基準位置ＲＰ０に配置した場合、メインリードヘッド１５Ｒ１とサブリードヘッド１５Ｒ２とは、半径方向にずれていてもよい。
図３に示した例では、メインリードヘッド１５Ｒ１を基準位置ＲＰ０に配置した場合、ライトヘッド１５Ｗとメインリードヘッド１５Ｒ１とは、間隔ＧＰ０で円周方向に離間している。メインリードヘッド１５Ｒ１を基準位置ＲＰ０に配置した場合、メインリードヘッド１５Ｒ１とサブリードヘッド１５Ｒ２とは、ダウントラック間隔ＤＴＳｙ＝ＤＴＳ０で円周方向に離間している。
図４は、リードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＯＲＰに配置した場合のライトヘッド１５Ｗと２つのリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２との幾何学的配置の一例を示す図である。
図４に示した例では、メインリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＯＲＰに配置した場合、ヘッド１５は、スキュー角θｓｗ＝θ１で円周方向の外方向に傾いている。図４では、メインリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＯＲＰに配置した場合、ライトヘッド１５Ｗ、メインリードヘッド１５Ｒ１、及びサブリードヘッド１５Ｒ２は、円周方向の外方向にずれている。この場合、メインリードヘッド１５Ｒ１とサブリードヘッド１５Ｒ２とは、半径方向にずれている。図４に示した例では、メインリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＯＲＰに配置した場合、メインリードヘッド１５Ｒ１とサブリードヘッド１５Ｒ２とは、クロストラック間隔ＣＴＳｘ＝ＣＴＳ１で半径方向の外方向にずれている。
図４に示した例では、メインリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＯＲＰに配置した場合、ライトヘッド１５Ｗとメインリードヘッド１５Ｒ１とは、ダウントラック間隔ＤＴＳｙ＝ＤＴＳ１（＝ＤＴＳ０×ｃоｓθ１）で円周方向に離間している。
なお、メインリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＩＲＰに配置した場合にもメインリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＯＲＰに配置した場合と同様に、ライトヘッド１５Ｗと２つのリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２とは、所定のスキュー角θｓｗで内方向に傾き得る。メインリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＩＲＰに配置した場合、メインリードヘッド１５Ｒ１とサブリードヘッド１５Ｒ２とは、所定のクロストラック間隔ＣＴＳｘで半径方向にずれ得る。また、メインリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＩＲＰに配置した場合、メインリードヘッド１５Ｒ１とサブリードヘッド１５Ｒ２とは、所定のダウントラック間隔ＤＴＳｘで円周方向に離間し得る。
ドライバＩＣ２０は、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するＭＰＵ４０）の制御に従って、ＳＰＭ１２およびＶＣＭ１４の駆動を制御する。
ヘッドアンプＩＣ（プリアンプ）３０は、リードアンプ及びライトドライバを備えている。リードアンプは、ディスク１０からリードしたリード信号を増幅して、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル６０）に出力する。ライトドライバは、Ｒ／Ｗチャネル６０から出力されるライトデータに応じたライト電流をヘッド１５に出力する。
揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。
バッファメモリ８０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ８０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ８０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。
不揮発性メモリ９０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ９０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。
システムコントローラ（コントローラ）１３０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(ＳｏＣ)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１３０は、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）４０と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）５０と、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル６０と、を含む。ＭＰＵ４０、ＨＤＣ５０、及びＲ／Ｗチャネル６０は、それぞれ、互いに電気的に接続されている。システムコントローラ１３０は、例えば、ドライバＩＣ２０、ヘッドアンプＩＣ３０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、不揮発性メモリ９０、及びホストシステム１００等に電気的に接続されている。
ＭＰＵ４０は、磁気ディスク装置１の各部を制御するメインコントローラである。ＭＰＵ４０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５の位置決めを実行する。ＭＰＵ４０は、ディスク１０へのデータのライト動作を制御すると共に、ホスト１００から転送されるデータ（以下、ライトデータと称する場合もある）の保存先を選択する。また、ＭＰＵ４０は、ディスク１０からのデータのリード動作を制御すると共に、ディスク１０からホスト１００に転送されるデータ（以下、リードデータと称する場合もある）の処理を制御する。ＭＰＵ４０は、ファームウェアに基づいて処理を実行する。ＭＰＵ４０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。例えば、ＭＰＵ４０は、ＨＤＣ５０、及びＲ／Ｗチャネル６０に電気的に接続され、これらの処理を制御する。
ＨＤＣ５０は、後述するＭＰＵ４０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル６０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ５０は、例えば、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に電気的に接続されている。
Ｒ／Ｗチャネル６０は、ＭＰＵ４０からの指示に応じて、リードデータ及びライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル６０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。Ｒ／Ｗチャネル６０は、メインリードヘッド及びサブリードヘッドのＲ／Ｗチャネル６０内の設定（以下、リードヘッド内部設定と称する場合もある）を変更できる。リードヘッド内部設定は、例えば、複数のリードヘッド１５Ｒの内のいずれかのリードヘッド１５Ｒをメインリードヘッド及びサブリードヘッドとしてＲ／Ｗチャネル６０内で処理することを示す設定に相当する。例えば、Ｒ／Ｗチャネル６０は、複数のリードヘッド１５Ｒの内の所定のリードヘッド１５Ｒをメインリードヘッドとして処理するように設定し、複数のリードヘッド１５Ｒの内のメインリードヘッド以外の少なくとも１つのリードヘッド１５Ｒをサブリードヘッドとして処理するように設定する。Ｒ／Ｗチャネル６０は、メインリードヘッドを所定の半径位置に位置決めした場合に、メインリードヘッドとして処理するように設定したリードヘッド１５Ｒを複数のリードヘッド１５Ｒの内の他のリードヘッド１５Ｒをメインリードヘッドとして処理するように設定を変更することができる。Ｒ／Ｗチャネル６０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ３０等に電気的に接続されている。
以下で、ヘッド１５、ヘッドアンプＩＣ３０、及びコントローラ１３０において、ディスク１０からリードしたリードデータをホスト１００に転送する系をリード系と称する場合もある。
図５は、実施形態に係るＲ／Ｗチャネル６０のリード系ＲＳＹの構成例を示すブロック図である。
Ｒ／Ｗチャネル６０は、リード系ＲＳＹを含む。リード系ＲＳＹは、ＦＩＲ（Finite impulse response）フィルタＡ０と、ＦＩＲ(Finite impulse response)メモリＡ１と、デコーダＡ２と、再構成又は再構築（Re-construction）器Ａ３と、比較器及びメトリックメモリＡ４と、ＬＤＰＣ（Low Density Parity Check）器Ａ５とを有している。なお、リード系ＲＳＹは、ＦＩＲフィルタＡ０、ＦＩＲメモリＡ１、デコーダＡ２、再構成器Ａ３、比較器及びメトリックメモリＡ４、及びＬＤＰＣ器Ａ５以外の構成を有していてもよい。
ＦＩＲフィルタＡ０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ３０等から入力されたリードしたデータに対応する信号の所定の区間（以下、セグメントと称する場合もある）毎に信号の波形を最適化（例えば、平均化又は等化）し、セグメント毎の最適化（例えば、平均化又は等化）したサンプルの信号（以下、ＦＩＲサンプル信号又はＦＩＲ波形と称する場合もある）をＦＩＲメモリＡ１に出力する。
ＦＩＲメモリＡ１は、ＦＩＲフィルタＡ０から出力されたセグメント毎のＦＩＲサンプル信号を一時的に記録する。ＦＩＲメモリＡ１は、セグメント毎の最適なＦＩＲサンプル信号（以下、最適ＦＩＲサンプル信号と称する場合もある）とリードしたデータに対応するセグメント毎のＦＩＲサンプル信号とを一時的に記録する。例えば、ＦＩＲメモリＡ１は、セグメント毎の現在の最適ＦＩＲサンプル信号（以下、現最適ＦＩＲサンプル信号と称する場合もある）と新たにリードしたデータに対応するセグメント毎のＦＩＲサンプル信号（以下、新ＦＩＲサンプル信号と称する場合もある）とを記録する。ＦＩＲメモリＡ１は、現最適ＦＩＲサンプル信号と新ＦＩＲサンプル信号とをセグメント毎に比較して、セグメント毎の現最適ＦＩＲサンプル信号とセグメント毎の新ＦＩＲサンプル信号とからセグメント毎に新たに最適ＦＩＲサンプル信号（以下、新最適ＦＩＲサンプル信号と称する場合もある）を選択する。ＦＩＲメモリＡ１は、選択したセグメント毎の最適ＦＩＲサンプル信号を繋ぎ合わせた（又は合成した）最適ＦＩＲサンプル（以下、合成ＦＩＲサンプル信号と称する場合もある）を生成（又は取得する）処理（以下、ＦＩＲ信号繋ぎ合わせ処理、ＦＩＲ信号合成処理、繋ぎ合わせ処理、又は合成処理と称する場合もある）を実行する。例えば、ＦＩＲメモリＡ１は、後述する比較器及びメトリックメモリＡ４からの出力に応じてセグメント毎の最適ＦＩＲサンプル信号を選択し、ＦＩＲ信号繋ぎ合わせ処理により選択した各セグメントの最適ＦＩＲサンプル信号を繋ぎ合わせた合成ＦＩＲサンプル信号を生成する。ＦＩＲメモリＡ１は、合成ＦＩＲサンプル信号をデコーダＡ２に出力する。また、ＦＩＲメモリＡ１は、セグメント毎の現最適ＦＩＲサンプル信号とセグメント毎の新ＦＩＲサンプル信号とを比較器及びメトリックメモリＡ４に出力する。なお、ＦＩＲメモリＡ１は、合成ＦＩＲサンプル信号を比較器及びメトリックメモリＡ４に出力してもよい。また、ＦＩＲメモリＡ１は、セグメント毎の現最適ＦＩＲサンプル信号とセグメント毎の新ＦＩＲサンプル信号とをデコーダＡ２に出力してもよい。以下、最適ＦＩＲサンプル信号、現最適ＦＩＲサンプル信号、新最適ＦＩＲサンプル信号、及び新ＦＩＲサンプル信号等をそれぞれＦＩＲサンプル信号と称する場合もあるし、最適ＦＩＲサンプル信号、現最適ＦＩＲサンプル信号、新最適ＦＩＲサンプル信号、及び新ＦＩＲサンプル信号等をまとめてＦＩＲサンプル信号と称する場合もある。
デコーダＡ２は、ＦＩＲメモリＡ１から入力された合成ＦＩＲサンプル信号に復号化処理を実行する。デコーダＡ２は、復号化処理を実行した合成ＦＩＲサンプル信号（以下、復号化信号と称する場合もある）をＬＤＰＣ器Ａ５に出力する。デコーダＡ２は、復号化信号に硬判定処理を実行し、復号化信号に硬判定処理を実行することにより得られた信号（以下、硬判定信号と称する場合もある）を再構成器Ａ３に出力する。デコーダＡ２は、復号化信号に対数尤度比（Log likelihood ratio:ＬＬＲ）処理を実行し、復号化信号にＬＬＲ処理を実行することにより得られた信号（以下、ＬＬＲ信号と称する場合もある）を比較器及びメトリックメモリＡ４に出力する。
再構成器Ａ３は、硬判定信号に再構成（Re-construct）処理を実行し、再構成処理を実行した硬判定信号（以下、再構成信号と称する場合もある）を比較器及びメトリックメモリＡ４に出力する。
比較器及びメトリックメモリＡ４は、セグメント毎の現最適ＦＩＲサンプル信号とセグメント毎の新ＦＩＲサンプル信号とを記録する。比較器及びメトリックメモリＡ４は、ＬＬＲ信号、再構成信号、及びＦＩＲサンプル信号（例えば、新ＦＩＲサンプル信号）に基づいて、ＳＮＲ（Signal to Noise Ratio：信号雑音比）に対応するメトリック（Metric）又は測定値をセグメント毎に算出し、算出したセグメント毎のメトリックを記録する。比較器及びメトリックメモリＡ４は、メトリックをウィンドウ（window）毎に比較して最適なメトリック（以下、最適メトリックと称する場合もある）を選択する。ウィンドウは、例えば、１つのセグメントに対応していてもよいし、複数のセグメントに対応していてもよい。例えば、比較器及びメトリックメモリＡ４は、再構成信号及びＦＩＲサンプル信号の２乗誤差に相当するメトリック（以下、新メトリックと称する場合もある）をセグメント毎に算出し、算出したセグメント毎の新メトリックを記録する。ここで、再構成信号及びＦＩＲサンプル信号の２乗誤差に相当するメトリックは、理想値と観測値との差分に相当する。なお、メトリックは、ＬＬＲ信号の絶対値に相当してもよい。ＬＬＲ（ＬＬＲ信号）は、−∞から＋∞の範囲である。比較器及びメトリックメモリＡ４は、例えば、セグメント毎のメトリックに基づいてウィンドウ毎の新メトリックの平均値（以下、単に、新メトリックと称する場合もある）を算出し、算出したウィンドウ毎の新メトリックを記録する。比較器及びメトリックメモリＡ４は、ウィンドウ毎の新メトリックとウィンドウ毎の現在の最適なメトリック（以下、現最適メトリックと称する場合もある）の平均値（以下、単に、現最適メトリックと称する場合もある）とをウィンドウ毎に比較して、ウィンドウ毎の新メトリックとウィンドウ毎の現最適メトリックとからウィンドウ毎に新たに最適メトリック（以下、新最適メトリックと称する場合もある）の平均値（以下、単に、新最適メトリックと称する場合もある）を選択する。比較器及びメトリックメモリ４は、選択したウィンドウ毎の最適メトリック（新最適メトリック）を繋ぎ合わせた（又は合成した）最適メトリック（以下、合成メトリックと称する場合もある）を生成（又は取得）する処理（以下、メトリック繋ぎ合わせ処理、メトリック合成処理、繋ぎ合わせ処理、又は合成処理と称する場合もある）を実行する。以下、新メトリック、最適メトリック、現最適メトリック、及び新最適メトリック等をそれぞれメトリックと称する場合もあるし、新メトリック、最適メトリック、現最適メトリック、及び新最適メトリック等をまとめてメトリックと称する場合もある。また、ウィンドウ（又はセグメント）毎のメトリックの平均値を単にメトリックと称することもある。比較器及びメトリックメモリＡ４は、合成メトリックをＦＩＲメモリＡ１に出力する。
ＬＤＰＣ器Ａ５は、デコーダＡ２から入力された復号化信号にＬＤＰＣ処理を実行し、ＬＤＰＣ処理を実行した復号化信号（以下、ＬＤＰＣ信号と称する場合もある）をＨＤＣ５０に出力する。
システムコントローラ１３０は、複数のリードヘッド１５Ｒからメインリードヘッド１５Ｒを選択する。例えば、システムコントローラ１３０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の内のリードヘッド１５Ｒ１をメインリードヘッドに選択し、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の内のリードヘッド１５Ｒ２をサブリードヘッドに選択する。また、例えば、システムコントローラ１３０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の内のリードヘッド１５Ｒ２をメインリードヘッドに選択し、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の内のリードヘッド１５Ｒ１をサブリードヘッドに選択する。
例えば、システムコントローラ１３０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の内の特性、例えば、リード処理時のＢＥＲ（Bit Error Rate）に対応する特性（以下、ＢＥＲ特性と称する場合もある）が最良なリードヘッド１５Ｒ１をサブリードヘッドとして選択し、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の内のＢＥＲ特性が最良ではないリードヘッド１５Ｒ２をメインリードヘッドとして選択する。また、例えば、システムコントローラ１３０は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の内のＢＥＲ特性が最良なリードヘッド１５Ｒ２をサブリードヘッドとして選択し、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の内のＢＥＲ特性が最良ではないリードヘッド１５Ｒ１をメインリードヘッドとして選択する。なお、システムコントローラ１３０は、複数のリードヘッドの内のＢＥＲ特性が最良なリードヘッドをメインリードヘッドとして選択してもよいし、複数のリードヘッドの内のＢＥＲ特性が最良ではないリードヘッドをサブリードヘッドとして選択してもよい。
例えば、複数のリードヘッド１５Ｒの内のＢＥＲ特性が最良ではないリードヘッド１５Ｒをメインリードヘッド１５Ｒとして選択し、複数のリードヘッド１５Ｒの内に特性ＢＥＲ特性が最良なリードヘッド１５Ｒをサブリードヘッドとして選択した場合、システムコントローラ１３０は、所定のトラックの所定の半径位置にメインリードヘッドを配置して、このトラックにリードする場合にメインリードヘッドを配置する半径位置に配置してリードした場合のＳＮＲよりも小さいＳＮＲとなる半径位置にサブリードヘッドを配置する。一例では、複数のリードヘッド１５Ｒの内のＢＥＲ特性が最良ではないリードヘッド１５Ｒをメインリードヘッド１５Ｒとして選択し、複数のリードヘッド１５Ｒの内に特性ＢＥＲ特性が最良なリードヘッド１５Ｒをサブリードヘッドとして選択した場合、システムコントローラ１３０は、半径方向に隣接するトラック（以下、隣接トラックと称する場合もある）がsqueeze、ずれ、近接、又は重なっているトラックにおいて、メインリードヘッドをこのトラックのトラックセンタに配置し、サブリードヘッドを隣接トラック側の半径位置に配置する。
システムコントローラ１３０は、データをリードできない、又は正常にリードできないと判定した場合に同じデータを再度リードするリードリトライ（又は、リードリトライ処理と称する場合もある）を実行する。所定のトラックにリードリトライを実行する場合、システムコントローラ１３０は、複数のリードヘッド１５Ｒのメインリードヘッド及びサブリードヘッドを変更する。また、所定のトラックにリードリトライを実行する場合、システムコントローラ１３０は、リードヘッド内部設定を変更する。
例えば、システムコントローラ１３０は、所定のトラックの所定のセクタをリードできない、又は正常にリードできないと判定した場合、リードできない、又は正常にリードできないと判定したセクタ（以下、リードリトライセクタと称する場合もある）を含むトラックにリードリトライを実行する。システムコントローラ１３０は、複数のリードヘッド１５Ｒの内のメインリードヘッドとサブリードヘッドとを変更しながら、このトラックのトラック幅の範囲内の複数の半径位置にリードヘッド１５Ｒ（メインリードヘッド）を配置してこのトラックにリードリトライを繰り返す。言い換えると、システムコントローラ１３０は、複数のリードヘッド１５Ｒの内のメインリードヘッドとサブリードヘッドとを変更しながら、このトラックのトラックセンタから半径方向に複数のずれ量（又はオフセット量）にリードヘッド１５Ｒ（メインリードヘッド）をずらして（又はオフセットさせて）配置してこのトラックにリードリトライを繰り返す。所定のトラックのトラック幅の範囲内の複数の半径位置にメインリードヘッドを配置してリードリトライを実行する際に、システムコントローラ１３０は、リードヘッド内部設定を変更してＲ／Ｗチャネル６０内のメインリードヘッドとサブリードヘッドとの設定を切り替えながらこのトラックのリードリトライを実行する。一例では、システムコントローラ１３０は、Ｒ／Ｗチャネル６０内で、メインリードヘッドに対応するＦＩＲフィルタにおけるＴａｐ係数に保存されたパラメータを使用し、サブリードヘッドに対応するＦＩＲフィルタにおけるＴａｐ係数を全て０にすることによって、リードヘッド内部設定を変更してＲ／Ｗチャネル６０内のメインリードヘッドとサブリードヘッドとの設定を切り替える。また、一例では、システムコントローラ１３０は、メインリードヘッドに対応する円周方向におけるＤｅｌａｙ量とサブリードヘッドに対応する円周方向におけるＤｅｌａｙ量とを入れ替えることによって、リードヘッド内部設定を変更してＲ／Ｗチャネル６０内のメインリードヘッドとサブリードヘッドとの設定を切り替える。このように、ＴＤＭＲ方式のディスク装置１において、Ｒ／Ｗチャネル６０のリードヘッド内部設定を変更してＲ／Ｗチャネル６０内のメインリードヘッドとサブリードヘッドとの設定を切り替えて所定のトラックをリードリトライすることで、ＩＴＩＣ（Inter track Interference Cancellation）効果によりデータをリードした際に良好なＢＥＲが得られる可能性がある。
システムコントローラ１３０は、所定のトラックにリードリトライを実行する際に複数のリードヘッド１５Ｒのメインリードヘッド及びサブリードヘッドを変更しながら複数の半径位置にヘッド１５を配置し、且つリードヘッドの内部設定を変更しながらリードしたデータに対応するセグメント毎の複数のＦＩＲサンプル信号からセグメント毎に最適ＦＩＲサンプル信号を選択して、選択したセグメント毎の最適ＦＩＲサンプル信号を繋ぎ合わせた合成ＦＩＲサンプル信号を生成する。システムコントローラ１３０は、生成した合成ＦＩＲサンプル信号を復号化（又は復号）した復号化信号にＬＤＰＣ処理を実行し、ＨＤＣ５０を介してＬＤＰＣ処理を実行したＬＤＰＣ信号をホスト１００等にリードデータとして出力する。
図６は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２のＢＥＲ特性の一例を示す概要図である。図６において、縦軸は、エラーレート、例えば、ＢＥＲを示し、横軸は、半径位置を示している。図６において、ＢＥＲは、大の矢印の先端側に進むに従って大きくなり、小の矢印の先端側に進むに従って小さくなる。図６の縦軸には、ＢＥＲ ＢＲ１、及びＢＲ２を示している。ＢＥＲ ＢＲ２は、ＢＥＲ ＢＲ１よりも大きい。図６において、半径位置は、外方向の矢印の先端側に進むに従って外方向に進み、内方向の矢印の先端側に進むに従って内方向に進む。図６の横軸には、半径位置ＲＰ０１、及びＲＰ０２を示している。半径位置ＲＰ０１は、半径位置ＲＰ０２よりも内方向に位置している。言い換えると、半径位置ＲＰ０２は、半径位置ＲＰ０１よりも外方向に位置している。図６には、リードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＲＰ０１に位置決めしてこのトラックをリードした場合のＢＥＲの変化ＢＲＬ１と、リードヘッド１５Ｒ２を半径位置ＲＰ０２に位置決めしてこのトラックをリードした場合のＢＥＲの変化ＢＲＬ２と、ＢＥＲの変化ＢＲＬ１とＢＥＲの変化ＢＲＬ２とを合成したＢＥＲの変化ＢＲＬ１２とを示している。ＢＥＲの変化ＢＲＬ１は、半径位置ＲＰ０１で頂点となる下に凸の放物線状に変化している。ＢＥＲの変化ＢＲＬ２は、半径位置ＲＰ０２で頂点となる下に凸の放物線状に変化している。ＢＥＲの変化ＢＲＬ１２は、半径位置ＲＰ０１よりも内方向から半径位置ＲＰ０１に向かって放物線状に小さくなり、半径位置ＲＰ０１から半径位置ＲＰ０２に向かって徐々に大きくなり、半径位置ＲＰ０２から外方向に向かって放物線状に大きくなっている。
図６に示した例では、ＢＥＲの変化ＢＲＬ１は、ＢＥＲの変化ＢＲＬ２より性よりもＢＥＲが小さい。言い換えると、リードヘッド１５Ｒ１のＢＥＲ特性は、リードヘッド１５Ｒ２のＢＥＲ特性よりも良い。なお、リードヘッド１５Ｒ２のＢＥＲ特性は、リードヘッド１５Ｒ１のＢＥＲ特性よりも良くてもよい。
図７は、本実施形態に係るリードリトライ処理の一例を示す模式図である。図７に示すように、円周位置（円周方向）において、ディスク１０に対してヘッド１５が進む方向、つまり、リード／ライトする方向を進行方向と称する場合もある。図７には、円周位置ＣＰＳ及びＣＰＥを示している。図７には、トラックＴＲ０と、トラックＴＲ０の外方向にライトされたトラックＴＲ１とを示している。トラックＴＲ０とトラックＴＲ１とは、互いに隣接している。トラックＴＲ０は、目標経路（半径位置）ＴＲＲ０に沿ってライトヘッド１５Ｗによりライトされている。図７には、トラックＴＲ０のセクタＳＣ０を示している。図７において、セクタＳＣ０は、リードリトライセクタであってもよい。図７において、トラックＴＲ０のセクタＳＣ０は、円周位置ＣＰＳから円周位置ＣＰＥまで円周方向に沿って帯状に延出している。図７では、セクタＳＣ０は、説明の便宜上、円周方向に直線状に延出しているように示しているが、実際にはディスク１０の形状に沿って湾曲している。セクタＳＣ０は、ディスク１０に沿って円状に配置されている。なお、セクタＳＣ０は、半径方向に変動しながら円周方向に延出する波状であってもよい。
図７には、トラックＴＲ１のセクタＳＣ１を示している。図７において、セクタＳＣ１は、目標経路（半径位置）ＴＲＲ１に沿ってライトヘッド１５Ｗでライトされ、進行方向に進むに従って内方向にsqueeze又はずれてライトされている。言い換えると、セクタＳＣ１は、進行方向に進むに従って目標経路（半径位置）ＴＲＲ１からトラックＴＲ０側にずれてライトされている。セクタＳＣ１は、円周位置ＣＰＳで目標経路（半径位置）ＴＲＲ１に対してほぼずれていないが、円周位置ＣＰＥで目標経路（半径位置）ＴＲＲ１からトラックＴＲ０の一部に重ねる程度にずれている。セクタＳＣ１は、円周位置ＣＰＳから円周位置ＣＰＥまで帯状に延出している。図７では、セクタＳＣ１は、説明の便宜上、直線状に延出しているように示しているが、実際にはディスク１０の形状に沿って湾曲している。なお、セクタＳＣ１は、半径方向に変動しながら延出する波状であってもよい。
図７において、セクタＳＣ０は、目標経路（半径位置）ＴＲＲ０からオフセット量ＲＯＳ１１で内方向にオフセットした半径位置ＲＰ１１と、目標経路（半径位置）ＴＲＲ０からオフセット量ＲＯＳ１２で外方向にオフセットした半径位置ＲＰ１２と、目標経路（半径位置）ＴＲＲ０からオフセット量ＲＯＳ２１で内方向にオフセットした半径位置ＲＰ２１とを含む。半径位置ＲＰ１１を円周方向に沿って延出する経路（以下、半径経路と称する場合もある）ＲＰ１１と称する場合もあるし、半径位置ＲＰ１２を円周方向に沿って延出する半径経路ＲＰ１２と称する場合もあるし、半径位置ＲＰ２１を円周方向に沿って延出する半径位置ＲＰ２１と称する場合もある。半径位置ＲＰ１１は、半径位置ＲＰ２１よりも内方向に位置している。言い換えると、オフセット量ＲＯＳ１１は、オフセット量ＲＯＳ２１よりも大きい。半径位置ＲＰ１１及び半径位置ＲＰ２１は、それぞれ、進行方向に延出したとしても、セクタＳＣ０とセクタＳＣ１とが重ならない半径方向の領域に位置している。言い換えると、半径位置ＲＰ１１及びＲＰ２１は、それぞれ、進行方向に延出したとしても、セクタＳＣ０とセクタＳＣ１とが重なる半径方向の領域よりも内方向に位置している。半径位置ＲＰ１２は、進行方向の円周位置、例えば、円周位置ＣＰＥにおいて、トラックＴＲ０及びＴＲ１が重なる半径方向の領域に位置している。図７には、半径位置ＴＲＲ０に配置したリードヘッド１５Ｒ１と、半径位置ＴＲＲ０にリードヘッド１５Ｒ１を配置した場合のリードヘッド１５Ｒ２とを示している。図７には、半径位置ＲＰ１１に配置したリードヘッド１５Ｒ１と、半径位置ＲＰ１１にリードヘッド１５Ｒ１を配置した場合のリードヘッド１５Ｒ２とを示している。図７には、半径位置ＲＰ１２に配置したリードヘッド１５Ｒ１と、半径位置ＲＰ１２にリードヘッド１５Ｒ１を配置した場合のリードヘッド１５Ｒ２とを示している。図７には、半径位置ＲＰ２１に配置したリードヘッド１５Ｒ２と、半径位置ＲＰ２１にリードヘッド１５Ｒ２を配置した場合のリードヘッド１５Ｒ１とを示している。図７では、メインリードヘッドを斜線で塗りつぶした矩形形状で示し、サブリードヘッドを白抜きの（塗りつぶしていない）矩形形状で示している。
システムコントローラ１３０は、例えば、リードヘッド１５Ｒ１をメインリードヘッドに設定し、リードヘッド１５Ｒ２をサブリードヘッドに設定する。この場合、システムコントローラ１３０は、例えば、半径位置ＴＲＲ０にリードヘッド１５Ｒ１を配置してセクタＳＣ０をリードする。
なお、半径位置ＴＲＲ０にリードヘッド１５Ｒ１を配置してセクタＳＣ０をリードできない、又は正常にリードできないと判定した際にトラックＴＲ０にリードリトライを実行する場合、システムコントローラ１３０は、リードヘッド内部設定を変更し、Ｒ／Ｗチャネル６０内でサブリードヘッドとして処理するようにリードヘッド１５Ｒ１を設定してメインリードヘッドとして処理するようにリードヘッド１５Ｒ２を設定してセクタＳＣ０をリードしてもよい。言い換えると、半径位置ＴＲＲ０にリードヘッド１５Ｒ１を配置してセクタＳＣ０をリードできない、又は正常にリードできないと判定した際にトラックＴＲ０にリードリトライを実行する場合、システムコントローラ１３０は、リードヘッド１５Ｒ１及びリードヘッド１５Ｒ２のリードヘッド内部設定を切り替えて、Ｒ／Ｗチャネル６０でリードヘッド１５Ｒ１をサブリードヘッドとして処理するように設定し、Ｒ／Ｗチャネル６０でリードヘッド１５Ｒ２をメインリードヘッドとして処理するように設定してセクタＳＣ０をリードしてもよい。
システムコントローラ１３０は、半径位置ＴＲＲ０にリードヘッド１５Ｒ１を配置してセクタＳＣ０をリードできない、又は正常にリードできないと判定した際にトラックＴＲ０にリードリトライを実行する場合、リードヘッド１５Ｒ１をメインリードヘッドに設定し、リードヘッド１５Ｒ２をサブリードヘッドに設定する。この場合、システムコントローラ１３０は、例えば、半径位置ＲＰ１１にリードヘッド１５Ｒ１を配置してセクタＳＣ０をリードする。
なお、半径位置ＲＰ１１にリードヘッド１５Ｒ１を配置してセクタＳＣ０をリードできない、又は正常にリードできないと判定した際にトラックＴＲ０にリードリトライを実行する場合、システムコントローラ１３０は、リードヘッド内部設定を変更し、Ｒ／Ｗチャネル６０内でサブリードヘッドとして処理するようにリードヘッド１５Ｒ１を設定してメインリードヘッドとして処理するようにリードヘッド１５Ｒ２を設定してセクタＳＣ０をリードしてもよい。言い換えると、半径位置ＲＰ１１にリードヘッド１５Ｒ１を配置してセクタＳＣ０をリードできない、又は正常にリードできないと判定した際にトラックＴＲ０にリードリトライを実行する場合、システムコントローラ１３０は、リードヘッド１５Ｒ１及びリードヘッド１５Ｒ２のリードヘッド内部設定を切り替えて、Ｒ／Ｗチャネル６０でリードヘッド１５Ｒ１をサブリードヘッドとして処理するように設定し、Ｒ／Ｗチャネル６０でリードヘッド１５Ｒ２をメインリードヘッドとして処理するように設定してセクタＳＣ０をリードしてもよい。
システムコントローラ１３０は、半径位置ＴＲＲ０にリードヘッド１５Ｒ１を配置してセクタＳＣ０をリードできない、又は正常にリードできないと判定した際にトラックＴＲ０にリードリトライを実行する場合、リードヘッド１５Ｒ１をメインリードヘッドに設定し、リードヘッド１５Ｒ２をサブリードヘッドに設定する。この場合、システムコントローラ１３０は、例えば、半径位置ＲＰ１２にリードヘッド１５Ｒ１を配置して半径位置ＲＰ２１にリードヘッド１５Ｒ２が位置する状態でセクタＳＣ０をリードする。
システムコントローラ１３０は、半径位置ＲＰ１１にリードヘッド１５Ｒ１を配置してセクタＳＣ０をリードできない、又は正常にリードできないと判定した際にトラックＴＲ０にリードリトライを実行する場合、リードヘッド内部設定を変更し、Ｒ／Ｗチャネル６０内でサブリードヘッドとして処理するようにリードヘッド１５Ｒ１を設定して、半径位置ＲＰ１２にリードヘッド１５Ｒ１が位置し、Ｒ／Ｗチャネル６０内でメインリードヘッドとして処理するようにリードヘッド１５Ｒ２を設定して、半径位置ＲＰ２１にリードヘッド１５Ｒ２を配置した状態でセクタＳＣ０をリードする。
図８は、メトリックメモリＡ４における処理の一例を示す概要図である。図８に示すように、メトリックメモリＡ４は、現最適メトリックＭＣＢ１、ＭＣＢ２、ＭＣＢ３、及びＭＣＢ４と、新メトリックＭＮ１、ＭＮ２、ＭＮ３、及びＭＮ４と、新最適メトリックＭＮＢ１、ＭＮＢ２、ＭＮＢ３、及びＭＮＢ４とを保持している。現最適メトリックＭＣＢ１、新メトリックＭＮ１、及び新最適メトリックＭＮＢ１は、セグメントＳｅｇ１に対応している。現最適メトリックＭＣＢ２、新メトリックＭＮ２、及び新最適メトリックＭＮＢ２は、セグメントＳｅｇ２に対応している。現最適メトリックＭＣＢ３、新メトリックＭＮ３、及び新最適メトリックＭＮＢ３は、セグメントＳｅｇ３に対応している。現最適メトリックＭＣＢ４、新メトリックＭＮ４、及び新最適メトリックＭＮＢ４は、セグメントＳｅｇ４に対応している。
システムコントローラ１３０は、リードリトライを実行する際に所定のトラックのトラック幅の範囲内の半径位置にヘッド１５を配置してこのトラックをリードする場合、このトラックの各セクタを複数のウィンドウに分割し、各ウィンドウを少なくとも１つのセグメントに分割し、セグメント毎にメトリック（例えば、新メトリック）を記録する。システムコントローラ１３０は、各セグメントに対応する各現最適メトリックと各セグメントに対応する各新メトリックとを比較して、各現最適メトリックと各新メトリックとから各新最適メトリックを選択して記録する。
図８に示した例では、システムコントローラ１３０は、セグメントＳｅｇ１に対応する新メトリックＭＮ１を記録し、現最適メトリックＭＣＢ１と新メトリックＭＮ１とを比較して、現最適メトリックＭＣＢ１と新メトリックＭＮ１とか新最適メトリックＭＮＢ１を選択して記録する。
図８に示した例では、システムコントローラ１３０は、セグメントＳｅｇ２に対応する新メトリックＭＮ２を記録し、現最適メトリックＭＣＢ２と新メトリックＭＮ２とを比較して、現最適メトリックＭＣＢ２と新メトリックＭＮ２とか新最適メトリックＭＮＢ２を選択して記録する。
図８に示した例では、システムコントローラ１３０は、セグメントＳｅｇ３に対応する新メトリックＭＮ３を記録し、現最適メトリックＭＣＢ３と新メトリックＭＮ３とを比較して、現最適メトリックＭＣＢ３と新メトリックＭＮ３とか新最適メトリックＭＮＢ３を選択して記録する。
図８に示した例では、システムコントローラ１３０は、セグメントＳｅｇ４に対応する新メトリックＭＮ４を記録し、現最適メトリックＭＣＢ４と新メトリックＭＮ４とを比較して、現最適メトリックＭＣＢ４と新メトリックＭＮ４とか新最適メトリックＭＮＢ４を選択して記録する。
図９は、本実施形態に係るメトリック繋ぎ合わせ処理の一例を示す模式図である。図９に示した例は、図７に対応している。図９において、縦軸は、メトリックを示し、横軸は、時間を示している。図９の縦軸において、メトリックは、大の矢印の先端側に進むに従って大きくなり、小の矢印の先端側に進むに従って小さくなる。図９の縦軸には、メトリックＭ０、Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３、Ｍ４、Ｍ５、Ｍ６、Ｍ７、Ｍ８、及びＭ９を示している。図９の縦軸において、メトリックＭ１は、メトリックＭ０よりも大きく、メトリックＭ２は、メトリックＭ１よりも大きく、メトリックＭ３は、メトリックＭ２よりも大きく、メトリックＭ４は、メトリックＭ３よりも大きく、メトリックＭ５は、メトリックＭ４よりも大きい、メトリックＭ６は、メトリックＭ５よりも大きい。なお、メトリックＭ１及びＭ２は、同じであってもよい、メトリックＭ５及びＭ６は、同じであってもよい。メトリックＭ７は、メトリックＭ６よりも大きく、メトリックＭ８は、メトリックＭ７よりも大きく、メトリックＭ９は、メトリックＭ８よりも大きい。図９の縦軸において、再構成信号及びＦＩＲサンプル信号の２乗誤差に相当するメトリックは、例えば、より小さい方が信号の品質、例えば、ＳＮＲが良好である。なお、ＬＬＲに相当するメトリックは、例えば、より大きい方が信号の品質、例えば、ＳＮＲが良好である。図９の横軸において、時間は、矢印の先端に進むに従って経過する。図９の横軸には、時間ｔ０、ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ３１、ｔ３２、及びｔ４を示している。図９の横軸において、時間ｔ１は、時間ｔ０の後の時間であり、時間ｔ２は、時間ｔ１の後の時間であり、時間ｔ３は、時間ｔ２の後の時間であり、時間ｔ３１は、時間ｔ３の後の時間であり、時間ｔ３２は、時間ｔ３１の後の時間であり、時間ｔ４は、時間ｔ３２の後の時間である。図９の横軸には、ウィンドウＷＤ０は、時間ｔ０から時間ｔ１まで期間に相当し、ウィンドウＷＤ１は、時間ｔ１から時間ｔ２までの期間に相当し、ウィンドウＷＤ２は、時間ｔ２から時間ｔ３までの期間に相当し、ウィンドウＷＤ３は、時間ｔ３から時間ｔ４までの期間に相当する。図９において、時間ｔ１から時間ｔ４までの期間は、例えば、所定のトラックの１つのセクタの円周方向の長さに相当する。
図９には、図７に示すようにリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＴＲＲ０に配置してセクタＳＣ０をリードして取得したメトリックの変化（以下、単にメトリックの変化と称する場合もある）ＲＰＬ１０と、図７に示すようにリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＲＰ１１に配置してセクタＳＣ０をリードして取得したメトリックの変化ＲＰＬ１１と、図７に示すようにリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＲＰ１２に配置してセクタＳＣ０をリードして取得したメトリックの変化ＲＰＬ１２と、図７に示すようにリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＲＰ１２に配置してリードヘッド１５Ｒ２が半径位置ＲＰ２１に位置する状態でリードヘッド内部設定を変更し、Ｒ／Ｗチャネル６０でリードヘッド１５Ｒ１をサブリードヘッドとして処理するように設定し、且つＲ／Ｗチャネル６０でリードヘッド１５Ｒ２をメインリードヘッドとして処理するように設定してセクタＳＣ０をリードして取得したメトリックの変化ＲＰＬ２１と、を示している。メトリックＲＰＬ１０は、時間ｔ０でメトリックＭ０であり、時間ｔ３１でメトリックＭ３であり、時間ｔ３２でメトリックＭ４であり、時間ｔ４でメトリックＭ８である。メトリックＲＰＬ１１は、時間ｔ０でメトリックＭ３であり、時間ｔ３２でメトリックＭ４であり、時間ｔ４でメトリックＭ７である。メトリックＲＰＬ１２は、時間ｔ０でメトリックＭ６であり、時間ｔ４でメトリックＭ９である。メトリックＲＰＬ２１は、時間ｔ０でメトリックＭ１であり、時間ｔ３１でメトリックＭ２であり、時間ｔ４でメトリックＭ５である。また、図９には、各ウィンドウＷＤ０、ＷＤ１、ＷＤ２、及びＷＤ３にける最適メトリックを繋ぎ合わせた合成メトリックの変化（以下、単に合成メトリックと称する場合もある）ＣＳＬを示している。
図９に示した例では、システムコントローラ１３０は、図７に示したセクタＳＣ０をリードする際にリードリトライを実行した場合、図７に示すようにリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＴＲＲ０に配置してセクタＳＣ０をリードしてメトリックの変化ＲＰＬ１０を取得し、図７に示すようにリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＲＰ１１に配置してセクタＳＣ０をリードしてメトリックの変化ＲＰＬ１１と取得し、図７に示すようにリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＲＰ１２に配置してセクタＳＣ０をリードしてメトリックの変化ＲＰＬ１２を取得し、図７に示すようにリードヘッド１５Ｒ１を半径位置ＲＰ１２に配置してリードヘッド１５Ｒ２が半径位置ＲＰ２１に位置する状態でリードヘッド内部設定を変更し、Ｒ／Ｗチャネル６０でリードヘッド１５Ｒ１をサブリードヘッドとして処理するように設定し、且つＲ／Ｗチャネル６０でリードヘッド１５Ｒ２をメインリードヘッドとして処理するように設定してセクタＳＣ０をリードしてメトリックの変化ＲＰＬ２１を取得する。
図９に示した例では、システムコントローラ１３０は、ウィンドウＷＤ０において、セクタＳＣ０のセクタ幅の範囲内の複数の半径位置ＴＲＲ０、ＲＰ１１、ＲＰ１２、及びＲＰ２１にリードヘッド１５Ｒ１又は１５Ｒ２を配置してそれぞれ取得した複数のメトリック内で最も小さいメトリックの変化ＲＰＬ１０のメトリックを最適メトリックとして選択する。システムコントローラ１３０は、ウィンドウＷＤ１において、セクタＳＣ０のセクタ幅の範囲内の複数の半径位置ＴＲＲ０、ＲＰ１１、ＲＰ１２、及びＲＰ２１にリードヘッド１５Ｒ１又は１５Ｒ２を配置してそれぞれ取得した複数のメトリック内で最も小さいメトリックの変化ＲＰＬ１０のメトリックを最適メトリックとして選択する。システムコントローラ１３０は、ウィンドウＷＤ２において、セクタＳＣ０のセクタ幅の範囲内の複数の半径位置ＴＲＲ０、ＲＰ１１、ＲＰ１２、及びＲＰ２１にリードヘッド１５Ｒ１又は１５Ｒ２を配置してそれぞれ取得した複数のメトリック内で最も小さいメトリックの変化ＲＰＬ１０のメトリックを最適メトリックとして選択する。システムコントローラ１３０は、ウィンドウＷＤ３において、セクタＳＣ０のセクタ幅の範囲内の複数の半径位置ＴＲＲ０、ＲＰ１１、ＲＰ１２、及びＲＰ２１にリードヘッド１５Ｒ１又は１５Ｒ２を配置してそれぞれ取得した複数のメトリック内で最も小さいメトリックの変化ＲＰＬ２１のメトリックを最適メトリックとして選択する。システムコントローラ１３０は、ウィンドウＷＤ０の最適メトリックとして選択したウィンドウＷＤ０のメトリックの変化ＲＰＬ１０のメトリックと、ウィンドウＷＤ１の最適メトリックとして選択したウィンドウＷＤ１のメトリックの変化ＲＰＬ１０のメトリックと、ウィンドウＷＤ２の最適メトリックとして選択したウィンドウＷＤ２のメトリックの変化ＲＰＬ１０のメトリックと、ウィンドウＷＤ３の最適メトリックとして選択したウィンドウＷＤ３のメトリックの変化ＲＰＬ２１のメトリックとを繋ぎ合わせて合成メトリックＣＳＬを取得（又は生成）する。
なお、メトリックがＬＬＲ信号の絶対値に相当する場合、システムコントローラ１３０は、各ウィンドウにおいて、所定のセクタのセクタ幅の範囲内の複数の半径位置にリードヘッド１５Ｒ１又は１５Ｒ２を配置してそれぞれ取得した複数のメトリック内で最も大きいメトリックを最適メトリックとして選択する。システムコントローラ１３０は、各ウィンドウで選択した各最適メトリックを繋ぎ合わせて合成メトリックを取得（又は生成）する。
図１０は、本実施形態に係るリード処理の一例を示すフローチャートである。
システムコントローラ１３０は、所定のトラックをリードリトライし（Ｂ１００１）、所定のトラックをリードできるかリードできないかを判定する（Ｂ１００２）。例えば、システムコントローラ１３０は、所定のトラックでリードリトライセクタを検出した場合、このトラックにリードリトライを実行し、このトラックのリードリトライセクタをリードできるかリードできないかを判定する。所定のトラックをリードできると判定した場合（Ｂ１００２のＹＥＳ）、システムコントローラ１３０は、処理を終了する。例えば、所定のトラックのリードリトライセクタをリードできると判定した場合、システムコントローラ１３０は、処理を終了する。所定のトラックをリードできないと判定した場合（Ｂ１００２のＮＯ）、システムコントローラ１３０は、メインリードヘッドを変更する（Ｂ１００３）。言い換えると、所定のトラックをリードできないと判定した場合、システムコントローラ１３０は、メインリードヘッド及びサブリードヘッドを変更する。例えば、所定のトラックのリードリトライセクタをリードできないと判定した場合、システムコントローラ１３０は、メインリードヘッド及びサブリードヘッドを変更する。システムコントローラ１３０は、所定のトラックをリードリトライし（Ｂ１００４）、所定のトラックをリードできるかリードできないかを判定する（Ｂ１００５）。例えば、システムコントローラ１３０は、所定のトラックのリードリトライセクタをリードリトライし、このトラックのリードリトライセクタをリードできるかリードできないかを判定する。所定のトラックをリードできると判定した場合（Ｂ１００５のＹＥＳ）、システムコントローラ１３０は、処理を終了する。例えば、所定のトラックのリードリトライセクタをリードできると判定した場合、システムコントローラ１３０は、処理を終了する。所定のトラックをリードできないと判定した場合（Ｂ１００５のＮＯ）、システムコントローラ１３０は、繋ぎ合わせ処理を実行し（Ｂ１００６）、処理を終了する。例えば、所定のトラックのリードリトライセクタをリードできないと判定した場合、システムコントローラ１３０は、ＦＩＲ信号繋ぎ合わせ処理を実行し、処理を終了する。
図１１は、本実施形態に係る繋ぎ合わせ処理の一例を示すフローチャートである。図１１は、図１０のＢ１００６に示した繋ぎ合わせ処理に相当する。
システムコントローラ１３０は、所定のオフセット量でメインリードヘッドを配置し（Ｂ１１０１）、メインリードヘッドで所定のトラックをリードする（Ｂ１１０２）。言い換えると、システムコントローラ１３０は、所定のトラックのトラック幅の範囲内において所定の半径位置にメインリードヘッドを配置してメインリードヘッドによりこのトラックをリードする。システムコントローラ１３０は、所定のトラックの所定の半径位置にメインリードヘッドを配置してリードしたデータ（又はセクタ）に対応するセグメント毎のＦＩＲサンプル信号を比較してセグメント毎の最適ＦＩＲサンプル信号を選択する（Ｂ１１０３）。言い換えると、システムコントローラ１３０は、所定のトラックの所定の半径位置にメインリードヘッドを配置してメインリードヘッドによりリードしたデータ（又はセクタ）に対応するセグメント毎の現最適ＦＩＲサンプル信号とセグメント毎の新ＦＩＲサンプル信号とから新最適ＦＩＲサンプル信号をセグメント毎に選択して、セグメント毎の新最適ＦＩＲサンプル信号を繋ぎ合わせて合成ＦＩＲサンプル信号を生成する。
システムコントローラ１３０は、リードヘッド内部設定を変更するか変更しないかを判定する（Ｂ１１０４）。言い換えると、システムコントローラ１３０は、Ｒ／Ｗチャネル６０内のメインリードヘッド及びサブリードヘッドの設定を変更するか変更しないかを判定する。リードヘッド内部設定を変更すると判定した場合（Ｂ１１０４のＹＥＳ）、システムコントローラ１３０は、Ｒ／Ｗチャネル６０内でメインリードヘッドを変更し（Ｂ１１０５）、Ｂ１１０２の処理に進む。言い換えると、リードヘッド内部設定を変更すると判定した場合、システムコントローラ１３０は、Ｒ／Ｗチャネル６０内でのメインリードヘッドとサブリードヘッドとの設定を切り替え（又は変更し）、Ｂ１１０２の処理に進む。例えば、リードヘッド内部設定を変更すると判定した場合、システムコントローラ１３０は、Ｒ／Ｗチャネル６０内でメインリードヘッドとして処理するリードヘッド１５Ｒをリードヘッド１５Ｒ１からリードヘッド１５Ｒ２に変更し、Ｒ／Ｗチャネル６０内でサブリードヘッドとして処理するリードヘッド１５Ｒをリードヘッド１５Ｒ２からリードヘッド１５Ｒ１に変更し、Ｂ１１０２の処理に進む。
リードヘッド内部設定を変更しないと判定した場合（Ｂ１１０４のＮＯ）、システムコントローラ１３０は、他のオフセット量でメインリードヘッドにより所定のトラックをリードするかリードしないかを判定する（Ｂ１１０３）。言い換えると、システムコントローラ１３０は、所定のトラックにおいて他の半径位置にメインリードヘッドを配置してこのトラックをリードするかリードしないかを判定する。他のオフセット量でメインリードヘッドにより所定のトラックをリードすると判定した場合（Ｂ１１０３のＹＥＳ）、システムコントローラ１３０は、オフセット量を変更し、Ｂ１１０２の処理に進む。言い換えると、他の半径位置にメインリードヘッドを配置してメインリードヘッドにより所定のトラックをリードすると判定した場合、システムコントローラは、メインリードヘッドを配置する半径位置を変更し、Ｂ１１０２の処理に進む。他のオフセット量でメインリードヘッドにより所定のトラックをリードしないと判定した場合（Ｂ１１０３のＮＯ）、システムコントローラ１３０は、合成ＦＩＲサンプル信号を復号化処理し（Ｂ１１０４）、処理を終了する。言い換えると、他の半径位置にメインリードヘッドを配置してメインリードヘッドにより所定のトラックをリードしないと判定した場合、システムコントローラ１３０は、合成ＦＩＲサンプル信号を復号化処理し、処理を酋長する。
本実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、所定のトラックをリードリトライする。磁気ディスク装置１は、所定のトラックをリードできないと判定した場合、複数のリードヘッド１５Ｒ内でメインリードヘッド及びサブリードヘッドを変更して、このトラックをリードリトライする。磁気ディスク装置１は、所定のオフセット量でメインリードヘッドにより所定のトラックをリードする。言い換えると、磁気ディスク装置１は、所定のトラックのトラック幅の範囲内の所定の半径位置にメインリードヘッドを配置してメインリードヘッドによりこのトラックをリードする。磁気ディスク装置１は、所定のトラックの所定の半径位置にメインリードヘッドを配置してリードしたデータに対応するウィンドウ毎のメトリックを比較してウィンドウ毎の最適メトリックを選択して合成メトリックを生成する。磁気ディスク装置１は、合成メトリックに応じて、所定のトラックの所定の半径位置にメインリードヘッドを配置してリードしたデータに対応するセグメント毎のＦＩＲサンプル信号を比較してセグメント毎の最適ＦＩＲサンプル信号を選択して合成ＦＩＲサンプル信号を生成する。磁気ディスク装置１は、リードヘッド内部設定を変更するか変更しないかを判定する。リードヘッド内部設定を変更すると判定した場合、磁気ディスク装置１は、Ｒ／Ｗチャネル６０内でメインリードヘッドとサブリードヘッドとの設定を変更し、メインリードヘッドによりこのトラックをリードする。磁気ディスク装置１は、リードヘッド内部設定を変更してメインリードヘッドによりリードしたデータに対応するウィンドウ毎のメトリックを比較してウィンドウ毎の最適メトリックを選択して合成メトリックを生成する。磁気ディスク装置１は、合成メトリックに応じて、所定のトラックの所定の半径位置にメインリードヘッドを配置してリードしたデータに対応するセグメント毎のＦＩＲサンプル信号を比較してセグメント毎の最適ＦＩＲサンプル信号を選択して合成ＦＩＲサンプル信号を生成する。磁気ディスク装置１は、合成ＦＩＲサンプル信号を復号化した復号化信号にＬＤＣＰ処理を実行し、リード処理を実行する。そのため、磁気ディスク装置１は、リード処理における信号品質を向上することが可能である。従って、磁気ディスク装置１は、リード処理の品質を向上することができる。
いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
１…磁気ディスク装置、１０…磁気ディスク、１０ａ…ユーザデータ領域、１０ｂ…システムエリア、１２…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、１３…アーム、１４…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１５…ヘッド、１５Ｗ…ライトヘッド、１５Ｒ１、１５Ｒ２…リードヘッド、２０…ドライバＩＣ、３０…ヘッドアンプＩＣ、４０…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、５０…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、６０…リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル、７０…揮発性メモリ、８０…バッファメモリ、９０…不揮発性メモリ、１００…ホストシステム（ホスト）、１３０…システムコントローラ。

Claims (15)

  1. ディスクと、
    前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする第１リードヘッド及び第２リードヘッドとを有するヘッドと、
    前記ディスクの第１トラックの半径方向の第１半径位置に前記第１リードヘッドを配置して前記第１トラックをリードし、前記第１トラックをリードリトライする場合にリード処理時の位置決めの基準となるメインリードヘッドを前記第１リードヘッドから前記第２リードヘッドに変更し、前記第１トラックの半径方向の前記第１半径位置と異なる第２半径位置に前記第２リードヘッドを前記メインリードヘッドとして配置して前記第１トラックをリードし、前記メインリードヘッドに対応する内部設定を変更して前記第１トラックをリードする、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。
  2. 前記コントローラは、前記メインリードヘッドとして前記第２リードヘッドを前記第２半径位置に配置した状態で前記内部設定を変更して前記メインリードヘッドを前記第２リードヘッドから前記第１リードヘッドに変更し、前記第１リードヘッドを前記メインリードヘッドとして前記第１トラックをリードする、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
  3. 前記コントローラは、前記第１トラックを前記メインリードヘッドとしてリードリトライする場合に前記第１トラックの半径方向の前記第１半径位置と異なる第３半径位置に前記第１リードヘッドを配置して前記第１トラックをリードする、請求項２に記載の磁気ディスク装置。
  4. 前記コントローラは、前記第１トラックを前記メインリードヘッドとしてリードリトライする場合に前記第１トラックの半径方向の前記第２半径位置と異なる第４半径位置に前記第２リードヘッドを配置して前記第１トラックをリードする、請求項３に記載の磁気ディスク装置。
  5. 前記コントローラは、前記第１トラックの第１セクタに対応する第１区間毎の第１信号を取得し、前記第１区間毎の第１信号と前記第１区間毎の第２信号とを比較して、前記第１区間毎の前記第１信号と前記第１区間毎の前記第２信号とから前記第１区間毎に最適な第３信号を選択する、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
  6. 前記コントローラは、前記第１区間毎の第３信号を繋ぎ合わせた第４信号を復号する、請求項５に記載の磁気ディスク装置。
  7. 前記コントローラは、前記第１区間毎の前記第３信号に基づいて第２区間毎の第１メトリックを算出し、前記第２区間毎の前記第１メトリックと前記第２区間毎の第２メトリックとを比較して、前記第２区間毎の前記第１メトリックと前記第２区間毎の前記第２メトリックとから前記第２区間毎に最適な第３メトリックを選択し、前記第３メトリックを繋ぎ合わせる、請求項５に記載の磁気ディスク装置。
  8. 前記第１メトリック、前記第２メトリック、及び第３メトリックは、それぞれ、信号雑音比に相当する、請求項７に記載の磁気ディスク装置。
  9. 前記コントローラは、前記第２区間毎の前記第１メトリックと前記第２区間毎の第２メトリックとの内の小さい方を前記第３メトリックとして選択する、請求項８に記載の磁気ディスク装置。
  10. 前記コントローラは、前記第１メトリックとして第５信号と前記第３信号との２乗誤差を算出する、請求項９に記載の磁気ディスク装置。
  11. 前記コントローラは、前記第１信号に基づいて硬判定した第６信号を再構成して前記第５信号を生成する、請求項１０に記載の磁気ディスク装置。
  12. 前記コントローラは、前記第２区間毎の前記第１メトリックと前記第２区間毎の第２メトリックとの内の大きい方を前記第３メトリックとして選択する、請求項８に記載の磁気ディスク装置。
  13. 前記コントローラは、前記第１メトリックとして対数尤度比の絶対値を算出する、請求項１２に記載の磁気ディスク装置。
  14. ディスクと、
    前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする第１リードヘッド及び第２リードヘッドとを有するヘッドと、
    前記ディスクの第１トラックをリードリトライする場合に前記第１リードヘッド又は前記第２リードヘッドをリード処理時の位置決めの基準となるメインリードヘッドとして処理することを設定する内部設定を変更する、リード／ライトチャネルと、を備える、磁気ディスク装置。
  15. ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする第１リードヘッド及び第２リードヘッドとを有するヘッドと、を備える磁気ディスク装置に適用されるリード処理方法であって、
    前記ディスクの第１トラックの半径方向の第１半径位置に前記第１リードヘッドを配置して前記第１トラックをリードし、
    前記第１トラックをリードリトライする場合にリード処理時の位置決めの基準となるメインリードヘッドを前記第１リードヘッドから前記第２リードヘッドに変更し、
    前記第１トラックの半径方向の前記第１半径位置と異なる第２半径位置に前記第２リードヘッドを前記メインリードヘッドとして配置して前記第１トラックをリードし、
    前記メインリードヘッドに対応する内部設定を変更して前記第１トラックをリードする、リード処理方法。
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