JP2021193681A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(i) 質量分析装置10に入る試料(サンプル)29のイオン化を制御する。
(ii) ハイブリッド質量分析装置10の四重極フィルタリングセクション31とイオントラップステージ32とを少なくとも1組のRF電圧で操作してスキャンする。
(iii) イオントラップ38(32)の下部エンドキャップ電極37を少なくとも1つの電圧パルスで制御し、ハイブリッド質量分析装置10のイオントラップステージ32の下流に接続されたイオン検出器50に捉えられる前に蓄積するために、イオンを選択的に開閉する制御を行う。
30 質量フィルタ、 32 アキュムレータセクション
33a 四重極アレイ、 38 イオントラップ
Claims (14)
- サンプルからイオンを生成するためのイオン化装置と、
アキュムレータセクションが付随した質量フィルタであって、前記アキュムレータセクションは当該質量フィルタに統合され、分離されたイオンを当該質量フィルタから放出する前に前記アキュムレータセクションが蓄積する、質量フィルタと、
前記質量フィルタから放出されたイオンを検出するよう構成されたイオン検出器と、
2つのモードで当該質量分析装置を制御するよう構成されたモジュールとを有し、
前記2つのモードの内の第1のモードは、前記分離されたイオンを前記質量フィルタから放出する前に、前記アキュムレータセクションを通し、蓄積せずに放出し、前記2つのモードの内の第2のモードは、前記分離されたイオンを前記質量フィルタから放出する前に、前記アキュムレータセクションで蓄積する、質量分析装置。 - 請求項1において、
前記質量フィルタは四重極アレイを含み、前記アキュムレータセクションはイオントラップアレイを含む、質量分析装置。 - 請求項1または2において、
前記質量フィルタに供給される電場または磁場と同じ電場または磁場を前記アキュムレータセクションに供給するよう構成されたモジュールをさらに有する、質量分析装置。 - 請求項1ないし3のいずれかにおいて、
前記マスフィルタに供給される電場または磁場とは異なる電場または磁場を前記アキュムレータセクションに供給するよう構成されたモジュールをさらに含む、質量分析装置。 - 請求項1ないし4のいずれかにおいて、
前記イオン化装置と、前記質量フィルタと、前記イオン検出器とを一体にするよう構成された筐体をさらに有する、質量分析装置。 - 請求項1ないし5のいずれかにおいて、
前記イオン化装置、前記質量フィルタ、および前記イオン検出器のいずれかを組み合わせるよう構成されたモジュール化部品をさらに有する、質量分析装置。 - 請求項1ないし6のいずれかに記載の質量分析装置と、
前記質量分析装置の出力を用いるよう構成されたモジュールとを含む、システム。 - 請求項7において、
前記モジュールが、前記質量分析装置により検出された前記サンプルに関連する情報を出力するよう構成された出力ユニットを含む、システム。 - 質量分析装置を制御することを含む方法であって、
前記質量分析装置は、サンプルからイオンを生成するためのイオン化装置と、アキュムレータセクションが付随し統合された質量フィルタと、前記質量フィルタから放出されたイオンを検出するためのイオン検出器と、前記質量フィルタおよび前記アキュムレータセクションに供給される電場または磁場を制御するよう構成されたコントローラとを含み、
前記質量分析装置を制御することは、
前記コントローラを用いて、分離されたイオンを前記質量フィルタから放出する前に、前記アキュムレータセクションに蓄積することを含む、方法。 - 請求項9において、
前記質量分析装置を制御することは、
前記コントローラを用いて、前記分離されたイオンを前記質量フィルタから放出する前に、前記アキュムレータセクションを通して、蓄積せずに放出することをさらに含む、方法。 - 請求項9または10において、
前記質量分析装置を制御することは、
前記コントローラを用いて、前記質量分析装置に供給される電場または磁場と同じ電場または磁場を前記アキュムレータセクションに供給することをさらに含む、方法。 - 請求項9ないし11のいずれかにおいて、
前記質量分析装置を制御することは、
前記コントローラを用いて、前記質量分析装置に供給される電場または磁場と異なる電場または磁場を前記アキュムレータセクションに供給することをさらに含む、方法。 - 請求項10において、
前記質量分析装置を用いて、前記放出することを含む第1のモードにより、所定の質量電荷比のセットで、第1のスキャンを行うことと、
前記質量分析装置を用いて、前記蓄積することを含む第2のモードにより、前記質量電荷比のセットで、第2のスキャンを行うこととをさらに含む、方法。 - コンピュータにより質量分析装置を含むシステムを操作するためのコンピュータプログラムであって、前記質量分析装置は、サンプルからイオンを生成するためのイオン化装置と、アキュムレータセクションが付随し統合された質量フィルタと、前記質量フィルタから放出されたイオンを検出するためのイオン検出器とを含み、
前記コンピュータプログラムは、
前記質量分析装置を用いて、分離されたイオンを前記質量分析装置から放出する前に、前記アキュムレータセクションを通して、蓄積せずに放出することを含む第1のモードによる、所定の質量電荷比のセットの第1のスキャンと、
前記質量分析装置を用いて、前記分離されたイオンを前記質量分析装置から放出する前に前記アキュムレータセクションに蓄積することを含む第2のモードによる、前記質量電荷比のセットの第2のスキャンとを実行するための実行可能なコードを含む、コンピュータプログラム。
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