JP2020516031A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(i) 質量分析装置10に入る試料(サンプル)29のイオン化を制御する。
(ii) ハイブリッド質量分析装置10の四重極フィルタリングセクション31とイオントラップステージ32とを少なくとも1組のRF電圧で操作してスキャンする。
(iii) イオントラップ38(32)の下部エンドキャップ電極37を少なくとも1つの電圧パルスで制御し、ハイブリッド質量分析装置10のイオントラップステージ32の下流に接続されたイオン検出器50に捉えられる前に蓄積するために、イオンを選択的に開閉する制御を行う。
Claims (19)
- サンプルからイオンを生成するためのイオン化装置と、
アキュムレータセクションが付随した質量フィルタであって、前記アキュムレータセクションは当該質量フィルタに統合され、分離されたイオンを当該質量フィルタから放出する前に前記アキュムレータセクションが蓄積する、質量フィルタと、
前記質量フィルタから放出されたイオンを検出するよう構成されたイオン検出器とを有する質量分析装置。 - 請求項1において、
前記質量フィルタは四重極アレイを含み、前記アキュムレータセクションはイオントラップアレイを含む、質量分析装置。 - 請求項2において、
前記イオントラップアレイは、円筒型イオントラップアレイを含む、質量分析装置。 - 請求項3において、
前記円筒型イオントラップアレイは、上部エンドキャッププレートと、リング電極プレートと、下部エンドキャッププレートとを含む、質量分析装置。 - 請求項2において、
前記四重極アレイの複数のロッドが、前記イオントラップアレイの複数のリング電極として機能する、質量分析装置。 - 請求項1ないし5のいずれかにおいて、
2つのモードで当該質量分析装置を制御するよう構成されたモジュールをさらに有し、
前記2つのモードの内の第1のモードは、前記分離されたイオンを前記質量フィルタから放出する前に、前記アキュムレータセクションを通し、蓄積せずに放出し、前記2つのモードの内の第2のモードは、前記分離されたイオンを前記質量フィルタから放出する前に、前記アキュムレータセクションで蓄積する、質量分析装置。 - 請求項1ないし6のいずれかにおいて、
前記質量フィルタに供給される電場または磁場と同じ電場または磁場を前記アキュムレータセクションに供給するよう構成されたモジュールをさらに有する、質量分析装置。 - 請求項1ないし7のいずれかにおいて、
前記マスフィルタに供給される電場または磁場とは異なる電場または磁場を前記アキュムレータセクションに供給するよう構成されたモジュールをさらに含む、質量分析装置。 - 請求項1ないし8のいずれかにおいて、
前記イオン化装置と、前記質量フィルタと、前記イオン検出器とを一体にするよう構成された筐体をさらに有する、質量分析装置。 - 請求項1ないし8のいずれかにおいて、
前記イオン化装置、前記質量フィルタ、および前記イオン検出器のいずれかを組み合わせるよう構成されたモジュール化部品をさらに有する、質量分析装置。 - 請求項1ないし10のいずれかにおいて、
前記イオン検出器は、ファラデー検出器を含む、質量分析装置。 - 請求項1ないし11のいずれかに記載の質量分析装置と、
前記質量分析装置の出力を用いるよう構成されたモジュールとを含む、システム。 - 請求項12において、
前記モジュールが、前記質量分析装置により検出された前記サンプルに関連する情報を出力するよう構成された出力ユニットを含む、システム。 - 質量分析装置を制御することを含む方法であって、
前記質量分析装置は、サンプルからイオンを生成するためのイオン化装置と、アキュムレータセクションが付随し統合された質量フィルタと、前記質量フィルタから放出されたイオンを検出するためのイオン検出器と、前記質量フィルタおよび前記アキュムレータセクションに供給される電場または磁場を制御するよう構成されたコントローラとを含み、
前記質量分析装置を制御することは、
前記コントローラを用いて、分離されたイオンを前記質量フィルタから放出する前に、前記アキュムレータセクションに蓄積することを含む、方法。 - 請求項14において、
前記質量分析装置を制御することは、
前記コントローラを用いて、前記分離されたイオンを前記質量フィルタから放出する前に、前記アキュムレータセクションを通して、蓄積せずに放出することをさらに含む、方法。 - 請求項14または15において、
前記質量分析装置を制御することは、
前記コントローラを用いて、前記質量分析装置に供給される電場または磁場と同じ電場または磁場を前記アキュムレータセクションに供給することをさらに含む、方法。 - 請求項14ないし16のいずれかにおいて、
前記質量分析装置を制御することは、
前記コントローラを用いて、前記質量分析装置に供給される電場または磁場と異なる電場または磁場を前記アキュムレータセクションに供給することをさらに含む、方法。 - 請求項15において、
前記質量分析装置を用いて、前記放出することを含む第1のモードにより、所定の質量電荷比のセットで、第1のスキャンを行うことと、
前記質量分析装置を用いて、前記蓄積することを含む第2のモードにより、前記質量電荷比のセットで、第2のスキャンを行うこととをさらに含む、方法。 - コンピュータにより質量分析装置を含むシステムを操作するためのコンピュータプログラムであって、前記質量分析装置は、サンプルからイオンを生成するためのイオン化装置と、アキュムレータセクションが付随し統合された質量フィルタと、前記質量フィルタから放出されたイオンを検出するためのイオン検出器とを含み、
前記コンピュータプログラムは、
前記質量分析装置を用いて、分離されたイオンを前記質量分析装置から放出する前に、前記アキュムレータセクションを通して、蓄積せずに放出することを含む第1のモードによる、所定の質量電荷比のセットの第1のスキャンと、
前記質量分析装置を用いて、前記分離されたイオンを前記質量分析装置から放出する前に前記アキュムレータセクションに蓄積することを含む第2のモードによる、前記質量電荷比のセットの第2のスキャンとを実行するための実行可能なコードを含む、コンピュータプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021153526A JP7117042B2 (ja) | 2017-04-04 | 2021-09-21 | 質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201762481171P | 2017-04-04 | 2017-04-04 | |
US62/481,171 | 2017-04-04 | ||
PCT/JP2018/014441 WO2018186446A1 (en) | 2017-04-04 | 2018-04-04 | Mass analyzer |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021153526A Division JP7117042B2 (ja) | 2017-04-04 | 2021-09-21 | 質量分析装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020516031A true JP2020516031A (ja) | 2020-05-28 |
JP2020516031A5 JP2020516031A5 (ja) | 2020-10-22 |
JP6983423B2 JP6983423B2 (ja) | 2021-12-17 |
Family
ID=63712607
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019553577A Active JP6983423B2 (ja) | 2017-04-04 | 2018-04-04 | 質量分析装置 |
JP2021153526A Active JP7117042B2 (ja) | 2017-04-04 | 2021-09-21 | 質量分析装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021153526A Active JP7117042B2 (ja) | 2017-04-04 | 2021-09-21 | 質量分析装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10957527B2 (ja) |
EP (1) | EP3607577A4 (ja) |
JP (2) | JP6983423B2 (ja) |
CN (1) | CN110392918B (ja) |
WO (1) | WO2018186446A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021102406A1 (en) | 2019-11-22 | 2021-05-27 | MOBILion Systems, Inc. | Mobility based filtering of ions |
EP4133264A4 (en) | 2020-04-06 | 2024-05-01 | Mobilion Systems Inc | SYSTEMS AND METHODS FOR TWO-DIMENSIONAL MOBILITY-BASED FILTRATION OF IONS |
US11874252B2 (en) | 2020-06-05 | 2024-01-16 | MOBILion Systems, Inc. | Apparatus and methods for ion manipulation having improved duty cycle |
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CN102169791B (zh) * | 2010-02-05 | 2015-11-25 | 岛津分析技术研发(上海)有限公司 | 一种串级质谱分析装置及质谱分析方法 |
JP5509437B2 (ja) | 2010-03-01 | 2014-06-04 | 国立大学法人山口大学 | 超音波診断装置 |
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WO2014150040A2 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Thermo Finnigan Llc | Hybrid mass spectrometer and methods of operating a mass spectrometer |
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US20160071709A1 (en) | 2014-09-10 | 2016-03-10 | Bayspec, Inc. | Apparatus and Methods for Controlling Miniaturized Arrays of Ion Traps |
-
2018
- 2018-04-04 EP EP18781657.4A patent/EP3607577A4/en not_active Withdrawn
- 2018-04-04 JP JP2019553577A patent/JP6983423B2/ja active Active
- 2018-04-04 CN CN201880013825.3A patent/CN110392918B/zh active Active
- 2018-04-04 WO PCT/JP2018/014441 patent/WO2018186446A1/en unknown
- 2018-04-04 US US16/482,731 patent/US10957527B2/en active Active
-
2021
- 2021-09-21 JP JP2021153526A patent/JP7117042B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2018186446A1 (en) | 2018-10-11 |
CN110392918A (zh) | 2019-10-29 |
EP3607577A4 (en) | 2021-01-06 |
US20200227247A1 (en) | 2020-07-16 |
CN110392918B (zh) | 2022-06-17 |
JP2021193681A (ja) | 2021-12-23 |
EP3607577A1 (en) | 2020-02-12 |
JP7117042B2 (ja) | 2022-08-12 |
US10957527B2 (en) | 2021-03-23 |
JP6983423B2 (ja) | 2021-12-17 |
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