JP2021180434A - 遅延ロックループデバイスとその動作方法 - Google Patents

遅延ロックループデバイスとその動作方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2021180434A
JP2021180434A JP2020085572A JP2020085572A JP2021180434A JP 2021180434 A JP2021180434 A JP 2021180434A JP 2020085572 A JP2020085572 A JP 2020085572A JP 2020085572 A JP2020085572 A JP 2020085572A JP 2021180434 A JP2021180434 A JP 2021180434A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
delay
clock
copy
time point
loop device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020085572A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6903195B1 (ja
Inventor
晋也 奥野
Shinya Okuno
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Winbond Electronics Corp
Original Assignee
Winbond Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Winbond Electronics Corp filed Critical Winbond Electronics Corp
Priority to JP2020085572A priority Critical patent/JP6903195B1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6903195B1 publication Critical patent/JP6903195B1/ja
Publication of JP2021180434A publication Critical patent/JP2021180434A/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

【課題】本発明は、遅延ロックループデバイスとその動作方法を提供する。【解決手段】遅延ロックループデバイスは、遅延線、コピー回路、位相検出器及び遅延制御器を含む。遅延線は、遅延コードに応じて入力クロックに遅延を行い、遅延クロックを提供する。コピー回路は、遅延クロックに基づいてフィードバッククロックを生成する。位相検出器は、入力クロック及びフィードバッククロックを比較して遅延制御信号を生成する。遅延制御器は、制御クロックに基づき、遅延制御信号に従って第1時間点で遅延コードを生成し、コピー遅延時間長を遅延させ、第2時間点で遅延コードを遅延線に提供する。遅延線は、第2時間点で入力クロックを調整する。制御クロックの周期は、コピー遅延時間長よりも大きくなるように調整される。【選択図】図1

Description

本発明は、遅延ロックループデバイス及び遅延ロックループデバイスの動作方法に関し、特に、任意の入力クロックの周期に適用可能な遅延ロックループデバイス及び遅延ロックループデバイスの動作方法に関する。
一般的に、遅延ロックループ(delay−locked loop,DLL)は、受信した入力クロックをプリセット周期内に所望の遅延クロックに調整するように設定される。但し、入力クロックが比較的小さな周期を有する場合、DLLは、オーバーシフト(over shift)を頻繁に発生し、更に遅延クロックに遅延が不十分又は過剰な状況を発生させる。入力クロックが比較的大きな周期を有する場合、DLLは、オーバーシフトを改善することができるが、DLLが受信した入力クロックをプリセット周期内で所望の遅延クロックに調整することができなくなる。
従って、任意の入力クロックの周期に適用可能な遅延ロックループデバイスを設計することは、当業者が研究に努める課題の1つである。
本発明は、任意の入力クロックの周期に適用可能な遅延ロックループデバイス及び遅延ロックループデバイスの動作方法を提供する。
本発明の遅延ロックループデバイスは、遅延線、コピー回路、位相検出器及び遅延制御器を含む。遅延線は、入力クロックを受信し、複数ビットの遅延コードに反応して入力クロックを遅延させることで遅延クロックを提供するように構成される。コピー回路は、遅延線に結合される。コピー回路は、遅延クロックを受信し、遅延クロックに基づいてフィードバッククロックを生成するように構成される。位相検出器は、コピー回路に結合される。位相検出器は、入力クロックとフィードバッククロックを受信し、入力クロックとフィードバッククロックを比較して遅延制御信号を生成するように構成される。遅延制御器は、位相検出器及び遅延線に結合される。遅延制御器は、制御クロックに基づいて遅延制御信号に従って第1時間点で遅延コードを生成し、コピー遅延時間長を遅延させ、第2時間点で遅延コードを遅延線に提供し、遅延線に第2時間点で入力クロックのタイミングを調整させるように構成される。制御クロックの周期は、コピー遅延時間長よりも大きくなるように調整される。
本発明の動作方法は、遅延ロックループデバイスに適用される。動作方法は、入力クロックを受信し、複数ビットの遅延コードに反応して入力クロックを遅延させることで遅延クロックを提供するステップと、遅延クロックに基づいてフィードバッククロックを生成するステップと、入力クロックとフィードバッククロックを比較して遅延制御信号を生成するステップと、制御クロックに基づいて遅延制御信号に従って第1時間点で遅延コードを生成し、コピー遅延時間長を遅延させ、第2時間点で遅延コードを提供し、第2時間点で入力クロックのタイミングを調整するステップとを含み、制御クロックの周期は、コピー遅延時間長よりも大きくなるように調整される。
上記に基づき、制御クロックの周期は、コピー遅延時間長よりも大きく調整され、遅延ロックループデバイス及び動作方法は、制御クロックに基づいて遅延コードを提供し、遅延コードにコピー遅延時間長の後に入力クロックの位相を調整させる。このように、本発明の遅延ロックループデバイス及び動作方法は、任意の入力クロックの周期に適用することができる。
本発明の第1実施形態による遅延ロックループデバイスの説明図である。 本発明の実施形態による最小周期を有する入力クロックに応用される信号タイミング図である。 本発明の実施形態による最大周期を有する入力クロックに応用される信号タイミング図である。 本発明の実施形態によるスロースキューに応用される信号タイミング図である。 本発明の実施形態によるファーストスキューに応用される信号タイミング図である。 本発明の第2実施形態による遅延ロックループデバイスデバイスの説明図である。 本発明の第3実施形態による遅延ロックループデバイスデバイスの説明図である。 本発明の実施形態による動作方法のフロー図である。
本発明の上記特徴及び利点を分かり易くするために、実施形態を挙げ、図面を合わせて以下のとおり詳細を説明する。
本発明の一部の実施例について、図面に合わせて詳細に説明するが、以下の説明で引用する部材符号は、異なる図面に同じ部材符号が出現する場合、同一又は類似する部材とみなす。これら実施例は、本発明の一部分に過ぎず、本発明の全ての可能な実施形態を開示しているのではない。より正確には、これら実施例は、本発明の特許請求の範囲における装置の範例に過ぎない。
図1を参照し、図1は、本発明の第1実施形態による遅延ロックループデバイス装置の説明図である。遅延ロックループデバイス100は、遅延線110、レプリカ(replica)回路120、位相検出器130及び遅延制御器140を含む。遅延線110は、入力クロックI_CLKを受信し、複数ビットの遅延コードDCDに反応して入力クロックI_CLKを遅延させることで遅延クロックD_CLKを提供する。コピー回路120は、遅延線110に結合される。コピー回路120は、遅延線110からの遅延クロックD_CLKを受信し、遅延クロックD_CLKに基づいてフィードバッククロックFB_CLKを生成する。位相検出器130は、コピー回路120に結合される。位相検出器130は、入力クロックI_CLKとフィードバッククロックFB_CLKを受信し、入力クロックI_CLKとフィードバッククロックFB_CLKを比較して遅延制御信号DCSを生成する。
遅延制御器140は、位相検出器130と遅延線110に結合される。遅延制御器140は、制御クロックCTRL_CLKに基づき、遅延制御信号DCSに従って第1時間点で遅延コードDCDを生成する。本実施形態では、遅延制御信号DCSは、遅延コマンドUP、DNを含む。遅延制御器140は、遅延コマンドUPに従って遅延コードDCDの数値を高める。遅延線110は、数値が高められた遅延コードDCDに基づいて入力クロックI_CLKの遅延を増加させる。一方で、遅延制御器140は、遅延コマンドDNに従って遅延コードDCDを低減させる。遅延線110は、数値が低減された遅延コードDCDに基づいて入力クロックI_CLKの遅延を減少させる。遅延制御器140が第1時間点で遅延コードDCDを生成する時、コピー遅延時間長RDTを遅延させ、第2時間点で遅延コードDCDを遅延線110に提供する。従って、遅延線110は、第2時間点で入力クロックI_CLKのタイミングを調整する。本実施形態では、制御クロックCTRL_CLKの周期は、コピー遅延時間長RDTよりも大きく、コピー遅延時間長RDTに入力クロックI_CLKの周期を加えた時間長よりも小さくなるように調整される。次に、第2時間点の後、遅延制御器140は、制御クロックCTRL_CLKに基づいて別の遅延コードDCDを提供する。
述べておくべきこととして、制御クロックCTRL_CLKの周期は、コピー遅延時間長RDTよりも大きくなるように調整される。即ち、遅延ロックループデバイス100は、コピー遅延時間長RDTの後に制御クロックCTRL_CLKの周期を調整し、制御クロックCTRL_CLKの周期は、コピー遅延時間長RDTよりもやや大きくなる。遅延制御器140は、フィードバッククロックFB_CLKが提供された後に(即ち、少なくとも一つの入力クロックI_CLK周期の時間間隔内に)別の遅延コードDCDを生成することができる。例えば、制御クロックCTRL_CLKの周期は、コピー遅延時間長RDTよりも大きく、コピー遅延時間長RDTに単一の入力クロックI_CLKの周期を加えた時間長よりも小さくなるように調整される。また、別の例として、制御クロックCTRL_CLKの周期は、コピー遅延時間長RDTよりも大きく、コピー遅延時間長RDTに二つの入力クロックI_CLKの周期を加えた時間長よりも小さくなるように調整される。したがって、遅延制御器140は、フィードバッククロックFB_CLKが提供された後に(即ち、一つ或いは二つの入力クロックI_CLK周期の時間間隔内に)別の遅延コードDCDを生成することができる。従って、入力クロックI_CLKが比較的小さい周期を有する場合、遅延ロックループデバイス100は、オーバーシフト(over shift)の状況がない。また、入力クロックI_CLKが比較的大きな周期を有する場合、遅延ロックループデバイス100は、コピー遅延時間長RDTに合わせて調整された制御クロックCTRL_CLKの周期である。従って、遅延ロックループデバイス100の入力クロックI_CLKが所望の遅延クロックD_CLKに調整されるまでの時間長は、延長されない。このように、遅延ロックループデバイス100は、任意の入力クロックI_CLKの周期に適用することができ、且つ規定されたプリセット周期内に受信した入力クロックI_CLKを所望の遅延クロックD_CLKに調整することができる。
例えば、図1と図2Aを同時に参照し、図2Aは、本発明の実施形態による最小周期を有する入力クロックに応用された信号タイミング図である。本実施形態の信号タイミング図は、遅延ロックループデバイス100に適用される。遅延制御器140は、遅延コマンドUPに従って遅延コードDCDの値を高め、入力クロックI_CLKの遅延を増加させる。一方、遅延制御器140は、遅延コマンドDNに従って遅延コードDCDの数値を低減し、入力クロックI_CLKの遅延を減少させる。本実施形態では、遅延制御器140は、制御クロックCTRL_CLKに基づいて遅延制御信号DCSに従って第1時間点t1で遅延コードDCDを生成する。本実施形態では、遅延制御器140は、制御クロックCTRL_CLKの立ち上がりエッジ(rising edge)に基づいて遅延制御信号DCSに関連する遅延コードDCDを生成する。幾つかの実施形態では、遅延制御器140は、制御クロックCTRL_CLKの立ち下がりエッジ(falling edge)に基づいて遅延制御信号DCSに関連する遅延コードDCDを生成する。遅延線110は、第2時間点t2で入力クロックI_CLKのタイミングを調整する。第2時間点t2は、第1時間点t1に対してコピー遅延時間長RDTの遅延を有する。本実施形態では、制御クロックCTRL_CLKの周期は、コピー遅延時間長RDTよりも大きくなるように調整される。従って、遅延制御器140は、制御クロックCTRL_CLK基づいて第2時間点t2以降の第3時間点t3で別の遅延コードDCDを生成する。第3時間点t3と第1時間点t1との間の時間長は、実質上、制御クロックCTRL_CLKの周期に等しい。
本実施形態では、制御クロックCTRL_CLKの周期は、コピー遅延時間長RDTによって決定される。従って、遅延制御器140は、フィードバッククロックFB_CLKが提供された後、単一の入力クロックI_CLKの周期又は単一のフィードバッククロックFB_CLKの周期(入力クロックI_CLKの周期は、実質上、フィードバッククロックFB_CLKの周期に等しい)の時間区間内に別の遅延コードDCDを生成することができる。従って、入力クロックI_CLKが最小の周期を有する場合、遅延ロックループデバイス100は、オーバーシフトの状況を有さない。
例として、図1、図2A、及び図2Bを同時に参照し、図2Bは、本発明の実施形態による最大周期を有する入力クロックに応用された信号タイミング図である。図2Bの信号タイミング図は、遅延ロックループデバイス100にも適用される。本実施形態では、図2Aのコピー遅延時間長RDTは、図2Bのコピー遅延時間長RDTと同じである。従って、本実施形態では、図2Bに示される制御クロックCTRL_CLKの周期は、図2Aに示す制御クロックCTRL_CLKの周期に等しくてもよい。即ち、入力クロックI_CLKが最大周期を有する場合、遅延ロックループデバイス100は、コピー遅延時間長RDTに従って制御クロックCTRL_CLKの周期を調整する。従って、遅延ロックループデバイス100の入力クロックI_CLKが所望の遅延クロックD_CLKに調整されるまでの時間長は、延長されない。
図1、図3A及び図3Bを同時に参照し、図3Aは、本発明の実施形態によるスロースキューに応用される信号タイミング図である。図3Bは、本発明の実施形態によるファーストスキューに応用される信号タイミング図である。図3Aの信号タイミング図及び図3Bの信号タイミング図は、遅延ロックループデバイス100にも適用される。本実施形態では、コピー遅延時間長RDTは、遅延ロックループデバイス100プロセスによって生成されたトランジスタスキュー(skew)に従って調整される。トランジスタスキューは、トランジスタの臨界電圧値によって決定される。例えば、遅延ロックループデバイス100のプロセスに基づき、遅延ロックループデバイス100のトランジスタが比較的大きな臨界電圧値を有する時、それは、遅延ロックループデバイス100のスロースキュー(slow skew)を有する状況を意味し、遅延ロックループデバイス100が比較的大きな遅延を有することになる。図3Aに示すように、コピー遅延時間長RDTは、スロースキューで増加される。コピー遅延時間長RDTがスロースキューで増加されることによって、制御クロックCTRL_CLKの周期も増加される。
別の例では、遅延ロックループデバイス100のトランジスタが比較的小さい臨界電圧値を有する時、これは、遅延ロックループデバイス100がファーストスキュー(fast skew)の状況を有することを意味し、遅延ロックループデバイス100が比較的小さい遅延を有することになる。図3Bに示すように、コピー遅延時間長RDTは、ファーストスキューで低減される。コピー遅延時間長RDTがファーストスキューで低減されることによって、制御クロックCTRL_CLKの周期も低減される。
図4を参照し、図4は、本発明の第2実施形態による遅延ロックループデバイスデバイスの説明図である。第1実施形態と異なるのは、遅延ロックループデバイス200が発振器150を更に含むことである。本実施形態では、発振器150は、遅延制御器140に結合される。発振器150は、制御クロックCTRL_CLKを提供する。本実施形態では、発振器150は、イネーブル信号ESを受信する。発振器150は、イネーブル信号ESに従って有効にされ、制御クロックCTRL_CLKを提供する。
図5を参照し、図5は、本発明第3実施形態による遅延ロックループデバイスデバイスの説明図である。第2実施形態と異なるのは、遅延ロックループデバイス300がイネーブル信号生成器160を更に含むことである。本実施形態では、イネーブル信号生成器160は、発振器150に結合される。イネーブル信号生成器160は、イネーブル信号ESを提供する。本実施形態では、イネーブル信号生成器160は、更に、遅延線110、コピー回路120、位相検出器130及び遅延制御器140に結合される。イネーブル信号生成器160は、イネーブル信号ESにより遅延線110、コピー回路120、位相検出器130及び遅延制御器140も有効にする。
図1と図6を同時に参照すると、図6は、本発明の実施形態による動作方法のフロー図である。ステップS110では、遅延線110は、入力クロックI_CLKを受信し、複数ビットの遅延コードDCDに反応して入力クロックI_CLKを遅延させることで遅延クロックD_CLKを提供する。ステップS120では、コピー回路120は、遅延クロックD_CLKに基づいてフィードバッククロックFB_CLKを生成する。ステップS130では、位相検出器130は、入力クロックI_CLKとフィードバッククロックFB_CLKを比較して遅延制御信号DCSを生成する。ステップS140では、制御クロックに基づき、遅延制御器140は、遅延制御信号DCSに従って第1時間点で遅延コードDCDを生成し、コピー遅延時間長を遅延して第2時間点で遅延コードDCDを提供する。且つ遅延線110は、第2時間点で入力クロックI_CLKのタイミングを調整する。本実施形態のステップS110〜S140の実施の詳細は、少なくとも図1〜図3Bの複数の実施形態で十分な教示を得ることができるため、ここでは繰り返し記載しない。
要約すると、本発明の制御クロックの周期は、コピー遅延時間長よりも大きく、遅延ロックループデバイス及び動作方法は、制御クロックに基づいて遅延コードを提供し、遅延コードにコピー遅延時間長の後に入力クロックの位相を調整させることができる。このように、本発明の遅延ロックループデバイス及び動作方法は、任意の入力クロックの周期に適用することができ、且つ規定されるプリセット期間内に受信した入力クロックを所望の遅延クロックに調整することができる。
本発明は、実施例を上記のように開示したが、本発明を限定するためのものではなく、当業者は、本発明の精神を逸脱しない範囲において、いくらかの変更と修飾を行うことができ、故に本発明の保護範囲は、後述の特許請求の範囲を基準とするものである。
本発明は、遅延ロックループデバイス及びその動作方法に関する。遅延ロックループデバイス及び動作方法は、任意の入力クロックのサイクルに適用することができる。
100、200、300 遅延ロックループデバイス
110 遅延線
120 コピー回路
130 位相検出器
140 遅延制御器
150 発振器
160 イネーブル信号生成器
D_CLK 遅延クロック
DCD 遅延コード
DCS 遅延制御信号
DN、UP 遅延コマンド
ES イネーブル信号
FB_CLK フィードバッククロック
I_CLK 入力クロック
RDT コピー遅延時間長
S110〜S140 ステップ
t1 第1時間点
t2 第2時間点
t3 第3時間点
図1、図3A及び図3Bを同時に参照し、図3Aは、本発明の実施形態によるスロースキューに応用される信号タイミング図である。図3Bは、本発明の実施形態によるファーストスキューに応用される信号タイミング図である。図3Aの信号タイミング図及び図3Bの信号タイミング図は、遅延ロックループデバイス100にも適用される。本実施形態では、コピー遅延時間長RDTは、遅延ロックループデバイス100プロセスによって生成されたトランジスタスキュー(skew)に従って調整される。トランジスタスキューは、トランジスタの閾値圧によって決定される。例えば、遅延ロックループデバイス100のプロセスに基づき、遅延ロックループデバイス100のトランジスタが比較的大きな閾値圧を有する時、それは、遅延ロックループデバイス100のスロースキュー(slow skew)を有する状況を意味し、遅延ロックループデバイス100が比較的大きな遅延を有することになる。図3Aに示すように、コピー遅延時間長RDTは、スロースキューで増加される。コピー遅延時間長RDTがスロースキューで増加されることによって、制御クロックCTRL_CLKの周期も増加される。
別の例では、遅延ロックループデバイス100のトランジスタが比較的小さい閾値圧を有する時、これは、遅延ロックループデバイス100がファーストスキュー(fast skew)の状況を有することを意味し、遅延ロックループデバイス100が比較的小さい遅延を有することになる。図3Bに示すように、コピー遅延時間長RDTは、ファーストスキューで低減される。コピー遅延時間長RDTがファーストスキューで低減されることによって、制御クロックCTRL_CLKの周期も低減される。

Claims (13)

  1. 入力クロックを受信し、複数ビットの遅延コードに反応して前記入力クロックに遅延を行うことで遅延クロックを提供するように構成された遅延線と、
    前記遅延線に結合され、前記遅延クロックを受信し、前記遅延クロックに基づいてフィードバッククロックを生成するように構成されたコピー回路と、
    前記コピー回路に結合され、前記入力クロックと前記フィードバッククロックを受信し、前記入力クロックと前記フィードバッククロックを比較して遅延制御信号を生成するように構成された位相検出器と、
    前記位相検出器及び前記遅延線に結合され、制御クロックに基づいて前記遅延制御信号に従って第1時間点で前記遅延コードを生成し、コピー遅延時間長を遅延させて第2時間点で前記遅延線に前記遅延コードを提供し、前記遅延線に前記第2時間点で前記入力クロックのタイミングを調整する遅延制御器と、
    を含み、
    前記制御クロックの周期は、前記コピー遅延時間長よりも大きい、遅延ロックループデバイス。
  2. 前記遅延制御器は、前記第2時間点の後の第3時間点で別の遅延コードを提供し、前記第3時間点と前記第1時間点の間の時間の長さは、前記制御クロックの周期に略等しい請求項1に記載の遅延ロックループデバイス制御クロック。
  3. 前記コピー遅延時間長は、前記遅延ロックループデバイスのプロセスによって生成されるトランジスタスキューに従って調整され、前記トランジスタスキューは、トランジスタの臨界電圧値によって決定される請求項1又は2に記載の遅延ロックループデバイス制御クロックに基づいて、
  4. 前記コピー遅延時間長は、前記トランジスタスキューのスロースキューに従って増加され、前記コピー遅延時間長は、前記トランジスタスキューのファーストスキューに従って低減される請求項3に記載の遅延ロックループデバイス。
  5. 前記遅延制御器に結合され、前記制御クロックを提供するように構成された発振器を更に含む請求項1〜4の何れか一項に記載の遅延ロックループデバイス。
  6. 前記発振器は、イネーブル信号に従って有効にされて前記制御クロックを提供する請求項5に記載の遅延ロックループデバイス。
  7. 前記発振器に結合され、前記イネーブル信号を提供するように構成されたネーブル信号生成器を更に含む請求項6に記載の遅延ロックループデバイス。
  8. 前記イネーブル信号生成器は、更に、前記遅延線、前記コピー回路、前記位相検出器及び前記遅延制御器に結合され、前記イネーブル信号によって前記遅延線、前記コピー回路、前記位相検出器及び前記遅延制御器を有効にする請求項7に記載の遅延ロックループデバイス。
  9. 入力クロックを受信し、複数ビットの遅延コードに反応して前記入力クロックを遅延させることで遅延クロックを提供するステップと、
    前記遅延クロックに基づいてフィードバッククロックを生成するステップと、
    前記入力クロックと前記フィードバッククロックを比較して遅延制御信号を生成するステップと、
    制御クロックに基づいて前記遅延制御信号に従って第1時間点で前記遅延コードを生成し、コピー遅延時間長を遅延させ、第2時間点で遅延コードを提供し、前記第2時間点で前記入力クロックのタイミングを調整するステップと、
    を含み、
    前記制御クロックの周期は、前記コピー遅延時間長よりも大きい、遅延ロックループデバイスの動作方法。
  10. 前記第2時間点の後の第3時間点は、別の遅延コードを提供することを更に含み、
    前記第3時間点と前記第1時間点との間の時間長は、前記制御クロックの周期に略等しい請求項9に記載の動作方法。
  11. 前記遅延ロックループデバイスのプロセスによって生成されるトランジスタスキューに従って前記コピー遅延時間長を調整し、前記トランジスタスキューは、トランジスタの臨界電圧値によって決定される請求項9又は請求項10に記載の動作方法。
  12. 前記コピー遅延時間長は、前記トランジスタスキューのスロースキューに従って増加され、前記コピー遅延時間長は、前記トランジスタスキューのファーストスキューに従って低減される請求項11に記載の動作方法。
  13. イネーブル信号に従って前記制御クロックを提供するステップを更に含む請求項9に記載の動作方法。
JP2020085572A 2020-05-15 2020-05-15 遅延ロックループデバイスとその動作方法 Active JP6903195B1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020085572A JP6903195B1 (ja) 2020-05-15 2020-05-15 遅延ロックループデバイスとその動作方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020085572A JP6903195B1 (ja) 2020-05-15 2020-05-15 遅延ロックループデバイスとその動作方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP6903195B1 JP6903195B1 (ja) 2021-07-14
JP2021180434A true JP2021180434A (ja) 2021-11-18

Family

ID=76753164

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020085572A Active JP6903195B1 (ja) 2020-05-15 2020-05-15 遅延ロックループデバイスとその動作方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6903195B1 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JP6903195B1 (ja) 2021-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7352218B2 (en) DLL circuit and method of controlling the same
US9148136B2 (en) Semiconductor apparatus and duty cycle correction method thereof
JP4298688B2 (ja) クロック発生回路及びクロック発生方法
USRE45604E1 (en) DLL circuit adapted to semiconductor device
US6445234B1 (en) Apparatus and method for accelerating initial lock time of delayed locked loop
US8390350B2 (en) Clock signal delay circuit for a locked loop circuit
KR20080020346A (ko) 반도체 메모리 장치
US7667510B2 (en) Delay locked loop circuit and method thereof
KR20200084066A (ko) 주파수 분주 클록을 제공하기 위한 장치 및 방법
KR100929654B1 (ko) 레지스터 제어형 지연고정루프회로
US10965292B1 (en) Delay-locked loop device and operation method therefor
JP5105978B2 (ja) 半導体メモリ装置
US8836393B2 (en) Fast measurement initialization for memory
KR102414817B1 (ko) 지연 락 루프 디바이스와 그 동작 방법
US7629821B2 (en) Semiconductor memory device
JP6903195B1 (ja) 遅延ロックループデバイスとその動作方法
US8598927B2 (en) Internal clock generator and operating method thereof
US8638137B2 (en) Delay locked loop
TWI732558B (zh) 延遲鎖相迴路裝置及其操作方法
CN113746475B (zh) 延迟锁相回路装置及其操作方法
KR101145316B1 (ko) 반도체 장치 및 그의 동작 방법
KR100801740B1 (ko) 지연고정루프 제어회로
KR101002925B1 (ko) 지연고정루프회로
KR20120087642A (ko) 고정신호 생성회로 및 이를 포함하는 지연고정루프
JP2011049660A (ja) Dll回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200515

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20201124

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210224

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210608

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210622

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6903195

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150