JP2021141136A - 基板搬送システムおよび大気搬送モジュール - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 202
- 239000012636 effector Substances 0.000 claims description 34
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 abstract description 14
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 abstract description 11
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 80
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000006870 function Effects 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 8
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000009545 invasion Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
- B65G47/74—Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
- B65G47/90—Devices for picking-up and depositing articles or materials
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
- B65G47/74—Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
- B65G47/90—Devices for picking-up and depositing articles or materials
- B65G47/902—Devices for picking-up and depositing articles or materials provided with drive systems incorporating rotary and rectilinear movements
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67184—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the presence of more than one transfer chamber
-
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67196—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the transfer chamber
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
- H01L21/681—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means
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- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
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Abstract
Description
[基板処理システム1の構成]
図1は、第1の実施形態における基板処理システム1の構成の一例を示す平面図である。図2は、図1における基板処理システム1のA−A断面の一例を示す図である。図3は、図2における大気搬送モジュール17のB−B断面の一例を示す図である。図1では、便宜的に一部の装置の内部の構成要素が透過するように図示されている。基板処理システム1は、本体10と、本体10を制御する制御装置100とを備える。
図4は、搬送ロボット20のカバー24の外形の一例を示す平面図である。図4では、カバー24を上から見た場合の外形の一例が図示されている。本実施形態において、カバー24は、後述する傾斜側面を有する。傾斜側面は、第1の部分と第2の部分とを有する。第1の部分は、カバー24の移動方向M1側に形成されており、第2の部分は、カバー24の移動方向M2側に形成されている。第1の部分は、上から見た場合に(平面視で)、移動方向M1に向かって先細の外形を有する。本実施形態において、第1の部分は、平面視で、移動方向M1に向かって先細となる流線形の外形を有する。これにより、搬送ロボット20がガイドレール170に沿って移動方向M1へ移動する場合、移動方向M1と反対方向に対して斜めの方向である方向D1への空気の流れが作られる。
図8は、エンドエフェクタ23の一例を示す図である。エンドエフェクタ23は、本体230、複数のER保持パッド231、および複数の基板保持パッド232を有する。ER保持パッド231はER保持部の一例であり、基板保持パッド232は基板保持部の一例である。
第1の実施形態における基板処理システム1には、基板アライナモジュール15とERアライナモジュール16とが別々に設けられていた。これに対し、本実施形態における基板処理システム1には、基板アライナモジュール15の機能とERアライナモジュール16の機能とを有するアライナモジュール30が1つ設けられている。これにより、基板処理システム1の設置面積をさらに削減することができる。
図11は、第2の実施形態における基板処理システム1の構成の一例を示す平面図である。図12は、図11における基板処理システム1のA−A断面の一例を示す図である。図11では、便宜的に一部の装置の内部の構成要素が透過するように図示されている。真空搬送モジュール11は、本体10と、本体10を制御する制御装置100とを備える。なお、以下に説明する点を除き、図11において、図1と同じ符号が付された構成要素は、図1に例示された構成要素と同一または同様の機能を有するため説明を省略する。
図13は、アライナモジュール30の一例を示す側面図であり、図14は、アライナモジュール30の一例を示す平面図である。アライナモジュール30は、台座31、回転部32、複数のER支持パッド33、複数の基板支持パッド34、複数のリフトピン35、投光部36、および受光部37を備える。ER支持パッド33はER支持部の一例であり、基板支持パッド34は基板支持部の一例である。受光部37は検出部の一例である。
次に、図15〜図18を用いて、アライナモジュール30においてERの位置の調整が行われる場合の手順について説明する。
次に、図19〜図21を用いて、アライナモジュール30において基板Wの位置の調整が行われる場合の手順について説明する。
G ゲートバルブ
L 曲線
M 移動方向
W 基板
1 基板処理システム
10 本体
110 搬送ロボット
11 真空搬送モジュール
12 基板処理モジュール
13 ロードロックモジュール
14 ストレージモジュール
15 基板アライナモジュール
16 ERアライナモジュール
17 大気搬送モジュール
170 ガイドレール
171 キャリア
172 第1の側壁
172a 上側部分
172b 下側部分
173 第2の側壁
175 FFU
176 有孔床
177 排気装置
18 ロードポート
100 制御装置
20 搬送ロボット
21 基台
22 搬送アーム
23 エンドエフェクタ
230 本体
231 ER保持パッド
232 基板保持パッド
24 カバー
25 ブレード
30 アライナモジュール
31 台座
32 回転部
33 ER支持パッド
34 基板支持パッド
35 リフトピン
36 投光部
37 受光部
Claims (16)
- 第1の側壁と前記第1の側壁の反対側にある第2の側壁とを有する大気搬送モジュールと、
前記第1の側壁に取り付けられたロードロックモジュールと、
前記第2の側壁に取り付けられたロードポートと、
前記大気搬送モジュール内に設けられた基板搬送ロボットと
を備え、
前記基板搬送ロボットは、
前記第1の側壁に沿って往復移動する基台と、
前記基台上に設けられた基板搬送アームと、
前記基台を取り囲み、前記基台が移動する際に、前記基台の移動方向と反対方向に対して斜め下の方向への空気の流れを作る整流部と
を有する基板搬送システム。 - 前記整流部は、傾斜側面、下端部、および上端部を有し、
前記傾斜側面は、平面視で下端部から上端部に拡幅しており、これにより前記斜め下の方向への空気の流れを作る請求項1に記載の基板搬送システム。 - 前記整流部の傾斜側面は、移動方向に第1の部分とその反対側の第2の部分とを有し、
前記第1の部分と前記第2の部分のそれぞれは、平面視で前記移動方向に向かって先細の外形を有する請求項1または2に記載の基板搬送システム。 - 前記整流部は、
前記移動方向と反対方向に対して斜め下の方向に沿って延在するブレードである請求項1から3のいずれか一項に記載の基板搬送システム。 - 前記整流部は、前記基台から分離可能である請求項1から4のいずれか一項に記載の基板搬送システム。
- 前記整流部は、前記基台と一体化されている請求項1から4のいずれか一項に記載の基板搬送システム。
- 前記大気搬送モジュール内に設けられ、前記第1の側壁に設けられたガイドレールをさらに有し、
前記基台は、
前記ガイドレールに沿って往復移動する請求項1から6のいずれか一項に記載の基板搬送システム。 - 前記第1の側壁は、上側部分および下側部分を有し、
前記ロードロックモジュールは、前記上側部分に取り付けられ、
前記ガイドレールは、前記下側部分に取り付けられ、
前記下側部分の厚さは、前記上側部分の厚さよりも小さい請求項7に記載の基板搬送システム。 - 前記第1の側壁と前記第2の側壁との間の距離は、700[mm]以下である請求項1から8のいずれか一項に記載の基板搬送システム。
- 前記基板搬送ロボットの移動速度は、800[mm/s]以上である請求項1から9のいずれか一項に記載の基板搬送システム。
- 前記第1の側壁に取り付けられ、基板の位置のずれを調整する基板アライナモジュールを備える請求項1から10のいずれか一項に記載の基板搬送システム。
- 前記第1の側壁に取り付けられ、エッジリングの位置のずれを調整するERアライナモジュールを備え、
前記基板搬送アームは、エッジリングをさらに搬送可能である請求項1から11のいずれか一項に記載の基板搬送システム。 - 前記第1の側壁に取り付けられたアライナモジュールを備え、
前記アライナモジュールは、基板の位置のずれを調整する機能と、エッジリングの位置のずれを調整する機能とを有し、
前記基板搬送アームは、エッジリングをさらに搬送可能である請求項1から10のいずれか一項に記載の基板搬送システム。 - 前記アライナモジュールは、
前記基板搬送アームからエッジリングを受け取るリフトピンと、
前記リフトピンからのエッジリングを支持するER支持部と、
前記基板搬送アームからの基板を支持する基板支持部と、
前記ER支持部および前記基板支持部を回転させることが可能な回転部であり、これにより、前記ER支持部上のエッジリングまたは前記基板支持部上の基板が回転する回転部と、
前記ER支持部が前記回転部によって回転されている間に前記ER支持部上のエッジリングの基準となる形状を検出する検出部と
を有し、
前記検出部は、前記基板支持部が前記回転部によって回転されている間に前記基板支持部上の基板の基準となる形状をさらに検出する請求項13に記載の基板搬送システム。 - 前記基板搬送アームは、
基板保持部およびER保持部の双方を有するエンドエフェクタを有する請求項12から14のいずれか一項に記載の基板搬送システム。 - 第1の側壁と前記第1の側壁の反対側にある第2の側壁とを有する大気搬送モジュールであって、
基板搬送ロボットを備え、
前記基板搬送ロボットは、
前記第1の側壁に沿って往復移動する基台と、
前記基台上に設けられた基板搬送アームと、
前記基台を取り囲み、前記基台が移動する際に、前記基台の移動方向と反対方向に対して斜め下の方向への空気の流れを作る整流部と
を有する大気搬送モジュール。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020035931A JP7454959B2 (ja) | 2020-03-03 | 2020-03-03 | 基板搬送システムおよび大気搬送モジュール |
US17/187,299 US11227785B2 (en) | 2020-03-03 | 2021-02-26 | Substrate transfer system and atmospheric transfer module |
US17/542,249 US11705355B2 (en) | 2020-03-03 | 2021-12-03 | Substrate transfer system and atmospheric transfer module |
US18/139,878 US20240047254A1 (en) | 2020-03-03 | 2023-04-26 | Substrate transfer system and atmospheric transfer module |
JP2024033216A JP2024072834A (ja) | 2020-03-03 | 2024-03-05 | 搬送システムおよびアライナモジュール |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020035931A JP7454959B2 (ja) | 2020-03-03 | 2020-03-03 | 基板搬送システムおよび大気搬送モジュール |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2024033216A Division JP2024072834A (ja) | 2020-03-03 | 2024-03-05 | 搬送システムおよびアライナモジュール |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021141136A true JP2021141136A (ja) | 2021-09-16 |
JP7454959B2 JP7454959B2 (ja) | 2024-03-25 |
Family
ID=77556044
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020035931A Active JP7454959B2 (ja) | 2020-03-03 | 2020-03-03 | 基板搬送システムおよび大気搬送モジュール |
JP2024033216A Pending JP2024072834A (ja) | 2020-03-03 | 2024-03-05 | 搬送システムおよびアライナモジュール |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2024033216A Pending JP2024072834A (ja) | 2020-03-03 | 2024-03-05 | 搬送システムおよびアライナモジュール |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US11227785B2 (ja) |
JP (2) | JP7454959B2 (ja) |
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US20220093438A1 (en) | 2022-03-24 |
US11705355B2 (en) | 2023-07-18 |
US20240047254A1 (en) | 2024-02-08 |
US11227785B2 (en) | 2022-01-18 |
JP2024072834A (ja) | 2024-05-28 |
JP7454959B2 (ja) | 2024-03-25 |
US20210280447A1 (en) | 2021-09-09 |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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