JP2021131301A - 校正支援キット、検証装置、検証支援システムおよび管理システム - Google Patents

Abstract

【課題】分光光度計の校正に関する管理コストを低減しつつ客観性のある性能試験が可能な技術を提供する。【解決手段】分光光度計での測定結果に対する検証のためのデータの取得を制御する取得装置と、取得装置によって取得されたデータを検証する検証装置とを備える検証支援システムにおける校正支援キットであって、取得装置は、分光光度計を識別する識別情報に基づいて、検証に関するデータを取得するための操作手順を得ることと、操作手順に従って校正用機材が装着された分光光度計の動作を制御し、検証に関するデータを取得することと、データに対する検証結果が不明な状態で前記データを記録することと、を実行する制御部を備える。【選択図】図１

Description

本発明は、分光光度計の校正に関する校正支援キット、検証装置、検証支援システムおよび管理システムに関する。

従来より、様々な波長の光を用いて当該光波長の吸収や反射、あるいは透過の度合いを調べ、対象試料を定性的または定量的に分析する装置として分光光度計が知られている。このような装置においては、測定の確かさを検証するための定期的な性能管理が求められる。例えば、特許文献１には、日本分析機器工業会が規定する、ＪＡＩＭＡＳ ０００１
紫外・可視分光光度計の性能表示方法、日本工業標準調査会が規定する、ＪＩＳ Ｋ０１１５ 吸光光度分析通則に従った性能試験方法が開示されている。分光光度計の使用者（管理者）は、上記の性能試験を定期的に実施することで、例えば、装置を構成する構成部品の経年変化や使用頻度による劣化、空気中の埃や粉じん等の付着といった環境による劣化等を検出して装置の校正を図ることが可能になる。

特開２０１１−１６９７１８号公報

ところで、分光光度計においては、測定の確かさを検証するために行われる定期的な性能試験に係る管理コストの増加が課題となっていた。例えば、当該分光光度計の製造メーカや販売代理店、あるいはこれらから委託を受けた専門業者による保守・点検に関するサービスを利用することが想定される。当該サービスを利用することで、ＪＩＳ規格等の規定項目に精通した専門家による検証が行われるため、測定の確かさを検証するための客観性が確保できる利点がある。しかしながら、小規模な分光光度計を使用する使用者等においては、当該サービスの専門性が高いことに起因するトータルコストの増加を避けることは困難であった。

また、分光光度計を使用する使用者側において自主点検を行う場合には、ＪＩＳ規格等の規定項目に従った試験手順書の作成を要し、性能試験に必要な校正用機材（波長範囲の異なる複数種類の光学フィルタ、測定用試料等）の定期校正や来歴管理が求められる。しかし、このような場合では、分光光度計の使用者が行う性能試験の客観性を担保するための仕組みが望まれていた。

本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、分光光度計の校正に関する管理コストを低減しつつ客観性のある性能試験が可能な技術の提供を目的とする。

上記目的を達成するため、本発明の一形態は、分光光度計での測定結果に対する検証のためのデータの取得を制御する取得装置と、取得装置によって取得されたデータを検証する検証装置とを備える検証支援システムにおける校正支援キットとして例示される。本校正支援キットの取得装置は、分光光度計を識別する識別情報に基づいて、検証に関するデータを取得するための操作手順を得ることと、操作手順に従って校正用機材が装着された分光光度計の動作を制御し、検証に関するデータを取得することと、データに対する検証結果が不明な状態で前記データを記録することと、を実行する制御部を備える。

本発明によれば、分光光度計の校正に関する管理コストを低減しつつ客観性のある性能試験を可能にする技術が提供できる。

実施形態に係る校正支援キットを用いた分光光度計の校正を支援するサービス概要を説明する図である。 実施形態に係る校正支援キットの構成の一例を説明する図である。 分光光度計の構成の一例を説明する図である。 実施形態に係る取得装置のハードウェア構成の一例を示す図である。 取得装置の機能構成の一例を示す図である。 検証装置および管理サーバの機能構成の一例を示す図である。 取得装置の性能検証に関するデータの取得処理の一例を示すフローチャートである。 検証装置の判定処理の一例を示すフローチャートである。 管理サーバの履歴管理処理の一例を示すフローチャートである。

以下、図面を参照して、一実施の形態に係る校正支援システムについて説明する。以下の実施形態の構成は例示であり、本校正支援システムは実施形態の構成には限定されない。

図１は、本実施形態に係る校正支援キットを用いた分光光度計の校正を支援する支援サービスの概要を説明する図である。本実施形態に係る校正支援システムは、分光光度計を使用する使用者に配送可能な校正支援キットと、上記分光光度計の性能が所定の基準（検証条件）を満たしているかを判定する検証装置とを構成に含む。そして、本校正支援システムは、校正支援キットと検証装置との協働により、上記の分光光度計の校正を支援する。

図１において、分光光度計の校正を支援する支援サービスの提供者として、分光光度計の製造業者、当該分光光度計を販売する販売業者や代理店、上記組織から委託を受けた保守・点検のサービス業者が例示される。また、支援サービスを利用する利用者は、分光光度計を使用する使用者ともいうことができる。提供者は、例えば、製造業者等によって作成された分光光度計の試験手順書や操作説明書といった各種の資料を管理する（Ａ１ａ）。試験手順書には、例えば、分光光度計による測定の確かさを検証するためのＪＩＳ規格等の規定項目に従った性能試験に関する手順が記載されている。そして、提供者は、上記資料等や性能試験に関連する規格等に基づいて構成された、支援サービスの対象になる分光光度計の校正を支援するための校正支援キット１０を管理する（Ａ１ｂ）。

図２は、本実施形態に係る校正支援キット１０の構成の一例を説明する図である。図２に示すように、校正支援キット１０は、可搬可能な収納ケース１０ａと、当該ケースに収納可能な取得装置１１と、校正用機材１０ｂと、付属品１０ｃとを含み、利用者に配送可能な形態で構成される。付属品１０ｃには、取得装置１１の取扱説明書、電源ケーブルやＡＣアダプタ、マウス、分光光度計との間でデータの授受を行うための接続ケーブル、迷光測定用試料の安全データシート（ＳＤＳ）等が含まれる。

校正用機材１０ｂは、分光光度計の性能試験に要する校正用の機材であり、分光光度計の性能種別に応じて構成される。校正用機材１０ｂとして、例えば、波長範囲の異なる複数種類の光学フィルタ、迷光測定用試料（ヨウ化ナトリウム（ＮａＩ（１０ｇ／Ｌ））水
溶液、亜硝酸ナトリウム（ＮａＮＯ_２）水溶液）、透過率が０％である０％Ｔシャッタ、透過率が１％Ｔの減光板等が例示される。校正用機材１０ｂは、提供者側において、定期的な校正や来歴管理が行われる。

取得装置１１は、校正用機材１０ｂが装着された分光光度計の動作を制御し、測定結果に対する校正の要否を検証するためのデータを取得する情報処理装置である。取得装置１１は、付属品１０ｃに含まれる接続ケーブルを介して分光光度計に接続される。取得装置１１には、試験手順書や操作説明書等に基づいて作成されたアプリケーションソフトウェア（以下、アプリともいう）が格納される。アプリの実行により、取得装置１１は、校正用機材１０ｂが装着された分光光度計の動作を制御し、ＪＩＳ規格等の規定項目に従った性能試験で測定されたデータが取得される。

図１に戻り、校正支援キット１０は、支援サービスの利用者が使用する分光光度計の性能種別に対応した校正用機材１０ｂや付属品１０ｃが収容ケース１０ａに収納された状態で、当該利用者の元に配送される（Ａ１ｃ）。利用者は、校正支援キット１０の付属品１０ｃに含まれる取得装置１１の取扱説明書等を参照し、分光光度計３０と取得装置１１とを接続ケーブルを用いて接続させる。そして、利用者は、電源が投入された取得装置１１で起動されたアプリ（校正ナビソフト）が案内する案内画面に従って、校正用機材１０ｂを分光光度計３０に装着し、現状における当該分光光度計の性能試験を開始する（Ａ１ｄ）。

図３は、分光光度計３０の構成の一例を説明する図である。図３においては、光源にタングステンランプＷＩと、重水素ランプＤ２とを備えるダブルビーム方式の分光光度計３０が例示される。分光光度計３０の測光部３１においては、測定波長に応じて、ヨウ素タングステンランプＷＩと重水素ランプＤ２とのいずれかの光源から放射された光が光源ミラーＭ１で反射され、分光器３１ａの入射スリットＳ１に導入される。光源ミラーＭ１による光源切替えは、制御部３３によって制御される。分光器３１ａに入射した光は、凹面回析格子Ｇ１（格子定数：１／６００ｍｍ、ブレーズ波長：２５０ｎｍ、回析面積：２０ｍｍ×２５ｍｍ））にて波長分散（分光）され、出射スリットＳ２から単色光Ｌ０として出射する。凹面回析格子Ｇ１は、制御部３３によって角度の位置が制御され、分散された単色光Ｌ０の波長を走査（波長走査）することができる。

出射スリットＳ２から出射した単色光Ｌ０は、フィルタＦＬＴを透過してトロイダルミラーＭ２に入射する。トロイダルミラーＭ２で反射された単色光Ｌ０は、ハーフミラーＨＭにより試料側光束と対象側光束に振り分けられる。試料側光束は、平面ミラーＭ３で反射され、試料室３２内の試料用セル３２ａが配置される試料光路に入射する。また、対照側光束は、平面ミラーＭ４で反射され、試料室３２内の対照用セル３２ｂが配置される対照光路に入射する。試料用セル３２ａに入射し、透過した試料側光束は、シリコンフォトダイオード等で構成された検知器３０ａに入射し、光量に応じた電気信号に変換される。同様にして、対照用セル３２ｂに入射し、透過した対照側光束は、シリコンフォトダイオード等で構成された検知器３０ｂに入射し、光量に応じた電気信号に変換される。

検知器３０ａで変換された試料側光束の電気信号および検知器３０ｂで変換された対照側光束の電気信号は、それぞれ制御部３３に出力される。制御部３３においては、各電気信号は増幅およびＡ／Ｄ変換処理を経てデジタル化され、試料側光束および対照側光束の強度値として各種の演算に用いられる。制御部３３で提供される演算機能により、例えば、単一波長における透過率、エネルギー強度、吸光度の測定、所定の波長域における透過率スペクトル、エネルギースペクトル、吸光度スペクトルの測定等が提供される。通信ＩＦ部３４は、外部機器との通信インターフェースである。分光光度計３０は、通信ＩＦ部３４を通じて校正支援キット１０の取得装置１１に接続される。表示部３５は、ＬＣＤ等
の表示デバイスであり、分光光度計３０で測定された透過率等の測定値や、操作に関する案内が表示される。入力部３６は、キーボードやマウス等の入力デバイスであり、入力部３６を介して分光光度計３０を操作する操作者の操作入力が受け付けられる。

図１のＡ１ｄに戻り、取得装置１１のアプリは、利用者からの、分光光度計３０に対する性能試験の開始を示す操作入力を受け付けると、ＪＩＳ規格等の規定項目に対応する測定プロセスを実行する。分光光度計３０の制御部３３は、当該測定プロセスに従って取得装置１１から出力された各種パラメータやコマンド等にしたがって測光部３１の動作を制御する。そして、取得装置１１は、分光光度計３０を通じて測定された、測定プロセスに対応するデータを取得する。取得されたデータは、取得装置１１の備える記憶部の所定の記憶領域に、測定プロセス毎に記録される。取得装置１１のアプリは、分光光度計３０の性能の検証に必要な全ての測定プロセスが終了すると、案内画面上に性能試験の終了を表示させる。

なお、アプリの実行によって提供される機能は、ＪＩＳ規格等の規定項目に従って性能試験を行うための案内（例えば、校正用機材１０ｂの装着操作案内等）と、測定プロセスによって制御された分光光度計３０から検証に関するデータを取得し、記録することである。したがって、この時点では、測定されたデータが所定の条件を満たしているか否かは判定されず、検証結果の合否は不明である。本実施形態においては、利用者の分光光度計３０の性能が所定の基準（検証基準）を満たしているか否かは、提供者側が備える検証装置２０によって判定される。

利用者は、性能試験の終了後、校正支援キット１０を提供者に返送する。校正支援キット１０の取得装置１１が備える記憶部には、ＪＩＳ規格等の規定項目に従って取得された分光光度計３０の検証に関するデータが記録されている（Ａ１ｅ）。提供者側では、利用者から返送された校正支援キット１０の取得総理１１に記録されたデータに基づいて、分光光度計が試料分析等に資する十分な測定精度を維持しているか否かを判定する（Ａ１ｆ）。上記判定は、検証装置２０に搭載された専用のアプリケーションソフトウェア（検証アプリ）の実行によって行われる。

検証アプリを実行する検証装置２０は、取得装置１１が備える記憶部の所定の記憶領域から、分光光度計３０の動作を制御して取得された検証に関するデータを読み出す。そして、検証装置２０は、取得装置１１から読み出されたデータと、性能検証に関する基準データ（検証基準）とを比較し、検証基準を満たしているか否かを判定する。ここで、「基準データ」とは、例えば、分光光度計３０の出荷時に測定されたデータである。検証装置２０は、性能試験によって取得されたデータが、検証基準によって規定される所定の誤差範囲内であるかを判定する。

一例として、分光光度計３０の備える重水素ランプＤ２は、波長；６５６．１ｎｍおよび４８６．０ｎｍにエネルギーピーク（輝線）を有することが知られている。したがって、重水素ランプＤ２のエネルギースペクトルを測定し、６５６．１ｎｍ付近に存在するピークの波長を特定し、当該ピークの波長値を６５６．１ｎｍと比較することで、分光光度計３０の波長正確さが検証される。例えば、性能試験で測定されたピーク波長が６５２．２ｎｍであった場合、真の波長値である６５６．１ｎｍからの誤差は０．１ｎｍとなる。分光光度計３０の波長正確さを検証するための検証基準として、「６５６．１ｎｍ±０．３ｎｍ」の誤差範囲が規定される場合には、測定されたデータは、検証基準を満たしていると判定できる。

検証アプリは、性能試験時に測定された測定プロセス毎のデータに対して検証基準との比較を行い、全てのデータが検証基準を満たしている場合には、分光光度計３０の検証に
関する所定書類（試験成績書、校正証明書等）を作成する。作成された分光光度計３０の検証に関する所定書類は、利用者に送付される（Ａ１ｇ）。なお、性能試験時に測定されたデータの一部が検証基準を満たさない場合には、試験成績書とともに当該試験項目を利用者に連絡し、利用者が意図する以後の対処方針を決定することもできる。対処方針として、例えば、保守・点検に関する専門業者の派遣や、校正支援キット１０を用いた再試験の実行等が例示できる。

図４は、本実施形態に係る取得装置１１のハードウェア構成の一例を示す図である。図４に示すように、取得装置１１は、接続バス１１６によって相互に接続されたプロセッサ１１１、主記憶装置１１２、補助記憶装置１１３、通信ＩＦ１１４、入出力ＩＦ１１５を構成要素に含むコンピュータである。主記憶装置１１２および補助記憶装置１１３は、取得装置１１が読み取り可能な記録媒体である。上記の構成要素はそれぞれ複数に設けられてもよいし、一部の構成要素を設けないようにしてもよい。なお、検証装置２０、管理サーバ４０を構成するコンピュータの構成は、実質的に取得装置１１のハードウェア構成と同等である。

プロセッサ１１１は、取得装置１１全体の制御を行う中央処理演算装置である。プロセッサ１１１は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やＤＳＰ（Digital Signal Processor）等である。プロセッサ１１１は、例えば、補助記憶装置１１３に記憶された
プログラムを主記憶装置１１２の作業領域に実行可能に展開し、当該プログラムの実行を通じて周辺機器の制御を行うことで所定の目的に合致した機能を提供する。

但し、一部または全部の機能が、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）等によって提供されてもよい。同様にして、
一部または全部の機能が、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）、数値演算プロ
セッサ、ベクトルプロセッサ、画像処理プロセッサ等の専用ＬＳＩ（large scale integration）、その他のハードウェア回路で実現されてもよい。また、取得装置１１は、単一
の物理的構成で実現されてもよく、互いに連携する複数台のコンピュータの構成によって実現されてもよい。

主記憶装置１１２は、プロセッサ１１１が実行するプログラム、当該プロセッサが処理するデータ等を記憶する。主記憶装置１１２は、フラッシュメモリ、ＲＡＭ（Random Access Memory）やＲＯＭ（Read Only Memory）を含む。補助記憶装置１１３は、各種のプログラムおよび各種のデータを読み書き自在に記録媒体に格納する。補助記憶装置１１３は、外部記憶装置とも呼ばれる。補助記憶装置１１３には、例えば、ＯＳ（Operating System）、各種プログラム、各種テーブル等が格納される。ＯＳは、例えば、通信ＩＦ１１４を介して接続される外部装置等とのデータの受け渡しを行う通信インターフェースプログラムを含む。外部装置等には、接続ケーブルを用いて接続される分光光度計３０、検証装置２０が含まれる。

補助記憶装置１１３は、主記憶装置１１２を補助する記憶領域として使用され、プロセッサ１１１が実行するプログラムや当該プロセッサの処理するデータ等を記憶する。補助記憶装置１１３は、不揮発性半導体メモリ（フラッシュメモリ、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable ROM））を含むシリコンディスク、ソリッドステートドライブ装置、ハード
ディスクドライブ（ＨＤＤ、Hard Disk Drive）装置等である。なお、補助記憶装置１１
３として、ＣＤドライブ装置、ＤＶＤドライブ装置、ＢＤドライブ装置といった着脱可能な記録媒体の駆動装置を含むこともできる。この場合には、着脱可能な記録媒体として、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリ、ＳＤ（Secure Digital）メモリカード等が例示できる。

通信ＩＦ１１４は、取得装置１１を他の機器に接続させるためのインターフェースである。他の機器には、校正支援対象になる分光光度計、校正支援システムを構成する検証装置等が含まれる。取得装置１１においては、通信ＩＦ１１４は、接続方式に応じて適宜の構成を採用できる。取得装置１１の通信ＩＦ１１４と、分光光度計３０の通信ＩＦ部３４とは、校正支援キット１０の付属品１０ｃに含まれる接続ケーブルを介して接続される。

入出力ＩＦ１１５は、取得装置１１に接続される機器との間でデータの入出力を行うインターフェースである。入出力ＩＦ１１５には、例えば、キーボード、タッチパネルやマウス等のポインティングデバイス、マイクロフォン等の入力デバイスが接続される。取得装置１１は、入出力ＩＦ１１５を介し、入力デバイスを操作する操作者からの操作指示等を受け付ける。また、入出力ＩＦ１１５には、例えば、ＬＣＤ、ＥＬ（Electroluminescence）パネル、有機ＥＬパネル等の表示デバイス、プリンタ、スピーカ等の出力デバイス
が接続される。取得装置１１は、入出力ＩＦ１１５を介し、プロセッサ１１１で処理されるデータや情報、主記憶装置１１２、補助記憶装置１１３に記憶されるデータや情報を出力する。

図５は、取得装置１１の機能構成の一例を示す図である。取得装置１１は、操作案内部１２ａと、測定処理部１２ｂと、データ取得部１２ｃと、試験情報ＤＢ１３と、設定ファイルＤＢ１４と、検証データ１５の機能要素を有する。取得装置１１は、プロセッサ１１１のアプリの実行を通じて、上記機能要素による情報処理機能を提供する。なお、アプリの実行を通じて、上記機能要素を提供するプロセッサ１１１は、制御部１２を構成する。制御部１２は、「制御部」の一例である。また、図５に示す分光光度計３０においては、図３と同様の構成には同一の符号が用いられ、詳細な説明が省略される。

試験情報ＤＢ１３には、分光光度計の性能検証について、ＪＩＳ規格等の規定項目に従った試験を実行するための操作手順に関する情報がメーカ型式毎に格納されている。当該情報には、例えば、性能試験として実行される項目、項目毎の校正用機材１０ｂの着脱指示等のメッセージが含まれる。校正用機材１０ｂの分光光度計３０への着脱においては、使用する校正用機材１０ｂの画像、分光光度計３０内の校正用機材１０ｂが装着される部位を示す画像等が含まれる。取得装置１１に搭載されたアプリは、試験情報ＤＢ１３に格納された情報に基づいて、性能試験として実行される項目毎の案内画面を表示させる。また、試験終了後の校正支援キット１０を提供者側へ返送するための処置を含む案内画面が表示される。利用者は、案内画面に表示された操作案内にしたがって、例えば、校正用機材１０ｂの分光光度計３０への装着や取り外し、試験開始および試験終了に関する操作入力を行う。また、案内画面に表示された案内画面に従って、試験終了後の校正支援キット１０を返送するための処置を行う。

ここで、分光光度計の性能検証に関する試験項目として、次の９項目が例示される。すなわち、１）波長正確さ（重水素ランプ（以下、「Ｄ２ランプ」と称す））、２）波長設定繰返し精度、３）バンドパス／分解、４）測光正確さ、５）測光繰返し精度、６）ノイズレベル、７）ベースライン安定性、８）ベースライン平たん度、９）迷光、である。

項目１）では、Ｄ２ランプから放射される輝線（６５６．１ｎｍ、４８６．０ｎｍ）付近に存在する強度の極大を示す波長（ピーク波長）が走査される。項目２）では、Ｄ２ランプから放射される同一輝線（６５６．１ｎｍ）が複数回にわたって繰返し測定される。項目３）では、Ｄ２ランプから放射される輝線（６５６．１ｎｍ）付近を走査し、分光器３１ａの出射スリットＳ２から出射される単色光のスペクトル幅が測定される。項目４）では、標準物質（校正用機材１０ｂに含まれる複数の光学フィルタ）についての吸光度が測定される。項目５）では、経時変化のない試料（校正用機材１０ｂに含まれる複数の光学フィルタ）の着脱を複数回繰り返し、装着の都度、当該試料の吸光度が測定される。項
目６）では、試料側に何も装着されていない状態で、一定条件下における吸光度の短期間の時間変化が測定される。項目７）では、試料側に何も装着されていない状態で、測定条件を固定し、一定期間内での吸光度の変動幅が測定される。項目８）では、試料側に何も装着されていない状態で、指定波長領域を走査したときの吸光度が測定される。項目９）では、校正用機材１０ｂ（迷光用試料（２種）、０％Ｔシャッタ）を用い、設定波長における光強度と、設定波長以外の波長についての光強度が測定される。

設定ファイルＤＢ１４には、性能試験時において、分光光度計３０の動作を制御するための各種パラメータに関する情報（設定ファイル）がメーカ型式毎に格納されている。取得装置１１のアプリは、試験情報ＤＢ１３に格納された試験情報および設定ファイルＤＢ１４に格納された各種パラメータに関する情報に基づいて分光光度計３０の動作を制御し、規定項目に従った測定プロセス毎のデータを取得する。

ここで、設定ファイルにおける各種パラメータには、測定モードの指定、測定されるデータの種別を示すデータモードの指定（対照側／サンプル側エネルギー強度Ｅ、透過率Ｔ、吸光度Ａｂｓ）、波長走査時の開始波長および終了波長の指定が含まれる。また、波長送り速度（ｎｍ／ｍｉｎ）の指定、測定の繰返し回数の指定、繰返し周期（ｓ）の指定、測定時におけるレスポンスの種別指定（標準、高速、低速）、光源切換モードの指定、光源切換波長（ｎｍ）の指定等が含まれる。例えば、データモードの指定に関し、項目１）から項目３）では、対照側エネルギー強度Ｅが指定され、項目４）から項目８）では、吸光度Ａｂｓが指定され、項目９）では、透過率Ｔが指定される。

検証データ１５は、分光光度計３０の性能試験で測定されたデータが格納される記憶領域である。例えば、提供者によって予め補助記憶装置１１３の記憶領域に割り当てられた、当該提供者以外のアクセスを制限する記録領域が例示される。但し、検証データ１５の記憶領域は、例えば、分光光度計３０のメーカ型式や製造番号、時刻情報等によってデータ測定終了時に暗号化される記憶領域であってもよい。また、予め提供者によって設定されたパスワードや取得装置１１に固有の識別情報（製造番号や提供者の管理番号等）等を用いて暗号化される領域であってもよい。分光光度計３０のメーカ型式や製造番号と、上記パスワードや取得装置１１に固有の識別情報とを組合せて暗号化することもできる。なお、分光光度計３０の性能試験で測定されたデータ自体を、予め設定されたルールに従って暗号化することもできる。この場合には、性能試験の開始時に上記データが格納される記憶領域を割り当てることもできる。検証データ１５の記憶領域は、少なくとも、性能試験によって測定されたデータの客観性を確保するために、提供者以外の他者による改ざんを防止できるものであればよい。

操作案内部１２ａは、接続ケーブルを介して接続された試験対象の分光光度計３０を特定し、当該分光光度計における性能試験の実行に関する操作案内やデータ測定後の校正支援キット１０の返送に関する案内等を行う。操作案内部１２ａは、例えば、接続された分光光度計３０の制御部３３との間で通信を行い、当該分光光度計を識別する識別情報を取得する。識別情報として、分光光度計３０のメーカ型式、製造番号等が例示される。操作案内部１２ａは、接続された分光光度計３０に対して上記識別情報の通知要求を行うと、分光光度計３０の制御部３３は、メモリ等に記録されたメーカ型式、製造番号を読み出して取得装置１１に応答する。操作案内部１２ａは、分光光度計３０からの応答を受け付け、応答に含まれる当該分光光度計の識別情報を主記憶装置１１２の所定の領域に一時的に記憶する。

操作案内部１２ａは、分光光度計３０の識別情報に含まれるメーカ型式を検索キーとして試験情報ＤＢ１３、設定ファイルＤＢ１４を検索し、該当する所定の情報を特定する。試験情報ＤＢ１３からは、試験対象の分光光度計３０に関する試験項目や当該試験を実行
するための操作手順等が特定される。また、設定ファイルＤＢ１４からは、性能試験で実行される各測定プロセスにおいて、分光光度計３０の動作を制御するための各種パラメータに関する情報が特定される。操作案内部１２ａは、特定された試験情報に基づいて、分光光度計３０に応じた性能試験に関する案内画面を取得装置１１の備えるＬＣＤ等の表示デバイスに表示させる。また、操作案内部１２ａは、試験情報ＤＢ１３および設定ファイルＤＢ１４から特定された上記情報を、分光光度計３０の識別情報とともに測定処理部１２ｂに引き渡す。

測定処理部１２ｂは、操作案内部１２ａから引き渡された情報から、分光光度計３０の試験項目、当該試験項目に従った測定プロセスの実行に関する各種パラメータを特定する。そして、測定処理部１２ｂは、特定した各種パラメータに基づいて、分光光度計３０の動作を制御する。パラメータ例として、項目１）の輝線（６５６．１ｎｍ）では、分光光度計３０の動作を制御するパラメータとして、測定モードに“波長走査”が指定され、開始波長“６６０ｎｍ”および終了波長“６５０ｎｍ”が指定される。また、上記波長範囲を走査する波長送り速度に“１００ｎｍ／ｍｉｎ”、データモードに“サンプル側エネルギー強度Ｅ”、レスポンスの種別に“高速”、光源切換モードに“自動切換”、光源切換波長に“３４０ｎｍ”といったパラメータが指定される。他の項目２）から項目９）についても、測定プロセスに応じたパラメータが指定される。

また、測定処理部１２ｂは、性能試験のデータが格納される記憶領域（検証データ）を示す情報を特定するとともに、当該情報をデータ取得部１２ｃに通知する。記憶領域を示す情報には、分光光度計３０の識別情報、取得装置１１の識別番号、日付情報、各測定プロセスを指定する情報（名称、項目番号等）等が含まれる。データ取得部１２ｃは、測定処理部１２ｂから通知された記憶領域に関する情報にしたがって、測定プロセス毎に取得されたデータを当該記憶領域に格納する。

また、データ取得部１２ｃは、分光光度計３０の制御部３３との間の通信を介し、当該分光光度計に含まれる交換部品について、保守・点検に関する情報を取得する。交換部品として、Ｄ２ランプ、ヨウ化タングステンランプＷＩが例示される。保守・点検に関する情報として、上記ランプのそれぞれについての部品番号、使用時間（ｈ）等が例示される。データ取得部１２ｃは、取得した上記情報を性能試験のデータが格納される記憶領域に格納する。

図６は、検証装置２０および管理サーバ４０の機能構成の一例を示す図である。検証装置２０は、取得装置１１が含まれる校正支援キット１０とともに本実施形態に係る校正支援システム１を構成する。校正支援キット１０の取得装置１１と、検証装置２０とは接続される。

また、校正支援システム１の検証装置２０は、ネットワークＮ１に接続され、分光光度計３０の保守・点検を管理する管理サーバ４０に接続される。管理サーバ４０は、例えば、校正支援サービスを提供する事業者の拠点に設けられるコンピュータである。管理サーバ４０では、校正支援キット１０を用いて支援サービスを提供した利用者についての、分光光度計３０の保守・点検に関する履歴が総合的に管理される。ネットワークＮ１は、インターネット等の公衆ネットワーク、携帯電話網等の無線ネットワーク、ＶＰＮ（Virtual Private Network）等の専用ネットワーク、ＬＡＮ（Local Area Network）等のネット
ワークを含む。ネットワークＮ１を通じて接続された校正支援システム１と、管理サーバ４０とは、分光光度計の保守・点検を管理する管理システム２を構成する。ネットワークＮ１には、複数の校正支援システム１が接続し得る。

検証装置２０は、読出し部２１と、判定部２２と、生成部２３と、検証基準ＤＢ２４と
、試験成績書ＤＢ２５、証明書ＤＢ２６、検証データＤＢ２７の機能要素を有する。検証装置２０は、プロセッサの検証アプリの実行を通じて、上記構成要素による情報処理機能を提供する。なお、図６に示す取得装置１１においては、図５と同様の構成には同一の符号を用いられ、詳細な説明が省略される。

検証装置２０は、接続された取得装置１１との間で、予め定められたパスワード等を用いてデータ取得のための相互認証を行う。相互認証に係るパスワード等は、検証装置２０を操作する操作者等からキーボード等の入力デバイスを介して入力される。但し、検証装置２０と取得装置１１との間の相互認証が、パスワードを用いる認証方法に限定されるわけではない。例えば、検証装置２０に搭載された検証アプリを識別する識別番号を、接続された取得装置１１が認証してもよく、検証装置２０の検証アプリが取得装置１１の識別番号等を読み出し、当該識別番号等が予め登録された取得装置１１に合致することを条件として認証してもよい。相互認証により、検証装置２０以外のデータの読出しを制限でき、性能検証に関するデータの改ざんが防止できる。取得装置１１においては、相互認証後に、検証データ１５に格納された性能検証に関するデータへのアクセスが許可される。

相互認証が行われた検証装置２０の表示デバイス上には、取得装置１１の補助記憶装置１１３に予め割り当てられた記憶領域である検証データ１５に格納されたデータファイル等の一覧が表示される。データファイル等には、分光光度計３０の識別情報、取得装置１１の識別番号、日付情報、性能試験時に実行された各プロセスを指定する情報（名称、項目番号等）が含まれる。また、検証装置２０の表示デバイス上には、検証データ１５に格納された、分光光度計３０の交換部品等についての保守・点検に関する情報が表示される。例えば、Ｄ２ランプ、ヨウ化タングステンランプＷＩ等のそれぞれについての部品番号、使用時間（ｈ）等が保守・点検に関する情報として表示される。

操作者は、マウス等のポインティングデバイスを操作し、検証装置２０の表示デバイスに表示されたデータファイルの中から、分光光度計３０の性能検証に係るデータを指定する。検証装置２０の読出し部２１は、操作者の操作入力を受け付け、取得装置１１の検証データ１５から、指定されたデータを取得する。検証装置１１の検証データ１５から取得されたデータは、データファイルに含まれる所定情報とともに検証データＤＢ２７に格納される。読出し部２１は、データファイルに含まれる所定の情報とともに、検証データ１５から取得したデータを判定部２２に引き渡す。

判定部２２においては、検証基準ＤＢ２４に格納された検証基準に基づいて、校正支援キット１０を用いて性能試験が行われた分光光度計３０についての検証基準を満たすか否かの判定が行われる。検証基準ＤＢ２４には、分光光度計３０の識別情報に関連付けされた、検証基準が検証試験のプロセス毎に格納されている。判定部２２は、検証基準ＤＢ２４を参照し、読出し部２１から引き渡された分光光度計３０の識別情報等に基づいて、当該分光光度計３０の性能検証に係る検証基準を取得する。検証基準は、性能試験時に実行されたプロセス毎に取得される。

判定部２２は、読出し部２１から引き渡されたプロセス毎のデータと、検証基準ＤＢ２４から取得したプロセス毎の検証基準とを比較し、分光光度計３０で計測されたデータが検証基準を満たしているか否かを判定する。判定基準の一例として、性能検証に関する項目１）の波長正確さを検証するプロセスにおいては、「±０．３ｎｍ」といった基準範囲が例示される。すなわち、Ｄ２ランプから放射される輝線（６５６．１ｎｍ）付近に存在する強度の極大を示す波長（ピーク波長）として計測されたデータ（波長値）が「６５６．１ｎｍ±０．３ｎｍ」の範囲内であれば検証基準を満たしていると判定される。同様にして、Ｄ２ランプから放射される輝線（４８６．０ｎｍ）付近に存在する強度の極大を示す波長（ピーク波長）として計測されたデータ（波長値）が「４８６．０ｎｍ±０．３ｎ
ｍ」の範囲内であれば検証基準を満たしていると判定される。

他の、性能検証に関する試験項目である、２）波長設定繰返し精度、３）バンドパス／分解、４）測光正確さ、５）測光繰返し精度、６）ノイズレベル、７）ベースライン安定性、８）ベースライン平たん度、９）迷光についても同様である。判定部２２においては、各項目に応じて計測されたデータ値が、対応する検証基準を満たしているか否かが判定される。分光光度計３０の性能検証に関する判定の結果は、生成部２３に引き渡される。判定部２２は、プロセス毎のデータと検証基準、分光光度計３０の識別情報（メーカ型式、識別番号等）、日付情報、プロセス毎の指定情報、プロセス毎の判定結果を生成部２３に引き渡す。

生成部２３においては、判定部２２から引き渡された判定結果を含む各情報に基づいて、分光光度計３０の検証試験に関する試験成績書が生成される。生成部２３は、例えば、試験成績書ＤＢ２５に格納された試験成績書のひな型から、分光光度計３０の識別情報に対応したひな形を取得する。そして、生成部２３は、当該ひな型を使用して、分光光度計３０の性能検証に関する試験成績書を生成する。試験成績書には、例えば、分光光度計３０の識別情報（メーカ型式、識別番号）、試験日付、検証試験時に実行されたプロセス毎の指定情報（名称、項目番号）、各プロセスで計測されたデータのグラフ情報、検証基準、判定の結果（合・否）等が含まれる。また、試験成績書には、当該試験成績書の管理番号、分光光度計３０の性能を検証したサービス提供者の拠点を識別する識別番号、利用者の名称、判定の日付、交換部品等についての保守・点検に関する情報等が含まれる。生成された試験成績書は、分光光度計３０の識別情報、判定の日付情報に関連付けされて試験成績書ＤＢ２５に格納される。

また、生成部２３においては、分光光度計３０に対する校正証明書が生成される。校正証明書は、試験成績書と同様にして生成される。すなわち、生成部２３は、証明書ＤＢ２６に格納された校正証明書のひな型を取得し、当該ひな型を用いて、性能検証が実行された分光光度計３０の校正証明書を生成する。校正証明書には、分光光度計３０の性能を客観的に保証するための各種情報が含まれる。生成された校正証明書は、分光光度計３０の識別情報、分光光度計３０の使用者の名称、校正証明書の発行日付、管理番号、試験成績書の管理番号等に関連付けされて証明書ＤＢ２６に格納される。なお、性能検証において、検証基準を満たさないと判定された分光光度計３０については、提供者側から利用者に対して試験成績書および検証基準を満たさないと判定された試験項目の内訳等が通知される。そして、修理等の処置が行われた当該分光光度計についての再性能検証が行われ、検証基準を満たしていると判定されたときには校正証明書が発行される。

次に、管理サーバ４０を説明する。管理サーバ４０は、履歴管理部４１と、保守管理部４２と、検証基準管理ＤＢ４３と、判定履歴管理ＤＢ４４と、証明書管理ＤＢ４５、検証データ管理ＤＢ４６の機能要素を構成に含む。上記の機能構成は、管理サーバ４０のプロセッサが補助記憶装置等に記憶された各種プログラムやデータを読み出して実行することで提供される。

管理サーバ４０の履歴管理部４１においては、ネットワークＮ１に接続された複数の検証装置２０を通じて、性能検証の支援サービスの提供を受けた利用者の分光光度計３０に関する所定情報の履歴が管理される。例えば、履歴管理部４１は、検証装置２０によって合否判定が行われた分光光度計３０の検証データ、試験成績書、校正証明書を取得する。検証データと試験成績書と校正証明書は、定期的または検証装置２０によって合否判定が行われたときに取得される。履歴管理部４１は、ネットワークＮ１に接続された検証装置２０に対して、試験成績書ＤＢ２５、証明書ＤＢ２６、検証データＤＢ２７に格納されたデータに関し、更新分の通知要求を行う。あるいは、検証装置２０は、分光光度計３０の
合否判定が行われたときには、当該合否判定に係る分光光度計３０の検証データ、試験成績書、校正証明書の取得要求の通知を管理サーバ４０に送信すればよい。

履歴管理部４１は、定期的または分光光度計３０の合否判定が行われたときに取得した検証データと試験成績書と校正証明書を、それぞれ検証データ管理ＤＢ４６、判定履歴管理ＤＢ４４、証明書管理ＤＢ４５のそれぞれに蓄積する。検証データ管理ＤＢ４６においては、分光光度計３０の検証に関するデータが、当該分光光度計の識別情報、検証試験が実施された日付情報、検証装置２０から取得された日付情報とともに管理される。判定履歴管理ＤＢ４４においては、分光光度計３０の性能検証に関する試験成績書が、当該分光光度計の識別情報、検証装置２０から取得された日付情報とともに管理される。また、証明書管理ＤＢ４５においては、検証基準を満たしていると判定された分光光度計３０に発行された校正証明書が、当該分光光度計の識別情報、使用者の名称、検証装置２０から取得された日付情報とともに管理される。

保守管理部４２は、ネットワークＮ１を通じて、性能検証の支援サービスが対象とする分光光度計３０についての検証基準を取得する。検証基準の取得は、分光光度計３０の製造業者や販売代理店等を介して、定期的または分光光度計３０を構成する交換部品等の仕様変更が生じたときに行われる。管理サーバ４０は、ネットワークＮ１に接続された分光光度計３０の製造業者や販売代理店等に設けられた連携するサーバ等に対して検証基準の取得要求を行う。あるいは、分光光度計３０を構成するランプ等の交換部品等に製造中止等による仕様変更が生じたときには、連携するサーバ等から通知を受けて仕様変更後の検証基準を取得する。なお、交換部品等に仕様変更が行われたときには、変更後の部品番号、寿命等に関する情報が検証基準とともに取得される。

保守管理部４２は、取得した検証基準を、検証基準管理ＤＢ４３に蓄積する。検証基準管理ＤＢ４３においては、取得された検証基準が、分光光度計３０の識別情報、当該分光光度計の製造者を識別する情報（名称、事業者コード等）、検証基準が取得された日付情報とともに管理される。また、仕様変更が行われた交換部品等に関する情報（変更後の部品番号、寿命に関する情報）が検証基準とともに管理される。なお、検証基準管理ＤＢ４３に管理された検証基準は、ネットワークＮ１に接続された検証装置２０に対して定期的に通知される。検証装置２０においては、通知された検証基準に基づいて、検証基準ＤＢ２４に格納された情報が更新される。

また、保守管理部４２は、証明書管理ＤＢ４５に格納された校正証明書、判定履歴管理ＤＢ４４に格納された試験成績書、検証データ管理ＤＢ４６に基づいて、分光光度計３０の定期的な保守・点検の時期を推定する。例えば、保守管理部４２は、校正証明書が発行された日付情報に基づいて、分光光度計３０の検証試験に関する更新期日情報を推定する。また、保守管理部４２は、試験成績書や検証データに含まれる交換部品の製造番号や寿命に関する情報、運用時間等に基づいて、当該部品の交換時期を推定する。保守管理部４２は、推定結果に基づいて、分光光度計３０の保守・点検に関する情報（更新期日情報、交換期日情報、交換に関する費用等）を、分光光度計３０の利用者に通知する。管理サーバ４０においては、校正支援キット１０を用いて性能検証の支援サービスを提供した利用者に対し、分光光度計３０の保守・点検を推奨する通知を適宜に行うことが可能になる。

次に、図７から図９を参照して、本実施形態に係る処理の流れを説明する。図７は、分光光度計３０の性能検証に関するデータの取得処理の一例を示すフローチャートである。本フローは、分光光度計３０と接続される校正支援キット１０の取得装置１１で実行される。図７において、処理の開始は、取得装置１１に搭載されたアプリケーションプログラムの起動のときが例示される。処理の開始後、ステップＳ１０１において、接続された分光光度計３０の識別情報が取得されると、処理はステップＳ１０２に進む。識別情報には
、当該分光光度計のメーカ型式、製造番号等が含まれる。ステップＳ１０２において、分光光度計３０の識別情報に基づいて、検証試験を行うための操作手順が特定される。検証試験を行うための操作手順は、試験情報ＤＢ１３から特定される。操作手順が特定されると、取得装置１１の表示画面上には、当該操作手順に基づいて当該分光光度計の性能検証を行うための試験に関する案内画面が表示される。そして、ステップＳ１０３においては、性能試験時における分光光度計３０の動作を制御するための各種パラメータに関する情報（設定ファイル）が特定される。設定ファイルは、設定ファイルＤＢ１４から特定される。設定ファイルが特定されると、検証試験の項目毎の処理プロセスが項目順に実行される。ステップＳ１０３の終了後、処理は、ステップＳ１０４に進む。

ステップＳ１０４においては、実行予定の試験項目に関し、分光光度計３０への校正用機材１０ｂの着脱に関する指示が案内画面に表示されると、処理はステップＳ１０５に進む。ステップＳ１０５においては、当該項目に対する試験開始の操作入力が判定される。ステップＳ１０５において、当該項目に対する試験開始の操作入力が行われた場合には（ステップＳ１０５、“Ｙｅｓ”）、処理はステップＳ１０６に進む。一方、当該項目に対する試験開始の操作入力が行われていない場合には（ステップＳ１０５、“Ｎｏ”）、処理はステップＳ１０４に戻る。

ステップＳ１０６においては、設定ファイルの制御パラメータに従って、分光光度計３０の動作が制御され、当該試験プロセスにおけるデータが取得される。取得されたデータは、補助記憶装置１１３の所定の記憶領域に設けられた検証データ１５に記録される（ステップＳ１０７）。検証データ１５には、取得されたデータが、分光光度計３０の識別情報、取得装置１１の識別番号、日付情報、実行された試験プロセスを指定する情報（名称、項目番号等）とともに記録される。ステップＳ１０７の終了後、処理はステップＳ１０８に進む。

ステップＳ１０８においては、実行中の検証試験における未処理のプロセスが有るか否かが判定される。ステップＳ１０８において、未処理のプロセスが有る場合には（ステップＳ１０８、“Ｙｅｓ”）、ステップＳ１０４に処理が戻り、未処理のプロセスがない場合には（ステップＳ１０８、“Ｎｏ”）、ステップＳ１０９に処理が進む。ステップＳ１０９においては、分光光度計３０の性能を検証するための試験プロセスの終了が通知される。取得装置１１の案内画面上には、“性能検証に関する全ての項目についての試験が終了しました”等のメッセージが表示される。ステップＳ１０９の処理が終了すると本ルーチンを一旦終了する。

次に、図８を説明する。図８は、検証装置２０よって実行される判定処理の一例を示すフローチャートである。本フローにおいては、取得装置１１を通じて取得された、分光光度計３０の性能検証に関するデータが検証基準を満たしているか否かが判定される。

図８において、処理の開始は、取得装置１１に接続された検証装置２０のアプリケーションプログラム（検証アプリ）の起動のときが例示される。検証アプリが起動された検証装置２０においては、接続された取得装置１１との間で、性能検証に関するデータの読出しに対する相互認証が行われる。処理の開始後、ステップＳ１１１においては、相互認証の結果が判定される。ステップＳ１１１において、相互認証が成立した場合には（ステップＳ１１１、“Ｙｅｓ”）、処理はステップＳ１１２に進み、そうでない場合には（ステップＳ１１１、“Ｎｏ”）、本ルーチンを一旦終了する。検証装置２０においては、取得装置１１との間で相互認証が成立すると、当該取得装置の検証データ１５に格納された性能検証に関するデータの読出しが許可される。

ステップＳ１１２において、取得装置１１の検証データ１５から、分光光度計３０の性
能検証に関するデータの読出しが行われる。読み出された性能検証に関するデータは、データファイルに含まれる所定情報（分光光度計３０の識別情報、取得装置１１の識別番号、日付情報、性能試験時に実行された各プロセスを指定する情報（名称、項目番号等））とともに検証データＤＢ２７に格納される。ステップＳ１１２の終了後、処理はステップＳ１１３に進む。ステップＳ１１３においては、検証基準ＤＢ２４を参照し、分光光度計３０に対応する検証基準が取得されると、処理はステップＳ１１４に進み、性能検証に関するデータと検証基準との比較が行われる。ステップＳ１１４においては、分光光度計３０から取得された性能検証に関するデータ値と、検証基準が示す所定の誤差範囲との比較が行われる。そして、処理はステップＳ１１５に進み、分光光度計３０から取得された性能検証に関するデータ値が、検証基準を満たすか否かが判定される。ステップＳ１１５においては、性能検証に関する全ての試験項目について、当該データ値が検証基準の示す所定の誤差範囲内に含まれているかが判定される。ステップＳ１１５において、性能検証に関する全ての試験項目について、当該データ値が検証基準の示す所定の誤差範囲内に含まれている場合には（ステップＳ１１５、“Ｙｅｓ”）、処理はステップＳ１１６に進む。一方、そうでない場合には（ステップＳ１１５、“Ｎｏ”）、処理はステップＳ１１８に進む。ステップＳ１１８では、後述するステップＳ１１６と同様の処理が行われて試験成績書が作成される。ステップＳ１１８の処理後、処理はステップＳ１１９に進む。

ステップＳ１１６においては、分光光度計３０から取得した性能検証に関するデータに基づいて試験成績書が作成される。試験成績書には、分光光度計３０の識別情報（メーカ型式、識別番号）、試験日付、検証試験時に実行されたプロセス毎の指定情報（名称、項目番号）、各プロセスで計測されたデータのグラフ情報、検証基準、判定の結果（合・否）等が含まれる。また、試験成績書には、当該試験成績書の管理番号、分光光度計３０の性能を検証したサービス提供者の拠点を識別する識別番号、利用者の名称、判定の日付、交換部品等についての保守・点検に関する情報等が含まれる。そして、処理は、ステップＳ１１７に進み、検証基準を満たしていると判定された分光光度計３０に対する校正証明書が作成される。校正証明書には、試験成績書と同様にして、分光光度計３０の性能を客観的に保証するための各種情報が含まれる。ステップＳ１１７の処理後、処理はステップＳ１１９に進む。

ステップＳ１１９においては、作成された試験成績書、校正証明書が、それぞれ、試験成績書ＤＢ２５、証明書ＤＢ２６に登録される。なお、校正証明書は、分光光度計３０の識別情報、分光光度計３０の使用者の名称、校正証明書の発行日付、管理番号、試験成績書の管理番号等に関連付けされて証明書ＤＢ２６に格納される。ステップＳ１１９の処理後、本ルーチンを一旦終了する。

次に、図９を説明する。図９は、管理サーバ４０によって実行される履歴管理処理の一例を示すフローチャートである。本フローにおいては、ネットワークＮ１に接続された複数の検証装置２０を通じて、性能検証の支援サービスの提供を受けた利用者の分光光度計３０に関する所定情報の履歴が管理される。ここで、所定情報には、分光光度計３０の性能検証に関するデータ、試験成績書、校正証明書等が含まれる。

図９において、処理の開始は、ネットワークＮ１に接続された複数の検証装置２０からの所定情報（分光光度計３０の性能検証に関するデータ、試験成績書、校正証明書等）のの受け付けのときが例示される。処理の開始後、ステップＳ１２１においては、上記複数の検証装置２０から、分光光度計３０の性能検証に関するデータ、試験成績書、校正証明書等が取得されると、処理はステップＳ１２２に進む。ステップＳ１２２においては、ステップＳ１２１で取得した情報が、対応する管理ＤＢに記録される。例えば、分光光度計３０の性能検証に関するデータは検証データ管理ＤＢ４６に格納され、性能検証に関する判定結果である試験成績書は判定履歴管理ＤＢ４４に格納される。そして、性能検証に関
する試験項目の全てについて検証基準を満たすと判定された分光光度計３０に発行された校正証明書は、証明書管理ＤＢ４５に格納される。ステップＳ１２２の処理後、処理はステップＳ１２３に進む。

ステップＳ１２３においては、所定情報の履歴が管理される分光光度計毎に、次回の保守・点検時期（性能検証を含む）が推定される。例えば、証明書管理ＤＢ４５に格納された校正証明書からは、当該証明書の発行日付と校正保証期間とに基づいて、次回の保守・点検時期が推定される。また、判定履歴管理ＤＢ４４に格納された試験成績書に含まれる交換部品の識別番号、運用時間と、当該交換部品の寿命に関する情報とに基づいて、次回の部品交換に関する時期等が推定される。ステップＳ１２３の処理後、本ルーチンを一旦終了する。

管理サーバ４０を運用する事業者等は、推定された保守・点検時期に基づいて、分光光度計３０を使用する使用者（利用者）等に対して、次回の保守・点検に関する通知を行うことができる。また、推定された交換部品の交換時期に基づいて、部品交換に関する通知を行うことができる。

以上、説明したように、本実施形態に係る校正支援システム１では、支援サービスを利用する利用者に配送可能な校正支援キット１０と、当該校正支援キットを用いて取得された性能検証に関するデータの、検証基準を満たしているか否かを判定する検証装置２０を含む構成とした。このような構成を採用することにより、分光光度計３０使用する使用者においては、製造メーカや販売代理店等の専門業者による保守・点検サービスを利用する場合に比べ、トータルコストを軽減することが可能になる。そして、本実施形態においても、ＪＩＳ規格等の規定項目に精通した専門家による検証が行われるため、測定の確かさを検証するための客観性が確保できる。さらに、自主点検を行う場合に比べて、性能試験に必要な校正用機材（波長範囲の異なる複数種類の光学フィルタ、測定用試料等）の定期校正や来歴管理を行う必要がない。本実施形態に係る校正支援システム１によれば、分光光度計の校正に関する管理コストを低減しつつ客観性のある性能試験が可能になる。

また、本実施形態においては、校正支援キット１０で取得される分光光度計の性能検証に関するデータは、検証結果が不明な状態で記録することができる。また、本実施形態においては、取得装置１１においては、分光光度計の性能検証に関するデータを、所定の検証基準（検証データ）と比較できない状態で記録できる。このため、当該データ取得時において、データの改ざんを抑止することが可能になる。また、校正支援キット１０で取得される分光光度計の性能検証に関するデータの検証結果は、相互認証が成立した検証装置２０に限定して判定できる。このため、校正支援キット１０の取得装置１１に検証装置２０以外の情報処理装置を接続させてもデータの読出しは不許可であるため、性能検証に関するデータ取得後の意図的なデータ改ざんが防止できる。なお、取得装置１１においては、分光光度計の性能検証に関するデータを暗号化して記録するとしてもよい。さらに、性能検証に関するデータは、実行された処理プロセス毎に記録されるとしてもよい。校正支援キット１０を用いた性能検証に関するデータ測定のセキュリティを向上できる。

また、本実施形態においては、校正支援キット１０は、少なくとも波長範囲が異なる複数種類の光学フィルタ、迷光測定用試料の内の一の校正用機材を含むことができる。このため、分光光度計３０の型式や種別の細分化に対応した支援サービスが提供可能になる。

また、本実施形態においては、分光光度計３０を識別する識別情報に基づいて、検証に関するデータを取得するための操作手順を得るように構成した。取得装置１１においては、操作手順に従って、性能検証に関するデータを測定するためのガイダンスを表示デバイス上に表示できる。また、識別情報に関連付けされた設定ファイルにしたがって、分光光
度計３０の検証に関するデータを取得するための測定プロセスを実行するよう構成した。このため、性能検証に関するデータを測定する際の、分光光度計３０および校正支援キット１０に対するユーザ操作を簡略化できる。この結果、当該システムが提供する支援サービスの利用者に対するサービスビリティを向上させることができる。

また、本実施形態においては、検証装置２０は、データの取得後に回収された校正支援キットに含まれる取得装置から読み出したデータが、検証基準（分光光度計３０の出荷時に測定された基準データに対する検証条件）を満たしている場合には、検証に関する校正証明書を生成できる。このため、性能検証に関する判定結果を利用者に通知する際の、資料作成に係る手間を低減することが可能になる。

また、本実施形態においては、管理サーバ４０は、複数の分光光度計ごとに、検証に関するデータ、判定結果、および、検証の証明書の少なくとも１つを検証に関するデータの取得時期とともに履歴データとして記憶することができる。そして、履歴データから、複数の分光光度計のそれぞれに対する保守サービスの提供時期を推定することができる。この結果、管理サーバ４０を運用する事業者等は、推定された保守・点検時期に基づいて、分光光度計３０を使用する使用者（利用者）等に対して、きめ細やかな保守・点検サービスが提供できる。

《コンピュータが読み取り可能な記録媒体》
情報処理装置その他の機械、装置（以下、コンピュータ等）に上記何れかの機能を実現させるプログラムをコンピュータ等が読み取り可能な記録媒体に記録することができる。そして、コンピュータ等に、この記録媒体のプログラムを読み込ませて実行させることにより、その機能を提供させることができる。

ここで、コンピュータ等が読み取り可能な記録媒体とは、データやプログラム等の情報を電気的、磁気的、光学的、機械的、または化学的作用によって蓄積し、コンピュータ等から読み取ることができる記録媒体をいう。このような記録媒体のうちコンピュータ等から取り外し可能なものとしては、例えばフレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ／Ｗ、ＤＶＤ、ブルーレイディスク、ＤＡＴ、８ｍｍテープ、フラッシュメモリなどのメモリカード等がある。また、コンピュータ等に固定された記録媒体としてハードディスクやＲＯＭ等がある。

１ 校正支援システム
２ 管理システム
１０ 校正支援キット
１１ 取得装置
１２ 制御部
１３ 試験情報ＤＢ
１４ 設定ファイルＤＢ
１５ 検証データ
２０ 検証装置
２１ 読出し部
２２ 判定部
２３ 生成部
２４ 検証基準ＤＢ
２５ 試験成績書ＤＢ
２６ 証明書ＤＢ
２７ 検証データＤＢ
３０ 分光光度計
４０ 管理サーバ
４１ 履歴管理部
４２ 保守管理部
４３ 検証基準管理ＤＢ
４４ 判定履歴管理ＤＢ
４５ 証明書管理ＤＢ
４６ 検証データ管理ＤＢ

Claims (10)

1. 分光光度計での測定結果に対する検証のためのデータの取得を制御する取得装置と、前記取得装置によって取得されたデータを検証する検証装置とを備える検証支援システムにおける校正支援キットであって、
   前記取得装置は、
   前記分光光度計を識別する識別情報に基づいて、前記検証に関するデータを取得するための操作手順を得ることと、
   前記操作手順に従って校正用機材が装着された前記分光光度計の動作を制御し、前記検証に関するデータを取得することと、
   前記データに対する検証結果が不明な状態で前記データを記録することと、
   を実行する制御部を備える校正支援キット。
2. 前記制御部は、記録される前記データを検証するための検証データとの比較が出来ない状態で前記データを記録する請求項１に記載の校正支援キット。
3. 前記制御部は、前記データを暗号化して記録する請求項１または２に記載の校正支援キット。
4. 前記校正用機材は、少なくとも波長範囲が異なる複数種類の光学フィルタ、迷光測定用試料の内の一の機材を含む、請求項１から３のいずれか１項に記載の校正支援キット。
5. 前記制御部は、前記識別情報に関連付けされた設定ファイルにしたがって、前記分光光度計の検証に関するデータを取得するための測定プロセスを実行する、請求項１から４のいずれか１項に記載の校正支援キット。
6. 前記測定プロセスは、少なくとも、光源の波長正確さ、測光正確さ、迷光の度合い、波長設定繰り返し精度、バンドパス・分解能、測光繰り返し精度、ベースライン平たん度、ベースライン安定性、ノイズレベルの内の一のデータを測定するためのプロセスを含む、請求項５に記載の校正支援キット。
7. 前記制御部は、前記実行された測定プロセス毎に取得されたプロセスデータを記録する、請求項５または６に記載の校正支援キット。
8. 分光光度計での測定結果に対する検証のためのデータの取得後に回収された校正支援キットに含まれる取得装置から前記データを読み出すことと、
   前記データが、前記分光光度計の出荷時に測定された基準データに対する検証条件を満たしているかを判定することと、
   前記データが、前記検証条件を満たすときには、前記分光光度計に対する検証の証明書を生成することと、
   を実行する検証装置。
9. 分光光度計での測定結果に対する検証のためのデータの取得を制御する取得装置を有し、前記分光光度計を管理する管理元に配送可能な校正支援キットと、
   前記取得装置によって取得されたデータを検証する検証装置と、を備える検証支援システムであって、
   前記取得装置は、
   前記分光光度計を識別する識別情報に基づいて、前記検証に関するデータを取得するための操作手順を得ることと、
   前記操作手順にしたがって前記校正用機材が装着された前記分光光度計を制御し、前記
   検証に関するデータを取得することと、
   前記データに対する検証結果が不明な状態で前記データを記録することと、
   を実行する制御部を備え、
   前記検証装置は、
   前記分光光度計での測定結果に対する検証のためのデータの取得後に回収された校正支援キットに含まれる取得装置から前記データを読み出すことと、
   前記データが、前記分光光度計の出荷時に測定された基準データに対する検証条件を満たしているかを判定することと、
   前記データが、前記検証条件を満たすときには、前記分光光度計に対する検証の証明書を生成することと、
   を実行する検証支援システム。
10. サーバと、分光光度計での測定結果に対する検証のためのデータの取得を制御する取得装置を有する校正支援キットと、前記取得装置によって取得されたデータを検証する検証装置とを備える管理システムであって、
    前記サーバは、
    複数の前記分光光度計ごとに、前記検証に関するデータ、基準データに対する判定結果、および、前記検証の証明書の少なくとも１つを前記検証に関するデータの取得時期とともに履歴データとして、記憶することと、
    前記履歴データから、複数の前記分光光度計のそれぞれに対する保守サービスの提供時期を推定することと、を実行する管理システム。

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