JP2021117029A - コンデンサの監視装置 - Google Patents

Abstract

【課題】コンデンサの異常判定における誤判定を防止し、監視対象のコンデンサの劣化状況をより正確に把握できるコンデンサの監視装置を得ることを目的とする。【解決手段】コンデンサの監視装置１００は、監視対象のコンデンサのコンデンサ容量を演算する計測部１０Ａ〜１０Ｃと、コンデンサのコンデンサ容量を含むコンデンサ容量データＣｄを計測部から取得して、コンデンサ容量に基づいて監視対象のコンデンサの異常の有無を判定するデータ処理部２０とを備え、データ処理部２０は、複数のコンデンサ容量データＣｄにより構成される配列データを、予め定められたコンデンサ容量の幅を一区間とする区間Ａ〜Ｋで分割し、最も多くのコンデンサ容量データが含まれる区間を最頻区間として決定した後、最頻区間の中央値Ｃ１と予め定められた閾値ｔｈとを比較することにより、コンデンサの異常の有無を判定する。【選択図】図３

Description

本願は、コンデンサの監視装置に関するものである。

従来のコンデンサの監視装置は、監視対象のコンデンサ容量を一定時間毎に計測して１日の平均計測値を取得し、この平均計測値と寿命判断の閾値とを比較することで異常判定を行っていた（例えば、特許文献１参照）。

特開２０１１−１７４７９７号公報（明細書段落００３９−００４７、図５）

しかしながら、上記のようなコンデンサの監視装置では、平均計測値計算の基礎となる計測値のうち、例えば半数以上が一時的な外部要因により大きく低下した場合、監視対象のコンデンサのコンデンサ容量が正常であっても異常判定をしてしまう虞がある。このような外部要因としては、いわゆるフレッティングコロージョンに起因するコネクタ部の接触抵抗上昇などが挙げられる。すなわち、スイッチギヤまたは配電盤において、遮断器の動作に伴う微小振動により電子機器のコネクタ部のめっきが剥がれ、剥がれためっきが通電電流により酸化することでコネクタ部の接触抵抗が上昇することがある。そして、このようなコネクタ部の接触抵抗の上昇はコンデンサ容量の計測値を実際の値よりも小さくしてしまう。フレッティングコロージョン等による接触抵抗の上昇が起こりうる場合は、コンデンサ容量が実際の値よりも小さく計測されるため、監視対象のコンデンサに対する正確な異常判定を行えず、監視対象のコンデンサの劣化状況を正確に把握できない虞があるという問題点がある。

本願は、上記のような課題を解決するための技術を開示するものであり、コンデンサの異常判定における誤判定を防止し、監視対象のコンデンサの劣化状況をより正確に把握できるコンデンサの監視装置を得ることを目的とする。

本願に開示されるコンデンサの監視装置は、直列に接続された放電抵抗と放電スイッチとを含み、監視対象のコンデンサと並列に接続された放電回路と、放電スイッチを導通させることによりコンデンサを放電させ、放電によるコンデンサの電圧降下値を用いてコンデンサのコンデンサ容量を演算する計測部と、コンデンサのコンデンサ容量を含むコンデンサ容量データを計測部から取得して、コンデンサ容量に基づいてコンデンサの異常の有無を判定するデータ処理部とを備えるコンデンサの監視装置であって、データ処理部は、複数のコンデンサ容量データにより構成される配列データを、予め定められたコンデンサ容量の幅を一区間とする区間で分割し、最も多くのコンデンサ容量データが含まれる区間を最頻区間として決定した後、最頻区間の代表値と予め定められた閾値とを比較することにより、コンデンサの異常の有無を判定するものである。

本願に開示されるコンデンサの監視装置によれば、コンデンサの異常判定における誤判定を防止し、監視対象のコンデンサの劣化状況をより正確に把握することができる。

実施の形態１におけるコンデンサの監視装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態１に係る計測部の構成を示す回路図である。 実施の形態１に係るコンデンサ容量データの処理について説明する図である。 実施の形態１におけるコンデンサの監視装置を示すハードウェア構成図である。 実施の形態１におけるコンデンサの監視装置の動作を示すフロー図である。 実施の形態２に係るコンデンサ容量データの処理について説明する図である。 実施の形態２におけるコンデンサの監視装置の動作を示すフロー図である。 実施の形態２に係るコンデンサ容量データの処理について説明する図である。 実施の形態３におけるコンデンサの監視装置の動作を示すフロー図である。

実施の形態１．
実施の形態１を図１から図５に基づいて説明する。図１は、実施の形態１におけるコンデンサの監視装置の構成を示すブロック図である。コンデンサの監視装置１００は、それぞれの監視対象のコンデンサのコンデンサ容量を計測する複数の計測部１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃと、計測部１０Ａ〜１０Ｃの計測結果に対して所定の演算を施し、コンデンサの異常判定を行うデータ処理部２０と、データ処理部２０の演算結果などを記憶する記憶部３０と、監視対象のコンデンサに異常があると判定された場合に警報を発報する警報部４０と、監視対象のコンデンサの状況を表示する表示部５０とを備えている。

計測部１０Ａ〜１０Ｃは、それぞれの監視対象のコンデンサについて、そのコンデンサ容量を複数回計測し、計測したコンデンサ容量をコンデンサ容量データＣｄとしてデータ処理部２０に伝送する。

データ処理部２０は、計測部１０Ａ〜１０Ｃからのコンデンサ容量データＣｄを統計的に処理することにより、計測部１０Ａ〜１０Ｃがそれぞれ監視対象とするコンデンサついて異常判定を行い、警報の発報が必要か否かを判定する。データ処理部２０は、異常が判定されたコンデンサについて、警報部４０に対して発報指示を出力する。

記憶部３０は、異常判定用の閾値を予め記憶するとともに、計測部１０Ａ〜１０Ｃによるコンデンサ容量の計測結果およびデータ処理部２０による演算、および判定結果などをログとして記憶する。記憶部３０が記憶するログには、それぞれの監視対象のコンデンサの毎に、コンデンサ容量データＣｄ、異常判定を実施した日時、および判定結果などの情報が含まれている。

次に、計測部１０Ａの構成について、より具体的に説明する。図２は、実施の形態１に係る計測部の構成を示す回路図である。計測部１０Ａは、監視対象のコンデンサであるコンデンサ１２のコンデンサ容量を計測するものであり、電源１３と、放電回路１４と、抵抗分圧回路１５と、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換回路１６と、制御演算部１７とを備える。コンデンサ１２、放電回路１４、および抵抗分圧回路１５は、互いに並列に接続されている。

電源１３は、コンデンサ１２に直流電力を供給して電力エネルギーを蓄積させるＤＣ電源１３ａと、コンデンサ１２とＤＣ電源１３ａとの間に接続され、コンデンサ１２に印加する電圧の大きさを調整するＤＣ／ＤＣコンバータ１３ｂとを有する。放電回路１４は、互いに直列に接続された放電抵抗１４ａ（抵抗値Ｒｄ）および放電スイッチ１４ｂを有する。放電スイッチ１４ｂは、例えばトランジスタであり、そのスイッチングにより、コンデンサ１２に蓄積された電力エネルギーを放電させる。抵抗分圧回路１５は、コンデンサ１２のコンデンサ電圧を分圧するためのものであり、互いに直列に接続された第１の抵抗１５ａ（抵抗値Ｒ１）および第２の抵抗１５ｂ（抵抗値Ｒ２）を有する。

Ａ／Ｄ変換回路１６は、増幅器１６ａとＡ／Ｄコンバータ１６ｂとを有する。増幅器１６ａの非反転入力端子および反転入力端子は第２の抵抗１５ｂの両端に接続されており、増幅器１６ａは、抵抗分圧回路１５で分圧されたコンデンサ電圧を増幅する。増幅器１６ａの出力端子はＡ／Ｄコンバータ１６ｂに接続されており、増幅器１６ａで増幅されたコンデンサ電圧がＡ／Ｄコンバータ１６ｂによりアナログ量からデジタル量に変換される。

制御演算部１７は、Ａ／Ｄコンバータ１６ｂの出力側に接続され、Ａ／Ｄコンバータ１６ｂによりデジタル量に変換されたコンデンサ電圧からコンデンサ１２のコンデンサ容量Ｃｋを算出する。また制御演算部１７は、コンデンサ１２の充電指令および充電停止指令をＤＣ／ＤＣコンバータ１３ｂに出力してコンデンサ１２の充電を制御するとともに、導通指令および遮断指令を放電スイッチ１４ｂに出力し、コンデンサ１２の放電を制御する。

コンデンサ容量Ｃｋの算出について説明する。コンデンサ１２に蓄積される電荷量が放電によりΔＱ減少し、電圧降下値ΔＶで電圧降下が起こる場合、Ｃｋ＝ΔＱ／ΔＶより、以下の式（１）が成立する。

Ｃｋ＝（Ｉｄ×Ｔ）／ΔＶ＝（Ｖ０×Ｔ）／（ΔＶ×Ｒｄ）・・（１）

ここで、Ｉｄは放電電流であり、Ｉｄ＝Ｖ０／Ｒｄである。また、Ｔは放電時間、Ｖ０は初期電圧である。式（１）より、電圧降下値ΔＶからコンデンサ容量Ｃｋを求めることができる。電圧降下値ΔＶは初期電圧Ｖ０と放電終了後のコンデンサ電圧の差なので、放電前後でコンデンサ１２のコンデンサ電圧を計測すればよい。制御演算部１７は、予め定められたタイミングでコンデンサ容量Ｃｋの計測を行い、結果をコンデンサ容量データＣｄとしてデータ処理部２０に伝送する。コンデンサ容量データＣｄの伝送は、１回の計測毎に行ってもよいし、計測部１０Ａ側でコンデンサ容量データＣｄを一時的に記憶しておき、複数のコンデンサ容量データＣｄをまとめて伝送してもよい。
なお、計測部１０Ｂおよび計測部１０Ｃについても計測部１０Ａと同様であるので、説明を省略する。

なお、コンデンサ容量Ｃｋを正確に計測するためには、コンデンサ１２のコンデンサ電圧を正確に計測する必要がある。しかしながら、制御演算部１７に入力される電圧値は、抵抗分圧回路１５でＲ２／（Ｒ１＋Ｒ２）に分圧され、かつ、Ａ／Ｄ変換回路１６において増幅およびデジタル変換されるため、接触抵抗の異常な上昇など、コネクタ部の抵抗値上昇が生じていると、コンデンサ１２のコンデンサ電圧を正確に計測することができず、式（１）で算出されるコンデンサ容量Ｃｋも不正確になる虞がある。

データ処理部２０は、予め定められた取得タイミングで計測部１０Ａ〜１０Ｃからコンデンサ容量データＣｄを取得し、監視対象のコンデンサ毎に分け、同じコンデンサの複数のコンデンサ容量データＣｄを配列データとして記憶する。データ処理部２０は、特定のコンデンサについて予め定められた数のコンデンサ容量データＣｄを取得すると、そのコンデンサから取得されたコンデンサ容量データＣｄに対して処理を実施する。図３は、実施の形態１に係るコンデンサ容量データの処理について説明する図である。なお、図３に示すデータは一例である。データ処理部２０は、図３に示すように、コンデンサ容量データＣｄを取得順に「インデックス」を付し、その内容（コンデンサ容量Ｃｋ）を「計測値」として、インデックスおよび「計測値」を配列データ９０１として保持する。予め定められた数（図３では２０）の「計測値」を取得すると、データ処理部２０は、「計測値」の大きさ順にコンデンサ容量データＣｄを並べ替え、配列データ９０１１を得る。図３の例では、「計測値」の昇順にコンデンサ容量データＣｄを並べている。さらに、データ処理部２０は、「計測値」の大きさ順に並べられたコンデンサ容量データＣｄによって構成される配列データ９０１１を、予め定められたコンデンサ容量の幅を一区間として区切る。図３の例では、最初の区間を「２９５１μＦから３０００μＦ」、「一区間５０μＦ」として配列データ９０１１を区切っている。区別のため、各区間にはＡ、Ｂ、Ｃ、・・・Ｋとアルファベットなどの符号を付す。なお、コンデンサ容量データＣｄを並べ替える手法は特に限定されず、例えばクイックソートまたはバブルソートを用いることができる。

配列データ９０１１を区間Ａ〜Ｋの各区間に区切った後、データ処理部２０は、各区間のうち最も多くのコンデンサ容量データＣｄを含む区間を「最頻区間」として決定する。図３の例では、５つのコンデンサ容量データＣｄを含む区間Ｋが「最頻区間」となる。データ処理部２０は、この最頻区間の代表値として、最頻区間の中央値Ｃ１を取得する。図３の例では、最頻区間である区間Ｋに含まれるコンデンサ容量データＣｄが５つであるため、インデックスが小さい方から３つ目の「計測値」、すなわち、インデックスが１７の「計測値」が最頻区間の中央値Ｃ１となる。図３の例のように最頻区間に含まれるデータ数が奇数の場合、中心となる１つの値を最頻区間の中央値Ｃ１とする。最頻区間に含まれるデータ数が偶数の場合、中心となる２つの値のうち数値が大きい方を最頻区間の中央値Ｃ１として採用する。ただし、中心となる２つの値のうち数値が小さい方、あるいは中心となる２つの値の平均値を最頻区間の中央値Ｃ１として採用してもよい。データ処理部２０は、最頻区間の中央値Ｃ１を予め定められた閾値Ｃｔｈと比較し、警報発報の要否を判定する。

なお、データによっては、最頻区間が複数となる場合がある。このような場合、コンデンサ容量Ｃｋの初期値に最も近い区間を最頻区間として決定することが考えられる。

ここで、コンデンサの監視装置１００の各機能部を実現するハードウェア構成について説明する。図４は、実施の形態１におけるコンデンサの監視装置を示すハードウェア構成図である。なお、図４に示すハードウェア構成は一例であり、これに限られるものではない。コンデンサの監視装置１００は、主に、プロセッサ９１と、主記憶装置としてのメモリ９２および補助記憶装置９３から構成される。プロセッサ９１は、例えばＣＰＵ、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）などで構成される。メモリ９２はランダムアクセスメモリ等の揮発性記憶装置で構成され、補助記憶装置９３はフラッシュメモリ等の不揮発性記憶装置またはハードディスクなどで構成される。補助記憶装置９３には、プロセッサ９１が実行する所定のプログラムが記憶されており、プロセッサ９１は、このプログラムを適宜読み出して実行し、各種演算処理を行う。この際、補助記憶装置９３からメモリ９２に上記所定のプログラムが一時的にメモリ９２に保存され、プロセッサ９１はメモリ９２からプログラムを読み出す。図１、図２に示した各機能部による処理、特にデータ処理部２０および制御演算部１７の演算処理は、上記のようにプロセッサ９１が所定のプログラムを実行することで実現される。また、記憶部３０によるログなどの保存は、補助記憶装置９３により実現される。

警報器インターフェース９４は、例えばアラームなどの警報器１０１に接続され、プロセッサ９１からの発報指示を警報器１０１に出力する。表示装置インターフェース９５は、例えば液晶ディスプレイなどの表示装置１０２に接続され、各種演算結果、監視対象のコンデンサのステータス、および警告表示などを表示装置１０２に出力する。警報部４０は、警報器インターフェース９４および警報器１０１により実現される。表示部５０は、表示装置インターフェース９５および表示装置１０２により実現される。

次に、動作について説明する。図５は、実施の形態１におけるコンデンサの監視装置の動作を示すフロー図である。なお、ここでは計測部１０Ａのコンデンサ１２を監視対象とする場合について説明するが、計測部１０Ｂ、１０Ｃのコンデンサ１２を監視対象とする場合も同様である。まず、コンデンサ容量データＣｄの取得タイミングであるか否かを判定する（ステップＳＴ１０１）。取得タイミングでない場合は、何もせずに取得タイミングまで待機する。

コンデンサ容量データＣｄの取得タイミングである場合、計測部１０Ａにおいて制御演算部１７により放電スイッチ１４ｂを導通させ、監視対象のコンデンサ１２を放電させる。制御演算部１７は、放電によるコンデンサ１２の電圧降下値ΔＶを計測し、式（１）を用いてコンデンサ１２のコンデンサ容量Ｃｋを算出する。制御演算部１７は、コンデンサ容量Ｃｋをコンデンサ容量データＣｄとしてデータ処理部２０に伝送する（ステップＳＴ１０２）。データ処理部２０は、計測部１０Ａから取得したコンデンサ容量データＣｄにインデックスを付しながら順に記憶していき、配列データ９０１を生成する。コンデンサ容量データＣｄの取得は、予め定められた数のコンデンサ容量データＣｄを取得するまで行う。

予め定められた数のコンデンサ容量データＣｄを取得した後、データ処理部２０は、コンデンサ容量データＣｄの並べ替えを行い（ステップＳＴ１０３）、並べ替え後の配列データ９０１１を生成する。上述したように、データ処理部２０は「計測値」の大きさ順（昇順）でコンデンサ容量データＣｄを並べ替える。

次に、データ処理部２０は「最頻区間」を決定する（ステップＳＴ１０４）。データ処理部２０は、複数のコンデンサ容量データＣｄによって構成される配列データ９０１１を「一区間５０μＦ」で区間Ａ〜Ｋに区切った後、最も多くのコンデンサ容量データＣｄを含む区間である区間Ｋを最頻区間に決定する。

次に、データ処理部２０は最頻区間である区間Ｋの中央値Ｃ１を取得する（ステップＳＴ１０５）。

最頻区間の中央値Ｃ１を取得した後、データ処理部２０は、中央値Ｃ１と閾値Ｃｔｈを比較し、中央値Ｃ１が閾値Ｃｔｈ以上であるか否かを判定する。（ステップＳＴ１０６）。中央値Ｃ１が閾値Ｃｔｈ以上である場合、ステップＳＴ１０８に進む。

中央値Ｃ１が閾値Ｃｔｈより小さい場合、データ処理部２０は監視対象のコンデンサのコンデンサ容量Ｃｋが異常であると判定し、警報部４０に警報を発報させる（ステップＳＴ１０７）。また、異常を示す表示を表示部５０に表示させてもよい。

データ処理部２０は、コンデンサ容量データＣｄ、中央値Ｃ１、異常判定を実施した日時、および判定結果などを記憶部３０に記憶させ、ログとして保存させる（ステップＳＴ１０８）。ステップＳＴ１０８の後は、再びステップＳＴ１０１に戻る。

なお、実施の形態１では最頻区間の決定において配列データ９０１をコンデンサ容量Ｃｋの大きさ順で並び替えているが、区間が決まれば各コンデンサ容量データＣｄがいずれの区間に含まれるかも決定する。このため、配列データ９０１を各区間に分割することもでき、最頻区間」の決定も可能である。このことから、コンデンサ容量Ｃｋの大きさ順に配列データ９０１を並び替えることは必須ではない。ただし、このような並び替えを実施することにより、どのコンデンサ容量データＣｄがどの区間に含まれるかを容易に把握することができる。また、インデックスと区間の対応も明確になる。

実施の形態１によれば、監視対象のコンデンサの異常判定における誤判定を防止し、監視対象のコンデンサの劣化状況をより正確に把握することができる。より具体的には、予め定められた数のコンデンサ容量データから構成される配列データを、予め定められたコンデンサ容量の幅を一区間として区切り、最も多くのコンデンサ容量データを含む区間を「最頻区間」として決定する。コンデンサの異常判定においては、最頻区間の中央値を異常判定のための閾値と比較する。一時的な異常値は数が少なく、最頻区間の決定において排除されるため、最頻区間の中央値も異常値の影響を受けない。このため、コンデンサの異常判定も異常値の影響を受けることがなく、異常値による誤判定を防止し、監視対象のコンデンサの劣化状況をより正確に把握することができる。

実施の形態２．
次に、実施の形態２を図６および図７に基づいて説明する。なお、図１から図５と同一又は相当部分については同一の符号を付し、その説明を省略する。実施の形態２は、最頻区間の代表値を最頻区間の平均値としている点が実施の形態１と異なる。図６は、実施の形態２に係るコンデンサ容量データの処理について説明する図である。配列データ９０１および配列データ９０１１、および区間Ａ〜Ｋについては実施の形態１と同様であるが、実施の形態２では、最頻区間である区間Ｋの平均値Ｃ２を算出する。
その他については実施の形態１と同様であるので、その説明を省略する。

次に、動作について説明する。図７は、実施の形態２におけるコンデンサの監視装置の動作を示すフロー図である。実施の形態２においても最頻区間の決定まで（ステップＳＴ１０１〜ステップＳＴ１０４）は実施の形態１と同様である。最頻区間の決定後、データ処理部２０は、最頻区間である区間Ｋの平均値Ｃ２を算出する（ステップＳＴ２０５）。

最頻区間の平均値Ｃ２を算出した後、データ処理部２０は、平均値Ｃ２と閾値Ｃｔｈを比較し、平均値Ｃ２が閾値Ｃｔｈ以上であるか否かを判定する。（ステップＳＴ２０６）。平均値Ｃ２が閾値Ｃｔｈ以上である場合、ステップＳＴ１０８に進む。なお、閾値Ｃｔｈの値は実施の形態１と同じ値でもよいし、異なる値でもよい。

平均値Ｃ２が閾値Ｃｔｈより小さい場合、データ処理部２０は監視対象のコンデンサのコンデンサ容量Ｃｋが異常であると判定し、警報部４０に警報を発報させる（ステップＳＴ１０７）。また、異常を示す表示を表示部５０に表示させてもよい。

データ処理部２０は、コンデンサ容量データＣｄ、平均値Ｃ２、異常判定を実施した日時、および判定結果などを記憶部３０に記憶させ、ログとして保存させる（ステップＳＴ２０８）。ステップＳＴ２０８の後は、再びステップＳＴ１０１に戻る。

実施の形態２によれば、実施の形態１と同様の効果を得ることができる。

実施の形態３．
次に、実施の形態３を図８および図９に基づいて説明する。なお、図１から図７と同一又は相当部分については同一の符号を付し、その説明を省略する。実施の形態３は、最頻区間の代表値を用いて監視対象のコンデンサの異常判定を行うことに加え、外部要因による異常を検出する点が実施の形態１、２と異なる。図８は、実施の形態３に係るコンデンサ容量データの処理について説明する図である。データ処理部２０は、配列データ９０１の全ての「計測値」より全区間の平均値Ｃｍを算出する。その後、実施の形態１と同様にして、最頻区間の中央値Ｃ１を取得する。なお、全区間の平均値Ｃｍの算出は、配列データ９０１１への並び替え後に行ってもよい。データ処理部２０は、全区間の平均値Ｃｍと最頻区間の中央値Ｃ１との差Ｃｄｉｆｆを算出し、予め定められた第２の閾値Ｃｔｈｄと差Ｃｄｉｆｆとを比較することにより異常判定を行うことで警報発報の要否を判定する。

差Ｃｄｉｆｆに基づく異常判定は、外部要因によるコネクタ部の抵抗値上昇を検出するためのものである。上述したように、外部要因によるコネクタ部の抵抗値上昇は「計測値」（コンデンサ容量Ｃｋ）を不正確なものとし、「計測値」の中に異常値が入る原因となる。また、この異常値は全区間の平均値Ｃｍに影響を与える一方で、最頻区間の中央値Ｃ１には影響を与えない。すなわち、異常値の影響を受けている平均値Ｃｍと異常値の影響を受けていない中央値Ｃ１の差Ｃｄｉｆｆが大きい場合、コンデンサ容量Ｃｋの計測に影響を与える外部要因が生じていることとなる。
その他については実施の形態１と同様であるので、その説明を省略する。

次に、動作について説明する。図９は、実施の形態３におけるコンデンサの監視装置の動作を示すフロー図である。実施の形態３においても、予め定められた数のコンデンサ容量データＣｄの取得まで（ステップＳＴ１０１〜ステップＳＴ１０２）は実施の形態１と同様である。予め定められた数のコンデンサ容量データＣｄを取得した後、データ処理部２０は、コンデンサ容量Ｃｋの全区間の平均値Ｃｍを算出する（ステップＳＴ３０３）。次に、データ処理部２０は、コンデンサ容量データＣｄの並べ替えから最頻区間の中央値Ｃ１による異常判定、異常が有る場合の警報発報までの処理（ステップＳＴ１０３〜ステップＳＴ１０７）を行う（ステップＳＴ３０４）。すなわち、実施の形態１の手法による監視対象のコンデンサの異常判定を実施する。

コンデンサの異常判定の実施後、データ処理部２０は、全区間の平均値Ｃｍと最頻区間の中央値Ｃ１との差Ｃｄｉｆｆを算出する（ステップＳＴ３０５）。

差Ｃｄｉｆｆを算出した後、データ処理部２０は、差Ｃｄｉｆｆと第２の閾値Ｃｔｈｄを比較し、差Ｃｄｉｆｆが第２の閾値Ｃｔｈｄ以下であるか否かを判定する。（ステップＳＴ３０６）。差Ｃｄｉｆｆが第２の閾値Ｃｔｈｄ以下である場合、ステップＳＴ３０８に進む。

差Ｃｄｉｆｆが第２の閾値Ｃｔｈｄより大きい場合、データ処理部２０は外部要因によるコネクタ部の抵抗値上昇があると判定し、警報部４０に警報を発報させる（ステップＳＴ３０７）。また、異常を示す表示を表示部５０に表示させてもよい。

データ処理部２０は、コンデンサ容量データＣｄ、中央値Ｃ１、平均値Ｃｍ、差Ｃｄｉｆｆ、異常判定を実施した日時、および判定結果などを記憶部３０に記憶させ、ログとして保存させる（ステップＳＴ３０８）。ステップＳＴ３０８の後は、再びステップＳＴ１０１に戻る。

実施の形態３によれば、実施の形態１と同様の効果を得ることができる。
また、全区間の平均値と最頻区間の中央値との差に基づく異常判定を行うため、外部要因によるコネクタ部の抵抗値上昇を検出することができる。
なお、実施の形態３では全区間の平均値と最頻区間の中央値との差に基づく異常判定を行ったが、全区間の平均値と最頻区間の平均値との差に基づく異常判定を行ってもよい。また、全区間の中央値または最頻値と最頻区間の中央値または平均値との差に基づく異常判定を行うことも考えられる。要は、取得した全てのコンデンサ容量の代表値と最頻区間の代表値との差に基づいて異常判定を行えばよい。

本願は、様々な例示的な実施の形態及び実施例が記載されているが、１つ、または複数の実施の形態に記載された様々な特徴、態様、及び機能は特定の実施の形態の適用に限られるのではなく、単独で、または様々な組み合わせで実施の形態に適用可能である。
従って、例示されていない無数の変形例が、本願に開示される技術の範囲内において想定される。例えば、少なくとも１つの構成要素を変形する場合、追加する場合または省略する場合、さらには、少なくとも１つの構成要素を抽出し、他の実施の形態の構成要素と組み合わせる場合が含まれるものとする。
例えば、上記した各実施の形態では「最頻区間」の代表値として「中央値」または「平均値」を用いているが、「最頻値」、「重み付き平均値」などを用いてもよい。また、最頻区間における「最大値」または「最小値」を最頻区間の代表値とすることも考えられる。

１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃ 計測部、１２ コンデンサ、１４ 放電回路、１４ａ 放電抵抗、１４ｂ 放電スイッチ、１７ 制御演算部、２０ データ処理部、３０ 記憶部、４０ 警報部、１００ コンデンサの監視装置、９０１、９０１１ 配列データ、Ｃｄ コンデンサ容量データ、Ｃ１ 最頻区間の中央値、Ｃ２ 最頻区間の平均値、Ｃｍ 平均値

Claims (6)

1. 直列に接続された放電抵抗と放電スイッチとを含み、監視対象のコンデンサと並列に接続された放電回路と、前記放電スイッチを導通させることにより前記コンデンサを放電させ、放電による前記コンデンサの電圧降下値を用いて前記コンデンサのコンデンサ容量を演算する計測部と、
   前記コンデンサのコンデンサ容量を含むコンデンサ容量データを前記計測部から取得して、前記コンデンサ容量に基づいて前記コンデンサの異常の有無を判定するデータ処理部とを備えるコンデンサの監視装置であって、
   前記データ処理部は、複数の前記コンデンサ容量データにより構成される配列データを、予め定められたコンデンサ容量の幅を一区間とする区間で分割し、最も多くのコンデンサ容量データが含まれる区間を最頻区間として決定した後、前記最頻区間の代表値と予め定められた閾値とを比較することにより、前記コンデンサの異常の有無を判定することを特徴とするコンデンサの監視装置。
2. 警報を発報する警報部をさらに備え、
   前記データ処理部は、前記コンデンサに異常が有ると判定した場合に、前記警報部に警報を発報させる請求項１に記載のコンデンサの監視装置。
3. 前記データ処理部は、前記計測部から取得した全てのコンデンサ容量の代表値と前記最頻区間の代表値との差が予め定められた第２の閾値よりも大きい場合に、前記警報部に警報を発報させる請求項２に記載のコンデンサの監視装置。
4. 前記データ処理部は、前記配列データを前記区間で分割する際に、前記配列データを構成するコンデンサ容量データをコンデンサ容量の大きさ順に並べ替える請求項１から３のいずれか１項に記載のコンデンサの監視装置。
5. 前記最頻区間の代表値は、前記最頻区間の中央値である請求項１から４のいずれか１項に記載のコンデンサの監視装置。
6. 前記最頻区間の代表値は、前記最頻区間の平均値である請求項１から４のいずれか１項に記載のコンデンサの監視装置。

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