JP2021082767A - Kit, and method for manufacturing third laminate by use thereof - Google Patents

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Abstract

To provide: a kit having a protection coat-forming film and a support sheet, by which a third laminate arranged by laminating a workpiece such as a semiconductor wafer, a protection coat-forming film capable of forming a protection film of the workpiece, and a support sheet to be used to support the workpiece and the protection coat-forming film in this order can be suitably manufactured by an in-line process; and a method for manufacturing such a third laminate.SOLUTION: A kit 1 comprises: a first laminate 5 arranged by laminating a first peeling film 151, a protection coat-forming film 13 and a second peeling film 152 in this order; and a support sheet 10. The rupture elongation of the protection coat-forming film at 23°C is larger than 700%.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、キット、及び、そのキットを用いる第三積層体の製造方法に関する。詳しくは、第1剥離フィルム、保護膜形成フィルム及び第2剥離フィルムがこの順に積層された第一積層体と、前記保護膜形成フィルムの保護対象となる半導体ウエハ等のワーク及び前記保護膜形成フィルムを支持するために用いられる支持シートと、を備えるキット、並びに、そのキットをインラインプロセスで使用する、ワーク、前記保護膜形成フィルム及び前記支持シートが、この順に積層された第三積層体の製造方法に関する。
ここで、「インラインプロセス」とは、「1または複数の工程を行う装置を複数個(複数台)連結した装置内、又は同一の装置内で行うプロセスであり、複数の工程とその工程と工程を繋ぐ搬送を含み、1つの工程とその次の工程との間は、ワークを一枚ずつ搬送する」プロセスを言う。
The present invention relates to a kit and a method for producing a third laminate using the kit. Specifically, the first laminate in which the first release film, the protective film-forming film, and the second release film are laminated in this order, a work such as a semiconductor wafer to be protected by the protective film-forming film, and the protective film-forming film. A kit including a support sheet used to support the film, and a third laminated body in which the work, the protective film forming film, and the support sheet, which are used in an in-line process, are laminated in this order. Regarding the method.
Here, the "in-line process" is "a process performed in a device in which a plurality (multiple units) of devices performing one or a plurality of processes are connected, or in the same device, and a plurality of processes and the processes and processes thereof. The process of transporting workpieces one by one between one process and the next process, including the transfer of connecting the workpieces.

近年、いわゆるフェースダウン(face down)方式と呼ばれる実装法を適用した半導体装置の製造が行われている。フェースダウン方式においては、回路面上にバンプ等の電極を有する半導体チップが用いられ、前記電極が基板と接合される。このため、半導体チップの回路面とは反対側の裏面は剥き出しとなることがある。 In recent years, semiconductor devices to which a mounting method called a so-called face down method has been applied have been manufactured. In the face-down method, a semiconductor chip having electrodes such as bumps on the circuit surface is used, and the electrodes are bonded to the substrate. Therefore, the back surface of the semiconductor chip opposite to the circuit surface may be exposed.

この剥き出しとなった半導体チップの裏面には、保護膜として、有機材料を含有する樹脂膜が形成され、保護膜付き半導体チップとして半導体装置に取り込まれることがある。保護膜は、ダイシング工程やパッケージングの後に、半導体チップにおいてクラックが発生するのを防止するために利用される(例えば、特許文献1〜4)。 A resin film containing an organic material is formed as a protective film on the back surface of the exposed semiconductor chip, and may be incorporated into a semiconductor device as a semiconductor chip with a protective film. The protective film is used to prevent cracks from occurring in the semiconductor chip after the dicing step or packaging (for example, Patent Documents 1 to 4).

このような保護膜付き半導体チップは、例えば、図6に示される工程を経て製造される。すなわち、回路面を有する半導体ウエハ8の裏面8bに、保護膜形成フィルム13を積層し(図6(A))、保護膜形成フィルム13を熱硬化又はエネルギー線硬化させて保護膜13’とし(図6(B))、保護膜13’に支持シート10を積層し(図6(D))、半導体ウエハ8及び保護膜13’をダイシングして、保護膜付き半導体チップ7とし(図6(E)及び図6(F))、保護膜付き半導体チップ7を、支持シート10からピックアップする方法が知られている。ここで、図6(A)で、半導体ウエハ8の裏面8bに、保護膜形成フィルム13を貼付する装置と、図6(D)で、保護膜13’に支持シート10を貼付する装置とは、別々の装置で行われている。 Such a semiconductor chip with a protective film is manufactured, for example, through the process shown in FIG. That is, the protective film forming film 13 is laminated on the back surface 8b of the semiconductor wafer 8 having the circuit surface (FIG. 6 (A)), and the protective film forming film 13 is heat-cured or energy ray-cured to form the protective film 13'(). FIG. 6 (B)), the support sheet 10 is laminated on the protective film 13'(FIG. 6 (D)), and the semiconductor wafer 8 and the protective film 13' are diced to obtain a semiconductor chip 7 with a protective film (FIG. 6 (B)). E) and FIG. 6 (F)), a method of picking up the semiconductor chip 7 with a protective film from the support sheet 10 is known. Here, in FIG. 6A, the apparatus for attaching the protective film forming film 13 to the back surface 8b of the semiconductor wafer 8 and the apparatus in FIG. 6D for attaching the support sheet 10 to the protective film 13'. , It is done in separate devices.

また、保護膜形成フィルム13及び支持シート10が一体化された、保護膜形成用複合シートが、保護膜付き半導体チップの製造に使用されている(例えば、特許文献2,3,4)。 Further, a composite sheet for forming a protective film in which the protective film forming film 13 and the support sheet 10 are integrated is used for manufacturing a semiconductor chip with a protective film (for example, Patent Documents 2, 3 and 4).

保護膜形成用複合シートを用いる、保護膜付き半導体チップの製造方法は、例えば、図7に示される工程を経る。すなわち、回路面を有する半導体ウエハ8の裏面8bに、保護膜形成フィルム13及び支持シート10が積層されてなる保護膜形成用複合シート3の保護膜形成フィルム13を貼付し(図7(A’))、バックグラインドテープ17を剥離し(図7(B’))、保護膜形成フィルム13を熱硬化又はエネルギー線硬化させて保護膜13’とし(図7(C’))、半導体ウエハ8及び保護膜13’をダイシングして、保護膜付き半導体チップ7とし(図7(E’)及び図7(F’))、保護膜付き半導体チップ7を、支持シート10からピックアップする方法が知られている。 A method for manufacturing a semiconductor chip with a protective film using a composite sheet for forming a protective film goes through, for example, the process shown in FIG. 7. That is, the protective film-forming film 13 of the protective film-forming composite sheet 3 in which the protective film-forming film 13 and the support sheet 10 are laminated is attached to the back surface 8b of the semiconductor wafer 8 having the circuit surface (FIG. 7 (A'). )), The back grind tape 17 is peeled off (FIG. 7 (B')), the protective film forming film 13 is heat-cured or energy ray-cured to obtain the protective film 13'(FIG. 7 (C')), and the semiconductor wafer 8 is formed. And the method of dicing the protective film 13'to obtain the semiconductor chip 7 with the protective film (FIGS. 7 (E') and 7 (F')) and picking up the semiconductor chip 7 with the protective film from the support sheet 10 is known. Has been done.

特許第4271597号公報Japanese Patent No. 4271597 国際公開第2014/157426号International Publication No. 2014/157426 特許第5363662号公報Japanese Patent No. 5363662 特開2016−225496号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-225496

図6に示される従来の保護膜付き半導体チップの製造方法では、保護膜形成フィルム13の保護対象となるワーク(すなわち、半導体ウエハ8)は、バックグラインドテープは既に剥離されたものが使われている。半導体ウエハ8の裏面8bに、保護膜形成フィルム13を積層し(図6(A))、保護膜形成フィルム13を硬化させて保護膜13’とした後に(図6(B))、保護膜13’に支持シート10を貼付するので(図6(D))、半導体ウエハ8の裏面8bに、保護膜形成フィルム13を貼付する装置と、保護膜13’に支持シート10を貼付する装置とは、別々の装置が用いられ、これらの工程を、インラインプロセスにすることは難しい。 In the conventional method for manufacturing a semiconductor chip with a protective film shown in FIG. 6, the work (that is, the semiconductor wafer 8) to be protected by the protective film forming film 13 uses a work whose back grind tape has already been peeled off. There is. A protective film-forming film 13 is laminated on the back surface 8b of the semiconductor wafer 8 (FIG. 6 (A)), and the protective film-forming film 13 is cured to form a protective film 13'(FIG. 6 (B)). Since the support sheet 10 is attached to 13'(FIG. 6 (D)), a device for attaching the protective film forming film 13 to the back surface 8b of the semiconductor wafer 8 and a device for attaching the support sheet 10 to the protective film 13'. It is difficult to make these processes in-line processes because separate devices are used.

図7に示される従来の保護膜付き半導体チップの製造方法では、保護膜形成フィルム13及び支持シート10が一体化された、保護膜形成用複合シート3を用いているので、保護膜形成フィルム13の保護対象となるワーク(すなわち、半導体ウエハ8)に保護膜形成フィルム13を貼付する工程と、支持シート10を貼付する工程を、一工程にすることができる。しかし、保護膜形成用複合シート3を用いた場合、保護膜形成フィルム13の特性及び支持シート10の特性を合わせて組み合さなければならず、目的に叶った保護膜付き半導体チップの製造方法のために、多種類の保護膜形成用複合シート3を準備しなければならなくなる。また、保護膜形成用複合シート3を準備するために、抜き加工など製造コストの負担が問題となる。さらに、保護膜形成用複合シート3を用いた場合、マウント工程で、テープロール設置後のマウンター装置内でテープが蛇行して、最初の数シートは、貼付位置や貼付張力が設定どおりにならないリスクがある。 In the conventional method for manufacturing a semiconductor chip with a protective film shown in FIG. 7, since the protective film forming composite sheet 3 in which the protective film forming film 13 and the support sheet 10 are integrated is used, the protective film forming film 13 is used. The step of attaching the protective film forming film 13 to the work to be protected (that is, the semiconductor wafer 8) and the step of attaching the support sheet 10 can be combined into one step. However, when the protective film-forming composite sheet 3 is used, the characteristics of the protective film-forming film 13 and the characteristics of the support sheet 10 must be combined in combination, and this is a method for manufacturing a semiconductor chip with a protective film that meets the purpose. In addition, many kinds of composite sheets 3 for forming a protective film must be prepared. Further, in order to prepare the composite sheet 3 for forming the protective film, there is a problem of burden of manufacturing cost such as punching. Further, when the protective film forming composite sheet 3 is used, there is a risk that the tape meanders in the mounter device after the tape roll is installed in the mounting process, and the sticking position and the sticking tension of the first few sheets do not match the settings. There is.

図8(a)に例示されるように、ワーク14に貼付された保護膜形成フィルム13は、ワーク14からはみ出す場合がある。
このような場合、図8(b)に例示されるように、ワーク14に貼付された保護膜形成フィルム13の第2剥離フィルム152を剥離するときに、ワーク14からはみ出した保護膜形成フィルム13のはみだし部90は引き千切られて、第2剥離フィルム152に付着して持ち帰られるおそれがある。
また、このような場合、図8(c)に例示されるように、支持シート10を保護膜形成フィルム13に貼付するときに、ワーク14からはみ出した保護膜形成フィルム13のはみだし部90は割れて飛散するおそれがある。
As illustrated in FIG. 8A, the protective film-forming film 13 attached to the work 14 may protrude from the work 14.
In such a case, as illustrated in FIG. 8B, when the second release film 152 of the protective film forming film 13 attached to the work 14 is peeled off, the protective film forming film 13 protruding from the work 14 The protruding portion 90 may be torn off, adhere to the second release film 152, and be taken back.
Further, in such a case, as illustrated in FIG. 8C, when the support sheet 10 is attached to the protective film forming film 13, the protruding portion 90 of the protective film forming film 13 protruding from the work 14 is cracked. There is a risk of scattering.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、半導体ウエハ等のワークと、前記ワークの裏面を保護するとともに外観を向上させるための保護膜を形成可能な保護膜形成フィルムと、前記保護膜形成フィルムを支持するために用いられる支持シートとが、この順に積層された第三積層体を、好適にインラインプロセスで製造することができる、前記保護膜形成フィルム及び前記支持シートを備えるキット、並びに、そのキットをインラインプロセスで使用する第三積層体の製造方法を提供することを課題とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and includes a work such as a semiconductor wafer, a protective film forming film capable of forming a protective film for protecting the back surface of the work and improving the appearance, and the protection. A kit including the protective film-forming film and the support sheet, wherein a third laminate in which the support sheet used for supporting the film-forming film is laminated in this order can be preferably produced by an in-line process. Another object of the present invention is to provide a method for producing a third laminate in which the kit is used in an in-line process.

本発明は、以下のキット、及び、そのキットを用いる第三積層体の製造方法を提供する。 The present invention provides the following kit and a method for producing a third laminate using the kit.

[1]第1剥離フィルム、保護膜形成フィルム及び第2剥離フィルムがこの順に積層された第一積層体と、前記保護膜形成フィルムの保護対象となるワーク及び前記保護膜形成フィルムを支持するために用いられる支持シートと、を備えるキットであって、
23℃における前記保護膜形成フィルムの破断伸度が700%より大きい、キット。
[2]前記第一積層体が、ロール状である、前記[1]に記載のキット。
[3]前記保護膜形成フィルムが、熱硬化性又はエネルギー線硬化性である、前記[1]又は[2]に記載のキット。
[4]前記支持シートは、前記保護膜形成フィルムに貼付される粘着剤層が、基材上に積層されている、前記[1]〜[3]のいずれか一項に記載のキット。
[5]前記保護膜形成フィルムと前記第2剥離フィルムとの間の剥離力は、記保護膜形成フィルムと前記第1剥離フィルムとの間の剥離力よりも大きく、
前記保護膜形成フィルムと前記第2剥離フィルムとの間の、剥離速度1m/min、温度23℃で測定される180°引きはがし剥離力が、250mN/100mm以下である、前記[1]〜[4]のいずれか一項に記載のキット。
[1] To support the first laminated body in which the first release film, the protective film forming film and the second release film are laminated in this order, the work to be protected by the protective film forming film, and the protective film forming film. A kit including a support sheet used for
A kit in which the breaking elongation of the protective film-forming film at 23 ° C. is greater than 700%.
[2] The kit according to the above [1], wherein the first laminated body is in the form of a roll.
[3] The kit according to the above [1] or [2], wherein the protective film forming film is thermosetting or energy ray curable.
[4] The kit according to any one of the above [1] to [3], wherein the support sheet is a pressure-sensitive adhesive layer to be attached to the protective film-forming film, which is laminated on a base material.
[5] The peeling force between the protective film-forming film and the second release film is larger than the peeling force between the protective film-forming film and the first release film.
The 180 ° peeling force between the protective film forming film and the second release film measured at a peeling speed of 1 m / min and a temperature of 23 ° C. is 250 mN / 100 mm or less. 4] The kit according to any one of the items.

[6]前記[1]〜[5]のいずれか一項に記載のキットをインラインプロセスで使用する、ワーク、前記保護膜形成フィルム及び前記支持シートが、この順に積層された第三積層体の製造方法であって、
前記第一積層体の第1剥離フィルムを剥離させる工程と、
前記ワークに、前記保護膜形成フィルムの露出面を貼付する、第一の積層工程と、
前記保護膜形成フィルムの前記露出面とは反対の面に、前記支持シートを貼付する第二の積層工程とを、この順に含み、
前記第一の積層工程の貼付開始地点から前記第二の積層工程の貼付完了地点までの間の前記ワークの搬送距離が、7000mm以下である、第三積層体の製造方法。
[6] A third laminated body in which the work, the protective film forming film, and the support sheet, in which the kit according to any one of [1] to [5] is used in an in-line process, are laminated in this order. It ’s a manufacturing method,
The step of peeling the first release film of the first laminated body and
The first laminating step of attaching the exposed surface of the protective film forming film to the work, and
A second laminating step of attaching the support sheet to the surface of the protective film forming film opposite to the exposed surface is included in this order.
A method for manufacturing a third laminated body, wherein the transport distance of the work from the sticking start point of the first laminating step to the sticking completion point of the second laminating step is 7,000 mm or less.

[7]前記[1]〜[5]のいずれか一項に記載のキットをインラインプロセスで使用する、ワーク、前記保護膜形成フィルム及び前記支持シートが、この順に積層された第三積層体の製造方法であって、
前記第一積層体の第1剥離フィルムを剥離させる工程と、
前記ワークに、前記保護膜形成フィルムの露出面を貼付する第一の積層工程と、
前記保護膜形成フィルムの前記露出面とは反対の面に、前記支持シートを貼付する第二の積層工程とを、この順に含み、
前記第一の積層工程の貼付開始時から前記第二の積層工程の貼付完了時までの間の前記ワークの搬送時間が、400s以下である、第三積層体の製造方法。
[7] A third laminated body in which the work, the protective film forming film, and the support sheet, in which the kit according to any one of [1] to [5] is used in an in-line process, are laminated in this order. It ’s a manufacturing method,
The step of peeling the first release film of the first laminated body and
The first laminating step of attaching the exposed surface of the protective film forming film to the work, and
A second laminating step of attaching the support sheet to the surface of the protective film forming film opposite to the exposed surface is included in this order.
A method for producing a third laminated body, wherein the transport time of the work from the start of sticking of the first laminating step to the completion of sticking of the second laminating step is 400 s or less.

[8]前記[1]〜[5]のいずれか一項に記載のキットをインラインプロセスで使用する、ワーク、前記保護膜形成フィルム及び前記支持シートが、この順に積層された第三積層体の製造方法であって、
前記第一積層体の第1剥離フィルムを剥離させる工程と、
前記ワークに、前記保護膜形成フィルムの露出面を貼付する第一の積層工程と、
前記保護膜形成フィルムの前記露出面とは反対の面に、前記支持シートを貼付する第二の積層工程とを、この順に含み、
前記第一の積層工程から前記第二の積層工程までの間において、前記ワークに前記保護膜形成フィルムが貼付された第二積層体を一枚ずつ搬送する、第三積層体の製造方法。
[8] A third laminated body in which the work, the protective film forming film, and the support sheet, in which the kit according to any one of [1] to [5] is used in an in-line process, are laminated in this order. It ’s a manufacturing method,
The step of peeling the first release film of the first laminated body and
The first laminating step of attaching the exposed surface of the protective film forming film to the work, and
A second laminating step of attaching the support sheet to the surface of the protective film forming film opposite to the exposed surface is included in this order.
A method for producing a third laminated body, in which the second laminated body to which the protective film forming film is attached to the work is conveyed one by one between the first laminating step and the second laminating step.

[9]前記第一の積層工程が、80℃以上のウエハテーブル上で行われる、前記[6]〜[8]のいずれか一項に記載の第三積層体の製造方法。
[10]前記ワークの、前記保護膜形成フィルムの露出面を貼付する側とは反対の側の面にバックグラインドテープが貼付されており、前記第二の積層工程の後に、前記ワークから、前記バックグラインドテープを剥離させる工程を含む、前記[6]〜[9]のいずれか一項に記載の第三積層体の製造方法。
[11]前記第一の積層工程の貼付開始時から、10min未満で、前記ワークから、前記バックグラインドテープを剥離させ始める、前記[10]に記載の第三積層体の製造方法。
[9] The method for producing a third laminated body according to any one of the above [6] to [8], wherein the first laminating step is performed on a wafer table at 80 ° C. or higher.
[10] A back grind tape is attached to the surface of the work opposite to the side on which the exposed surface of the protective film-forming film is attached, and after the second laminating step, the work is subjected to the above. The method for producing a third laminate according to any one of [6] to [9] above, which comprises a step of peeling off the back grind tape.
[11] The method for producing a third laminated body according to the above [10], wherein the back grind tape is started to be peeled from the work in less than 10 minutes from the start of application in the first laminating step.

本発明によれば、半導体ウエハ等のワークと、前記ワークの裏面を保護するとともに外観を向上させるための保護膜を形成可能な保護膜形成フィルムと、前記保護膜形成フィルムを支持するために用いられる支持シートとが、この順に積層された第三積層体を、好適にインラインプロセスで製造することができる、前記保護膜形成フィルム及び前記支持シートを備えるキット、並びに、そのキットをインラインプロセスで使用する第三積層体の製造方法が提供される。 According to the present invention, it is used to support a work such as a semiconductor wafer, a protective film forming film capable of forming a protective film for protecting the back surface of the work and improving the appearance, and the protective film forming film. A third laminated body in which the supporting sheets are laminated in this order can be preferably produced by an in-line process, and a kit including the protective film forming film and the supporting sheet, and the kit are used in the in-line process. A method for producing a third laminated film is provided.

本実施形態のキットの一例を模式的に示す概略断面図である。It is the schematic sectional drawing which shows an example of the kit of this embodiment schematically. 本実施形態の第三積層体の製造方法のうち、第一積層体の第1剥離フィルムを剥離させる工程の一例を模式的に示す断面概要図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the step of peeling off the 1st release film of the 1st laminated body in the manufacturing method of the 3rd laminated body of this embodiment. 本実施形態の第三積層体の製造方法のうち、第一の積層工程の一例を模式的に示す断面概要図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the 1st stacking process among the manufacturing method of the 3rd laminated body of this Embodiment. 本実施形態の第三積層体の製造方法のうち、第二の積層工程の一例を模式的に示す断面概要図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the 2nd stacking process in the manufacturing method of the 3rd laminated body of this embodiment. 第三積層体から、バックグラインドテープを正常に剥離させることができた一例を模式的に示す断面概要図である。It is sectional drawing which shows typically an example in which the back grind tape was able to be peeled off normally from a 3rd laminated body. 従来の保護膜付き半導体チップの製造方法の一例を模式的に示す概略断面図である。It is schematic cross-sectional view which shows typically an example of the manufacturing method of the conventional semiconductor chip with a protective film. 従来の保護膜付き半導体チップの製造方法の他の一例を模式的に示す概略断面図である。It is schematic cross-sectional view which shows another example of the conventional manufacturing method of the semiconductor chip with a protective film schematically. 保護膜形成フィルムのはみだし部90が、重面剥離フィルムに持ち帰られてしまった一例、及び、支持シート貼付させたときに割れてしまった一例を模式的に示す概略断面図である。It is schematic cross-sectional view which shows typically the example which the protruding part 90 of the protective film forming film was brought back to the heavy surface release film, and the example which was cracked when the support sheet was attached.

以下、本発明を適用した実施形態の一例であるキット、及び、そのキットを用いる第三積層体の製造方法について詳細に説明する。なお、以下の説明で用いる図面は、特徴をわかりやすくするために、便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などが実際と同じであるとは限らない。 Hereinafter, a kit which is an example of an embodiment to which the present invention is applied and a method for producing a third laminate using the kit will be described in detail. In addition, in the drawings used in the following description, in order to make the features easy to understand, the featured parts may be enlarged for convenience, and the dimensional ratio of each component may not be the same as the actual one. Absent.

<<キット>>
図1は、本実施形態のキットの一例を模式的に示す概略断面図である。本実施形態のキットは、第1剥離フィルム151、保護膜形成フィルム13及び第2剥離フィルム152がこの順に積層された第一積層体5と、保護膜形成フィルム13の保護対象となるワーク及び保護膜形成フィルム13を支持するために用いられる支持シート10と、を備える。
<< Kit >>
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view schematically showing an example of the kit of the present embodiment. The kit of the present embodiment includes a first laminated body 5 in which a first release film 151, a protective film forming film 13 and a second release film 152 are laminated in this order, and a work and protection to be protected by the protective film forming film 13. A support sheet 10 used for supporting the film-forming film 13 is provided.

第1剥離フィルム151及び第2剥離フィルム152のうち、いずれか一方は軽面剥離フィルムであり、他方は重面剥離フィルムであることが好ましい。本実施形態では、第1剥離フィルム151が軽面剥離フィルムであり、第2剥離フィルム152が重面剥離フィルムである。 It is preferable that one of the first release film 151 and the second release film 152 is a light surface release film and the other is a heavy surface release film. In the present embodiment, the first release film 151 is a light surface release film, and the second release film 152 is a heavy surface release film.

支持シート10としては、基材11のみから構成されたシートや、基材11上に粘着剤層12を有する粘着シートが挙げられる。本実施形態では、支持シート10は、基材11上に粘着剤層12が積層されており、保護膜形成フィルム13の第2剥離フィルム152が剥離された後に、第2剥離フィルム152側の第二面13bに、支持シート10の粘着剤層12を貼付して用いられる。 Examples of the support sheet 10 include a sheet composed of only the base material 11 and a pressure-sensitive adhesive sheet having the pressure-sensitive adhesive layer 12 on the base material 11. In the present embodiment, the support sheet 10 has the pressure-sensitive adhesive layer 12 laminated on the base material 11, and after the second release film 152 of the protective film forming film 13 is peeled off, the second release film 152 side is the first. The pressure-sensitive adhesive layer 12 of the support sheet 10 is attached to the two surfaces 13b for use.

<<キットを用いる第三積層体の製造方法>>
本実施形態の第三積層体の製造方法は、前記キットをインラインプロセスで使用する、ワーク、保護膜形成フィルム13及び支持シート10が、この順に積層された第三積層体の製造方法であって、第一積層体5の第1剥離フィルム151を剥離させる工程と、ワークに、保護膜形成フィルム13の露出面(すなわち、保護膜形成フィルム13の第一面13a)を貼付する第一の積層工程と、保護膜形成フィルムの前記露出面とは反対の面(すなわち保護膜形成フィルムの第二面13b)に、支持シート10を貼付する第二の積層工程とを、この順に含む。
<< Manufacturing method of the third laminate using the kit >>
The method for producing the third laminate of the present embodiment is a method for producing the third laminate in which the work, the protective film forming film 13 and the support sheet 10 are laminated in this order, using the kit in an in-line process. , The step of peeling the first release film 151 of the first laminate 5, and the first lamination of attaching the exposed surface of the protective film forming film 13 (that is, the first surface 13a of the protective film forming film 13) to the work. The step and a second laminating step of attaching the support sheet 10 to the surface of the protective film-forming film opposite to the exposed surface (that is, the second surface 13b of the protective film-forming film) are included in this order.

図2は、第一積層体5の使用方法の一例であって、本実施形態の第三積層体の製造方法のうち、第一積層体の第1剥離フィルムを剥離させる工程の一例を模式的に示す断面概要図である。 FIG. 2 is an example of a method of using the first laminated body 5, and is a schematic example of a step of peeling the first release film of the first laminated body in the method of manufacturing the third laminated body of the present embodiment. It is sectional drawing which shows.

第一積層体5(図2(a))は、例えば、軽面剥離フィルムとなる第1剥離フィルム151の側から円形の抜き刃70を当て(図2(b))、第1剥離フィルム151を剥離させる(図2(c))。 For the first laminated body 5 (FIG. 2 (a)), for example, a circular punching blade 70 is applied from the side of the first release film 151 to be a light surface release film (FIG. 2 (b)), and the first release film 151 is applied. (Fig. 2 (c)).

図3は、本実施形態の第三積層体の製造方法のうち、第一の積層工程の一例を模式的に示す断面概要図である。 FIG. 3 is a cross-sectional schematic view schematically showing an example of the first laminating step in the method for manufacturing the third laminated body of the present embodiment.

第一の積層工程において、保護対象となるワーク14(図3(a))に、第一積層体5の第1剥離フィルム151が剥離され、円形になった保護膜形成フィルム13の露出面(すなわち、保護膜形成フィルム13の第一面13a)を貼付する(図3(b)及び図3(c))。
次に、第2剥離フィルム152を剥離して、保護膜形成フィルム13の前記露出面とは反対の面(すなわち保護膜形成フィルムの第二面13b)を露出させる(図3(d))。
In the first laminating step, the first release film 151 of the first laminated body 5 is peeled off from the work 14 (FIG. 3 (a)) to be protected, and the exposed surface of the protective film forming film 13 (circular) ( That is, the first surface 13a) of the protective film forming film 13 is attached (FIGS. 3 (b) and 3 (c)).
Next, the second release film 152 is peeled off to expose the surface of the protective film-forming film 13 opposite to the exposed surface (that is, the second surface 13b of the protective film-forming film) (FIG. 3 (d)).

第一の積層工程は、80℃以上のウエハテーブル上で行われてもよい。
第一の積層工程が80℃以上のウエハテーブル上で行われることにより、保護膜形成フィルム13の第一面13aは、ワーク14が密着性を得ることが難しいような表面状態や材質であったとしても、ワーク14と十分に密着することができ、それにより、保護膜形成フィルムが適用できるワークの種類を増やすことができる。
80℃以上のウエハテーブル上で保護膜形成用複合シート3をワーク14に貼付する場合、保護膜形成用複合シート3の支持シート10も共に加熱されるため、支持シート10の基材11にはしわが発生し易くなる。
The first laminating step may be performed on a wafer table at 80 ° C. or higher.
Since the first laminating step is performed on a wafer table at 80 ° C. or higher, the first surface 13a of the protective film forming film 13 has a surface condition or material that makes it difficult for the work 14 to obtain adhesion. Even so, it can be sufficiently adhered to the work 14, whereby the types of work to which the protective film forming film can be applied can be increased.
When the protective film-forming composite sheet 3 is attached to the work 14 on a wafer table at 80 ° C. or higher, the support sheet 10 of the protective film-forming composite sheet 3 is also heated, so that the base material 11 of the support sheet 10 is used. Wrinkles are likely to occur.

図8(a)に例示されるように、ワーク14に貼付された保護膜形成フィルム13は、ウエハからはみ出す場合がある。図8(b)に例示されるように、ワーク14に貼付された保護膜形成フィルム13の第2剥離フィルム152を剥離するときに、ワーク14からはみ出した保護膜形成フィルム13のはみだし部90は引き千切られて、第2剥離フィルム152に付着して持ち帰られるおそれがある。 As illustrated in FIG. 8A, the protective film-forming film 13 attached to the work 14 may protrude from the wafer. As illustrated in FIG. 8B, when the second release film 152 of the protective film forming film 13 attached to the work 14 is peeled off, the protruding portion 90 of the protective film forming film 13 protruding from the work 14 is It may be torn off, adhere to the second release film 152, and be taken home.

保護膜形成フィルム13と第2剥離フィルム152との間の、剥離速度1m/min、温度23℃で測定される180°引きはがし剥離力が、250mN/100mm以下であることが好ましい。ここで、保護膜形成フィルム13と第2剥離フィルム152との間の剥離力は、保護膜形成フィルム13と第1剥離フィルム151との間の剥離力よりも大きい。
保護膜形成フィルム13と第2剥離フィルム152との間の剥離力は、250mN/100mm以下とすることもでき、220mN/100mm以下とすることもでき、200mN/100mm以下とすることもでき、180mN/100mm以下とすることもでき、160mN/100mm以下とすることもでき、140mN/100mm以下とすることもできる。保護膜形成フィルム13と第2剥離フィルム152との間の剥離力が上記上限値以下であることにより、ワーク14に貼付された保護膜形成フィルム13の第2剥離フィルム152を剥離するときに、ワーク14からはみ出した保護膜形成フィルム13のはみだし部90が引き千切られて、第2剥離フィルム152に付着して持ち帰られるおそれを低減することができる。
The 180 ° peeling force measured at a peeling speed of 1 m / min and a temperature of 23 ° C. between the protective film forming film 13 and the second peeling film 152 is preferably 250 mN / 100 mm or less. Here, the peeling force between the protective film forming film 13 and the second release film 152 is larger than the peeling force between the protective film forming film 13 and the first release film 151.
The peeling force between the protective film forming film 13 and the second release film 152 can be 250 mN / 100 mm or less, 220 mN / 100 mm or less, 200 mN / 100 mm or less, 180 mN. It can be / 100 mm or less, 160 mN / 100 mm or less, or 140 mN / 100 mm or less. When the peeling force between the protective film forming film 13 and the second peeling film 152 is equal to or less than the above upper limit value, the second peeling film 152 of the protective film forming film 13 attached to the work 14 is peeled off. It is possible to reduce the possibility that the protruding portion 90 of the protective film forming film 13 protruding from the work 14 is torn off and adheres to the second release film 152 and is taken back.

保護膜形成フィルム13と第2剥離フィルム152との間の剥離力は、30mN/100mm以上とすることもでき、50mN/100mm以上とすることもできる。保護膜形成フィルム13と第2剥離フィルム152との間の剥離力が上記下限値以上であることにより、第一積層体5のハンドリング性を優れたものとすることができる。 The peeling force between the protective film forming film 13 and the second release film 152 can be 30 mN / 100 mm or more, or 50 mN / 100 mm or more. When the peeling force between the protective film forming film 13 and the second peeling film 152 is at least the above lower limit value, the handleability of the first laminated body 5 can be improved.

保護膜形成フィルム13と第2剥離フィルムとの間の180°引きはがし剥離力は、次のように測定する。
測定方法:万能型引張試験機(島津製作所社製,製品名「オートグラフAG−IS」)を用いて、JIS Z0237:2009に準拠して、測定距離100mmについて、剥離速度1m/min、温度23℃で測定する。
そして、測定距離の初め10mmと終わり10mmを除いた80mmの間の測定値の平均を「保護膜形成フィルムと第2剥離フィルムとの間の180°引きはがし剥離力」とする。
The 180 ° peeling force between the protective film forming film 13 and the second release film is measured as follows.
Measuring method: Using a universal tensile tester (manufactured by Shimadzu Corporation, product name "Autograph AG-IS"), in accordance with JIS Z0237: 2009, for a measurement distance of 100 mm, a peeling speed of 1 m / min, temperature 23. Measure at ° C.
Then, the average of the measured values between the measurement distances of 80 mm excluding the beginning 10 mm and the end 10 mm is defined as "180 ° peeling force between the protective film forming film and the second release film".

本実施形態の保護膜形成フィルム13は、23℃における破断伸度が700%より大きいものである。保護膜形成フィルム13の、23℃における破断伸度が700%より大きいものであることにより、支持シート10を保護膜形成フィルム13に貼付するときに、ワーク14からはみ出した保護膜形成フィルム13のはみだし部90が割れて飛散するおそれを低減することができる。また、第2剥離フィルム152を剥離するときに、ワーク14からはみ出した保護膜形成フィルム13のはみだし部90が引き千切られるおそれも低減することができ、それにより、第2剥離フィルム152に付着して持ち帰られるおそれを低減することができる。 The protective film-forming film 13 of the present embodiment has a breaking elongation at 23 ° C. of more than 700%. Since the breaking elongation of the protective film-forming film 13 at 23 ° C. is greater than 700%, the protective film-forming film 13 protruding from the work 14 when the support sheet 10 is attached to the protective film-forming film 13. It is possible to reduce the possibility that the protruding portion 90 is cracked and scattered. Further, when the second release film 152 is peeled off, the possibility that the protruding portion 90 of the protective film forming film 13 protruding from the work 14 is torn off can be reduced, so that the second release film 152 adheres to the second release film 152. It is possible to reduce the risk of being taken home.

保護膜形成フィルム13の23℃における破断伸度は、次に示す方法により測定できる。
幅が15mmであり、長さが40mmであり、厚さが200μmである保護膜形成フィルムを試験片とし、この試験片を23℃に加温し、引張速度100mm/分、チャック間距離10mmから引っ張ったときの伸び量を測定する。試験片が破断したときの伸び量から破断伸度を求める。
ここで、破断伸度は、JISK7161:2014(ISO527−1:2012)に準拠した引張試験における、試験片破壊時の試験片の長さの増加量(ΔL)の元の長さ(L)に対する割合である。
The elongation at break of the protective film forming film 13 at 23 ° C. can be measured by the following method.
A protective film-forming film having a width of 15 mm, a length of 40 mm, and a thickness of 200 μm was used as a test piece, and the test piece was heated to 23 ° C., and the tensile speed was 100 mm / min and the chuck distance was 10 mm. Measure the amount of elongation when pulled. The elongation at break is obtained from the amount of elongation when the test piece breaks.
Here, the elongation at break is the original length (L) of the amount of increase (ΔL) in the length of the test piece at the time of breaking the test piece in the tensile test based on JISK71161: 2014 (ISO527-1: 2012). It is a ratio.

本実施形態において、ワーク14は、一方の面が回路面14aである半導体ウエハであり、ワーク14の回路面14aにバックグラインドテープ17が貼付されていてもよい。 In the present embodiment, the work 14 is a semiconductor wafer whose one surface is a circuit surface 14a, and the back grind tape 17 may be attached to the circuit surface 14a of the work 14.

図4は、支持シート10の使用方法の一例であって、本実施形態の第三積層体の製造方法のうち、第二の積層工程の一例を模式的に示す断面概要図である。 FIG. 4 is an example of a method of using the support sheet 10, and is a cross-sectional schematic view schematically showing an example of a second laminating step in the method of manufacturing the third laminated body of the present embodiment.

第二の積層工程において、ワーク14に保護膜形成フィルム13が貼付された第二積層体6(図4(d))のうち、保護膜形成フィルムの前記露出面とは反対の面(すなわち保護膜形成フィルムの第二面13b)に、支持シート10を貼付する(図4(e)及び図4(f))。 In the second laminating step, of the second laminated body 6 (FIG. 4D) to which the protective film forming film 13 is attached to the work 14, the surface of the protective film forming film opposite to the exposed surface (that is, protection). The support sheet 10 is attached to the second surface 13b) of the film-forming film (FIGS. 4 (e) and 4 (f)).

図4に示される第二の積層工程において、ワーク14の裏面14bに積層された保護膜形成フィルム13の第二面13bに、支持シート10を貼付する。支持シート10は、例えば、厚さ80μm、円形のポリプロピレンフィルムであり、外周部に、治具用接着剤層16を備えている。本実施形態では、ワーク14は、保護膜形成フィルム13とともに固定用治具18(例えば、リングフレーム)に固定されている。そして、保護膜形成フィルム13の第二面13bに、支持シート10を貼付するとともに、治具用接着剤層16を介して、固定用治具18(例えば、リングフレーム)に固定される(図4(e))。
支持シート10自体が固定用治具18に対して十分な接着性を有する場合は、治具用接着剤層16を必ずしも備えなくてもよい。
In the second laminating step shown in FIG. 4, the support sheet 10 is attached to the second surface 13b of the protective film forming film 13 laminated on the back surface 14b of the work 14. The support sheet 10 is, for example, a circular polypropylene film having a thickness of 80 μm, and is provided with an adhesive layer 16 for a jig on the outer peripheral portion. In the present embodiment, the work 14 is fixed to the fixing jig 18 (for example, a ring frame) together with the protective film forming film 13. Then, the support sheet 10 is attached to the second surface 13b of the protective film forming film 13 and is fixed to the fixing jig 18 (for example, a ring frame) via the jig adhesive layer 16 (FIG. FIG. 4 (e)).
When the support sheet 10 itself has sufficient adhesiveness to the fixing jig 18, the jig adhesive layer 16 does not necessarily have to be provided.

本実施形態の保護膜形成フィルム13は、23℃における破断伸度が700%より大きいものである。
図8(a)に例示されるように、ワーク14に貼付された保護膜形成フィルム13は、ワーク14からはみ出す場合がある。図8(c)に例示されるように、支持シート10を保護膜形成フィルム13に貼付するときに、ワーク14からはみ出した保護膜形成フィルム13のはみだし部90は割れて飛散するおそれがある。
保護膜形成フィルム13の、23℃における破断伸度は、700%より大きくすることもでき、800%より大きくすることもでき、1000%より大きくすることもでき、1200%より大きくすることもでき、1400%より大きくすることもでき、1900%より大きくすることもでき、3000%より大きくすることもでき、5000%より大きくすることもでき、7000%より大きくすることもできる。
保護膜形成フィルム13の、23℃における破断伸度が上記範囲内であることにより、支持シート10を保護膜形成フィルム13に貼付するときに、保護膜形成フィルム13のはみだし部90が割れて飛散するおそれを低減することができる。
The protective film-forming film 13 of the present embodiment has a breaking elongation at 23 ° C. of more than 700%.
As illustrated in FIG. 8A, the protective film-forming film 13 attached to the work 14 may protrude from the work 14. As illustrated in FIG. 8C, when the support sheet 10 is attached to the protective film forming film 13, the protruding portion 90 of the protective film forming film 13 protruding from the work 14 may crack and scatter.
The elongation at break of the protective film forming film 13 at 23 ° C. can be greater than 700%, greater than 800%, greater than 1000%, or greater than 1200%. It can be greater than 1400%, greater than 1900%, greater than 3000%, greater than 5000%, and greater than 7000%.
Since the breaking elongation of the protective film forming film 13 at 23 ° C. is within the above range, when the support sheet 10 is attached to the protective film forming film 13, the protruding portion 90 of the protective film forming film 13 is cracked and scattered. It is possible to reduce the risk of this.

従来、図6(A)で、半導体ウエハ8の裏面8bに、保護膜形成フィルム13を貼付する装置と、図6(D)で、保護膜13’に支持シート10を貼付する装置とは、別々の装置で行われ、それぞれの積層体は、複数の積層体が一のカセットに収容されて、次の装置に搬送することが行われていた。
しかしながら、本実施形態においては、少なくとも、図3に示される第一の積層工程から、図4に示される第二の積層工程までの間を、第一の積層工程を行う装置と第二の積層工程を行う装置を連結した装置内、又は同一の装置内で行うことができ、前記第一の積層工程から前記第二の積層工程までの間において、ワーク14に保護膜形成フィルム13が貼付された第二積層体6を一枚ずつ搬送することができる。すなわち、保護膜形成フィルム13及びワーク14の第二積層体6は、カセットに収容されることなく、図4に示される第二の積層工程に、第一の積層工程を行う装置と第二の積層工程を行う装置を連結した装置内、又は同一の装置内で搬送することができる。これにより、それぞれの工程を別々の装置で行われていた場合に比べて、意図しないゴミの付着等を抑えることができ、生産タクトも向上する。
Conventionally, in FIG. 6A, the apparatus for attaching the protective film forming film 13 to the back surface 8b of the semiconductor wafer 8 and the apparatus in FIG. 6D for attaching the support sheet 10 to the protective film 13' It was carried out in separate devices, and in each laminated body, a plurality of laminated bodies were housed in one cassette and transported to the next device.
However, in the present embodiment, at least between the first laminating step shown in FIG. 3 and the second laminating step shown in FIG. 4, the apparatus for performing the first laminating step and the second laminating step are performed. The protective film forming film 13 is attached to the work 14 between the first laminating step and the second laminating step, which can be performed in the device in which the devices for performing the steps are connected or in the same device. The second laminated body 6 can be conveyed one by one. That is, the second laminated body 6 of the protective film forming film 13 and the work 14 is not housed in the cassette, but is a device that performs the first laminating step in the second laminating step shown in FIG. It can be conveyed in a device in which devices for performing a laminating process are connected or in the same device. As a result, unintentional adhesion of dust and the like can be suppressed and production tact is improved as compared with the case where each process is performed by separate devices.

本実施形態において、第一の積層工程の後に、保護膜形成フィルム13から第二面13bの側の第2剥離フィルム152を剥離させる工程も、第一の積層工程を行う装置と第二の積層工程を行う装置を連結した装置内、又は同一の装置内で行う。第一の積層工程の前に、第一積層体5の保護膜形成フィルム13から、第一面13aの側の第1剥離フィルム151を剥離させる工程も、第一の積層工程を行う装置と第二の積層工程を行う装置を連結した装置内、又は同一の装置内で行うことが好ましい。 In the present embodiment, after the first laminating step, the step of peeling the second release film 152 on the side of the second surface 13b from the protective film forming film 13 is also a step of peeling the second release film 152 on the side of the second surface 13b with the apparatus performing the first laminating step and the second laminating The process is performed in a connected device or in the same device. Prior to the first laminating step, the step of peeling the first peeling film 151 on the side of the first surface 13a from the protective film forming film 13 of the first laminated body 5 is also a step of peeling the first laminating film 151 from the apparatus for performing the first laminating step. It is preferable to carry out the second laminating step in a connected device or in the same device.

本実施形態においては、図3(b)に示される第一の積層工程の貼付開始地点から、図4(f)に示される第二の積層工程の貼付完了地点までの間のワーク14の搬送距離を、7000mm以下に設計することができ、装置スペースを低減させることができる。図3(b)に示される第一の積層工程の貼付開始地点から、図4(f)に示される第二の積層工程の貼付完了地点までの間のワーク14の搬送距離は、6500mm以下にすることもでき、6000mm以下にすることもでき、4500mm以下にすることもでき、3000mm以下にすることもできる。
第一の積層工程の貼付開始地点から第二の積層工程の貼付完了地点までの間のワーク14の搬送距離が上記範囲内であることにより、保護膜形成フィルムに、空気に浮遊する意図しないゴミが付着するリスクを低減することができる。
In the present embodiment, the work 14 is transported from the sticking start point of the first laminating step shown in FIG. 3 (b) to the sticking completion point of the second laminating step shown in FIG. 4 (f). The distance can be designed to be 7,000 mm or less, and the device space can be reduced. The transport distance of the work 14 from the sticking start point of the first laminating step shown in FIG. 3 (b) to the sticking completion point of the second laminating step shown in FIG. 4 (f) is 6500 mm or less. It can be 6000 mm or less, 4500 mm or less, or 3000 mm or less.
When the transport distance of the work 14 from the sticking start point of the first laminating step to the sticking completion point of the second laminating step is within the above range, unintended dust floating in the air on the protective film forming film The risk of sticking can be reduced.

本実施形態においては、図3(b)に示される第一の積層工程の貼付開始時から、図4(f)に示される第二の積層工程の貼付完了時までの間のワーク14の搬送時間を、400s以下にすることができ、工程時間を短縮することができる。図3(b)に示される第一の積層工程の貼付開始時から、図4(f)に示される第二の積層工程の貼付完了時までの間のワーク14の搬送時間は、350s以下にすることもでき、300s以下にすることもでき、250s以下にすることもでき、200s以下にすることもでき、150s以下にすることもできる。
第一の積層工程の貼付開始時から第二の積層工程の貼付完了時までの間のワーク14の搬送時間が上記上限値以下であることにより、保護膜形成フィルムに、空気に浮遊する意図しないゴミが付着するリスクを低減することができる。
第一の積層工程の貼付開始時から第二の積層工程の貼付完了時までの間のワーク14の搬送時間は、50s以上にすることもでき、100s以上にすることもでき、150s以上にすることもでき、200s以上にすることもできる。
第一の積層工程の貼付開始時から第二の積層工程の貼付完了時までの間のワーク14の搬送時間が上記下限値より大きく、過剰に搬送が速すぎないことで、ワークを搬送する工程中に、ワークが機械アームで保持された状態で移動する場合に、ワークを落とさずに、正しく保持することができる。また、装置の可動部品の摩耗を低減できる。
In the present embodiment, the work 14 is conveyed from the start of pasting of the first laminating step shown in FIG. 3 (b) to the completion of pasting of the second laminating step shown in FIG. 4 (f). The time can be reduced to 400 s or less, and the process time can be shortened. The transport time of the work 14 from the start of pasting of the first laminating step shown in FIG. 3 (b) to the completion of pasting of the second laminating step shown in FIG. 4 (f) is 350 s or less. It can be 300 s or less, 250 s or less, 200 s or less, 150 s or less.
Since the transport time of the work 14 from the start of sticking in the first laminating step to the completion of sticking in the second laminating step is not more than the above upper limit value, it is not intended to float in the air on the protective film forming film. The risk of dust adhering can be reduced.
The transport time of the work 14 from the start of pasting in the first laminating step to the completion of pasting in the second laminating step can be 50 s or more, 100 s or more, or 150 s or more. It can also be 200s or more.
The process of transporting the work 14 from the start of pasting of the first laminating step to the completion of pasting of the second laminating step because the transport time of the work 14 is longer than the above lower limit value and the transport is not excessively fast. When the work is moved while being held by the machine arm, the work can be held correctly without dropping. In addition, wear of moving parts of the device can be reduced.

第一の積層工程においてワーク14に保護膜形成フィルム13の露出面を貼付する速度、及び、第二の積層工程において保護膜形成フィルム13の露出面とは反対の面に支持シート10を貼付する速度は、100mm/秒以下とすることもでき、80mm/秒以下とすることもでき、60mm/秒以下とすることもでき、40mm/秒以下とすることもできる。第一の積層工程における前記貼付する速度、及び、第二の積層工程における前記貼付する速度が上記上限値以下であることにより、ワーク14と保護膜形成フィルム13との間の密着性、保護膜形成フィルム13と支持シート10との間の密着性を良好なものとすることができる。
第一の積層工程における前記貼付する速度、及び、第二の積層工程における前記貼付する速度は、2mm/秒以上とすることもでき、5mm/秒以上とすることもでき、10mm/秒以上とすることもできる。第一の積層工程における前記貼付する速度、及び、第二の積層工程における前記貼付する速度が上記下限値以上であることにより、第三積層体19の生産効率を向上させるとともに、第一の積層工程の貼付開始時から第二の積層工程の貼付完了時までの間のワーク14の搬送時間を、400s以下とすることができる。
The speed at which the exposed surface of the protective film forming film 13 is attached to the work 14 in the first laminating step, and the support sheet 10 is attached to the surface opposite to the exposed surface of the protective film forming film 13 in the second laminating step. The speed can be 100 mm / sec or less, 80 mm / sec or less, 60 mm / sec or less, or 40 mm / sec or less. When the sticking speed in the first laminating step and the sticking speed in the second laminating step are not more than the above upper limit values, the adhesion between the work 14 and the protective film forming film 13 and the protective film The adhesion between the forming film 13 and the support sheet 10 can be improved.
The sticking speed in the first laminating step and the sticking speed in the second laminating step can be 2 mm / sec or more, 5 mm / sec or more, or 10 mm / sec or more. You can also do it. When the sticking speed in the first laminating step and the sticking speed in the second laminating step are equal to or higher than the lower limit, the production efficiency of the third laminated body 19 is improved and the first laminating is performed. The transport time of the work 14 from the start of sticking of the process to the completion of sticking of the second laminating step can be set to 400 s or less.

本実施形態においては、続いて、第一の積層工程を行う装置と第二の積層工程を行う装置を連結した装置内、又は同一の装置内で、支持シート10の、保護膜形成フィルム13とは反対の側の第2面10bを吸着テーブル80に吸着させ、第三積層体19から、バックグラインドテープ17を剥離させてもよい。図5は、第三積層体19から、バックグラインドテープ17を正常に剥離させることができた一例を模式的に示す断面概要図である。 In the present embodiment, subsequently, in the device in which the device for performing the first laminating step and the device for performing the second laminating step are connected, or in the same device, the protective film forming film 13 of the support sheet 10 is formed. The back grind tape 17 may be peeled off from the third laminated body 19 by adsorbing the second surface 10b on the opposite side to the suction table 80. FIG. 5 is a schematic cross-sectional view schematically showing an example in which the back grind tape 17 could be normally peeled off from the third laminated body 19.

本実施形態のキットを用いた本実施形態の第三積層体の製造方法は、前記キットをインラインプロセスで使用するものである。本実施形態においては、第二の積層工程の後に、前記ワークから、前記バックグラインドテープを剥離させる工程も、第一の積層工程を行う装置と第二の積層工程を行う装置を連結した装置内、又は同一の装置内で行われ、インラインプロセスで行われる。
本実施形態の第三積層体の製造方法は、第一の積層工程の貼付開始時から、10min未満で、前記ワークから、前記バックグラインドテープを剥離させ始めることができる。これにより、支持シート10が含有する材料と、保護膜形成フィルム13が含有する材料とが、相互移行するリスクを低減することができる。
The method for producing the third laminate of the present embodiment using the kit of the present embodiment is to use the kit in an in-line process. In the present embodiment, after the second laminating step, the step of peeling the back grind tape from the work is also in an apparatus in which the apparatus performing the first laminating step and the apparatus performing the second laminating step are connected. , Or in the same device and in an in-line process.
In the method for producing the third laminated body of the present embodiment, the backgrinding tape can be started to be peeled off from the work in less than 10 minutes from the start of application in the first laminating step. As a result, the risk of mutual migration between the material contained in the support sheet 10 and the material contained in the protective film forming film 13 can be reduced.

本実施形態において、図3(a)に示されるワーク14として、半導体ウエハを用いている。半導体ウエハの一方の面は回路面14aであり、バンプが形成されている。また、半導体ウエハの回路面14a及びバンプが、半導体ウエハの裏面研削時に潰れたり、ウエハ裏面におけるディンプルやクラックの発生を防止するために、半導体ウエハの回路面14a及びバンプは、回路面保護用テープによって保護されている。回路面保護用テープはバックグラインドテープ17であり、ワーク14である半導体ウエハの裏面(すなわち、ワークの裏面14b)は研削された面である。 In this embodiment, a semiconductor wafer is used as the work 14 shown in FIG. 3 (a). One surface of the semiconductor wafer is the circuit surface 14a, on which bumps are formed. Further, in order to prevent the circuit surface 14a and bumps of the semiconductor wafer from being crushed during backside grinding of the semiconductor wafer and the occurrence of dimples and cracks on the back surface of the wafer, the circuit surface 14a and bumps of the semiconductor wafer are provided with a circuit surface protection tape. Protected by. The circuit surface protection tape is a back grind tape 17, and the back surface of the semiconductor wafer, which is the work 14, (that is, the back surface 14b of the work) is a ground surface.

ワーク14としては、一方に回路面14aを有し、他方の面が裏面と云えるものであれば限定されない。ワーク14として、一方に回路面を有する半導体ウエハや、個片化され個々の電子部品が封止樹脂で封止され、一方に、端子付き半導体装置の端子形成面(換言すると回路面)を有する端子付き半導体装置集合体からなる半導体装置パネル等を例示することができる。 The work 14 is not limited as long as it has a circuit surface 14a on one side and the other surface can be said to be the back surface. As the work 14, a semiconductor wafer having a circuit surface on one side or individual electronic components are sealed with a sealing resin, and one side has a terminal forming surface (in other words, a circuit surface) of a semiconductor device with terminals. An example includes a semiconductor device panel composed of a semiconductor device assembly with terminals.

バックグラインドテープ17としては、例えば、2016−192488号公報、特開2009−141265号公報に開示された表面保護用シートを用いることができる。バックグラインドテープ17は、適度な再剥離性を有する粘着剤層を備えている。前記粘着剤層は、ゴム系、アクリル系、シリコーン系、ウレタン系、ビニルエーテル系など汎用の弱粘着タイプの粘着剤から形成されてもよい。また、前記粘着剤層は、エネルギー線の照射により硬化して再剥離性となるエネルギー線硬化型粘着剤であってもよい。バックグラインドテープ17が両面テープ形状となっており、バックグラインドテープ17のさらに外側が硬質支持体に固定されていてもよく、硬質の支持体にワーク14が固定されていてもよい。 As the back grind tape 17, for example, the surface protection sheet disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-192488 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-141265 can be used. The back grind tape 17 has an adhesive layer having an appropriate removability. The pressure-sensitive adhesive layer may be formed of a general-purpose weak adhesive type pressure-sensitive adhesive such as rubber-based, acrylic-based, silicone-based, urethane-based, and vinyl ether-based. Further, the pressure-sensitive adhesive layer may be an energy ray-curable pressure-sensitive adhesive that is cured by irradiation with energy rays and becomes removable. The back grind tape 17 has a double-sided tape shape, and the outer side of the back grind tape 17 may be fixed to a hard support, or the work 14 may be fixed to a hard support.

本明細書において、「エネルギー線」とは、電磁波又は荷電粒子線の中でエネルギー量子を有するものを意味する。エネルギー線の例としては、紫外線、放射線、電子線等が挙げられる。紫外線は、例えば、紫外線源として高圧水銀ランプ、ヒュージョンランプ、キセノンランプ、ブラックライト又はLEDランプ等を用いることで照射できる。電子線は、電子線加速器等によって発生させたものを照射できる。
また、本明細書において、「エネルギー線硬化性」とは、エネルギー線を照射することにより硬化する性質を意味し、「非エネルギー線硬化性」とは、エネルギー線を照射しても硬化しない性質を意味する。
As used herein, the term "energy ray" means an electromagnetic wave or a charged particle beam having an energy quantum. Examples of energy rays include ultraviolet rays, radiation, electron beams and the like. Ultraviolet rays can be irradiated by using, for example, a high-pressure mercury lamp, a fusion lamp, a xenon lamp, a black light, an LED lamp, or the like as an ultraviolet source. The electron beam can be irradiated with an electron beam generated by an electron beam accelerator or the like.
Further, in the present specification, "energy ray curable" means a property of being cured by irradiating with energy rays, and "non-energy ray curable" is a property of not being cured by irradiating with energy rays. Means.

<第一積層体>
第一積層体5は、例えば、次の様に調製することができる。厚さ38μmの第2剥離フィルム152の剥離面上に、溶媒を含有する保護膜形成組成物を、ナイフコーターにて塗布した後、オーブンにて120℃で2分間乾燥させて、保護膜形成フィルムを形成する。次いで、保護膜形成フィルムに厚さ38μmの第1剥離フィルム151の剥離面を重ねて両者を貼り合わせ、第1剥離フィルム151と、保護膜形成フィルム(厚さ:25μm)と、第2剥離フィルム152とからなる第一積層体5を得ることができる。このような第一積層体5は、例えば、ロール状として保管するのに好適である。
<First laminate>
The first laminated body 5 can be prepared, for example, as follows. A solvent-containing protective film-forming composition is applied on the peeling surface of the second release film 152 having a thickness of 38 μm with a knife coater, and then dried in an oven at 120 ° C. for 2 minutes to form a protective film-forming film. To form. Next, the release surface of the first release film 151 having a thickness of 38 μm was overlapped with the protective film-forming film and the two were bonded to each other, and the first release film 151, the protective film-forming film (thickness: 25 μm), and the second release film were attached. The first laminated film 5 made of 152 can be obtained. Such a first laminated body 5 is suitable for storage as, for example, a roll.

第1剥離フィルム151の剥離面を、例えば、表面粗さRaが200nmの粗面とし、第2剥離フィルム152の剥離面を、前記粗面の表面粗さよりも平滑な、例えば、表面粗さRaが30nmの平滑面とすることで、第一積層体5を調製することができる。 The peeled surface of the first release film 151 is, for example, a rough surface having a surface roughness Ra of 200 nm, and the peeled surface of the second release film 152 is smoother than the surface roughness of the rough surface, for example, the surface roughness Ra. The first laminated body 5 can be prepared by setting the smooth surface to 30 nm.

あるいは、第1剥離フィルム151の剥離面の面粗さRaと、第2剥離フィルム152の剥離面の表面粗さとが、同じ平滑面であっても、例えば、次の様にして、第一積層体5を調製することができる。 Alternatively, even if the surface roughness Ra of the release surface of the first release film 151 and the surface roughness of the release surface of the second release film 152 are the same smooth surface, for example, the first lamination is performed as follows. Body 5 can be prepared.

すなわち、第2剥離フィルム152の、表面粗さRaが30nmの剥離面上に、溶媒を含有する保護膜形成組成物を、ナイフコーターにて塗布した後、オーブンにて120℃で2分間乾燥させて、保護膜形成フィルムを形成する。次いで、保護膜形成フィルムに厚さ38μmの第1剥離フィルム151の、表面粗さRaが30nmの剥離面を重ねて、例えば、23℃、0.4MPaの条件で、両者を貼り合わせて、第1剥離フィルム151と、保護膜形成フィルム13(厚さ:25μm)と、第2剥離フィルム152とからなる保護膜形成フィルムを得ることができる。これによって、保護膜形成フィルム13の第一面13aと第1剥離フィルム151との間は軽剥離面となり、保護膜形成フィルム13の第二面13bと第2剥離フィルム152との間を前記軽剥離面の剥離強度よりも、大きい剥離強度の重剥離面となる。このような第一積層体5も、例えば、ロール状として保管するのに好適である。 That is, a protective film-forming composition containing a solvent is applied to the peeled surface of the second peeling film 152 having a surface roughness Ra of 30 nm with a knife coater, and then dried in an oven at 120 ° C. for 2 minutes. To form a protective film-forming film. Next, the release surface of the first release film 151 having a thickness of 38 μm and a surface roughness Ra of 30 nm was overlapped with the protective film-forming film, and both were bonded together under the conditions of, for example, 23 ° C. and 0.4 MPa. A protective film-forming film composed of 1 release film 151, a protective film-forming film 13 (thickness: 25 μm), and a second release film 152 can be obtained. As a result, the first surface 13a of the protective film forming film 13 and the first release film 151 become a light release surface, and the space between the second surface 13b of the protective film forming film 13 and the second release film 152 is said to be light. It becomes a heavy peeling surface with a peeling strength larger than the peeling strength of the peeling surface. Such a first laminated body 5 is also suitable for storage as, for example, a roll.

保護膜形成フィルムの第1剥離フィルム151側の表面粗さは、保護膜形成フィルムに第1剥離フィルム151の剥離面を貼り合わせる温度及び圧力の条件により調整することができる。保護膜形成フィルムに第1剥離フィルム151の剥離面を貼り合わせる温度及び圧力の条件を高くすれば、保護膜形成フィルムの第1剥離フィルム151側の表面粗さは、第1剥離フィルム151の剥離面の表面粗さに忠実になる。 The surface roughness of the protective film-forming film on the first release film 151 side can be adjusted by adjusting the temperature and pressure conditions at which the release surface of the first release film 151 is attached to the protective film-forming film. If the temperature and pressure conditions for bonding the release surface of the first release film 151 to the protective film-forming film are increased, the surface roughness of the protective film-forming film on the first release film 151 side can be increased by peeling the first release film 151. Be faithful to the surface roughness of the surface.

前記ワークの前記裏面側に向かい合わされる、前記保護膜形成フィルムの前記粗面の表面粗さRaは、32〜1200nmであってもよく、32〜1000nmであることが好ましく、32〜900nmであることがより好ましく、32〜800nmであることが特に好ましい。 The surface roughness Ra of the rough surface of the protective film-forming film facing the back surface side of the work may be 32 to 1200 nm, preferably 32 to 1000 nm, and is preferably 32 to 900 nm. More preferably, it is particularly preferably 32 to 800 nm.

前記保護膜形成フィルムの前記粗面の表面粗さRaが大きい方が、実質、剥離フィルムとの接する面積が小さくなる。したがって、前記保護膜形成フィルムの前記粗面の表面粗さRaは、前記下限値以上であることにより、前記保護膜形成フィルムの前記粗面の側を剥離させる際には優先的に剥がれ易くなる。
これにより、軽面剥離フィルムを剥離させる際に、保護膜形成フィルムの軽剥離からの剥離が適切に行われず、保護膜形成フィルムの一部が軽面剥離フィルム上に残存する、いわゆるナキワカレと呼ばれる剥離不良のリスクが低減できる。
The larger the surface roughness Ra of the rough surface of the protective film forming film, the smaller the area in contact with the release film. Therefore, when the surface roughness Ra of the rough surface of the protective film-forming film is at least the lower limit value, the protective film-forming film is likely to be peeled off preferentially when the rough surface side is peeled off. ..
As a result, when the light surface release film is peeled off, the protective film-forming film is not properly peeled off from the light peeling, and a part of the protective film-forming film remains on the light surface release film, so-called Nakiwakare. The risk of poor peeling can be reduced.

前記支持シートの側に向かい合わされる、前記保護膜形成フィルムの前記平滑面の表面粗さRaは、20〜80nmであることが好ましく、24〜50nmであることが好ましく、28〜32nmであることが好ましい。 The surface roughness Ra of the smooth surface of the protective film-forming film facing the side of the support sheet is preferably 20 to 80 nm, preferably 24 to 50 nm, and 28 to 32 nm. Is preferable.

前記保護膜形成フィルムの前記平滑面の表面粗さRaに対する、前記保護膜形成フィルムの前記粗面の表面粗さRaの比(粗面の表面粗さRa/平滑面の表面粗さRa)は、1.1〜50であってもよく、1.2〜45であってもよく、1.3〜35であってもよく、1.4〜30であってもよく、1.5〜24であってもよい。 The ratio of the surface roughness Ra of the rough surface of the protective film-forming film to the surface roughness Ra of the smooth surface of the protective film-forming film (rough surface surface roughness Ra / smooth surface surface roughness Ra) is , 1.1 to 50, 1.2 to 45, 1.3 to 35, 1.4 to 30, 1.5 to 24. It may be.

(保護膜形成組成物)
保護膜形成フィルムを形成するための保護膜形成組成物の組成として、強い保護性能が求められない用途では、硬化性成分を含有しない保護膜形成組成物を用いることができ、硬化工程が必要ないので使用が容易である。ただし、脆質なチップによっては、十分な接着性と保護性能を得ることができない可能性はある。保護膜形成フィルムを形成するための保護膜形成組成物の組成としては、重合体成分及び硬化性成分を含有することが好ましい。
(Protective film forming composition)
As the composition of the protective film-forming composition for forming the protective film-forming film, a protective film-forming composition containing no curable component can be used in applications where strong protective performance is not required, and a curing step is not required. So it is easy to use. However, depending on the brittle tip, it may not be possible to obtain sufficient adhesiveness and protective performance. The composition of the protective film-forming composition for forming the protective film-forming film preferably contains a polymer component and a curable component.

重合体成分は、硬化性成分にも該当する場合がある。本明細書においては、保護膜形成組成物が、このような重合体成分及び硬化性成分の両方に該当する成分を含有する場合、保護膜形成組成物は、重合体成分及び硬化性成分を含有するとみなす。 The polymer component may also correspond to a curable component. In the present specification, when the protective film-forming composition contains a component corresponding to both the polymer component and the curable component, the protective film-forming composition contains the polymer component and the curable component. Then consider it.

(重合体成分)
保護膜形成フィルムに十分な粘着性および造膜性(シート形成性)を付与するために重合体成分が用いられる。重合体成分としては、アクリルポリマー、ポリエステル樹脂、ウレタン樹脂、アクリルウレタン樹脂、シリコーン樹脂、ゴム系ポリマー等を用いることができる。
(Polymer component)
A polymer component is used to impart sufficient adhesiveness and film-forming property (sheet-forming property) to the protective film-forming film. As the polymer component, an acrylic polymer, a polyester resin, a urethane resin, an acrylic urethane resin, a silicone resin, a rubber-based polymer, or the like can be used.

重合体成分の重量平均分子量(Mw)は、1万〜200万であることが好ましく、10万〜120万であることがより好ましく、20万〜100万であることがさらに好ましく、30万〜90万であることが特に好ましい。重合体成分の重量平均分子量が上記下限値以上であると、剥離フィルムが剥がし易くなり、ナキワカレと呼ばれる剥離不良のリスクが低減される。重合体成分の重量平均分子量が上記上限値以下であると、保護膜形成フィルムの粘着性の低下によりワークに貼付できなくなることが防止され、貼付後にワークから保護膜形成フィルムが剥離することが防止される。また、重量平均分子量(Mw)が上記の範囲内であることによって、適した破断伸度を達成し易くなる。 The weight average molecular weight (Mw) of the polymer component is preferably 10,000 to 2 million, more preferably 100,000 to 1.2 million, further preferably 200,000 to 1,000,000, and 300,000 to 300,000. It is particularly preferably 900,000. When the weight average molecular weight of the polymer component is at least the above lower limit value, the release film is easily peeled off, and the risk of peeling failure called Nakiwakare is reduced. When the weight average molecular weight of the polymer component is not more than the above upper limit value, it is prevented that the protective film-forming film cannot be attached to the work due to a decrease in adhesiveness, and the protective film-forming film is prevented from peeling off from the work after application. Will be done. Further, when the weight average molecular weight (Mw) is within the above range, it becomes easy to achieve a suitable elongation at break.

分子量分布(Mw/Mn)は、4以上であることが好ましく、4.2以上であることがより好ましく、4.5以上であることがさらに好ましく、5.5以上であることが特に好ましく、7以上であることが最も好ましい。分子量分布を上記下限値以上とすることにより、様々な分子量の分子が重合体成分中に存在することで、保護膜形成フィルム13は大きな破断伸度を達成し易くなる。
分子量分布(Mw/Mn)は、14以下であることが好ましく、12以下であることがより好ましく、11以下であることがさらに好ましく、10以下であることが特に好ましい。分子量分布を上記上限値以下とすることにより、ワーク14と保護膜形成フィルム13の接着信頼性を向上させることができる。
ここで、Mnは数平均分子量である。
The molecular weight distribution (Mw / Mn) is preferably 4 or more, more preferably 4.2 or more, further preferably 4.5 or more, and particularly preferably 5.5 or more. Most preferably, it is 7 or more. By setting the molecular weight distribution to the above lower limit value or more, molecules having various molecular weights are present in the polymer component, so that the protective film-forming film 13 can easily achieve a large elongation at break.
The molecular weight distribution (Mw / Mn) is preferably 14 or less, more preferably 12 or less, further preferably 11 or less, and particularly preferably 10 or less. By setting the molecular weight distribution to the above upper limit value or less, the adhesion reliability between the work 14 and the protective film forming film 13 can be improved.
Here, Mn is a number average molecular weight.

各成分の重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)の値は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法で測定される標準ポリスチレン換算の値である。 The weight average molecular weight (Mw) and number average molecular weight (Mn) values of each component are standard polystyrene-equivalent values measured by gel permeation chromatography (GPC).

重合体成分として、アクリルポリマーが好ましく用いられる。アクリルポリマーのガラス転移温度(Tg)は、−60〜50℃であることが好ましく、−50〜40℃であることがより好ましく、−40〜30℃であることがさらに好ましく、例えば、−30〜20℃であってもよく、−25〜15℃であってもよく、−20〜10℃であってもよい。
アクリルポリマーのガラス転移温度が上記下限値以上であると、剥離フィルムが剥がし易くなり、ナキワカレと呼ばれる剥離不良のリスクが低減される。アクリルポリマーのガラス転移温度が上記上限値以下であると、保護膜形成フィルムの粘着性の低下によりワークに貼付できなくなることが防止され、貼付後にワークから保護膜形成フィルムが剥離することが防止され、また、ロール体にして保護膜形成フィルムが屈曲した際に割れ(ヒビ)が発生するリスクが低減される。さらに、ガラス転移温度(Tg)が上記の範囲であることによって、適した破断伸度を達成し易くなる。
Acrylic polymer is preferably used as the polymer component. The glass transition temperature (Tg) of the acrylic polymer is preferably -60 to 50 ° C, more preferably -50 to 40 ° C, further preferably -40 to 30 ° C, for example -30. It may be ~ 20 ° C., 25-15 ° C., or −20-10 ° C.
When the glass transition temperature of the acrylic polymer is at least the above lower limit value, the release film is easily peeled off, and the risk of peeling failure called Nakiwakare is reduced. When the glass transition temperature of the acrylic polymer is equal to or lower than the above upper limit, it is prevented that the protective film-forming film cannot be attached to the work due to a decrease in adhesiveness, and the protective film-forming film is prevented from peeling from the work after application. In addition, the risk of cracks occurring when the protective film-forming film is bent as a roll is reduced. Further, when the glass transition temperature (Tg) is in the above range, it becomes easy to achieve a suitable elongation at break.

接着性および造膜性の観点から、重合体成分の好ましい含有量は、保護膜形成フィルム全重量100に対して、5〜80質量部であることが好ましく、8〜70質量部であることがより好ましく、11〜60質量部であることがさらに好ましく、例えば、14〜50質量部であってもよく、17〜45質量部であってもよく、20〜40質量部であってもよい。重合体成分の含有量が上記範囲内であることによって、適した破断伸度を達成し易くなる。 From the viewpoint of adhesiveness and film-forming property, the preferable content of the polymer component is preferably 5 to 80 parts by mass and 8 to 70 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total weight of the protective film-forming film. More preferably, it is 11 to 60 parts by mass, and for example, it may be 14 to 50 parts by mass, 17 to 45 parts by mass, or 20 to 40 parts by mass. When the content of the polymer component is within the above range, it becomes easy to achieve a suitable elongation at break.

重合体成分を構成する樹脂のガラス転移温度(Tg)は、以下に示すFoxの式を用いて計算から求めることができる。
1/Tg=(W1/Tg1)+(W2/Tg2)+…+(Wm/Tgm)
(式中、Tgは重合体成分を構成する樹脂のガラス転移温度であり、Tg1,Tg2,…Tgmは重合体成分を構成する樹脂の原料となる各単量体のホモポリマーのガラス転移温度であり、W1,W2,…Wmは各単量体の質量分率である。ただし、W1+W2+…+Wm=1である。)
前記Foxの式における各単量体のホモポリマーのガラス転移温度は、粘着ハンドブック又はPolymer Handbook等に記載の値を用いることができる。例えば、ホモポリマーのガラス転移温度は、アクリル酸メチルは10℃、メタクリル酸メチルは105℃、アクリル酸2−ヒドロキシエチルは−15℃、n−ブチルアクリレートは−54℃、グリシジルメタクリレートは41℃である。
The glass transition temperature (Tg) of the resin constituting the polymer component can be obtained by calculation using the Fox formula shown below.
1 / Tg = (W1 / Tg1) + (W2 / Tg2) + ... + (Wm / Tgm)
(In the formula, Tg is the glass transition temperature of the resin constituting the polymer component, and Tg1, Tg2, ... Tgm is the glass transition temperature of the homopolymer of each monomer which is the raw material of the resin constituting the polymer component. Yes, W1, W2, ... Wm is the mass fraction of each monomer. However, W1 + W2 + ... + Wm = 1.)
For the glass transition temperature of the homopolymer of each monomer in the Fox formula, the value described in the adhesive handbook, Polymer Handbook, or the like can be used. For example, the glass transition temperature of a homopolymer is 10 ° C for methyl acrylate, 105 ° C for methyl methacrylate, -15 ° C for 2-hydroxyethyl acrylate, -54 ° C for n-butyl acrylate, and 41 ° C for glycidyl methacrylate. is there.

上記アクリルポリマーを構成するモノマーとしては、(メタ)アクリル酸エステルモノマーまたはその誘導体が挙げられる。例えば、アルキル基の炭素数が1〜18であるアルキル(メタ)アクリレート、具体的にはメチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、プロピル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレートなどが挙げられる。また、環状骨格を有する(メタ)アクリレート、具体的にはシクロヘキシル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチル(メタ)アクリレート、イミド(メタ)アクリレートなどが挙げられる。さらに官能基を有するモノマーとして、水酸基を有するヒドロキシメチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレートなどが挙げられ;その他、エポキシ基を有するグリシジル(メタ)アクリレートなどが挙げられる。アクリルポリマーは、水酸基を有しているモノマーを含有しているアクリルポリマーが、後述する硬化性成分との相溶性が良いため好ましい。また、上記アクリルポリマーは、アクリル酸、メタクリル酸、イタコン酸、酢酸ビニル、アクリロニトリル、スチレンなどが共重合されていてもよい。 Examples of the monomer constituting the acrylic polymer include a (meth) acrylic acid ester monomer or a derivative thereof. For example, alkyl (meth) acrylates having an alkyl group having 1 to 18 carbon atoms, specifically methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl. Examples include (meth) acrylate. Further, a (meth) acrylate having a cyclic skeleton, specifically, cyclohexyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, Examples thereof include dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate and imide (meth) acrylate. Further, examples of the monomer having a functional group include hydroxymethyl (meth) acrylate having a hydroxyl group, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate and the like; and glycidyl (meth) having an epoxy group. Examples include acrylate. As the acrylic polymer, an acrylic polymer containing a monomer having a hydroxyl group is preferable because it has good compatibility with a curable component described later. Further, the acrylic polymer may be copolymerized with acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, vinyl acetate, acrylonitrile, styrene and the like.

さらに、重合体成分として、硬化後の保護膜の可とう性を保持するための熱可塑性樹脂を配合してもよい。そのような熱可塑性樹脂としては、重量平均分子量が1000〜10万のものが好ましく、3000〜8万のものがさらに好ましい。熱可塑性樹脂のガラス転移温度は、好ましくは−30〜120℃、さらに好ましくは−20〜120℃のものが好ましい。熱可塑性樹脂としては、ポリエステル樹脂、ウレタン樹脂、フェノキシ樹脂、ポリブテン、ポリブタジエン、ポリスチレンなどが挙げられる。これらの熱可塑性樹脂は、1種単独で、または2種以上混合して使用することができる。上記の熱可塑性樹脂を含有することにより、保護膜形成フィルムの転写面に保護膜形成フィルムが追従しボイドなどの発生を抑えることができる。 Further, as a polymer component, a thermoplastic resin for maintaining the flexibility of the protective film after curing may be blended. As such a thermoplastic resin, one having a weight average molecular weight of 10 to 100,000 is preferable, and one having a weight average molecular weight of 3000 to 80,000 is more preferable. The glass transition temperature of the thermoplastic resin is preferably -30 to 120 ° C, more preferably -20 to 120 ° C. Examples of the thermoplastic resin include polyester resin, urethane resin, phenoxy resin, polybutene, polybutadiene, polystyrene and the like. These thermoplastic resins can be used alone or in admixture of two or more. By containing the above-mentioned thermoplastic resin, the protective film-forming film follows the transfer surface of the protective film-forming film, and the generation of voids and the like can be suppressed.

(硬化性成分)
硬化性成分は、熱硬化性成分および/またはエネルギー線硬化性成分が用いられる。これにより、保護膜形成フィルムを、熱硬化性および/またはエネルギー線硬化性とすることができる。
(Curable component)
As the curable component, a thermosetting component and / or an energy ray curable component is used. Thereby, the protective film forming film can be made thermosetting and / or energy ray curable.

熱硬化性の保護膜形成フィルムを用いることにより、保護膜形成フィルムを厚膜化しても熱硬化が容易にできるので、保護性能の良好な、保護膜形成フィルムの厚膜化が可能となる。加熱硬化工程では、多数のワークの一括硬化が可能である。 By using a thermosetting protective film-forming film, thermosetting can be easily performed even if the protective film-forming film is thickened, so that the protective film-forming film having good protective performance can be thickened. In the heat curing step, a large number of workpieces can be cured at once.

エネルギー線硬化性の保護膜形成フィルムを用いることにより、保護膜形成フィルムのエネルギー線硬化が短時間にできる。 By using the energy ray-curable protective film-forming film, the energy ray-curing of the protective film-forming film can be performed in a short time.

熱硬化性成分としては、熱硬化樹脂および熱硬化剤が用いられる。熱硬化樹脂としては、たとえば、エポキシ樹脂が好ましい。 As the thermosetting component, a thermosetting resin and a thermosetting agent are used. As the thermosetting resin, for example, an epoxy resin is preferable.

エポキシ樹脂としては、従来公知のエポキシ樹脂を用いることができる。エポキシ樹脂としては、具体的には、多官能系エポキシ樹脂や、ビフェニル化合物、ビスフェノールAジグリシジルエーテルやその水添物、オルソクレゾールノボラックエポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェニレン骨格型エポキシ樹脂など、分子中に2官能以上有するエポキシ化合物が挙げられる。これらは1種単独で、または2種以上を組み合わせて用いることができる。 As the epoxy resin, a conventionally known epoxy resin can be used. Specific examples of the epoxy resin include polyfunctional epoxy resin, biphenyl compound, bisphenol A diglycidyl ether and its hydrogenated product, orthocresol novolac epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and bisphenol. Examples thereof include epoxy compounds having bifunctionality or higher in the molecule, such as A-type epoxy resin, bisphenol F-type epoxy resin, and phenylene skeleton-type epoxy resin. These can be used alone or in combination of two or more.

熱硬化性成分の好ましい含有量は、保護膜形成フィルム全重量100に対して、1〜75質量部であることが好ましく、2〜65質量部であることがより好ましく、3〜60質量部であることがさらに好ましく、例えば、4〜55質量部であってもよく、5〜50質量部であってもよく、6〜45質量部であってもよい。
熱硬化樹脂の含有量が、上記下限値以上であると保護膜がワークとの十分な接着性を得ることができ、保護膜がワークを保護する性能が優れ、上記上限値以下であるとロール体として保管した際の保管安定性に優れる。
The preferable content of the thermosetting component is preferably 1 to 75 parts by mass, more preferably 2 to 65 parts by mass, and 3 to 60 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total weight of the protective film forming film. It is more preferable, for example, it may be 4 to 55 parts by mass, 5 to 50 parts by mass, or 6 to 45 parts by mass.
When the content of the thermosetting resin is at least the above lower limit value, the protective film can obtain sufficient adhesiveness to the work, the performance of the protective film to protect the work is excellent, and when it is at least the above upper limit value, the roll Excellent storage stability when stored as a body.

熱硬化剤は、熱硬化樹脂、特にエポキシ樹脂に対する硬化剤として機能する。好ましい熱硬化剤としては、1分子中にエポキシ基と反応しうる官能基を2個以上有する化合物が挙げられる。その官能基としてはフェノール性水酸基、アルコール性水酸基、アミノ基、カルボキシル基および酸無水物などが挙げられる。これらのうち好ましくはフェノール性水酸基、アミノ基、酸無水物などが挙げられ、さらに好ましくはフェノール性水酸基、アミノ基が挙げられる。 The thermosetting agent functions as a curing agent for thermosetting resins, particularly epoxy resins. Preferred thermosetting agents include compounds having two or more functional groups capable of reacting with epoxy groups in one molecule. Examples of the functional group include a phenolic hydroxyl group, an alcoholic hydroxyl group, an amino group, a carboxyl group and an acid anhydride. Of these, phenolic hydroxyl groups, amino groups, acid anhydrides and the like are preferable, and phenolic hydroxyl groups and amino groups are more preferable.

フェノール系硬化剤の具体的な例としては、多官能系フェノール樹脂、ビフェノール、ノボラック型フェノール樹脂、ジシクロペンタジエン系フェノール樹脂、ザイロック型フェノール樹脂、アラルキルフェノール樹脂が挙げられる。アミン系硬化剤の具体的な例としては、DICY(ジシアンジアミド)が挙げられる。これらは、1種単独で、または2種以上混合して使用することができる。 Specific examples of the phenol-based curing agent include polyfunctional phenol resins, biphenols, novolak-type phenol resins, dicyclopentadiene-based phenol resins, zylock-type phenol resins, and aralkyl phenol resins. Specific examples of the amine-based curing agent include DICY (dicyandiamide). These can be used alone or in combination of two or more.

熱硬化剤の含有量は、熱硬化樹脂100質量部に対して、0.1〜500質量部であることが好ましく、1〜200質量部であることがより好ましい。熱硬化剤の含有量が、上記下限値以上であると十分に硬化し接着性が得られ、上記上限値以下であると保護膜の吸湿率が抑えられワークと保護膜の接着信頼性が向上する。 The content of the thermosetting agent is preferably 0.1 to 500 parts by mass, and more preferably 1 to 200 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the thermosetting resin. When the content of the thermosetting agent is at least the above lower limit value, it is sufficiently cured and adhesiveness is obtained, and when it is at least the above upper limit value, the hygroscopicity of the protective film is suppressed and the adhesion reliability between the work and the protective film is improved. To do.

エネルギー線硬化性成分としては、エネルギー線重合性基を含み、紫外線、電子線等のエネルギー線の照射を受けると重合硬化する低分子化合物(エネルギー線重合性化合物)を用いることができる。このようなエネルギー線硬化性成分として具体的には、トリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレートあるいは1,4−ブチレングリコールジアクリレート、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、ポリエチレングリコールジアクリレート、オリゴエステルアクリレート、ウレタンアクリレート系オリゴマー、エポキシ変性アクリレート、ポリエーテルアクリレートおよびイタコン酸オリゴマーなどのアクリレート系化合物が挙げられる。このような化合物は、分子内に少なくとも1つの重合性二重結合を有し、通常は、重量平均分子量が100〜30000、好ましくは300〜10000程度である。エネルギー線硬化性成分の好ましい含有量は、保護膜形成フィルム全重量100に対して、1〜80質量部であることが好ましく、2〜70質量部であることがより好ましく、3〜60質量部であることがさらに好ましく、例えば、4〜50質量部であってもよく、5〜40質量部であってもよい。 As the energy ray-curable component, a low molecular weight compound (energy ray-polymerizable compound) containing an energy ray-polymerizable group and polymerizing and curing when irradiated with energy rays such as ultraviolet rays and electron beams can be used. Specifically, as such an energy ray-curable component, trimethylolpropantriacrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, dipentaerythritol monohydroxypentaacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate or 1,4-butylene glycol. Examples thereof include acrylate-based compounds such as diacrylate, 1,6-hexanediol diacrylate, polyethylene glycol diacrylate, oligoester acrylate, urethane acrylate-based oligomer, epoxy-modified acrylate, polyether acrylate and itaconic acid oligomer. Such compounds have at least one polymerizable double bond in the molecule and usually have a weight average molecular weight of about 100 to 30,000, preferably about 300 to 10000. The preferable content of the energy ray-curable component is preferably 1 to 80 parts by mass, more preferably 2 to 70 parts by mass, and 3 to 60 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total weight of the protective film forming film. Is more preferable, for example, it may be 4 to 50 parts by mass, or 5 to 40 parts by mass.

エネルギー線硬化型重合体の主骨格は特に限定はされず、重合体成分として汎用されているアクリルポリマーであってもよく、またポリエステル、ポリエーテル等であっても良いが、合成および物性の制御が容易であることから、アクリルポリマーを主骨格とすることが特に好ましい。 The main skeleton of the energy ray-curable polymer is not particularly limited, and may be an acrylic polymer that is widely used as a polymer component, or may be polyester, polyether, or the like, but synthesis and control of physical properties may be used. It is particularly preferable to use an acrylic polymer as a main skeleton because it is easy to use.

エネルギー線硬化型重合体の主鎖または側鎖に結合するエネルギー線重合性基は、たとえばエネルギー線重合性の炭素−炭素二重結合を含む基であり、具体的には(メタ)アクリロイル基等を例示することができる。エネルギー線重合性基は、アルキレン基、アルキレンオキシ基、ポリアルキレンオキシ基を介してエネルギー線硬化型重合体に結合していてもよい。 The energy ray-polymerizable group bonded to the main chain or side chain of the energy ray-curable polymer is, for example, a group containing an energy ray-polymerizable carbon-carbon double bond, specifically, a (meth) acryloyl group or the like. Can be exemplified. The energy ray-polymerizable group may be bonded to the energy ray-curable polymer via an alkylene group, an alkyleneoxy group, or a polyalkyleneoxy group.

エネルギー線重合性基が結合されたエネルギー線硬化型重合体の重量平均分子量(Mw)は、1万〜200万であることが好ましく、10万〜150万であることがより好ましい。また、エネルギー線硬化型重合体のガラス転移温度(Tg)は、好ましくは−60〜50℃、さらに好ましくは−50〜40℃、特に好ましくは−40〜30℃の範囲にある。 The weight average molecular weight (Mw) of the energy ray-curable polymer to which the energy ray-polymerizable group is bonded is preferably 10,000 to 2 million, more preferably 100,000 to 1.5 million. The glass transition temperature (Tg) of the energy ray-curable polymer is preferably in the range of -60 to 50 ° C, more preferably -50 to 40 ° C, and particularly preferably -40 to 30 ° C.

エネルギー線硬化型重合体は、例えば、ヒドロキシル基、カルボキシル基、アミノ基、置換アミノ基、エポキシ基等の官能基を含有するアクリルポリマーと、該官能基と反応する置換基とエネルギー線重合性炭素−炭素二重結合を1分子毎に1〜5個を有する重合性基含有化合物とを反応させて得られる。該官能基と反応する置換基としては、イソシアネート基、グリシジル基、カルボキシル基等が挙げられる。 The energy ray-curable polymer is, for example, an acrylic polymer containing a functional group such as a hydroxyl group, a carboxyl group, an amino group, a substituted amino group, or an epoxy group, and a substituent and an energy ray-polymerizable carbon that react with the functional group. It is obtained by reacting with a polymerizable group-containing compound having 1 to 5 carbon double bonds per molecule. Examples of the substituent that reacts with the functional group include an isocyanate group, a glycidyl group, a carboxyl group and the like.

重合性基含有化合物としては、(メタ)アクリロイルオキシエチルイソシアネート、メタ−イソプロペニル−α,α−ジメチルベンジルイソシアネート、(メタ)アクリロイルイソシアネート、アリルイソシアネート、グリシジル(メタ)アクリレート;(メタ)アクリル酸等が挙げられる。 Examples of the polymerizable group-containing compound include (meth) acryloyloxyethyl isocyanate, meta-isopropenyl-α, α-dimethylbenzyl isocyanate, (meth) acryloyl isocyanate, allyl isocyanate, glycidyl (meth) acrylate; (meth) acrylic acid and the like. Can be mentioned.

アクリルポリマーは、ヒドロキシル基、カルボキシル基、アミノ基、置換アミノ基、エポキシ基等の官能基を有する(メタ)アクリルモノマーまたはその誘導体と、これと共重合可能な他の(メタ)アクリル酸エステルモノマーまたはその誘導体とからなる共重合体であることが好ましい。 The acrylic polymer is a (meth) acrylic monomer having a functional group such as a hydroxyl group, a carboxyl group, an amino group, a substituted amino group, or an epoxy group or a derivative thereof, and another (meth) acrylic acid ester monomer copolymerizable therewith. Alternatively, it is preferably a copolymer composed of a derivative thereof.

ヒドロキシル基、カルボキシル基、アミノ基、置換アミノ基、エポキシ基等の官能基を有する(メタ)アクリルモノマーまたはその誘導体としては、たとえば、ヒドロキシル基を有する2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート;カルボキシル基を有するアクリル酸、メタクリル酸、イタコン酸;エポキシ基を有するグリシジルメタクリレート、グリシジルアクリレートなどが挙げられる。 Examples of the (meth) acrylic monomer having a functional group such as a hydroxyl group, a carboxyl group, an amino group, a substituted amino group, and an epoxy group or a derivative thereof include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate having a hydroxyl group and 2-hydroxy. Propyl (meth) acrylate; acrylic acid having a carboxyl group, methacrylic acid, itaconic acid; glycidyl methacrylate having an epoxy group, glycidyl acrylate and the like can be mentioned.

上記モノマーと共重合可能な他の(メタ)アクリル酸エステルモノマーまたはその誘導体としては、例えば、アルキル基の炭素数が1〜18であるアルキル(メタ)アクリレート、具体的にはメチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、プロピル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレートなどが挙げられ;環状骨格を有する(メタ)アクリレート、具体的にはシクロヘキシル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、イソボルニルアクリレート、ジシクロペンタニルアクリレート、ジシクロペンテニルアクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチルアクリレート、イミドアクリレートなどが挙げられる。また、上記アクリルポリマーには、酢酸ビニル、アクリロニトリル、スチレンなどが共重合されていてもよい。 As another (meth) acrylic acid ester monomer or a derivative thereof that can be copolymerized with the above monomer, for example, an alkyl (meth) acrylate having an alkyl group having 1 to 18 carbon atoms, specifically a methyl (meth) acrylate. , Ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate and the like; (meth) acrylate having a cyclic skeleton, specifically cyclohexyl (meth) acrylate, Examples thereof include benzyl (meth) acrylate, isobornyl acrylate, dicyclopentanyl acrylate, dicyclopentenyl acrylate, dicyclopentenyloxyethyl acrylate, and imide acrylate. Further, vinyl acetate, acrylonitrile, styrene and the like may be copolymerized with the acrylic polymer.

エネルギー線硬化型重合体を使用する場合であっても、前記したエネルギー線重合性化合物を併用してもよく、また重合体成分を併用してもよい。本発明における保護膜形成フィルム中のこれら三者の配合量の関係は、エネルギー線硬化型重合体および重合体成分の質量の和100質量部に対して、エネルギー線重合性化合物が好ましくは1〜1500質量部、より好ましくは10〜500質量部、特に好ましくは20〜200質量部含まれる。 Even when an energy ray-curable polymer is used, the above-mentioned energy ray-polymerizable compound may be used in combination, or a polymer component may be used in combination. Regarding the relationship between the blending amounts of these three in the protective film-forming film in the present invention, the energy ray-polymerizable compound is preferably 1 to 100 parts by mass, which is the sum of the masses of the energy ray-curable polymer and the polymer components. It is contained in an amount of 1500 parts by mass, more preferably 10 to 500 parts by mass, and particularly preferably 20 to 200 parts by mass.

熱硬化性の保護膜形成フィルムを熱硬化させて、保護膜を形成するときの硬化条件は、上述の通り、保護膜が十分にその機能を発揮する程度の硬化度となる限り、特に限定されず、熱硬化性の保護膜形成フィルムの種類に応じて、適宜選択すればよい。 As described above, the curing conditions for forming the protective film by thermosetting the thermosetting protective film forming film are particularly limited as long as the degree of curing is such that the protective film sufficiently exerts its function. However, it may be appropriately selected depending on the type of the thermosetting protective film-forming film.

エネルギー線硬化性の保護膜形成フィルムをエネルギー線硬化させて、保護膜を形成するときの硬化条件は、保護膜が十分にその機能を発揮する程度の硬化度となる限り特に限定されず、エネルギー線硬化性保護膜形成フィルムの種類に応じて、適宜選択すればよい。
例えば、エネルギー線硬化性保護膜形成フィルムのエネルギー線硬化時における、エネルギー線の照度は、4〜280mW/cmであることが好ましい。そして、前記硬化時における、エネルギー線の光量は、3〜1000mJ/cmであることが好ましい。
The curing conditions when the energy ray-curable protective film forming film is energy-cured to form the protective film are not particularly limited as long as the degree of curing is such that the protective film sufficiently exerts its function. It may be appropriately selected depending on the type of the linear curable protective film forming film.
For example, the illuminance of the energy ray at the time of energy ray curing of the energy ray curable protective film forming film is preferably 4 to 280 mW / cm 2. The amount of light of the energy rays at the time of curing is preferably 3 to 1000 mJ / cm 2.

保護膜形成フィルムは、上記重合体成分及び硬化性成分に加えて下記成分を含むことができる。 The protective film-forming film can contain the following components in addition to the above-mentioned polymer component and curable component.

(着色剤)
保護膜形成フィルムは、着色剤を含有することが好ましい。保護膜形成フィルムに着色剤を配合することで、半導体装置を機器に組み込んだ際に、周囲の装置から発生する赤外線等を遮蔽し、それらによる半導体装置の誤作動を防止することができ、また保護膜形成フィルムを硬化して得た保護膜に、製品番号等を印字した際の文字の視認性が向上する。すなわち、保護膜を形成された半導体装置や半導体チップでは、保護膜の表面に品番等が通常レーザーマーキング法(レーザー光により保護膜表面を削り取り印字を行う方法)により印字されるが、保護膜が着色剤を含有することで、保護膜のレーザー光により削り取られた部分とそうでない部分のコントラスト差が充分に得られ、視認性が向上する。着色剤としては、有機または無機の顔料および染料が用いられる。耐熱性等の観点から顔料が好ましい。顔料としては、カーボンブラック、酸化鉄、二酸化マンガン、アニリンブラック、活性炭等が用いられるが、これらに限定されることはない。その中でもハンドリング性や分散性の観点からカーボンブラックが特に好ましい。着色剤は、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
(Colorant)
The protective film-forming film preferably contains a colorant. By blending a colorant in the protective film-forming film, it is possible to block infrared rays and the like generated from surrounding devices when the semiconductor device is incorporated into a device, and prevent the semiconductor device from malfunctioning due to them. The visibility of characters when a product number or the like is printed on the protective film obtained by curing the protective film forming film is improved. That is, in a semiconductor device or semiconductor chip on which a protective film is formed, a product number or the like is usually printed on the surface of the protective film by a laser marking method (a method of scraping the surface of the protective film with laser light to perform printing), but the protective film is printed. By containing the colorant, a sufficient contrast difference between the portion scraped by the laser beam of the protective film and the portion not scraped by the laser beam can be sufficiently obtained, and the visibility is improved. As the colorant, organic or inorganic pigments and dyes are used. Pigments are preferable from the viewpoint of heat resistance and the like. As the pigment, carbon black, iron oxide, manganese dioxide, aniline black, activated carbon and the like are used, but the pigment is not limited thereto. Among them, carbon black is particularly preferable from the viewpoint of handleability and dispersibility. As the colorant, one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.

着色剤の配合量は、保護膜形成フィルムを構成する全固形分100質量部に対して、好ましくは0.01〜35質量部、より好ましくは0.02〜15質量部、さらに好ましくは0.03〜10質量部であり、例えば、0.04〜5質量部であってもよく、0.05〜1.5質量部であってもよく、0.06〜1質量部であってもよい。着色剤の配合量が、上記上限値以下であることで、ワーク14に貼付した際の、浮きの有無が確認しやすくなり、上記下限値以下であることで、割れ現象や持ち帰り現象が確認しやすくなる。 The blending amount of the colorant is preferably 0.01 to 35 parts by mass, more preferably 0.02 to 15 parts by mass, and further preferably 0.% by mass with respect to 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film forming film. It may be 03 to 10 parts by mass, for example, 0.04 to 5 parts by mass, 0.05 to 1.5 parts by mass, or 0.06 to 1 part by mass. .. When the blending amount of the colorant is not more than the above upper limit value, it is easy to confirm the presence or absence of floating when the work piece 14 is attached, and when it is not more than the above lower limit value, the cracking phenomenon and the take-out phenomenon are confirmed. It will be easier.

(硬化促進剤)
硬化促進剤は、保護膜形成フィルムの硬化速度を調整するために用いられる。硬化促進剤は、特に、硬化性成分において、エポキシ樹脂と熱硬化剤とを併用する場合に好ましく用いられる。
(Curing accelerator)
The curing accelerator is used to adjust the curing rate of the protective film forming film. The curing accelerator is preferably used when the epoxy resin and the thermosetting agent are used in combination, especially in the curable component.

好ましい硬化促進剤としては、トリエチレンジアミン、ベンジルジメチルアミン、トリエタノールアミン、ジメチルアミノエタノール、トリス(ジメチルアミノメチル)フェノールなどの3級アミン類;2−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾールなどのイミダゾール類;トリブチルホスフィン、ジフェニルホスフィン、トリフェニルホスフィンなどの有機ホスフィン類;テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、トリフェニルホスフィンテトラフェニルボレートなどのテトラフェニルボロン塩などが挙げられる。これらは1種単独で、または2種以上混合して使用することができる。 Preferred curing accelerators are tertiary amines such as triethylenediamine, benzyldimethylamine, triethanolamine, dimethylaminoethanol, tris (dimethylaminomethyl) phenol; 2-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl- Imidazoles such as 4-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole; organic phosphines such as tributylphosphine, diphenylphosphine, triphenylphosphine; Examples thereof include tetraphenylborone salts such as tetraphenylphosphonium tetraphenylborate and triphenylphosphine tetraphenylborate. These can be used alone or in combination of two or more.

硬化促進剤は、硬化性成分100質量部に対して、好ましくは0.01〜10質量部、さらに好ましくは0.1〜1質量部の量で含まれる。硬化促進剤を上記範囲の量で含有することにより、高温度高湿度下に曝されても優れた接着特性を有し、厳しいリフロー条件に曝された場合であっても高い接着信頼性を達成することができる。 The curing accelerator is contained in an amount of preferably 0.01 to 10 parts by mass, more preferably 0.1 to 1 part by mass with respect to 100 parts by mass of the curable component. By containing the curing accelerator in an amount in the above range, it has excellent adhesive properties even when exposed to high temperature and high humidity, and achieves high adhesive reliability even when exposed to severe reflow conditions. can do.

(カップリング剤)
カップリング剤は、保護膜のワークに対する接着信頼性を向上させるために用いてもよい。また、カップリング剤を使用することで、保護膜形成フィルムを硬化して得られる保護膜の耐熱性を損なうことなく、その耐水性を向上することができる。
(Coupling agent)
The coupling agent may be used to improve the adhesive reliability of the protective film to the work. Further, by using the coupling agent, the water resistance of the protective film formed by curing the protective film can be improved without impairing the heat resistance of the protective film.

カップリング剤としては、重合体成分、硬化性成分などが有する官能基と反応する基を有する化合物が好ましく使用される。カップリング剤としては、シランカップリング剤が望ましい。このようなカップリング剤としてはγ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ−(メタクリロキシプロピル)トリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−6−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−6−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルメチルジエトキシシラン、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、ビス(3−トリエトキシシリルプロピル)テトラスルファン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、イミダゾールシランなどが挙げられる。これらは1種単独で、または2種以上混合して使用することができる。 As the coupling agent, a compound having a group that reacts with a functional group of a polymer component, a curable component, or the like is preferably used. As the coupling agent, a silane coupling agent is desirable. Examples of such a coupling agent include γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, and γ- (methacryloxypropyl). ) Trimethoxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-6- (aminoethyl) -γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-6- (aminoethyl) -γ-aminopropylmethyldiethoxysilane, N- Phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-ureidopropyltriethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, bis (3-triethoxysilylpropyl) tetrasulfane, methyltrimethoxy Examples thereof include silane, methyltriethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, and imidazolesilane. These can be used alone or in combination of two or more.

カップリング剤は、重合体成分および硬化性成分の合計100質量部に対して、通常0.03〜20質量部、好ましくは0.05〜10質量部、より好ましくは0.1〜5質量部の割合で含まれる。カップリング剤の含有量が0.03質量部未満だと上記の効果が得られない可能性があり、20質量部を超えるとアウトガスの原因となる可能性がある。 The coupling agent is usually 0.03 to 20 parts by mass, preferably 0.05 to 10 parts by mass, and more preferably 0.1 to 5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total of the polymer component and the curable component. Is included in the ratio of. If the content of the coupling agent is less than 0.03 parts by mass, the above effect may not be obtained, and if it exceeds 20 parts by mass, it may cause outgas.

(充填材)
充填材を保護膜形成フィルムに配合することにより、硬化後の保護膜における熱膨張係数を調整することが可能となり、半導体チップに対して硬化後の保護膜の熱膨張係数を最適化することでワークと保護膜の接着信頼性を向上させることができる。充填材として、無機充填材が好ましい。また、硬化後の保護膜の吸湿率を低減させることも可能となる。
(Filler)
By blending the filler into the protective film forming film, it is possible to adjust the coefficient of thermal expansion of the protective film after curing, and by optimizing the coefficient of thermal expansion of the protective film after curing for the semiconductor chip. The adhesion reliability between the work and the protective film can be improved. As the filler, an inorganic filler is preferable. It is also possible to reduce the hygroscopicity of the protective film after curing.

好ましい無機充填材としては、シリカ、アルミナ、タルク、炭酸カルシウム、酸化チタン、酸化鉄、炭化珪素、窒化ホウ素等の粉末、これらを球形化したビーズ、単結晶繊維およびガラス繊維等が挙げられる。これらのなかでも、シリカフィラーおよびアルミナフィラーが好ましい。上記無機充填材は単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。無機充填材の含有量は、保護膜形成フィルムを構成する全固形分100質量部に対して、例えば、80質量部以下とすることもでき、1〜70質量部とすることもでき、2〜65質量部とすることもでき、3〜60質量部とすることもでき、5〜55質量部とすることもでき、10〜50質量部とすることもでき、15〜45質量部とすることもできる。
無機充填材の含有量を、上記上限値以下とすることにより、ロール体にして保護膜形成フィルムが屈曲した際に割れ(ヒビ)が発生するリスクを低減することができ、上記下限値以上とすることにより、保護膜の耐熱性を向上させることができる。無機充填材の含有量を上記範囲内とすることにより、適した破断伸度を達成し易くなり、適した重面剥離フィルム152の剥離力を達成し易くなる。
Preferred inorganic fillers include powders of silica, alumina, talc, calcium carbonate, titanium oxide, iron oxide, silicon carbide, boron nitride and the like, spherical beads thereof, single crystal fibers and glass fibers. Among these, silica filler and alumina filler are preferable. The inorganic filler can be used alone or in combination of two or more. The content of the inorganic filler may be, for example, 80 parts by mass or less, 1 to 70 parts by mass, or 2 to 70 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film forming film. It can be 65 parts by mass, 3 to 60 parts by mass, 5 to 55 parts by mass, 10 to 50 parts by mass, or 15 to 45 parts by mass. You can also.
By setting the content of the inorganic filler to the above upper limit value or less, the risk of cracking when the protective film forming film is bent into a roll body can be reduced, and the content is equal to or more than the above lower limit value. By doing so, the heat resistance of the protective film can be improved. By setting the content of the inorganic filler within the above range, it becomes easy to achieve a suitable elongation at break, and it becomes easy to achieve a suitable peeling force of the heavy surface release film 152.

(光重合開始剤)
保護膜形成フィルムが、前述した硬化性成分としてエネルギー線硬化性成分を含有する場合には、その使用に際して、紫外線等のエネルギー線を照射して、エネルギー線硬化性成分を硬化させる。この際、該組成物中に光重合開始剤を含有させることで、重合硬化時間ならびに光線照射量を少なくすることができる。
(Photopolymerization initiator)
When the protective film-forming film contains an energy ray-curable component as the above-mentioned curable component, the energy ray-curable component is cured by irradiating with energy rays such as ultraviolet rays when using the protective film-forming film. At this time, by incorporating the photopolymerization initiator in the composition, the polymerization curing time and the amount of light irradiation can be reduced.

このような光重合開始剤として具体的には、ベンゾフェノン、アセトフェノン、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、ベンゾイン安息香酸、ベンゾイン安息香酸メチル、ベンゾインジメチルケタール、2,4−ジエチルチオキサンソン、α−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、ベンジルジフェニルサルファイド、テトラメチルチウラムモノサルファイド、アゾビスイソブチロニトリル、ベンジル、ジベンジル、ジアセチル、1,2−ジフェニルメタン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−[4−(1−メチルビニル)フェニル]プロパノン、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキサイドおよびβ−クロールアンスラキノンなどが挙げられる。光重合開始剤は1種類単独で、または2種類以上を組み合わせて用いることができる。 Specific examples of such photopolymerization initiators include benzophenone, acetophenone, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether, benzoin benzoic acid, methyl benzoin benzoate, benzoin dimethyl ketal, 2, 4-diethylthioxanthone, α-hydroxycyclohexylphenylketone, benzyldiphenylsulfide, tetramethylthiuram monosulfide, azobisisobutyronitrile, benzyl, dibenzyl, diacetyl, 1,2-diphenylmethane, 2-hydroxy-2-methyl Examples thereof include -1- [4- (1-methylvinyl) phenyl] propanone, 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide and β-chloranthraquinone. The photopolymerization initiator may be used alone or in combination of two or more.

光重合開始剤の配合割合は、エネルギー線硬化性成分100質量部に対して0.1〜10質量部含まれることが好ましく、1〜5質量部含まれることがより好ましい。上記下限値上であると光重合して満足な保護性能を得ることができ、上記上限値以下であると光重合に寄与しない残留物の生成を抑制して保護膜形成フィルムの硬化性を十分なものとすることができる。 The blending ratio of the photopolymerization initiator is preferably 0.1 to 10 parts by mass, and more preferably 1 to 5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the energy ray-curable component. When it is above the above lower limit value, satisfactory protection performance can be obtained by photopolymerization, and when it is below the above upper limit value, the formation of residues that do not contribute to photopolymerization is suppressed and the curability of the protective film forming film is sufficient. Can be

(架橋剤)
保護膜形成フィルムのワークとの粘着力および凝集性を調節するために、架橋剤を添加することもできる。架橋剤としては有機多価イソシアネート化合物、有機多価イミン化合物などが挙げられる。
(Crosslinking agent)
A cross-linking agent can also be added to adjust the adhesive strength and cohesiveness of the protective film-forming film to the work. Examples of the cross-linking agent include an organic polyvalent isocyanate compound and an organic polyvalent imine compound.

上記有機多価イソシアネート化合物としては、芳香族多価イソシアネート化合物、脂肪族多価イソシアネート化合物、脂環族多価イソシアネート化合物およびこれらの有機多価イソシアネート化合物の三量体、ならびにこれら有機多価イソシアネート化合物とポリオール化合物とを反応させて得られる末端イソシアネートウレタンプレポリマー等を挙げることができる。 Examples of the organic polyvalent isocyanate compound include aromatic polyvalent isocyanate compounds, aliphatic polyvalent isocyanate compounds, alicyclic polyvalent isocyanate compounds, trimerics of these organic polyvalent isocyanate compounds, and these organic polyvalent isocyanate compounds. Examples thereof include a terminal isocyanate urethane prepolymer obtained by reacting with a polyol compound.

有機多価イソシアネート化合物としては、たとえば2,4−トリレンジイソシアネート、2,6−トリレンジイソシアネート、1,3−キシリレンジイソシアネート、1,4−キシレンジイソシアネート、ジフェニルメタン−4,4’−ジイソシアネート、ジフェニルメタン−2,4’−ジイソシアネート、3−メチルジフェニルメタンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタン−4,4’−ジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタン−2,4’−ジイソシアネート、トリメチロールプロパンアダクトトリレンジイソシアネートおよびリジンイソシアネートが挙げられる。 Examples of the organic polyvalent isocyanate compound include 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, 1,3-xylylene diisocyanate, 1,4-xylene diisocyanate, diphenylmethane-4,4'-diisocyanate, and diphenylmethane. -2,4'-diisocyanate, 3-methyldiphenylmethane diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, dicyclohexylmethane-4,4'-diisocyanate, dicyclohexylmethane-2,4'-diisocyanate, trimethylpropane adduct tolylene diisocyanate and lysine Isocyanate can be mentioned.

上記有機多価イミン化合物としては、N,N’−ジフェニルメタン−4,4’−ビス(1−アジリジンカルボキシアミド)、トリメチロールプロパン−トリ−β−アジリジニルプロピオネート、テトラメチロールメタン−トリ−β−アジリジニルプロピオネートおよびN,N’−トルエン−2,4−ビス(1−アジリジンカルボキシアミド)トリエチレンメラミン等を挙げることができる。 Examples of the organic polyvalent imine compound include N, N'-diphenylmethane-4,4'-bis (1-aziridinecarboxyamide), trimethylpropan-tri-β-aziridinyl propionate, and tetramethylolmethane-tri. Examples thereof include -β-aziridinyl propionate and N, N'-toluene-2,4-bis (1-aziridinecarboxyamide) triethylene melamine.

架橋剤は重合体成分およびエネルギー線硬化型重合体の合計量100質量部に対して通常0.01〜20質量部、好ましくは0.1〜10質量部、より好ましくは0.5〜5質量部の比率で用いられる。 The cross-linking agent is usually 0.01 to 20 parts by mass, preferably 0.1 to 10 parts by mass, and more preferably 0.5 to 5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the polymer component and the energy ray-curable polymer. Used in proportions of parts.

(汎用添加剤)
保護膜形成フィルムには、上記の他に、必要に応じて各種添加剤が配合されてもよい。各種添加剤としては、粘着付与剤、レベリング剤、可塑剤、帯電防止剤、酸化防止剤、イオン捕捉剤、ゲッタリング剤、連鎖移動剤などが挙げられる。
(General-purpose additive)
In addition to the above, various additives may be added to the protective film-forming film, if necessary. Examples of various additives include tackifiers, leveling agents, plasticizers, antistatic agents, antioxidants, ion scavengers, gettering agents, chain transfer agents and the like.

(溶媒)
保護膜形成組成物は、さらに溶媒を含有することが好ましい。溶媒を含有する保護膜形成組成物は、取り扱い性が良好となる。
前記溶媒は特に限定されないが、好ましいものとしては、例えば、トルエン、キシレン等の炭化水素;メタノール、エタノール、2−プロパノール、イソブチルアルコール(2−メチルプロパン−1−オール)、1−ブタノール等のアルコール;酢酸エチル等のエステル;アセトン、メチルエチルケトン等のケトン;テトラヒドロフラン等のエーテル;ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン等のアミド(アミド結合を有する化合物)等が挙げられる。
保護膜形成組成物が含有する溶媒は、1種のみでもよいし、2種以上でもよく、2種以上である場合、それらの組み合わせ及び比率は任意に選択できる。
(solvent)
The protective film-forming composition preferably further contains a solvent. The protective film-forming composition containing a solvent has good handleability.
The solvent is not particularly limited, but preferred ones are, for example, hydrocarbons such as toluene and xylene; alcohols such as methanol, ethanol, 2-propanol, isobutyl alcohol (2-methylpropan-1-ol) and 1-butanol. Examples thereof include esters such as ethyl acetate; ketones such as acetone and methyl ethyl ketone; ethers such as tetrahydrofuran; amides such as dimethylformamide and N-methylpyrrolidone (compounds having an amide bond).
The solvent contained in the protective film forming composition may be only one type, may be two or more types, and when two or more types are used, the combination and ratio thereof can be arbitrarily selected.

保護膜形成組成物が含有する溶媒は、接着剤組成物中の含有成分をより均一に混合できる点から、メチルエチルケトン等であることが好ましい。 The solvent contained in the protective film-forming composition is preferably methyl ethyl ketone or the like from the viewpoint that the components contained in the adhesive composition can be mixed more uniformly.

上記のような各成分からなる保護膜形成組成物を、塗布し、乾燥させて得られる保護膜形成フィルムは、粘着性と硬化性とを有し、未硬化状態ではワーク(半導体ウエハやチップ等)に押圧することで接着する。押圧する際に、保護膜形成フィルムを加熱してもよい。そして硬化を経て最終的には耐衝撃性の高い保護膜を与えることができ、接着強度にも優れ、厳しい高温度高湿度条件下においても十分な保護機能を保持し得る。なお、保護膜形成フィルムは単層構造であってもよく、また上記成分を含む層を1層以上含む限りにおいて多層構造であってもよい。 The protective film-forming film obtained by applying and drying the protective film-forming composition composed of the above components has adhesiveness and curability, and in an uncured state, the work (semiconductor wafer, chip, etc.) ) To adhere. The protective film-forming film may be heated when pressed. After curing, a protective film having high impact resistance can be finally provided, the adhesive strength is excellent, and a sufficient protective function can be maintained even under severe high temperature and high humidity conditions. The protective film-forming film may have a single-layer structure, or may have a multi-layer structure as long as it contains one or more layers containing the above components.

保護膜形成フィルムの厚さは特に限定されないが、3〜300μmとすることもでき、3〜200μmとすることもでき、5〜100μmとすることもでき、7〜80μmとすることもでき、10〜70μmとすることもでき、12〜60μmとすることもでき、15〜50μmとすることもでき、18〜40μmとすることもでき、20〜30μmとすることもできる。
保護膜形成フィルムの厚さが、上記下限値以上であると保護膜の保護性能を十分なものとすることができ、上記上限値以下であると費用を低減し、エネルギー線硬化性の保護膜形成フィルムの内部までエネルギー線を到達させることができる。
The thickness of the protective film-forming film is not particularly limited, but may be 3 to 300 μm, 3 to 200 μm, 5 to 100 μm, 7 to 80 μm, or 10 It can be ~ 70 μm, 12-60 μm, 15-50 μm, 18-40 μm, 20-30 μm.
When the thickness of the protective film forming film is at least the above lower limit value, the protective performance of the protective film can be made sufficient, and when it is at least the above upper limit value, the cost is reduced and the energy ray curable protective film is made. The energy rays can reach the inside of the forming film.

<支持シート>
本発明の一態様で用いる支持シートとしては、基材のみから構成されたシートや、基材上に粘着剤層が積層されている粘着シートが挙げられる。
支持シートは、保護膜形成フィルムの表面にホコリ等の付着を防止する剥離シート、もしくは、リングフレーム等の固定用治具と保護膜形成フィルム付きワークとに貼付して、機械アームが直接保護膜形成フィルム付きワークに触れずに固定用治具を保持して搬送できる搬送シート等の役割を果たすものである。
<Support sheet>
Examples of the support sheet used in one aspect of the present invention include a sheet composed of only a base material and a pressure-sensitive adhesive sheet in which an adhesive layer is laminated on the base material.
The support sheet is attached to a release sheet that prevents dust from adhering to the surface of the protective film forming film, or a fixing jig such as a ring frame and a work with the protective film forming film, and the machine arm directly attaches the protective film. It plays the role of a transport sheet or the like that can hold and transport the fixing jig without touching the work with the forming film.

支持シートの厚さとしては、用途に応じて適宜選択されるが、保護膜形成フィルム付きワークおよび固定用治具に対する貼付性を良好とする観点から、好ましくは10〜500μm、より好ましくは20〜350μm、さらに好ましくは30〜200μmである。
なお、上記の支持シートの厚さには、支持シートを構成する基材の厚さだけでなく、粘着剤層を有する場合には、それらの層や膜の厚さも含むが、保護膜形成フィルムに貼付されない剥離フィルム等は含まない。
The thickness of the support sheet is appropriately selected depending on the intended use, but is preferably 10 to 500 μm, more preferably 20 to 500 μm, from the viewpoint of improving the adhesiveness to the work with the protective film forming film and the fixing jig. It is 350 μm, more preferably 30 to 200 μm.
The thickness of the support sheet includes not only the thickness of the base material constituting the support sheet but also the thickness of those layers and the film when the adhesive layer is provided, but the protective film-forming film. Does not include release films that are not attached to.

(基材)
支持シートを構成する基材としては、樹脂フィルムが好ましい。
当該樹脂フィルムとしては、例えば、低密度ポリエチレン(LDPE)フィルムや直鎖低密度ポリエチレン(LLDPE)フィルム等のポリエチレンフィルム、エチレン・プロピレン共重合体フィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリブテンフィルム、ポリブタジエンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、塩化ビニル共重合体フィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリブチレンテレフタレートフィルム、ポリウレタンフィルム、エチレン・酢酸ビニル共重合体フィルム、アイオノマー樹脂フィルム、エチレン・(メタ)アクリル酸共重合体フィルム、エチレン・(メタ)アクリル酸エステル共重合体フィルム、ポリスチレンフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルム、フッ素樹脂フィルム等が挙げられる。
本発明の一態様で用いる基材は、1種類の樹脂フィルムからなる単層フィルムであってもよく、2種類以上の樹脂フィルムを積層した積層フィルムであってもよい。
また、本発明の一態様においては、上述の樹脂フィルム等の基材の表面に、表面処理を施したシートを支持シートとして用いてもよい。
(Base material)
A resin film is preferable as the base material constituting the support sheet.
Examples of the resin film include polyethylene films such as low-density polyethylene (LDPE) films and linear low-density polyethylene (LLDPE) films, ethylene / propylene copolymer films, polypropylene films, polybutene films, polybutadiene films, and polymethylpentene. Film, polyvinyl chloride film, vinyl chloride copolymer film, polyethylene terephthalate film, polyethylene naphthalate film, polybutylene terephthalate film, polyurethane film, ethylene / vinyl acetate copolymer film, ionomer resin film, ethylene / (meth) acrylic Examples thereof include acid copolymer films, ethylene / (meth) acrylic acid ester copolymer films, polystyrene films, polycarbonate films, polyimide films, and fluororesin films.
The base material used in one aspect of the present invention may be a single-layer film composed of one type of resin film, or may be a laminated film in which two or more types of resin films are laminated.
Further, in one aspect of the present invention, a sheet obtained by subjecting the surface of a base material such as the above-mentioned resin film to a surface treatment may be used as a support sheet.

これらの樹脂フィルムは、架橋フィルムであってもよい。
また、これらの樹脂フィルムを着色したもの、又は印刷を施したもの等も使用できる。
さらに、樹脂フィルムは、熱可塑性樹脂を押出形成によりシート化したものであってもよく、延伸されたものであってもよく、硬化性樹脂を所定手段により薄膜化及び硬化してシート化したものが使われてもよい。
These resin films may be crosslinked films.
Further, colored resin films or printed ones can also be used.
Further, the resin film may be a sheet obtained by extruding a thermoplastic resin or may be a stretched resin film, or a curable resin thinned and cured by a predetermined means to form a sheet. May be used.

これらの樹脂フィルムの中でも、耐熱性に優れ、且つ、適度な柔軟性を有するためにエキスパンド適性を有し、ピックアップ適性も維持されやすいとの観点から、ポリプロピレンフィルムを含む基材が好ましい。
なお、ポリプロピレンフィルムを含む基材の構成としては、ポリプロピレンフィルムのみからなる単層構造であってもよく、ポリプロピレンフィルムと他の樹脂フィルムとからなる複層構造であってもよい。
保護膜形成フィルムが熱硬化性である場合、基材を構成する樹脂フィルムが耐熱性を有することで、基材の熱によるダメージを抑制し、半導体装置の製造プロセスにおける不具合の発生を抑制できる。
Among these resin films, a base material containing a polypropylene film is preferable from the viewpoint that it has excellent heat resistance, has expandability because it has appropriate flexibility, and easily maintains pickup suitability.
The base material containing the polypropylene film may have a single-layer structure composed of only the polypropylene film or a multi-layer structure composed of the polypropylene film and another resin film.
When the protective film-forming film is thermosetting, the resin film constituting the base material has heat resistance, so that damage due to heat of the base material can be suppressed, and the occurrence of defects in the manufacturing process of the semiconductor device can be suppressed.

支持シートを構成する基材の厚さとしては、好ましくは10〜500μm、より好ましくは15〜300μm、さらに好ましくは20〜200μmである。 The thickness of the base material constituting the support sheet is preferably 10 to 500 μm, more preferably 15 to 300 μm, and even more preferably 20 to 200 μm.

(粘着シート)
本発明の一態様で支持シート10として用いる粘着シートとしては、上述の樹脂フィルム等の基材11上に、粘着剤から形成した粘着剤層12を有するものが挙げられる。粘着剤層12を有することにより、保護膜形成フィルムと支持シートとの間の180°引きはがし粘着力を、容易に調整することができる。
(Adhesive sheet)
Examples of the pressure-sensitive adhesive sheet used as the support sheet 10 in one aspect of the present invention include those having a pressure-sensitive adhesive layer 12 formed from a pressure-sensitive adhesive on a base material 11 such as the above-mentioned resin film. By having the pressure-sensitive adhesive layer 12, the 180 ° peeling adhesive force between the protective film-forming film and the support sheet can be easily adjusted.

粘着剤層の形成材料である粘着剤としては、粘着性樹脂を含む粘着剤組成物が挙げられ、当該粘着剤組成物は、さらに上述の架橋剤や粘着付与剤等の汎用添加剤を含有してもよい。
当該粘着性樹脂としては、その樹脂の構造に着目した場合、例えば、アクリル系樹脂、ウレタン系樹脂、ゴム系樹脂、シリコーン系樹脂、ビニルエーテル系樹脂等が挙げられ、その樹脂の機能に着目した場合、例えば、エネルギー線硬化型粘着剤等が挙げられる。
Examples of the pressure-sensitive adhesive that is a material for forming the pressure-sensitive adhesive layer include a pressure-sensitive adhesive composition containing a pressure-sensitive adhesive resin, and the pressure-sensitive adhesive composition further contains a general-purpose additive such as the above-mentioned cross-linking agent and pressure-sensitive adhesive. You may.
Examples of the adhesive resin include acrylic resin, urethane resin, rubber resin, silicone resin, vinyl ether resin, and the like when focusing on the structure of the resin, and when focusing on the function of the resin. For example, an energy ray-curable pressure-sensitive adhesive and the like can be mentioned.

支持シート10は、1層(単層)からなるものであってもよいし、2層以上の複数層からなるものであってもよい。支持シートが複数層からなる場合、これら複数層の構成材料及び厚さは、互いに同一でも異なっていてもよく、これら複数層の組み合わせは、本発明の効果を損なわない限り、特に限定されない。 The support sheet 10 may be composed of one layer (single layer) or may be composed of two or more layers. When the support sheet is composed of a plurality of layers, the constituent materials and the thicknesses of the plurality of layers may be the same or different from each other, and the combination of the plurality of layers is not particularly limited as long as the effects of the present invention are not impaired.

なお、本明細書においては、支持シートの場合に限らず、「複数層が互いに同一でも異なっていてもよい」とは、「すべての層が同一であってもよいし、すべての層が異なっていてもよく、一部の層のみが同一であってもよい」ことを意味し、さらに「複数層が互いに異なる」とは、「各層の構成材料及び厚さの少なくとも一方が互いに異なる」ことを意味する。 In the present specification, not only in the case of the support sheet, "a plurality of layers may be the same or different from each other" means "all layers may be the same or all layers are different". It means that only some of the layers may be the same, and further, "multiple layers are different from each other" means that "at least one of the constituent materials and thicknesses of each layer is different from each other". Means.

支持シートは、透明であってもよいし、不透明であってもよく、目的に応じて着色されていてもよい。
例えば、保護膜形成フィルムがエネルギー線硬化性を有する場合には、支持シートはエネルギー線を透過させるものが好ましい。
例えば、保護膜形成フィルムを、支持シートを介して光学的に検査するためには、支持シートは透明であることが好ましい。
ハンドリング性を良くする観点から、保護膜形成フィルムに貼り付ける前は、支持シートは剥離フィルムを備えていてもよい。
The support sheet may be transparent, opaque, or colored depending on the purpose.
For example, when the protective film-forming film has energy ray curability, the support sheet preferably allows energy rays to pass through.
For example, in order to optically inspect the protective film-forming film via the support sheet, the support sheet is preferably transparent.
From the viewpoint of improving handleability, the support sheet may be provided with a release film before being attached to the protective film-forming film.

以下、具体的実施例により、本発明についてより詳細に説明する。ただし、本発明は、以下に示す実施例に、何ら限定されるものではない。 Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to specific examples. However, the present invention is not limited to the examples shown below.

[保護膜形成組成物の調製]
次の各成分を、表1及び表2に示すそれぞれの配合比(固形分換算)で混合し、固形分濃度が保護膜形成組成物の総質量に対して、50質量%となるようにメチルエチルケトンで希釈して、半導体ウエハの保護膜形成フィルムを形成するための各々の保護膜形成組成物を調製した。
[Preparation of protective film forming composition]
The following components are mixed at the respective compounding ratios (solid content conversion) shown in Tables 1 and 2, and methyl ethyl ketone so that the solid content concentration is 50% by mass with respect to the total mass of the protective film-forming composition. Diluted with, each protective film-forming composition for forming a protective film-forming film of a semiconductor wafer was prepared.

(A−1):重合体成分:ブチルアクリレート4質量部、メチルアクリレート82質量部、グリシジルメタクリレート4質量部、2−ヒドロキシエチルアクリレート10質量部を共重合してなるアクリル系重合体(重量平均分子量:35万、分子量分布(Mw/Mn):4.4)。本成分のガラス転移温度は5℃である。
(A−2)ブチルアクリレート10質量部、メチルアクリレート80質量部、グリシジルメタクリレート4質量部、2−ヒドロキシエチルアクリレート6質量部を共重合してなるアクリル系重合体(重量平均分子量:39万、分子量分布(Mw/Mn):7.8)。本成分のガラス転移温度は1℃である。
(A-1): Polymer component: Acrylic polymer obtained by copolymerizing 4 parts by mass of butyl acrylate, 82 parts by mass of methyl acrylate, 4 parts by mass of glycidyl methacrylate, and 10 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate (weight average molecular weight). : 350,000, molecular weight distribution (Mw / Mn): 4.4). The glass transition temperature of this component is 5 ° C.
(A-2) Acrylic polymer obtained by copolymerizing 10 parts by mass of butyl acrylate, 80 parts by mass of methyl acrylate, 4 parts by mass of glycidyl methacrylate, and 6 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate (weight average molecular weight: 390,000, molecular weight). Distribution (Mw / Mn): 7.8). The glass transition temperature of this component is 1 ° C.

(B−1)熱硬化樹脂:ビスフェノールA型エポキシ樹脂:三菱ケミカル社製,jER828,エポキシ当量184〜194g/eq
(B−2)熱硬化樹脂:ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂:DIC社製,エピクロンHP−7200HH、エポキシ当量255〜260g/eq
(B−3)ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学社製,jER1055,エポキシ当量800〜900g/eq)
(B-1) Thermosetting resin: Bisphenol A type epoxy resin: Mitsubishi Chemical Corporation, jER828, epoxy equivalent 184 to 194 g / eq
(B-2) Thermosetting resin: Dicyclopentadiene type epoxy resin: DIC Corporation, Epicron HP-7200HH, epoxy equivalent 255-260 g / eq
(B-3) Bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, jER1055, epoxy equivalent 800-900 g / eq)

(C−1)熱硬化剤:熱活性潜在性エポキシ樹脂硬化剤(ジシアンジアミド(三菱ケミカル製,DICY7 活性水素量21g/eq))
(D−1)硬化促進剤:2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成工業社製,キュアゾール(登録商標)2PHZ)
(E−1)充填材:シリカフィラー(アドマテックス社製,SC105G−MMQ(平均粒子径300nm))
(F−1)着色剤:カーボンブラック(三菱ケミカル社製,MA600)
(G−1)カップリング剤:信越化学工業社製,KBM−403
(C-1) Thermosetting agent: Thermosetting latent epoxy resin curing agent (dicyandiamide (manufactured by Mitsubishi Chemical, DICY7 active hydrogen amount 21 g / eq))
(D-1) Curing Accelerator: 2-Phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (manufactured by Shikoku Chemicals Corporation, Curesol® 2PHZ)
(E-1) Filler: Silica filler (manufactured by Admatex, SC105G-MMQ (average particle size 300 nm))
(F-1) Colorant: Carbon black (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, MA600)
(G-1) Coupling agent: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.

[第一積層体の作製]
厚さ50μmのポリエチレンテレフタレート(PET)製フィルムの片面がシリコーン処理により剥離処理されてなる重面剥離フィルム(前記第2剥離フィルムに相当)(A.リンテック社製「SP−PET501031」、又は、B.リンテック社製「SP−PET502150」)の剥離処理面に、前記各々の保護膜形成組成物をナイフコーターで塗布し、塗布層を形成させた。110℃で2分乾燥させることにより、厚さが25μmである実施例1〜実施例8及び比較例1、比較例2の保護膜形成フィルムを形成した。
さらに、この保護膜形成フィルムの露出面(剥離フィルムを備えている側とは反対側の表面)に、別途、ポリエチレンテレフタレート(PET)製フィルムの片面がシリコーン処理により剥離処理されてなる軽面剥離フィルム(リンテック社製「SP−PET381130」、厚さ38μm、前記第1剥離フィルムに相当)の剥離処理面を、温度:60℃±5℃、圧力:0.4MPa、速度:1m/minの条件で貼り合わせて、保護膜形成フィルムの両面に剥離フィルムが積層された積層シート(すなわち、実施例1〜実施例8及び比較例1、比較例2の第一積層体)を作製した。
[Preparation of the first laminate]
A double-sided release film (corresponding to the second release film) in which one side of a 50 μm-thick polyethylene terephthalate (PET) film is peeled by a silicone treatment (A. Lintec's “SP-PET50131” or B. Each of the protective film forming compositions was applied to the peeled surface of Lintec Corporation "SP-PET502150") with a knife coater to form a coating layer. By drying at 110 ° C. for 2 minutes, protective film-forming films of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 and 2 having a thickness of 25 μm were formed.
Further, a light surface peeling is performed by separately peeling one side of a polyethylene terephthalate (PET) film on the exposed surface (the surface opposite to the side provided with the release film) of the protective film forming film by a silicone treatment. The peeling surface of the film (“SP-PET381130” manufactured by Lintec Co., Ltd., thickness 38 μm, corresponding to the first release film) is subjected to conditions of temperature: 60 ° C. ± 5 ° C., pressure: 0.4 MPa, speed: 1 m / min. To prepare a laminated sheet (that is, the first laminated body of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 and 2) in which a release film was laminated on both sides of the protective film-forming film.

(粘着剤組成物)
支持シートの製造に用いた粘着剤組成物は、重合体成分100質量部(固形分)及び3官能キシリレンジイソシアネート系架橋剤(三井武田ケミカル社製「タケネート(登録商標)D110N」)5質量部(固形分)を含有し、メチルエチルケトン、トルエン及び酢酸エチルの混合溶媒を用いて、固形分濃度を30質量%に調節したものである。
なお、前記重合体成分は、2−エチルヘキシルアクリレート(以下、「2EHA」と略記することがある)70質量部と、メタクリル酸メチルメチル(以下、「MMA」と略記することがある)20質量部と、2−ヒドロキシルエチルアクリレート(以下、「HEA」と略記することがある)10質量部とを共重合させて得られた、重量平均分子量500000のアクリル系共重合体である。
(Adhesive composition)
The pressure-sensitive adhesive composition used in the production of the support sheet consisted of 100 parts by mass (solid content) of the polymer component and 5 parts by mass of a trifunctional xylylene diisocyanate-based cross-linking agent (“Takenate (registered trademark) D110N” manufactured by Takeda Pharmaceutical Company Limited). It contains (solid content), and the solid content concentration is adjusted to 30% by mass using a mixed solvent of methyl ethyl ketone, toluene, and ethyl acetate.
The polymer component is 70 parts by mass of 2-ethylhexyl acrylate (hereinafter, may be abbreviated as "2EHA") and 20 parts by mass of methyl methyl methacrylate (hereinafter, may be abbreviated as "MMA"). And 10 parts by mass of 2-hydroxylethyl acrylate (hereinafter, may be abbreviated as "HEA") are copolymerized to obtain an acrylic copolymer having a weight average molecular weight of 500,000.

[剥離フィルム付き支持シートの製造]
剥離フィルム(リンテック社製「SP−PET382150」、厚さ38μm)の剥離処理面に、前記粘着剤組成物をナイフコーターで塗工し、110℃で2分乾燥させて、粘着剤層(乾燥後厚さ10μm)を形成し、露出面(剥離フィルムを備えている側とは反対側の表面)に、別途、基材であるポリプロピレンフィルム(厚さ80μm、グンゼ社製、ツヤ面の表面粗さ0.1μm、マット面の表面粗さ0.3μm)のツヤ面を貼り合わせて、基材/粘着剤層/剥離フィルムの構成の剥離フィルム付き支持シートを得た。
[Manufacturing of support sheet with release film]
The pressure-sensitive adhesive composition is applied to the peel-processed surface of the release film (Lintec's "SP-PET382150", thickness 38 μm) with a knife coater, dried at 110 ° C. for 2 minutes, and the pressure-sensitive adhesive layer (after drying). A polypropylene film (thickness 80 μm, manufactured by Gunze Co., Ltd., glossy surface), which is a base material, is separately formed on the exposed surface (the surface opposite to the side provided with the release film) to form a thickness (10 μm). A glossy surface having a surface roughness of 0.1 μm and a matte surface of 0.3 μm) was bonded to obtain a support sheet with a release film having a structure of a base material / adhesive layer / release film.

以下、実施例1の第一積層体と、この支持シートとを備えるキットを、実施例1のキットと云い、同様に、実施例2〜5のそれぞれの第一積層体と、この支持シートとを備えるキットを、それぞれ、実施例2〜5のキットと云い、比較例1の第一積層体と、この支持シートとを備えるキットを、それぞれ、比較例1のキットと云う。 Hereinafter, the kit provided with the first laminated body of Example 1 and the support sheet is referred to as the kit of Example 1, and similarly, the first laminated bodies of Examples 2 to 5 and the support sheet are used. The kits including the above are referred to as the kits of Examples 2 to 5, respectively, and the kits including the first laminate of Comparative Example 1 and the support sheet are referred to as the kits of Comparative Example 1, respectively.

[保護膜形成用複合(一体型)シート)]
比較例2の第一積層体(構成は軽面剥離フィルム/保護膜形成フィルム/重面剥離フィルム)の軽面剥離フィルムを剥離し、これの露出面に、上述した支持シートの剥離フィルム(SP−PET382150)を剥離して露出した粘着剤層面に、23℃にてラミネートし、基材/粘着剤層/保護膜形成フィルム/重面剥離フィルムからなる、比較例2の積層体サンプルを用意した。なお、これらの作業は、全て、23℃の環境下で実施した。
[Composite (integrated) sheet for forming protective film)]
The light surface release film of the first laminated body of Comparative Example 2 (composed of a light surface release film / protective film forming film / heavy surface release film) was peeled off, and the above-mentioned support sheet release film (SP) was applied to the exposed surface of the light surface release film. -PET382150) was peeled off and laminated on the exposed pressure-sensitive adhesive layer surface at 23 ° C., and a laminate sample of Comparative Example 2 was prepared, which consisted of a base material / pressure-sensitive adhesive layer / protective film forming film / double surface release film. .. All of these operations were carried out in an environment of 23 ° C.

<ウエハの貼付>
まず、バックグラインドテープ(リンテック社製 ADWILL E−8180HR)が貼付され、#2000により研磨したシリコンウエハ(200mm径、厚さ350μm)を用意した。実施例1〜実施例8及び比較例1の第一積層体(構成は軽面剥離フィルム/保護膜形成フィルム/重面剥離フィルム)の軽面剥離フィルムを剥離し、これらの露出面に、シリコンウエハの研磨面を貼付装置(リンテック社製「RAD(登録商標)−3600F/12」と「RAD−2700F/12」の連結装置における「RAD−3600F/12」部分)を用いて、テーブル温度を23℃、60℃、80℃に設定し、速度を20mm/秒に設定して貼付した。次いで、予め、剥離フィルム付き支持シートを、203mm径の円形形状に抜き加工して、軽面剥離フィルムを剥離した。次いで、ウエハ/保護膜形成フィルム/重面剥離フィルムの重面剥離フィルムを剥離して、これらの露出面に、予め軽面剥離フィルムを剥離した支持シートの露出した面を、貼付装置(前記連結装置における「RAD−2700F/12」部分)を用いて、23℃に設定し、速度を20mm/秒に設定して貼付した。このとき、支持シートを8インチウエハ用リングフレームにも貼付した。次いで、ウエハ/保護膜形成フィルム/支持シートからバックグラインドテープを剥離した。第一積層体から軽面剥離フィルムを剥離させる工程から、バックグラインドテープを剥離する工程までの一連の工程は、インラインプロセスにより行った。
保護膜形成フィルムにシリコンウエハの貼付を開始した地点から、保護膜形成フィルムに支持シートの貼付を完了した地点までの間のシリコンウエハの搬送距離は、5000mmであった。
保護膜形成フィルムにシリコンウエハの貼付を開始した時点から、保護膜形成フィルムに支持シートの貼付を完了した時点までの間のシリコンウエハの搬送時間は、300sであった。本明細書において、この搬送時間を単に「搬送時間」という場合がある。
保護膜形成フィルムにシリコンウエハの貼付を開始した時点から、シリコンウエハからバックグラインドテープを剥離させ始めるまでの時間は、7minであった。
<Attachment of wafer>
First, a silicon wafer (200 mm diameter, thickness 350 μm) to which a back grind tape (ADWILL E-8180HR manufactured by Lintec Corporation) was attached and polished by # 2000 was prepared. The light surface release film of the first laminate (composed of a light surface release film / protective film forming film / heavy surface release film) of Examples 1 to 8 and Comparative Example 1 was peeled off, and silicon was applied to these exposed surfaces. The table temperature was adjusted by using a sticking device (the "RAD-3600F / 12" part in the connecting device of "RAD (registered trademark) -3600F / 12" and "RAD-2700F / 12" manufactured by Lintec Corporation) to attach the polished surface of the wafer. The film was applied at 23 ° C., 60 ° C., and 80 ° C., and the speed was set at 20 mm / sec. Next, the support sheet with the release film was punched into a circular shape having a diameter of 203 mm in advance, and the light surface release film was peeled off. Next, the heavy surface release film of the wafer / protective film forming film / heavy surface release film is peeled off, and the exposed surface of the support sheet from which the light surface release film has been peeled off in advance is attached to these exposed surfaces (the connection). Using the "RAD-2700F / 12" portion of the device), the temperature was set to 23 ° C., the speed was set to 20 mm / sec, and the film was applied. At this time, the support sheet was also attached to the ring frame for the 8-inch wafer. Then, the back grind tape was peeled off from the wafer / protective film forming film / support sheet. A series of steps from the step of peeling the light surface release film from the first laminate to the step of peeling the back grind tape were performed by an in-line process.
The transport distance of the silicon wafer from the point where the silicon wafer was started to be attached to the protective film-forming film to the point where the support sheet was completely attached to the protective film-forming film was 5000 mm.
The transport time of the silicon wafer from the time when the silicon wafer was started to be attached to the protective film-forming film to the time when the support sheet was completely attached to the protective film-forming film was 300 s. In the present specification, this transport time may be simply referred to as "transport time".
The time from the start of attaching the silicon wafer to the protective film-forming film to the start of peeling the backgrinding tape from the silicon wafer was 7 min.

実施例1の第一積層体に対して、上述したようにウエハ及び支持シートを貼付する作業を搬送時間が300sという条件で30回繰り返した際に、保護膜形成フィルム付きシリコンウエハを正しく保持して搬送できた枚数は30枚であった。
実施例1の第一積層体に対して、上述したようにウエハ及び支持シートを貼付する作業を搬送時間が170sという条件で30回繰り返した際に、保護膜形成フィルム付きシリコンウエハを正しく保持して搬送できた枚数は30枚であった。
実施例1の第一積層体に対して、上述したようにウエハ及び支持シートを貼付する作業を搬送時間が120sという条件で30回繰り返した際に、保護膜形成フィルム付きシリコンウエハを正しく保持して搬送できた枚数が29枚であった。
実施例1の第一積層体に対して、上述したようにウエハ及び支持シートを貼付する作業を搬送時間が60sという条件で30回繰り返した際に、保護膜形成フィルム付きシリコンウエハを正しく保持して搬送できた枚数が28枚であった。
When the work of attaching the wafer and the support sheet to the first laminated body of Example 1 was repeated 30 times under the condition that the transport time was 300 s, the silicon wafer with the protective film forming film was correctly held. The number of sheets that could be transported was 30.
When the work of attaching the wafer and the support sheet to the first laminated body of Example 1 was repeated 30 times under the condition that the transport time was 170 s, the silicon wafer with the protective film forming film was correctly held. The number of sheets that could be transported was 30.
When the work of attaching the wafer and the support sheet to the first laminated body of Example 1 was repeated 30 times under the condition that the transport time was 120 s, the silicon wafer with the protective film forming film was correctly held. The number of sheets that could be transported was 29.
When the work of attaching the wafer and the support sheet to the first laminated body of Example 1 was repeated 30 times under the condition that the transport time was 60 s, the silicon wafer with the protective film forming film was correctly held. The number of sheets that could be transported was 28.

比較例2の積層体サンプルの重面剥離フィルムを剥離し、前記保護膜形成フィルムの露出面を、#2000により研磨したシリコンウエハ(200mm径、厚さ350μm)の研磨面を貼付装置(リンテック社製「RAD−2700F/12」)を用いて、テーブル温度を23℃、60℃、80℃に設定し、速度は20mm/秒に設定して貼付した。このとき、積層体サンプルを8インチウエハ用リングフレームにも貼付した。 A device (Lintec Corporation) that peels off the heavy surface release film of the laminated body sample of Comparative Example 2 and attaches a polished surface of a silicon wafer (200 mm diameter, thickness 350 μm) obtained by polishing the exposed surface of the protective film forming film with # 2000. The table temperature was set to 23 ° C., 60 ° C., and 80 ° C., and the speed was set to 20 mm / sec. At this time, the laminated body sample was also attached to the ring frame for an 8-inch wafer.

<浮きの有無の確認>
評価方法:上述したように、実施例1〜実施例8及び比較例1の第一積層体、比較例2の積層体サンプルをシリコンウエハに貼付したときに、目視により、保護膜形成フィルム/シリコンウエハ間、保護膜形成フィルム/支持シート間における、浮きの有無を確認し、表1、2に、次の基準で評価結果を示した。
(有):目視により、浮きが確認された。
(無):目視により、浮きが確認されなかった。
<Check for floating>
Evaluation method: As described above, when the first laminate sample of Examples 1 to 8 and Comparative Example 1 and the laminate sample of Comparative Example 2 are attached to a silicon wafer, the protective film forming film / silicon is visually observed. The presence or absence of floating between the wafers and between the protective film forming film / support sheet was confirmed, and Tables 1 and 2 show the evaluation results according to the following criteria.
(Yes): Floating was confirmed visually.
(None): No floating was confirmed visually.

<しわの有無の確認>
評価方法:上述したように、実施例1〜実施例8及び比較例1の第一積層体、比較例2の積層体サンプルをシリコンウエハに貼付したときに、目視により、基材におけるしわの有無を確認し、表1、2に、次の基準で評価結果を示した。
(有):目視により、しわが確認された。
(無):目視により、しわが確認されなかった。
<Check for wrinkles>
Evaluation method: As described above, when the first laminates of Examples 1 to 8 and Comparative Example 1 and the laminate samples of Comparative Example 2 are attached to a silicon wafer, the presence or absence of wrinkles on the substrate is visually observed. The evaluation results are shown in Tables 1 and 2 according to the following criteria.
(Yes): Wrinkles were visually confirmed.
(None): No wrinkles were visually confirmed.

<重面剥離フィルムの剥離時の持ち帰り現象>
評価方法:上述したように、実施例1〜実施例8及び比較例1の第一積層体(構成は軽面剥離フィルム/保護膜形成フィルム/重面剥離フィルム)を、シリコンウエハに貼付した後に、重面剥離フィルムを装置内で剥離したときに、ウエハ端部において、保護膜形成フィルムが重面剥離フィルムと共に剥離しているか否かを、目視により確認し、表1、2に、表1、2に、次の基準で評価結果を示した。
(有):ウエハ端部において、保護膜形成フィルムが重面剥離フィルムと共に剥離していることが、目視により確認された。
(無):ウエハ端部において、保護膜形成フィルムが重面剥離フィルムと共に剥離していることが、目視により確認されなかった。
<Phenomenon of take-out when peeling the heavy surface release film>
Evaluation method: As described above, after the first laminates of Examples 1 to 8 and Comparative Example 1 (composed of a light surface release film / protective film forming film / heavy surface release film) are attached to a silicon wafer. When the heavy surface release film was peeled off in the apparatus, it was visually confirmed whether or not the protective film forming film was peeled off together with the heavy surface release film at the end of the wafer. The evaluation results are shown in 2 according to the following criteria.
(Yes): It was visually confirmed that the protective film forming film was peeled off together with the heavy surface release film at the end of the wafer.
(None): At the end of the wafer, it was not visually confirmed that the protective film forming film was peeled off together with the heavy surface release film.

<支持シート貼付時の保護膜形成フィルムの割れ現象>
実施例1〜実施例8及び比較例1の第一積層体に、支持シートを、貼付したときに、保護膜形成フィルムのはみだし部が割れているか否かを目視により確認した。
<Phenomenon of cracking of protective film forming film when attaching support sheet>
When the support sheet was attached to the first laminated bodies of Examples 1 to 8 and Comparative Example 1, it was visually confirmed whether or not the protruding portion of the protective film forming film was cracked.

評価方法:保護膜形成フィルムのはみだし部が、割れているか否かを、目視により確認し、表1、2に、次の基準で評価結果を示した。
(×):保護膜形成フィルムのはみだし部が割れている箇所が2箇所以上あることが、目視により確認された。
(△):保護膜形成フィルムのはみだし部が割れている箇所が1箇所あることが、目視により確認された。
(〇):保護膜形成フィルムのはみだし部が割れていることが、目視により確認されなかった。
Evaluation method: It was visually confirmed whether or not the protruding portion of the protective film-forming film was cracked, and Tables 1 and 2 show the evaluation results according to the following criteria.
(X): It was visually confirmed that there were two or more places where the protruding portion of the protective film forming film was cracked.
(Δ): It was visually confirmed that there was one place where the protruding part of the protective film forming film was cracked.
(○): It was not visually confirmed that the protruding portion of the protective film forming film was cracked.

<破断伸度の測定>
幅が15mmであり、長さが40mmであり、積層して厚さ200μmにした保護膜形成フィルムを試験片とし、この試験片を23℃に加温し、引張速度100mm/分、チャック間距離10mmで引っ張ったときの伸び量を測定した。試験片が破断したときの伸び量から破断伸度を求めた。
<Measurement of elongation at break>
A protective film-forming film having a width of 15 mm, a length of 40 mm, and a thickness of 200 μm was used as a test piece, and the test piece was heated to 23 ° C., a tensile speed of 100 mm / min, and a distance between chucks. The amount of elongation when pulled at 10 mm was measured. The elongation at break was determined from the amount of elongation when the test piece broke.

<重面剥離フィルムの剥離力の測定>
軽面剥離フィルム/保護膜形成フィルム/重面剥離フィルムの構成体の、軽面剥離フィルムを剥離し、曝露した保護膜形成フィルムに、25μmの良接着PET(東洋紡社製、PET25A−4100)の良接着面を熱ラミネート(70℃,1m/min)で貼付して積層体サンプルを作製した。次いで、100mm幅に切りだし、測定用サンプルを作製した。次いで、測定用サンプルの重面剥離フィルムの背面を両面テープで支持板に固定した。
<Measurement of peeling force of heavy surface release film>
A 25 μm good-adhesive PET (PET25A-4100, manufactured by Toyobo Co., Ltd.) was applied to the protective film-forming film that was exposed by peeling the light-face release film of the composition of the light-face release film / protective film-forming film / heavy-face release film. A good adhesive surface was attached with a thermal laminate (70 ° C., 1 m / min) to prepare a laminate sample. Then, it was cut into a width of 100 mm to prepare a sample for measurement. Next, the back surface of the heavy surface release film of the measurement sample was fixed to the support plate with double-sided tape.

測定方法:万能型引張試験機(島津製作所社製,製品名「オートグラフ(登録商標)AG−IS」)を用いて、23℃において、保護膜形成フィルム/良接着PETの積層体サンプルを、剥離角度180°、剥離速度1m/minで重面剥離フィルムから剥離し、その際の荷重を剥離力とした。 Measuring method: Using a universal tensile tester (manufactured by Shimadzu Corporation, product name "Autograph (registered trademark) AG-IS"), a laminated sample of protective film forming film / good adhesive PET was prepared at 23 ° C. It was peeled from the heavy surface release film at a peeling angle of 180 ° and a peeling speed of 1 m / min, and the load at that time was taken as the peeling force.

Figure 2021082767
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Figure 2021082767
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実施例1〜実施例8、比較例1の第1積層体、比較例2の積層体サンプルを、テーブル温度を80℃未満に設定し、ウエハに貼付したときに、保護膜形成フィルムとウエハとの間、保護膜形成フィルムと支持シートとの間には、浮きが確認される場合があった。これに対し、実施例1〜実施例8、比較例1の第1積層体、比較例2の積層体サンプルを、テーブル温度を80℃に設定して、ウエハに貼付すると、保護膜形成フィルムとウエハとの間、保護膜形成フィルムと支持シートとの間には、浮きは確認されなかった。
また、実施例1〜実施例8、比較例1の第1積層体、比較例2の積層体サンプルを、テーブル温度を80℃に設定して、ウエハに貼付したとき、実施例1〜実施例8、比較例1の基材にはしわが観察されなかったが、比較例2の基材にはしわが観察された。
When the sample of the first laminate of Example 1 to Example 8, the first laminate of Comparative Example 1, and the laminate sample of Comparative Example 2 were attached to a wafer at a table temperature of less than 80 ° C., the protective film-forming film and the wafer were formed. During the period, floating may be confirmed between the protective film forming film and the support sheet. On the other hand, when the laminate samples of Examples 1 to 8, Comparative Example 1, and Comparative Example 2 were attached to the wafer at a table temperature of 80 ° C., a protective film-forming film was formed. No floating was confirmed between the wafer and the protective film-forming film and the support sheet.
Further, when the laminated body samples of Examples 1 to 8, Comparative Example 1, and Comparative Example 2 were attached to a wafer at a table temperature of 80 ° C., Examples 1 to 8 were attached. 8. No wrinkles were observed on the base material of Comparative Example 1, but wrinkles were observed on the base material of Comparative Example 2.

実施例1〜実施例4、実施例6〜実施例8、比較例1のキットは、保護膜形成フィルムと第2剥離フィルムとの間の、剥離速度1m/min、温度23℃で測定される180°引きはがし剥離力が、250mN/100mm以下であるため、保護膜形成フィルムから第2剥離フィルムを剥離したときに、保護膜形成フィルムは重面剥離フィルムと共に剥離していなかった。これに対し、実施例5のキットは、上述の180°引きはがし剥離力が、250mN/100mmより大きいため、保護膜形成フィルムは重面剥離フィルムと共に剥離していた。 The kits of Examples 1 to 4, Examples 6 to 8 and Comparative Example 1 are measured at a peeling speed of 1 m / min and a temperature of 23 ° C. between the protective film forming film and the second release film. Since the 180 ° peeling force is 250 mN / 100 mm or less, when the second release film was peeled from the protective film forming film, the protective film forming film was not peeled together with the heavy surface release film. On the other hand, in the kit of Example 5, the 180 ° peeling force described above was larger than 250 mN / 100 mm, so that the protective film forming film was peeled off together with the heavy surface release film.

実施例1〜実施例6、実施例8のキットは、23℃における保護膜形成フィルムの破断伸度が700%より大きいため、支持シートをウエハ/保護膜形成フィルムに貼付したときに、保護膜形成フィルムのはみだし部が割れていることが、目視により確認されなかった。
実施例7のキットは、23℃における保護膜形成フィルムの破断伸度が730%であるため、支持シートをウエハ/保護膜形成フィルムに貼付したときに、保護膜形成フィルムのはみだし部が割れている箇所が1箇所あることが、目視により確認された。
比較例1のキットは、23℃における保護膜形成フィルムの破断伸度が700%以下であるため、支持シートをウエハ/保護膜形成フィルムに貼付したときに、保護膜形成フィルムのはみだし部が割れている箇所が2箇所以上あることが、目視により確認された。
Since the kits of Examples 1 to 6 and 8 have a breaking elongation of the protective film forming film at 23 ° C. of more than 700%, when the support sheet is attached to the wafer / protective film forming film, the protective film is formed. It was not visually confirmed that the protruding portion of the formed film was cracked.
In the kit of Example 7, since the breaking elongation of the protective film-forming film at 23 ° C. is 730%, when the support sheet is attached to the wafer / protective film-forming film, the protruding portion of the protective film-forming film is cracked. It was visually confirmed that there was one location.
In the kit of Comparative Example 1, since the breaking elongation of the protective film-forming film at 23 ° C. is 700% or less, the protruding portion of the protective film-forming film cracks when the support sheet is attached to the wafer / protective film-forming film. It was visually confirmed that there were two or more places where the film was formed.

これらの結果から、実施例1〜8のキットを用いることにより、第三積層体を、より好適にインラインプロセスで製造することができることが明らかになった。 From these results, it was clarified that the third laminate can be more preferably produced by the in-line process by using the kits of Examples 1 to 8.

本発明のキットは、第三積層体の製造方法に用いることができ、第三積層体は、保護膜付き半導体装置の製造に用いることができる。 The kit of the present invention can be used in a method for manufacturing a third laminated body, and the third laminated body can be used in manufacturing a semiconductor device with a protective film.

1・・・キット、3・・・保護膜形成用複合シート、5・・・第一積層体、6・・・第二積層体、7・・・保護膜付き半導体チップ、8・・・半導体ウエハ、8b・・・半導体ウエハの裏面、9・・・半導体チップ、10・・・支持シート、10a・・・支持シートの第1面、11・・・基材、11a・・・基材の第1面、12・・・粘着剤層、12a・・・粘着剤層の第1面、13・・・保護膜形成フィルム、13’・・・保護膜、13a・・・保護膜形成フィルムの第一面、13b・・・保護膜形成フィルムの第二面、14・・・ワーク、14a・・・ワークの回路面、14b・・・ワークの裏面、151・・・第1剥離フィルム(軽面剥離フィルム)、152・・・第2剥離フィルム(重面剥離フィルム)、16・・・治具用接着剤層、17・・・バックグラインドテープ、18・・・固定用治具、19・・・第三積層体、19’・・・第四積層体、20・・・半導体装置、21・・・保護膜付き半導体装置、70・・・抜き刃 1 ... Kit, 3 ... Composite sheet for forming protective film, 5 ... First laminated body, 6 ... Second laminated body, 7 ... Semiconductor chip with protective film, 8 ... Semiconductor Wafer, 8b ... Back surface of semiconductor wafer, 9 ... Semiconductor chip, 10 ... Support sheet, 10a ... First surface of support sheet, 11 ... Base material, 11a ... Base material First surface, 12 ... Adhesive layer, 12a ... First surface of the adhesive layer, 13 ... Protective film forming film, 13'... Protective film, 13a ... Protective film forming film First surface, 13b ... Second surface of protective film forming film, 14 ... Work, 14a ... Work circuit surface, 14b ... Work back surface, 151 ... First release film (light) Surface release film), 152 ... Second release film (heavy surface release film), 16 ... Adhesive layer for jigs, 17 ... Back grind tape, 18 ... Fixing jigs, 19. .. Third laminate, 19'... Fourth laminate, 20 ... Semiconductor device, 21 ... Semiconductor device with protective film, 70 ... Punching blade

Claims (11)

第1剥離フィルム、保護膜形成フィルム及び第2剥離フィルムがこの順に積層された第一積層体と、前記保護膜形成フィルムの保護対象となるワーク及び前記保護膜形成フィルムを支持するために用いられる支持シートと、を備えるキットであって、
23℃における前記保護膜形成フィルムの破断伸度が700%より大きい、キット。
It is used to support the first laminate in which the first release film, the protective film-forming film, and the second release film are laminated in this order, the work to be protected by the protective film-forming film, and the protective film-forming film. A kit with a support sheet
A kit in which the breaking elongation of the protective film-forming film at 23 ° C. is greater than 700%.
前記第一積層体が、ロール状である、請求項1に記載のキット。 The kit according to claim 1, wherein the first laminated body is in the form of a roll. 前記保護膜形成フィルムが、熱硬化性又はエネルギー線硬化性である、請求項1又は2に記載のキット。 The kit according to claim 1 or 2, wherein the protective film-forming film is thermosetting or energy ray-curable. 前記支持シートは、前記保護膜形成フィルムに貼付される粘着剤層が、基材上に積層されている、請求項1〜3のいずれか一項に記載のキット。 The kit according to any one of claims 1 to 3, wherein the support sheet is a pressure-sensitive adhesive layer to be attached to the protective film-forming film, which is laminated on a base material. 前記保護膜形成フィルムと前記第2剥離フィルムとの間の剥離力は、記保護膜形成フィルムと前記第1剥離フィルムとの間の剥離力よりも大きく、
前記保護膜形成フィルムと前記第2剥離フィルムとの間の、剥離速度1m/min、温度23℃で測定される180°引きはがし剥離力が、250mN/100mm以下である、請求項1〜4のいずれか一項に記載のキット。
The peeling force between the protective film-forming film and the second release film is larger than the peeling force between the protective film-forming film and the first release film.
The peeling force of 180 ° between the protective film forming film and the second peeling film measured at a peeling speed of 1 m / min and a temperature of 23 ° C. is 250 mN / 100 mm or less, according to claims 1 to 4. The kit described in any one item.
請求項1〜5のいずれか一項に記載のキットをインラインプロセスで使用する、ワーク、前記保護膜形成フィルム及び前記支持シートが、この順に積層された第三積層体の製造方法であって、
前記第一積層体の第1剥離フィルムを剥離させる工程と、
前記ワークに、前記保護膜形成フィルムの露出面を貼付する、第一の積層工程と、
前記保護膜形成フィルムの前記露出面とは反対の面に、前記支持シートを貼付する第二の積層工程とを、この順に含み、
前記第一の積層工程の貼付開始地点から前記第二の積層工程の貼付完了地点までの間の前記ワークの搬送距離が、7000mm以下である、第三積層体の製造方法。
A method for producing a third laminate in which a work, the protective film forming film, and the support sheet are laminated in this order, using the kit according to any one of claims 1 to 5 in an in-line process.
The step of peeling the first release film of the first laminated body and
The first laminating step of attaching the exposed surface of the protective film forming film to the work, and
A second laminating step of attaching the support sheet to the surface of the protective film forming film opposite to the exposed surface is included in this order.
A method for manufacturing a third laminated body, wherein the transport distance of the work from the sticking start point of the first laminating step to the sticking completion point of the second laminating step is 7,000 mm or less.
請求項1〜5のいずれか一項に記載のキットをインラインプロセスで使用する、ワーク、前記保護膜形成フィルム及び前記支持シートが、この順に積層された第三積層体の製造方法であって、
前記第一積層体の第1剥離フィルムを剥離させる工程と、
前記ワークに、前記保護膜形成フィルムの露出面を貼付する第一の積層工程と、
前記保護膜形成フィルムの前記露出面とは反対の面に、前記支持シートを貼付する第二の積層工程とを、この順に含み、
前記第一の積層工程の貼付開始時から前記第二の積層工程の貼付完了時までの間の前記ワークの搬送時間が、400s以下である、第三積層体の製造方法。
A method for producing a third laminate in which a work, the protective film forming film, and the support sheet are laminated in this order, using the kit according to any one of claims 1 to 5 in an in-line process.
The step of peeling the first release film of the first laminated body and
The first laminating step of attaching the exposed surface of the protective film forming film to the work, and
A second laminating step of attaching the support sheet to the surface of the protective film forming film opposite to the exposed surface is included in this order.
A method for producing a third laminated body, wherein the transport time of the work from the start of sticking of the first laminating step to the completion of sticking of the second laminating step is 400 s or less.
請求項1〜5のいずれか一項に記載のキットをインラインプロセスで使用する、ワーク、前記保護膜形成フィルム及び前記支持シートが、この順に積層された第三積層体の製造方法であって、
前記第一積層体の第1剥離フィルムを剥離させる工程と、
前記ワークに、前記保護膜形成フィルムの露出面を貼付する第一の積層工程と、
前記保護膜形成フィルムの前記露出面とは反対の面に、前記支持シートを貼付する第二の積層工程とを、この順に含み、
前記第一の積層工程から前記第二の積層工程までの間において、前記ワークに前記保護膜形成フィルムが貼付された第二積層体を一枚ずつ搬送する、第三積層体の製造方法。
A method for producing a third laminate in which a work, the protective film forming film, and the support sheet are laminated in this order, using the kit according to any one of claims 1 to 5 in an in-line process.
The step of peeling the first release film of the first laminated body and
The first laminating step of attaching the exposed surface of the protective film forming film to the work, and
A second laminating step of attaching the support sheet to the surface of the protective film forming film opposite to the exposed surface is included in this order.
A method for producing a third laminated body, in which the second laminated body to which the protective film forming film is attached to the work is conveyed one by one between the first laminating step and the second laminating step.
前記第一の積層工程が、80℃以上のウエハテーブル上で行われる、請求項6〜8のいずれか一項に記載の第三積層体の製造方法。 The method for producing a third laminated body according to any one of claims 6 to 8, wherein the first laminating step is performed on a wafer table at 80 ° C. or higher. 前記ワークの、前記保護膜形成フィルムの露出面を貼付する側とは反対の側の面にバックグラインドテープが貼付されており、前記第二の積層工程の後に、前記ワークから、前記バックグラインドテープを剥離させる工程を含む、請求項6〜9のいずれか一項に記載の第三積層体の製造方法。 A back grind tape is attached to the surface of the work opposite to the side on which the exposed surface of the protective film forming film is attached, and after the second laminating step, the back grind tape is applied from the work. The method for producing a third laminate according to any one of claims 6 to 9, which comprises a step of peeling. 前記第一の積層工程の貼付開始時から、10min未満で、前記ワークから、前記バックグラインドテープを剥離させ始める、請求項10に記載の第三積層体の製造方法。 The method for producing a third laminated body according to claim 10, wherein the back grind tape is started to be peeled off from the work in less than 10 minutes from the start of application in the first laminating step.
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