JP2021072342A - Coil device - Google Patents

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Abstract

To provide a coil device having high heat dissipation.SOLUTION: A coil device 10 includes a first substrate 1 which is a ceramic having a first surface 1a, and a metal layer 2 having a void located on the first surface. The first substrate includes a first flow path 1b and a first through hole 1c connecting the first surface and the first flow path inside. The metal layer includes a first metal particle, a second metal particle, and a void. The void is located between the first metal particle and the second metal particle.EFFECT: Since the metal layer has a larger surface area than the metal layer without a void, the coil device has high heat dissipation.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本開示は、コイル装置に関する。 The present disclosure relates to a coil device.

絶縁性の基体上に、金属層を形成することで平面コイルが得られる。 A flat coil can be obtained by forming a metal layer on an insulating substrate.

例えば、特許文献1には、絶縁基板上に電鋳メッキによってコイルパターンを形成したコイル装置が開示されている。 For example, Patent Document 1 discloses a coil device in which a coil pattern is formed on an insulating substrate by electroplating.

特開2006−33953号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-33953

コイルとして利用する場合、金属層に電流が流れるため、金属層が発熱しやすい。 When used as a coil, a current flows through the metal layer, so that the metal layer tends to generate heat.

本開示のコイル装置は、第1面を有するセラミックスである第1基体と、前記第1面の上に位置する、空隙を有する金属層と、を有し、前記第1基体は、内部に第1流路と、前記第1面と前記第1流路をつなげる第1貫通穴を有している。 The coil device of the present disclosure has a first substrate which is a ceramic having a first surface and a metal layer having a gap located on the first surface, and the first substrate has a first surface inside. It has one flow path and a first through hole connecting the first surface and the first flow path.

本開示の平面コイルは、高い放熱性を有する。 The planar coil of the present disclosure has high heat dissipation.

本開示のコイル装置の一例を第1面側から視た平面図である。FIG. 5 is a plan view of an example of the coil device of the present disclosure viewed from the first surface side. 図1のA−A’線における断面図の一例である。This is an example of a cross-sectional view taken along the line AA'in FIG. 図2に示すS部における拡大図の一例である。It is an example of the enlarged view in the S part shown in FIG. 図2に示すS部における拡大図の一例である。It is an example of the enlarged view in the S part shown in FIG. 図1のA−A’線における断面図の一例である。This is an example of a cross-sectional view taken along the line AA'in FIG. 図1のA−A’線における断面図の一例である。This is an example of a cross-sectional view taken along the line AA'in FIG. 図1のA−A’線における断面図の一例である。This is an example of a cross-sectional view taken along the line AA'in FIG. 本開示のコイル装置の他の例の斜視図である。It is a perspective view of another example of the coil device of this disclosure. 図8のB−B’線における断面図の一例である。This is an example of a cross-sectional view taken along the line BB'of FIG. 図8のB−B’線における断面図の一例である。This is an example of a cross-sectional view taken along the line BB'of FIG.

本開示のコイル装置について、図面を参照しながら、以下に詳細に説明する。 The coil device of the present disclosure will be described in detail below with reference to the drawings.

本開示のコイル装置10は、図1および図2に示すように、第1面1aを有する第1基体1を有する。また、コイル装置は、第1面1a上に位置する金属層2を有する。また、金属層2は、複数の空隙3を有する。 The coil device 10 of the present disclosure has a first substrate 1 having a first surface 1a, as shown in FIGS. 1 and 2. Further, the coil device has a metal layer 2 located on the first surface 1a. Further, the metal layer 2 has a plurality of voids 3.

ここで、本開示のコイル装置10における第1基体1は、セラミックスである。セラミックスとしては、例えば、酸化アルミニウム質セラミックス、フェライト質焼結体、炭化珪素質セラミックス、コージェライト質セラミックス、窒化珪素質セラミックス、窒化ア
ルミニウム質セラミックスまたはムライト質セラミックス等が挙げられる。特に、第1基体1が酸化アルミニウム質セラミックスからなるならば、加工性に優れ、かつ安価である。
Here, the first substrate 1 in the coil device 10 of the present disclosure is ceramics. Examples of the ceramics include aluminum oxide ceramics, ferrite sintered bodies, silicon carbide ceramics, cordierite ceramics, silicon nitride ceramics, aluminum nitride ceramics, and mulite ceramics. In particular, if the first substrate 1 is made of aluminum oxide ceramics, it is excellent in processability and inexpensive.

また、図1に示すように、第1基体1は、板状であってもよい。また、金属層2は、第1基体1の第1面1a上に、蛇行状または渦状に位置していてもよい。また、金属層2は、第1基体1の第1面1a上に、どのような配置で位置していてもよい。 Further, as shown in FIG. 1, the first substrate 1 may have a plate shape. Further, the metal layer 2 may be located on the first surface 1a of the first substrate 1 in a meandering shape or a spiral shape. Further, the metal layer 2 may be located on the first surface 1a of the first substrate 1 in any arrangement.

図3に示すように、金属層2は、空隙3を有している。そのため、金属層2は、空隙3のない金属層2に比べ表面積が大きい。したがって、コイル装置は高い放熱性を有する。 As shown in FIG. 3, the metal layer 2 has a void 3. Therefore, the metal layer 2 has a larger surface area than the metal layer 2 having no voids 3. Therefore, the coil device has high heat dissipation.

また、図2に示すように、第1基体1は、内部に第1流路1bと、第1面1aと第1流路1bをつなげる第1貫通穴1cを有している。そのため、第1流路1bに正圧が生じた場合、第1貫通穴1cから気体が噴出され、噴出された気体が金属層2に接触することで冷却し、また、第1流路1bに負圧が生じた場合、金属層2の周囲の気体が第1貫通穴1cにて吸入されるが、吸入される際に気体が金属層2の空隙3に接触することで冷却する。したがって、コイル装置10は高い放熱性を有する。なお、第1貫通穴1cは複数あっても良い。 Further, as shown in FIG. 2, the first substrate 1 has a first flow path 1b and a first through hole 1c connecting the first surface 1a and the first flow path 1b inside. Therefore, when a positive pressure is generated in the first flow path 1b, a gas is ejected from the first through hole 1c, and the ejected gas comes into contact with the metal layer 2 to cool the gas, and also to the first flow path 1b. When a negative pressure is generated, the gas around the metal layer 2 is sucked in through the first through hole 1c, but when the gas is sucked, the gas comes into contact with the void 3 of the metal layer 2 to cool the metal layer 2. Therefore, the coil device 10 has high heat dissipation. There may be a plurality of first through holes 1c.

また、図3に示すように、金属層2は、第1金属粒子4と、第2金属粒子5と、を有していてもよい。空隙3は、第1金属粒子4と第2金属粒子5との間に位置していてもよい。このような構成を有する場合、第1金属粒子4および第2金属粒子5で生じた熱が空隙3に吸収されるため、コイル装置10は高い放熱性を有する。 Further, as shown in FIG. 3, the metal layer 2 may have the first metal particles 4 and the second metal particles 5. The void 3 may be located between the first metal particles 4 and the second metal particles 5. With such a configuration, the heat generated by the first metal particles 4 and the second metal particles 5 is absorbed by the voids 3, so that the coil device 10 has high heat dissipation.

ここで、金属層2を構成する第1金属粒子4および第2金属粒子5の材質は、例えば、ステンレスまたは銅であってもよい。 Here, the material of the first metal particles 4 and the second metal particles 5 constituting the metal layer 2 may be, for example, stainless steel or copper.

また、図3および図4に示すように、第1金属粒子4および第2金属粒子5の形状は、例えば、球状、粒状、ウィスカ状または針状であってもよい。第1金属粒子4および第2金属粒子5がウィスカ状または針状である場合は、第1金属粒子4および第2金属粒子5は屈曲していてもよい。第1金属粒子4および第2金属粒子5は角部を有していてもよい。また、第1金属粒子4および第2金属粒子5が球状または粒状である場合、第1金属粒子4および第2金属粒子5の長手方向の長さは0.5μm以上200μm以下であってもよい。第1金属粒子4および第2金属粒子5がウィスカ状または針状である場合、幅は1μm以上100μm以下であってもよく、長さが100μm以上5mm以下であってもよい。 Further, as shown in FIGS. 3 and 4, the shapes of the first metal particles 4 and the second metal particles 5 may be, for example, spherical, granular, whisker-shaped or needle-shaped. When the first metal particles 4 and the second metal particles 5 are whisker-shaped or needle-shaped, the first metal particles 4 and the second metal particles 5 may be bent. The first metal particles 4 and the second metal particles 5 may have corners. When the first metal particles 4 and the second metal particles 5 are spherical or granular, the lengths of the first metal particles 4 and the second metal particles 5 in the longitudinal direction may be 0.5 μm or more and 200 μm or less. .. When the first metal particles 4 and the second metal particles 5 are whisker-shaped or needle-shaped, the width may be 1 μm or more and 100 μm or less, and the length may be 100 μm or more and 5 mm or less.

図3においては、第1金属粒子4および第2金属粒子5が粒状である。図4においては、第1金属粒子4および第2金属粒子5がウィスカ状である。 In FIG. 3, the first metal particles 4 and the second metal particles 5 are granular. In FIG. 4, the first metal particles 4 and the second metal particles 5 are whisker-shaped.

また、金属層2の平均厚み2aは、1μm以上5mm以下であり、金属層2の平均高さ2bは、0.5mm以上10mm以下である。 The average thickness 2a of the metal layer 2 is 1 μm or more and 5 mm or less, and the average height 2b of the metal layer 2 is 0.5 mm or more and 10 mm or less.

また、金属層2の気孔率は、例えば、10%以上90%以下であってもよい。気孔率は、金属層2において空隙3が占める割合を表す指標となる、ここで、金属層2の気孔率は、例えば、アルキメデス法を用いて測定することで算出すればよい。 Further, the porosity of the metal layer 2 may be, for example, 10% or more and 90% or less. The porosity is an index showing the proportion of the voids 3 in the metal layer 2. Here, the porosity of the metal layer 2 may be calculated by measuring using, for example, the Archimedes method.

また、本開示のコイル装置20は、図2に示すように、第1貫通穴1cの断面積は、第1面1aに向かって小さくなってもよい。このような構成を有する場合、第1流路1bに正圧が生じた場合、第1貫通穴1cから気体が噴出され、噴出された気体がより遠くへと
飛ぶようになり、金属層2の広範囲で接触することで冷却するので、コイル装置20の放熱性を高めることができる。
Further, in the coil device 20 of the present disclosure, as shown in FIG. 2, the cross-sectional area of the first through hole 1c may become smaller toward the first surface 1a. With such a configuration, when a positive pressure is generated in the first flow path 1b, a gas is ejected from the first through hole 1c, and the ejected gas flies farther, so that the metal layer 2 has a structure like this. Since cooling is performed by contacting in a wide range, the heat dissipation of the coil device 20 can be improved.

また、本開示のコイル装置20は、図5に示すように、第1貫通穴1cの断面積は、第1面1aに向かって大きくなってもよい。このような構成を有する場合、第1流路1bに負圧が生じた場合、第1金属層2の周囲の気体が第1貫通穴1cにて吸入されるが、吸入される気体が多くなるので、吸入される際に気体が金属層2の空隙3に広範囲で接触することで冷却するので、コイル装置20は高い放熱性を高めることができる。 Further, in the coil device 20 of the present disclosure, as shown in FIG. 5, the cross-sectional area of the first through hole 1c may increase toward the first surface 1a. With such a configuration, when a negative pressure is generated in the first flow path 1b, the gas around the first metal layer 2 is sucked in through the first through hole 1c, but the amount of gas sucked in increases. Therefore, when the gas is sucked in, the gas cools by coming into contact with the voids 3 of the metal layer 2 in a wide range, so that the coil device 20 can enhance high heat dissipation.

なお、本開示のコイル装置30は、図6に示すように、第1貫通穴1cの断面積は、段階的に第1面1aに向かって大きくなってもよい。 In the coil device 30 of the present disclosure, as shown in FIG. 6, the cross-sectional area of the first through hole 1c may gradually increase toward the first surface 1a.

また、本開示のコイル装置40は、図7に示すように、金属層2および第1面1aの間に位置する第1接合層6を有しても良い。このような構成を有する場合、金属層2が第1基体1から剥がれにくくなる。また、接合層が、金属層2と第1基体1との熱膨張係数の差によって発生する応力を緩和しやすい。そのため、第1基体1に亀裂が生じにくくなる。したがって、本開示のコイル装置40は長期間の使用に耐えうる。なお、接合層の平均厚みは、1μm以上0.5mm以下であってもよい。 Further, as shown in FIG. 7, the coil device 40 of the present disclosure may have a first bonding layer 6 located between the metal layer 2 and the first surface 1a. With such a configuration, the metal layer 2 is less likely to be peeled off from the first substrate 1. Further, the bonding layer can easily relieve the stress generated by the difference in the coefficient of thermal expansion between the metal layer 2 and the first substrate 1. Therefore, cracks are less likely to occur in the first substrate 1. Therefore, the coil device 40 of the present disclosure can withstand long-term use. The average thickness of the bonding layer may be 1 μm or more and 0.5 mm or less.

また、本開示のコイル装置40における接合層は、樹脂またはガラスを有していてもよい。ここで、樹脂としては、例えば、シリコーンまたはイミドアミドが挙げられる。ガラスとしては、例えば、ホウ硅酸系ガラスまたは珪酸系ガラスが挙げられる。接合層が上記の材料を含む場合、金属層2と第1基体1とが強固に接合され、金属層2が第1基体1から剥がれにくくなる。 Further, the bonding layer in the coil device 40 of the present disclosure may have resin or glass. Here, examples of the resin include silicone and imidoamide. Examples of the glass include boric acid-based glass and silicic acid-based glass. When the bonding layer contains the above-mentioned material, the metal layer 2 and the first substrate 1 are firmly bonded to each other, and the metal layer 2 is less likely to be peeled off from the first substrate 1.

また、本開示のコイル装置40は、図7に示すように、第1基体1は、第1面1aに第1凹部1dを有し、金属層2の一方の端部が第1凹部1d内に有してもよい。このような構成を有する場合、金属層2の端部が発熱した際に、膨張を抑制することができ、剥離を防ぐことができることから、信頼性を向上することができる。また、金属層2どうしの沿面距離を伸ばすことができ、電気的信頼性を向上することができる。 Further, in the coil device 40 of the present disclosure, as shown in FIG. 7, the first substrate 1 has a first recess 1d on the first surface 1a, and one end of the metal layer 2 is inside the first recess 1d. May have. With such a configuration, when the end portion of the metal layer 2 generates heat, expansion can be suppressed and peeling can be prevented, so that reliability can be improved. Further, the creepage distance between the metal layers 2 can be extended, and the electrical reliability can be improved.

また、本開示のコイル装置50は、図8および図9に示すように、第1面1aに対向する第2面7aを有するセラミックスである第2基体7を有し、第2基体7は、内部に第2流路7bを有し、金属層2は、第1基体1と第2基体7の間に位置してもよい。このような構成を有するならば、第1基体1および第2基体7の両方から金属層2を冷却することができるので、放熱性を向上することができる。 Further, as shown in FIGS. 8 and 9, the coil device 50 of the present disclosure has a second base 7 which is a ceramic having a second surface 7a facing the first surface 1a, and the second base 7 is a second base 7. The second flow path 7b may be provided inside, and the metal layer 2 may be located between the first base 1 and the second base 7. With such a configuration, the metal layer 2 can be cooled from both the first substrate 1 and the second substrate 7, so that the heat dissipation can be improved.

なお、第2基体7のセラミックスとしては、例えば、酸化アルミニウム質セラミックス、フェライト質焼結体、炭化珪素質セラミックス、コージェライト質セラミックス、窒化珪素質セラミックス、窒化アルミニウム質セラミックスまたはムライト質セラミックス等が挙げられる。 Examples of the ceramics of the second substrate 7 include aluminum oxide ceramics, ferrite sintered bodies, silicon carbide ceramics, cordierite ceramics, silicon nitride ceramics, aluminum nitride ceramics, and mulite ceramics. Be done.

また、本開示のコイル装置50は、第2基体7は、第2面7aと第2流路7bをつなげる第2貫通穴7cを有しても良い。このような構成を有する場合、第2流路7bに正圧が生じた場合、第2貫通穴7cから気体が噴出され、噴出された気体が金属層2に接触することで冷却し、また、第2流路7bに負圧が生じた場合、金属層2の周囲の気体が第2貫通穴7cにて吸入されるが、吸入される際に気体が金属層2の空隙3に接触することで冷却する。したがって、コイル装置は高い放熱性を有する。なお、第2貫通穴7cは複数あっても良い。 Further, in the coil device 50 of the present disclosure, the second base 7 may have a second through hole 7c connecting the second surface 7a and the second flow path 7b. In the case of having such a configuration, when a positive pressure is generated in the second flow path 7b, a gas is ejected from the second through hole 7c, and the ejected gas is cooled by coming into contact with the metal layer 2 and is also cooled. When a negative pressure is generated in the second flow path 7b, the gas around the metal layer 2 is sucked in through the second through hole 7c, but when sucked, the gas comes into contact with the void 3 of the metal layer 2. Cool with. Therefore, the coil device has high heat dissipation. There may be a plurality of second through holes 7c.

また、本開示のコイル装置50は、図9に示すように、第2貫通穴7cの断面積は、第2面7aに向かって小さくなってもよい。このような構成を有する場合、第2流路7bに正圧が生じた場合、第2貫通穴7cから気体が噴出され、噴出された気体がより遠くへと飛ぶようになり、金属層2の広範囲で接触することで冷却するので、コイル装置50の放熱性を高めることができる。 Further, in the coil device 50 of the present disclosure, as shown in FIG. 9, the cross-sectional area of the second through hole 7c may become smaller toward the second surface 7a. With such a configuration, when a positive pressure is generated in the second flow path 7b, gas is ejected from the second through hole 7c, and the ejected gas flies farther, so that the metal layer 2 has a structure like this. Since cooling is performed by contacting in a wide range, the heat dissipation of the coil device 50 can be improved.

また、本開示のコイル装置60は、図10に示すように、第2貫通穴7cの断面積は、第2面7aに向かって大きくなってもよい。このような構成を有する場合、第2流路7bに負圧が生じた場合、金属層2の周囲の気体が第2貫通穴7cにて吸入されるが、吸入される気体が多くなるので、吸入される際に気体が金属層2の空隙3に広範囲で接触することで冷却するので、コイル装置60は高い放熱性を高めることができる。 Further, in the coil device 60 of the present disclosure, as shown in FIG. 10, the cross-sectional area of the second through hole 7c may increase toward the second surface 7a. With such a configuration, when a negative pressure is generated in the second flow path 7b, the gas around the metal layer 2 is sucked in through the second through hole 7c, but the amount of gas sucked in increases. When the gas is sucked in, the gas cools by coming into contact with the voids 3 of the metal layer 2 in a wide range, so that the coil device 60 can enhance high heat dissipation.

また、本開示のコイル装置60は、図10に示すように、金属層2および第2面7aの間に位置する第2接合層8を有しても良い。このような構成を有する場合、金属層2が第2基体7から剥がれにくくなる。また、第2接合層8が、金属層2と第1基体1との熱膨張係数の差によって発生する応力を緩和しやすい。そのため、第2基体7に亀裂が生じにくくなる。したがって、本開示のコイル装置60は長期間の使用に耐えうる。なお、第2接合層8の平均厚みは、1μm以上0.5mm以下であってもよい。 Further, as shown in FIG. 10, the coil device 60 of the present disclosure may have a second bonding layer 8 located between the metal layer 2 and the second surface 7a. With such a configuration, the metal layer 2 is less likely to be peeled off from the second substrate 7. Further, the second bonding layer 8 can easily relieve the stress generated by the difference in the coefficient of thermal expansion between the metal layer 2 and the first substrate 1. Therefore, cracks are less likely to occur in the second substrate 7. Therefore, the coil device 60 of the present disclosure can withstand long-term use. The average thickness of the second bonding layer 8 may be 1 μm or more and 0.5 mm or less.

また、本開示のコイル装置60における第2接合層8は、樹脂またはガラスを有していてもよい。ここで、樹脂としては、例えば、シリコーンまたはイミドアミドが挙げられる。ガラスとしては、例えば、ホウ硅酸系ガラスまたは珪酸系ガラスが挙げられる。第2接合層8が上記の材料を含む場合、金属層2と第2基体7とが強固に接合され、金属層2が第2基体7から剥がれにくくなる。 Further, the second bonding layer 8 in the coil device 60 of the present disclosure may have resin or glass. Here, examples of the resin include silicone and imidoamide. Examples of the glass include boric acid-based glass and silicic acid-based glass. When the second bonding layer 8 contains the above-mentioned material, the metal layer 2 and the second substrate 7 are firmly bonded to each other, and the metal layer 2 is less likely to be peeled off from the second substrate 7.

また、本開示のコイル装置60は、図10に示すように、第2基体7は、第2面7aに第2凹部を有し、金属層2の他方の端部が第2凹部7d内に有してもよい。このような構成を有する場合、金属層2の他方の端部が発熱した際に、膨張を抑制することができ、剥離を防ぐことができることから、信頼性を向上することができる。また、金属層2どうしの沿面距離を伸ばすことができ、電気的信頼性を向上することができる。 Further, in the coil device 60 of the present disclosure, as shown in FIG. 10, the second base 7 has a second recess on the second surface 7a, and the other end of the metal layer 2 is inside the second recess 7d. You may have. With such a configuration, when the other end of the metal layer 2 generates heat, expansion can be suppressed and peeling can be prevented, so that reliability can be improved. Further, the creepage distance between the metal layers 2 can be extended, and the electrical reliability can be improved.

なお、このようなコイル装置10,20,30,40,50,60は、金属層2に複数の導線(図示しない)の一端を接続し、その導線の他端を電源やグランドに接続することで、無線給電装置、周波数フィルタ、トランスなどに使用することができる。また、導線は、第1貫通穴1cおよび第1流路1b、または第2貫通穴7cおよび第2流路7bに通してもよい。このような構成を有する場合、導線を外部にさらすことが無く、コイルに影響を与えることが無いので、コイル装置10,20,30,40,50,60の電気的信頼性を向上することができる。 In such a coil device 10, 20, 30, 40, 50, 60, one end of a plurality of conductors (not shown) is connected to the metal layer 2, and the other end of the conductor is connected to a power source or ground. It can be used for wireless power supply devices, frequency filters, transformers, etc. Further, the conducting wire may be passed through the first through hole 1c and the first flow path 1b, or the second through hole 7c and the second flow path 7b. When having such a configuration, since the conducting wire is not exposed to the outside and does not affect the coil, the electrical reliability of the coil devices 10, 20, 30, 40, 50, 60 can be improved. it can.

次に、本開示のコイル装置10,20,30,40,50,60の製造方法の一例について説明する。 Next, an example of the manufacturing method of the coil devices 10, 20, 30, 40, 50, 60 of the present disclosure will be described.

まず、セラミックスからなる第1基体1を用意する。なお、第1基体1の内部には第1流路1bを備え、第1貫通穴1cを形成する。また、第1面1aに凹部を形成しても良い。このように、流路、第1貫通穴1c、第1凹部1dは押出法、積層法などの公知の成形方法を用いた際に形成すればよく、その成形方法で得られた成形体を焼成することで第1基体1を得ることができる。なお、第2基体7も第1基体1と同様の方法で得ることができる。 First, a first substrate 1 made of ceramics is prepared. A first flow path 1b is provided inside the first substrate 1 to form a first through hole 1c. Further, a recess may be formed on the first surface 1a. As described above, the flow path, the first through hole 1c, and the first recess 1d may be formed when a known molding method such as an extrusion method or a lamination method is used, and the molded product obtained by the molding method is fired. By doing so, the first substrate 1 can be obtained. The second substrate 7 can also be obtained by the same method as that of the first substrate 1.

次に、第1金属粒子4および第2金属粒子5を含む複数の金属粒子とバインダとを混ぜ
合わせた後に、メカプレス法、ロール法、押出法により成形体を作製する。次に、成形体を乾燥させることでバインダを蒸発させる。その後、所望形状に加工することで、金属層2を得ることができる。なお、加熱するか、超音波振動を与えるか、通電することにより、第1金属粒子4および第2金属粒子5が溶着され、溶着部を有することができる。
Next, after mixing a plurality of metal particles including the first metal particles 4 and the second metal particles 5 with a binder, a molded product is produced by a mechanical press method, a roll method, or an extrusion method. Next, the binder is evaporated by drying the molded product. After that, the metal layer 2 can be obtained by processing it into a desired shape. The first metal particles 4 and the second metal particles 5 can be welded and have a welded portion by heating, applying ultrasonic vibration, or energizing.

そして、金属層2を所望の形態に第1基体1に載置することで、本開示のコイル装置10,20,30を得ることができる。ここで、第1基体1に凹部を有するならば、金属層2の一方の端部を第1凹部1dにはまるように載置することで、本開示のコイル装置40を得ることができる。 Then, by placing the metal layer 2 on the first substrate 1 in a desired form, the coil devices 10, 20, and 30 of the present disclosure can be obtained. Here, if the first substrate 1 has a recess, the coil device 40 of the present disclosure can be obtained by placing one end of the metal layer 2 so as to fit into the first recess 1d.

なお、基体の第1面1aに金属層2を直接形成するのではなく、まず、第1面1aに第1接合層6を形成した後、この第1接合層6上に金属層2を形成することで、本開示のコイル装置40を得ることができる。ここで、接合層は、樹脂またはガラスである。一方、第1接合層6が、樹脂またはガラスである場合、上記マスク形成前に第1接合層6を形成すればよい。この場合、樹脂またはガラスは、それぞれを主成分としたペーストを第1面1aに塗布し、熱処理することで形成すればよい。また、樹脂またはガラスは、第1基体1の第1面1a全てを覆うように形成しても構わない。 Instead of directly forming the metal layer 2 on the first surface 1a of the substrate, first, the first bonding layer 6 is formed on the first surface 1a, and then the metal layer 2 is formed on the first bonding layer 6. By doing so, the coil device 40 of the present disclosure can be obtained. Here, the bonding layer is resin or glass. On the other hand, when the first bonding layer 6 is resin or glass, the first bonding layer 6 may be formed before the mask is formed. In this case, the resin or glass may be formed by applying a paste containing each as a main component to the first surface 1a and heat-treating it. Further, the resin or glass may be formed so as to cover the entire first surface 1a of the first substrate 1.

そして、第1接合層6上に金属層2を形成した後、第1基体1を加熱することによって、第1接合層6が、樹脂またはガラスならば、金属層2に対して第1接合層6が濡れることで接合される。 Then, by forming the metal layer 2 on the first bonding layer 6 and then heating the first substrate 1, if the first bonding layer 6 is made of resin or glass, the first bonding layer with respect to the metal layer 2 is formed. 6 is joined when it gets wet.

なお、第1基体1に金属層2を形成した後または同時に、第2基体7と金属層2を接触または接合することで、第2基体7を有するコイル装置50,60とすることができる。 The coil devices 50 and 60 having the second base 7 can be obtained by contacting or joining the second base 7 and the metal layer 2 after or at the same time as forming the metal layer 2 on the first base 1.

なお、本開示は上述の実施形態に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。 The present disclosure is not limited to the above-described embodiment, and various changes and improvements can be made without departing from the gist of the present disclosure.

1:第1基体
1a:第1面
1b:第1流路
1c:第1貫通穴
1d:第1凹部
2:金属層
3:空隙
4:第1金属粒子
5:第2金属粒子
6:第1接合層
7:第2基体
7a:第2面
7b:第2流路
7c:第2貫通穴
7d:第2凹部
8:第2接合層
10、20、30、40、50、60:コイル装置
1: 1st substrate 1a: 1st surface 1b: 1st flow path 1c: 1st through hole 1d: 1st recess 2: Metal layer 3: Void 4: 1st metal particle 5: 2nd metal particle 6: 1st Bonding layer 7: Second substrate 7a: Second surface 7b: Second flow path 7c: Second through hole 7d: Second recess 8: Second bonding layer 10, 20, 30, 40, 50, 60: Coil device

Claims (14)

第1面を有するセラミックスである第1基体と、
前記第1面の上に位置する、空隙を有する金属層と、を有し、
前記第1基体は、内部に第1流路と、前記第1面と前記第1流路をつなげる第1貫通穴を有するコイル装置。
A first substrate, which is a ceramic having a first surface,
It has a metal layer having voids, which is located on the first surface.
The first substrate is a coil device having a first flow path inside and a first through hole connecting the first surface and the first flow path.
前記金属層は、第1金属粒子と、第2金属粒子と、を有しており、
前記空隙は、前記第1金属粒子と前記第2金属粒子との間に位置する、請求項1に記載のコイル装置。
The metal layer has first metal particles and second metal particles.
The coil device according to claim 1, wherein the void is located between the first metal particles and the second metal particles.
前記第1貫通穴の断面積は、前記第1面に向かって小さくなる、請求項1または請求項2に記載のコイル装置。 The coil device according to claim 1 or 2, wherein the cross-sectional area of the first through hole becomes smaller toward the first surface. 前記第1貫通穴の断面積は、前記第1面に向かって大きくなる、請求項1または請求項2に記載のコイル装置。 The coil device according to claim 1 or 2, wherein the cross-sectional area of the first through hole increases toward the first surface. 前記金属層および前記第1面の間に位置する第1接合層を有する、請求項1乃至請求項4のいずれか1つに記載のコイル装置。 The coil device according to any one of claims 1 to 4, further comprising a first bonding layer located between the metal layer and the first surface. 前記第1接合層は、樹脂またはガラスを有する、請求項5に記載のコイル装置。 The coil device according to claim 5, wherein the first bonding layer has resin or glass. 前記第1基体は、前記第1面に第1凹部を有し、前記金属層の一方の端部が前記第1凹部内に有する、請求項1乃至請求項6のいずれか1つに記載のコイル装置。 The first substrate has a first concave portion on the first surface, and one end of the metal layer has the first concave portion in the first concave portion, according to any one of claims 1 to 6. Coil device. 前記第1面に対向する第2面を有するセラミックスである第2基体を有し、前記第2基体は、内部に第2流路を有し、前記金属層は、前記第1基体と前記第2基体の間に位置する、請求項1乃至請求項7のいずれか1つに記載のコイル装置。 It has a second substrate which is a ceramic having a second surface facing the first surface, the second substrate has a second flow path inside, and the metal layer is the first substrate and the first. The coil device according to any one of claims 1 to 7, which is located between two substrates. 前記第2基体は、前記第2面と前記第2流路をつなげる第2貫通穴を有する、請求項8に記載のコイル装置。 The coil device according to claim 8, wherein the second substrate has a second through hole connecting the second surface and the second flow path. 前記第2貫通穴の断面積は、前記第2面に向かって小さくなる、請求項9に記載のコイル装置。 The coil device according to claim 9, wherein the cross-sectional area of the second through hole becomes smaller toward the second surface. 前記第2貫通穴の断面積は、前記第2流路に向かって大きくなる、請求項9に記載のコイル装置。 The coil device according to claim 9, wherein the cross-sectional area of the second through hole increases toward the second flow path. 前記金属層および前記第2面の間に位置する第2接合層を有する、請求項11に記載のコイル装置。 The coil device according to claim 11, further comprising a second bonding layer located between the metal layer and the second surface. 前記第2接合層は、樹脂またはガラスを有する、請求項12に記載のコイル装置。 The coil device according to claim 12, wherein the second bonding layer has resin or glass. 前記第2基体は、前記第2面に第2凹部を有し、前記金属層の他方の端部が前記第2凹部内に有する、請求項8乃至請求項13のいずれか1つに記載のコイル装置。 The second substrate has a second recess on the second surface, and the other end of the metal layer has the second recess in the second recess, according to any one of claims 8 to 13. Coil device.
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