JP2021054072A - Release film - Google Patents

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JP2021054072A
JP2021054072A JP2020160629A JP2020160629A JP2021054072A JP 2021054072 A JP2021054072 A JP 2021054072A JP 2020160629 A JP2020160629 A JP 2020160629A JP 2020160629 A JP2020160629 A JP 2020160629A JP 2021054072 A JP2021054072 A JP 2021054072A
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宏明 小屋原
Hiroaki Koyahara
宏明 小屋原
有貴 六車
Yuki Rokusha
有貴 六車
良介 川原
Ryosuke Kawahara
良介 川原
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Sekisui Chemical Co Ltd
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Sekisui Chemical Co Ltd
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Abstract

To provide a release film having releasability more excellent than before and appropriately used even in manufacturing a flexible circuit board by a RtoR system.SOLUTION: The release film includes at least one release layer, and a bromine penetrance Z measured by a following bromine containing adhesive permeation test is 4 or less. The bromine containing adhesive permeation test includes performing hot pressing on the conditions of a pressure of 30 kgf, a temperature of 180°C and a period of time of 5 minutes in the state of contacting the adhesive surface of a coverlay film having a bromine compound as an adhesive component to the release layer of the release film; peeling the coverlay film; and calculating the bromine penetrance Z by the following formula (1). Z=Σ{A(i)/B(i)} (1) [where, in the formula (1), A(i) and B(i) show the fragmentation intensity of Br- and the total fragmentation intensity in the i-th measurement of time of flight secondary ion mass spectrometry, respectively, and i represents an integer of 1-100.].SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、離型フィルムに関する。 The present invention relates to a release film.

プリント配線基板、フレキシブル回路基板、多層プリント配線板等の製造工程において離型フィルムが使用されている。
フレキシブル回路基板の製造工程においては、銅回路を形成したフレキシブル回路基板本体に、熱硬化型接着剤又は熱硬化型接着シートを介してカバーレイフィルムが熱プレス接着される。このとき、カバーレイフィルムと熱プレス板との間に離型フィルムを配置することで、カバーレイフィルムと熱プレス板とが接着するのを防止することができ、また、接着剤が染み出して電極部のめっき処理の障害となる等の不具合を防止することができる(例えば、特許文献1、2)。
Release films are used in the manufacturing process of printed wiring boards, flexible circuit boards, multilayer printed wiring boards, and the like.
In the process of manufacturing a flexible circuit board, a coverlay film is hot-press-bonded to a flexible circuit board body on which a copper circuit is formed via a thermosetting adhesive or a thermosetting adhesive sheet. At this time, by arranging the release film between the coverlay film and the hot press plate, it is possible to prevent the coverlay film and the hot press plate from adhering to each other, and the adhesive exudes. It is possible to prevent problems such as obstruction of the plating process of the electrode portion (for example, Patent Documents 1 and 2).

近年では、フレキシブル回路基板のL/S(ライン/スペース)の細線化にも対応して離型性、凹凸への追従性(埋め込み性)等の性能を確保できるよう、離型層とクッション層とを含む多層からなる離型フィルムも使用されている。 In recent years, a mold release layer and a cushion layer have been used to ensure performance such as mold releasability and followability to unevenness (embedding) in response to the thinning of L / S (line / space) of a flexible circuit board. A release film composed of multiple layers including and is also used.

特開平5−283862号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 5-283862 特開2009−132806号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-132806

近年、フレキシブル回路基板の薄膜化に伴い、離型フィルムには離型性の更なる向上が求められている。また、近年、フレキシブル回路基板の製造は、ロールトゥーロール(RtoR)方式等による自動化も進んでいる。RtoR方式では、ロールから繰り出したフレキシブル回路基板本体や離型フィルム等をそれぞれ熱プレス板の間に搬送し、熱プレス接着した後、再びロールに巻き取ることが行われる。このようなRtoR方式においては、熱プレス接着後にフレキシブル回路基板から離型フィルムを剥離する際に、剥離角度が低角度となる傾向にある。そのため、従来の離型フィルムを用いた場合は、剥離の際により大きな力をかけなければならないことがあり、不良の発生等につながるおそれがある。従って、離型フィルムには離型性の更なる向上が求められる。 In recent years, with the thinning of flexible circuit boards, the release film is required to have further improvement in releasability. Further, in recent years, the manufacture of flexible circuit boards has been automated by a roll-to-roll (RtoR) method or the like. In the RtoR method, the flexible circuit board body, the release film, etc., which are unwound from the roll, are conveyed between the hot press plates, bonded by the hot press, and then wound on the roll again. In such an RtoR method, when the release film is peeled from the flexible circuit board after hot press bonding, the peeling angle tends to be low. Therefore, when a conventional release film is used, it may be necessary to apply a larger force at the time of peeling, which may lead to the occurrence of defects or the like. Therefore, the release film is required to have further improvement in releasability.

本発明は、従来よりも優れた離型性を有し、RtoR方式によるフレキシブル回路基板の製造にも好適に用いることができる離型フィルムを提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a release film which has excellent releasability as compared with the conventional one and can be suitably used for manufacturing a flexible circuit board by the RtoR method.

本発明は、少なくとも1つの離型層を有する離型フィルムであって、下記含臭素接着剤浸透試験により測定した臭素浸透度Zが4以下である離型フィルムである。
(含臭素接着剤浸透試験)
接着剤成分として臭素化合物を有するカバーレイフィルムの接着剤面と、前記離型フィルムの離型層とを接触させた状態で、圧力30kgf、180℃、5分間の条件で熱プレスを行った後に、前記カバーレイフィルムを剥離し、下記式(1)により臭素浸透度Zを算出する。
The present invention is a release film having at least one release layer and having a bromine permeability Z of 4 or less as measured by the following bromine-containing adhesive penetration test.
(Brominated adhesive penetration test)
After performing hot pressing under the conditions of a pressure of 30 kgf, 180 ° C., and 5 minutes in a state where the adhesive surface of the coverlay film having a bromine compound as an adhesive component and the release layer of the release film are in contact with each other. , The coverlay film is peeled off, and the bromine permeability Z is calculated by the following formula (1).

Figure 2021054072
Figure 2021054072

式(1)中、A(i)及びB(i)は、飛行時間型二次イオン質量分析のi回目の測定における、それぞれBrのフラグメント強度及び全フラグメント強度を示し、iは1〜100の整数を表す。
以下に本発明を詳述する。
In the formula (1), A (i) and B (i) indicate the fragment intensity and the total fragment intensity of Br − in the i-th measurement of the time-of-flight secondary ion mass spectrometry, respectively, and i is 1 to 100. Represents an integer of.
The present invention will be described in detail below.

フレキシブル回路基板の製造における熱プレス工程は、接着剤の軟化、硬化の目的で160〜180℃の温度で行われることがある。本発明者らは、この接着剤の軟化や硬化に対応する温度域において、積層するカバーレイフィルムの接着剤成分が離型フィルムの離型層に浸透し、浸透した接着剤成分がアンカー効果をもたらすため、離型フィルムとカバーレイフィルムの接着剤の間で接着力が生じることを見出した。そして更に鋭意検討の結果、離型フィルムの離型層への接着剤の浸透を制御することにより、離型性を向上できることを見出し、本発明を完成した。 The heat pressing process in the manufacture of flexible circuit boards may be performed at a temperature of 160 to 180 ° C. for the purpose of softening and curing the adhesive. In the temperature range corresponding to the softening and curing of this adhesive, the present inventors permeate the adhesive component of the laminated coverlay film into the release layer of the release film, and the permeated adhesive component exerts an anchor effect. It has been found that an adhesive force is generated between the adhesive of the release film and the coverlay film to bring about it. As a result of further diligent studies, it was found that the releasability can be improved by controlling the permeation of the adhesive into the releasing layer of the releasing film, and the present invention has been completed.

本発明の離型フィルムは、少なくとも1つの離型層を有する。
本発明の離型フィルムは、下記含臭素接着剤浸透試験により測定した臭素浸透度Zが4以下である。上記臭素浸透度Zの値が4以下であることにより、本発明の離型フィルムは高い離型性を発揮することができる。上記臭素浸透度Zの値は、3.5以下であることが好ましく、3以下であることがより好ましく、2.5以下であることが更に好ましく、1.0以下であることが特に好ましい。上記臭素浸透度Zの値の下限については特に限定されず、0であってもよい。
The release film of the present invention has at least one release layer.
The release film of the present invention has a bromine penetration Z of 4 or less as measured by the following bromine-containing adhesive penetration test. When the value of the bromine penetrance Z is 4 or less, the release film of the present invention can exhibit high releasability. The value of the bromine penetrance Z is preferably 3.5 or less, more preferably 3 or less, further preferably 2.5 or less, and particularly preferably 1.0 or less. The lower limit of the value of the bromine penetrance Z is not particularly limited and may be 0.

上記含臭素接着剤浸透試験は、具体的には以下のようにして行う。まず、接着剤成分として臭素化合物を有するカバーレイフィルムを準備する。上記カバーレイフィルムの接着剤面と、前記離型フィルムの離型層とを接触させた状態で、圧力30kgf、180℃、5分間で熱プレスを行う。
上記カバーレイフィルムとしては、フレキシブル回路基板の製造工程において用いる、一般的な接着剤層を有するカバーレイフィルムを用いることができる。具体的には例えば、ニッカン工業社製の「CISV−1215」「CISV−1225」「CISV−2525」「CISV−2535」等の市販品が挙げられる。
なお、上記熱プレスの条件は、一般的なフレキシブル回路基板の製造工程における熱プレス条件に準じたものである。
Specifically, the bromine-containing adhesive penetration test is carried out as follows. First, a coverlay film having a bromine compound as an adhesive component is prepared. With the adhesive surface of the coverlay film in contact with the release layer of the release film, heat pressing is performed at a pressure of 30 kgf at 180 ° C. for 5 minutes.
As the coverlay film, a coverlay film having a general adhesive layer used in the manufacturing process of a flexible circuit board can be used. Specific examples thereof include commercially available products such as "CISV-1215", "CISV-1225", "CISV-2525" and "CISV-2535" manufactured by Nikkan Kogyo Co., Ltd.
The hot press conditions are the same as those of the hot press conditions in the general manufacturing process of the flexible circuit board.

上記含臭素接着剤浸透試験では、次いで、熱プレス後の離型フィルムからカバーレイフィルムを剥離する。
剥離方法は特に限定されないが、例えば、サンプルを長さ125mm×幅25mmにカットした後、離型フィルムからカバーレイフィルムを500mm/minの速度で180°剥離する方法等が挙げられる。
In the bromine-containing adhesive penetration test, the coverlay film is then peeled off from the release film after hot pressing.
The peeling method is not particularly limited, and examples thereof include a method in which a sample is cut into a length of 125 mm and a width of 25 mm, and then the coverlay film is peeled from the release film at a speed of 500 mm / min by 180 °.

上記含臭素接着剤浸透試験では、次いで、カバーレイフィルム剥離後の離型層の表面を飛行時間型二次イオン質量分析法にて分析する。
飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF−SIMS:Time−of−Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム(一次イオン)を照射し、表面から放出されるイオン(二次イオン)を、その飛行時間差(飛行時間は重さの平方根に比例)を利用して質量分離する方法である。TOF−SIMSでは、試料表面から1nm以下の深さに存在する元素や分子種に関する情報を高い検出感度で得ることができる。
TOF−SIMSに用いる分析装置としては、例えば、ION TOF社製の「TOF−SIMS 5型」等の市販品が挙げられる。
TOF−SIMS分析装置を用いて離型層表面に残留したカバーレイフィルムの接着剤由来のBrのフラグメント強度及び全フラグメント強度を測定する。本発明においては、スパッタリングによる試料表面のエッチングと、TOF−SIMSによるBrのフラグメント強度測定を交互に繰り返す。
In the bromine-containing adhesive penetration test, the surface of the release layer after the coverlay film is peeled off is then analyzed by a time-of-flight secondary ion mass spectrometry method.
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS: Time-of-Flight Second Method Ion Mass Spectrometry) irradiates a solid sample with an ion beam (primary ion) and emits ions (secondary ions) from the surface. Is a method of mass spectrometry using the flight time difference (the flight time is proportional to the square root of the weight). With TOF-SIMS, information on elements and molecular species existing at a depth of 1 nm or less from the sample surface can be obtained with high detection sensitivity.
Examples of the analyzer used for TOF-SIMS include commercially available products such as "TOF-SIMS Type 5" manufactured by ION TOF.
Using a TOF-SIMS analyzer, the fragment strength and total fragment strength of Br − derived from the adhesive of the coverlay film remaining on the surface of the release layer are measured. In the present invention, etching of the sample surface by sputtering and measurement of Br − fragment intensity by TOF-SIMS are alternately repeated.

スパッタリングは、真空中でアルゴン等の不活性ガスを導入し、ターゲットにマイナスの電圧を印加してグロー放電を発生させ、不活性ガス原子をイオン化し、高速でターゲットの表面にガスイオンを衝突させて激しく叩くものであり、ターゲットの表面をナノメートル〜マイクロメートルオーダーの深さで研削していくことができる。
具体的には例えば、C60を用い、電圧等の条件を調整してスパッタリングを行うことにより、1nm/回の深さで離型層の表面を掘り進んでいくことができる。従って、この方法では、例えば100回のスパッタを行うことにより、100nmの深さまで離型フィルムを掘り進めることができる。
In sputtering, an inert gas such as argon is introduced in a vacuum, a negative voltage is applied to the target to generate a glow discharge, the inert gas atom is ionized, and the gas ion collides with the surface of the target at high speed. The surface of the target can be ground to a depth on the order of nanometer to micrometer.
Specifically, for example, by using C60 + and adjusting conditions such as voltage to perform sputtering, the surface of the release layer can be dug at a depth of 1 nm / time. Therefore, in this method, the release film can be dug to a depth of 100 nm, for example, by performing 100 times of sputtering.

以下に、上記含臭素接着剤浸透試験におけるTOF−SIMS分析条件、スパッタ条件の一例を示した。
装置:ION TOF社製「TOF−SIMS 5型」
一次イオン:209Bi3++
一次イオン電圧:25kV
一次イオン電流:1pA
質量範囲:1〜500mass
分析エリア:500μm×500μm□
チャージ防止:電子照射中和
スパッタイオン:C60
スパッタイオン電圧:20keV
スパッタイオン電流:1nA
スパッタエリア:800μm×800μm□
スパッタ回数:99回
Below are examples of TOF-SIMS analysis conditions and sputtering conditions in the bromine-containing adhesive penetration test.
Equipment: "TOF-SIMS Type 5" manufactured by ION TOF
Primary ion: 209Bi 3 ++
Primary ion voltage: 25 kV
Primary ion current: 1 pA
Mass range: 1-500 mass
Analysis area: 500 μm x 500 μm □
Charge prevention: Electron irradiation Neutralization Spatter ion: C60 +
Spatter ion voltage: 20 keV
Spatter ion current: 1 nA
Sputtering area: 800 μm x 800 μm □
Spatter count: 99 times

上記含臭素接着剤浸透試験では、離型層の深さ方向にエッチングしながら、飛行時間型二次イオン質量分析による測定を複数回行う。i回目の測定における、カバーレイフィルムの接着剤由来のBrのフラグメント強度をA(i)、全フラグメント強度をB(i)として、各測定において「A(i)/B(i)」の値を算出する。全測定回にわたってA(i)/B(i)を積算した値、即ち上記式(1)で算出される臭素浸透度Zは、離型層の表層(概ねi×1nmの深さ)までにおける、Brの存在割合を示す。臭素浸透度Zの値が小さいほど、フレキシブル回路基板の製造における熱プレス工程において、カバーレイフィルムの接着剤が離型フィルムに浸透し難いことを意味する。 In the bromine-containing adhesive penetration test, the measurement by time-of-flight secondary ion mass spectrometry is performed a plurality of times while etching in the depth direction of the release layer. In the i-th measurement, the fragment strength of Br − derived from the adhesive of the coverlay film is A (i), and the total fragment strength is B (i). Calculate the value. The value obtained by integrating A (i) / B (i) over all measurement times, that is, the bromine penetrance Z calculated by the above formula (1) is up to the surface layer of the release layer (approximately i × 1 nm depth). , Br abundance ratio. The smaller the value of the bromine permeability Z, the more difficult it is for the adhesive of the coverlay film to penetrate into the release film in the hot pressing process in the production of the flexible circuit board.

上記臭素浸透度Zの値を4以下とする方法は特に限定されないが、上記離型層の表面に表面処理を施すことが挙げられる。上記表面処理は特に限定されず、例えば、火炎処理又は摩擦処理が挙げられる。これらの表面処理は単独で用いられてもよいし、両者が併用されてもよい。特に、平滑(算術平均粗さRaを小さく)又は高光沢に調整したうえで、上記離型層の表面に対して摩擦処理を施す方法や、上記離型層の表面に対して火炎処理を行う方法が有効である。なかでも、上記離型層の表面のみを効率的に処理でき、処理時における上記離型層の状態(処理時における上記離型層の表面粗さ)に影響されずに効率的に処理できることから、火炎処理が好適である。 The method for setting the value of the bromine penetrance Z to 4 or less is not particularly limited, and examples thereof include surface treatment on the surface of the release layer. The surface treatment is not particularly limited, and examples thereof include flame treatment and friction treatment. These surface treatments may be used alone or in combination of both. In particular, a method of applying friction treatment to the surface of the release layer after adjusting to smoothness (reducing the arithmetic mean roughness Ra) or high gloss, or performing flame treatment on the surface of the release layer. The method is effective. Above all, only the surface of the release layer can be efficiently treated, and the treatment can be efficiently performed without being affected by the state of the release layer at the time of treatment (the surface roughness of the release layer at the time of treatment). , Flame treatment is suitable.

なお、摩擦や火炎処理によって臭気浸透度Zを小さくすることができる理由は定かではないが、次のように推定できる。離型層において、最表面(概ね0.1〜1μmの領域)は、接着剤のアンカー効果が特に影響すると考えられる。摩擦や火炎処理は、最表面の分子に対して何らかの作用(例えば結晶化度を高める等)を及ぼし、表面の分子が強く束縛されて分子の自由体積が減少することによって、接着剤成分が表面から内部に侵入しにくくなると考えられる。また、平滑又は高光沢な表面に対する摩擦が有効である理由としては、次のように推定できる。算術平均粗さRaが比較的大きい場合は、離型層表面の凹凸によって、摩擦時における何らかの物性変化や均一な処理が阻害されている可能性がある。これに対して、算術平均粗さRaが十分に小さい場合には、離型層表面の凹凸による物性変化や均一な処理の阻害が小さく、摩擦処理によって表面が十分に変化できると考えられる。さらに、平滑光沢度は、対象の表面粗さや内部の結晶粒の大きさに影響を受けるため、光沢度が大きいということは、表面粗さが小さく、結晶粒が小さい(一定のサイズ以下である)ことを意味する。結晶粒が比較的大きい場合は、複数の結晶粒が互いに立体的な障害となり、表面処理による結晶の成長が妨げられてしまう。一方、結晶粒が比較的小さい場合は、上述のような立体的な障害を受けることなく結晶の成長が促進され、結果として臭気浸透度Zを小さくする効果が向上すると考えられる。また、結晶粒の大きさは、溶融押出時の冷却や伸長応力の影響を受けていると考えることができる。
本発明者らの検討によれば、平滑でも高光沢でもない表面に対して摩擦処理を行っても、臭気浸透度Zを十分に小さくすることは困難であった。
The reason why the odor penetrance Z can be reduced by friction or flame treatment is not clear, but it can be estimated as follows. In the release layer, the outermost surface (a region of approximately 0.1 to 1 μm) is considered to be particularly affected by the anchor effect of the adhesive. Friction and flame treatment exert some action on the outermost molecules (for example, increasing the degree of crystallinity), and the molecules on the surface are strongly bound and the free volume of the molecules is reduced, so that the adhesive component is surfaced. It is thought that it will be difficult to invade the inside. The reason why friction against a smooth or highly glossy surface is effective can be estimated as follows. When the arithmetic mean roughness Ra is relatively large, there is a possibility that some physical property change or uniform treatment at the time of friction is hindered by the unevenness of the release layer surface. On the other hand, when the arithmetic mean roughness Ra is sufficiently small, it is considered that the change in physical properties due to the unevenness of the surface of the release layer and the inhibition of uniform treatment are small, and the surface can be sufficiently changed by the friction treatment. Furthermore, since the smooth glossiness is affected by the surface roughness of the target and the size of the crystal grains inside, a large glossiness means that the surface roughness is small and the crystal grains are small (less than a certain size). ) Means that. When the crystal grains are relatively large, a plurality of crystal grains interfere with each other in three dimensions, and the growth of crystals by surface treatment is hindered. On the other hand, when the crystal grains are relatively small, it is considered that the growth of the crystal is promoted without suffering the above-mentioned three-dimensional obstacle, and as a result, the effect of reducing the odor penetration Z is improved. Further, it can be considered that the size of the crystal grains is influenced by the cooling and elongation stress at the time of melt extrusion.
According to the studies by the present inventors, it has been difficult to sufficiently reduce the odor permeability Z even if the surface is neither smooth nor highly glossy is subjected to the friction treatment.

上記火炎処理は、ガスバーナー等を用いて、上記離型層の表面を直接火炎で炙る処理である。
上記火炎処理の条件は特に限定されないが、具体的には例えば、フィルムを一定の速度で送りつつ、燃料ガスとしてプロパンガス(LPG)を用いたガスバーナーを用いて、ガス流速5L/min、空気流速125L/min、ノズル−試料間150mmの距離から離型層の表面を直接火炎で炙る方法が挙げられる。この際、フィルムの送り速度を調整することにより、火炎処理の程度を制御することができる。
The flame treatment is a treatment in which the surface of the release layer is directly burned with a flame using a gas burner or the like.
The conditions for the flame treatment are not particularly limited, but specifically, for example, a gas burner using propane gas (LPG) as the fuel gas while feeding the film at a constant speed is used, the gas flow velocity is 5 L / min, and air. A method of directly burning the surface of the release layer with a flame from a flow velocity of 125 L / min and a distance of 150 mm between the nozzle and the sample can be mentioned. At this time, the degree of flame treatment can be controlled by adjusting the feed rate of the film.

上記離型層の表面を平滑に調整する方法は特に限定されないが、上記離型層を構成する樹脂を溶融押出して、溶融樹脂を冷却する際に、例えば次のような方法を採用することが好ましい。即ち、より平滑な表面を有する冷却ロールを用いて、そのロール表面形状をフィルムに転写させる方法や、冷却の際に、溶融樹脂にかかる伸長応力が大きくなるように調整する方法等が好ましい。上記離型層の摩擦処理前の算術平均粗さRaは、例えば0.50μm以下とすることができる。
なお、臭気浸透度Zを小さくする観点からは、上記離型層の表面は摩擦処理時において平滑であればよい。摩擦処理後であれば、離型層の表面にエンボス加工を施して算術平均粗さRaが大きくなっても、臭気浸透度Z自体には大きく影響しない。
The method for adjusting the surface of the release layer to be smooth is not particularly limited, but when the resin constituting the release layer is melt-extruded and the molten resin is cooled, for example, the following method can be adopted. preferable. That is, a method of transferring the roll surface shape to the film using a cooling roll having a smoother surface, a method of adjusting the elongation stress applied to the molten resin during cooling, and the like are preferable. The arithmetic mean roughness Ra of the release layer before the friction treatment can be, for example, 0.50 μm or less.
From the viewpoint of reducing the odor permeability Z, the surface of the release layer may be smooth at the time of friction treatment. After the friction treatment, even if the surface of the release layer is embossed to increase the arithmetic mean roughness Ra, the odor penetration Z itself is not significantly affected.

上記離型層は、表面の算術平均粗さRaが0.5μm以上であることが好ましい。上記離型層の表面の算術平均粗さRaが0.5μm以上であることにより、カバーレイフィルムと熱プレス板との間に離型フィルムを配置したときに界面に気泡を巻き込むのを防止して、耐シワ性を向上させることができる。上記離型層の表面の算術平均粗さRaは1μm以上であることがより好ましく、2μm以上であることが更に好ましく、3μm以上が特に好ましい。上記離型層の表面の算術平均粗さRaの上限は特に限定されないが、離型性の観点より、20μm以下であることが好ましく、15μm以下であることがより好ましい。
なお、上述のように、火炎処理を行う場合は、火炎処理時の上記離型層の表面の算術平均粗さRaにかかわらず、臭素浸透度Zを小さくすることができる。従って、高い離型性を発揮しながら、耐シワ性にも優れる離型フィルムとすることができる。
The surface of the release layer preferably has an arithmetic mean roughness Ra of 0.5 μm or more. When the arithmetic mean roughness Ra of the surface of the release layer is 0.5 μm or more, it is possible to prevent air bubbles from being caught in the interface when the release film is placed between the coverlay film and the heat press plate. Therefore, the wrinkle resistance can be improved. The arithmetic mean roughness Ra of the surface of the release layer is more preferably 1 μm or more, further preferably 2 μm or more, and particularly preferably 3 μm or more. The upper limit of the arithmetic mean roughness Ra on the surface of the release layer is not particularly limited, but from the viewpoint of releasability, it is preferably 20 μm or less, and more preferably 15 μm or less.
As described above, when the flame treatment is performed, the bromine penetrance Z can be reduced regardless of the arithmetic mean roughness Ra of the surface of the release layer at the time of the flame treatment. Therefore, it is possible to obtain a release film having excellent wrinkle resistance while exhibiting high releasability.

上記離型層の算術平均粗さRaを大きくする方法は特に限定されないが、上記離型層を構成する樹脂を溶融押出して、溶融樹脂を冷却する際に、例えば次のような方法を採用することができる。即ち、凹凸な表面を有する冷却ロールを用いて、そのロール表面形状をフィルムに転写させる方法や、冷却の際に、溶融樹脂にかかる伸長応力が小さくなるように調整する方法等が好ましい。また、エンボスロールを用いて、一般的な方法によりフィルムの表面にエンボス加工を施すことができる。 The method for increasing the arithmetic mean roughness Ra of the release layer is not particularly limited, but when the resin constituting the release layer is melt-extruded and the molten resin is cooled, for example, the following method is adopted. be able to. That is, a method of transferring the roll surface shape to a film using a cooling roll having an uneven surface, a method of adjusting the elongation stress applied to the molten resin during cooling, and the like are preferable. Further, the surface of the film can be embossed by a general method using an embossing roll.

上記離型層は、全体の結晶化度の好ましい下限が25%、好ましい上限が50%である。
上記離型層全体の結晶化度を必要以上に高めると、離型フィルム全体としての柔軟性が低下し、凹凸への追従性が低下して、熱プレス接着時にボイドが発生したり、接着剤の染み出し幅が増大したりすることがある。上記離型層の全体の結晶化度を調整することで、本発明き離型フィルムは、離型性にも凹凸への追従性にも優れたものとなる。上記離型層全体の結晶化度が25%以上であれば、離型フィルムの耐熱性が向上する。上記離型層全体の結晶化度が50%以下であれば、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。上記離型層全体の結晶化度の下限は、より好ましくは30%、更に好ましくは35%である。上記離型層全体の結晶化度の上限は、より好ましくは45%、更に好ましくは40%、特に好ましくは35%である。
In the release layer, the preferable lower limit of the overall crystallinity is 25%, and the preferable upper limit is 50%.
If the crystallinity of the entire release layer is increased more than necessary, the flexibility of the release film as a whole is reduced, the ability to follow irregularities is reduced, voids are generated during hot press bonding, and an adhesive is used. The exudation width of the film may increase. By adjusting the overall crystallinity of the release layer, the release film of the present invention is excellent in both releasability and followability to unevenness. When the crystallinity of the entire release layer is 25% or more, the heat resistance of the release film is improved. When the crystallinity of the entire release layer is 50% or less, the ability of the release film to follow the unevenness is improved. The lower limit of the crystallinity of the entire release layer is more preferably 30%, still more preferably 35%. The upper limit of the crystallinity of the entire release layer is more preferably 45%, further preferably 40%, and particularly preferably 35%.

上記離型層全体の結晶化度は、広角X線回折法により離型層全体を分析して得られた回折測定プロットにベースラインを引き、結晶質相及び非晶質相に対してそれぞれフィッティングを行い、得られた結晶質相のピーク総面積及び非晶質相のピーク総面積から下記式(2)により求めることができる。なお、離型フィルムが多層からなる場合には、離型フィルムの各層を剥がし、上記離型層のみからなるサンプルに対して分析を行うことで、上記離型層全体の結晶化度を評価することができる。 The degree of crystallization of the entire release layer is adjusted to the crystalline phase and the amorphous phase by drawing a baseline on the diffraction measurement plot obtained by analyzing the entire release layer by the wide-angle X-ray diffraction method. Can be obtained from the total peak area of the obtained crystalline phase and the total peak area of the amorphous phase by the following formula (2). When the release film is composed of multiple layers, each layer of the release film is peeled off, and the sample consisting of only the release layer is analyzed to evaluate the crystallinity of the entire release layer. be able to.

Figure 2021054072
Figure 2021054072

上記離型層全体の結晶化度を求めるためのX線回折装置としては、例えば、下記の条件に設定したリガク社製の薄膜評価用試料水平型X線回折装置(Smart Lab)を用いることができる。
X線源 CuKα線
管電圧−管電流 45kV−200mA
入射光学系 集中法
測定範囲 5−80°
測定間隔 0.02°
走査速度 5.0°/min
走査方法 Out−of−Plane法
As the X-ray diffractometer for determining the crystallinity of the entire release layer, for example, a sample horizontal X-ray diffractometer (Smart Lab) for thin film evaluation manufactured by Rigaku Co., Ltd. set under the following conditions may be used. it can.
X-ray source CuKα tube voltage-tube current 45kV-200mA
Incident optical system Concentrated measurement range 5-80 °
Measurement interval 0.02 °
Scanning speed 5.0 ° / min
Scanning method Out-of-Plane method

上記離型層全体の結晶化度を上記範囲に調整する方法は特に限定されないが、上記離型層を構成する樹脂を溶融押出して、溶融樹脂を冷却する際に、例えば次のような方法を採用することが好ましい。即ち、溶融樹脂と冷却ロールとの接触時間を調整する方法、冷却ロール温度を調整する方法等が好ましい。このようにして離型層表面と離型層内部との温度勾配を調整することで、離型層表面と離型層内部での結晶化の速度を調整し、上記離型層全体としての結晶化度を調整することができる。なお、離型層全体の結晶化度は、離型層の極表面の結晶化度よりも高い値に調整することもできる。 The method for adjusting the crystallinity of the entire release layer to the above range is not particularly limited, but when the resin constituting the release layer is melt-extruded and the molten resin is cooled, for example, the following method is used. It is preferable to adopt it. That is, a method of adjusting the contact time between the molten resin and the cooling roll, a method of adjusting the cooling roll temperature, and the like are preferable. By adjusting the temperature gradient between the surface of the release layer and the inside of the release layer in this way, the rate of crystallization between the surface of the release layer and the inside of the release layer can be adjusted, and the crystals of the entire release layer can be adjusted. The degree of crystallization can be adjusted. The crystallinity of the entire release layer can be adjusted to a value higher than the crystallinity of the polar surface of the release layer.

上記離型層は、ポリエステル樹脂を含有することが好ましい。これにより、離型フィルムの離型性が向上する。なかでも、凹凸への追従性に優れ、カバーレイフィルムに形成された接着剤の染み出し防止性に優れることから、上記離型層は、芳香族ポリエステル樹脂を含有することが好ましい。 The release layer preferably contains a polyester resin. This improves the releasability of the releasable film. Among them, the release layer preferably contains an aromatic polyester resin because it has excellent ability to follow irregularities and has excellent ability to prevent the adhesive formed on the coverlay film from seeping out.

上記芳香族ポリエステル樹脂は特に限定されないが、結晶性芳香族ポリエステル樹脂が好ましい。具体的には例えば、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリブチレンテレフタレート樹脂、ポリヘキサメチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ポリブチレンナフタレート樹脂、テレフタル酸ブタンジオールポリテトラメチレングリコール共重合体等が挙げられる。これらの芳香族ポリエステル樹脂は単独で用いられてもよいし、2種以上が併用されてもよい。なかでも、耐熱性、離型性、凹凸への追従性等のバランスの観点から、ポリブチレンテレフタレート樹脂が好ましい。
また、ポリブチレンテレフタレート樹脂と、ポリブチレンテレフタレートと脂肪族ポリエーテルとのブロック共重合体との混合樹脂も好ましい。上記脂肪族ポリエーテルは特に限定されず、例えば、ポリエチレングリコール、ポリジエチレングリコール、ポリプロピレングリコール、ポリテトラメチレングリコール等が挙げられる。
The aromatic polyester resin is not particularly limited, but a crystalline aromatic polyester resin is preferable. Specific examples thereof include polyethylene terephthalate resin, polybutylene terephthalate resin, polyhexamethylene terephthalate resin, polyethylene naphthalate resin, polybutylene naphthalate resin, butanediol terephthalate polytetramethylene glycol copolymer and the like. These aromatic polyester resins may be used alone or in combination of two or more. Of these, polybutylene terephthalate resin is preferable from the viewpoint of balance of heat resistance, releasability, followability to unevenness, and the like.
Further, a mixed resin of polybutylene terephthalate resin and a block copolymer of polybutylene terephthalate and an aliphatic polyether is also preferable. The above-mentioned aliphatic polyether is not particularly limited, and examples thereof include polyethylene glycol, polydiethylene glycol, polypropylene glycol, and polytetramethylene glycol.

上記芳香族ポリエステル樹脂は、フィルム製膜性の観点から、メルトボリュームフローレートが30cm/10min以下であることが好ましく、20cm/10min以下であることがより好ましい。なお、メルトボリュームフローレートは、ISO1133に従って、測定温度250℃、荷重2.16kgで測定することができる。 The aromatic polyester resins, from the viewpoint of film formability, it is preferable that a melt volume flow rate is less than 30 cm 3 / 10min, more preferably not more than 20 cm 3 / 10min. The melt volume flow rate can be measured at a measurement temperature of 250 ° C. and a load of 2.16 kg according to ISO1133.

上記芳香族ポリエステル樹脂のうち、市販されているものとして、例えば、「ペルプレン(登録商標)」(東洋紡社製)、「ハイトレル(登録商標)」(東レ・デュポン社製)、「ジュラネックス(登録商標)」(ポリプラスチックス社製)、「ノバデュラン(登録商標)」(三菱エンジニアリングプラスチックス社製)等が挙げられる。 Among the above aromatic polyester resins, commercially available ones include, for example, "Perprene (registered trademark)" (manufactured by Toyobo Co., Ltd.), "Hytrel (registered trademark)" (manufactured by Toray DuPont), and "Juranex (registered). "Trademark)" (manufactured by Polyplastics), "Nova DuPont (registered trademark)" (manufactured by Mitsubishi Engineering Plastics), etc.

上記離型層は、ポリブチレンテレフタレート樹脂とエラストマーを含む混合樹脂を含有するものであってもよい。上記エラストマーは特に限定されず、例えば、ポリブチレンテレフタレートと脂肪族ポリエーテルとのブロック共重合体等が挙げられる。上記脂肪族ポリエーテルは特に限定されず、例えば、ポリエチレングリコール、ポリジエチレングリコール、ポリプロピレングリコール、ポリテトラメチレングリコール等が挙げられる。 The release layer may contain a mixed resin containing a polybutylene terephthalate resin and an elastomer. The elastomer is not particularly limited, and examples thereof include a block copolymer of polybutylene terephthalate and an aliphatic polyether. The above-mentioned aliphatic polyether is not particularly limited, and examples thereof include polyethylene glycol, polydiethylene glycol, polypropylene glycol, and polytetramethylene glycol.

上記離型層を構成する樹脂に占める上記ポリブチレンテレフタレート樹脂の割合は特に限定されないが、75重量%以上であることが好ましい。上記ポリブチレンテレフタレート樹脂の割合が75重量%以上であれば、離型フィルムの離型性が向上する。上記離型層を構成する樹脂に占める上記ポリブチレンテレフタレート樹脂の割合のより好ましい下限は80重量%である。 The ratio of the polybutylene terephthalate resin to the resin constituting the release layer is not particularly limited, but is preferably 75% by weight or more. When the proportion of the polybutylene terephthalate resin is 75% by weight or more, the releasability of the release film is improved. A more preferable lower limit of the ratio of the polybutylene terephthalate resin to the resin constituting the release layer is 80% by weight.

上記離型層は、ゴム成分を含有してもよい。上記離型層がゴム成分を含有することにより、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。
上記ゴム成分は特に限定されず、例えば、天然ゴム、スチレン−ブタジエン共重合体、ポリブタジエン、ポリイソプレン、アクリルニトリル−ブタジエン共重合体、エチレン−プロピレン共重合体(EPM、EPDM)、ポリクロロプレン、ブチルゴム、アクリルゴム、シリコンゴム、ウレタンゴム等が挙げられる。また、上記ゴム成分として、例えば、オレフィン系熱可塑性エラストマー、スチレン系熱可塑性エラストマー、塩ビ系熱可塑性エラストマー、エステル系熱可塑性エラストマー、アミド系熱可塑性エラストマー等が挙げられる。
The release layer may contain a rubber component. When the release layer contains a rubber component, the ability of the release film to follow the unevenness is improved.
The rubber component is not particularly limited, and for example, natural rubber, styrene-butadiene copolymer, polybutadiene, polyisoprene, acrylic nitrile-butadiene copolymer, ethylene-propylene copolymer (EPM, EPDM), polychloroprene, butyl rubber. , Acrylic rubber, silicon rubber, urethane rubber and the like. Examples of the rubber component include olefin-based thermoplastic elastomers, styrene-based thermoplastic elastomers, vinyl chloride-based thermoplastic elastomers, ester-based thermoplastic elastomers, and amide-based thermoplastic elastomers.

上記離型層は、安定剤を含有してもよい。
上記安定剤は特に限定されず、例えば、ヒンダードフェノール系酸化防止剤、熱安定剤等が挙げられる。
上記ヒンダードフェノール系酸化防止剤は特に限定されず、例えば、1,3,5−トリメチル−2,4,6−トリス(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシベンジル)ベンゼン、3,9−ビス{2−〔3−(3−t−ブチル−4−ヒドロキシ−5−メチルフェニル)−プロピオニロキシ〕−1,1−ジメチルエチル}−2,4,8,10−テトラオキサスピロ〔5,5〕ウンデカン等が挙げられる。
上記熱安定剤は特に限定されず、例えば、トリス(2,4−ジ−t−ブチルフェニル)ホスファイト、トリラウリルホスファイト、2−t−ブチル−α−(3−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)−p−クメニルビス(p−ノニルフェニル)ホスファイト、ジミリスチル3,3’−チオジプロピオネート、ジステアリル3,3’−チオジプロピオネート、ペンタエリスチリルテトラキス(3−ラウリルチオプロピオネート)、ジトリデシル3,3’−チオジプロピオネート等が挙げられる。
The release layer may contain a stabilizer.
The stabilizer is not particularly limited, and examples thereof include a hindered phenolic antioxidant, a heat stabilizer, and the like.
The above-mentioned hindered phenolic antioxidant is not particularly limited, and for example, 1,3,5-trimethyl-2,4,6-tris (3,5-di-t-butyl-4-hydroxybenzyl) benzene, 3 , 9-bis {2- [3- (3-t-butyl-4-hydroxy-5-methylphenyl) -propionyloxy] -1,1-dimethylethyl} -2,4,8,10-tetraoxa Spiro [5,5] Undecan and the like can be mentioned.
The above heat stabilizer is not particularly limited, and for example, tris (2,4-di-t-butylphenyl) phosphite, trilaurylphosphite, 2-t-butyl-α- (3-t-butyl-4-4). Hydroxyphenyl) -p-cumenylbis (p-nonylphenyl) phosphite, dimyristyl 3,3'-thiodipropionate, disstearyl 3,3'-thiodipropionate, pentaerythtyryl tetrakis (3-laurylthiopropio) Nate), ditridecyl 3,3'-thiodipropionate and the like.

上記離型層は、更に、繊維、無機充填剤、難燃剤、紫外線吸収剤、帯電防止剤、無機物、高級脂肪酸塩等の従来公知の添加剤を含有してもよい。 The release layer may further contain conventionally known additives such as fibers, inorganic fillers, flame retardants, ultraviolet absorbers, antistatic agents, inorganic substances, and higher fatty acid salts.

上記離型層の厚みは特に限定されないが、好ましい下限は10μm、好ましい上限は40μmである。上記離型層の厚みが10μm以上であれば、離型フィルムの耐熱性が向上する。上記離型層の厚みが40μm以下であれば、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。上記離型層の厚みのより好ましい下限は15μm、より好ましい上限は30μmである。 The thickness of the release layer is not particularly limited, but the preferable lower limit is 10 μm and the preferable upper limit is 40 μm. When the thickness of the release layer is 10 μm or more, the heat resistance of the release film is improved. When the thickness of the release layer is 40 μm or less, the ability of the release film to follow the unevenness is improved. The more preferable lower limit of the thickness of the release layer is 15 μm, and the more preferable upper limit is 30 μm.

本発明の離型フィルムは、上記離型層のみから構成される単層構造であってもよく、上記離型層以外の層を有する多層構造であってもよい。 The release film of the present invention may have a single-layer structure composed of only the release layer, or may have a multilayer structure having a layer other than the release layer.

本発明の離型フィルムは、更にクッション層を有することが好ましい。上記クッション層を有することにより、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。
上記クッション層を有する場合、本発明の離型フィルムは、少なくとも1つの離型層とクッション層とを有してればよく、2層構造であってもよいし、3層以上の構造であってもよい。なかでも、クッション層の両側に離型層を有する構造を有することが好ましい。この場合、両側の離型層が上述したような軟化温度を有していてもよいし、片側の離型層のみが上述したような軟化温度を有していてもよい。また、両側の離型層は同じ樹脂組成であってもよいし、異なる樹脂組成であってもよい。また、両側の離型層は同じ厚みであってもよいし、異なる厚みであってもよい。
また、本発明の離型フィルムは、離型層とクッション層とが直接接して一体化している構造であってもよいし、離型層とクッション層とが接着層を介して一体化している構造であってもよい。
The release film of the present invention preferably further has a cushion layer. By having the cushion layer, the ability to follow the unevenness of the release film is improved.
When the cushion layer is provided, the release film of the present invention may have at least one release layer and a cushion layer, and may have a two-layer structure or a three-layer or more structure. You may. Above all, it is preferable to have a structure having release layers on both sides of the cushion layer. In this case, the release layers on both sides may have the softening temperature as described above, or only the release layer on one side may have the softening temperature as described above. Further, the release layers on both sides may have the same resin composition or different resin compositions. Further, the release layers on both sides may have the same thickness or may have different thicknesses.
Further, the release film of the present invention may have a structure in which the release layer and the cushion layer are directly contacted and integrated, or the release layer and the cushion layer are integrated via an adhesive layer. It may be a structure.

上記クッション層を構成する樹脂は特に限定されないが、上記クッション層が上記離型層を構成する樹脂を含有することが好ましい。
上記クッション層が上記離型層を構成する樹脂を含有することにより、上記離型層と上記クッション層との密着性が向上する。上記クッション層は、上記離型層の主成分樹脂を含有することがより好ましく、上記離型層の主成分樹脂及びポリオレフィン樹脂を含有することが更に好ましい。ここで、上記離型層の主成分樹脂とは、上記離型層に含まれる樹脂の中で含有量が最も多い樹脂のことを意味する。
The resin constituting the cushion layer is not particularly limited, but it is preferable that the cushion layer contains the resin constituting the release layer.
When the cushion layer contains the resin constituting the release layer, the adhesion between the release layer and the cushion layer is improved. The cushion layer more preferably contains the main component resin of the release layer, and further preferably contains the main component resin and the polyolefin resin of the release layer. Here, the main component resin of the release layer means the resin having the highest content among the resins contained in the release layer.

上記クッション層における上記離型層を構成する樹脂の含有量は特に限定されないが、好ましい下限が10重量%、好ましい上限が50重量%である。上記離型層を構成する樹脂の含有量が10重量%以上であれば、上記離型層と上記クッション層との密着性が向上する。上記離型層を構成する樹脂の含有量が50重量%以下であれば、上記クッション層の柔軟性が充分となり、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。上記離型層を構成する樹脂の含有量のより好ましい下限は20重量%、更に好ましい下限は25重量%である。上記離型層を構成する樹脂の含有量のより好ましい上限は40重量%、更に好ましい上限は35重量%である。 The content of the resin constituting the release layer in the cushion layer is not particularly limited, but the preferable lower limit is 10% by weight and the preferable upper limit is 50% by weight. When the content of the resin constituting the release layer is 10% by weight or more, the adhesion between the release layer and the cushion layer is improved. When the content of the resin constituting the release layer is 50% by weight or less, the flexibility of the cushion layer is sufficient, and the ability of the release film to follow the unevenness is improved. A more preferable lower limit of the content of the resin constituting the release layer is 20% by weight, and a further preferable lower limit is 25% by weight. A more preferable upper limit of the content of the resin constituting the release layer is 40% by weight, and a more preferable upper limit is 35% by weight.

上記ポリオレフィン樹脂は特に限定されず、例えば、ポリエチレン樹脂(例えば、高密度ポリエチレン、低密度ポリエチレン、直鎖状低密度ポリエチレン)、ポリプロピレン樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合体等が挙げられる。また、エチレン−メチルメタクリレート共重合体、エチレン−エチルアクリレート共重合体、エチレン−アクリル酸共重合体等のエチレン−アクリル系モノマー共重合体等も挙げられる。これらのポリオレフィン樹脂は単独で用いられてもよいし、2種以上が併用されてもよい。なかでも、凹凸への追従性と耐熱性を両立させやすいことから、ポリプロピレン樹脂が好ましい。 The polyolefin resin is not particularly limited, and examples thereof include polyethylene resins (for example, high-density polyethylene, low-density polyethylene, linear low-density polyethylene), polypropylene resins, ethylene-vinyl acetate copolymers, and the like. Further, ethylene-acrylic monomer copolymers such as ethylene-methylmethacrylate copolymers, ethylene-ethylacrylate copolymers and ethylene-acrylic acid copolymers can also be mentioned. These polyolefin resins may be used alone or in combination of two or more. Of these, polypropylene resin is preferable because it is easy to achieve both unevenness tracking and heat resistance.

上記クッション層における上記ポリオレフィン樹脂の含有量は特に限定されないが、好ましい下限が50重量%、好ましい上限が90重量%である。上記ポリオレフィン樹脂の含有量が50重量%以上であれば、上記クッション層の柔軟性が充分となり、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。上記ポリオレフィン樹脂の含有量が90重量%以下であれば、上記離型層と上記クッション層との密着性が向上する。上記ポリオレフィン樹脂の含有量のより好ましい下限は60重量%、更に好ましい下限は65重量%である。上記ポリオレフィン樹脂の含有量のより好ましい上限は80重量%、更に好ましい上限は75重量%である。 The content of the polyolefin resin in the cushion layer is not particularly limited, but a preferable lower limit is 50% by weight and a preferable upper limit is 90% by weight. When the content of the polyolefin resin is 50% by weight or more, the flexibility of the cushion layer is sufficient, and the ability of the release film to follow the unevenness is improved. When the content of the polyolefin resin is 90% by weight or less, the adhesion between the release layer and the cushion layer is improved. A more preferable lower limit of the content of the polyolefin resin is 60% by weight, and a more preferable lower limit is 65% by weight. A more preferable upper limit of the content of the polyolefin resin is 80% by weight, and a more preferable upper limit is 75% by weight.

上記クッション層は、更に、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリスルフォン、ポリエステル等の樹脂を含有してもよい。
上記クッション層は、更に、繊維、無機充填剤、難燃剤、紫外線吸収剤、帯電防止剤、無機物、高級脂肪酸塩等の添加剤を含有してもよい。
The cushion layer may further contain a resin such as polystyrene, polyvinyl chloride, polyamide, polycarbonate, polysulfone, or polyester.
The cushion layer may further contain additives such as fibers, inorganic fillers, flame retardants, ultraviolet absorbers, antistatic agents, inorganic substances, and higher fatty acid salts.

上記クッション層は、単独の層からなる単層構造であってもよいし、複数の層の積層体からなる多層構造であってもよい。クッション層が多層構造である場合は、複数の層が接着層を介して積層一体化していてもよい。 The cushion layer may have a single-layer structure composed of a single layer, or may have a multi-layer structure composed of a laminated body of a plurality of layers. When the cushion layer has a multi-layer structure, a plurality of layers may be laminated and integrated via an adhesive layer.

上記クッション層の厚みは特に限定されないが、好ましい下限は15μm、好ましい上限は200μmである。上記クッション層の厚みが15μm以上であれば、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。上記クッション層の厚みが200μm以下であれば、熱プレス接着時におけるフィルム端部で生じる上記クッション層からの樹脂の染み出しを抑制できる。上記クッション層の厚みのより好ましい下限は30μm、より好ましい上限は150μmである。 The thickness of the cushion layer is not particularly limited, but a preferable lower limit is 15 μm and a preferable upper limit is 200 μm. When the thickness of the cushion layer is 15 μm or more, the ability of the release film to follow the unevenness is improved. When the thickness of the cushion layer is 200 μm or less, it is possible to suppress the exudation of the resin from the cushion layer that occurs at the edge of the film during hot press bonding. The more preferable lower limit of the thickness of the cushion layer is 30 μm, and the more preferable upper limit is 150 μm.

本発明の離型フィルムを製造する方法は特に限定されず、まず、例えば、水冷式又は空冷式共押出インフレーション法、共押出Tダイ法で製膜する方法、溶剤キャスティング法、熱プレス成形法等によりフィルムを調製した後、上記表面処理を行う方法が挙げられる。
上記クッション層の両側に上記離型層を有する構造を有する場合には、一方の離型層となるフィルムを作製した後、このフィルムにクッション層を押出ラミネート法にて積層し、次いで他方の離型層をドライラミネーションする方法が挙げられる。また、一方の離型層となるフィルム、クッション層となるフィルム及び他方の離型層となるフィルムをドライラミネーションする方法が挙げられる。
なかでも、各層の厚み制御に優れる点から、共押出Tダイ法で製膜する方法が好適である。
このようにして得られたフィルムに、上記表面処理を施すことにより、上記臭素浸透度Zの値を4以下とすることができる。
The method for producing the release film of the present invention is not particularly limited, and first, for example, a water-cooled or air-cooled coextrusion inflation method, a coextrusion T-die method, a solvent casting method, a heat press molding method, etc. A method of performing the above-mentioned surface treatment after preparing a film according to the above method can be mentioned.
When the structure has the release layers on both sides of the cushion layer, a film to be one of the release layers is prepared, and then the cushion layer is laminated on this film by an extrusion laminating method, and then the other is released. A method of dry lamination the mold layer can be mentioned. Further, a method of dry laminating a film serving as one release layer, a film serving as a cushion layer, and a film serving as the other release layer can be mentioned.
Among them, the method of forming a film by the coextrusion T-die method is preferable because it is excellent in controlling the thickness of each layer.
By subjecting the film thus obtained to the above surface treatment, the value of the bromine penetrance Z can be set to 4 or less.

本発明の離型フィルムの用途は特に限定されないが、プリント配線基板、フレキシブル回路基板、多層プリント配線板等の製造工程において好適に用いることができる。
具体的には例えば、フレキシブル回路基板の製造工程において、銅回路を形成したフレキシブル回路基板本体に、熱硬化型接着剤又は熱硬化型接着シートを介してカバーレイフィルムを熱プレス接着する際に本発明の離型フィルムを用いることができる。
本発明の離型フィルムは離型性に極めて優れることから、高い離型性が求められるRtoR方式によるフレキシブル回路基板の製造にも好適に用いることができる。
The application of the release film of the present invention is not particularly limited, but it can be suitably used in the manufacturing process of a printed wiring board, a flexible circuit board, a multilayer printed wiring board, and the like.
Specifically, for example, in the manufacturing process of a flexible circuit board, when a coverlay film is hot-press-bonded to a flexible circuit board body on which a copper circuit is formed via a thermosetting adhesive or a thermosetting adhesive sheet. The release film of the present invention can be used.
Since the release film of the present invention is extremely excellent in releasability, it can be suitably used for manufacturing a flexible circuit board by the RtoR method, which requires high releasability.

本発明によれば、従来よりも優れた離型性を有し、RtoR方式によるフレキシブル回路基板の製造にも好適に用いることができる離型フィルムを提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a release film which has excellent releasability as compared with the conventional one and can be suitably used for manufacturing a flexible circuit board by the RtoR method.

以下に実施例を挙げて本発明の態様を更に詳しく説明するが、本発明はこれら実施例にのみ限定されるものではない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

(実施例1)
(1)フィルムの調製
離型層(離型層a及び離型層b)を構成する樹脂として、ポリブチレンテレフタレート樹脂(PBT)を用いた。クッション層を構成する樹脂として、低融点ポリプロピレン樹脂(LDPE)60重量部とポリブチレンテレフタレート樹脂(PBT)(離型層の主成分樹脂)40重量部との混合樹脂を用いた。
離型層を構成する樹脂、及び、クッション層を構成する樹脂を押出機(ジーエムエンジニアリング社製、GM30−28(スクリュー径30mm、L/D28))を用いてTダイ幅400mmにて三層共押出し、押出された溶融樹脂を冷却ロール(温度50℃)により冷却した。これにより、クッション層(厚み50μm)の両側に離型層a(厚み25μm)及び離型層b(厚み25μm)をそれぞれ有する3層構造のフィルムを得た。なお、冷却時には、溶融樹脂と冷却ロールとの接触時間を2.5秒、冷却ロールによって溶融樹脂を冷却する際の伸長応力を140kPaとした。
(Example 1)
(1) Preparation of film Polybutylene terephthalate resin (PBT) was used as the resin constituting the release layer (release layer a and release layer b). As the resin constituting the cushion layer, a mixed resin of 60 parts by weight of low-density polypropylene resin (LDPE) and 40 parts by weight of polybutylene terephthalate resin (PBT) (main component resin of the release layer) was used.
The resin that constitutes the release layer and the resin that constitutes the cushion layer are extruded using an extruder (GM Engineering Co., Ltd., GM30-28 (screw diameter 30 mm, L / D28)) with a T-die width of 400 mm for all three layers. The extruded molten resin was cooled by a cooling roll (temperature 50 ° C.). As a result, a film having a three-layer structure having a release layer a (thickness 25 μm) and a release layer b (thickness 25 μm) on both sides of the cushion layer (thickness 50 μm) was obtained. At the time of cooling, the contact time between the molten resin and the cooling roll was set to 2.5 seconds, and the elongation stress when the molten resin was cooled by the cooling roll was set to 140 kPa.

なお、上記伸長応力は、下記式(3)で表される。 The elongation stress is represented by the following formula (3).

Figure 2021054072
Figure 2021054072

また、ひずみ速度及び溶融樹脂の伸長粘度は、それぞれ下記式(4)、(5)で表される。 The strain rate and the extensional viscosity of the molten resin are represented by the following equations (4) and (5), respectively.

Figure 2021054072
Figure 2021054072

式(4)中、Vはロール速度(m/s)、V0は金型出口の溶融樹脂の流速(m/s)、Lは金型出口から溶融樹脂のロール接触点までの距離(m)である。 In formula (4), V is the roll speed (m / s), V0 is the flow velocity of the molten resin at the mold outlet (m / s), and L is the distance from the mold outlet to the roll contact point of the molten resin (m). Is.

(2)フィルムの表面処理
エンボス処理後のフィルムをロールで15m/minの速度で送りつつ、燃料ガスとしてプロパンガス(LPG)を用いたガスバーナーを用いて、ガス流速5L/min、空気流速125L/min、ノズル−試料間150mmの距離から離型層aの表面を直接火炎で炙って、離型フィルムを得た。
(2) Surface treatment of film While feeding the embossed film with a roll at a speed of 15 m / min, a gas burner using propane gas (LPG) as a fuel gas is used, and the gas flow velocity is 5 L / min and the air flow velocity is 125 L. The surface of the release layer a was directly burned with a flame from a distance of 150 mm between the nozzle and the sample at / min to obtain a release film.

(3)含臭素接着剤浸透試験
得られた離型フィルムの離型層aをカバーレイフィルム(ニッカン工業社製「CISV−2535」)の接着剤面と接触させた状態で圧力30kgf、180℃、5分間で熱プレスを行った。次いで、熱プレス後の離型フィルムを長さ125mm×幅25mmにカットした後、離型フィルムからカバーレイフィルムを500mm/minの速度で180°剥離した。
(3) Bromine-containing adhesive penetration test The release layer a of the obtained release film is in contact with the adhesive surface of the coverlay film (“CISV-2535” manufactured by Nikkan Kogyo Co., Ltd.) at a pressure of 30 kgf and 180 ° C. Hot pressing was performed for 5 minutes. Next, the release film after hot pressing was cut into a length of 125 mm and a width of 25 mm, and then the coverlay film was peeled from the release film at a speed of 500 mm / min by 180 °.

カバーレイフィルム剥離後の離型層aについて、飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF−SIMS)による分析を行った。TOF−SIMS分析条件、スパッタ条件は以下のようにした。
装置:ION TOF社製「TOF−SIMS 5型」
一次イオン:209Bi3++
一次イオン電圧:25kV
一次イオン電流:1pA
質量範囲:1〜500mass
分析エリア:500μm×500μm□
チャージ防止:電子照射中和
スパッタイオン:C60
スパッタイオン電圧:20keV
スパッタイオン電流:1nA
スパッタエリア:800μm×800μm□
スパッタ回数:99回
上記条件にて、離型層aの深さ方向に100回スパッタを行いながらTOF−SIMS分析を行い、上記式(1)により臭素浸透度Zの値を算出した。
The release layer a after peeling of the coverlay film was analyzed by time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS). The TOF-SIMS analysis conditions and sputtering conditions were as follows.
Equipment: "TOF-SIMS Type 5" manufactured by ION TOF
Primary ion: 209Bi 3 ++
Primary ion voltage: 25 kV
Primary ion current: 1 pA
Mass range: 1-500 mass
Analysis area: 500 μm x 500 μm □
Charge prevention: Electron irradiation Neutralization Spatter ion: C60 +
Spatter ion voltage: 20 keV
Spatter ion current: 1 nA
Sputtering area: 800 μm x 800 μm □
Number of times of sputtering: 99 times Under the above conditions, TOF-SIMS analysis was performed while performing 100 times of sputtering in the depth direction of the release layer a, and the value of bromine penetrance Z was calculated by the above formula (1).

(4)離型層a全体の結晶化度の測定
離型フィルムの各層を剥がし、離型層aのみからなるサンプルを得た。広角X線回折法により離型層aを分析した。得られた回折測定プロットに、2θ=12.0〜28.18°の範囲で直線状のベースラインを引いた。結晶質相及び非晶質相に対してそれぞれガウス関数としてフィッティングを行い、得られた結晶質相のピーク総面積及び非晶質相のピーク総面積から上記式(2)により離型層全体の結晶化度を求めた。
(4) Measurement of Crystallinity of the entire Release Layer a The release film was peeled off to obtain a sample consisting of only the release layer a. The release layer a was analyzed by wide-angle X-ray diffraction. A linear baseline was drawn on the resulting diffraction measurement plot in the range 2θ = 12.0 to 28.18 °. Fitting was performed on the crystalline phase and the amorphous phase as Gaussian functions, respectively, and the total peak area of the obtained crystalline phase and the total peak area of the amorphous phase were obtained by the above formula (2) for the entire release layer. The crystallinity was determined.

広角X線回折装置としては、下記の条件に設定したリガク社製の薄膜評価用試料水平型X線回折装置(Smart Lab)を用いた。
X線源 CuKα線
管電圧 45kV−200mA
入射光学系 集中法
測定範囲 5−80°
測定間隔 0.02°
走査速度 5.0°/min
走査方法 Out−of−Plane法
As the wide-angle X-ray diffractometer, a sample horizontal X-ray diffractometer (Smart Lab) for thin film evaluation manufactured by Rigaku Co., Ltd., which was set under the following conditions, was used.
X-ray source CuKα tube voltage 45kV-200mA
Incident optical system Concentrated measurement range 5-80 °
Measurement interval 0.02 °
Scanning speed 5.0 ° / min
Scanning method Out-of-Plane method

(実施例2〜7)
溶融樹脂と冷却ロールとの接触時間、冷却ロール温度及び伸長応力、並びに、火炎処理の条件を表1に示したように変更した以外は実施例1と同様にして、離型フィルムを得た。得られた離型フィルムについて、実施例1と同様にして、表面の算術平均粗さRaの測定、含臭素接着剤浸透試験、離型層a全体の結晶化度の測定を行った。
(Examples 2 to 7)
A release film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the contact time between the molten resin and the cooling roll, the cooling roll temperature and elongation stress, and the flame treatment conditions were changed as shown in Table 1. With respect to the obtained release film, the arithmetic average roughness Ra of the surface, the bromine-containing adhesive permeation test, and the degree of crystallization of the entire release layer a were measured in the same manner as in Example 1.

(実施例8)
離型層(離型層a及び離型層b)を構成する樹脂として、ポリメチルペンテン樹脂(TPX)を用いた。クッション層を構成する樹脂として、低融点ポリプロピレン樹脂(LDPE)50重量部とポリメチルペンテン樹脂(TPX)(離型層の主成分樹脂)50重量部との混合樹脂を用いた。
離型層を構成する樹脂、及び、クッション層を構成する樹脂を押出機(ジーエムエンジニアリング社製、GM30−28(スクリュー径30mm、L/D28))を用いてTダイ幅400mmにて三層共押出し、押出された溶融樹脂を冷却ロール(温度70℃)により冷却した。これにより、クッション層(厚み50μm)の両側に離型層a(厚み25μm)及び離型層b(厚み25μm)をそれぞれ有する3層構造のフィルムを得た。なお、冷却時には、溶融樹脂と冷却ロールとの接触時間を1.0秒、冷却ロールによって溶融樹脂を冷却する際の伸長応力を190kPaとした。
得られたフィルムに実施例1と同様に、表1に示した条件にて火炎処理を行い、離型フィルムを得た。得られた離型フィルムについて、実施例1と同様にして、表面の算術平均粗さRaの測定、含臭素接着剤浸透試験、離型層a全体の結晶化度の測定を行った。
(Example 8)
Polymethylpentene resin (TPX) was used as the resin constituting the release layer (release layer a and release layer b). As the resin constituting the cushion layer, a mixed resin of 50 parts by weight of low-density polypropylene resin (LDPE) and 50 parts by weight of polymethylpentene resin (TPX) (main component resin of the release layer) was used.
The resin that constitutes the release layer and the resin that constitutes the cushion layer are extruded using an extruder (GM Engineering Co., Ltd., GM30-28 (screw diameter 30 mm, L / D28)) with a T-die width of 400 mm for all three layers. The extruded molten resin was cooled by a cooling roll (temperature 70 ° C.). As a result, a film having a three-layer structure having a release layer a (thickness 25 μm) and a release layer b (thickness 25 μm) on both sides of the cushion layer (thickness 50 μm) was obtained. At the time of cooling, the contact time between the molten resin and the cooling roll was set to 1.0 second, and the elongation stress when the molten resin was cooled by the cooling roll was set to 190 kPa.
The obtained film was subjected to flame treatment under the conditions shown in Table 1 in the same manner as in Example 1 to obtain a release film. With respect to the obtained release film, the arithmetic average roughness Ra of the surface, the bromine-containing adhesive permeation test, and the degree of crystallization of the entire release layer a were measured in the same manner as in Example 1.

(比較例1〜4)
溶融樹脂と冷却ロールとの接触時間、冷却ロール温度及び伸長応力、並びに、表面処理の方法を表2に示したように変更した以外は実施例1と同様にして、離型フィルムを得た。得られた離型フィルムについて、実施例1と同様にして、表面の算術平均粗さRaの測定、含臭素接着剤浸透試験、離型層a全体の結晶化度の測定を行った。
なお、比較例1、2において、摩擦処理は、得られたフィルムをロールで送りつつ、離型層aの表面を、摩擦処理装置(山縣機械社製の研磨処理装置、型式YCM−150M)を用い、摩擦処理材の表面の素材として織物を用いることで行った。摩擦処理の際には、送り側ロールと、巻き取り側ロールとの間に表面処理部ロールを設け、表面処理部ロールをフィルムに押し当てることでフィルムに荷重をかけた。摩擦処理の際に加えた仕事エネルギー量は200kJであった。
また、比較例3において、延伸処理は、得られたフィルムを、バッチ式二軸延伸機を用いて、75℃で1分間予熱した後、75℃で延伸速度50mm/sで縦方向に2倍、横方向に2倍にて同時二軸延伸し、続いて190℃に加熱した熱風オーブン炉にて10秒間熱セットすることにより行った。
(Comparative Examples 1 to 4)
A release film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the contact time between the molten resin and the cooling roll, the cooling roll temperature and the elongation stress, and the surface treatment method were changed as shown in Table 2. With respect to the obtained release film, the arithmetic average roughness Ra of the surface, the bromine-containing adhesive permeation test, and the degree of crystallization of the entire release layer a were measured in the same manner as in Example 1.
In Comparative Examples 1 and 2, the friction treatment was performed by using a friction treatment device (polishing device manufactured by Yamagata Machinery Co., Ltd., model YCM-150M) on the surface of the release layer a while feeding the obtained film with a roll. This was done by using a woven fabric as the surface material of the friction treatment material. During the friction treatment, a surface-treated roll was provided between the feed-side roll and the take-up-side roll, and the surface-treated roll was pressed against the film to apply a load to the film. The amount of work energy added during the friction treatment was 200 kJ.
Further, in Comparative Example 3, in the stretching treatment, the obtained film was preheated at 75 ° C. for 1 minute using a batch type biaxial stretching machine, and then doubled in the longitudinal direction at a stretching speed of 50 mm / s at 75 ° C. The film was biaxially stretched twice in the lateral direction at the same time, and then heat-set in a hot air oven heated to 190 ° C. for 10 seconds.

(評価)
実施例及び比較例で得た離型フィルムについて、以下の方法により評価を行った。
結果を表1、2に示した。
(Evaluation)
The release films obtained in Examples and Comparative Examples were evaluated by the following methods.
The results are shown in Tables 1 and 2.

(1)離型性の評価
エポキシ接着シートとしてCVL1(ニッカン工業社製「CISV−2535」)を用い、離型フィルムを、離型層aがエポキシ接着シートに接するようにしてエポキシ接着シートに重ね、180℃、30kgf/cmの条件で5分間熱プレスした。その後、一部のサンプルでは離型フィルムが自然剥離した。熱プレスから10分間が経過しても離型フィルムが自然剥離しなかったサンプルについては、幅30mmにカットし、試験速度500mm/分、剥離角度30°で剥離試験を行い、30°剥離強度(30°ピール値)を求めた。
また、通常求められる条件よりも厳しい条件下での離型性を比較するために、エポキシ接着シートCVL1を、より接着力が強いエポキシ接着シートであるCVL2(デュポン社製「HXC2525」)に代えて同様の測定を行った。
これらの測定結果をもとに、離型フィルムの離型性について以下のように評価した。
◎:CVL1を用いた試験において離型フィルムが自然剥離し、かつ、CVL2を用いた試験において30°剥離強度が100gf/cm以下であった場合
○:CVL1を用いた試験において離型フィルムが自然剥離し、かつ、CVL2を用いた試験において30°剥離強度が100gf/cmより大きかった場合
×:CVL1を用いた試験において離型フィルムが自然剥離しなかった場合
(1) Evaluation of mold release property CVL1 (“CISV-2535” manufactured by Nikkan Kogyo Co., Ltd.) is used as the epoxy adhesive sheet, and the release film is laminated on the epoxy adhesive sheet so that the release layer a is in contact with the epoxy adhesive sheet. , 180 ° C., 30 kgf / cm 2 and heat pressed for 5 minutes. After that, the release film spontaneously peeled off in some samples. For samples in which the release film did not spontaneously peel off even after 10 minutes had passed from the hot press, the sample was cut to a width of 30 mm, and a peeling test was performed at a test speed of 500 mm / min and a peeling angle of 30 °. 30 ° peel value) was determined.
Further, in order to compare the releasability under stricter conditions than normally required, the epoxy adhesive sheet CVL1 is replaced with CVL2 (“HXC2525” manufactured by DuPont), which is an epoxy adhesive sheet having stronger adhesive force. Similar measurements were made.
Based on these measurement results, the releasability of the release film was evaluated as follows.
⊚: When the release film spontaneously peels off in the test using CVL1 and the 30 ° peeling strength is 100 gf / cm or less in the test using CVL2 ◯: The release film naturally peels off in the test using CVL1. When the release film is peeled off and the 30 ° peeling strength is greater than 100 gf / cm in the test using CVL2 ×: When the release film is not naturally peeled off in the test using CVL1

なお、剥離角度30°で行う剥離試験は、剥離角度180°で行う試験に比べて剥離角度が低角度であるため一般に剥離が非常に困難である。すなわち、剥離角度30°での剥離試験が良好である離型フィルムは、従来の離型フィルムに比べて優れた離型性を有しているといえる。 The peeling test performed at a peeling angle of 30 ° is generally very difficult to peel because the peeling angle is lower than that of the test performed at a peeling angle of 180 °. That is, it can be said that the release film having a good release test at a release angle of 30 ° has excellent release properties as compared with the conventional release film.

(2)耐シワ性の評価
RtoR試験機に、離型フィルム、銅張積層板(ニッカン工業製「NIKAFLEX F−30VC1」)及びガラスクロス(淀川ヒューテック製「116AW」)をこの順にセットし、50mm/sec、350mm/set、10Nの条件で搬送しながら、熱プレスを行った。熱プレス条件は、180℃、100gf/cm、80secとし、プレヒート時間を10secとした。熱プレス終了後、ポリイミド面と接触した離型フィルムを観察し、流れ方向に沿って2cm以上の皺の個数を目視にて確認した。2cm以上の皺の個数が10個以下であった場合を「○」と、10個を超えた場合を「×」と評価した。
(2) Evaluation of wrinkle resistance A release film, a copper-clad laminate (“NIKAFLEX F-30VC1” manufactured by Nikkan Industries) and a glass cloth (“116AW” manufactured by Yodogawa Hu-Tech) were set in this order on the RtoR tester, and 50 mm. Hot pressing was performed while transporting under the conditions of / sec, 350 mm / set, and 10 N. The hot press conditions were 180 ° C., 100 gf / cm, 80 sec, and the preheat time was 10 sec. After the completion of the hot press, the release film in contact with the polyimide surface was observed, and the number of wrinkles of 2 cm or more along the flow direction was visually confirmed. The case where the number of wrinkles of 2 cm or more was 10 or less was evaluated as “◯”, and the case where the number of wrinkles exceeded 10 was evaluated as “x”.

(3)追従性の評価
銅張積層板(ニッカン工業製「NIKAFLEX F−30VC1」:12.5cm×12.5cm、ポリイミド厚み25μm、銅箔厚み35μm)の銅箔面に、φ=1mmの穴を空けたカバーレイフィルム(12.5cm×12.5cm、ポリイミド厚み25μm、エポキシ接着剤層厚み35μm)をエポキシ接着剤層が接するようにして積層させた。更に離型フィルムを、離型層aがカバーレイフィルムに接するようにして積層した。この積層体を、180℃、30kgf/cmの条件で2分間熱プレスした。その後、離型フィルムを剥離し、銅張積層板(CCL)上に流れ出したエポキシ接着剤を光学顕微鏡にて観察した。エポキシ接着剤の染み出し幅を12点測定してその平均値を算出した。
測定結果をもとに、離型フィルムの追従性について以下のように評価した。
〇:エポキシ接着剤の染み出し幅の平均値が55μm未満であった場合
×:エポキシ接着剤の染み出し幅の平均値が55μm以上であった場合
(3) Evaluation of followability A hole of φ = 1 mm in the copper foil surface of a copper-clad laminate (“NIKAFLEX F-30VC1” manufactured by Nikkan Industries, Ltd.: 12.5 cm × 12.5 cm, polyimide thickness 25 μm, copper foil thickness 35 μm) A coverlay film (12.5 cm × 12.5 cm, polyimide thickness 25 μm, epoxy adhesive layer thickness 35 μm) was laminated so that the epoxy adhesive layer was in contact with each other. Further, the release film was laminated so that the release layer a was in contact with the coverlay film. This laminate was heat pressed for 2 minutes at 180 ° C. and 30 kgf / cm 2. Then, the release film was peeled off, and the epoxy adhesive flowing out on the copper-clad laminate (CCL) was observed with an optical microscope. The exudation width of the epoxy adhesive was measured at 12 points and the average value was calculated.
Based on the measurement results, the followability of the release film was evaluated as follows.
〇: When the average value of the seepage width of the epoxy adhesive is less than 55 μm ×: When the average value of the seepage width of the epoxy adhesive is 55 μm or more

Figure 2021054072
Figure 2021054072

Figure 2021054072
Figure 2021054072

本発明によれば、従来よりも優れた離型性を有し、RtoR方式によるフレキシブル回路基板の製造にも好適に用いることができる離型フィルムを提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a release film which has excellent releasability as compared with the conventional one and can be suitably used for manufacturing a flexible circuit board by the RtoR method.

Claims (8)

少なくとも1つの離型層を有する離型フィルムであって、
下記含臭素接着剤浸透試験により測定した臭素浸透度Zが4以下であることを特徴とする離型フィルム。
(含臭素接着剤浸透試験)
接着剤成分として臭素化合物を有するカバーレイフィルムの接着剤面と、前記離型フィルムの離型層とを接触させた状態で、圧力30kgf、180℃、5分間の条件で熱プレスを行った後に、前記カバーレイフィルムを剥離し、下記式(1)により臭素浸透度Zを算出する。
Figure 2021054072
式(1)中、A(i)及びB(i)は、飛行時間型二次イオン質量分析のi回目の測定における、それぞれBrのフラグメント強度及び全フラグメント強度を示し、iは1〜100の整数を表す。
A release film having at least one release layer.
A release film characterized in that the bromine permeability Z measured by the following bromine-containing adhesive penetration test is 4 or less.
(Brominated adhesive penetration test)
After performing hot pressing under the conditions of a pressure of 30 kgf, 180 ° C., and 5 minutes in a state where the adhesive surface of the coverlay film having a bromine compound as an adhesive component and the release layer of the release film are in contact with each other. , The coverlay film is peeled off, and the bromine permeability Z is calculated by the following formula (1).
Figure 2021054072
In the formula (1), A (i) and B (i) indicate the fragment intensity and the total fragment intensity of Br − in the i-th measurement of the time-of-flight secondary ion mass spectrometry, respectively, and i is 1 to 100. Represents an integer of.
離型層は、表面の算術平均粗さRaが0.5μm以上であることを特徴とする請求項1記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1, wherein the release layer has an arithmetic mean roughness Ra of the surface of 0.5 μm or more. 離型層は、全体の結晶化度が25〜50%であることを特徴とする請求項1又は2記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1 or 2, wherein the release layer has an overall crystallinity of 25 to 50%. 離型層は、芳香族ポリエステル樹脂を含有することを特徴とする請求項1、2又は3記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1, 2 or 3, wherein the release layer contains an aromatic polyester resin. 芳香族ポリエステル樹脂は、ポリブチレンテレフタレート樹脂を含有することを特徴とする請求項4記載の離型フィルム。 The release film according to claim 4, wherein the aromatic polyester resin contains a polybutylene terephthalate resin. 離型層を構成する樹脂に占めるポリブチレンテレフタレート樹脂の割合が75重量%以上であることを特徴とする請求項5記載の離型フィルム。 The release film according to claim 5, wherein the ratio of the polybutylene terephthalate resin to the resin constituting the release layer is 75% by weight or more. 更にクッション層を有し、前記クッション層の両側に離型層を有することを特徴とする請求項1、2、3、4、5又は6記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1, 2, 3, 4, 5 or 6, further comprising a cushion layer and having release layers on both sides of the cushion layer. RtoR方式によるフレキシブル回路基板の製造に用いられることを特徴とする請求項1、2、3、4、5、6又は7記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1, 2, 3, 4, 5, 6 or 7, which is used for manufacturing a flexible circuit board by the RtoR method.
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