JP2021041568A - 3次元積層造形装置及び3次元積層造形方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】造形物に欠陥が生じることを抑制する3次元積層造形装置及び3次元積層造形方法を提供する。【解決手段】3次元積層造形装置50は、ベースプレート10と、ベースプレート10を鉛直方向に移動させるZ駆動機構5と、ベースプレート10の上に粉末試料を供給して粉末層を積層する粉末供給部と、粉末層に照射する電子ビームを発生する電子銃2とを備える。また、Z駆動機構5、粉末供給部、及び電子銃2を制御し、粉末層の最上層であるパウダーベッドに電子ビームを照射させて、造形モデルを1層分でスライスした2次元形状領域を本溶融することで3次元造形物を造形する制御部と、パウダーベッドの状態を検出する2分割検出器16A,16Bとを備える。【選択図】図1

Description

本発明は、粉末試料を薄く敷いた層を一層ずつ重ねて造形する3次元積層造形装置及び3次元積層造形方法に関する。
近年、粉末試料を薄く敷いた層(以下「粉末層」と表記する)を一層ずつ重ねて造形する3次元積層造形技術が脚光を浴びており、粉末試料の材料や造形手法の違いにより多くの種類の3次元積層造形技術が開発されている(例えば特許文献1を参照)。
特許文献1に開示された3次元積層造形装置では、粉末試料を平坦なベースプレートの上に薄く敷き詰める。そして、薄く敷いた粉末試料からなる粉末層に対し、ビーム径を絞った、熱源としてのレーザー光又は電子ビームを造形したい部分に照射することにより、粉末試料を溶融及び凝固(固化)させる。
粉末層における固化した領域は、3次元CADデータで表現される3次元造形物を、積層方向に垂直な面で輪切りにした時の断面に相当する。また、特許文献1に開示された3次元積層造形装置は、造形物の高さ方向にベースプレートを移動させ、粉末試料を敷き詰めて、粉末層の所定領域を溶融及び固化させる処理を繰り返す。これにより、薄い輪切り状の物体が積層された3次元構造物が造形される。
特開2019−7065号公報
しかしながら、特許文献1に開示された3次元積層造形装置では、薄く敷いた粉末試料であるパウダーベッドの状態を確認せずに造形のプロセス(例えば、電子ビームの照射)に進んでいた。そのため、パウダーベッドに異常が発生しても造形のプロセスが行われてしまうことになり、造形物に欠陥が生じることがあった。
本発明は、上記状況に鑑みてなされたものであり、造形物に欠陥が生じることを抑制する3次元積層造形装置及び3次元積層造形方法を提供することを目的とする。
本発明の一態様は、ベースプレートと、ベースプレートを鉛直方向に移動させる駆動部と、ベースプレートの上に粉末試料を供給して粉末層を積層する粉末供給部と、粉末層に照射する電子ビームを発生するビーム発生部とを備える。また、駆動部、粉末供給部、及びビーム発生部を制御し、粉末層の最上層であるパウダーベッドに電子ビームを照射させて、造形モデルを1層分でスライスした2次元形状領域を本溶融することで3次元造形物を造形する制御部と、パウダーベッドの状態を検出する検出部とを備える。
本発明の一態様は、任意のタイミングでパウダーベッドが正常な状態であるかを確認するため、造形物に欠陥が生じることを抑制することができる。
本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成例を示す断面図である。 本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置の2分割検出器の構成例を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置の制御系を示すブロック図である。 本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置による3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その1)である。 本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置による3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その2)である。 本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置による3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その3)である。 本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置による3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その4)である。 本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置による3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その5)である。 本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置による3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その6)である。 本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置による3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その7)である。 本発明の第1の実施形態に係る3次元積層造形装置による3次元積層造形処理におけるパウダーベッドの確認を示す説明図である。 本発明の第2の実施形態に係る3次元積層造形装置による3次元積層造形処理におけるパウダーベッドの確認を示す説明図である。 本発明の第3の実施形態に係る3次元積層造形装置の概略構成例を示す説明図である。 本発明の第4の実施形態に係る3次元積層造形装置によるカメラの撮像領域を示す図である。 本発明の第6の実施形態に係る3次元積層造形装置の概略構成例を示す説明図である。 本発明の第7の実施形態に係る3次元積層造形装置によるカメラの撮像領域を示す図である。
以下、本発明を実施するための形態の例について、添付図面を参照しながら説明する。なお、各図において共通の構成要素には、同一の符号を付して重複する説明を省略する。
<1.第1の実施形態>
[3次元積層造形装置の構成]
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る3次元積層造形装置の構成例を示す断面図である。
図1において、3次元積層造形装置50の粉末台6の移動方向(鉛直方向)をZ方向とし、Z方向に垂直な第1の方向をX方向、Z方向及びX方向に垂直な第2の方向をY方向とする。すなわち、図1は、真空容器1のY方向に直交する断面を示す断面図である。
図1に示すように、3次元積層造形装置50は、真空容器1と、真空容器1と電気的に接続された後述する造形制御装置60(図3参照)を有する。真空容器1は、上部に電子銃2(ビーム発生部の一例)が装着されている。真空容器1の内部には、造形ボックス3と、造形ボックス3を真空容器1に固定するための造形ボックス固定部4が設けられている。なお、造形ボックス3は、真空容器1に直接固定してもよい。
造形ボックス3は、金属粉末8が供給されるテーブル3aと、テーブル3aに連続する筒部3bを有している。テーブル3aは、X方向の両端部が真空容器1の内壁に接触する長方形の板状に形成されており、中央に貫通孔を有している。筒部3bは、テーブル3aにおける貫通孔の周縁部に沿った形状の筒部として形成されており、一端がテーブル3aの下面に連続している。筒部3bは、テーブル3aにおける貫通孔の周縁部に沿った形状の筒部として形成されており、一端がテーブル3aの下面に連続している。すなわち、テーブル3aの貫通孔が円形である場合の筒部3bは、貫通孔の径と略同一の内径に設定された円筒状に形成されている。
造形ボックス固定部4は、筒部3bの筒孔に連通する筒孔を有する筒状に形成されている。造形ボックス固定部4の軸方向の一端には、造形ボックス3(筒部3b)が固定されており、造形ボックス固定部4の軸方向の他端は、真空容器1の底面に固定されている。造形ボックス3の筒部3b及び造形ボックス固定部4は、造形物9を造形するためのスペースであるピットを形成している。
ピット内には、粉末台6と、粉末台6をZ方向に移動させるZ駆動機構5(駆動部の一例)が設けられている。粉末台6は、筒部3bの筒孔の形状に対応した輪郭の板状に形成されている。すなわち、筒部3bの筒孔が円形である場合の粉末台6は、円板状に形成されている。また、粉末台6の側周面には、シール部材7が取り付けられている。
シール部材7は、粉末台6と筒部3bの内周面との間に介在されており、粉末台6の上方(金属粉末8が敷き詰められる)と下方(Z駆動機構5が配置される)を密閉する。また、シール部材7は、筒部3bの内周面に摺動可能に接触している。Z駆動機構5としては、例えば、ラック&ピニオンやボールねじ等を採用することができる。真空容器1内の雰囲気は図示しない真空ポンプにより排気されており、真空容器1内は真空に維持されている。
造形ボックス3の上方には、2つの粉末タンク11と、粉末タンク11の底部に接続された定量供給器12と、スキージアーム13と、スキージアーム13に取り付けられたブレード14が設けられている。粉末タンク11、定量供給器12、スキージアーム13、及びブレード14は、本発明に係る粉末供給部の一例を示す。
2つの粉末タンク11は、テーブル3aの貫通孔(ピット)を挟んで対向している。2つの粉末タンク11には、金属粉末8が充填されている。なお、2つの粉末タンク11には、それぞれ異なる種類の金属粉末を充填してもよい。定量供給器12は、粉末タンク11に充填されている金属粉末8のうちから所定量の金属粉末8を造形ボックス3のテーブル3a上に供給する。
スキージアーム13は、テーブル3aと定量供給器12との間を、テーブル3aに沿って移動可能に構成されており、2つの粉末タンク11間を往復する。ブレード14は、スキージアーム13の下部に取り付けられている。このブレード14は、スキージアーム13が2つの粉末タンク11間を往復移動することにより、テーブル3a上に供給された金属粉末8を均す。このとき、粉末台6上の金属粉末8は、テーブル3a上の金属粉末8と同じ高さに敷き詰められる。
また、粉末台6上の金属粉末8には、ベースプレート10が配置されている。このベースプレート10は、造形物9を積層する土台である。なお、金属粉末8は、造形時にベースプレート10が高温になった際に、造形ボックス3や粉末台6にベースプレート10の熱が伝わりにくくする断熱層の役割を果たしている。
また、電子銃2の下方には、2分割検出器16A,16B(検出部の一例)が配置され、2分割検出器16A,16Bとテーブル3aの貫通孔(ピット)との間にマスクカバー19が配置されている。2分割検出器16A,16Bは、スキージアーム13に干渉しない位置に固定されている。
マスクカバー19は、上方(Z方向)から見ると略矩形に形成されており、ベースプレート10上に電子ビームが到達するように、ベースプレート10の形状に対応した電子ビーム用開口部と、電子ビーム用開口部を囲むマスク部を有している。電子ビーム用開口部は、マスクカバー19の中央近傍に位置している。例えば、マスクカバー19が円形であれば、電子ビーム用開口部も円形に形成され、マスクカバー19が矩形であれば、電子ビーム用開口部も矩形に形成される。また、マスクカバー19は、側面から見ると平板状の形状をしている。
マスクカバー19のマスク部は、造形ボックス3のテーブル3aとベースプレート10との間の領域にできる未焼結粉末で構成される未焼結領域を覆う。言い換えれば、マスクカバー19のマスク部は、ベースプレート10上に敷き詰められた金属粉末8(以下、パウダーベッド)における電子ビームが照射される領域の周囲を覆う。マスクカバー19は、シールドマスクであり、未焼結領域における未焼結粉末のチャージアップを抑制でき、未焼結粉末同士の反発でそれらが飛び散るスモークの発生を防止することができる。
なお、マスクカバー19には、電子ビーム用開口部が設けられているため、ベースプレート10の上方に形成される仮焼結粉末で構成される仮焼結領域は、マスクカバー19によって覆われない。
マスクカバー19の材質は、例えば、金属などの導電性材料やステンレスなどの合金などが代表的であり、好ましくは、造形物9の材料である金属粉末と同種の材料がよい。しかし、マスクカバー19の材質としては、シールドとしての役割を果たす材料であればこれらには限定されない。また、図示していないが、マスクカバー19は、電気的にGNDに接地されている。
マスクカバー19には、不図示の昇降機構が取り付けられており、マスクカバー19は、ベースプレート10上に電子ビームを照射する場合に、待機位置(図1参照)から下降して、造形面上のシールド位置に移動する。一方、ベースプレート10上にパウダーベッドを形成する場合は、シールド位置から上昇し、スキージアーム13及びブレード14と干渉しない待機位置に移動する。
なお、本実施形態では、マスクカバー19をZ方向に移動させる構成とした。しかし、本発明に係る3次元積層造形装置のマスクカバーとしては、例えば、X方向や、Y方向へ移動させる構成であってもよい。
図2は、3次元積層造形装置50における2分割検出器16A,16Bの構成例を示す図である。
図2に示すように、2分割検出器16A,16Bは、電子銃2における電子ビーム放射口2aを挟んでX方向で対向している。また、2分割検出器16A,16Bの中心間の距離は、少なくとも電子ビームを走査する領域(ベースプレート10の領域と略同じ)の長さ以上に設定されている。
2分割検出器16A,16Bには、それぞれ電流アンプ17が接続されており、各電流アンプ17の出力である信号Aと信号Bは、造形制御装置60(図3参照)に送信される。造形制御装置60では、A−B或いは(A−B)/(A+B)の演算結果から反射電子像(輝度)信号を得る。
本実施形態では、ベースプレート10より少し小さい領域を電子ビームで走査する。例えば、パウダーベッドから造形物9が露出していない場合と、パウダーベッドから造形物9が露出している場合とでは、2分割検出器16A,16Bに入射する反射電子の量に差が生じる。したがって、パウダーベッドから造形物9が露出しないタイミングにおいて、2分割検出器16A,16Bに入射する反射電子の量に差が生じている場合は、パウダーベッドに異常が発生したことを検出することができる。
一方、パウダーベッドから造形物9が露出しないタイミングにおいて、2分割検出器16A,16Bに入射する反射電子の量に差が生じない場合は、パウダーベッドが正常であることを検出することができる。
本実施形態では、2分割検出器16A,16Bを用いてパウダーベッドの状態を検出するようにしたが、本発明に係る検出部としては、一つの電子検出器を用いてパウダーベットの状態を検出してもよい。反射電子は、電子ビームを照射する被観察物の密度(原子番号)に依存してコントラストが付くため、より密度が大きい(原子番号が大きい)物質ほど反射電子が多く放出されて、反射電子像(輝度)が明るくなる。したがって、パウダーベッドから造形物9が露出している(バルク面がある)場合は、露出した造形物9の反射電子像(輝度)が、その他の部分よりも明るくなることで、パウダーベッドに異常が発生したことを検出することができる。
図3は、3次元積層造形装置の制御系(造形制御装置60)のブロック図である。
3次元積層造形装置50は、真空容器1と電気的に接続された造形制御装置60を有する。造形制御装置60は、ROM(Read Only Memory)62、RAM(Random Access Memory)63、CPU(Central Processing Unit)64、Z駆動制御部65、粉末供給駆動制御部66、電子銃駆動制御部67、マスクカバー駆動制御部68を備える。
造形制御装置60は、3次元積層造形装置50の各駆動部との間で通信インターフェース(不図示)を介して、所定の形式に従った情報の送受信を行なう。この通信インターフェースとしては、例えば、シリアルインターフェースが適用される。
ROM62は、CPU64が実行する造形プログラムや造形物9のパラメータ等を記憶する不揮発性の記憶部である。RAM63は、データを一時的に記憶する揮発性の記憶部であり、作業領域として使用される。なお、ROM62に記憶される造形プログラムや造形物9のパラメータ等のデータを、不揮発性の大容量記憶装置に記憶するようにしてもよい。
CPU64は、ROM62に記憶された造形プログラムをRAM63に読み出し、この造形プログラムに従い、各部の処理及び動作を制御する。CPU64は、システムバス69を介して、各部と相互にデータを送信及び/又は受信可能に接続されている。CPU64、ROM62及びRAM63は、制御部の一例である。
Z駆動制御部65は、CPU64の制御の下、Z駆動機構5の動作を制御する。粉末供給駆動制御部66は、CPU64の制御の下、定量供給器12及びスキージアーム13の動作を制御する。電子銃駆動制御部67は、CPU64の制御の下、電子銃2から出射する電子ビームの強度及び照射位置を制御する。マスクカバー駆動制御部68は、CPU64の制御の下、マスクカバー19(不図示の昇降機構)の動作を制御する。
[3次元積層造形処理]
次に、本実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理について、図4〜図10を参照して説明する。
〈マスクカバー設置工程〉
図4は、3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その1)であり、マスクカバー19をシールド位置に設置した状態を示している。
図4に示すように、3次元積層造形処理では、まず、マスクカバー設置工程を行う。
マスクカバー設置工程では、マスクカバー駆動制御部68(図3参照)がマスクカバー19(不図示の昇降機構)を制御して、マスクカバー19を待機位置(図1参照)から下降させ、シールド位置に設置(配置)する。これにより、マスクカバー19は、ベースプレート10と造形ボックス3との間にある金属粉末8を覆う。このとき、マスクカバー19は、金属粉末8に接触させておく。
〈ベースプレート加熱工程〉
図5は、3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その2)であり、ベースプレート10を加熱する状態を示している。
図5に示すように、3次元積層造形処理では、次に、ベースプレート加熱工程を行う。
ベースプレート加熱工程では、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、ベースプレート10に対して電子ビーム21を照射させ、ベースプレート10を加熱する。
具体的には、電子ビーム21を走査して、ベースプレート10の上面全域より少し狭い領域(マスクカバー19に電子ビーム21を当てない領域)に電子ビーム21を照射する。そして、この後敷き詰める金属粉末8が仮焼結する程度の温度までベースプレート10を予め昇温させておく。このとき、ベースプレート10の上面に電子ビーム21をフォーカスさせず、デフォーカス状態(ビーム径を大きくする)で照射及び走査することで、ベースプレート10の局所的な溶融を回避している。
図5に示すように、ベースプレート10が昇温すると、ベースプレート10の周囲の金属粉末8は、仮焼結されて仮焼結体22になる。また、マスクカバー19をシールド位置に設置しているため、ベースプレート10に対して電子ビーム21を照射しても、未焼結領域における未焼結粉末のチャージアップを抑制でき、スモークの発生を防止することができる。
〈スキージング工程〉
図6は、3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その3)であり、金属粉末8を1層分敷いた状態を示している。
図6に示すように、3次元積層造形処理では、次に、スキージング工程を行う。
スキージング工程では、まず、マスクカバー駆動制御部68(図3参照)がマスクカバー19(不図示の昇降機構)を制御して、マスクカバー19をシールド位置から上昇させ、待機位置に配置する。次に、Z駆動制御部65(図3参照)がZ駆動機構5を制御して、粉末台6を下降させ、ベースプレート10の上面がテーブル3aの上面より僅かに(1層分)下がった位置に配置する。
次に、粉末供給駆動制御部66(図3参照)が定量供給器12を制御して、粉末タンク11から所定の量の金属粉末8をテーブル3a上に供給する。また、粉末供給駆動制御部66がスキージアーム13を制御して、スキージアーム13をテーブル3aの上面に沿って移動させる。その結果、ブレード14がテーブル3a上に供給された金属粉末8を均して、ベースプレート10の上に金属粉末8を1層分敷き詰めたパウダーベッドが形成される。
〈仮焼結工程〉
図7は、3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その4)であり、ベースプレート10の上に敷き詰められた金属粉末8が仮焼結された状態を示している。
図7に示すように、3次元積層造形処理では、次に、仮焼結工程を行う。
仮焼結工程では、ベースプレート加熱工程において加熱されたベースプレート10の熱によって、スキージング工程において敷かれた金属粉末8が仮焼結体22になる。この仮焼結工程において、マスクカバー19を待機位置(図6参照)から下降させ、シールド位置に設置(配置)してもよい。これにより、金属粉末8が仮焼結されているときに、次の工程において必要となるマスクカバー19の設置を行うことができ、サイクルタイムの短縮を図ることができる。
〈パウダーヒート工程〉
図8は、3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その5)であり、電子ビーム21によって仮焼結体22の表面を加熱する状態を示している。
図8に示すように、3次元積層造形処理では、次に、パウダーヒート工程を行う。
パウダーヒート工程では、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、ベースプレート10上の仮焼結体22の表面に対して電子ビーム21を照射させ、仮焼結体22の表面を加熱する。具体的には、上述のベースプレート加熱工程と同様に、デフォーカス状態で電子ビーム21を走査して、ベースプレート10上の仮焼結体22の表面に対して電子ビーム21を照射する。
このとき、マスクカバー19をシールド位置に設置しているため、仮焼結体22に対して電子ビーム21を照射しても、未焼結領域における未焼結粉末のチャージアップを抑制でき、スモークの発生を防止することができる。
〈本溶融工程〉
図9は、3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その6)であり、電子ビーム21によって仮焼結体22を造形物9の形に本溶融した状態を示している。
図9に示すように、3次元積層造形処理では、次に、本溶融工程を行う。
本溶融工程では、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、ベースプレート10上の仮焼結体22の表面に対して電子ビーム21を照射させ、造形プログラムにより表される造形モデルを1層分でスライスした2次元形状領域を溶融する。このとき、電子ビーム21をフォーカスさせ、電流密度を上げて仮焼結体22を溶融する。この溶融工程は、メルトと呼ぶことがある。
また、本溶融工程においても、マスクカバー19をシールド位置に設置しているため、仮焼結体22に対して電子ビーム21を照射しても、未焼結領域における未焼結粉末のチャージアップを抑制でき、スモークの発生を防止することができる。
〈アフターヒート工程〉
図10は、3次元積層造形処理の手順を示す説明図(その7)であり、本溶融後の造形物9の表面及び仮焼結体22の表面を加熱する状態を示している。
図10に示すように、3次元積層造形処理では、次に、アフターヒート工程を行う。
アフターヒート工程では、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、ベースプレート10上の造形物9の表面及び仮焼結体22の表面に対して電子ビーム21を照射させ、造形物9の表面及び仮焼結体22の表面を加熱する。具体的には、上述のベースプレート加熱工程と同様に、デフォーカス状態で電子ビーム21を走査して、造形物9の表面及び仮焼結体22の表面に対して電子ビーム21を照射する。
アフターヒート工程の終了後は、次の層におけるスキージング工程に戻り、スキージング工程、仮焼結工程、パウダーヒート工程、本溶融工程、アフターヒート工程を繰り返す。そして、造形物の最後の層におけるアフターヒート工程の終了後は、3次元積層造形処理を終了する。その結果、本溶融(メルト)部分が1層ずつ積み重なって造形物9が形成される。
〈パウダーヒート後パウダーベッド確認工程〉
図11は、3次元積層造形処理におけるパウダーヒート後パウダーベッド確認工程を示す説明図である。
第1の実施形態では、上述したパウダーヒート工程と本溶融工程との間に、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、パウダーヒート工程後のパウダーベッドに異常が発生したか否かを確認する。
パウダーヒート後パウダーベッド確認工程では、まず、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、反射電子が検出できる程度に低いエミッション電流でパウダーベッドをスキャンする。次に、パウダーベッドをスキャンしたことにより発生した反射電子を、2分割検出器16A,16Bによって検出し、パウダーベッドの状態を確認する。
パウダーヒート工程が完了した直後のパウダーベッドは、正常な状態であれば粉末がスキージングされているため、全体が粉末に覆われており、バルク面が確認されない。CPU64は、2分割検出器16A,16Bの検出結果に基づいて取得した反射電子像信号からパウダーベッド全体が粉末に覆われていることを確認した場合に、パウダーベッドが正常であると判定する。CPU64が、パウダーベッドが正常であると判定した場合は、次の工程である本溶融工程に移行する。
一方、CPU64は、2分割検出器16A,16Bによって検出した電流からパウダーベッドの一部分にバルク面を確認した場合に、パウダーベッドに異常が発生したと判定する。この場合は、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、アフターヒートと同様のビームスキャンを行って現状のパウダーベッドを加熱する。そして、再度スキージング工程を行い、その後、再びパウダーヒート工程を行う。すなわち、CPU64がパウダーベッドに異常が発生したと判定した場合は、今回の層の造形についてアフターヒート工程からやり直す。
このように、第1の実施形態では、パウダーヒート工程の完了後に、パウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物9に欠陥が生じることを抑制することができる。
<2.第2の実施形態>
[3次元積層造形装置の構成]
第2の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成は、上述した第1の実施形態に係る3次元積層造形装置50の構成と同じである。したがって、ここでは、第2の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成についての説明を省略する。
[3次元積層造形処理]
第2の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理は、上述した第1の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理(図4〜図10参照)と同じである。したがって、ここでは、第2の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理についての説明を省略する。
〈パウダーヒート後パウダーベッド確認工程〉
第2の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程は、第1の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程と同じである。したがって、ここでは、第2の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程についての説明を省略する。
第2の実施形態では、パウダーヒート工程の完了後にパウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物9に欠陥が生じることを抑制することができる。
〈本溶融後パウダーベッド確認工程〉
図12は、3次元積層造形処理における本溶融後パウダーベッド確認工程を示す説明図である。
第2の実施形態では、上述した本溶融工程とアフターヒート工程との間に、本溶融後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、本溶融工程後のパウダーベッドに異常が発生したか否かを確認する。
本溶融後パウダーベッド確認工程では、まず、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、反射電子が検出できる程度に低いエミッション電流でパウダーベッドをスキャンする。次に、パウダーベッドをスキャンしたことにより発生した反射電子を、2分割検出器16A,16Bによって検出し、パウダーベッドの状態を確認する。
本溶融工程が完了した直後のパウダーベッドの形状は、正常な状態であれば、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程で確認したパウダーベッドの形状と同じである(但し、バルク面を除く)。CPU64は、2分割検出器16A,16Bによって検出した電流から得たパウダーベッドの形状(バルク面を除く)が、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程で確認したパウダーベッドの形状と同じである場合に、パウダーベッドが正常であると判定する。この場合は、次の工程であるアフターヒート工程に移行する。
一方、CPU64は、2分割検出器16A,16Bによって検出した電流から得たパウダーベッドの形状が、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程で確認したパウダーベッドの形状と異なる場合に、パウダーベッドに異常が発生したと判定する。この場合は、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御し、アフターヒートと同様のビームスキャンを行って現状のパウダーベッドを加熱する。
そして、3次元積層造形装置50は、再度スキージング工程を行い、その後、再びパウダーヒート工程を行う。パウダーヒート工程の完了後は、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、CPU64がパウダーベッドに異常が発生したと判定した場合は、今回の層の造形についてアフターヒート工程からやり直す。
このように、第2の実施形態では、本溶融工程の完了後にパウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。そして、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物9に欠陥が生じることを抑制することができる。
<3.第3の実施形態>
[3次元積層造形装置の構成]
第3の実施形態に係る3次元積層造形装置53の構成は、上述した第1の実施形態に係る3次元積層造形装置50の構成と同様であり、異なる点は、検出部である。したがって、ここでは、第3の実施形態に係る検出部についての説明し、第1の実施形態に係る3次元積層造形装置50の構成と共通の構成についての説明を省略する。
図13は、本発明の第3の実施形態に係る3次元積層造形装置の概略構成例を示す説明図である。
図13に示すように、第3の実施形態に係る3次元積層造形装置53は、真空容器1内の上部にカメラ31(検出部の一例)が配置されている。
カメラ31は、少なくともベースプレート10より少し小さい領域の画像を撮像する。パウダーベッドから造形物9が露出しないタイミングにおいて、パウダーベッドから造形物9が露出している画像が撮像された場合は、パウダーベッドに異常が発生したことを検出することができる。一方、パウダーベッドから造形物9が露出しないタイミングにおいて、パウダーベッドから造形物9が露出していない画像が撮像された場合は、パウダーベッドが正常であることを検出することができる。
[3次元積層造形処理]
第3の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理は、上述した第1の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理(図4〜図10参照)と同じである。したがって、ここでは、第3の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理についての説明を省略する。
〈パウダーヒート後パウダーベッド確認工程〉
第3の実施形態では、上述したパウダーヒート工程と本溶融工程との間に、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、パウダーヒート工程後のパウダーベッドに異常が発生したか否かを確認する。
第3の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程では、まず、不図示のカメラ駆動制御部がカメラ31を制御して、ベースプレート10より少し小さい領域の画像を撮像し、パウダーベッドの状態を確認する。
パウダーヒート工程が完了した直後のパウダーベッドは、正常な状態であれば粉末がスキージングされているため、全体が粉末に覆われており、造形物9(のバルク面)が確認されない。CPU64は、カメラ31によって撮像された画像からパウダーベッド全体が粉末に覆われていることを確認した場合に、パウダーベッドが正常であると判定する。この場合は、次の工程である本溶融工程に移行する。
一方、CPU64は、カメラ31によって撮像された画像からパウダーベッドの一部分に造形物9(のバルク面)を確認した場合に、パウダーベッドに異常が発生したと判定する。この場合は、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、アフターヒートと同様のビームスキャンを行って現状のパウダーベッドを加熱する。そして、再度スキージング工程を行い、その後、再びパウダーヒート工程を行う。すなわち、CPU64がパウダーベッドに異常が発生したと判定した場合は、今回の層の造形についてアフターヒート工程からやり直す。
このように、第3の実施形態では、パウダーヒート工程の完了後に、パウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物9に欠陥が生じることを抑制することができる。
<4.第4の実施形態>
[3次元積層造形装置の構成]
第4の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成は、上述した第3の実施形態に係る3次元積層造形装置53の構成と同じである。したがって、ここでは、第4の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成についての説明を省略する。
[3次元積層造形処理]
第4の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理は、上述した第1の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理(図4〜図10参照)と同じである。したがって、ここでは、第4の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理についての説明を省略する。
図14は、本発明の第4の実施形態に係る3次元積層造形装置によるカメラの撮像領域を示す図である。
図14に示すように、第4の実施形態では、本溶融工程後のパウダーベッドが正常である場合は、造形物9に干渉しない位置にダミー造形物32を造形する。
〈パウダーヒート後パウダーベッド確認工程〉
第4の実施形態では、上述したパウダーヒート工程と本溶融工程との間に、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、パウダーヒート工程後のパウダーベッドに異常が発生したか否かを確認する。
パウダーヒート後パウダーベッド確認工程では、まず、不図示のカメラ駆動制御部がカメラ31を制御して、ベースプレート10より少し小さい領域の画像を撮像し、パウダーベッドの状態を確認する。
パウダーヒート工程が完了した直後のパウダーベッドは、正常な状態であれば粉末がスキージングされているため、全体が粉末に覆われており、造形物9及びダミー造形物32のバルク面が確認されない。CPU64は、カメラ31によって撮像された画像からパウダーベッド全体が粉末に覆われていることを確認した場合に、パウダーベッドが正常であると判定する。この場合は、次の工程である本溶融工程に移行する。
一方、CPU64は、カメラ31によって撮像された画像からパウダーベッドの一部分にバルク面を確認した場合に、パウダーベッドに異常が発生したと判定する。この場合は、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、アフターヒートと同様のビームスキャンを行って現状のパウダーベッドを加熱する。そして、再度スキージング工程を行い、その後、再びパウダーヒート工程を行う。すなわち、CPU64がパウダーベッドに異常が発生したと判定した場合は、今回の層の造形についてアフターヒート工程からやり直す。
このように、第4の実施形態では、パウダーヒート工程の完了後にパウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物9に欠陥が生じることを抑制することができる。
〈本溶融後パウダーベッド確認工程〉
第4の実施形態では、上述した本溶融工程とアフターヒート工程との間に、本溶融後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、本溶融工程後のパウダーベッドに異常が発生したか否かを確認する。
本溶融後パウダーベッド確認工程では、まず、不図示のカメラ駆動制御部がカメラ31を制御して、ベースプレート10より少し小さい領域の画像を撮像し、パウダーベッドの状態を確認する。
本溶融工程が完了した直後のパウダーベッドが正常な状態であれば、ダミー造形物32(のバルク面)が露出されていない。CPU64は、カメラ31によって撮像した画像にダミー造形物32(のバルク面)が表れていない場合に、パウダーベッドが正常であると判定する。この場合は、ダミー造形物32を1層分でスライスした2次元形状領域を溶融する(ダミー造形物32を造形する)。その後、次の工程であるアフターヒート工程に移行する。
一方、CPU64は、カメラ31によって撮像した画像にダミー造形物32(のバルク面)が表れている場合に、パウダーベッドに異常が発生したと判定する。この場合は、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御し、アフターヒートと同様のビームスキャンを行って現状のパウダーベッドを加熱する。
次に、3次元積層造形装置53は、再度スキージング工程を行い、その後、再びパウダーヒート工程を行う。パウダーヒート工程の完了後は、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、第4の実施形態では、本溶融においてパウダーベッドに異常が発生した時には、ダミー造形物32の造形を行わずに、今回の層の造形についてアフターヒート工程からやり直す。
このように、第4の実施形態では、本溶融工程の完了後にパウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、ダミー造形物32の造形を行わずにアフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。そして、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物9に欠陥が生じることを抑制することができる。
<5.第5の実施形態>
[3次元積層造形装置の構成]
第5の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成は、上述した第1の実施形態に係る3次元積層造形装置50の構成と同じである。したがって、ここでは、第5の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成についての説明を省略する。
[3次元積層造形処理]
第5の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理は、上述した第1の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理(図4〜図10参照)と同じである。したがって、ここでは、第5の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理についての説明を省略する。
なお、第5の実施形態では、第4の実施形態と同様に、本溶融工程後のパウダーベッドが正常である場合に、造形物9に干渉しない位置にダミー造形物32を造形する(図14参照)。
〈パウダーヒート後パウダーベッド確認工程〉
第5の実施形態では、上述したパウダーヒート工程と本溶融工程との間に、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、パウダーヒート工程後のパウダーベッドに異常が発生したか否かを確認する。
パウダーヒート後パウダーベッド確認工程では、まず、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、反射電子が検出できる程度に低いエミッション電流でパウダーベッドをスキャンする。次に、パウダーベッドをスキャンしたことにより発生した反射電子を、2分割検出器16A,16Bによって検出し、パウダーベッドの状態を確認する。
パウダーヒート工程が完了した直後のパウダーベッドは、正常な状態であれば粉末がスキージングされているため、全体が粉末に覆われており、造形物9及びダミー造形物32のバルク面が確認されない。CPU64は、2分割検出器16A,16Bの検出結果に基づいて取得した反射電子像信号からパウダーベッド全体が粉末に覆われていることを確認した場合に、パウダーベッドが正常であると判定する。この場合は、次の工程である本溶融工程に移行する。
一方、CPU64は、2分割検出器16A,16Bによって検出した電流からパウダーベッドの一部分にバルク面を確認した場合に、パウダーベッドに異常が発生したと判定する。この場合は、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、アフターヒートと同様のビームスキャンを行って現状のパウダーベッドを加熱する。そして、再度スキージング工程を行い、その後、再びパウダーヒート工程を行う。すなわち、CPU64がパウダーベッドに異常が発生したと判定した場合は、今回の層の造形についてアフターヒート工程からやり直す。
このように、第5の実施形態では、パウダーヒート工程の完了後に、パウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物9に欠陥が生じることを抑制することができる。
〈本溶融後パウダーベッド確認工程〉
第5の実施形態では、上述した本溶融工程とアフターヒート工程との間に、本溶融後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、本溶融工程後のパウダーベッドに異常が発生したか否かを確認する。
本溶融後パウダーベッド確認工程では、まず、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、反射電子が検出できる程度に低いエミッション電流でパウダーベッドをスキャンする。次に、パウダーベッドをスキャンしたことにより発生した反射電子を、2分割検出器16A,16Bによって検出し、パウダーベッドの状態を確認する。
本溶融工程が完了した直後のパウダーベッドが正常な状態であれば、ダミー造形物32(のバルク面)が露出されていない。CPU64は、2分割検出器16A,16Bによって検出した電流から得たパウダーベッドにダミー造形物32(のバルク面)が表れていない場合に、パウダーベッドが正常であると判定する。この場合は、ダミー造形物32を1層分でスライスした2次元形状領域を溶融する(ダミー造形物32を造形する)。その後、次の工程であるアフターヒート工程に移行する。
一方、CPU64は、2分割検出器16A,16Bによって検出した電流から得たパウダーベッドにダミー造形物32(のバルク面)が表れている場合に、パウダーベッドに異常が発生したと判定する。この場合は、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御し、アフターヒートと同様のビームスキャンを行って現状のパウダーベッドを加熱する。そして、3次元積層造形装置50は、再度スキージング工程を行い、その後、再びパウダーヒート工程を行う。パウダーヒート工程の完了後は、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、CPU64がパウダーベッドに異常が発生したと判定した場合は、今回の層の造形についてアフターヒート工程からやり直す。
このように、第5の実施形態では、本溶融工程の完了後にパウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。そして、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物9に欠陥が生じることを抑制することができる。
<6.第6の実施形態>
[3次元積層造形装置の構成]
第6の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成は、上述した第1の実施形態に係る3次元積層造形装置50の構成と同様であり、異なる点は、検出部である。したがって、ここでは、第6の実施形態に係る検出部について説明し、第1の実施形態に係る3次元積層造形装置50の構成と共通の構成についての説明を省略する。
図15は、本発明の第6の実施形態に係る3次元積層造形装置の概略構成例を示す説明図である。
図15に示すように、第6の実施形態に係る3次元積層造形装置56は、真空容器1内の上部に投光部41と、受光部42が配置されている。これら投光部41及び受光部42は、検出部の一例である。
投光部41は、後述するダミー造形物32を形成する位置に対してレーザー光43を出射する。受光部42は、ダミー造形物32(のバルク面)によって反射されたレーザー光43を受光する。したがって、パウダーベッドにダミー造形物32(のバルク面)が露出されていない場合は、受光部42がレーザー光43を受光しない。
[3次元積層造形処理]
第6の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理は、上述した第1の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理(図4〜図10参照)と同じである。したがって、ここでは、第6の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理についての説明を省略する。
なお、第6の実施形態では、第4の実施形態と同様に、本溶融工程後のパウダーベッドが正常である場合に、造形物9に干渉しない位置にダミー造形物32を造形する(図14参照)。
〈パウダーヒート後パウダーベッド確認工程〉
第6の実施形態では、上述したパウダーヒート工程と本溶融工程との間に、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、パウダーヒート工程後のパウダーベッドに異常が発生したか否かを確認する。
第6の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程では、まず、不図示の投光制御部が投光部41を制御して、ダミー造形物32を形成する位置に対してレーザー光43を出射する。
パウダーヒート工程が完了した直後のパウダーベッドは、正常な状態であれば粉末がスキージングされているため、全体が粉末に覆われており、ダミー造形物32(のバルク面)が確認されない。CPU64は、受光部42がレーザー光43を受光しない場合に、パウダーベッドが正常であると判定する。この場合は、次の工程である本溶融工程に移行する。
一方、CPU64は、受光部42がレーザー光43を受光した場合に、パウダーベッドに異常が発生したと判定する。この場合は、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、アフターヒートと同様のビームスキャンを行って現状のパウダーベッドを加熱する。そして、再度スキージング工程を行い、その後、再びパウダーヒート工程を行う。すなわち、CPU64がパウダーベッドに異常が発生したと判定した場合は、今回の層の造形についてアフターヒート工程からやり直す。
このように、第6の実施形態では、パウダーヒート工程の完了後に、パウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物9に欠陥が生じることを抑制することができる。
なお、第6の実施形態においても、本溶融後パウダーベッド確認工程を行ってもよい。
すなわち、本溶融工程の完了後にパウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドが正常であると判定した場合は、ダミー造形物32を1層分でスライスした2次元形状領域を溶融(ダミー造形物32を造形)し、その後、アフターヒート工程に移行する。
一方、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。そして、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物9に欠陥が生じることを抑制することができる。
<7.第7の実施形態>
[3次元積層造形装置の構成]
第7の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成は、上述した第3の実施形態に係る3次元積層造形装置53の構成と同じである。したがって、ここでは、第7の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成についての説明を省略する。
[3次元積層造形処理]
第7の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理は、上述した第1の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理(図4〜図10参照)と同じである。したがって、ここでは、第7の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理についての説明を省略する。
図16は、本発明の第7の実施形態に係る3次元積層造形装置によるカメラの撮像領域を示す図である。
図16に示すように、第7の実施形態では、3つの造形物47,48,49を造形する。また、本溶融工程における電子ビームの照射は、造形物47、造形物48、造形物49の順に行う。
〈パウダーヒート後パウダーベッド確認工程〉
第7の実施形態では、上述したパウダーヒート工程と本溶融工程との間に、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、パウダーヒート工程後のパウダーベッドに異常が発生したか否かを確認する。
第7の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程は、第3の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程と同じである。したがって、ここでは、第7の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程についての説明を省略する。
〈本溶融中パウダーベッド確認〉
第7の実施形態では、上述した本溶融工程中に、本溶融中パウダーベッド確認を行う。本溶融工程では、造形物48を形成する本溶融の終了後、不図示のカメラ駆動制御部がカメラ31を制御して、少なくとも造形物49を形成する位置を含む領域の画像を撮像し、パウダーベッドの状態を確認する。
造形物48を形成するための本溶融の終了後におけるパウダーベッドが正常な状態であれば、最後に造形する造形物49(のバルク面)が露出されていない。CPU64は、カメラ31によって撮像した画像に造形物49(のバルク面)が表れていない場合に、パウダーベッドが正常であると判定する。この場合は、造形物49を形成するための本溶融を行い、その後、次の工程であるアフターヒート工程に移行する。
一方、CPU64は、カメラ31によって撮像した画像に造形物49(のバルク面)が表れている場合に、パウダーベッドに異常が発生したと判定する。この場合は、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御し、アフターヒートと同様のビームスキャンを行って現状のパウダーベッドを加熱する。次に、3次元積層造形装置53は、再度スキージング工程を行い、その後、再びパウダーヒート工程を行う。パウダーヒート工程の完了後は、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、CPU64がパウダーベッドに異常が発生したと判定した場合は、今回の層の造形についてアフターヒート工程からやり直す。
このように、第7の実施形態では、本溶融工程中にパウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。そして、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物47〜49に欠陥が生じることを抑制することができる。
<8.第8の実施形態>
[3次元積層造形装置の構成]
第8の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成は、上述した第1の実施形態に係る3次元積層造形装置50の構成と同じである。したがって、ここでは、第8の実施形態に係る3次元積層造形装置の構成についての説明を省略する。
[3次元積層造形処理]
第8の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理は、上述した第1の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理(図4〜図10参照)と同じである。したがって、ここでは、第7の実施形態に係る基本的な3次元積層造形処理についての説明を省略する。
また、第8の実施形態では、第7の実施形態と同様に、3つの造形物47,48,49を造形する(図16参照)。そして、本溶融工程における電子ビームの照射は、造形物47、造形物48、造形物49の順に行う。
〈パウダーヒート後パウダーベッド確認工程〉
第8の実施形態では、上述したパウダーヒート工程と本溶融工程との間に、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、パウダーヒート工程後のパウダーベッドに異常が発生したか否かを確認する。
第8の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程は、第1の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程と同じである。したがって、ここでは、第8の実施形態に係るパウダーヒート後パウダーベッド確認工程についての説明を省略する。
〈本溶融中パウダーベッド確認〉
第8の実施形態では、上述した本溶融工程中に、本溶融中パウダーベッド確認を行う。本溶融工程では、造形物48を形成する本溶融の終了後、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御して、反射電子が検出できる程度に低いエミッション電流でパウダーベッドにおける少なくとも造形物49を形成する位置を含む領域をスキャンする。そして、少なくとも造形物49を形成する位置を含む領域をスキャンしたことにより発生した反射電子を、2分割検出器16A,16Bによって検出し、パウダーベッドの状態を確認する。
造形物48を形成するための本溶融の終了後におけるパウダーベッドが正常な状態であれば、最後に造形する造形物49(のバルク面)が露出されていない。CPU64は、2分割検出器16A,16Bによって検出した電流から造形物49(のバルク面)が粉末に覆われていることを確認した場合に、パウダーベッドが正常であると判定する。パウダーベッドが正常であると判定した場合は、造形物49を形成するための本溶融を行い、その後、次の工程であるアフターヒート工程に移行する。
一方、CPU64は、2分割検出器16A,16Bによって検出した電流から造形物49(のバルク面)が表れていることを確認した場合に、パウダーベッドに異常が発生したと判定する。パウダーベッドに異常が発生したと判定した場合は、電子銃駆動制御部67(図3参照)が電子銃2を制御し、アフターヒートと同様のビームスキャンを行って現状のパウダーベッドを加熱する。次に、再度スキージング工程を行い、その後、再びパウダーヒート工程を行う。パウダーヒート工程の完了後は、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。すなわち、CPU64がパウダーベッドに異常が発生したと判定した場合は、今回の層の造形についてアフターヒート工程からやり直す。
このように、第8の実施形態では、本溶融工程中にパウダーベッドが正常な状態であるか否かを確認して、パウダーベッドに異常が確認された場合は、アフターヒート工程、スキージング工程、及びパウダーヒート工程を再度行う。そして、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う。これにより、パウダーベッドが正常な状態で本溶融工程を行うことが可能になる。その結果、造形物47〜49に欠陥が生じることを抑制することができる。
以上、本発明は上述した各実施の形態例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された要旨を逸脱しない限りにおいて、その他種々の変形例、応用例を取り得ることは勿論である。
例えば、上記した実施の形態例は本発明をわかりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施の形態例の構成の一部を他の実施の形態例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施の形態例の構成に他の実施の形態例の構成を加えることも可能である。また、各実施の形態例の構成の一部について、他の構成の追加、置換、削除をすることが可能である。
例えば、上述の第1〜第6の実施形態では、少なくともパウダーヒート後パウダーベッド確認工程を行う例を説明した。しかし、本発明に係る3次元積層造形装置としては、少なくとも本溶融後パウダーベッド確認工程を行うものであってもよい。また、上述の第7及び第8の実施形態では、パウダーヒート後パウダーベッド確認工程と本溶融中パウダーベッド確認を行う例を説明した。しかし、本発明に係る3次元積層造形装置としては、本溶融中パウダーベッド確認のみを行うものであってもよい。
また、上述の第1〜第6の実施形態では、パウダーヒート工程後や本溶融工程後に、検出部(2分割検出器16A,16B、カメラ31、投光部41及び受光部42)によってパウダーベッドの状態を確認した。しかし、本発明に係る3次元積層造形装置としては、パウダーベッドの状態を任意のタイミングで確認することができる。例えば、スキージング工程後にパウダーベッドの状態を確認することにより、スキージアーム13やブレード14に不具合が生じたことを検知するようにしてもよい。
また、上述の第1〜第8の実施形態では、パウダーベッドに異常が発生したと判定した場合に、パウダーベッドを加熱し、再度スキージング工程を行うようにした。しかし、本発明に係る3次元積層造形装置としては、パウダーベッドに異常が発生したと判定した場合に、3次元積層造形処理を中止するようにしてもよい。
また、上述の第1〜第8の実施形態では、テーブル3a上に金属粉末8を供給した。しかし、本発明に係る3次元積層造形装置としては、金属粉末(粉末材料)をベースプレートよりも下からせり上げることより、ベースプレート上に金属粉末を供給するようにしてもよい。
1…真空容器、 2…電子銃(ビーム発生部)、 3…造形ボックス、 4…造形ボックス固定部、 5…Z駆動機構、 6…粉末台、 7…シール部材、 8…金属粉末、 9,47,48,49…造形物、 10…ベースプレート、 11…粉末タンク、 12…定量供給器、 13…スキージアーム、 14…ブレード、 16A,16B…2分割検出器(検出部)、 19…マスクカバー、 21…電子ビーム、 22…仮焼結体、 31…カメラ(検出部)、 32…ダミー造形物、 41…投光部、 42…受光部、 50,53,56…3次元積層造形装置、 60…造形制御装置

Claims (11)

  1. ベースプレートと、
    前記ベースプレートを鉛直方向に移動させる駆動部と、
    前記ベースプレートの上に粉末試料を供給して粉末層を積層する粉末供給部と、
    前記粉末層に照射する電子ビームを発生するビーム発生部と、
    前記駆動部、前記粉末供給部、及び前記ビーム発生部を制御し、前記粉末層の最上層であるパウダーベッドに電子ビームを照射させて、造形モデルを1層分でスライスした2次元形状領域を本溶融することで3次元造形物を造形する制御部と、
    前記パウダーベッドの状態を検出する検出部と、を備える
    3次元積層造形装置。
  2. 前記制御部は、前記検出部の検出結果から前記パウダーベッドの状態が正常でないと判定した場合に、今回の層の造形を行うために前記粉末供給部による前記粉末層の積層を再度行わせる
    請求項1に記載の3次元積層造形装置。
  3. 前記検出部は、前記本溶融を行う前に、前記パウダーベッドの状態を検出する
    請求項1に記載の3次元積層造形装置。
  4. 前記検出部は、前記本溶融を行った後に、前記パウダーベッドの状態を検出する
    請求項1に記載の3次元積層造形装置。
  5. 前記検出部は、前記ビーム発生部から発生した電子ビームが、前記パウダーベッドに照射されたときに発生する反射電子を検出する検出器である
    請求項1に記載の3次元積層造形装置。
  6. 前記検出部は、前記パウダーベッドに光を照射する投光部と、前記パウダーベッドからの反射光を受光する受光部とを有する
    請求項1に記載の3次元積層造形装置。
  7. 前記検出部は、前記パウダーベッドを撮像するカメラである
    請求項1に記載の3次元積層造形装置。
  8. 前記パウダーベッドにおける前記電子ビームが照射される領域には、ダミー造形物が造形されるスペースが設けられ、
    前記検出部は、前記本溶融を行った後に、前記パウダーベッドの状態を検出し、
    前記制御部は、前記検出部の検出結果から前記パウダーベッドの状態が正常であると判定した場合に、前記ダミー造形物の造形を行う
    請求項1に記載の3次元積層造形装置。
  9. 前記ビーム発生部が前記パウダーベッドに電子ビームを照射する際に、前記粉末層をシールドするマスクカバーを備え、
    前記マスクカバーは、前記電子ビームを通過させる開口部と、前記パウダーベッドの前記電子ビームが照射される領域の周囲を覆うマスク部とを有する
    請求項1に記載の3次元積層造形装置。
  10. 粉末供給部がベースプレートの上に粉末試料を供給して粉末層を積層するスキージング工程と、
    ビーム発生部が前記粉末層の最上層であるパウダーベッドに対して電子ビームを照射して、前記パウダーベッドの表面を加熱するパウダーヒート工程と、
    前記パウダーヒート工程後に、検出部が前記パウダーベッドの状態を検出し、制御部が前記検出部の検出結果から前記パウダーベッドが正常であるか否かを判定するパウダーベッド確認工程と、
    前記パウダーベッド確認工程において前記パウダーベッドが正常であると判定された場合に、前記パウダーベッドに対して電子ビームを照射して、造形モデルを1層分でスライスした2次元形状領域を溶融する本溶融工程と、を備え、
    前記パウダーベッド確認工程において前記パウダーベッドが正常でないと判定された場合は、今回の層の造形について現状のパウダーベッドを加熱するアフターヒート工程、前記スキージング工程、及び前記パウダーヒート工程を再度行う
    3次元積層造形方法。
  11. 粉末供給部がベースプレートの上に粉末試料を供給して粉末層を積層するスキージング工程と、
    ビーム発生部が前記粉末層の最上層であるパウダーベッドに対して電子ビームを照射して、前記パウダーベッドの表面を加熱するパウダーヒート工程と、
    加熱された前記パウダーベッドに対して電子ビームを照射して、造形モデルを1層分でスライスした2次元形状領域を溶融する本溶融工程と、
    前記本溶融工程後に、検出部が前記パウダーベッドの状態を検出し、制御部が前記検出部の検出結果から前記パウダーベッドが正常であるか否かを判定するパウダーベッド確認工程と、を備え、
    前記パウダーベッド確認工程において前記パウダーベッドが正常であると判定された場合は、次の層の造形を行い、
    前記パウダーベッド確認工程において前記パウダーベッドが正常でないと判定された場合は、今回の層の造形について現状のパウダーベッドを加熱するアフターヒート工程、前記スキージング工程、及び前記パウダーヒート工程を再度行う
    3次元積層造形方法。
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