JP2021040900A - 据付調整量算出方法及び据付調整量算出システム - Google Patents
据付調整量算出方法及び据付調整量算出システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2021040900A JP2021040900A JP2019164734A JP2019164734A JP2021040900A JP 2021040900 A JP2021040900 A JP 2021040900A JP 2019164734 A JP2019164734 A JP 2019164734A JP 2019164734 A JP2019164734 A JP 2019164734A JP 2021040900 A JP2021040900 A JP 2021040900A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adjustment amount
- installation adjustment
- component
- calculating
- amount calculation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000009434 installation Methods 0.000 title claims abstract description 105
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 title claims abstract description 91
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 35
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 238000002560 therapeutic procedure Methods 0.000 claims description 27
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 22
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 13
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 5
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000001932 seasonal effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 hydrogen ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Radiation-Therapy Devices (AREA)
Abstract
Description
Claims (10)
- 複数の部品を有する装置の据付調整量算出システムにより実行される据付調整量算出方法であって、
前記複数の部品のそれぞれについて複数点の三次元座標位置を計測する工程と、
前記三次元座標位置と前記部品の形状情報とに基づいて前記部品を認識する工程と、
認識した前記部品間の相対位置を算出する工程と、
前記装置の構成と前記相対位置とに基づいて前記部品の据付調整量を算出する工程と
を有する据付調整量算出方法。 - 前記装置は粒子線治療装置であり、
前記据付調整量を算出する工程は、前記部品間の相対位置及び前記部品毎の粒子線座標情報に基づいて前記部品の据付調整量を算出する工程を含む
ことを特徴とする請求項1に記載の据付調整量算出方法。 - 前記部品を認識する工程は、前記三次元座標位置を複数のグループに分類し、分類した前記三次元座標位置と前記形状情報とに基づいて前記部品を認識する工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の据付調整量算出方法。
- 前記部品を認識する工程は、分類した前記三次元座標位置と前記形状情報との適合率を算出し、この適合率に基づいて前記部品を認識する工程を含むことを特徴とする請求項3に記載の据付調整量算出方法。
- 前記部品を認識する工程は、前記適合率に基づいて認識した前記部品と前記グループに分類された前記三次元座標位置とに基づいて前記三次元座標位置の計測基準点から前記部品の位置を算出する工程を含むことを特徴とする請求項4に記載の据付調整量算出方法。
- 前記据付調整量を算出する工程は、前記部品間の前記相対位置に基づいて各部品の前記粒子線座標情報を推定し、推定した前記粒子線座標情報と前記粒子線座標情報とに基づいて前記部品の前記据付調整量を算出する工程を含むことを特徴とする請求項2に記載の据付調整量算出方法。
- 前記据付調整量を算出する工程は、算出された前記部品間の前記相対位置と前記部品間の目標相対位置とに基づいて前記部品の前記据付調整量を算出する工程を有する
ことを特徴とする請求項6に記載の据付調整量算出方法。 - 前記据付調整量を算出する工程は、算出した前記据付調整量に基づいて各部品の前記粒子線座標情報を再度推定し、再度推定した前記粒子線座標情報と前記粒子線座標情報とに基づいて前記部品の前記据付調整量を再度算出する工程を含むことを特徴とする請求項7に記載の据付調整量算出方法。
- 前記据付調整量を算出する工程は、算出された前記部品間の前記相対位置と前記目標相対位置との差が最も大きい前記部品の前記据付調整量を算出する工程を有することを特徴とする請求項8に記載の据付調整量算出方法。
- 装置を構成する複数の部品の据付調整量を算出する据付調整量算出システムであって、
計測装置、記憶装置及び演算装置を有し、
前記計測装置は前記部品のそれぞれについて複数点の三次元座標位置を計測し、
前記記憶装置には前記装置の構成及び前記部品の形状情報が格納され、
前記演算装置は、前記三次元座標位置と前記形状情報とに基づいて前記部品を認識し、認識した前記部品間の相対位置を算出し、算出した前記相対位置に基づいて前記部品の据付調整量を算出する
ことを特徴とする据付調整量算出システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019164734A JP7313241B2 (ja) | 2019-09-10 | 2019-09-10 | 据付調整量算出方法及び据付調整量算出システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019164734A JP7313241B2 (ja) | 2019-09-10 | 2019-09-10 | 据付調整量算出方法及び据付調整量算出システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021040900A true JP2021040900A (ja) | 2021-03-18 |
JP7313241B2 JP7313241B2 (ja) | 2023-07-24 |
Family
ID=74861387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019164734A Active JP7313241B2 (ja) | 2019-09-10 | 2019-09-10 | 据付調整量算出方法及び据付調整量算出システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7313241B2 (ja) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006051216A (ja) * | 2004-08-12 | 2006-02-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 放射線治療装置、放射線治療装置用治療台、及び放射線治療装置の座標校正方法 |
JP2006344466A (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Hitachi Plant Technologies Ltd | 電磁石の位置調整装置 |
JP2008522733A (ja) * | 2004-12-06 | 2008-07-03 | ノモス コーポレイション | 放射線治療装置の幾何学的形状を分析するためのシステム、ソフトウェア、及び関連する方法 |
JP2009269110A (ja) * | 2008-05-02 | 2009-11-19 | Olympus Corp | 組立装置 |
JP2014035340A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-24 | Ohbayashi Corp | 建設部材の設置精度の測定システム及び方法 |
WO2016084218A1 (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 三菱電機株式会社 | 粒子線照射設備 |
JP2018024502A (ja) * | 2016-08-09 | 2018-02-15 | 株式会社日立ビルシステム | エレベータ機械室図面生成装置、エレベータ機械室モデリングデータ生成装置、エレベータ機械室図面生成方法、及びエレベータ機械室モデリングデータ生成方法 |
-
2019
- 2019-09-10 JP JP2019164734A patent/JP7313241B2/ja active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006051216A (ja) * | 2004-08-12 | 2006-02-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 放射線治療装置、放射線治療装置用治療台、及び放射線治療装置の座標校正方法 |
JP2008522733A (ja) * | 2004-12-06 | 2008-07-03 | ノモス コーポレイション | 放射線治療装置の幾何学的形状を分析するためのシステム、ソフトウェア、及び関連する方法 |
JP2006344466A (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Hitachi Plant Technologies Ltd | 電磁石の位置調整装置 |
JP2009269110A (ja) * | 2008-05-02 | 2009-11-19 | Olympus Corp | 組立装置 |
JP2014035340A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-24 | Ohbayashi Corp | 建設部材の設置精度の測定システム及び方法 |
WO2016084218A1 (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 三菱電機株式会社 | 粒子線照射設備 |
US20170236631A1 (en) * | 2014-11-28 | 2017-08-17 | Mitsubishi Electric Corporation | Particle beam irradiation equipment |
JP2018024502A (ja) * | 2016-08-09 | 2018-02-15 | 株式会社日立ビルシステム | エレベータ機械室図面生成装置、エレベータ機械室モデリングデータ生成装置、エレベータ機械室図面生成方法、及びエレベータ機械室モデリングデータ生成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7313241B2 (ja) | 2023-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5480496B2 (ja) | 荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | |
CN104122758B (zh) | 绘画装置和物品的制造方法 | |
JP6155044B2 (ja) | 電子ビーム描画装置および電子ビーム描画方法 | |
KR101532033B1 (ko) | 레이더 반사 면적 측정 장치 및 방법 | |
US20060169922A1 (en) | Ion implant ion beam parallelism and direction integrity determination and adjusting | |
KR20120088568A (ko) | 하전 입자빔 묘화 장치 | |
CN107648749A (zh) | 放射治疗系统及其束流控制装置和束流准直方法 | |
JP2002202122A (ja) | 2次元距離画像センサのキャリブレーション方法 | |
US7462844B2 (en) | Method, system, and apparatus for improving doping uniformity in high-tilt ion implantation | |
CN104781908A (zh) | 图像处理装置、基于自组装光刻技术的图案生成方法以及计算机程序 | |
JP2021040900A (ja) | 据付調整量算出方法及び据付調整量算出システム | |
JP2022189968A (ja) | 中性子捕捉療法システム | |
JP6091730B1 (ja) | 粒子線治療装置 | |
US20140158884A1 (en) | Method for operating a particle beam device and/or for analyzing an object in a particle beam device | |
US20210040604A1 (en) | Ion implanter and ion implantation method | |
JP2018159693A (ja) | 情報処理プログラム、情報処理方法、および情報処理装置 | |
JP2019008873A (ja) | 画像取得システムおよび画像取得方法 | |
Latoschik et al. | Augmenting a laser pointer with a diffraction grating for monoscopic 6dof detection | |
JP6009825B2 (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | |
Okayasu et al. | Control survey and analysis for the KEK e−/e+ injector linac | |
JP2009278020A (ja) | データの検証方法および荷電粒子ビーム描画装置 | |
JP6908479B2 (ja) | Mems製造システムおよびmems製造方法 | |
Peñas et al. | A multi-shot target-wheel assembly for high-repetition-rate, laser-driven proton acceleration | |
KR20190055419A (ko) | 3차원 정보 생성을 위한 카메라 자세 벡터 보정 방법 | |
JP2017228650A (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220203 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20221223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230110 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20230313 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230405 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230620 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230711 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7313241 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |