JP2020514075A - 透過または反射光学系の製造方法およびレンズ - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (42)
- 素材(2)から透過または反射光学系(1)を製造する方法であって、除去レーザ(3)を用いて前記素材(2)に材料除去部(4)を生ぜしめる方法において、
前記レーザが前記素材に当たる領域において前記素材を蒸発させることにより、材料除去部を生ぜしめ、前記除去レーザ(3)のパルス長は、1ns未満、好適には3fs〜100fsまたは100fs〜10psであることを特徴とする、方法。 - 前記除去レーザ(3)により前加工した前記素材(2)を、研磨レーザ(20)により後加工する、請求項1記載の方法。
- 前記素材はプラスチックから製造されている、請求項1または2記載の方法。
- 前記素材(2)はアクリレート(8)を有している、請求項1から3までのいずれか1項記載の方法。
- 前記素材(2)は、射出成形または押出し成形により製造されている、請求項1から4までのいずれか1項記載の方法。
- 前記素材は、ガラス、金属またはセラミックから製造されている、請求項1または2記載の方法。
- 前記素材は、粉末状、液状またはガス状の材料から付加製造により製造されている、請求項1から4までのいずれか1項および/または請求項6記載の方法。
- 密度勾配を有する素材が用いられる、請求項1から7までのいずれか1項記載の方法。
- 横断面が円形の素材(40)が用いられ、該素材(40)は中心(41)に向かって、縁部(42)に向かう光学密度とは異なる光学密度を有している、請求項1から8までのいずれか1項記載の方法。
- 除去中および/または研磨中のパルスエネルギを変化させる、請求項1から9までのいずれか1項記載の方法。
- 各レーザパルス照射の後あるいは1つまたは複数の層を加工した後で、前記光学系(1)の、加工された表面領域の形状(6)を測定する、請求項1から10までのいずれか1項記載の方法。
- 加工中に、処理温度をパイロメータ(7)により監視しかつ/または調整する、請求項1から11までのいずれか1項記載の方法。
- 1回のパルスのパルスエネルギ分布は局所的に非対称である、請求項1から12までのいずれか1項記載の方法。
- 円形面または楕円形面における1回のパルス(70)のパルスエネルギ分布は、半径方向において少なくとも1つの最大値(71)を有している、請求項1から13までのいずれか1項記載の方法。
- 加工中に前記パルスエネルギ分布を、光線を横断する方向において変化させる、請求項1から14までのいずれか1項記載の方法。
- 湾曲した光学系の加工中に、レーザ光線(82)の向きを、該レーザ光線(82)と光学系との交点(84)における接平面(83)に対して実質的に垂直に保つ、請求項1から15までのいずれか1項記載の方法。
- 加工中に前記素材を移動させる、請求項1から16までのいずれか1項記載の方法。
- 前記素材は、一方の面では対称に形成されておりかつ他方の面では非対称にまたは自由形状として加工される、請求項1から17までのいずれか1項記載の方法。
- 前記除去および/または前記研磨により、前記光学系の表面の光学密度を的確に変化させ、変化させられた屈折率が反射を阻止するようにする、請求項1から18までのいずれか1項記載の方法。
- 前記レーザ光線により、前記素材の前記材料を変化させ、完成したレンズが光学的な密度勾配を有するようにする、請求項1から19までのいずれか1項記載の方法。
- 前記除去レーザが1パルス当たり0.01〜10μm、好適には0.02μm〜5μm、特に好適には0.02μm〜0.5μmの材料除去量を生ぜしめるように、前記除去レーザを操作する、請求項1から20までのいずれか1項記載の方法。
- 前記除去レーザは、100〜1200nm、好適には特に193nm〜370nm等の400nm未満のレーザ波長でもって操作される、請求項1から21までのいずれか1項記載の方法。
- 前記除去レーザの焦点直径は、5〜50μm、好適には約20μmである、請求項1から22までのいずれか1項記載の方法。
- 前記除去レーザの走査速度は、500〜5000mm/s、好適には約1000mm/sである、請求項1から23までのいずれか1項記載の方法。
- 前記除去レーザの前記パルスエネルギは、0.1μJ〜10μJ、好適には約1μJである、請求項1から24までのいずれか1項記載の方法。
- 前記除去レーザの繰返し数は、5kHz〜5000kHz、好適には50kHz〜200kHzである、請求項1から25までのいずれか1項記載の方法。
- 前記除去レーザの前記レーザ光線により、まず目標形状から間隔をおいて、前記材料の少なくとも50%が除去されるまで該材料を除去し、次いで初めて前記目標形状付近の領域において、前記材料を除去する、請求項1から26までのいずれか1項記載の方法。
- 前記表面に対する個々のレーザパルスにより除去層内に形成される各除去凹部の間隔は、一定ではない、請求項1から27までのいずれか1項記載の方法。
- 前記研磨レーザをパルス化または変調して、1μs超のパルス長でもって操作する、請求項1から28までのいずれか1項記載の方法。
- 前記研磨レーザを、0.1μm〜100μm、好適には0.1μm〜0.4μmまたは9μm〜11μmの範囲内のレーザ波長でもって操作する、請求項1から29までのいずれか1項記載の方法。
- 前記研磨レーザを連続的に操作する、請求項1から30までのいずれか1項記載の方法。
- 前記研磨レーザはワークにおいて、10mm未満、好適には0.1mm〜8mmの光線直径を有している、請求項1から31までのいずれか1項記載の方法。
- 前記研磨レーザはワークにおいて、研磨すべき面以上の光線直径を有している、請求項1から32までのいずれか1項記載の方法。
- 前記研磨レーザを、1〜100mm/sの送り速度で移動させる、請求項1から33までのいずれか1項記載の方法。
- 前記研磨レーザは、500mm/s〜20000mm/sの走査速度での走査移動に基づき、「準線形」に形成される、請求項1から34までのいずれか1項記載の方法。
- 前記研磨レーザは、1〜500W、好適には約100〜300Wの平均レーザ出力でもって操作される、請求項1から35までのいずれか1項記載の方法。
- 前記研磨レーザにより複数回の通過、好適には3〜30回の通過が実施される、請求項1から36までのいずれか1項記載の方法。
- 前記研磨レーザは、少なくとも前記研磨すべき面の延在長さと同じ長さの線長でもって操作される、請求項1から37までのいずれか1項記載の方法。
- 特に請求項1から38までのいずれか1項記載の方法により製造されたレンズにおいて、該レンズの所定の領域に、別の領域におけるよりも少なくとも1%だけ低い密度を有することを特徴とする、レンズ。
- 前記レンズは、表面領域と核心領域とを有しており、前記表面領域の密度は、前記核心領域におけるよりも高い、請求項39記載のレンズ。
- 前記レンズは、円形横断面および半径方向の密度勾配を有している、請求項39または40記載のレンズ。
- 前記レンズは、入射光線の5%未満、好適には1%未満を反射する、請求項39から41までのいずれか1項記載のレンズ。
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