JP2020201146A - パラメータ推定装置、パラメータ推定方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の一実施形態に係るパラメータ推定装置において、前記データ同化は、アンサンブルカルマンフィルタ又は粒子フィルタに基づくものである。
本発明の一実施形態に係るパラメータ推定装置において、前記モデルパラメータは、境界条件、材料パラメータ、計算格子の形状、計算格子の作成手法又はサンプリング周期のいずれかである。
本発明の一実施形態に係るパラメータ推定装置において、前記画像計測は、デジタル画像相関法に基づくものである。
本発明の一実施形態に係るパラメータ推定装置において、前記構造解析シミュレーションは、有限要素法に基づくものである。
本発明の一実施形態に係るパラメータ推定方法は、構造物の表面を複数の計算点に離散化し、前記構造物に荷重を与えた際の前記計算点におけるひずみ又はひずみ速度を画像計測により観測する画像計測ステップと、前記構造物を複数の計算点に離散化し、構造解析シミュレーションを実施する構造解析シミュレーションステップと、前記構造解析シミュレーションにおける計算点と、前記画像計測における計算点と、を対応させた観測点を設定し、前記観測点における観測値を取得する観測値取得ステップと、前記観測値を用いてデータ同化を実施することで、複数のモデルパラメータを同時推定するパラメータ推定ステップと、を有する。
本発明の一実施形態に係るプログラムは、コンピュータに上記方法を実行させるためのプログラムである。
図1は、パラメータ推定装置1の概略的なハードウェア構成を示すブロック図である。パラメータ推定装置1は、CPU11、揮発性メモリ13、不揮発性メモリ14、インタフェース15、インタフェース16、バス20、入出力装置70、撮影装置80を有する情報処理装置である。
本発明の実施例として次の実験を行った。アルミニウム合金A5052を用いた単軸引張試験を実施し、デジタル画像相関法(DIC)を用いて試験片表面のひずみを計測した。試験片形状はJIS Z2241 13A号、厚さは2mmである。試験片表面には、スプレーを用いてDIC計測用に白黒のランダムなパターンを塗布した。図3(a)に、試験片表面を拡大した画像を示す。
11 CPU
13 揮発性メモリ
14 不揮発性メモリ
15 インタフェース
16 インタフェース
20 バス
70 入出力装置
80 撮影装置
101 画像計測部
103 構造解析シミュレーション部
105 観測値取得部
107 パラメータ推定部
Claims (7)
- 構造物の表面を複数の計算点に離散化し、前記構造物に荷重を与えた際の前記計算点におけるひずみ又はひずみ速度を画像計測により観測する画像計測部と、
前記構造物を複数の計算点に離散化し、構造解析シミュレーションを実施する構造解析シミュレーション部と、
前記構造解析シミュレーションにおける計算点と、前記画像計測における計算点と、を対応させた観測点を設定し、前記観測点における観測値を取得する観測値取得部と、
前記観測値を用いてデータ同化を実施することで、複数のモデルパラメータを同時推定するパラメータ推定部と、を有する
パラメータ推定装置。 - 前記データ同化は、アンサンブルカルマンフィルタ又は粒子フィルタに基づくものである
請求項1記載のパラメータ推定装置。 - 前記モデルパラメータは、境界条件、材料パラメータ、計算格子の形状、計算格子の作成手法又はサンプリング周期のいずれかである
請求項1記載のパラメータ推定装置。 - 前記画像計測は、デジタル画像相関法に基づくものである
請求項1記載のパラメータ推定装置。 - 前記構造解析シミュレーションは、有限要素法に基づくものである
請求項1記載のパラメータ推定装置。 - 構造物の表面を複数の計算点に離散化し、前記構造物に荷重を与えた際の前記計算点におけるひずみ又はひずみ速度を画像計測により観測する画像計測ステップと、
前記構造物を複数の計算点に離散化し、構造解析シミュレーションを実施する構造解析シミュレーションステップと、
前記構造解析シミュレーションにおける計算点と、前記画像計測における計算点と、を対応させた観測点を設定し、前記観測点における観測値を取得する観測値取得ステップと、
前記観測値を用いてデータ同化を実施することで、複数のモデルパラメータを同時推定するパラメータ推定ステップと、を有する
パラメータ推定方法。 - コンピュータに請求項6記載の方法を実行させるためのプログラム。
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