JP2020138426A - 画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、各実施形態において想定する画像記録装置としての、インクジェットプリンタの模式図である。プリンタ10は、その筐体内に記録ヘッド100を備える。記録ヘッド100は、所謂フルラインタイプの記録ヘッドであり、ブラック、シアン、マゼンタ、イエローの各インク色に対応した4つのノズル列を有する。各ノズル列にはインクを吐出するノズルが、一定の間隔でX方向に配列されている。例えば、長さが15インチで600dpiのノズル列の場合は、約9000個のノズルがX方向に並んでいることになる。
図2は、上述のプリンタ10を含む画像形成システムのハードウェア構成の一例を示すブロック図である。この画像形成システムは、図1に示したプリンタ10と、そのホスト装置としてのパーソナルコンピュータ(PC)20を有する。
図3は、プリンタ10が有するプリント処理回路216の内部構成を示す機能ブロック図である。プリント処理回路216は、色変換部301、色分解部302、ヘッドシェーディング部303、ガンマ補正部304、量子化部305を有する。以下、各部について説明する。
続いて、ヘッドシェーディング部303におけるシェーディング補正について説明する。このシェーディング補正は、色版毎のインク値画像それぞれに対して同様に適用される。以下では、ブラックのインク値画像に適用する場合を例に説明を行い、他の色版については省略するものとする。
Daft_K(x,y)=1D-LUT_K_x(Dpre_K(x,y))・・・式(1)
各実施形態の説明に入る前に、本発明の課題について確認しておく。まず、従来手法によるノズル毎の階調再現関数の導出について説明する。ノズル毎の階調再現関数は、記録ヘッド100が有するノズル列毎に導出される。導出方法は各ノズル列で共通なので、ここではブラックのノズル列101を例として説明を行う。
図7は、本実施形態に係る、ノズル毎の階調再現関数I_x(d)の導出処理を実現する、ホストPC20の機能ブロック図である。そして、図8は、本実施形態に係る、ノズル毎の階調再現関数I_x(d)の導出処理の流れを示すフローチャートである。従来技術と同様、ノズル毎の階調再現関数I_x(d)の導出は、各ノズル列で共通なので、以下では、ブラックのノズル列101を例として説明するものとする。なお、以下の説明において「S」はステップを意味する。
ここで、前述の「テスト画像パラメータ」について説明する。本実施形態のテスト画像パラメータは、メインマーカーの配置情報、メインマーカーの形状情報、サブマーカーの配置情報、サブマーカーの形状情報、均一パッチの配置情報から構成される(図7を参照)。メインマーカーの配置情報は、各メインマーカー903の位置を、テスト画像901の座標系で設定した数値データである。本実施形態では、メインマーカー903を均等間隔で、X方向には85個、Y方向には18個を配置する。配置を開始する位置はX=42、Y=742とし、X方向の配置間隔は79画素、Y方向の配置間隔は504画素とする。メインマーカーの形状情報は、メインマーカー903の形状を示す画像データである。本実施形態では、11画素四方の白背景の上に1画素幅の黒の縦線と横線が直交する十字が描かれた画像データを用いる。テスト画像生成部702は、この11画素四方の形状画像を、前述のメインマーカーの配置情報に基づいて、生成過程のテスト画像に描画する。サブマーカーの配置情報は、各サブマーカー902の位置を、テスト画像901の座標系で設定した数値データである。本実施形態では、サブマーカー902を四隅に配置する。配置を開始する位置はX=47、Y=79とし、X方向の配置間隔は6512画素、Y方向の配置間隔は9780画素とする。サブマーカーの形状情報は、サブマーカー902の形状を示す画像データである。本実施形態では、全面が黒ベタの125画素四方の正方形の画像データを用いる。テスト画像生成部702は、この125画素四方の形状画像を、前述のサブマーカーの配置情報に基づいて、生成過程のテスト画像に描画する。均一パッチの配置情報は、各均一パッチ904の位置を、テスト画像901の座標系で設定した数値データである。本実施形態では、均一パッチ904をY方向に均等間隔で17個配置する。配置を開始するX位置は47画素目、Y位置は787画素目とし、Y方向の配置間隔は504画素とする。均一パッチの配置情報には、均一パッチ904のサイズ情報も含んでおり、いま、X方向のサイズは6637画素、Y方向のサイズは425画素とする。また、均一パッチの配置情報には、各均一パッチ904の階調情報も含まれる。本実施形態では、濃度の高い順に以下の17種類(全17階調)の均一パッチを描画する。すなわち、階調値dが上から順に、65535、61440、57344、53248、49152、45056、40960、36864、32768、28672、24576、20480、16384、12288、8192、4096、0の17通りである。テスト画像生成部702は、均一パッチの配置情報に基づいて、生成過程のテスト画像に各階調の均一パッチを描画する。なお、メインマーカー903、サブマーカー902、均一パッチ904は、不等間隔で配置しても構わない。また、配置する個数は、上記のものに限定されない。また、メインマーカー903の形状として十字形は一例であり他の形状でもよい。また、サブマーカー902も基準パターンの検出枠を設定することができればよく、その形状は矩形に限定されない。例えば、メインマーカーの形状を菱形にし、サブマーカーの形状を円形にしても構わない。図8のフローチャートの説明に戻る。
vout=va+αXvb+αYvc+αXαYvd ・・・式(2)
S813では、ノズル列内の全てのノズルに対してS812までの処理が完了したか否かが判定される。未処理のノズルがあればS806に戻って、次のノズルが注目ノズルに決定されて処理が続行される。一方、ノズル列内の全てのノズルが処理されていれば、S814に進む。
続いて、S809における補間処理の詳細を説明する。図14(a)は、本実施形態における補間処理の方法を説明する図であり、前述の図13(b)における点1312の位置の画素値(サブピクセル位置の画素値)を求める様子を示している。図14(a)における黒丸は、スキャン画像911を構成する画素を示している。これら黒丸が表す点の座標値は整数値であるため、その画素値については補間処理を行わずに取得することができる。
I(x+p_x、y+p_y)=I_y0+(I_y1−I_y0)×p_y
・・・式(3)
I_y0=I(x,y)+(I(x+1、y)−I(x,y))×p_x
・・・式(4)
I_y1=I(x、y+1)+(I(x+1、y+1)−I(x、y+1))×p_x
・・・式(5)
本実施形態では、テスト画像上のXYの各方向に3個以上のメインマーカーを配置するため(図9(a)を参照)、スキャン画像の歪み補正を行う局所領域の境界を、隣り合う局所領域間で共有できる(図12を参照)。そのため、座標変換パラメータに関連性を持たせ、変換前後の座標の対応関係を、隣接する局所領域間で連続的に変化させることができる。具体例を使って詳しく説明する。図15(a)は、前述の図13(a)に示す4つの局所領域のうち上段2つの局所領域を示しており、当該2つの局領領域を跨ぐ線分1501が描かれている。この線分1501に対し、前述した局所領域毎の疑似アフィン変換を適用すると、図15(b)のようになる。すなわち、変換後の線分は、2つの局所領域の境界において端部が一致した折れ線(線分1502と線分1503とからなる)のようになる。このように本実施形態によれば、変換前後の座標の対応関係を、隣接する局所領域間で連続的に変化させることができる。一方、公知の変換処理として、例えば射影変換を局所領域毎に適用した場合は、図15(c)のようになる。すなわち、変換後の線分は、2つの局所領域の境界において端部が一致せずに離間した2本の線分1504と1505のようになる。このように、変換前後の座標の対応関係が隣接する局所領域間で不連続になると、各局所領域の端部において、所定のノズルに対応する領域が切換わる際の、歪み補正後の画素値(所定のノズルに対応付ける画素値)に、意図しない段差が発生してしまう。図16(a)〜(d)は、局所領域毎の疑似アフィン変換を適用することで、変換前後の座標の対応関係を隣接する領域間で連続的に変化させられることを示す図である。図16(a)と図16(c)は変換前の座標を示し、図16(b)と図16(d)は変換後の座標を示す。図16(a)及び(c)において、×印で示す点1601は、線分1501と局所領域の境界とが交わる点を示し、図16(b)及び(d)において、×印で示す点1602は、座標変換後において点1601に対応する点を示す。また、図16(a)と図16(b)は、左側の局所領域のパラメータ(αX1=1、αY1=0〜1の値)を用いて座標変換を行う様子を示す。そして、図16(c)と図16(d)は、右側の局所領域のパラメータ(αX2=0、αY2=αY1)を用いて座標変換を行う様子を示す。このとき、左右のどちらの局所領域のパラメータを用いても、境界上の点(例えば点1601)は、同じ位置(点1602)に変換される。以下、詳しく説明する。
vout1=va1+αX1vb1+αY1vc1+αX1αY1vd1
=(va1+vb1)+αY1(vc1+vd1) ・・・式(6)
vout2=va2+αX2vb2+αY2vc2+αX2αY2vd2
=va2+αY2vc2 ・・・式(7)
サブピクセル位置の画素値を補間処理で求めることは、デジタル信号に標本化関数を畳み込んでアナログ信号を復元し、所望するサブピクセル位置のアナログ信号値をサンプリングすることに相当する。実施形態1では、サブピクセル位置の画素値を求める際にバイリニア補間を用いたが、このバイリニア補間で使用される標本化関数は、孤立した三角波に相当する。この場合、エイリアス成分が除去されずに残ってしまう。つまり、実施形態1の手法によって得られるノズル毎の階調再現関数には、バイリニア補間に起因するエイリアス成分が、意図しない誤差として含まれていることになる。その結果、シェーディング補正を実施して出力したプリント物上の画像にわずかなスジムラが視認されることがあった。そこで、エイリアス成分の除去に関して理想的な標本化関数であるsinc関数を用いた補間処理を行う態様を、実施形態2として説明する。
S(h)=Σ(I(x+w、y+h)×sinc(a_x(w−p_x)))
・・・式(8)
I(x+p_x、y+p_y)=Σ(S(h)×sinc(a_y(h−p_y)))
・・・式(9)
理想的な標本化関数であるsinc関数を用いた補間処理にてサブピクセル位置の画素値を取得する場合、座標変換後の座標値の小数部分p_x、p_yは、サブピクセル位置の画素値を求める位置によって変化する。そのため、サブピクセル位置の画素値を1つ取得する度に複数のsinc関数を算出する必要があり(上述の式(8)及び式(9)を参照)、処理負荷が大きい。そこで、サブピクセル位置の画素値を取得する際に必要な標本化関数を補間処理に先立って生成・保持しておいてもよい。以下、詳しく説明する。
理想的な標本化関数としては、上述のsinc関数に窓関数を適用したLanczos関数でもよい。この場合も、実施形態1のバイリニア補間の場合に比べて好適な結果を得ることができる。ただし、sinc関数やLanczos関数を用いた補間処理は、バイリニア補間を用いた処理に比べ、処理負荷が大きい。そこで、例えば、図14(c)に示すように、標本化関数の用紙搬送方向のタップ数nYを、ノズル列方向のタップ数nXに比べて小さくし、処理負荷を低減するようにしてもよい。タップ数を小さくすると、無限のタップ数を持つ理想的な標本化関数に対する周波数特性のズレが大きくなる。その結果、取得したノズル毎の階調再現関数の精度が低下してしまうという弊害があるが、これが実際上問題となることはない。実施形態1で説明したとおり、スキャン画像911の画素値は、用紙搬送方向に近い方向に沿って積分されるため(図12の矢印1201〜1217を参照)、階調再現関数の導出精度に対し、タップ数nYを小さくすることは殆ど影響しないためである。用紙搬送方向のタップ数nYを、図14(b)の例に比べて大幅に小さくした図14(c)の例においても、ノズル列方向のタップ数nXは同じであるため、ノズル毎の階調再現関数は、ほぼ同じ値となる。
実施形態1のメインマーカー検出処理(S804)では、メインマーカーの中心位置を、S803で求めた検出枠(図10の1001を参照)内の画素値の重心位置としていた。ここで、インクの飛び散りや微少なゴミなどによって用紙が汚れることがあり、このような汚れが検出枠の中に存在すると、S804で求められる重心位置に意図しない誤差が含まれてしまう。また、メインマーカーの中心位置を、公知のテンプレートマッチング手法で検出する場合であっても、検出枠の中に汚れがあると、検出結果に意図しない誤差が含まれてしまう。いずれにせよ、メインマーカーの検出結果に誤差を含んでいると、S807の経路設定処理において誤った経路が設定されてしまい、ノズル毎の階調再現関数を正しく導出できなくなる。そこで、検出枠の中に汚れがある可能性が高く、メインマーカーの検出結果に誤差を含んでいると推認される場合に検出結果を補正する態様を、実施形態3として説明する。
|e_X(4)−e_X_M| > th_X ・・・式(10)
|e_Y(4)−e_Y_M| > th_Y ・・・式(11)
実施形態3では、インクの飛び散りや微少なゴミなどの用紙汚れに起因してメインマーカーの検出結果に誤差が含まれる場合に、検出結果そのものを補正することで正しい経路が設定されるようにしていた。次に、誤差を含んでいると考えられるメインマーカーを除外して局所領域を設定することで正しい経路設定を行う態様を、実施形態4として説明する。なお、先行する実施形態と共通の内容については説明を省略し、以下では本実施形態の特徴であるメインマーカーの異常判定処理とその判定結果に基づく経路設定処理を中心に説明を行うものとする。
一般的に、インクジェットプリンタでは、乾燥などによるノズルの目詰まりを防止するために、人の目でほとんど視認できないノズル目詰まり防止パターンを、プリント対象の画像に重畳して印刷出力する。このノズル目詰まり防止パターンが問題となることは通常はないが、ノズル毎の階調再現関数を導出する際には、前述の実施形態3及び4で説明した紙面上の汚れと同様、メインマーカーの検出結果に誤差が含まれる原因となってしまう。そこで、メインマーカーの検出時にノズル目詰まり防止パターンの存在を考慮して誤差が含まれないようにする態様を、実施形態5として説明する。なお、先行する実施形態と共通の内容については説明を省略し、以下では本実施形態の特徴であるメインマーカーの検出処理を中心に説明を行うものとする。
メインマーカーの重心位置を求める際にノズル目詰まり防止パターンが影響を及ぼさないようにするための手法は、目詰まり防止ドットの周辺領域に対してマスクを適用する以外にもある。例えば、メインマーカーの配置情報とノズル目詰まり防止パターンの位置情報とに基づいて、メインマーカーの周辺にノズル目詰まり防止パターンを出力しないように制御しても構わない。もしくは、ノズル目詰まり防止パターンが全面に出力されてもメインマーカーの重心位置が変動しないよう、メインマーカーの中心位置に対して対称となるように目詰まり防止ドットを配置してもよい。
実施形態1で説明した通り、メインマーカーをノズル列方向に多く配置することで、座標変換パラメータを設定する局所領域を細かく設定でき、ノズル毎の階調再現関数の導出精度を高めることができる。しかし、ノズル列方向に配置するメインマーカーの数が多すぎると、隣接するメインマーカー同士が重なってしまい、メインマーカーそれぞれの重心位置を正しく検出することが困難になるという問題がある。そこで、ノズル列方向のドット位置を検出するための図形パターンを付加したテスト画像を印刷出力し、そのスキャン画像における当該図形パターンの検出結果に基づきメインマーカーを追加的に設定して局所領域の数を増やす態様を、実施形態6として説明する。なお、先行する実施形態と共通の内容については説明を省略し、以下では本実施形態の特徴である、ドット位置を検出するための図形パターンの検出結果に基づきメインマーカーを追加設定して局所領域の数を増やす方法を中心に説明を行うものとする。なお、以下の説明では、ドット位置検出パターンの検出結果に基づき追加設定される、現実にはテスト画像上に存在しないが同じ役割を果たす仮想的なメインマーカーを、「仮想メインマーカー」と呼ぶこととする。
x_2709=x_2705+(x_2706−x_2705)÷(x_2715−x_2703)×(x_2713−x_2703) ・・・式(12)
y_2709=y_2705+(y_2706−y_2705)÷(x_2715−x_2703)×(x_2713−x_2703) ・・・式(13)
ここまで説明した各実施形態では、十字形のメインマーカーを等間隔で並べたパターンを、ノズル列方向の位置の基準を示す基準パターンとしていた。しかし、基準パターンはこれに限定されるものではなく、ノズル列方向の基準となる位置を規定可能な、階調が場所によって変化する図形パターンであればどのようなものでもよい。そこで、本実施形態では、連続性のあるランダムな図形を均一パッチの周辺に配置したパターンを基準パターンとして用いる態様を説明する。なお、先行する他の実施形態と共通の内容については説明を省略することとする。
メインマーカーを等間隔で並べたパターンに代えてランダムパターンを基準パターンとする例を説明したが、均一パッチ自体を、基準パターンとして用いることも可能である。例えば、図28(a)において、均一パッチ2804の上下の境界は、X方向に伸びる線分であり、Y方向の周波数成分を持っている。そのため、均一パッチ2804の上下の境界を含むように、先の実施形態で用いたメインマーカーに対応する領域を設定することで、ランダムパターンを用いることなく、Y方向の位置が検出可能である。これを応用し、X方向の位置も検出したい場合は、X方向とY方向の両方の周波数成分を持つように、例えば、均一パッチの上下の境界の形状を三角波状にすればよい。この変形例の場合、階調の異なる均一パッチを、間隔を空けずに、互いに上下の境界を共有してY方向に隣接して配置でき、テスト画像の面積を削減することができる。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
Claims (24)
- 記録媒体上に画像を記録する画像記録装置の記録素子毎の階調再現関数を導出する画像処理装置であって、
均一パッチの周辺に基準パターンを配置したテスト画像を前記画像記録装置で出力したものを光学的に読み取ったスキャン画像から、前記基準パターンの位置を検出する検出手段と、
前記検出手段で検出された前記基準パターンの位置に基づいて、前記スキャン画像における、前記記録素子それぞれが画像記録を行う経路を設定する設定手段と、
設定された前記経路に沿って、前記スキャン画像の画素値を積分し、前記記録素子毎の階調再現関数を生成する生成手段と、
を備え、
前記均一パッチは、前記記録素子が並ぶ方向に連続しており、
前記基準パターンは、前記記録素子が並ぶ方向における位置の基準を示す図形パターンである、
ことを特徴とする画像処理装置。 - 前記基準パターンは、連続性のあるランダムな図形パターンであることを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記基準パターンは、所定形状の複数のマークを配置した図形パターンであることを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記テスト画像の四隅に、前記基準パターンの検出の精度を向上させるための補助パターンが配置されていることを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記設定手段は、
前記テスト画像において複数の局所領域を設定し、
前記検出手段で検出された前記基準パターンの位置に基づいて、前記テスト画像に設定された前記複数の局所領域それぞれに対応する、隣接する局所領域間で互いに境界を共有する複数の局所領域を前記スキャン画像に設定し、
前記スキャン画像に設定された前記複数の局所領域それぞれに、異なる座標変換パラメータを用いた座標変換処理を行って、前記経路を設定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。 - 前記生成手段は、前記経路上の注目点の画素値を順に取得し、取得した画素値を積分して得られた積分値を平均化して、前記階調再現関数を生成することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記生成手段は、前記注目点に対応するサブピクセル位置の画素値を補間処理によって取得することを特徴とする請求項6に記載の画像処理装置。
- 前記生成手段は、バイリニア補間を用いて、前記注目点に対応するサブピクセル位置の画素値を取得することを特徴とする請求項7に記載の画像処理装置。
- 前記生成手段は、前記スキャン画像の画素値と、標本化関数との積和演算によって、前記サブピクセル位置の画素値を取得することを特徴とする請求項7に記載の画像処理装置。
- 前記標本化関数は、sinc関数またはLanczos関数であることを特徴とする請求項9に記載の画像処理装置。
- 前記標本化関数の、前記記録素子の並ぶ方向に直交する方向のタップ数を、前記記録素子の並ぶ方向のタップ数に比べ小さくしたことを特徴とする請求項9又は10に記載の画像処理装置。
- 前記均一パッチの輝度が高いほど、前記標本化関数の前記記録素子が並ぶ方向のタップ数を小さくしたことを特徴とする請求項9に記載の画像処理装置。
- 前記標本化関数の値をルックアップテーブルとして保持する記憶手段を有し、
前記生成手段は、前記ルックアップテーブルを用いて、前記補間処理を行う
ことを特徴とする請求項9に記載の画像処理装置。 - 前記検出手段が検出した前記基準パターンを構成する前記複数のマークそれぞれの位置について、正常か否かを判定する判定手段と、
前記判定によって正常でないと判定された前記マークの位置を補正する位置補正手段と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項3に記載の画像処理装置。 - 前記位置補正手段は、前記判定によって正常でないと判定された前記マークの位置を、その周辺で検出されたマークであってその位置が正常と判定されたマークの位置に基づいて補正することを特徴とする請求項14に記載の画像処理装置。
- 前記判定手段は、検出された複数のマークのうち、着目するマークの位置と、その周辺のマークの位置との差分に基づいて、正常か否かを判定することを特徴とする請求項14又は15に記載の画像処理装置。
- 前記基準パターンは、所定形状の複数のマークを配置した図形パターンである
前記検出手段が検出した前記複数のマークそれぞれの位置について、正常か否かを判定する判定手段をさらに備え、
前記設定手段は、前記判定によって正常でないと判定された前記マークの位置を除外して、前記局所領域を設定する
ことを特徴とする請求項5に記載の画像処理装置。 - 前記判定手段は、前記マークの形状を表す元画像と、前記スキャン画像における前記マークに対応する画像領域との類似度に基づいて、正常か否かを判定することを特徴とする請求項14又は17に記載の画像処理装置。
- 前記画像記録装置は、インクジェットプリンタであり、
前記検出手段は、インクを吐出するノズルの目詰まりを防止するための目詰まり防止パターンが付加されたテスト画像の出力結果を光学的に読み取ったスキャン画像から、前記目詰まり防止パターンを構成する各ドットの周辺にある画素を除外して、前記基準パターンを構成する前記複数のマークの位置を検出する
ことを特徴とする請求項3に記載の画像処理装置。 - 前記画像記録装置は、インクジェットプリンタであり、
前記検出手段は、インクを吐出するノズルの目詰まりを防止するための目詰まり防止パターンが前記複数のマーカーの周囲に付加されていないテスト画像の出力結果を光学的に読み取ったスキャン画像から、前記基準パターンを構成する前記複数のマークの位置を検出する
ことを特徴とする請求項3に記載の画像処理装置。 - 前記画像記録装置は、インクジェットプリンタであり、
前記検出手段は、前記基準パターンを構成する前記複数のマークの重心位置が変化しないように、インクを吐出するノズルの目詰まりを防止するための目詰まり防止パターンが付加されたテスト画像の出力結果を光学的に読み取ったスキャン画像から、前記基準パターンを構成する前記複数のマークの位置を検出する
ことを特徴とする請求項3に記載の画像処理装置。 - 前記検出手段は、前記記録素子が並ぶ方向のドット位置を検出するためのドット位置検出パターンが付加されたテスト画像の出力結果を光学的に読み取ったスキャン画像から、前記ドット位置をさらに検出し、
前記設定手段は、前記ドット位置の検出結果に基づき、前記基準パターンを構成する各マークと同じ役割を果たす仮想的なマークを追加的に設定して、前記スキャン画像に設定する局所領域の数を増やす
ことを特徴とする請求項5に記載の画像処理装置。 - 記録媒体上に画像を記録する画像記録装置の記録素子毎の階調再現関数を導出する方法であって、
均一パッチの周辺に基準パターンを配置したテスト画像を前記画像記録装置で出力したものを光学的に読み取ったスキャン画像から、前記基準パターンの位置を検出する検出ステップと、
前記検出ステップにて検出した前記基準パターンの位置に基づいて、前記スキャン画像における、前記記録素子それぞれが画像記録を行う経路を設定する設定ステップと、
前記設定ステップにて設定した前記経路に沿って、前記スキャン画像の画素値を積分し、前記記録素子毎の階調再現関数を生成する生成ステップと、
を含み、
前記均一パッチは、前記記録素子が並ぶ方向に連続しており、
前記基準パターンは、前記記録素子が並ぶ方向における位置の基準を示す図形パターンである、
ことを特徴とする方法。 - コンピュータを、請求項1乃至22のいずれか一項に記載の装置として機能させるためのプログラム。
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