JP2020118448A - 電流センサ - Google Patents

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Abstract

【課題】電流によって生じる磁場に基づいて電流を測定する電流センサにおいて、電流を精度良く測定する。【解決手段】電流センサ(1)は、測定対象の電流が流れる導体(10)と、二つの磁気センサ(21,22)とを備える。導体は、第1の流路(11)と、第1の流路の幅方向(X)において第1の流路に並ぶ第2の流路(12)と、第1の流路と第2の流路とが合流する第1の連接部(13)とを備える。二つの磁気センサは、幅方向に並んで配置され、導体に流れる電流によって生じる磁場(H1,H2)を検出する。導体には、幅方向において第1の流路の両側縁のうちの第2の流路から遠い側の側縁を切欠いた第1の切欠き部(16)が設けられる。二つの磁気センサのうちで第2の流路よりも第1の流路の近傍に配置された第1の磁気センサ(21)は、第1の流路における第1の切欠き部とは反対側の側縁近傍に位置する。【選択図】図1

Description

本発明は、電流によって生じる磁場に基づいて電流を測定する電流センサに関する。
特許文献1は、平行な2本のラインを備えたバスバーに流れる電流の大きさを検出する電流センサを開示している。電流センサは2つのホール素子を備え、2つのホール素子は、バスバーの厚さ方向に2本のラインに挟まれるように配置され、2本のラインに流れる電流に応じて発生する磁場の強さを各々に検出する。電流センサは、2つのホール素子の出力電圧を差動増幅する。これにより、外乱磁場の影響を低減することができる。
特開2007−78418号公報
本発明の課題は、電流によって生じる磁場に基づいて電流を測定する電流センサにおいて、電流を精度良く測定することができる電流センサを提供することである。
本発明に係る電流センサは、測定対象の電流が流れる導体と、二つの磁気センサとを備える。導体は、第1の流路と、第1の流路の幅方向において第1の流路に並ぶ第2の流路と、第1の流路と第2の流路とが合流する第1の連接部とを備える。二つの磁気センサは、幅方向に並んで配置され、導体に流れる電流によって生じる磁場を検出する。導体には、幅方向において第1の流路の両側縁のうちの第2の流路から遠い側の側縁を切欠いた第1の切欠き部が設けられる。二つの磁気センサのうちで第2の流路よりも第1の流路の近傍に配置された第1の磁気センサは、第1の流路における第1の切欠き部とは反対側の側縁近傍に位置する。
本発明に係る電流センサによると、電流によって生じる磁場に基づいて電流を測定する際に、電流を精度良く測定することができる。
実施形態1に係る電流センサの構成を示す斜視図 実施形態1に係る電流センサの平面図 実施形態1に係る電流センサの側面図 実施形態1に係る電流センサの断面図 電流センサにおける磁気検出部の構成を例示する回路図 実施形態1に係る電流センサにおける信号磁場を説明するための図 実施形態1に係る電流センサについてのシミュレーションモデルを説明するための図 実施形態1に係る電流センサについての第1のシミュレーション結果を示すグラフ 実施形態1に係る電流センサについての第2のシミュレーション結果を示すグラフ 実施形態1に係る電流センサの変形例を示す平面図 実施形態2に係る電流センサの構成を示す斜視図 実施形態2に係る電流センサの平面図 実施形態2に係る電流センサについてのシミュレーション結果を示すグラフ 実施形態2に係る電流センサについてのシミュレーションの一例を示す図 実施形態2に係る電流センサについてのシミュレーションの他の例を示す図 実施形態2に係る電流センサの変形例1を示す平面図 実施形態2に係る電流センサの変形例2を示す平面図 実施形態3に係る電流センサの構成を示す斜視図 実施形態3に係る電流センサの磁気検出部を説明するための図 実施形態4に係る電流センサの構成を示す斜視図 実施形態4に係る電流センサにおける信号磁場を説明するための図 実施形態4に係る電流センサについてのシミュレーション結果を示すグラフ 実施形態5に係る電流センサの構成を示す斜視図 実施形態5に係る電流センサにおける信号磁場を説明するための図 実施形態5に係る電流センサについてのシミュレーション結果を示すグラフ 電流センサの第1の実装例を示す斜視図 電流センサの第2の実装例を示す斜視図
以下、添付の図面を参照して本発明に係る電流センサの実施形態を説明する。
各実施形態は例示であり、異なる実施形態で示した構成の部分的な置換または組み合わせが可能であることは言うまでもない。実施形態2以降では実施形態1と共通の事項についての記述を省略し、異なる点についてのみ説明する。特に、同様の構成による同様の作用効果については、実施形態毎には逐次言及しない。
(実施形態1)
1.構成
実施形態1に係る電流センサの構成について、図1〜4を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る電流センサ1の構成を示す斜視図である。
本実施形態に係る電流センサ1は、図1に示すように、バスバー10と、磁気検出部2とを備える。磁気検出部2は、二つの磁気センサ21,22を含む。なお、図1では、磁気検出部2における磁気センサ21,22の固定部材(基板、筐体等)などの図示を省略している(以下同様)。
バスバー10は、板状の導体で構成される。以下、バスバー10の長手方向をY方向とし、幅方向をX方向とし、厚さ方向をZ方向とする。
バスバー10は、Y方向(長手方向)における途中の一部分において、二つの流路11,12に分岐されている。換言すると、バスバー10は、Y方向に延びる第1及び第2の流路11,12と、当該流路11,12が−Y側で合流する第1の連接部13と、同流路11,12が+Y側で合流する第2の連接部14とを備える。第1及び第2の流路11,12の各種寸法は、特に限定されないが、例えば互いに同一の断面積及び寸法に設定される。
図1では、電流センサ1において電流が第1の連接部13側からバスバー10に流入した場合の電流の向きを示している。この場合、第1の連接部13から第1の流路11と第2の流路12とに分流する。分流した各々の電流は、電流は、第1の流路11では+Y向きに流れると共に第2の流路12でも+Y向きに流れて、第2の連接部14から外部に流出する。
磁気検出部2は、第1及び第2の磁気センサ21,22において、バスバー10に流れる電流によって発生する磁場を検出する。各磁気センサ21,22は、所定の1軸成分の磁場を感知する感度軸を有する。各磁気センサ21,22は、例えば感度軸の方向がX方向に適宜、許容誤差の範囲内で平行になるように配置される。各磁気センサ21,22の配置は、同一方向の磁場に対する出力の増減変化が互いに同じ傾向となるように設定される。磁気検出部2の構成の詳細については後述する。
図1のZ方向から平面視した電流センサ1の平面図を、図2に示す。図2に示すように、第1の流路11と第2の流路12とは、それぞれX方向を幅方向として互いに並置されている。また、バスバー10において、第1の流路11と第2の流路12との間には、Y方向に沿って延びるスリット15が形成されている。
第1の磁気センサ21と第2の磁気センサ22とは、X方向においてスリット15を介して並んで配置される。第1の磁気センサ21は、第2の磁気センサ22よりも第1の流路11の近傍に配置される。第2の磁気センサ22は、第1の磁気センサ21よりも第2の流路12の近傍に配置される。
本実施形態に係る電流センサ1では、図1,2に示すように、バスバー10において、第1の流路11の外側(スリット15から遠い側)の側縁全体を切欠いた第1の切欠き部16が設けられている。さらに、バスバー10には、第2の流路12の外側の側縁全体を切欠いた第2の切欠き部17が設けられている。
図2に示すように、第1の切欠き部16は、X方向における幅である切欠き幅W1と、Y方向における長さである切欠き長L1とを有する。切欠き幅W1は、X方向におけるスリット15の幅(スリット幅)W2よりも大きい。
本実施形態において、切欠き長L1は、Y方向における第1の流路11の長さと等しい。また、切欠き幅W1は、第1の流路11側縁のY方向における全範囲に渡って一定である。また、第2の切欠き部17は、第1の切欠き部16と同じ切欠き幅W1及び切欠き長L1を有する。
第1及び第2の磁気センサ21,22の、Y方向における位置(Y位置)は、図2に示すように、各流路11,12の中心位置近傍すなわち中央に位置する。また、X方向においては、第1の磁気センサ21のX位置は、第1の流路11の第1の切欠き部16側(外側)とスリット15側(内側)とのうちの内側寄りに位置する。即ち、第1の磁気センサ21は、第1の流路11において第1の切欠き部16とは反対側の側縁近傍に位置する。同様に、第2の磁気センサ22は、第2の切欠き部17よりも第2の流路12の内側寄りに位置する。
以上のような切欠き部16,17に対する磁気センサ21,22の位置関係によると、後述するように、各磁気センサ21,22のS/N比を高めて、電流センサ1による電流の測定精度を良くすることができる。
図2のX方向から見た電流センサ1の側面図を、図3に示す。図3に示すように、バスバー10において、第1の流路11は+Z側に突出し、第2の流路12は−Z側に突出している(以下、Z方向を「高さ方向」という場合がある)。
図3に示すように、第1の流路11は、(上述の図1の場合に)電流が流入する入口11aにおいて第1の連接部13に連接し、同電流が流出する出口11bにおいて第2の連接部14に連接する。第1の流路11の入口11aと出口11bとは、各連接部13,14のZ位置(高さ方向の位置)から第1の流路11のZ位置を高くするように屈曲している。
また、第2の流路12は、入口12aにおいて第1の連接部13に連接し、出口12bにおいて第2の連接部14に連接する。第2の流路12の入口12aと出口12bとは、第2の流路12のZ位置を、各連接部13,14のZ位置から低くするように屈曲している。
以上によると、バスバー10は、第1及び第2の連接部13,14間で、Z位置が異なる第1の流路11(のY方向に延在する部分)と第2の流路12(のY方向に延在する部分)とによる段差を有する。各磁気センサ21,22のZ位置は、第1及び第2の流路11,12間の段差の範囲内(例えば中央)に位置する。
図4(a)は、図3のA−A’断面における電流センサ1の断面を示す。図4(b)は、図3のB−B’断面における電流センサ1の断面を示す。A−A’断面は、第1の連接部13を通るXZ平面に平行な断面である。B−B’断面は、第1及び第2の流路11,12を通るXZ平面に平行な断面である。
図4(a)に示す断面積CSaは、XZ平面に平行な断面における第1の連接部13の最大断面積である。図4(b)において、断面積CSbは、断面積CSaと共通の向きの断面における第1の流路11の最大断面積である。断面積Cscは、上記と共通の向きの断面における第2の流路12の最大断面積である。
上述のバスバー10の構成によると、図4(a),(b)に示すように、第1の連接部13の最大断面積CSaは、第1の流路11の最大断面積CSbと第2の流路12の最大断面積CScとの和よりも大きくなる。このため、第1の連接部13において第1及び第2の流路11,12よりも大きい熱容量が得られる。また、第2の連接部14は第1の連接部13と同様の断面積を有し、第2の連接部14においても第1の連接部13と同程度の熱容量が得られる。これにより、電流センサ1の放熱性を向上することができる。バスバー10において断面積を大きく確保することで、抵抗値を下げることができるため、バスバー10の通電時の発熱量を低減することができる。
以上のような電流センサ1におけるバスバー10の材料としては、銅、銀、アルミニウム若しくは鉄などの金属、又はこれらの金属を含む合金などが用いられてもよい。また、バスバー10には、表面処理が施されていてもよい。たとえば、ニッケル、錫、銀若しくは銅などの金属、又はこれらの金属を含む合金からなる、少なくとも1層のめっき層が、バスバー10の表面に設けられていてもよい。また、バスバー10は、鋳造、切削加工又はプレス加工などにより形成されてもよい。
また、バスバー10は、一つの導体部材を加工して構成されてもよいし、複数の導体部材を組み合わせて構成されてもよい。例えば、バスバー10の各連接部13,14が、ネジ止めや溶接などで構成されてもよい。また、バスバー10の加工においては、例えばR処置やC面取り処理を行うことにより、亀裂等の起点となるクラックを抑制できる。
また、以上の説明では、バスバー10において、各流路11,12の入口11a,12aと出口11b,12bとがそれぞれ屈曲していたが、湾曲するように形成されてもよい。また、入口11a,12aと出口11b,12bとの一方が屈曲(或いは湾曲)していてもよい。この場合、二つの連接部13,14のZ位置が異なってもよい。また、以上の説明では、バスバー10において、第1及び第2の流路11,12の双方が突出していたが、これに限らず、いずれか一方が突出してもよい。
1−1.磁気検出部について
電流センサ1における磁気検出部2の構成の詳細について、図5を用いて説明する。図5は、電流センサ1における磁気検出部2の構成を例示する回路図である。以下では、第1及び第2の磁気センサ21,22の感度軸が同じ向き(例えば+X向き)に向けられた場合の回路構成の一例を説明する。
図5に例示する磁気検出部2は、増幅回路20と、第1及び第2の磁気センサ21,22とを備える。第1及び第2の磁気センサ21,22は、例えば電源電圧Vddで定電圧駆動される。増幅回路20は、第1ないし第3の演算増幅器23,24,25を備える。上記各部21〜25は、一つの集積チップに集積されてもよいし、複数の集積チップに集積されてもよい。
本例において、第1の磁気センサ21は、4つの磁気抵抗素子21a〜21dを含み、ホイートストンブリッジ型のブリッジ回路を構成する。即ち、第1の磁気センサ21において、2つの磁気抵抗素子21a,21bの直列回路と、残りの2つの磁気抵抗素子21c,21dの直列回路とが並列に接続される。それぞれの磁気抵抗素子21a〜21dは、例えばAMR(Anisotropic Magneto Resistance)素子である。
第1の磁気センサ21における2つの磁気抵抗素子21a,21b間の接続点は、第1の演算増幅器23の非反転入力端子に接続される。また、残りの2つの磁気抵抗素子21c,21d間の接続点は、同演算増幅器23の反転入力端子に接続される。
第2の磁気センサ22は、本例において、第1の磁気センサ21の磁気抵抗素子21a〜21dと同様の回路構成による4つの磁気抵抗素子22a〜22dを含む。第2の磁気センサ22における2つの磁気抵抗素子22a,22b間の接続点は、第2の演算増幅器24の非反転入力端子に接続され、残りの2つの磁気抵抗素子22c,22d間の接続点は、同演算増幅器24の反転入力端子に接続される。
増幅回路20において、第1の演算増幅器23の出力端子は、第3の演算増幅器25の非反転入力端子に接続される。第2の演算増幅器24の出力端子は、第3の演算増幅器25の反転入力端子に接続される。
以上のような磁気検出部2によると、増幅回路20において、第3の演算増幅器25が第1の演算増幅器23の出力電圧と第2の演算増幅器24の出力電圧との減算を演算することにより、第1及び第2の磁気センサ21,22による検出結果が差動増幅される。
以上に説明した磁気検出部2の構成は一例であり、特にこれに限定されない。例えば、各磁気センサ21,22の磁気抵抗素子21a〜21d,22a〜22dは、AMR素子に限らず、各種基板上に設けられる種々のMR素子であってもよく、例えばGMR(Giant Magneto Resistance)、TMR(Tunnel Magneto Resistance)、BMR(Balistic Magneto Resistance)、CMR(Colossal Magneto Resistance)などであってもよい。
また、第1及び第2の磁気センサ21,22は、それぞれ2つの磁気抵抗素子によるハーフブリッジ回路を構成してもよい。また、第1及び第2の磁気センサ21,22として、ホール素子を有する磁気素子、磁気インピーダンス効果を利用するMI(Magneto Impedance)素子を有する磁気素子又はフラックスゲート型磁気素子などを用いてもよい。また、第1及び第2の磁気センサ21,22の駆動方法としては、定電流駆動、パルス駆動などが用いられてもよい。
また、第1及び第2の磁気センサ21,22は、同一の基板に実装されてもよいし、別々の基板に実装されてもよい。実装される基板の材質は特に限定されず、ガラスエポキシ基板でもよいし、アルミナ基板でもよい。また、実装された各磁気センサ21,22と基板との位置関係については、感度軸を向ける方向等を考慮して適宜、選択することができる。
また、各磁気センサ21,22は、パッケージングされていてもよいし、シリコンポッティングされていてもよい。各磁気センサ21,22のパッケージ形状は特に限定されず、HSOPやSIP、LQFP等の各種形状の中から、感度軸の方向と実装する基板等との配置を考慮して適宜、選択することができる。また、上記のようなパッケージ内には、ASICなどの他回路素子が含まれていてもよい。また、磁気検出部2は、例えばさらに、各磁気センサ21,22の利得やオフセットを補正する補正回路等の種々の回路を含んでもよい。
また、上記の例では、増幅回路20において第3の演算増幅器25が第1及び第2の演算増幅器23,24の出力電圧間の減算を演算するが、差動増幅の方法は減算に限らない。例えば第1及び第2の磁気センサ21,22の各感度軸が互いに逆向きの場合、双方の出力電圧の加算を演算する増幅回路を用いて、第1及び第2の磁気センサ21,22による(逆相磁場の)検出結果が差動増幅されるようにしてもよい。
2.動作
以上のように構成される電流センサ1の動作について、以下説明する。
2−1.電流の測定動作
本実施形態に係る電流センサ1は、バスバー10に流れる電流によって生じる磁場を検出することにより、当該電流の大きさを測定する。電流センサ1による電流の測定動作について、図6を用いて説明する。
図6は、本実施形態に係る電流センサ1における信号磁場を説明するための図である。「信号磁場」は、電流センサ1の測定対象の電流によって生じる磁場をいうこととする。図6は、図3のB−B’断面近傍における各流路11,12及び各磁気センサ21,22を示している(図4(b)参照)。
図6では、バスバー10の長手方向(Y方向)において電流が+Y向きに流れた際に、第1の流路11近傍に生じる信号磁場H1と、第2の流路12近傍に生じる信号磁場H2とを例示している。バスバー10においては、電流が分流して第1の流路11と第2の流路12とに流れることにより、図6に示すように、第1の流路11近傍の信号磁場H1は第1の流路11の周囲を周回し、第2の流路12近傍の信号磁場H2は第2の流路12の周囲を周回する。
本実施形態に係る電流センサ1では、第1の流路11と第2の流路12とにおいて電流が同じ向き(例えば+Y向き)に流れるため、第1の流路11近傍の信号磁場H1と第2の流路12近傍の信号磁場H2とは、同じ周回方向を有する(例えば時計回り)。このことから、第1及び第2の流路11,12間の領域においては、図6に示すように、第1の流路11近傍の信号磁場H1のX成分と第2の流路12近傍の信号磁場H2のX成分とが、互いに逆向きになる。よって、上記の領域に配置された第1及び第2の磁気センサ21,22には、互いに逆相の信号磁場H1,H2が入力されることとなる。
第1の磁気センサ21は、第1の流路11近傍の信号磁場H1の検出結果として、入力された磁場に応じた出力電圧を生成する。第2の磁気センサ22は、第2の流路12近傍の信号磁場H2の検出結果として、入力された磁場に応じた出力電圧を生成する。
ここで、各磁気センサ21,22に入力される磁場には、信号磁場H1,H2だけでなく、外乱磁場のようなノイズも含まれることが想定される。このようなノイズは、第1及び第2の磁気センサ21,22の配置位置を近接させることにより、各磁気センサ21,22に対して、同相で且つ同程度の大きさで入力されると考えられる。
そこで、磁気検出部2において、増幅回路20(図5)は、第1の磁気センサ21による信号磁場H1の検出結果を示す出力電圧と、第2の磁気センサ21による信号磁場H2の検出結果を示す出力電圧とを差動増幅する。これにより、それぞれの磁気センサ21,22の出力電圧に同相で含まれ得るノイズを相殺して、測定対象の電流による信号磁場を精度良く検出できる。これにより、電流センサ1において、測定対象の電流の大きさを精度良く測定することができる。
2−2.シミュレーションについて
以上のような電流センサ1について、本願発明者は、信号磁場に関する二つの解析シミュレーションを行った。本実施形態における第1及び第2のシミュレーションについて、図7〜9を用いて説明する。
図7は、本実施形態における電流センサ1についての解析モデル3を説明するための図である。本実施形態における第1及び第2のシミュレーションでは、電流センサ1のバスバー10に所定の電流を流した場合の電磁場解析シミュレーションを、有限要素法で行った。
解析モデル3は、電流センサ1の各磁気センサ21,22近傍における磁場解析を行うためのシミュレーションモデルであり、第1及び第2の流路11,12の途中(各磁気センサ21,22近傍)の一部分に対応している(図6参照)。解析モデル3のY方向(図7の紙面奥行き方向)の空間サイズは3.0mmに設定した。
図7に示すように、解析モデル3は、電流センサ1(図6)の第1の流路11に対応する第1の導体31と、第2の流路12に対応する第2の導体32とを含む。各導体31,32の厚さ(Z方向)は、1.5mmに設定した。また、第1及び第2の導体31,32の周囲には、磁場解析のためのメッシュを適宜、設定した。
解析モデル3における各導体31,32の内側間の間隔は、電流センサ1におけるスリット幅W2(図2)に対応する。また、各導体31,32の外側間の間隔は、電流センサ1における第1の切欠き部16と第2の切欠き部17との間の間隔に対応する。
以上のような解析モデル3を用いた第1のシミュレーションでは、それぞれの導体31,32の導体幅(流路幅)を一定に保ちつつスリット幅を変化させながら、磁場解析を行った。第1のシミュレーションにおいて、スリット幅を大きくすることは、切欠き幅を小さくすることに対応し、スリット幅を小さくすることは切欠き幅を大きくすることに対応する。
また、第1のシミュレーションでは、導体31,32間の内側近傍における種々のセンサ間隔に、各磁気センサ21,22が配置された場合の信号磁場を数値計算した。なお、各磁気センサ21,22のY位置(図7の紙面奥行き方向)は、解析モデル3の空間におけるY方向の中心位置に設定した。図8に、第1のシミュレーションの結果を示す。
図8のグラフにおいて、横軸はスリット幅[mm]であり、縦軸は磁束密度のX成分の強度[mT]である。図8のグラフにおけるプロットは、それぞれのセンサ間隔をあけた位置における磁束密度のX成分強度の差分値であり、各センサ間隔における第1及び第2の磁気センサ21,22に入力する信号磁場に対応する。
第1のシミュレーションによると、図8に示すように、センサ間隔が小さいほど、磁束密度のX成分強度は小さくなっている。一方で、スリット幅が小さいほど、磁束密度のX成分強度は大きくなっている。このようなシミュレーション結果について、本願発明者は、スリット幅を狭めて導体31,32間(流路11,12間)の距離が短くなることにより、磁場分布の勾配を高めているものと推察した。
第2のシミュレーションでは、解析モデル3の導体31,32の外側間の間隔を一定に保ちつつスリット幅を変化させながら、磁場解析を行った。第2のシミュレーションにおいて、スリット幅を大きくすることは、導体幅(流路幅)を小さくすることに対応し、スリット幅を小さくすることは導体幅を大きくすることに対応する。また、第2のシミュレーションでは、種々のスリット間隔を設定した際に、スリット近傍のX位置における磁場分布を数値計算した。図9に、第2のシミュレーションの結果を示す。
図9のグラフにおいて、横軸はX位置[mm]であり、縦軸は磁束密度のX成分強度[mT]である。図9のX位置=0は、各導体31,32間の中心位置である。図9に示したX位置の範囲(0mm以上3mm以下)は、第2の導体32側のスリット近傍に位置する。
第2のシミュレーションによると、図9に示すように、導体31,32間のスリット近傍では、スリット間隔が小さいほど、導体幅が広がるにも拘わらず、磁束密度のX成分強度は大きくなっていることが確認された。なお、第2のシミュレーションでは、第1の導体31側のスリット近傍においても、図9と同様の結果が得られた(但し、磁束密度のX成分の正負は逆)。
以上のような第1及び第2のシミュレーション結果によると、ノイズ相殺のために電流センサ1におけるセンサ間隔を小さくすると、図8に示すように各磁気センサ21,22に入力される信号磁場が小さくなってしまうことが分かる。また、定性的には、より大きな信号磁場を得るために導体幅を狭くすることが考えられるが、単に導体幅を狭くする(スリット幅を広げる)と、図9に示すように、スリット近傍のセンサ位置では寧ろ信号磁場が小さくなってしまうことが確認された。
以上のような知見に基づき、本実施形態に係る電流センサ1では、各導体31,32に対応する各流路21,22の外側の切欠き部16,17の切欠き幅W1をスリット幅W2よりも広げて、スリット幅W2を狭くしている(図2参照)。
上記の構成により、図8に示すように、センサ間隔がスリット近傍のような狭い範囲に設定された場合であっても、切欠き幅W1を広げてスリット幅W2を狭くすることで、各磁気センサ21,22に入力される信号磁場を大きく確保することができる。また、図8に示すように、スリット幅を狭くすることで、同相ノイズを相殺可能なスリット近傍のセンサ位置において信号磁場が大きくなり、電流センサ1におけるS/N比を高めて電流の測定精度を良くすることができる。
3.まとめ
以上のように、本実施形態に係る電流センサ1は、測定対象の電流が流れる導体であるバスバー10と、X方向に並んで配置された二つの磁気センサ21,22とを備える。バスバー10は、第1の流路11と、第1の流路11の幅方向(X方向)において第1の流路11に並ぶ第2の流路12と、第1の流路11と第2の流路12とが合流する第1の連接部13とを備える。各磁気センサ21,22は、バスバー10に流れる電流によって生じる磁場を検出する。バスバー10には、X方向において第1の流路11の両側縁のうちの第2の流路12から遠い側(外側)の側縁を切欠いた第1の切欠き部16が設けられる。二つの磁気センサ21,22のうちで第2の流路12よりも第1の流路11の近傍に配置された第1の磁気センサ21は、第1の流路11における第1の切欠き部16とは反対側(内側)の側縁近傍に位置する。
以上の電流センサ1によると、第1の切欠き部16により、第1の流路11の幅を狭めて信号磁場を大きくし、第1の磁気センサ21においてノイズを低減しやすい内側から当該信号磁場を検出できる。これにより、電流センサ1において、S/N比を高めて電流を精度良く測定できる。
本実施形態において、第1の流路11のX方向における第1の切欠き部16の切欠き幅W1は、X方向における第1及び第2の流路11,12間の間隔W2よりも大きい。これにより、切欠き幅W1に対して相対的に第1及び第2の流路11,12間の間隔W2を狭めて信号磁場の勾配を大きくし、電流センサ1におけるS/N比を高めて測定精度を良くすることができる。
また、本実施形態において、バスバー10には、第1の流路11と第2の流路12との間においてバスバー10の長手方向(Y方向)に沿って延びるスリット15が設けられる。スリット15のスリット幅W2は、第1の切欠き部16の切欠き幅W1よりも小さい。これにより、切欠き幅W1よりもスリット幅W2を狭めて、電流センサ1におけるS/N比を向上できる。
また、本実施形態において、バスバー10には、X方向において第2の流路12の両側縁のうちの第1の流路11から遠い側の側縁を切欠いた第2の切欠き部17が設けられる。二つの磁気センサ21,22のうちで第1の流路11よりも第2の流路12の近傍に配置された第2の磁気センサ22は、第2の流路12における第2の切欠き部17とは反対側の側縁近傍に位置する。これにより、第2の磁気センサ22においても信号磁場の検出精度を良くして、電流センサ1の測定精度を良くすることができる。
また、本実施形態において、第1の切欠き部16と第2の切欠き部17とは、X方向において並んで配置される。これにより、第1及び第2の切欠き部16,17が隣り合う領域において信号磁場の勾配を高め、信号磁場の検出精度を良くすることができる。
また、本実施形態において、スリット15のスリット幅W2は、第1及び第2の切欠き部16,17のそれぞれの切欠き幅W1よりも小さい。これにより、各々の第1及び第2の切欠き部16,17の切欠き幅W1よりもスリット幅W2を狭めて、電流センサ1におけるS/N比を向上できる。
また、本実施形態において、第1の磁気センサ21は、第1の流路11における第1の切欠き部16の側方であって、X,Y方向に交差するZ方向において第1の流路11の両側(±Z側)における一方の側(−Z側)に配置される。第2の磁気センサ22は、第2の流路12における第2の切欠き部17の側方であって、Z方向において第1の流路11の−Z側(第2の流路12の+Z側)に配置される。このような配置において、各磁気センサ21,22に入力される信号磁場のX成分が、互いに逆相で得られる(図6)。
なお、電流センサ1においては、必ずしも第2の切欠き部17を設けなくてもよい。例えば、各流路11,12の幅が違う分、磁気検出部2の増幅回路20における第1及び第2の演算増幅器23,24等のゲインを調整することによって、各磁気センサ21,22による検出精度を確保することができる。若しくは、第1及び第2の流路11,12の幅が同じになるように、スリット15のX位置をずらしてバスバー10を形成してもよい。以上のような場合であっても、第1の切欠き部16を設けて各流路11,12間の磁場勾配を大きくすることによって、電流センサ1の測定精度を良くすることができる。
また、本実施形態において、X方向に沿った共通の向き(XY平面に平行)を有する断面において、第1の連接部13の最大断面積CSaは、第1の流路11の最大断面積CSbと第2の流路12の最大断面積CScとの和よりも大きい。これにより、第1の連接部13において各流路11,12よりも大きい熱容量が得られ、電流センサ1の放熱性を向上できる。
また、本実施形態において、第1の連接部13は、第1の流路11の入口11aと第2の流路12の入口12aとを連接する。バスバー10は、第1の流路11の出口11bと第2の流路12の出口12bとを連接する第2の連接部14を備える。バスバー10に設けられた第2の連接部14により、さらに電流センサ1の放熱性を向上できる。第2の連接部14において断面積を大きく確保することで抵抗値を下げ、バスバー10の通電時の発熱量を低減することができる。
また、本実施形態において、第1及び第2の連接部13,14間において第1の流路11と第2の流路12とは、X,Y方向に交差するZ方向(高さ方向)において、互いに異なるZ位置に配置される。バスバー10には、第1及び第2の流路12間の段差が形成される。
また、本実施形態において、第1の磁気センサ21と第2の磁気センサ22とは、互いに共通の基板上に設けられたMR素子で構成されてもよい。このような基板は、Z方向において第1の流路11と第2の流路12との間に配置される。これにより、電流センサ1を小型化することができる。
また、本実施形態において、第1の磁気センサ21と第2の磁気センサ22とは、同一方向の磁場に対する増減変化が互いに同じ傾向である出力を各々の検出結果として生成する。電流センサ1は、第1の磁気センサ21の検出結果と、第2の磁気センサ22の検出結果とを差動増幅する増幅回路20をさらに備える。各磁気センサ21,22の検出結果間の差動増幅により、電流センサ1においてS/N比を高めることができる。
(実施形態1の変形例)
以上の説明では、バスバー10において流路11,12の側縁を一定の幅で切欠いた切欠き部16,17の例を説明したが、切欠き部はこれに限定されない。実施形態1における切欠き部の変形例について、図10を用いて説明する。
図10は、実施形態1に係る電流センサ1の変形例を示す平面図である。図10では、本変形例におけるバスバー10’を示している。
本変形例において、第1及び第2の切欠き部16’,17’は、図10に示すようにバスバー10’において第1の連接部13から各流路11,12にわたり連続的に広がるような形状で設けられている。また、各切欠き部16’,17’は、第2の連接部14側においても同様に連続的に広がるような形状で設けられている。このように、バスバー10’における各々の切欠き部16’,17’は、各流路11,12の側縁を種々の形状で切欠くように設けることができる。
(実施形態2)
実施形態1では、流路の側縁全体に切欠き部を設けた。実施形態2では、流路の側縁において部分的に切欠き部を設ける。これにより、電流センサにおける熱的負荷(通電時の発熱)を低減できる。以下、実施形態2に係る電流センサについて説明する。
1.構成
実施形態2に係る電流センサの構成について、図11〜12を参照して説明する。図11は、本実施形態に係る電流センサ1Aの構成を示す斜視図である。図12は、図11のZ方向から平面視した電流センサ1Aの平面図である。
本実施形態に係る電流センサ1Aは、実施形態1と同様の構成において、各流路11,12の側縁全体に渡る切欠き部16,17(図1)の代わりに、図11に示すように、同側縁の一部に局在した第1及び第2の切欠き部16A,17Aを有する。本実施形態において、各切欠き部16A,17Aは、バスバー10A上に矩形状に形成される(図12)。
図11に示すように、本実施形態におけるバスバー10Aにおいて、第1の切欠き部16Aは、第1の流路11の外方側縁において、長手方向(Y方向)における一部の範囲に設けられる。図12に示すように、第1の切欠き部16AのY位置は、第1の流路11のY方向における中央に位置する。第1の切欠き部16Aの切欠き長L2は、切欠き幅W3以下である。また、第1の切欠き部16Aの切欠き幅W3は、第1の流路11における第1の切欠き部16Bの側方の部分の流路幅W4よりも小さい。
また、第2の切欠き部17Aは、上記のような第1の切欠き部16Aと同様の寸法及び位置関係で、第2の流路12の外方側縁においてY方向における一部の範囲に設けられる。第1の切欠き部16Aと第2の切欠き部17Aとは、バスバー10A上で、スリット15を介してX方向に並んで配置される。それぞれの切欠き幅W3は、スリット幅よりも大きい。
第1の磁気センサ21は、Y方向における第1の切欠き部16Aの切欠き長L2の範囲内(例えば中央)に位置する。同様に、第2の磁気センサ22は、Y方向における第2の切欠き部17Aの切欠き長L2の範囲内に位置する。なお、第1及び第2の磁気センサ21,22は、各々の少なくとも一部が切欠き長L2の範囲内に重畳するように配置されてもよい。
2.発熱評価シミュレーションについて
以上のように構成される電流センサ1Aについて、本願発明者は、バスバー10Aの通電時における発熱評価のシミュレーションを行った。
具体的に、バスバー10Aのシミュレーションモデルに種々の値の切欠き長を設定して、所定の電流を流した場合の発熱状態を解析する熱解析シミュレーションを行った。本シミュレーションは、電流値129A、環境温度105℃、導体厚さ1.5mm、スリット幅0.5mm、(磁気センサ近傍の)流路幅5.0mm、(バスバーの)全体幅15.5mmの条件下で行った。
図13は、電流センサ1Aについての発熱評価のシミュレーション結果を示すグラフである。図13のグラフにおいて、横軸は切欠き長[mm]であり、縦軸は導体の最高温度[℃]である。
図13のグラフによると、切欠き長を大きくするほど、通電中のバスバーにおける最高温度が高くなることが分かる。これは、バスバーにおいて断面積が小さくなる部分の割合が増加し、導体における抵抗値が高くなるためと考えられる。本実施形態における電流センサ1Aによると、切欠き長L2が短い切欠き部16A,17Aを用いることにより(図12参照)、通電中のバスバー10Aにおける最高温度を下げて、電流センサ1Aにおける熱的負荷を低減することができる。
図14は、上記のシミュレーションにおい切欠き長1.0mmが設定されたバスバーにおける熱分布を示す。図15は、切欠き長12.0mmが設定されたバスバーにおける熱分布を示す。図14の設定は、本実施形態の電流センサ1Aに相当し(図11)、図15の設定は、実施形態1の電流センサ1に相当する(図1)。
図14,15によると、バスバーにおける流路の切欠き部が設けられた側方が、他の領域よりも高温の領域になっている。図15に示すような切欠き長が長い場合には、上記のような高温の領域が温度130℃にまで到っている。これに対して、切欠き長を短くすると、図14に示すように、高温の領域であっても温度127℃程度に収まっている。
以上のように、本実施形態に係る電流センサ1Aによると、バスバー10Aの通電時における発熱を低減できる。これにより、電流センサ1Aにおいて熱的負荷を低減し、電流の測定精度を良くすることができる。
3.まとめ
以上説明したように、本実施形態に係る電流センサ1Aでは、第1の切欠き部16Aが、第1の流路11の長手方向(Y方向)における一部の範囲に設けられる。第1の磁気センサ21の少なくとも一部は、第1の流路11のY方向において第1の切欠き部21が設けられた範囲内に位置する。これにより、第1の流路11において流路幅W4が狭まる領域を制限し、通電時の発熱を低減して電流の測定精度を良くすることができる。
本実施形態において、第1の切欠き部16Aは、第1の流路11の長手方向における中央に位置する。これにより、第1の切欠き部16A近傍において発した熱が周囲で放熱される際の偏りを抑制できる。
また、本実施形態において、第1の流路11の長手方向における第1の磁気センサ21のY位置は、第1の切欠き部16Aの中央である。このような配置により、第1の磁気センサ21が位置ずれによって第1の切欠き部16Aからはみ出し、電流の測定精度が低下するような事態を抑制できる。
また、本実施形態において、第1の切欠き部16Aの切欠き幅W3は、第1の切欠き部16Aの切欠き長L2以上である。これにより、切欠き長L1を切欠き幅W3以下に制限して、通電時の発熱を低減することができる。
また、本実施形態では、X方向において、第1の切欠き部16Aの側方における第1の流路11の流路幅W4は、第1の切欠き部16Aの切欠き幅W3よりも大きい。これにより、バスバー10において第1の切欠き部16Aで狭まった部分における剛性を確保することができる。
また、本実施形態において、第2の切欠き部17Aは、第2の流路12の長手方向における一部の範囲に設けられる。これにより、第2の流路12においても流路幅W4が狭まる領域を制限し、通電時の発熱を低減できる。
(実施形態2の変形例)
以上の説明では、切欠き部16A,17Aが矩形の例を説明したが、矩形に限らず、種々の形状の切欠き部を流路の側縁に部分的に設けてもよい。この変形例について、図16,17を用いて説明する。
図16は、実施形態2に係る電流センサ1Aの変形例1を示す平面図である。図17は、実施形態2の変形例2に係る電流センサ1Aの変形例2を示す平面図である。図16,17では、各変形例におけるバスバー10A’、10A”をそれぞれ示している。
図16に示すように、第1及び第2の切欠き部16A’,17A’は、角丸の形状において形成されてもよい。例えばこのような各切欠き部16A’,17A’の形状に応じて、熱膨張などにおけるバスバー10A’の変形耐性を向上することができる。
また、図17に示すように、第1及び第2の切欠き部16A”,17A”は、尖鋭の形状において形成されてもよい。第1及び第2の切欠き部16A”,17A”の形状としては、バスバー10”の加工がし易い形状など、種々の形状を採用することができる。
上記のようなバスバー10A’、10A”を備えた電流センサ1Aにおいても、第1の磁気センサ21(図12)の少なくとも一部は、第1の流路11のY方向において第1の切欠き部16A’,16A”が設けられた範囲に重畳するように配置される。第1の切欠き部16A’,16A”の切欠き幅は、例えば上記範囲に重畳した第1の磁気センサ21を通過するXZ平面に沿ったバスバー10A’、10A”の断面における第1の切欠き部16A’,16A”のX方向の幅として測定できる。第2の切欠き部17A’,17A”の切欠き幅も同様に、第2の流路12のY方向において第2の磁気センサ22の少なくとも一部が重畳する範囲における幅として測定できる。
(実施形態3)
実施形態3では、磁気検出部において磁気バイアス用の磁石をさらに設けた電流センサについて説明する。
実施形態3に係る電流センサの構成について、図18を参照して説明する。図18は、本実施形態に係る電流センサ1Bの構成を示す斜視図である。
本実施形態に係る電流センサ1Bは、実施形態2に係る電流センサ1Aと同様の構成に加えて(図11)、図18に示すように、磁気検出部2Aにおいて二つの磁石26,27を備える。磁石26,27としては、例えば、フェライトやSmCoなどのバルク磁石や、薄膜磁石などを用いることができる。
第1の磁石26と第2の磁石27とは、バスバー10Aの長手方向(Y方向)において、各磁気センサ21,22を介して対向するように配置されている。なお、図18では、第1及び第2の磁気センサ21,22が一つのチップに集積された例を示している。それぞれの磁石26,27は、例えば当該チップのX方向における幅よりも大きい幅を有する(図19参照)。
本実施形態における磁気検出部2Aについて、図19を用いて説明する。図19は、本実施形態に係る電流センサ1Bの磁気検出部2Aを説明するための図である。
図19では、図18のZ方向から平面視した磁気検出部2Aを模式的に示している。本実施形態において、第1の磁石26のY位置は、切欠き部16A,17Aが設けられた範囲から−Y側にずれている。また、第2の磁石27のY位置は、切欠き部16A,17Aが設けられた範囲から+Y側にずれている。
磁気検出部2Aにおいて、各々の磁石26,27は、第1及び第2の磁気センサ21,22をバイアスするために用いられる。各々の磁石26,27は、図19に示すように、それぞれのN極及びS極がY方向に並ぶように配置される。
これにより、各々の磁石26,27による磁場が、第1及び第2の磁気センサ21,22の感度軸の方向(X方向)とは交差する方向(Y方向)において、各磁気センサ21,22の近傍に生じる。このように磁石26,27を用いて、信号磁場とは別に各磁気センサ21,22近傍に生じさせる磁場を設定することにより、各磁気センサ21,22のダイナミックレンジを調整することができる。
また、磁石26,27の幅が第1及び第2の磁気センサ21,22間の間隔(又はチップの幅)よりも大きいことから、各磁気センサ21,22をバイアスする磁場を均一に形成することができる。
以上のような調整が行われた場合には、外部磁場等に曝されて磁石が劣化することにより、電流センサの測定精度が低下するような事態が想定される。そこで、本実施形態に係る電流センサ1Bでは、それぞれの磁石26,27が切欠き部16A,17Aの範囲外、即ちバスバー10Aに覆われた領域に配置して、磁石26,27が外部磁場等に曝されにくくする。これにより、磁石26,27の劣化を抑制して、電流センサ1Bの測定精度を高く維持することができる。
なお、以上の説明では、磁石26,27の全体が切欠き部16A,17Aの範囲外に配置される例を説明したが、これに限らず、磁石26,27の一部が切欠き部16A,17Aの範囲外に配置されてもよい。これによっても、磁石26,27の劣化を抑制することができる。
以上説明したように、本実施形態に係る電流センサ1Bは、磁石26,27をさらに備える。磁石26,27の少なくとも一部は、第1の流路11の長手方向において、第1の切欠き部16Aが設けられた範囲外に配置される。これにより、磁石26,27が外部磁場等に曝されにくくして、磁石26,27の劣化を抑制できる。
上記の説明では、二つの磁石26,27を用いる例を説明したが、電流センサ1Bにおいてバイアス用等に用いる磁石は、二つに限らず、三つ以上であってもよいし、一つであってもよい。また、特に磁石の劣化を考慮する必要がない場合等には、上記のような配置に限らず、種々の配置で磁石を用いてもよい。
(実施形態4)
実施形態1〜3では、第1及び第2の流路間に段差を有するバスバーを用いた。実施形態4では、バスバーが平面的に構成された電流センサについて説明する。
実施形態4に係る電流センサの構成について、図20を参照して説明する。図20は、本実施形態に係る電流センサ1Cの構成を示す斜視図である。
本実施形態に係る電流センサ1Cは、実施形態2と同様の構成において(図11)、段差を有するバスバー10Aの代わりに、図20に示すように平面的に構成されたバスバー13Bを備える。これにより、電流センサ1Cが低背になり、電流センサ1Cを小型化できる。
本実施形態におけるバスバー13Bでは、第1の流路11Aと第2の流路12Aとが、第1及び第2の連接部13,14と共に、同一平面(XY平面)上に配置される。
本実施形態において、第1及び第2の磁気センサ21,22は、感度軸を例えば+Z方向(又は−Z方向)に向けて配置される。本実施形態における第1及び第2の磁気センサ21,22としては、例えばホール素子を用いてもよいし、配置等を調整することにより各種磁気抵抗素子を用いることも可能である。
各磁気センサ21,22は、例えばバスバー10Bのスリット15の内部に配置される。この場合、電流センサ1Cを特に薄型に構成できる。
以上のように構成される電流センサ1Cの動作について、図21,22を用いて説明する。
図21は、本実施形態に係る電流センサ1Cにおける信号磁場を説明するための図である。図21は、図20のC−C’断面に対応している。C−C’断面は、電流センサ1Cにおいて各切欠き部16A,17A及び各磁気センサ21,22を通るXY平面に平行な断面である。
本実施形態に係る電流センサ1Cによると、第1及び第2の流路11A,12Aが同一平面上に配置される。このことから、図21に示すように、第1及び第2の流路11A,12A間の領域において、第1の流路11A近傍の信号磁場H1のZ成分と第2の流路12A近傍の信号磁場H2のZ成分とが、互いに逆向きになる。よって、上記の領域に配置された第1及び第2の磁気センサ21,22には、実施形態1〜3と同様に、互いに逆相の信号磁場H1,H2が入力されることとなる。
図22は、本実施形態に係る電流センサ1Cについてのシミュレーション結果を示すグラフである。図22では、図20のC−C’断面に対応するシミュレーションモデルを用いて(図21参照)、実施形態1における第2のシミュレーション(図9)と同様の磁場解析を行った。
図22によると、本実施形態に係る電流センサ1Cにおけるスリット幅を狭めることにより、磁束密度のZ成分強度の勾配が大きくなっている。よって、本実施形態に係る電流センサ1Cにおいても、スリット幅を狭くすることで、S/N比を高めて電流の測定精度を良くすることができる。
以上説明したように、本実施形態に係る電流センサ1Cにおいては、第1の流路11Aと第2の流路12Aと第1の連接部13とが、同一平面上に設けられる。これにより、電流センサ1Cを小型に構成することができる。
本実施形態において、第1の磁気センサ21と第2の磁気センサ22とは、同一平面上において第1及び第2の流路11A,12A間の領域内、即ちスリット15の内部に配置される。これにより、電流センサ1Cを薄型に構成することができる。
なお、各磁気センサ21,22の配置位置は、バスバー10Bの各部11A,12A,13,14と同一平面上に限らず、例えばスリット15の外部において、信号磁場H1,H2のZ成分が互いに逆相で検出可能な範囲内に配置されてもよい。
(実施形態5)
実施形態1〜4では、二つの連接部を備えるバスバーを用いた。実施形態5では、バスバーにおける連接部が一つの電流センサについて説明する。
実施形態5に係る電流センサの構成について、図23を参照して説明する。図23は、本実施形態に係る電流センサ1Dの構成を示す斜視図である。
本実施形態に係る電流センサ1Dは、実施形態4と同様の構成において(図20)、二つの連接部13,14を備えるバスバー10Bの代わりに、図23に示すように一つの連接部18を備えたバスバー10Cを備える。換言すると、バスバー10Cは、長手方向(Y方向)において第1及び第2の流路11A,12Aが合流する連接部18とは反対側(−Y側)で、第1の流路11Aと第2の流路12Aとの二股に分離している。
図23では、本実施形態におけるバスバー10Cに電流を流した場合の電流の向きの一例を示している。本例では、電流が第1の流路11Aでは+Y向きに流れ、連接部18において迂回し、第2の流路12Aでは−Y向きに流れている。つまり、本実施形態におけるバスバー10Cは、連接部18において電流の流れを折り返しており、連接部18は、第1の流路11Aの出口と第2の流路12Aの入口とを連結している。
また、図23では、第1及び第2の磁気センサ21,22は、スリット15近傍において、各流路11A,12Aよりも+Z側に配置されている。第1及び第2の磁気センサ21,22は、各流路11A,12Aよりも−Z側に配置されてもよい。各磁気センサ21,22は、感度軸を例えば+X方向(又は−X方向)に向けて配置される。
以上のように構成される電流センサ1Dの動作について、図24,25を用いて説明する。
図24は、本実施形態に係る電流センサ1Dにおける信号磁場を説明するための図である。図24は、図23のD−D’断面に対応している。D−D’断面は、電流センサ1Dにおいて各切欠き部16A,17A及び各磁気センサ21,22を通るXY平面に平行な断面である。
本実施形態に係る電流センサ1Dでは、第1の流路11Aと第2の流路12Aとにおいて電流が逆向きに流れるため、図24に示すように、第1の流路11A近傍の信号磁場H1と第2の流路12A近傍の信号磁場H2とは、互いに逆向きに周回する。このことから、第1及び第2の流路11A,12A間で+Z側(又は−Z側)の領域においては、図24に示すように、第1の流路11A近傍の信号磁場H1のX成分と第2の流路12A近傍の信号磁場H2のX成分とが、互いに逆向きになる。よって、上記の領域に配置された第1及び第2の磁気センサ21,22には、互いに逆相の信号磁場H1,H2が入力されることとなる。
図25は、本実施形態に係る電流センサ1Dについてのシミュレーション結果を示すグラフである。図25では、図23のD−D’断面に対応するシミュレーションモデルを用いて(図24参照)、実施形態4と同様の磁場解析を行った。
図25では、バスバー10Cの主面から+Z側に2mm離れた各種X位置における磁束密度のX成分の分布を示している。図25によると、本実施形態に係る電流センサ1Cにおいても、X位置=0(スリット15の中心位置)を境界として、磁束密度のX成分の分布が、X位置>0とX位置<0とで逆相に形成されている。また、スリット幅を狭めることにより、磁束密度のX成分強度の勾配が大きくなっている。よって、本実施形態に係る電流センサ1Dにおいても、スリット幅を狭くすることで、S/N比を高めて電流の測定精度を良くすることができる。
以上説明したように、本実施形態に係る電流センサ1Dにおいては、連接部18が、第1の流路11の入口と第2の流路12の出口とを連接する。このように、第1及び第2の流路11A,12A間で電流が折り返し流れる電流センサ1Dにおいても、スリット幅を狭くすることで、S/N比を高めて電流の測定精度を良くすることができる。また、切欠き部16A,17Aを設ける範囲を磁気センサ21,22近傍に制限することにより、通電時の発熱を低減することができる。
(他の実施形態)
上記の説明では、各実施形態に係る電流センサ1,1A〜1Dについて筐体等の図示を省略したが、電流センサ1,1A〜1Dには、種々の実装を適用可能である。一例として、実施形態3に係る電流センサ1Bの実装例について、図26,27を用いて説明する。
図26は、電流センサ1Bの第1の実装例を示す斜視図である。本例では、電流センサ1Bの磁気検出部2A(図18)が筐体5にパッケージングされている。筐体5は、電気絶縁性を有する材料、例えばPPS(ポリフェニレンサルファイド)などのエンジニアリングプラスチックで構成される。PPS等の高温耐性が高い合成樹脂を用いることにより、筐体5においてバスバー10Aの発熱対策を行うことができる。
筐体5とバスバー10Aとは、例えばネジ止めや熱溶着等により、互いに固定される。磁気検出部2Aを構成する各種部品をパッケージ内に同封してバスバー10Aに固定することで、電流センサ1Bの小型化、低コスト化を図れる。
図27は、第2の実装例の電流センサ1B’を示す斜視図である。本例の電流センサ1B’では、磁気検出部2Aがバスバー10Aの第1及び第2の流路11A,12A(図18)と共に、樹脂モールド等の筐体5Aにインサートモールドされている。インサートモールドにより、電流センサ1B’の各部が一体的に固定され、バスバー10Aの振動、衝撃などの機械的負荷に対する電流センサ1B’の耐性を高めることができる
また、上記各実施形態に係る電流センサ1,1A〜1Dにおいては、さらに、外乱磁場等を遮断する磁気シールドを設けてもよい。磁気シールドは、種々の磁性体材料で構成でき、特に、PBパーマロイ、PCパーマロイ、42Ni、方向性電磁鋼板、無方向性電磁鋼板、鉄、などの軟磁性体材料で構成することができる。また、異種材料の磁気シールドを重ねて使用してもよい。
磁気シールドにおいては、PBパーマロイ、PCパーマロイ、42Niなどの透磁率が高い材料を用いることにより、磁気シールドによるシールド効果を高くできる。また、磁気シールド内の磁場が大きいことが想定される場合には、無方向性電磁鋼板、鉄などを用いることにより、磁気シールドが飽和に到るまでの磁場の上限値を大きくすることができる。磁気シールドは磁性体内の磁場が大きくなると透磁率が低下するため、磁性体内の磁場を低くすることがシールド効果を低下させないために重要である。
磁気シールドの厚みや長さなどの寸法は、適宜、磁気センサの種類や使用環境に応じて選択できる。磁気シールドの開口部の距離は、磁気センサの入力磁場などに応じて適宜設計できる。磁気シールドの固定方法は、特に限定されず、筺体に接着剤で固定されていてもよいし、樹脂の熱溶着による固定、筺体へのインサートモールド、ネジ止めなどであってもよい。
また、上記各実施形態に係る電流センサ1,1A〜1Dは、例えば三相交流などの複数相の電流を測定するために用いることができる。この場合、例えば複数相に対応する個数の電流センサを並列に配置して、各相の電流を測定することができる。
1,1A〜1D 電流センサ
10,10A〜10C バスバー
11,11A 第1の流路
12,12A 第2の流路
13 第1の連接部
14 第2の連接部
15 スリット
16,16A 第1の切欠き部
17,17A 第2の切欠き部
18 連接部
2,2A 磁気検出部
20 増幅回路
21 第1の磁気センサ
22 第2の磁気センサ
26,27 磁石

Claims (22)

  1. 測定対象の電流が流れる導体であって、第1の流路と、前記第1の流路の幅方向において前記第1の流路に並ぶ第2の流路と、前記第1の流路と前記第2の流路とが合流する第1の連接部とを備えた導体と、
    前記導体に流れる電流によって生じる磁場を検出する磁気センサであって、前記幅方向に並んで配置された二つの磁気センサと
    を備え、
    前記導体には、前記幅方向において前記第1の流路の両側縁のうちの前記第2の流路から遠い側の側縁を切欠いた第1の切欠き部が設けられ、
    前記二つの磁気センサのうちで前記第2の流路よりも前記第1の流路の近傍に配置された第1の磁気センサは、前記第1の流路における前記第1の切欠き部とは反対側の側縁近傍に位置する
    電流センサ。
  2. 前記第1の流路の幅方向における前記第1の切欠き部の幅は、前記幅方向における前記第1及び第2の流路間の間隔よりも大きい
    請求項1に記載の電流センサ。
  3. 前記第1の切欠き部は、前記第1の流路の長手方向における一部の範囲に設けられ、
    前記第1の磁気センサの少なくとも一部は、前記第1の流路の長手方向において前記第1の切欠き部が設けられた範囲内に位置する
    請求項1又は2に記載の電流センサ。
  4. 磁石をさらに備え、
    前記磁石の少なくとも一部は、前記第1の流路の長手方向において、前記第1の切欠き部が設けられた範囲外に配置された
    請求項3に記載の電流センサ。
  5. 前記第1の切欠き部は、前記第1の流路の長手方向における中央に位置する
    請求項3又は4に記載の電流センサ。
  6. 前記第1の流路の長手方向における前記第1の磁気センサの位置は、前記第1の切欠き部の中央である
    請求項3〜5のいずれか1項に記載の電流センサ。
  7. 前記第1の流路の幅方向における前記第1の切欠き部の幅は、前記第1の流路の長手方向における前記第1の切欠き部の長さ以上である
    請求項3〜6のいずれか1項に記載の電流センサ。
  8. 前記幅方向において、前記第1の切欠き部の側方における前記第1の流路の幅は、前記第1の切欠き部の幅よりも大きい
    請求項3〜7のいずれか1項に記載の電流センサ。
  9. 前記導体には、前記第1の流路と前記第2の流路との間において前記導体の長手方向に沿って延びるスリットが設けられ、
    前記幅方向において、前記スリットの幅は、前記第1の切欠き部の幅よりも小さい
    請求項2に記載の電流センサ。
  10. 前記導体には、前記幅方向において前記第2の流路の両側縁のうちの前記第1の流路から遠い側の側縁を切欠いた第2の切欠き部が設けられ、
    前記二つの磁気センサのうちで前記第1の流路よりも前記第2の流路の近傍に配置された第2の磁気センサは、前記第2の流路における前記第2の切欠き部とは反対側の側縁近傍に位置する
    請求項1〜8のいずれか1項に記載の電流センサ。
  11. 前記第2の切欠き部は、前記第2の流路の長手方向における一部の範囲に設けられた
    請求項10に記載の電流センサ。
  12. 前記第1の切欠き部と前記第2の切欠き部とは、前記幅方向において並んで配置される
    請求項10又は11に記載の電流センサ。
  13. 前記第1の流路と前記第2の流路との間において前記導体の長手方向に沿って延びるスリットが設けられ、
    前記幅方向において、前記スリットの幅は、前記第1及び第2の切欠き部のそれぞれの幅よりも小さい
    請求項10〜12のいずれか1項に記載の電流センサ。
  14. 前記第1の磁気センサは、前記第1の流路における前記第1の切欠き部の側方であって、前記導体の長手方向及び前記幅方向に交差する高さ方向における前記第1の流路の両側のうちのいずれか一方の側に配置され、
    前記第2の磁気センサは、前記第2の流路における前記第2の切欠き部の側方であって、前記高さ方向における前記第2の流路の両側のうちのいずれか一方の側に配置される
    請求項10〜13のいずれか1項に記載の電流センサ。
  15. 前記幅方向に沿った共通の向きを有する断面において、前記第1の連接部の最大断面積は、前記第1の流路の最大断面積と前記第2の流路の最大断面積との和よりも大きい
    請求項1又は10に記載の電流センサ。
  16. 前記第1の連接部は、前記第1の流路の入口と前記第2の流路の入口とを連接し、
    前記導体は、前記第1の流路の出口と前記第2の流路の出口とを連接する第2の連接部を備える
    請求項1又は10に記載の電流センサ。
  17. 前記第1及び第2の連接部間において前記第1の流路と前記第2の流路とは、前記導体の長手方向及び前記幅方向に交差する高さ方向において、互いに異なる位置に配置される
    請求項16に記載の電流センサ。
  18. 前記二つの磁気センサは、互いに共通の基板上に設けられたMR素子で構成され、
    前記基板が、前記高さ方向において前記第1の流路と前記第2の流路との間に配置される
    請求項17に記載の電流センサ。
  19. 前記第1の連接部は、前記第1の流路の入口と前記第2の流路の出口とを連接する
    請求項1〜15のいずれか1項に記載の電流センサ。
  20. 前記第1の流路と前記第2の流路と前記第1の連接部とが、同一平面上に設けられた
    請求項1又は10に記載の電流センサ。
  21. 前記二つの磁気センサは、前記同一平面上において前記第1及び第2の流路間の領域内に配置される
    請求項20に記載の電流センサ。
  22. 前記二つの磁気センサは、同一方向の磁場に対する増減変化が互いに同じ傾向である出力を各々の検出結果として生成し、
    前記各磁気センサの検出結果を差動増幅する増幅回路をさらに備える
    請求項1〜21のいずれか1項に記載の電流センサ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220091100A (ko) * 2020-12-23 2022-06-30 태성전장주식회사 전류센서 소자와 버스바 간의 에어갭 유지 유니트
WO2024085258A1 (ja) * 2022-10-21 2024-04-25 甲神電機株式会社 電流センサ

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11002804B1 (en) * 2020-01-14 2021-05-11 Honeywell International Inc. Magnetic field sensor compensation methods and systems
US11467188B2 (en) * 2020-02-25 2022-10-11 Infineon Technologies Ag Current sensor for improved functional safety
DE102020108880B4 (de) * 2020-03-31 2024-05-08 Infineon Technologies Ag Sensorvorrichtungen mit Bypassstrompfad und zugehörige Herstellungsverfahren
EP3940396B1 (en) * 2020-07-16 2024-04-17 Melexis Technologies SA Current sensor and method
JP2022069895A (ja) * 2020-10-26 2022-05-12 昭和電工株式会社 磁気センサ
DE112021006800T5 (de) * 2021-01-14 2023-11-02 Alps Alpine Co., Ltd. Stromsensor und elektrische Vorrichtung
DE102021119837B4 (de) * 2021-07-30 2023-02-16 Schaeffler Technologies AG & Co. KG Stromsensor
US11656250B2 (en) * 2021-09-07 2023-05-23 Allegro Microsystems, Llc Current sensor system
JP2023043550A (ja) * 2021-09-16 2023-03-29 株式会社東芝 電流検出装置
US11892476B2 (en) * 2022-02-15 2024-02-06 Allegro Microsystems, Llc Current sensor package
US11940470B2 (en) 2022-05-31 2024-03-26 Allegro Microsystems, Llc Current sensor system

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5041780A (en) * 1988-09-13 1991-08-20 California Institute Of Technology Integrable current sensors
DE19838536A1 (de) * 1998-08-25 2000-03-02 Lust Antriebstechnik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Bildung eines oder mehrerer Magnetfeldgradienten durch einen geraden Leiter
JP3696448B2 (ja) * 1999-09-02 2005-09-21 矢崎総業株式会社 電流検出器
JP3631925B2 (ja) * 1999-09-07 2005-03-23 矢崎総業株式会社 電流検出器及びこれを用いた電気接続箱
JP2001339109A (ja) * 2000-05-26 2001-12-07 Sanken Electric Co Ltd ホ−ル素子を備えた電流検出装置
JP2003090850A (ja) * 2001-09-17 2003-03-28 Asahi Kasei Corp 電流センサ
JP4434111B2 (ja) 2005-09-12 2010-03-17 株式会社デンソー 電流センサおよび電流検出方法
US9222992B2 (en) * 2008-12-18 2015-12-29 Infineon Technologies Ag Magnetic field current sensors
US8442787B2 (en) * 2010-04-30 2013-05-14 Infineon Technologies Ag Apparatus, sensor circuit, and method for operating an apparatus or a sensor circuit
JP2014134458A (ja) * 2013-01-10 2014-07-24 Alps Green Devices Co Ltd 電流センサ
JP2015137892A (ja) * 2014-01-21 2015-07-30 日立金属株式会社 電流検出構造
KR20160016191A (ko) * 2014-08-04 2016-02-15 현대모비스 주식회사 전류센서-전력전도체 조립체의 크기 최적화 구조
WO2017010219A1 (ja) * 2015-07-10 2017-01-19 株式会社村田製作所 電流センサ
US9733280B2 (en) * 2015-09-08 2017-08-15 Infineon Technologies Ag Balancing an eddy current effect and a skin effect on a magnetic sensor using die paddle notches
JP6651956B2 (ja) * 2016-04-01 2020-02-19 日立金属株式会社 電流センサ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220091100A (ko) * 2020-12-23 2022-06-30 태성전장주식회사 전류센서 소자와 버스바 간의 에어갭 유지 유니트
KR102473717B1 (ko) 2020-12-23 2022-12-02 태성전장주식회사 전류센서 소자와 버스바 간의 에어갭 유지 유니트
WO2024085258A1 (ja) * 2022-10-21 2024-04-25 甲神電機株式会社 電流センサ

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