JP2020096751A - Ｘ線診断装置 - Google Patents

Abstract

【課題】アームの回転時において、注目部位を適切に表示すること。【解決手段】実施形態のＸ線診断装置は、Ｘ線を発生するＸ線発生部と、前記Ｘ線を検出して検出信号を出力するＸ線検出部と、アームと、取得部と、制御部とを備える。アームは、前記Ｘ線発生部と前記Ｘ線検出部とを、被検体を挟んで対向するように保持する。取得部は、前記被検体における注目部位の高さを示す高さ情報を取得する。制御部は、前記アームの回転時に、前記高さ情報に基づいて、前記Ｘ線の照射範囲に対する前記注目部位の位置を維持するように機構系を制御する。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置に関する。

従来、Ｘ線管及びＸ線検出器をアームにより保持するＸ線診断装置が知られている。かかるＸ線診断装置を用いた検査においては、アームの動作を制御することにより、Ｘ線画像を収集する位置や角度を調整することができる。例えば、検査中に透視像を収集しつつアームを回転させることにより、医師等の操作者は、注目部位（患部等）を多方向から観察することができる。

特開２０１６−１９８２６２号公報 特開２００３−２３０５５６号公報

本発明が解決しようとする課題は、アームの回転時において、注目部位を適切に表示することである。

実施形態のＸ線診断装置は、Ｘ線を発生するＸ線発生部と、前記Ｘ線を検出して検出信号を出力するＸ線検出部と、アームと、取得部と、制御部とを備える。アームは、前記Ｘ線発生部と前記Ｘ線検出部とを、被検体を挟んで対向するように保持する。取得部は、前記被検体における注目部位の高さを示す高さ情報を取得する。制御部は、前記アームの回転時に、前記高さ情報に基づいて、前記Ｘ線の照射範囲に対する前記注目部位の位置を維持するように機構系を制御する。

図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の構成の一例を示すブロック図である。 図２Ａは、第１の実施形態に係るＣアームの回転の一例を示す図である。 図２Ｂは、第１の実施形態に係るＣアームの回転の一例を示す図である。 図２Ｃは、第１の実施形態に係るＣアームの回転の一例を示す図である。 図３Ａは、第１の実施形態に係る機構系の制御の一例を示す図である。 図３Ｂは、第１の実施形態に係る機構系の制御の一例を示す図である。 図４Ａは、第１の実施形態に係る機構系の制御の一例を示す図である。 図４Ｂは、第１の実施形態に係る機構系の制御の一例を示す図である。 図４Ｃは、第１の実施形態に係る注目部位の高さの算出処理について説明するための図である。 図５は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の処理の一連の流れを説明するためのフローチャートである。

以下、図面を参照して、実施形態に係るＸ線診断装置を説明する。

（第１の実施形態）
まず、図１を用いて、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１について説明する。図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１の構成の一例を示すブロック図である。図１に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線高電圧装置１１と、Ｘ線管１２と、Ｘ線絞り器１３と、天板１４と、Ｃアーム１５と、Ｘ線検出器１６と、メモリ１７と、ディスプレイ１８と、入力インターフェース１９と、処理回路２０とを備える。

なお、本実施形態では、説明の便宜のため、非チルト状態での天板１４の長手方向をＺ軸方向とする。また、Ｚ軸方向に直交し、床面に対して水平な方向をＸ軸方向とする。Ｘ軸方向は、非チルト状態での天板１４の短手方向に対応する。また、Ｚ軸方向に直交し、床面に対して垂直な方向をＹ軸方向とする。

Ｘ線高電圧装置１１は、処理回路２０による制御の下、Ｘ線管１２に高電圧を供給する。例えば、Ｘ線高電圧装置１１は、変圧器（トランス）及び整流器等の電気回路を有し、Ｘ線管１２に印加する高電圧を発生する高電圧発生装置と、Ｘ線管１２が照射するＸ線に応じた出力電圧の制御を行うＸ線制御装置とを有する。なお、高電圧発生装置は、変圧器方式であってもよいし、インバータ方式であってもよい。

Ｘ線管１２は、熱電子を発生する陰極（フィラメント）と、熱電子の衝突を受けてＸ線を発生する陽極（ターゲット）とを有する真空管である。Ｘ線管１２は、Ｘ線高電圧装置１１から供給される管電圧を用いて、フィラメントからターゲットに向けて熱電子を照射することにより、Ｘ線を発生する。なお、Ｘ線管１２は、Ｘ線発生部の一例である。

Ｘ線絞り器１３は、Ｘ線管１２により発生されたＸ線の照射範囲を絞り込むコリメータ、及び、Ｘ線管１２により発生されたＸ線を調節するフィルタを有する。

Ｘ線絞り器１３におけるコリメータは、例えば、スライド可能な４枚の絞り羽根を有する。コリメータは、絞り羽根をスライドさせることで、Ｘ線管１２が発生したＸ線を絞り込んで被検体Ｐに照射させる。ここで、絞り羽根は、鉛などで構成された板状部材であり、Ｘ線の照射範囲を調整するためにＸ線管１２のＸ線照射口付近に設けられる。

Ｘ線絞り器１３におけるフィルタは、被検体Ｐに対する被曝線量の低減とＸ線画像データの画質向上を目的として、その材質や厚みによって透過するＸ線の線質を変化させ、被検体Ｐに吸収されやすい軟線成分を低減したり、Ｘ線画像データのコントラスト低下を招く高エネルギー成分を低減したりする。また、フィルタは、その材質や厚み、位置などによってＸ線の線量及び照射範囲を変化させ、Ｘ線管１２から被検体Ｐへ照射されるＸ線が予め定められた分布になるようにＸ線を減衰させる。

例えば、Ｘ線絞り器１３は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路２０による制御の下、駆動機構を動作させることによりＸ線の照射を制御する。例えば、Ｘ線絞り器１３は、処理回路２０から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、コリメータの絞り羽根の開度を調整して、被検体Ｐに対して照射されるＸ線の照射範囲を制御する。また、例えば、Ｘ線絞り器１３は、処理回路２０から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、フィルタの位置を調整することで、被検体Ｐに対して照射されるＸ線の線量の分布を制御する。

なお、Ｘ線絞り器１３は、コリメータを移動可能に構成されてもよい。即ち、Ｘ線絞り器１３は、処理回路２０から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、コリメータの位置を調整することで、被検体Ｐに対するＸ線の照射位置や照射角度を制御してもよい。

天板１４は、被検体Ｐを載せるベッドであり、図示しない寝台駆動装置の上に配置される。なお、被検体Ｐは、Ｘ線診断装置１に含まれない。例えば、寝台駆動装置は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路２０による制御の下、駆動機構を動作させることにより、天板１４の移動・傾斜を制御する。例えば、寝台駆動装置は、処理回路２０から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、天板１４を移動させたり、傾斜させたりする。なお、以下では、被検体Ｐを載置する装置を寝台とも記載する。寝台は、例えば、天板１４や寝台駆動装置を含む。

Ｃアーム１５は、Ｘ線管１２及びＸ線絞り器１３と、Ｘ線検出器１６とを、被検体Ｐを挟んで対向するように保持する。例えば、Ｃアーム１５は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路２０による制御の下、駆動機構を動作させることにより、回転したり移動したりする。例えば、Ｃアーム１５は、処理回路２０から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、Ｘ線管１２及びＸ線絞り器１３と、Ｘ線検出器１６とを被検体Ｐに対して回転・移動させ、Ｘ線の照射位置や照射角度を制御する。なお、Ｃアーム１５は、アームの一例である。図１では、Ｘ線診断装置１がシングルプレーンの場合を例に挙げて説明しているが、実施形態はこれに限定されるものではなく、バイプレーンの場合であってもよい。

また、Ｃアーム１５は、複数方向に回転可能であってもよい。例えば、Ｃアーム１５は、図１に示すように、Ｘ線管１２及びＸ線絞り器１３とＸ線検出器１６とで、被検体Ｐを＋Ｘ方向から挟み込むように配置される。即ち、Ｃアーム１５は、被検体Ｐの側面に配置される。かかる場合において、Ｃアーム１５は、Ｘ軸方向を回転軸として回転したり、Ｚ軸方向を回転軸として回転したりすることができる。

図１はあくまで一例であり、被検体Ｐに対するＣアーム１５の配置や、Ｃアーム１５の回転軸の数及び方向については任意に変更が可能である。以下では一例として、Ｃアーム１５が被検体Ｐの側面に配置され、かつ、Ｚ軸方向を回転軸として回転する場合について説明する。

Ｘ線検出器１６は、例えば、マトリクス状に配列された検出素子を有するＸ線平面検出器（Flat Panel Detector：ＦＰＤ）である。Ｘ線検出器１６は、Ｘ線管１２から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出し、検出したＸ線量に対応した検出信号を処理回路２０へと出力する。ここで、Ｘ線検出器１６は、グリッド、シンチレータアレイ及び光センサアレイを有する間接変換型の検出器であってもよいし、入射したＸ線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であっても構わない。なお、Ｘ線検出器１６は、Ｘ線検出部の一例である。

メモリ１７は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。例えば、メモリ１７は、処理回路２０によって収集されたＸ線画像データを受け付けて記憶する。また、メモリ１７は、Ｘ線診断装置１に含まれる回路によって実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。なお、メモリ１７は、Ｘ線診断装置１とネットワークを介して接続されたサーバ群（クラウド）により実現されることとしてもよい。

ディスプレイ１８は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ１８は、処理回路２０による制御の下、操作者の指示を受け付けるためのＧＵＩ（Graphical User Interface）や、各種のＸ線画像を表示する。例えば、ディスプレイ１８は、液晶ディスプレイやＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイである。なお、ディスプレイ１８はデスクトップ型でもよいし、処理回路２０と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。

入力インターフェース１９は、操作者からの各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路２０に出力する。例えば、入力インターフェース１９は、マウスやキーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチスクリーン、光学センサを用いた非接触入力回路、音声入力回路等により実現される。なお、入力インターフェース１９は、処理回路２０と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。また、入力インターフェース１９は、マウスやキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、Ｘ線診断装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路２０へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース１９の例に含まれる。

処理回路２０は、制御機能２０１、取得機能２０２、受付機能２０３、画像生成機能２０４及び表示制御機能２０５を実行することで、Ｘ線診断装置１全体の動作を制御する。ここで、制御機能２０１は、制御部の一例である。また、取得機能２０２は、取得部の一例である。また、受付機能２０３は、受付部の一例である。

例えば、処理回路２０は、メモリ１７から制御機能２０１に相当するプログラムを読み出して実行することにより、入力インターフェース１９を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、処理回路２０の各種機能を制御する。また、制御機能２０１は、Ｘ線診断装置１における機構系を制御する。ここで、Ｘ線診断装置１の機構系には、例えば、Ｘ線絞り器１３やＣアーム１５、寝台等が含まれる。例えば、制御機能２０１は、Ｘ線絞り器１３の動作を制御し、コリメータが有する絞り羽根の開度を調整することで、Ｘ線管１２により発生されたＸ線の照射範囲を絞り込む。また、制御機能２０１は、Ｘ線絞り器１３の動作を制御し、コリメータの位置を調整することで、Ｘ線の照射位置や照射角度を制御する。また、制御機能２０１は、Ｘ線絞り器１３の動作を制御し、フィルタの位置を調整することで、Ｘ線の線量の分布を制御する。また、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の動作を制御し、Ｃアーム１５を回転させたり移動させたりすることで、Ｘ線の照射位置や照射角度を制御する。また、制御機能２０１は、寝台の動作を制御し、天板１４を移動させたり傾斜させたりすることで、Ｘ線の照射位置や照射角度を制御する。なお、制御機能２０１による機構系の制御については後述する。

また、例えば、処理回路２０は、メモリ１７から取得機能２０２に相当するプログラムを読み出して実行することにより、被検体Ｐにおける注目部位の高さを示す高さ情報を取得する。また、例えば、処理回路２０は、メモリ１７から受付機能２０３に相当するプログラムを読み出して実行することにより、操作者から、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を補正する操作を受け付ける。なお、取得機能２０２及び受付機能２０３による処理については後述する。

また、処理回路２０は、メモリ１７から画像生成機能２０４に相当するプログラムを読み出して実行することにより、Ｘ線検出器１６から出力された検出信号に基づいてＸ線画像データを生成し、生成したＸ線画像データをメモリ１７に格納する。ここで、画像生成機能２０４は、生成したＸ線画像データに対して各種画像処理を行なってもよい。例えば、画像生成機能２０４は、Ｘ線画像データに対して、画像処理フィルタによるノイズ低減処理や、散乱線補正を実行する。

また、処理回路２０は、メモリ１７から表示制御機能２０５に相当するプログラムを読み出して実行することにより、ディスプレイ１８に各種の画像を表示させる。例えば、表示制御機能２０５は、操作者の指示を受け付けるためのＧＵＩをディスプレイ１８に表示させる。また、例えば、表示制御機能２０５は、各種のＸ線画像データをディスプレイ１８に表示させる。なお、表示制御機能２０５は、ディスプレイ１８の全体にＸ線画像データを表示させてもよいし、ディスプレイ１８の一部に表示領域を設け、表示領域にＸ線画像データを表示させてもよい。また、制御機能２０１は、Ｘ線診断装置１と他の装置との間におけるデータの送受信を制御する。例えば、制御機能２０１は、各種の画像データを、図示しない画像保管装置に対して送信する。

図１に示すＸ線診断装置１においては、各処理機能がコンピュータによって実行可能なプログラムの形態でメモリ１７へ記憶されている。処理回路２０は、メモリ１７からプログラムを読み出して実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、プログラムを読み出した状態の処理回路２０は、読み出したプログラムに対応する機能を有することとなる。なお、図１においては単一の処理回路２０にて、制御機能２０１、取得機能２０２、受付機能２０３、画像生成機能２０４及び表示制御機能２０５が実現するものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路２０を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。また、処理回路２０が有する各処理機能は、単一又は複数の処理回路に適宜に分散又は統合されて実現されてもよい。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、あるいは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサはメモリ１７に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。

なお、図１においては、単一のメモリ１７が各処理機能に対応するプログラムを記憶するものとして説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、複数のメモリ１７を分散して配置し、処理回路２０は、個別のメモリ１７から対応するプログラムを読み出す構成としても構わない。また、メモリ１７にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。

また、処理回路２０は、ネットワークＮＷを介して接続された外部装置のプロセッサを利用して、機能を実現することとしてもよい。例えば、処理回路２０は、メモリ１７から各機能に対応するプログラムを読み出して実行するとともに、Ｘ線診断装置１とネットワークＮＷを介して接続されたサーバ群（クラウド）を計算資源として利用することにより、図１に示す各機能を実現する。

以上、Ｘ線診断装置１の全体構成について説明した。かかる構成のもと、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、処理回路２０による処理によって、Ｃアーム１５の回転時において、注目部位を適切に表示する。

まず、Ｃアーム１５の回転について、図２Ａ、図２Ｂ及び図２Ｃを用いて説明する。図２Ａ、図２Ｂ及び図２Ｃは、第１の実施形態に係るＣアーム１５の回転の一例を示す図である。なお、図２Ａ及び図２Ｂにおいては、Ｘ線の照射範囲を点線にて示し、Ｘ線の照射範囲における中心線を実線で示す。

例えば、制御機能２０１は、まず、図２Ａに示す配置において、被検体Ｐに対してＸ線を照射させる。一例を挙げると、制御機能２０１は、Ｘ線高電圧装置１１からＸ線管１２に対する管電圧の供給を制御することにより、被検体Ｐに対してＸ線パルスを繰り返し照射させる。ここで、Ｘ線検出器１６は、被検体Ｐを透過したＸ線を検出し、検出したＸ線量に対応した検出信号を処理回路２０へと出力する。また、画像生成機能２０４は、Ｘ線検出器１６から出力された検出信号に基づいてＸ線画像データを生成する。例えば、画像生成機能２０４は、被検体Ｐに対するＸ線パルスの照射が行われるごとに、Ｘ線画像データを順次生成する。また、表示制御機能２０５は、Ｘ線画像データが生成される毎に、生成されたＸ線画像データをディスプレイ１８に順次表示させる。なお、以下では、Ｘ線の照射と並行して順次表示されるＸ線画像データを、透視像と記載する。

ここで、透視像が示す範囲は、Ｘ線の照射範囲に対応する。例えば、注目部位がＸ線の照射範囲の中心線上に位置する場合、注目部位は、透視像の中心に表示される。即ち、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置が図２Ａに示す状態である場合、注目部位は、図２Ｃ左図に示すように、透視像の中心に表示される。そして、注目部位が透視像の中心に表示されることで、操作者は注目部位を容易に観察することができる。即ち、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を図２Ａに示す状態とすることで、Ｘ線診断装置１は、注目部位を適切に表示することができる。

なお、注目部位は、透視像を用いた検査において、医師等の操作者が注目する部位である。例えば、消化器における病変の有無を診断する場合、注目部位の例としては、食道や胃などが挙げられる。また、例えば、血管狭窄に対するインターベンション治療において、狭窄位置にステントを留置する手技が行われる場合、注目部位の例としては、ステントや狭窄位置などが挙げられる。即ち、注目部位は、被検体Ｐの臓器や血管等であってもよいし、被検体Ｐの体内に挿入された医療デバイスであってもよい。

ここで、透視像を収集する角度は、検査中に変更される場合がある。例えば、注目部位を異なる角度で観察することを希望する場合、操作者は、入力インターフェース１９を介して、Ｃアーム１５を回転させる操作を入力する。ここで、受付機能２０３は、操作者から入力された操作を受け付ける。また、制御機能２０１は、操作者から受け付けた操作に基づいて、図２Ｂに示すように、Ｃアーム１５を回転させる。

ここで、Ｃアーム１５が回転したことによって、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置が変化してしまう場合がある。例えば、図２Ｂに示すように、Ｃアーム１５が回転したことによって、Ｘ線の照射範囲における中心線から注目部位がずれてしまう場合がある。具体的には、Ｃアーム１５の回転中心の位置と注目部位の位置とが一致している場合を除いて、Ｃアーム１５の回転に伴い、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置は変化する。注目部位がＸ線の照射範囲の中心線からずれている場合、注目部位は、透視像の中心からずれた状態で表示され、或いは、透視像上に表示されなくなる。かかる場合、操作者は、注目部位を観察しにくくなり、或いは、注目部位を観察できなくなる。

そこで、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、被検体Ｐにおける注目部位の高さを示す高さ情報を取得し、Ｃアーム１５の回転時に、高さ情報に基づいて、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように機構系を制御することで、注目部位を適切に表する。以下、高さ情報に基づく機構系の制御について、図３Ａ及び図３Ｂを用いて説明する。図３Ａ及び図３Ｂは、第１の実施形態に係る機構系の制御の一例を示す図である。

まず、取得機能２０２は、被検体Ｐにおける注目部位の高さを示す高さ情報を取得する。ここで、高さ情報は、被検体Ｐにおける注目部位の高さを間接的又は直接的に示す情報である。一例を挙げると、高さ情報は、注目部位のＹ座標である。別の例を挙げると、高さ情報は、基準位置と注目部位との間のＹ軸方向の距離である。以下では、基準位置と注目部位との間のＹ軸方向の距離を、高さ情報として取得する場合について説明する。即ち、以下では、基準位置から注目部位までの高さを、高さ情報として取得する場合について説明する。

なお、基準位置としては任意の位置を使用できる。例えば、取得機能２０２は、天板１４の表面や、Ｃアーム１５の回転中心、床、天井等の任意の位置を基準として、高さ情報を取得する。以下では一例として、天板１４の表面を基準位置として、高さ情報を取得する場合について説明する。即ち、以下では、天板１４の表面から注目部位までの高さを、高さ情報として取得する場合について説明する。

例えば、取得機能２０２は、まず、検査情報に基づいて、被検体Ｐにおける注目部位を特定する。一例を挙げると、取得機能２０２は、注目部位として、検査対象となる臓器や血管の種類、検査にて使用される医療デバイスの種類を特定する。ここで、検査情報は、入力インターフェース１９を介して操作者により入力されてもよいし、ネットワークを介して病院情報システム（Hospital Information Systems：ＨＩＳ)や放射線科情報システム（Radiology Information Systems：ＲＩＳ)から取得されてもよい。

次に、取得機能２０２は、特定した注目部位に応じて、注目部位の高さを示す高さ情報を取得する。例えば、取得機能２０２は、部位と天板１４の表面からの高さとを対応付けた対応情報Ｒ１に基づいて、注目部位の高さを示す高さ情報を取得する。

一例を挙げると、対応情報Ｒ１においては、検査対象となる臓器や血管の種類、検査にて使用される医療デバイスの種類のそれぞれに対して、天板１４の表面からの高さが対応付けられる。なお、対応情報Ｒ１は、検査の開始前に作成され、メモリ１７に事前に格納される。対応情報Ｒ１は、Ｘ線診断装置１又は他の装置により作成されてもよいし、操作者がマニュアルで作成してもよい。そして、取得機能２０２は、対応情報Ｒ１において注目部位に対応付いた高さを、注目部位の高さを示す高さ情報として取得する。即ち、取得機能２０２は、注目部位に応じてプリセットされた高さをメモリ１７から読み出すことにより、高さ情報を取得する。

次に、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、高さ情報に基づいて、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように機構系を制御する。以下、Ｃアーム１５の回転時において制御機能２０１が行なう制御について、図３Ａ及び図３Ｂを用いて説明する。図３Ａ及び図３Ｂは、第１の実施形態に係る機構系の制御の一例を示す図である。なお、図３Ａ及び図３Ｂにおいては、機構系の制御の一例として、被検体Ｐを載置する寝台の動作を制御する場合について説明する。

また、図３Ａ及び図３Ｂにおいては、天板１４の表面から注目部位までの高さｄ１を、高さ情報として取得した場合について説明する。図３Ａ及び図３Ｂに示すように、高さｄ１は、注目部位の実際の高さに一致する。即ち、図３Ａ及び図３Ｂにおいては、高さ情報が正確である場合について説明する。

また、図３Ａ及び図３Ｂにおける中心線Ｌ１は、Ｃアーム１５が回転する前のＸ線の照射範囲における中心線を示す。なお、注目部位は、中心線Ｌ１上に位置する。即ち、Ｃアーム１５が回転する前において、注目部位は、透視像の中心に表示される。また、図３Ａ及び図３Ｂにおける角度αは、Ｙ軸に対する中心線Ｌ１の角度を示す。

また、図３Ａ及び図３Ｂにおける中心線Ｌ２は、Ｃアーム１５が回転した後のＸ線の照射範囲における中心線を示す。なお、注目部位は、中心線Ｌ２上には位置しない。即ち、Ｃアーム１５が回転した後において、注目部位は、透視像の中心からずれた状態で表示され、或いは、透視像上に表示されない。また、図３Ａ及び図３Ｂにおける角度βは、Ｙ軸に対する中心線Ｌ２の角度を示す。

また、図３Ａ及び図３Ｂにおける高さｔは、天板１４の表面からＣアーム１５の回転中心までの高さを示す。制御機能２０１は、天板１４及びＣアーム１５の位置に基づいて、高さｔを取得することができる。即ち、天板１４及びＣアーム１５の位置は制御機能２０１が制御するものであるため、高さｔは既知の値である。

制御機能２０１は、角度α、角度β、高さｔ及び高さｄ１に基づいて、図３Ａ及び図３Ｂにおける距離ｘ１を算出する、例えば、制御機能２０１は、下記の式（１）に基づいて、距離ｘ１を算出することができる。

制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に距離ｘ１を算出し、距離ｘ１に基づいて寝台の動作を制御する。具体的には、制御機能２０１は、図３Ｂに示すように、天板１４を−Ｘ方向に距離ｘ１の分だけ移動させる。これにより、注目部位は、中心線Ｌ２上に移動することとなる。即ち、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転の前後に亘って、注目部位がＸ線の照射範囲における中心線上に位置するように、寝台の動作を制御する。換言すると、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように、寝台の動作を制御する。

図３Ａ及び図３Ｂに示したように、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように、寝台の動作を制御する。これによって、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、透視像における注目部位の位置を維持することができる。即ち、Ｘ線診断装置１は、Ｃアーム１５の回転時において、注目部位を適切に表示することができる。

なお、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転後に寝台の動作を制御してもよいし、Ｃアーム１５の回転中に寝台の動作を制御してもよい。ここで、Ｃアーム１５の回転後に寝台の動作を制御する場合について説明する。この場合、制御機能２０１は、まず、操作者から受け付けた操作に基づいて、Ｃアーム１５を回転させる。これにより、Ｘ線の照射範囲における中心線は、中心線Ｌ１から中心線Ｌ２に変化する。即ち、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置が変化するとともに、透視像における注目部位の位置が中心からずれる。次に、制御機能２０１は、角度α、角度β、高さｔ及び高さｄ１に基づいて距離ｘ１を算出し、距離ｘ１に基づいて寝台の動作を制御する。これにより、注目部位は、中心線Ｌ２上に移動するとともに、透視像における中心位置に再度表示される。即ち、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置の変化を補正することにより、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持する。

次に、Ｃアーム１５の回転中に寝台の動作を制御する場合について説明する。この場合、制御機能２０１は、まず、操作者から受け付けた操作に基づいて、距離ｘ１を算出する。具体的には、制御機能２０１は、現在のＸ線の照射範囲の中心線Ｌ１の角度を、角度αとして取得する。また、制御機能２０１は、操作者から受け付けた操作に基づいてＣアーム１５を回転させた場合におけるＸ線の照射範囲の中心線Ｌ２の角度を、角度βとして取得する。そして、制御機能２０１は、角度α、角度β、高さｔ及び高さｄ１に基づいて距離ｘ１を算出する。次に、制御機能２０１は、操作者から受け付けた操作に基づいて、Ｃアーム１５を回転させるとともに、距離ｘ１に基づいて寝台の動作を制御する。これにより、注目部位は、Ｃアーム１５の回転に伴って変化するＸ線の照射範囲に追従して移動するとともに、中心位置からずれることなく透視像上に表示され続ける。即ち、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、Ｘ線の照射範囲に対して注目部位の位置が変化しないよう制御することにより、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持する。

なお、図３Ａ及び図３Ｂにおいては、正確な高さ情報を取得できる場合について説明した。ここで、取得機能２０２が正確な高さ情報を取得できない場合も想定される。例えば、患者間の個人差等により、注目部位に応じてプリセットされた高さと、被検体Ｐにおける注目部位の実際の高さとがずれてしまう場合がある。

以下、高さ情報が正確でない場合について、図４Ａ及び図４Ｂを用いて説明する。図４Ａ及び図４Ｂは、第１の実施形態に係る機構系の制御の一例を示す図である。なお、図４Ａ及び図４Ｂにおいては、機構系の制御の一例として、被検体Ｐを載置する寝台の動作を制御する場合について説明する。また、図４Ａ及び図４Ｂにおいては、高さ情報として、高さｄ２を用いる場合について説明する。高さｄ２は、被検体Ｐにおける注目部位の実際の高さと異なる値である。

Ｃアーム１５の回転時において、制御機能２０１は、角度α、角度β、高さｔ及び高さｄ２に基づいて、図４Ａ及び図４Ｂにおける距離ｘ２を算出する。例えば、制御機能２０１は、式（１）に基づく距離ｘ１の算出と同様に、距離ｘ２を算出することができる。また、制御機能２０１は、距離ｘ２に基づいて、寝台の動作を制御する。具体的には、制御機能２０１は、図４Ｂに示すように、天板１４を−Ｘ方向に距離ｘ２の分だけ移動させる。

ここで、図４Ｂに示す場合、注目部位は、中心線Ｌ２に近い位置まで移動したものの、中心線Ｌ２上には移動していない。即ち、図４Ｂに示す場合、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置はおおよそ維持されるものの、変化が生じる。換言すると、高さ情報が正確でない場合、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を正確に維持することができない。従って、高さ情報が正確でない場合、Ｃアーム１５の回転時において、透視像における注目部位の位置にも変化が生じることとなる。

このような場合、受付機能２０３は、Ｃアーム１５の回転後、操作者から、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を補正する操作を受け付ける。例えば、操作者は、Ｃアーム１５の回転時に注目部位が透視像の中心位置からずれた場合、注目部位を透視像の中心位置に戻すように寝台操作を入力する。以下では、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を補正する操作を、キャリブレーション操作と記載する。即ち、操作者は、注目部位が透視像の中心位置からずれた場合、キャリブレーション操作を入力する。また、受付機能２０３は、操作者によるキャリブレーション操作を受け付ける。また、制御機能２０１は、受け付けたキャリブレーション操作に基づいて、寝台を動作させる。

一例を挙げると、操作者は、Ｃアーム１５の回転後、Ｃアーム１５が停止した状態において、入力インターフェース１９が備えるキャリブレーションスイッチを押下する。次に、操作者は、入力インターフェース１９を介して、寝台操作を入力する。これにより、操作者は、Ｘ線の照射範囲に対して天板１４及び被検体Ｐを移動させ、注目部位が透視像の中心に位置するように調整する。

ここで、取得機能２０２は、操作者から受け付けたキャリブレーション操作に基づいて、注目部位の高さを算出する。以下、取得機能２０２が算出する注目部位の高さを、高さｄ３とする。具体的には、まず、制御機能２０１は、操作者から受け付けたキャリブレーション操作に基づいて、図４Ｃに示す位置まで天板１４を移動させる。なお、以下では、操作者から受け付けたキャリブレーション操作に基づいて制御機能２０１が実行する寝台動作を、「操作者による寝台動作」と記載する。なお、図４Ｃは、第１の実施形態に係る注目部位の高さの算出処理について説明するための図である。

図４Ｃに示す距離ｘ３は、高さｄ２に基づく寝台動作での天板１４の移動量（距離ｘ２）と、操作者による寝台動作での天板１４の移動量との和である。即ち、距離ｘ３は、既知の値である。例えば、取得機能２０２は、角度α、角度β、高さｔ及び距離ｘ３に基づいて、注目部位の高さｄ３を算出する。一例を挙げると、制御機能２０１は、下記の式（２）に基づいて、高さｄ３を算出する。

高さｄ３は、透視像を参照しながら操作者が行なったキャリブレーション操作に基づいて算出された値である。即ち、高さｄ３は、被検体Ｐにおける注目部位の実際の位置に基づいて算出された値であり、注目部位の実際の高さに近い値となる。即ち、キャリブレーション操作が入力された場合、取得機能２０２は、キャリブレーション操作に基づいて注目部位の高さｄ３を精度良く算出し、より正確な高さ情報を取得することができる。

取得機能２０２が注目部位の高さを算出した後、更にＣアーム１５が回転する場合がある。かかる場合、制御機能２０１は、取得機能２０２が算出した高さｄ３に基づいて、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように、寝台の動作を制御する。また、Ｃアーム１５の回転後、更にキャリブレーション操作が入力される場合がある。かかる場合、取得機能２０２は、キャリブレーション操作に基づいて、注目部位の高さを再度算出する。

即ち、取得機能２０２は、操作者によるキャリブレーション操作が入力されるごとに注目部位の高さを算出し、高さ情報を更新する。また、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、更新された高さ情報に基づいて、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように、寝台の動作を制御する。従って、Ｘ線診断装置１は、キャリブレーション操作が入力されるごとにより正確な高さ情報を取得し、Ｃアーム１５の回転時においてＸ線の照射範囲に対する注目部位の位置をより正確に維持することができる。

なお、キャリブレーション操作の一例として、被検体Ｐを載置する寝台に対する寝台操作について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、操作者は、キャリブレーション操作として、Ｃアーム１５に対するアーム操作を入力してもよい。一例を挙げると、操作者は、Ｃアーム１５の回転時において注目部位が透視像の中心位置からずれた場合、注目部位を透視像の中心位置に戻すように、Ｃアーム１５を移動させる。また、受付機能２０３は、操作者によるアーム操作を受け付ける。また、取得機能２０２は、アーム操作に基づいて注目部位の高さを算出することにより、高さ情報を取得する。

また、例えば、操作者は、キャリブレーション操作として、Ｘ線絞り器１３が有するコリメータに対するコリメータ操作を入力してもよい。一例を挙げると、操作者は、Ｃアーム１５の回転時において注目部位が透視像の中心位置からずれた場合、注目部位を透視像の中心位置に戻すように、コリメータの位置を移動させる。また、受付機能２０３は、操作者によるコリメータ操作を受け付ける。また、取得機能２０２は、コリメータ操作に基づいて注目部位の高さを算出することにより、高さ情報を取得する。

次に、Ｘ線診断装置１による処理の手順の一例を、図５を用いて説明する。図５は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１の処理の一連の流れを説明するためのフローチャートである。ステップＳ１０２、ステップＳ１０３、ステップＳ１０４、ステップＳ１０５及びステップＳ１０８は、制御機能２０１に対応するステップである。ステップＳ１０１及びステップＳ１０９は、取得機能２０２に対応するステップである。ステップＳ１０６及びステップＳ１０７は、受付機能２０３に対応するステップである。

Ｘ線画像データの撮影が開始された後、処理回路２０は、注目部位に応じてプリセットされた高さをメモリ１７から読み出すことにより、高さ情報を取得する（ステップＳ１０１）。次に、処理回路２０は、透視が継続されるか否かを判定し（ステップＳ１０２）、透視が継続される場合には（ステップＳ１０２肯定）、Ｃアーム１５が回転しているか否かを判定する（ステップＳ１０３）。

Ｃアーム１５が回転している場合（ステップＳ１０３肯定）、処理回路２０は、注目部位の高さを示す高さ情報に基づいて、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように、天板１４の移動量を算出する（ステップＳ１０４）。例えば、処理回路２０は、高さ情報に基づいて、図３Ａに示した距離ｘ１を算出する。次に、処理回路２０は、ステップＳ１０４にて算出した移動量に基づいて寝台を動作させる（ステップＳ１０５）。例えば、処理回路２０は、図３Ｂに示したように、天板１４を距離ｘ１だけ移動させる。

また、処理回路２０は、ステップＳ１０５の後、再度ステップＳ１０２に移行する。即ち、処理回路２０は、透視においてＣアーム１５が回転している間、天板１４の移動量の算出、及び、算出した移動量に基づく寝台動作を繰り返し実行する。これにより、処理回路２０は、透視においてＣアーム１５が回転している間、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持することができる。換言すると、処理回路２０は、透視においてＣアーム１５が回転している間、Ｘ線の照射範囲に対して注目部位の位置が変化しないよう制御することにより、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するとともに、透視像における注目部位の位置を維持することができる。

一方で、Ｃアーム１５が回転していない場合（ステップＳ１０３否定）、処理回路２０は、キャリブレーションスイッチが押下されたか否かを判定する（ステップＳ１０６）。また、キャリブレーションスイッチが押下された場合（ステップＳ１０６肯定）、処理回路２０は、キャリブレーション操作として、寝台操作を受け付けたか否かを判定する（ステップＳ１０７）。

寝台操作を受け付けた場合（ステップＳ１０７肯定）、処理回路２０は、受け付けた寝台操作に基づいて寝台を動作させる（ステップＳ１０８）。また、処理回路２０は、受け付けた寝台操作に基づいて注目部位の高さを算出することにより、高さ情報を取得する。なお、ステップＳ１０８とステップＳ１０９との順序は任意であり、並行して行なわれる場合であってもよい。

キャリブレーションスイッチが押下されなかった場合（ステップＳ１０６否定）、寝台操作を受け付けなかった場合（ステップＳ１０７否定）、又は、ステップＳ１０９の後、処理回路２０は、再度ステップＳ１０２に移行する。なお、ステップＳ１０９の後に再度ステップＳ１０４に移行した場合、処理回路２０は、最後に取得した高さ情報に基づいて天板１４の移動量を算出する。また、透視を継続しない場合（ステップＳ１０２否定）、処理回路２０は、処理を終了する。

上述したように、第１の実施形態によれば、取得機能２０２は、被検体Ｐにおける注目部位の高さを示す高さ情報を取得する。また、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、高さ情報に基づいて、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように、寝台の動作を制御する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、Ｃアーム１５の回転時において、注目部位を適切に表示することができる。例えば、Ｘ線診断装置１は、Ｃアーム１５の回転時において、透視像における注目部位の位置を維持することができる。

また、Ｃアーム１５の回転によって透視像における注目部位の位置が変化してしまった場合、操作者は、透視像を参照しながら、変化前の状態を再現するように寝台操作を入力する。これに対して、Ｘ線診断装置１は、Ｃアーム１５の回転時において透視像における注目部位の位置を維持することで、操作者が行う操作の量を低減して操作者の負担を軽減するとともに、被検体Ｐの被ばく量を低減することができる。

また、Ｃアーム１５の回転によって注目部位が透視像上に表示されなくなる可能性がある場合、被検体Ｐの広い範囲について透視像が収集される場合がある。即ち、Ｃアーム１５の回転によって注目部位が透視像上に表示されなくなる可能性がある場合、このような事態を回避するため、広いＦＯＶ（Field Of View）が設定される場合がある。これに対して、Ｘ線診断装置１は、Ｃアーム１５の回転時において透視像における注目部位の位置を維持し、注目部位が透視像上に表示されなくなる事態を回避することができる。従って、Ｘ線診断装置１は、狭いＦＯＶの設定を可能とし、被検体Ｐの被ばく量を低減することができる。

また、上述したように、第１の実施形態によれば、受付機能２０３は、Ｃアーム１５の回転後、操作者から、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を補正するキャリブレーション操作を受け付ける。また、取得機能２０２は、キャリブレーション操作に基づいて注目部位の位置を算出することにより、高さ情報を取得する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、Ｃアーム１５の回転が行われるごとに高さ情報の精度を向上させることができる。ひいては、Ｘ線診断装置１は、Ｃアーム１５の回転が行われるごとに、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持する制御の精度を向上させることができる。

（第２の実施形態）
さて、これまで第１の実施形態について説明したが、上述した実施形態以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。

上述した実施形態では、注目部位の高さに応じてプリセットされた高さをメモリ１７から読み出し、又は、キャリブレーション操作に基づいて注目部位の高さを算出することにより、高さ情報を取得する場合について説明した。しかしながら実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、取得機能２０２は、注目部位の高さの入力操作を受け付けることにより、高さ情報を取得してもよい。一例を挙げると、操作者は、被検体Ｐの体格を考慮して、被検体Ｐにおける注目部位の天板１４の表面からの高さを入力する。また、取得機能２０２は、操作者によって入力された注目部位の高さを、高さ情報として取得する。

また、上述した実施形態では、天板１４の表面を基準位置として、高さ情報を取得する場合について説明した。しかしながら実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、取得機能２０２は、Ｃアーム１５の回転中心を基準位置として、高さ情報を取得してもよい。即ち、取得機能２０２は、Ｃアーム１５の回転中心から注目部位までの高さを示す高さ情報を取得する場合であってもよい。

また、上述した実施形態では、Ｃアーム１５の回転時に、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように寝台の動作を制御する場合について説明した。しかしながら実施形態はこれに限定されるものではない。即ち、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように、寝台以外の機構系を制御してもよい。

例えば、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように、Ｃアーム１５の動作を制御する場合であってもよい。一例を挙げると、制御機能２０１は、Ｃアーム１５を回転させるとともに、高さ情報に基づいてＣアーム１５を移動させる。これにより、制御機能２０１は、被検体Ｐに対するＸ線の照射位置を制御し、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持することができる。

また、例えば、制御機能２０１は、Ｃアーム１５の回転時に、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持するように、Ｘ線絞り器１３におけるコリメータの動作を制御する場合であってもよい。一例を挙げると、制御機能２０１は、Ｃアーム１５を回転させるとともに、高さ情報に基づいて、Ｘ線管１２に対してコリメータを移動させる。これにより、制御機能２０１は、被検体Ｐに対するＸ線の照射位置及び照射角度を制御し、Ｘ線の照射範囲に対する注目部位の位置を維持することができる。

第１〜第２の実施形態に係る各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行われる各処理機能は、その全部又は任意の一部が、ＣＰＵ及び当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現されうる。

また、第１〜第２の実施形態で説明した医用画像処理方法は、予め用意された医用画像処理プログラムをパーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することによって実現することができる。この医用画像処理プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布することができる。また、この医用画像処理プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な非一過性の記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行することもできる。

以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、アームの回転時において、注目部位を適切に表示することができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１ Ｘ線診断装置
１２ Ｘ線管
１３ Ｘ線絞り器
１４ 天板
１５ Ｃアーム
１６ Ｘ線検出器
１７ メモリ
２０ 処理回路
２０１ 制御機能
２０２ 取得機能
２０３ 受付機能
２０４ 画像生成機能
２０５ 表示制御機能

Claims (11)

1. Ｘ線を発生するＸ線発生部と、
   前記Ｘ線を検出して検出信号を出力するＸ線検出部と、
   前記Ｘ線発生部と前記Ｘ線検出部とを、被検体を挟んで対向するように保持するアームと、
   前記被検体における注目部位の高さを示す高さ情報を取得する取得部と、
   前記アームの回転時に、前記高さ情報に基づいて、前記Ｘ線の照射範囲に対する前記注目部位の位置を維持するように機構系を制御する制御部と
   を備える、Ｘ線診断装置。
2. 前記アームの回転後、操作者から、前記照射範囲に対する前記注目部位の位置を補正する操作を受け付ける受付部を更に備え、
   前記取得部は、前記操作に基づいて前記注目部位の高さを算出することにより、前記高さ情報を取得する、請求項１に記載のＸ線診断装置。
3. 前記受付部は、前記操作として、前記被検体を載置する寝台に対する寝台操作を受け付け、
   前記取得部は、前記寝台操作に基づいて前記注目部位の高さを算出することにより、前記高さ情報を取得する、請求項２に記載のＸ線診断装置。
4. 前記受付部は、前記操作として、前記アームに対するアーム操作を受け付け、
   前記取得部は、前記アーム操作に基づいて前記注目部位の高さを算出することにより、前記高さ情報を取得する、請求項２に記載のＸ線診断装置。
5. 前記照射範囲を絞り込むコリメータを備え、
   前記受付部は、前記操作として、前記コリメータに対するコリメータ操作を受け付け、
   前記取得部は、前記コリメータ操作に基づいて前記注目部位の高さを算出することにより、前記高さ情報を取得する、請求項２に記載のＸ線診断装置。
6. 前記取得部は、前記注目部位に応じてプリセットされた高さを記憶部から読み出すことにより、前記高さ情報を取得する、請求項１に記載のＸ線診断装置。
7. 前記取得部は、前記注目部位の高さの入力操作を受け付けることにより、前記高さ情報を取得する、請求項１に記載のＸ線診断装置。
8. 前記取得部は、前記被検体を載置する寝台における天板の表面又は前記アームの回転中心から、前記注目部位までの高さを示す前記高さ情報を取得する、請求項１〜５のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
9. 前記制御部は、前記アームの回転時に、前記高さ情報に基づいて、前記照射範囲に対する前記注目部位の位置を維持するように、前記被検体を載置する寝台の動作を制御する、請求項１〜８のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
10. 前記制御部は、前記アームの回転時に、前記高さ情報に基づいて、前記照射範囲に対する前記注目部位の位置を維持するように、前記アームの動作を制御する、請求項１〜８のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
11. 前記照射範囲を絞り込むコリメータを備え、
    前記制御部は、前記アームの回転時に、前記高さ情報に基づいて、前記照射範囲に対する前記注目部位の位置を維持するように、前記コリメータの動作を制御する、請求項１〜８のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。

Images