JP2020091226A - 画像解析システム、画像解析方法及び画像解析プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
2………画像解析装置
3………試験紙
3a………第1端部
3b………第2端部
4………背景部材
4a………第1領域
4b………第2領域
6………試験ライン
7………コントロールライン
8………位置マーカー
9………撮影範囲
10………撮影画像
11a〜11e………検出線分
20………第1領域抽出画像
21a〜21d………第1頂点〜第4頂点
30………試験紙画像
31………中心線
32………解析対象範囲
40………波形グラフ
41………谷
42………探索範囲
43、43a、43b………埋谷線
44、44a、44b………閉領域
L1………長手方向
L2………長辺方向
R………探索範囲のピクセル数
Claims (6)
- 長手方向を有し、前記長手方向と直交する方向に延びる試験ラインが形成された試験紙の撮影画像を解析する画像解析システムであって、
前記撮影画像から前記試験紙の領域を特定し、矩形の試験紙画像を生成する試験紙画像生成手段と、
前記試験紙画像の長辺方向と直交する方向の画素列ごとに前記試験紙画像の画素値の統計量を算出し、前記長辺方向の位置をx軸、前記統計量をy軸とする直交座標系において前記統計量の波形グラフを生成する波形グラフ生成手段と、
前記波形グラフの谷を埋める埋谷線を生成する埋谷線生成手段と、
前記埋谷線と前記波形グラフによって囲まれる閉領域ごとに、前記閉領域の面積を算出することによって、前記試験ラインの発色の度合を定量化する発色度合定量化手段と、
を備えることを特徴とする画像解析システム。 - 前記埋谷線生成手段は、前記波形グラフ上の探索基準点から前記x軸と平行な方向の所定の探索範囲内に前記統計量が前記探索基準点以上の超過点が存在する場合、前記探索基準点から前記超過点までの線分、又は前記探索基準点から前記x軸と平行な方向に延びる前記波形グラフとの交点までの線分を前記埋谷線とする
ことを特徴とする請求項1に記載の画像解析システム。 - 前記波形グラフ生成手段は、前記試験紙画像から解析対象の画素群を抽出し、前記解析対象の画素群について、前記長辺方向と直交する方向の画素列ごとに画素値の平均値及び中央値を算出し、前記平均値及び前記中央値の残差平方和が閾値以上の場合、エラー処理を行う
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の画像解析システム。 - 前記試験紙の色と反対色の第1領域及び前記試験紙の色と同系色の第2領域を有する背景部材、
を更に備え、
前記撮影画像は、前記試験紙が前記第1領域に戴置された状態で、前記第1領域及び前記第2領域が含まれるように撮影されたものである
ことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の画像解析システム。 - 長手方向を有し、前記長手方向と直交する方向に延びる試験ラインが形成された試験紙の撮影画像を解析する画像解析方法であって、
コンピュータが、
前記撮影画像から前記試験紙の領域を特定し、矩形の試験紙画像を生成する試験紙画像生成ステップと、
前記試験紙画像の長辺方向と直交する方向の画素列ごとに前記試験紙画像の画素値の統計量を算出し、前記長辺方向の位置をx軸、前記統計量をy軸とする直交座標系において前記統計量の波形グラフを生成する波形グラフ生成ステップと、
前記波形グラフの谷を埋める埋谷線を生成する埋谷線生成ステップと、
前記埋谷線と前記波形グラフによって囲まれる閉領域ごとに、前記閉領域の面積を算出することによって、前記試験ラインの発色の度合を定量化する発色度合定量化ステップと、
を実行することを特徴とする画像解析方法。 - 長手方向を有し、前記長手方向と直交する方向に延びる試験ラインが形成された試験紙の撮影画像を解析する方法をコンピュータに実行させるための画像解析プログラムであって、
前記コンピュータに、
前記撮影画像から前記試験紙の領域を特定し、矩形の試験紙画像を生成する試験紙画像生成ステップと、
前記試験紙画像の長辺方向と直交する方向の画素列ごとに前記試験紙画像の画素値の統計量を算出し、前記長辺方向の位置をx軸、前記統計量をy軸とする直交座標系において前記統計量の波形グラフを生成する波形グラフ生成ステップと、
前記波形グラフの谷を埋める埋谷線を生成する埋谷線生成ステップと、
前記埋谷線と前記波形グラフによって囲まれる閉領域ごとに、前記閉領域の面積を算出することによって、前記試験ラインの発色の度合を定量化する発色度合定量化ステップと、
を実行させるための画像解析プログラム。
Priority Applications (1)
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JP2018229181A JP7118423B2 (ja) | 2018-12-06 | 2018-12-06 | 画像解析システム、画像解析方法及び画像解析プログラム |
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JP7118423B2 JP7118423B2 (ja) | 2022-08-16 |
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Family Applications (1)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022203018A1 (ja) * | 2021-03-24 | 2022-09-29 | 富士フイルム株式会社 | イムノクロマトグラフ検査装置 |
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-
2018
- 2018-12-06 JP JP2018229181A patent/JP7118423B2/ja active Active
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